JPH0611465A

JPH0611465A - Ｘ線回折装置

Info

Publication number: JPH0611465A
Application number: JP4190283A
Authority: JP
Inventors: Kenji Masuda; 憲治増田
Original assignee: Rigaku Denki Co Ltd; Rigaku Corp
Current assignee: Rigaku Denki Co Ltd; Rigaku Corp
Priority date: 1992-06-25
Filing date: 1992-06-25
Publication date: 1994-01-21

Abstract

(57)【要約】【目的】蓄積性蛍光体とカウンタとを設けて、単結晶
の構造解析に有用なＸ線回折装置とする。【構成】Ｘ線源１６から出たＸ線はコリメータ２１を
通って、カッパゴニオメータ１８に取り付けられた試料
２８に照射される。試料２８からの回折Ｘ線は、円筒面
の内面に沿った形状の蓄積性蛍光体１２、１３に記録さ
れ、読み取り装置３６で読み取られる。暗箱２０の内部
には、蓄積性蛍光体１２、１３のほかにシンチレーショ
ンカウンタ１４も設置されている。試料２８の構造解析
を行うには、蓄積性蛍光体１２、１３を用いた測定と、
シンチレーションカウンタ１４を用いた測定とを、目的
に応じて選択できる。また、シンチレーションカウンタ
１４を利用して結晶の単位格子の決定だけを行い、その
後の構造解析用のデータは蓄積性蛍光体１２、１３で測
定するという使い方もできる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、試料からの回折Ｘ線を
蓄積性蛍光体に潜像として記録し、この蓄積性蛍光体に
励起光を照射して潜像を読み出すＸ線回折装置に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】蛋白などの高分子や低分子の単結晶のＸ
線構造解析を行う装置として、全自動化された４軸回折
装置が知られている。この４軸回折装置は、試料をセッ
トした後は全自動で構造解析まで行うことが可能で、初
心者でも簡単に使える利点がある。ただし、非常に多く
の回折ピークを一つずつデータとして記録していくの
で、回折像のデータを入手するのに時間がかかるという
欠点がある。その所要時間は、分子構造の複雑さにもよ
るが、数日から１か月にも及ぶことがある。

【０００３】これに対して、回折Ｘ線の検出をカウンタ
によらずに蓄積性蛍光体を利用することも行われてい
る。この蓄積性蛍光体を利用すると、多くの回折ピーク
のデータが一度に記録できるので、測定が短時間で済む
という利点がある。ただし、結晶の単位格子を決定する
のが大変であり、また試料結晶の軸立て作業も熟練を要
する。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】カウンタを利用した４
軸回折装置と、蓄積性蛍光体を利用した結晶構造解析装
置は、上述のように利点と欠点がある。そこで、この両
者の装置を目的に応じて選択的に利用できたり、あるい
は両者を併用して一つの構造解析を行ったりすることが
可能な装置があれば便利である。そこで、この発明の目
的は、蓄積性蛍光体とカウンタとを備えたＸ線回折装置
を提供することにあり、特に、単結晶の構造解析に用い
て有用なＸ線回折装置を提供することにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】第１の発明は、試料から
の回折Ｘ線を蓄積性蛍光体に潜像として記録し、前記蓄
積性蛍光体に励起光を照射して前記潜像を読み出すＸ線
回折装置において、次の特徴を有するものである。（イ）前記蓄積性蛍光体の記録面を円筒面の内面に沿う
形状とする。（ロ）前記円筒面の中心線上に前記試料を配置する。（ハ）前記蓄積性蛍光体を前記中心線に平行な方向に移
動可能にする。（ニ）前記中心線の回りに回転可能な計数管式のＸ線検
出器を検出器搭載台に設置する。（ホ）前記検出器搭載台を前記中心線に平行な方向に移
動可能にする。計数管式のＸ線検出器としては、シンチ
レーションカウンタや比例計数管などを利用することが
できる。

【０００６】第２の発明は、第１の発明において、前記
試料を、三つの回転軸線の回りに回転可能にしたもので
ある。そのための試料保持装置としては、ω、κ（カッ
パ）、φの３軸を有するカッパゴニオメータや、ω、χ
（カイ）、φの３軸を有するフルサークルのゴニオメー
タを利用できる。

【０００７】第３の発明は、第１の発明において、前記
蓄積性蛍光体と前記Ｘ線検出器とを共通の暗箱の内部に
配置したものである。

【０００８】第４の発明は、第１の発明において、前記
蓄積性蛍光体を保持するＩＰ保持体が次の特徴を備える
ようにしたものである。（ヘ）前記ＩＰ保持体は、複数の蓄積性蛍光体を保持で
きる。（ト）前記ＩＰ保持体は、蓄積性蛍光体露光位置と蓄積
性蛍光体交換位置との間で前記中心線に平行な方向に移
動できる。（チ）前記ＩＰ保持体は、前記蓄積性蛍光体交換位置に
おいてＩＰ保持体の中心線の回りに回転できる。

【０００９】第５の発明は、第４の発明において、前記
ＩＰ保持体に保持されている一つの蓄積性蛍光体が露光
位置にあるときに、このＩＰ保持体に保持されている別
の蓄積性蛍光体が読み取り位置にあり、前記ＩＰ保持体
が前記蓄積性蛍光体交換位置にあるときに、このＩＰ保
持体に保持されている蓄積性蛍光体を消去ランプで消去
可能にしたものである。

【００１０】

【作用】一つのＸ線回折装置に、蓄積性蛍光体と、計数
管式のＸ線検出器とを設けることにより、目的に応じて
両者を選択的に利用することができる。さらに、例えば
結晶の構造解析をする場合には、カウンタを用いて結晶
の単位格子の決定までを自動的に行い、その後は、蓄積
性蛍光体を用いて構造解析用のデータを短時間に得る、
といった組み合わせの測定方法を採用することもでき
る。

【００１１】

【実施例】図１は本発明の一実施例の平面図であり、図
２はその正面図である。このＸ線回折装置は、単結晶試
料の結晶構造解析に用いるものである。試料はカッパゴ
ニオメータで保持して、三つの回転軸線の回りに回転で
きるようにしてある。回折Ｘ線は蓄積性蛍光体で記録で
きるようにすると共に、シンチレーションカウンタウン
タでも回折Ｘ線を検出できるようにしている。

【００１２】図１において、このＸ線回折装置は、主と
して、Ｘ線源１６と、試料保持装置１８と、暗箱２０の
内部に配置された回折Ｘ線記録装置とからなる。Ｘ線源
１６から出たＸ線はコリメータ２１を通って、試料保持
装置１８の先端に取り付けられた試料２８に照射され、
試料２８からの回折Ｘ線は、暗箱２０内の回折Ｘ線記録
装置で記録される。試料保持装置１８は後述のカッパゴ
ニオメータであり、試料を三つの回転軸線の回りに回転
させることができる。この実施例では、試料のＸ線照射
位置を観察するための顕微鏡２２と、試料を低温に冷却
するための冷却剤吹き付け装置２４とを備えている。

【００１３】暗箱２０の内部には、蓄積性蛍光体による
回折Ｘ線記録装置と、カウンタによる回折Ｘ線記録装置
とがある。まず、蓄積性蛍光体による回折Ｘ線記録装置
を説明する。図２において、全体が概略円筒形状のＩＰ
保持体２６には、二つの蓄積性蛍光体１２、１３を取り
付けることができる。蓄積性蛍光体１２、１３の記録面
は円筒面の内面に沿う形状をしている。蓄積性蛍光体１
２の円筒面の中心線２９（図１参照）上に試料２８が配
置されている。蓄積性蛍光体１２の試料側には黒紙３５
が配置されていて、この黒紙３５は暗箱２０の一部を構
成している。ＩＰ保持体２６は２本の支持脚３０によっ
て回転可能に支持され、支持脚３０は移動台３２に固定
されている。移動台３２はレール３４上に載っていて、
ＩＰ保持体２６の軸方向に移動可能である。なお、図１
では、ＩＰ保持体２６と蓄積性蛍光体１２、１３は、Ｉ
Ｐ保持体２６の高さ方向中央部で切断したときの断面図
を示している。

【００１４】試料保持装置１８とは反対の側にはＩＰ読
み取り装置３６がある。ＩＰ読取装置３６は、励起光と
してのレーザ光を回転走査しながら、蓄積性蛍光体１３
に記録された潜像から発生する蛍光を検出するものであ
る。読み取り装置３６の全体は、レール３８の上に載っ
ていて、図１の矢印６６の方向に移動できる。

【００１５】図１に戻って、ＩＰ保持体２６は図示の蓄
積性蛍光体露光位置から、一点鎖線で示す蓄積性蛍光体
交換位置４０まで移動することができる。蓄積性蛍光体
交換位置４０の近傍には、消去ランプ４２があり、読み
取り済みの蓄積性蛍光体に消去光を照射することによっ
て潜像を消去することができる。

【００１６】図３は、試料保持装置１８を構成するカッ
パゴニオメータの原理を示す斜視図である。このカッパ
ゴニオメータは、キャピラリー（またはガラス棒）４４
の先端に取り付けた試料２８をω軸、κ（カッパ）軸、
φ軸の回りに回転させることができる。κ軸はω軸に対
して４５度の角度をなしていてω軸の回りを回転する。
φ軸はκ軸に対して４５度の角度をなしていてκ軸の回
りを回転する。キャピラリー４４はφ軸の回りを回転す
る。これにより、キャピラリー４４の先端の試料２８
は、ω軸上に常に位置しながら、任意の方向に向くこと
ができる。本実施例では、このカッパゴニオメータのω
軸が、蓄積性蛍光体１２の円筒面の中心線２９に一致す
るように配置されている。このカッパゴニオメータを利
用することにより、試料２８からの回折Ｘ線がゴニオメ
ータによって遮られることなく、蓄積性蛍光体に到達す
ることができる。

【００１７】図４は、読み取り装置３６の内部機構の平
面図である。レーザ発生装置４６を出たレーザ光はミラ
ー４８、５０で反射して、ダイクロイックミラー５２を
通過し、レンズ５４で絞られて、蓄積性蛍光体１３に対
して垂直に当たる。蓄積性蛍光体１３に記録された潜像
にレーザ光が当たると、そこから蛍光が発生し、この蛍
光はレンズ５４で集光されて、ダイクロイックミラー５
２に戻って来る。このダイクロイックミラー５２は、レ
ーザ光は通過し、蛍光は反射するような波長選択性があ
るので、蛍光はダイクロイックミラー５２で反射して、
フィルター５６を通って、光電子増倍管５７で検出され
る。フィルター５６は赤色光をカットするためのブルー
フィルターである。ミラー４８、５０、ダイクロイック
ミラー５２、レンズ５４は回転体５８に取り付けられて
おり、この回転体５８は回転軸線５９の回りを回転でき
る。この回転軸線５９は蓄積性蛍光体１３の円筒面の中
心線と一致している。レーザ発生装置４６とフィルター
５６、光電子増倍管５７は回転しない。回転体５８が回
転することにより、レーザ光は蓄積性蛍光体１３の表面
を周方向に走査する。そして、読み取り装置３６の全体
が矢印６０の方向に移動することにより、蓄積性蛍光体
１３の全面を読み取ることができる。

【００１８】次に、カウンタによる回折Ｘ線記録装置を
説明する。図２において、移動台３２には円弧状のフレ
ーム６２が固定されていて、このフレーム６２に沿って
シンチレーションカウンタ１４が移動できる。これによ
り、シンチレーションカウンタ１４は、回転軸線の回り
を回転することができ、その回転軸線は、蓄積性蛍光体
１２の円筒面の中心線２９（図１参照）と一致する。移
動台３２が矢印６４（図１参照）の方向に移動すること
により、シンチレーションカウンタ１４は、試料２８に
対向する位置にくることができる。この位置をカウンタ
設定位置と呼ぶことにする。このカウンタ設定位置にシ
ンチレーションカウンタ１４があるときは、カッパゴニ
オメータを備えた４軸Ｘ線回折装置と同様の構成とな
る。なお、図２では、顕微鏡と冷却剤吹き付け装置は省
略してある。また、暗箱２０は断面を示してある。

【００１９】次に、低分子試料の単結晶構造解析をする
場合を例にとって、このＸ線回折装置の使用方法を説明
する。この回折装置では、蓄積性蛍光体を用いた測定
と、シンチレーションカウンタを用いた測定と、蓄積性
蛍光体とシンチレーションカウンタを組み合わせた測定
とが可能である。

【００２０】まず、蓄積性蛍光体を用いた測定を説明す
る。図１において、２枚の蓄積性蛍光体１２、１３をＩ
Ｐ保持体２６に取り付ける。ＩＰ保持体２６は図示の蓄
積性蛍光体露光位置にもってくる。試料２８を試料保持
装置１８に取り付け、顕微鏡２２を用いて、試料２８の
中心がゴニオメータの回転中心に来るように試料位置を
調節する。必要に応じて、冷却剤吹き付け装置２４を用
いて試料２８を低温にする。まず最初に、試料２８の軸
立てを行う。この軸立てとは、試料２８の結晶のいずれ
かの軸あるいは特定の軸がω軸に一致するように、試料
２８の向きを決める作業である。軸立てをするには次の
作業を行う。試料２８をω軸の回りに０〜３０度の角度
範囲で回転させながら試料２８からの回折Ｘ線を蓄積性
蛍光体１２に連続露光する。露光が完了したら、ＩＰ保
持体２６を蓄積性蛍光体交換位置４０まで移動させて、
これを１８０度回転する。その後、ＩＰ保持体２６を露
光位置まで戻す。そして、読み取り装置３６で蓄積性蛍
光体１２に記録された潜像を読み取る。この読み取り作
業の間に、試料２８をω軸の回りに３０〜６０度の角度
範囲で回転させながら回折Ｘ線をもう一方の蓄積性蛍光
体１３に連続露光する。蓄積性蛍光体１３の露光と蓄積
性蛍光体１２の読み取りが完了したら、ＩＰ保持体２６
を蓄積性蛍光体交換位置４０に移動させ、読み取りが済
んだ蓄積性蛍光体１２を消去ランプ４２で消去する。そ
の後、ＩＰ保持体２６を１８０度回転させてから、また
露光位置まで戻す。これにより、消去済みの蓄積性蛍光
体１２が再び、露光可能な位置に戻り、再使用される。
一方、露光済みの蓄積性蛍光体１３は読み取り装置３６
で読み取られる。このような作業を、ω回転の角度範囲
を３０度ずつずらしてから繰り返し、合計１８０度の範
囲で６枚の回折像を記録する。この６枚の回折像を参考
にしながら、試料２８の向きを検討し、正しく軸立てが
なされるように、試料２８のκ回転及びφ回転調節を行
う。

【００２１】軸立てが完了したら、構造解析用の回折像
をワイセンベルグ法により次のように測定する。試料２
８と蓄積性蛍光体１２の間に、ω軸に垂直な開口を有す
るスリットを配置して、試料２８をω回転させながら、
これと同期してＩＰ保持体２６を矢印６４の方向に移動
させ、そのときの回折像を蓄積性蛍光体１２に記録す
る。この回折像は上述の軸立て作業と同様にして読取装
置３６で読み取られる。その後、この回折像をもとにし
て試料の構造解析を行う。

【００２２】次に、シンチレーションカウンタを用いた
測定を説明する。図２の移動台３２を図１の上方に移動
させて、シンチレーションカウンタ１４をカウンタ設定
位置にもってくる。この状態では、試料保持装置１８の
カッパゴニオメータによる試料の３軸（ω、κ、φ）回
転と、シンチレーションカウンタ１４の２θ回転とによ
って、４軸回折装置が構成される。したがって、従来の
４軸回折装置と同様に、自動測定によって試料２８の構
造解析を行うことができる。

【００２３】以上のようにして、このＸ線回折装置で
は、蓄積性蛍光体を用いた構造解析も、シンチレーショ
ンカウンタを用いた構造解析も、１台の装置で可能にな
る。蓄積性蛍光体を用いた測定は測定時間が短いという
利点があり、シンチレーションカウンタを用いた測定は
全自動化が可能であってかつ測定精度が高いという利点
がある。したがって、測定の目的に応じて、両者を使い
分けることができる。蓄積性蛍光体を用いた測定では、
試料から上下６０度ずつの範囲及び左右６０度ずつの範
囲で回折像を記録できる。また、シンチレーションカウ
ンタを用いた測定では、試料の下方１０度、上方６０度
の範囲で回折ピークを検出できる。

【００２４】次に、蓄積性蛍光体とシンチレーションカ
ウンタとを併用した測定方法を説明する。まず最初に、
シンチレーションカウンタ１４を用いて、試料２８の単
位格子の決定を行う。そして、この測定結果に基づいて
試料結晶の特定の軸をω軸に一致させる。その後、今度
は、蓄積性蛍光体１２を用いて構造解析用の回折像を記
録する。ここで得られた回折像を解析するに当たって
は、既に求められている単位格子を利用できるので、解
析が容易になる。このようにして、シンチレーションカ
ウンタによって単位格子の決定が自動的にかつ正確に決
定でき、また、その後の構造解析用のデータは蓄積性蛍
光体を用いることによって短時間に得ることができる。

【００２５】

【発明の効果】本発明のＸ線回折装置では、蓄積性蛍光
体を用いた構造解析と、シンチレーションカウンタを用
いた構造解析とが１台の装置で可能になり、目的に応じ
て両者を選択的に利用することができる。さらに、シン
チレーションカウンタを用いて結晶の単位格子の決定ま
でを自動的に行い、その後は、蓄積性蛍光体を用いて構
造解析用のデータを短時間に得る、という組み合わせ測
定方法を採用することもできる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例の平面図である。

【図２】図１の装置の正面図である。

【図３】カッパゴニオメータの原理を示す斜視図であ
る。

【図４】蓄積性蛍光体の読み取り装置の内部機構の平面
図である。

【符号の説明】

１２、１３…蓄積性蛍光体１４…シンチレーションカウンタ１６…Ｘ線源１８…試料保持装置２０…暗箱２６…ＩＰ保持体２８…試料２９…蓄積性蛍光体の円筒面の中心線３６…読み取り装置４２…消去ランプ

─────────────────────────────────────────────────────

【手続補正書】

【提出日】平成４年７月２８日

【手続補正１】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００２０

【補正方法】変更

【補正内容】

【００２０】まず、蓄積性蛍光体を用いた測定を説明す
る。図１において、２枚の蓄積性蛍光体１２、１３をＩ
Ｐ保持体２６に取り付ける。ＩＰ保持体２６は図示の蓄
積性蛍光体露光位置にもってくる。試料２８を試料保持
装置１８に取り付け、顕微鏡２２を用いて、試料２８の
中心がゴニオメータの回転中心に来るように試料位置を
調節する。必要に応じて、冷却剤吹き付け装置２４を用
いて試料２８を低温にする。まず最初に、試料２８の軸
立てを行う。この軸立てとは、試料２８の結晶のいずれ
かの軸あるいは特定の軸がω軸に一致するように、試料
２８の向きを決める作業である。具体的な軸立て方法に
ついては後に詳述するので、ここでは、軸立てが完了し
た時点でのワイセンベルグ法による測定を説明する。試
料２８をω軸の回りに０〜９０度の範囲で回転振動し、
これと同期してＩＰ保持体２６を矢印６４の方向に平行
移動させ、そのときの回折像を蓄積性蛍光体１２に潜像
として記録する。露光が完了したら、ＩＰ保持体２６を
蓄積性蛍光体交換位置４０まで移動させて、これを１８
０度回転する。その後、ＩＰ保持体２６を露光位置まで
戻す。そして、読み取り装置３６で蓄積性蛍光体１２に
記録された潜像を読み取る。この読み取り作業の間に、
前回蓄積性蛍光体１２に記録したω軸の終了角度を開始
点として、試料２８をω軸の回りに０〜９０度の角度範
囲で回転させながら、回折Ｘ線をもう一方の蓄積性蛍光
体１３に露光する。蓄積性蛍光体１３の露光と蓄積性蛍
光体１２の読み取りが完了したら、ＩＰ保持体２６を蓄
積性蛍光体交換位置４０に移動させ、読み取りが済んだ
蓄積性蛍光体１２を消去ランプ４２で消去する。その
後、ＩＰ保持体２６を１８０度回転させてから、また露
光位置まで戻す。これにより、消去済みの蓄積性蛍光体
１２が再び、露光可能な位置に戻り、再使用される。一
方、露光済みの蓄積性蛍光体１３は読み取り装置３６で
読み取られる。このような作業を、ω回転の角度範囲を
次々にずらせてから繰り返し、合計１８０度の範囲で回
折像を記録する。なお、試料２８のラウエ対称があらか
じめ分かっていれば、測定に必要なω軸の全回転範囲を
上述の１８０度より小さく設定してもよい。このような
手順で撮影された回折像をデータ処理して、試料の構造
解析を行う。

【手続補正２】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００２１

【補正方法】変更

【補正内容】

【００２１】次に、蓄積性蛍光体を用いた軸立て法につ
いて説明する。これには、振動写真法を利用した方法１
と、ワイセンベルグ法を用いた方法２があり、試料に応
じてこれらを使い分ける。方法１は、ＩＰ保持体２６を
静止させたままで、試料２８をω軸の回りに０〜１度の
角度範囲で微小回転振動を行い、振動回折像を蓄積性蛍
光体１２に記録する。この回折像を上述のワイセンベル
グ測定作業と同様にして読み取り装置３６で読み取るの
であるが、読み取り作業を開始する前にω軸を適当な角
度だけ前進させておき、読み取り作業と並行して次の微
小振動回折像を蓄積性蛍光体１３に記録する。このよう
な作業をω軸の０〜９０度の角度範囲内で繰り返し行
い、得られた数枚の微小振動回折像をもとに結晶方位行
列を計算する。また、方法２では、まず、ＩＰ保持体２
６を静止したままで、試料２８をω軸の回りに１０〜３
０度回転振動を行い、回折像を蓄積性蛍光体に記録す
る。次に、ω軸の回転範囲を同じ範囲に保って、今度
は、ＩＰ保持体２６をω軸回転に同期させながら移動さ
せるワイセンベルグ法を用いて、回折像を二重露出す
る。このとき、振動回折像とワイセンベルグ回折像とが
区別できるように、露出時間を変化させる。次に、ω軸
を９０度前進させてから、前と同様の二重露出像を撮影
する。２枚の二重露出像をデータ処理して結晶方位行列
を決定する。方法１または方法２で結晶方位行列を決定
した後、試料２８の結晶の特定の軸がω軸に一致するよ
うに、試料保持装置１８のカッパゴニオメータの３軸
（ω、κ、φ）の回転調節を行う。なお、極めて迅速な
測定が要求される場合は、上述のような軸立ての手順を
省略して測定を開始することも可能である。

【手続補正３】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００２４

【補正方法】変更

【補正内容】

【００２４】次に、蓄積性蛍光体とシンチレーションカ
ウンタとを併用した測定方法を説明する。まず最初に、
シンチレーションカウンタ１４を用いて、試料２８の結
晶方位行列の決定を行う。そして、この測定結果に基づ
いて試料結晶の特定の軸をω軸に一致させる。その後、
今度は、蓄積性蛍光体１２を用いて構造解析用の回折像
を記録する。ここで得られた回折像を解析するに当たっ
ては、既に求められている結晶方位行列を利用できるの
で、解析が容易になる。このようにして、シンチレーシ
ョンカウンタによって結晶方位行列の決定が自動的にか
つ正確に決定でき、また、その後の構造解析用のデータ
は蓄積性蛍光体を用いることによって短時間に得ること
ができる。

【手続補正４】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００２５

【補正方法】変更

【補正内容】

【００２５】

【発明の効果】本発明のＸ線回折装置では、蓄積性蛍光
体を用いた構造解析と、シンチレーションカウンタを用
いた構造解析とが１台の装置で可能になり、目的に応じ
て両者を選択的に利用することができる。さらに、シン
チレーションカウンタを用いて結晶の結晶方位行列の決
定までを自動的に行い、その後は、蓄積性蛍光体を用い
て構造解析用のデータを短時間に得る、という組み合わ
せ測定方法を採用することもできる。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】試料からの回折Ｘ線を蓄積性蛍光体に潜
像として記録し、前記蓄積性蛍光体に励起光を照射して
前記潜像を読み出すＸ線回折装置において、次の特徴を
有するＸ線回折装置。（イ）前記蓄積性蛍光体の記録面を円筒面の内面に沿う
形状とする。（ロ）前記円筒面の中心線上に前記試料を配置する。（ハ）前記蓄積性蛍光体を前記中心線に平行な方向に移
動可能にする。（ニ）前記中心線の回りに回転可能な計数管式のＸ線検
出器を検出器搭載台に設置する。（ホ）前記検出器搭載台を前記中心線に平行な方向に移
動可能にする。
【請求項２】前記試料を、三つの回転軸線の回りに回
転可能にしたことを特徴とする請求項１記載のＸ線回折
装置。
【請求項３】前記蓄積性蛍光体と前記Ｘ線検出器とを
共通の暗箱の内部に配置したことを特徴とする請求項１
記載のＸ線回折装置。
【請求項４】前記蓄積性蛍光体を保持するＩＰ保持体
が次の特徴を備えることを特徴とする請求項１記載のＸ
線回折装置。（ヘ）前記ＩＰ保持体は、複数の蓄積性蛍光体を保持で
きる。（ト）前記ＩＰ保持体は、蓄積性蛍光体露光位置と蓄積
性蛍光体交換位置との間で前記中心線に平行な方向に移
動できる。（チ）前記ＩＰ保持体は、前記蓄積性蛍光体交換位置に
おいてＩＰ保持体の中心線の回りに回転できる。
【請求項５】前記ＩＰ保持体に保持されている一つの
蓄積性蛍光体が露光位置にあるときに、このＩＰ保持体
に保持されている別の蓄積性蛍光体が読み取り位置にあ
り、前記ＩＰ保持体が前記蓄積性蛍光体交換位置にある
ときに、このＩＰ保持体に保持されている蓄積性蛍光体
を消去ランプで消去可能にしたことを特徴とする請求項
４記載のＸ線回折装置。