JPH0611486Y2 - Reset status detection circuit - Google Patents
Reset status detection circuitInfo
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- JPH0611486Y2 JPH0611486Y2 JP6449486U JP6449486U JPH0611486Y2 JP H0611486 Y2 JPH0611486 Y2 JP H0611486Y2 JP 6449486 U JP6449486 U JP 6449486U JP 6449486 U JP6449486 U JP 6449486U JP H0611486 Y2 JPH0611486 Y2 JP H0611486Y2
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Description
【考案の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本考案は一般に多用される電子論理制御回路などの制御
回路を試作するとき、あるいは検査などを行う際に、被
試験制御回路に接続する試験装置の一部に含まれるリセ
ット検出回路に関し、特にリセット動作について制御回
路の内部、外部の別を区別して、リセット発生場所を記
憶することができるリセット状態検出回路に関する。[Detailed Description of the Invention] (Industrial field of application) The present invention is a test for connecting to a control circuit under test when a control circuit such as an electronic logic control circuit, which is generally used, is prototyped or tested. The present invention relates to a reset detection circuit included in a part of an apparatus, and more particularly to a reset state detection circuit capable of storing a reset occurrence location by distinguishing between a control circuit inside and outside regarding a reset operation.
(従来の技術) 従来、自動測定装置などに接続して試験される制御回路
は中央処理装置(CPU)などを内蔵しており、その多
くは第2図に示すように電源投入時のリセット11、C
PUの暴走防止用リセットなどのリセット発生回路1
2、13を持っている。また、外部からもリセツトがで
きるようにリセツト入力端子RSIを持つている。また
さらに制御回路にリセツトがかかるとき、外部の関連機
器にもリセツトをかけることができるよう、リセツト出
力端子RSOを持つている。(Prior Art) Conventionally, a control circuit to be tested by connecting to an automatic measuring device or the like has a built-in central processing unit (CPU) and the like, and most of them have a reset 11 at power-on as shown in FIG. , C
Reset generator circuit 1 for PU runaway prevention reset, etc.
I have two and thirteen. It also has a reset input terminal RSI so that it can be reset from the outside. Further, when a reset is applied to the control circuit, a reset output terminal RSO is provided so that the external related equipment can be reset.
このような制御回路に接続して試験を行うとき、リセツ
ト原因の発生場所の区別など、いろいろな要望があるの
で、内部のリセツト回路の出力を一つにまとめる回路1
5とその出力を外部に取出すための内部リセツト出力端
子RSTを備えたものもある。When performing a test by connecting to such a control circuit, there are various demands such as distinction of the place where the reset cause occurs. Therefore, the circuit 1 that combines the outputs of the internal reset circuit into one.
5 and an internal reset output terminal RST for taking out its output to the outside.
(考案が解決しようとする問題点) 上述したように従来の試験装置では、前記のような制御
回路のパネルの試験を行う際、途中リセツトがかかつて
もそのリセツトがパネル内部によるものか、外部からの
ものか知りたくても判らないという問題点がある。また
このような内部、外部の別は記録しておくと動作の検討
に非常に有効である。さらに制御用論理回路パネルの試
験中に内部のリセツトと外部からのリセツトで別の動作
をさせたい場合には論理回路にどちらかのリセツトかを
何らかの方法で判別し伝達する必要がある。また、記録
したリセツト出力信号を直接他の回路の入力とするため
には出力信号が自由に制御できることが必要となる場合
もある。このような要望に対処するため第2図の内部リ
セツト出力端子RSTを備えるものもあるが、これだけ
では不十分であり、前記の要望に充分満足させる回路を
パネル自体に組み込むことは余分なスペースが必要とな
り、しかも後で実運用になつたとき不用となる場合が多
いので無駄であるなどの問題点があつた。(Problems to be solved by the invention) As described above, in the conventional test apparatus, when the panel of the control circuit as described above is tested, whether or not the reset is due to the inside of the panel or the outside There is a problem that I do not know even if I want to know if it is from the source. In addition, it is very effective for studying the operation if the inside and outside are recorded. Further, during the test of the control logic circuit panel, if it is desired to perform different operations by the internal reset and the external reset, it is necessary to determine which of the resets is to be transmitted to the logic circuit by some method. Further, in order to directly input the recorded reset output signal to another circuit, it may be necessary to freely control the output signal. Some of them are provided with the internal reset output terminal RST shown in FIG. 2 in order to cope with such a demand, but this is not enough, and it is not necessary to incorporate a circuit which satisfies the above demand into the panel itself. It was necessary and often wasted when it came to actual operation later, so there was a problem such as waste.
本考案の目的は、このような問題点を解決し、制御回路
に接続する試験装置などにおいて制御回路のリセツト動
作が内部のリセツトで行われたか、あるいは外部のリセ
ツトによつて行われたかを知ることができるようなリセ
ツト経路検出回路を提供することにある。The purpose of the present invention is to solve such a problem and to know whether the reset operation of the control circuit is performed by the internal reset or the external reset in the test device connected to the control circuit. It is an object of the present invention to provide a reset path detection circuit capable of performing the above.
(問題点を解決するための手段) 前記目的を達成するため、本考案のリセツト経路検出回
路は、リセツト入力端子(RSI)とリセツト出力端子
(RSO)を有する試験されるべき制御回路に接続する
リセツト状態検出回路において、前記制御回路にリセッ
ト信号を送るための独自のリセット回路7と、前記制御
回路のリセツト入力端子(RSI)に接続されるリセツ
ト回路7の出力および前記制御回路のリセツト出力端子
(RSO)の出力の二つの出力を二つの入力とし、前記
二つの入力に同時に信号が加わつた場合を前記制御回路
の外部からリセツトパルスが入力されたと判断し、前記
二つの入力のうち前記制御回路のリセツト出力端子(R
SO)のみから信号入力があつた場合を前記制御回路の
内部においてリセツトパルス発生があつたと判断する判
別手段と、その判断した結果を記憶する記憶手段とを有
する構成とする。(Means for Solving the Problems) In order to achieve the above object, the reset path detection circuit of the present invention is connected to a control circuit to be tested having a reset input terminal (RSI) and a reset output terminal (RSO). In the reset state detection circuit, a unique reset circuit 7 for sending a reset signal to the control circuit, an output of the reset circuit 7 connected to a reset input terminal (RSI) of the control circuit, and a reset output terminal of the control circuit Two outputs of the (RSO) are used as two inputs, and when a signal is applied to the two inputs at the same time, it is determined that a reset pulse is input from the outside of the control circuit, and the control of the two inputs is performed. Circuit reset output terminal (R
SO)) is provided in the control circuit to determine that a reset pulse has occurred, and a storage means for storing the result of the determination.
さらに判別手段はリセツト端子つきフリツプフロツプ1
のリセツト端子R1にリセツト回路7の出力を与え、そ
のクロツク端子(CK)に制御回路のリセツト出力端子
(RSO)の信号を反転して与えるものであり、前記記
憶手段はセツト端子およびリセツト端子つきフリツプフ
ロツプ2のデータ端子D2にリセツト端子つきフリツプ
フロツプ1の出力が与えられ、そのクロツク端子CK2
に前記制御回路のリセツト出力端子(RSO)信号が与
えられる構成とする。Further, the discriminating means is a flip-flop 1 with a reset terminal.
The reset terminal R 1 is provided with the output of the reset circuit 7, and the clock terminal (CK) is provided with the signal of the reset output terminal (RSO) of the control circuit being inverted, and the storage means is the set terminal and the reset terminal. The output of the flip-flop with reset terminal 1 is given to the data terminal D 2 of the flip-flop with lock 2 and its clock terminal CK 2
The reset output terminal (RSO) signal of the control circuit is applied to the.
(実施例) 次に本考案について図面を参照して説明する。(Example) Next, this invention is demonstrated with reference to drawings.
第1図は本考案による一実施例の回路を試験される制御
回路のロジツク回路の関係部分とともに示した回路説明
図である。FIG. 1 is a circuit explanatory view showing a circuit of an embodiment according to the present invention together with a relevant portion of a logic circuit of a control circuit to be tested.
第2図は従来のリセット状態検出回路を示す回路説明図
である。FIG. 2 is a circuit diagram showing a conventional reset state detection circuit.
第3図は第1図の実施例の回路の動作を示すタイミング
チヤートである。FIG. 3 is a timing chart showing the operation of the circuit of the embodiment shown in FIG.
第1図において、図中に点線で示したX……Xから左の
部分は試験される制御回路のロジツクパネルの一部を示
し、Y……Yから右の部分は試験装置に含まれる本考案
の実施例のリセツト状態検出回路を示している。In FIG. 1, a part left from X ... X shown by a dotted line in the drawing shows a part of a logic panel of a control circuit to be tested, and a part right from Y ... Y is included in the test apparatus. 3 shows a reset state detection circuit of the embodiment.
同図においてリセツト端子つきフリツプフロツプ(以
下、第1FFという。)1はリセツトパルスが制御回路
(ロジツクパネル)の内部で発生したものか、外部から
のリセツトパルスによるものかを判別するもので、デー
タ端子D1には常に高電位(以下、“H”という。)が
与えられており、リセツト端子R1は試験装置内部のリ
セツト回路7の出力に接続されている。また第1FF1
のクロツク端子CK1はロジツクパネルのリセツト出力
端子RSOに接続されている入力端子8からノツト回路
3を介して接続されている。In the figure, a flip-flop 1 with reset terminal (hereinafter referred to as the first FF) 1 is used to determine whether the reset pulse is generated inside the control circuit (logic panel) or the reset pulse from the outside. A high potential (hereinafter referred to as "H") is always applied to 1 and the reset terminal R 1 is connected to the output of the reset circuit 7 inside the test apparatus. Also, the first FF1
The clock terminal CK 1 is connected to the reset output terminal RSO of the logic panel from the input terminal 8 via the notch circuit 3.
同図のセツト端子、リセツト端子つきフリツプフロツプ
(以下、第2FFという。)2は第1FF1の出力端子
Q1の内容を記憶するもので、データ端子D2は第1FF
1の出力端子Q1に接続されている。また、クロツク端
子CK2は入力端子8に接続されている。A flip-flop (hereinafter, referred to as a second FF) 2 with a set terminal and a reset terminal in the figure stores the contents of the output terminal Q 1 of the first FF 1 , and the data terminal D 2 is the first FF.
1 is connected to the output terminal Q 1 . The clock terminal CK 2 is connected to the input terminal 8.
第2FF2のセツト端子S2には制御回路からのチツプ
セレクト信号(以下、CS信号という。)CSと、デー
タ信号(以下、DA信号という。)の二つの信号を入力
とするナンド回路4の出力が与えられ、リセツト端子R
2にはCS信号と、DA信号を入力とするノツト回路6
の出力を入力とするナンド回路5の出力が与えられてい
る。The output of a NAND circuit 4 which receives two signals, a chip select signal (hereinafter referred to as a CS signal) CS from a control circuit and a data signal (hereinafter referred to as a DA signal), at a set terminal S 2 of the second FF2. Is given, and the reset terminal R
A notch circuit 6 for inputting CS signal and DA signal to 2
The output of the NAND circuit 5 which receives the output of the above is given.
なお、9はリセツト回路7の出力をロジツクパネルに与
えてリセツトするためのリセツト出力端子であり、10
は第2FF2のQ2出力を外部へ取出して記録装置に記
録させたり、他の関係機器の制御するための出力端子で
ある。Reference numeral 9 is a reset output terminal for applying the output of the reset circuit 7 to the logic panel for resetting.
Is an output terminal for taking out the Q 2 output of the second FF 2 to the outside and recording it in the recording device, or for controlling other related equipment.
次に本実施例の動作について説明する。Next, the operation of this embodiment will be described.
たとえば、試験装置のリセツト回路7からリセツト信号
として負のパルスが出力されると、第1FF1がリセツ
トされ、その端子Q1は低電位(以下、“L”とい
う。)となる。同時にリセツト回路7の負のパルスは試
験装置の出力端子9、ロジツクパネルの入力端子RS
I、ノツト・ノア回路14、ロジツクパネルの出力端子
RSOを介して試験装置の入力端子8に与えられるの
で、これがノツト回路3で反転されて第1FF1のクロ
ツク端子CK1に与えられる。このとき同時に第2FF
2のクロツク端子CK2には入力端子8の信号がそのま
ま与えられるので、リセツトが解除されるときの波形の
立上りで第2FF2は第1FF1のQ1出力を読込み第
2FF2のQ2出力は“L”となる。For example, when a negative pulse is output as a reset signal from the reset circuit 7 of the test apparatus, the 1FF1 is reset, the terminals Q 1 is a lower potential (hereinafter, referred to as "L".). At the same time, the negative pulse of the reset circuit 7 is the output terminal 9 of the test equipment and the input terminal RS of the logic panel.
Since it is given to the input terminal 8 of the test apparatus through I, the not-nor circuit 14 and the output terminal RSO of the logic panel, this is inverted by the not circuit 3 and given to the clock terminal CK 1 of the first FF1. At the same time, the second FF
Since the signal of the input terminal 8 is given to the clock terminal CK 2 of No. 2 as it is, the second FF 2 reads the Q 1 output of the first FF 1 at the rising of the waveform when the reset is released and the Q 2 output of the second FF 2 becomes “L”. "It becomes.
このようにリセツト回路7からリセツトパルスを与えた
場合の各部波形は第3図の時刻t0〜t1の間に示してい
る。また、制御回路のロジツクパネル内のリセツト回路
11,12などでリセツトパルスが発生するとロジツク
パネルの出力端子RSOを介して試験装置の入力端子8
にのみリセツトパルスが与えられ、第1FF1のリセツ
ト端子R1にはリセツトパルスは与えられず“H”のま
まであるので、第1FF1はリセツトされず、ロジツク
パネルの出力端子RSOの波形の立下りで第1FF1の
Q1出力は“H”となり、つぎに出力端子RSOの波形
の立上りで第2FF2が第1FF1の出力Q1を読込み
第2FF2の出力Q2は“H”となる。The waveform of each part when the reset pulse is applied from the reset circuit 7 is shown between the times t 0 and t 1 in FIG. Further, when a reset pulse is generated in the reset circuits 11 and 12 in the logic panel of the control circuit, the input terminal 8 of the test apparatus is output through the output terminal RSO of the logic panel.
To the reset terminal R 1 of the first FF1 and the reset pulse is not applied to the reset terminal R 1 of the first FF1 and remains at "H". The Q1 output of the first FF1 becomes "H", and then the second FF2 reads the output Q1 of the first FF1 at the rising edge of the waveform of the output terminal RSO and the output Q2 of the second FF2 becomes "H".
リセツトパルスがロジツクパネル内部で発生したときの
状況を第3図の時刻t1〜t2に示す。The situation when the reset pulse occurs inside the logic panel is shown at times t 1 to t 2 in FIG.
このように第2FF2のQ2出力は、リセツトパルスが
制御回路の外部から与えられたときは“L”となり、内
部からリセツトパルスが発生したときは“H”となり、
次回いづれかからリセツトパルスの発生があるまで第2
FF2がその状態を保持し記憶する。Thus, the Q 2 output of the second FF2 becomes "L" when the reset pulse is given from the outside of the control circuit, and becomes "H" when the reset pulse is generated from the inside,
From any one of the next to the occurrence of the reset pulse, the second
FF2 holds and stores the state.
したがつて、第2FF2のQ2出力を外部の記録装置に
記録させることもできるし、また他の装置のリセツトな
どの制御信号として使用することができる。Therefore, the Q 2 output of the second FF 2 can be recorded in an external recording device, or can be used as a control signal for resetting other devices.
また本実施例の回路では、制御回路のチツプセレクト信
号CSと制御データ信号DAを入力とするアンド回路4
の出力を第2FF2のセツト端子S2に入力し、DA信
号をノツト回路6で反転させたものとCS信号の二つの
信号を入力とするアンド回路5の出力を第2FF2のリ
セツト端子R2の入力とすることによつてCS信号とし
てパルスが与えられたとき、DA信号が“H”であれば
第2FF2をセツトしてQ2出力を“H”とし、そのと
きDA信号が“L”であれば第2FF2をリセツトして
Q2出力を“L”とすることができる。そこであらかじ
めプログラムに組込まれたDA信号にもとづいてCS信
号のタイミングによりQ2出力の“H”,“L”を自由
に変え、Q2出力を出力端子10から外部へ取出して他
の機器の制御に使用することができる。Further, in the circuit of the present embodiment, the AND circuit 4 which receives the chip select signal CS and the control data signal DA of the control circuit as input.
2 is input to the set terminal S 2 of the second FF2, and the output of the AND circuit 5 which receives two signals of the DA signal inverted by the not circuit 6 and the CS signal is input to the reset terminal R 2 of the second FF2. when the pulse is given as Yotsute CS signal to be an input, the the first 2FF2 by excisional Q 2 output if the DA signal is "H" at the "H", then the DA signal is "L" If so, the second FF2 can be reset and the Q 2 output can be made "L". Therefore advance the timing of on the basis of the integrated DA signal to the program CS signal Q 2 'output "H", "L" freely changed, control of other equipment taken out Q 2 output from the output terminal 10 to the outside Can be used for
(考案の効果) 以上説明したように本考案は、試験される制御回路のリ
セツト入力信号と、リセツト出力信号の二つの信号を入
力とし、二つの信号に同時にリセツトパルスがあれば、
そのリセツトパルスは制御回路外部で発生したものであ
り、また制御回路のリセツト出力信号にのみリセツトパ
ルスがあつたときは、そのリセツトパルスは内部で発生
したものであると判断する手段を有し、かつ、その内容
を記憶する手段を有することにより、制御回路のリセツ
トが、内部に起因するリセツトか、あるいは外部に起因
するものであるかを判別することができるので、その一
時記憶された内容を出力として取出し、外部で記録する
ことができるし、また他の関連機器の制御にも使用する
ことができるという効果がある。(Effect of the Invention) As described above, the present invention takes two signals, that is, the reset input signal and the reset output signal of the control circuit to be tested, as long as the two signals have the reset pulse at the same time.
The reset pulse is generated outside the control circuit, and when there is a reset pulse only in the reset output signal of the control circuit, it has a means for judging that the reset pulse is generated internally, Moreover, by having a means for storing the contents, it is possible to determine whether the reset of the control circuit is the reset caused by the inside or the reset caused by the outside. There is an effect that it can be taken out as an output and recorded externally, and can also be used for controlling other related equipment.
なお、前記の実施例においては、制御回路からのCS信
号とDA信号を加えたとき、前記の記憶する手段の記憶
内容を自由に変更できる回路を付加しているので、制御
回路のリセツトとは関係のない独立した制御信号を出力
させることができ、各種の試験に便利な用途の広い制御
信号が得られるという効果もある。In the above embodiment, when the CS signal and the DA signal from the control circuit are added, a circuit for freely changing the stored contents of the storing means is added, so that the reset of the control circuit is Independent control signals that are not related to each other can be output, and there is an effect that a versatile control signal convenient for various tests can be obtained.
第1図は本考案の一実施例の回路を制御回路に接続した
状態で示す回路説明図である。 第2図は第1図の実施例によつて試験される制御回路列
の一部を示した回路説明図である。 第3図は第1図の実施例の回路動作を各部波形で示した
タイミングチヤートである。 1……リセツト端子つきフリツプフロツプ(第1FF) 2……セツト端子、リセツト端子つきフリツプフロツプ
(第2FF) 3,6……ノツト回路 4,5……ナンド回路 7,11,12,13……リセツト回路 8……入力端子 9……試験機のリセツト出力端子 10……出力端子 14,15……ノツト・ノア回路FIG. 1 is an explanatory circuit diagram showing a circuit of an embodiment of the present invention connected to a control circuit. FIG. 2 is a circuit diagram showing a part of a control circuit train tested by the embodiment shown in FIG. FIG. 3 is a timing chart showing the circuit operation of the embodiment of FIG. 1 ... flip-flop with reset terminal (1st FF) 2 ... set terminal, flip-flop with reset terminal (2nd FF) 3, 6 ... note circuit 4, 5 ... NAND circuit 7, 11, 12, 13 ... reset circuit 8 ... Input terminal 9 ... Reset output terminal of tester 10 ... Output terminal 14, 15 ... Not-nor circuit
Claims (2)
し、試験されるべき制御回路に接続されるリセット状態
検出回路において、 前記制御回路にリセット信号を送るための独自のリセッ
ト回路と、 前記制御回路のリセット入力端子に接続される前記リセ
ット回路の出力、および前記制御回路の前記リセット出
力端子の出力の二つの出力を入力とし、前記二つの入力
に同時に信号が加わった場合を前記制御回路の外部から
リセットパルスが入力されたと判断し、前記二つの入力
のうち前記制御回路のリセット出力端子のみから信号入
力が会った場合を前記制御回路の内部においてリセット
パルス発生があったと判断する判別手段と、 その判断した結果を記憶する記憶手段とを有し、前記判
別手段はリセット端子つきフリップフロップのリセット
端子に前記独自のリセット回路の出力を与え、そのクロ
ック端子に前記制御回路のリセット出力端子の信号を反
転して与えることを特徴とするリセット状態検出回路。1. A reset state detection circuit having a reset input terminal and a reset output terminal, the reset state detection circuit being connected to a control circuit to be tested, and a unique reset circuit for sending a reset signal to the control circuit; The output of the reset circuit connected to the reset input terminal of the circuit and the output of the reset output terminal of the control circuit are two inputs, and a case where a signal is applied to the two inputs at the same time of the control circuit Determining means for determining that a reset pulse has been input from the outside, and determining that a reset pulse has occurred inside the control circuit when a signal input from only the reset output terminal of the control circuit among the two inputs meets. And a storage unit for storing the result of the determination, wherein the determination unit is a reset of a flip-flop with a reset terminal. Providing an output of said own reset circuit preparative terminal, a reset state detection circuit, characterized in that providing inverts the signal at the reset output terminal of the control circuit to the clock terminal.
端子つきフリップフロップのデータ端子に前記リセット
端子つきフリップフロップの出力が与えられ、そのクロ
ック端子に前記制御回路のリセット出力端子信号が与え
られることを特徴とする実用新案登録請求の範囲第1項
記載のリセット状態検出回路。2. The storage means is configured such that an output of the flip-flop with a reset terminal is given to a data terminal of a flip-flop with a set terminal and a reset terminal, and a reset output terminal signal of the control circuit is given to its clock terminal. The reset state detection circuit according to claim 1, characterized in that the utility model is registered.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6449486U JPH0611486Y2 (en) | 1986-04-28 | 1986-04-28 | Reset status detection circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6449486U JPH0611486Y2 (en) | 1986-04-28 | 1986-04-28 | Reset status detection circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62179659U JPS62179659U (en) | 1987-11-14 |
| JPH0611486Y2 true JPH0611486Y2 (en) | 1994-03-23 |
Family
ID=30900700
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6449486U Expired - Lifetime JPH0611486Y2 (en) | 1986-04-28 | 1986-04-28 | Reset status detection circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0611486Y2 (en) |
-
1986
- 1986-04-28 JP JP6449486U patent/JPH0611486Y2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62179659U (en) | 1987-11-14 |
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