JPH06117931A - 多波長測光装置 - Google Patents
多波長測光装置Info
- Publication number
- JPH06117931A JPH06117931A JP27017592A JP27017592A JPH06117931A JP H06117931 A JPH06117931 A JP H06117931A JP 27017592 A JP27017592 A JP 27017592A JP 27017592 A JP27017592 A JP 27017592A JP H06117931 A JPH06117931 A JP H06117931A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- wavelength
- photodetector
- spectroscope
- joint surface
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明は、フィルタの接合面に入射した光が接
合面を透過し迷光として他の波長成分に混入したり、こ
の接合面に入射する光が接合面で遮蔽されて光検子に到
達しないことを防止することで、測定精度の向上を実現
し得る多波長測光装置を提供することを目的とする。 【構成】本発明は、光源１からの光を分光器３で単波長
成分に分散し各波長成分の強度を光検子６で測定するも
のであって光源と光検子との間に挿入した試料Ｒの吸収
スペクトルを得る多波長測光装置であって、分光器３と
光検子６との間に特定波長成分だけを透過するフィルタ
５ａ〜５ｅを介挿し、このフィルタ５ａ〜５ｅの側面を
分光器３からの光路に沿って形成したことを特徴とす
る。
合面を透過し迷光として他の波長成分に混入したり、こ
の接合面に入射する光が接合面で遮蔽されて光検子に到
達しないことを防止することで、測定精度の向上を実現
し得る多波長測光装置を提供することを目的とする。 【構成】本発明は、光源１からの光を分光器３で単波長
成分に分散し各波長成分の強度を光検子６で測定するも
のであって光源と光検子との間に挿入した試料Ｒの吸収
スペクトルを得る多波長測光装置であって、分光器３と
光検子６との間に特定波長成分だけを透過するフィルタ
５ａ〜５ｅを介挿し、このフィルタ５ａ〜５ｅの側面を
分光器３からの光路に沿って形成したことを特徴とす
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、試料を透過した透過光
を単波長成分に分散し各波長の強度を測定する多波長測
光装置に関する。
を単波長成分に分散し各波長の強度を測定する多波長測
光装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来この種の多波長測光装置は、図３に
示すように、光源１からの光をスリット２を介して試料
Ｒに当て、その透過光を回折格子などの分光器３で単波
長成分に分散し、各波長成分を測光部８のフォトダイオ
ードなどの複数の光検子１０配列の各位置で受けて、各
波長成分の強度を測定し試料の吸収スペクトルを分析す
るものであって、光検子１０の前方にそれぞれ異なる特
定波長成分だけを透過するフィルタ９ａ〜９ｅを並設し
て測定精度の向上を図るようにしている。
示すように、光源１からの光をスリット２を介して試料
Ｒに当て、その透過光を回折格子などの分光器３で単波
長成分に分散し、各波長成分を測光部８のフォトダイオ
ードなどの複数の光検子１０配列の各位置で受けて、各
波長成分の強度を測定し試料の吸収スペクトルを分析す
るものであって、光検子１０の前方にそれぞれ異なる特
定波長成分だけを透過するフィルタ９ａ〜９ｅを並設し
て測定精度の向上を図るようにしている。
【０００３】この多波長測光装置は、化学分析装置に比
べ極めて短時間、極めて微量の試料で分析が行えるの
で、血清成分などの分析を反応ラインに沿って自動的に
進行する自動化学分析装置などに多用されている。
べ極めて短時間、極めて微量の試料で分析が行えるの
で、血清成分などの分析を反応ラインに沿って自動的に
進行する自動化学分析装置などに多用されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし乍、従来の多波
長測光装置は、図４に示すように、隣接するフィルタ、
図では９ｃと９ｄの接合面１１に入射する光が接合面１
１を透過し迷光として他の波長成分に混入したり、この
接合面１１に入射する光が接合面１１で遮蔽されて光検
子に到達しないことにより、測定精度が極端に低下して
しまうという問題があった。
長測光装置は、図４に示すように、隣接するフィルタ、
図では９ｃと９ｄの接合面１１に入射する光が接合面１
１を透過し迷光として他の波長成分に混入したり、この
接合面１１に入射する光が接合面１１で遮蔽されて光検
子に到達しないことにより、測定精度が極端に低下して
しまうという問題があった。
【０００５】本発明は、上述した事情に対処すべくなさ
れたもので、その目的は、フィルタの接合面に入射した
光が接合面を透過して迷光として他の波長成分に混入し
たり、この接合面に入射する光が接合面で遮蔽されて光
検子に到達しないことを防止することで、測定精度を向
上させ得る多波長測光装置を提供することである。
れたもので、その目的は、フィルタの接合面に入射した
光が接合面を透過して迷光として他の波長成分に混入し
たり、この接合面に入射する光が接合面で遮蔽されて光
検子に到達しないことを防止することで、測定精度を向
上させ得る多波長測光装置を提供することである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、光源からの光
を分光器で単波長成分に分散し各波長成分の強度を光検
子で測定するものであって光源と光検子との間に挿入し
た試料の吸収スペクトルを得る多波長測光装置であっ
て、分光器と光検子との間に特定波長成分だけを透過す
るフィルタを介挿し、このフィルタの側面を分光器から
の光路に沿って形成したことを特徴とする。
を分光器で単波長成分に分散し各波長成分の強度を光検
子で測定するものであって光源と光検子との間に挿入し
た試料の吸収スペクトルを得る多波長測光装置であっ
て、分光器と光検子との間に特定波長成分だけを透過す
るフィルタを介挿し、このフィルタの側面を分光器から
の光路に沿って形成したことを特徴とする。
【０００７】
【作用】本発明に係る多波長測光装置によれば、フィル
タの側面を分光器からの光路に沿って形成したので、分
光器からの光はフィルタの側面に入射することなく光検
子に到達する。
タの側面を分光器からの光路に沿って形成したので、分
光器からの光はフィルタの側面に入射することなく光検
子に到達する。
【０００８】
【実施例】以下、図面を参照して本発明一実施例を説明
する。
する。
【０００９】図１は本実施例の全体構造および測光部の
断面構造を示す図である。光源１は比較的広い波長域の
光を発生する例えば水銀ランプであり、この光路に沿っ
て光源１からの光をビーム状に絞り込むスリット２と、
光を波長にしたがって分けて単波長成分に分散させる回
折格子などの分光器３と、各単波長成分の強度を測定す
る測光部４を順に配置する。
断面構造を示す図である。光源１は比較的広い波長域の
光を発生する例えば水銀ランプであり、この光路に沿っ
て光源１からの光をビーム状に絞り込むスリット２と、
光を波長にしたがって分けて単波長成分に分散させる回
折格子などの分光器３と、各単波長成分の強度を測定す
る測光部４を順に配置する。
【００１０】測光部４は、図示しない入射窓にそれぞれ
異なった特定波長成分だけを透過する複数のフィルタ５
ａ〜５ｅを並設し、さらにこのフィルタ５ａ〜５ｅの後
方にフォトダイオードなどの複数の光検子６を分光器３
からの拡がり幅に応じて並設してなる。そして、各フィ
ルタ５ａ〜５ｅの側面を、分光器３からの光路に沿うよ
うに形成し、フィルタ５ａ〜５ｅを各側面で接合する。
次にこのように構成された本実施例の作用について説明
する。
異なった特定波長成分だけを透過する複数のフィルタ５
ａ〜５ｅを並設し、さらにこのフィルタ５ａ〜５ｅの後
方にフォトダイオードなどの複数の光検子６を分光器３
からの拡がり幅に応じて並設してなる。そして、各フィ
ルタ５ａ〜５ｅの側面を、分光器３からの光路に沿うよ
うに形成し、フィルタ５ａ〜５ｅを各側面で接合する。
次にこのように構成された本実施例の作用について説明
する。
【００１１】光源１からの光はスリット２でビーム状に
絞り込まれ、試料Ｒを透過して分光器３で単波長成分に
分散され、測光部４のフィルタ５ａ〜５ｅで濾過された
後、光検子６に到達し、各単波長成分毎にその強度が測
定される。
絞り込まれ、試料Ｒを透過して分光器３で単波長成分に
分散され、測光部４のフィルタ５ａ〜５ｅで濾過された
後、光検子６に到達し、各単波長成分毎にその強度が測
定される。
【００１２】そして、フィルタ５ａ〜５ｅに入射する光
は、フィルタ５ａ〜５ｅをその側面を分光器３からの光
路に沿って形成しその側面で接合したので、図２に示す
ように、分光器３からの光がフィルタ５ａ〜５ｅの接合
面７に入射することなく、光検子６に到達する。したが
って、従来のように、フィルタの接合面に入射した光が
接合面を透過して迷光として他の波長成分に混入した
り、この接合面に入射する光が接合面で遮蔽されて光検
子に到達しないことが防止される。
は、フィルタ５ａ〜５ｅをその側面を分光器３からの光
路に沿って形成しその側面で接合したので、図２に示す
ように、分光器３からの光がフィルタ５ａ〜５ｅの接合
面７に入射することなく、光検子６に到達する。したが
って、従来のように、フィルタの接合面に入射した光が
接合面を透過して迷光として他の波長成分に混入した
り、この接合面に入射する光が接合面で遮蔽されて光検
子に到達しないことが防止される。
【００１３】以上のように本実施例は、フィルタの接合
面を分光器からの光路に沿って形成したので、分光器か
らの光がこの接合面に入射しない。したがって、従来の
ようにこの接合面に入射した光が接合面を透過し迷光と
して他の波長成分に混入したり、この接合面に入射する
光が遮蔽されて光検子に到達しないことがなくなり、各
単波長成分を精度よく測定することができる。本発明は
上述した実施例に限定されることなく、種々変形して実
施可能である。
面を分光器からの光路に沿って形成したので、分光器か
らの光がこの接合面に入射しない。したがって、従来の
ようにこの接合面に入射した光が接合面を透過し迷光と
して他の波長成分に混入したり、この接合面に入射する
光が遮蔽されて光検子に到達しないことがなくなり、各
単波長成分を精度よく測定することができる。本発明は
上述した実施例に限定されることなく、種々変形して実
施可能である。
【００１４】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、光源から
の光を分光器で単波長成分に分散し各波長の強度を複数
の光検子で測定し試料の吸収スペクトルを得る多波長測
光装置であって、分光器と光検子との間に特定波長成分
だけを透過するフィルタを介挿し、このフィルタの側面
を分光器からの光路に沿って形成したことを特徴とした
ので、分光器からの光はフィルタの側面に入射せず、従
来この側面に入射した光が側面を越えて迷光として他の
波長成分に混入したり、この側面に入射する光が遮蔽さ
れて光検子に到達しないという問題が発生せず、したが
って測定精度を極めて向上させることができる。
の光を分光器で単波長成分に分散し各波長の強度を複数
の光検子で測定し試料の吸収スペクトルを得る多波長測
光装置であって、分光器と光検子との間に特定波長成分
だけを透過するフィルタを介挿し、このフィルタの側面
を分光器からの光路に沿って形成したことを特徴とした
ので、分光器からの光はフィルタの側面に入射せず、従
来この側面に入射した光が側面を越えて迷光として他の
波長成分に混入したり、この側面に入射する光が遮蔽さ
れて光検子に到達しないという問題が発生せず、したが
って測定精度を極めて向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明一実施例の全体構造および測光部の断面
構造を示す図。
構造を示す図。
【図２】図１に示したフィルタの接合面付近を拡大して
示す図。
示す図。
【図３】従来の多波長測光装置の全体構造および測光部
の断面構造を示す図。
の断面構造を示す図。
【図４】従来の多波長測光装置の問題を説明する図。
１…光源、２…スリット、３…分光器、４…測光部、５
ａ〜５ｅ…フィルタ、６…光検子、７…接合面。
ａ〜５ｅ…フィルタ、６…光検子、７…接合面。
Claims (1)
- 【請求項１】 光源からの光を分光器で単波長成分に分
散し各波長成分の強度を光検子で測定するものであって
前記光源と前記光検子との間に挿入した試料の吸収スペ
クトルを得る多波長測光装置において、 前記分光器と前記光検子との間に特定波長成分だけを透
過するフィルタを介挿し、このフィルタの側面を前記分
光器からの光路に沿って形成したことを特徴とする多波
長測光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27017592A JPH06117931A (ja) | 1992-10-08 | 1992-10-08 | 多波長測光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27017592A JPH06117931A (ja) | 1992-10-08 | 1992-10-08 | 多波長測光装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06117931A true JPH06117931A (ja) | 1994-04-28 |
Family
ID=17482574
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27017592A Pending JPH06117931A (ja) | 1992-10-08 | 1992-10-08 | 多波長測光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06117931A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19813950C1 (de) * | 1998-03-28 | 1999-11-04 | Analytik Jena Gmbh Analysenmes | Spektrometeranordnung |
| WO2013073359A1 (ja) * | 2011-11-18 | 2013-05-23 | 株式会社島津製作所 | 高次光と迷光を低減するフィルタ及びそのフィルタを用いた分光装置 |
| EP4191229A1 (en) * | 2021-12-02 | 2023-06-07 | The Boeing Company | System, apparatus and method for rapid evaluation of light transmission through opaque coatings and films |
-
1992
- 1992-10-08 JP JP27017592A patent/JPH06117931A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19813950C1 (de) * | 1998-03-28 | 1999-11-04 | Analytik Jena Gmbh Analysenmes | Spektrometeranordnung |
| WO2013073359A1 (ja) * | 2011-11-18 | 2013-05-23 | 株式会社島津製作所 | 高次光と迷光を低減するフィルタ及びそのフィルタを用いた分光装置 |
| TWI503583B (zh) * | 2011-11-18 | 2015-10-11 | Shimadzu Corp | 降低高階光和雜散光的濾光器以及使用該濾光器的分光裝置 |
| EP4191229A1 (en) * | 2021-12-02 | 2023-06-07 | The Boeing Company | System, apparatus and method for rapid evaluation of light transmission through opaque coatings and films |
| US12140535B2 (en) | 2021-12-02 | 2024-11-12 | The Boeing Company | System, apparatus and method for rapid evaluation of light transmission through opaque coatings and films |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE69016027T2 (de) | Optischer Lesekopf für eine Immunoassay Vorrichtung. | |
| US4730922A (en) | Absorbance, turbidimetric, fluorescence and nephelometric photometer | |
| DE69523216T2 (de) | Multidetektor Messkopf für ein Photometer | |
| CN103649726B (zh) | 用于荧光和吸收率分析的系统和方法 | |
| DE69636862T2 (de) | Vorrichtung zur Messung von Raman-Streulicht | |
| EP1091205A2 (de) | Spektralphotometrische und nephelometrische Detektionseinheit | |
| EP0438550B1 (en) | Optical read system | |
| EP0148497A2 (de) | Vorrichtung zum Führen und Sammeln von Licht in der Fotometrie od. dgl. | |
| JP3260469B2 (ja) | 粒子分析装置 | |
| US4630923A (en) | Fiberoptic spectrophotometer | |
| CN101324468A (zh) | 低杂散光快速光谱仪及其测量方法 | |
| US5500536A (en) | Spectrofluorometer | |
| JPS626142A (ja) | 吸光度，濁り、螢光性、比濁測定用のフオトメ−タ | |
| JPH0252980B2 (ja) | ||
| EP0201824A2 (en) | Absorbance, turbidimetric, fluoresence and nephelometric photometer | |
| US12188860B2 (en) | Device and method for spectral analysis of a compound specimen | |
| JPH06117931A (ja) | 多波長測光装置 | |
| JPH0239725B2 (ja) | Fukusuchannerubunkokodosokuteisochi | |
| RU2251668C2 (ru) | Спектрометр | |
| JPH0579451U (ja) | 分光光度計 | |
| DE2260313C2 (de) | Verfahren und Gerät zur Bestimmung von Feinstaubkonzentrationen | |
| DE2326123B2 (de) | Nichtdispersives Infrarot-Fotometer zur Konzentrationsbestimmung eines Analysengases in einem Gasgemisch | |
| Johansson et al. | A multiple grating flame photometer for the simultaneous determination of five elements | |
| JPH02227638A (ja) | 蛍光光度計 | |
| JPH05223734A (ja) | 吸光度測定装置 |