JPH0612173A - デジタイザ標本点の有効性判断の方法および装置 - Google Patents
デジタイザ標本点の有効性判断の方法および装置Info
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- JPH0612173A JPH0612173A JP4985493A JP4985493A JPH0612173A JP H0612173 A JPH0612173 A JP H0612173A JP 4985493 A JP4985493 A JP 4985493A JP 4985493 A JP4985493 A JP 4985493A JP H0612173 A JPH0612173 A JP H0612173A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】デジタイザ標本点の有効性判断の方法および装
置を与える。 【構成】本方法および装置はデジタイザ２０の上方層２
２および下方層２４間の接触点における接触抵抗を決定
し、それを有効範囲接触抵抗値と比較することにより、
当該標本点の許否を決定する。本装置は複数の駆動源３
４、４４、３６、４６の一つによりデジタイザを駆動す
るアナログ駆動回路１６と、その駆動回路に結合される
と共に当該デジタイザにいずれの駆動源が結合されるか
を決定するスイッチ制御論理回路１４と、デジタイザに
結合されたアナログ-ディジタルコンバータ１８と、ア
ナログ-ディジタルコンバータおよびスイッチ制御論理
回路間に接続されたマイクロコントローラ１２とを含
む。本方法は上記接触抵抗を決定し、それを有効範囲の
抵抗値と比較し、その接触抵抗が有効範囲内に在ればそ
の点の位置を格納する。
置を与える。 【構成】本方法および装置はデジタイザ２０の上方層２
２および下方層２４間の接触点における接触抵抗を決定
し、それを有効範囲接触抵抗値と比較することにより、
当該標本点の許否を決定する。本装置は複数の駆動源３
４、４４、３６、４６の一つによりデジタイザを駆動す
るアナログ駆動回路１６と、その駆動回路に結合される
と共に当該デジタイザにいずれの駆動源が結合されるか
を決定するスイッチ制御論理回路１４と、デジタイザに
結合されたアナログ-ディジタルコンバータ１８と、ア
ナログ-ディジタルコンバータおよびスイッチ制御論理
回路間に接続されたマイクロコントローラ１２とを含
む。本方法は上記接触抵抗を決定し、それを有効範囲の
抵抗値と比較し、その接触抵抗が有効範囲内に在ればそ
の点の位置を格納する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は手書き文字捕捉装置に関
し、特にデジタイザで標本採取した点の有効性を決定す
る装置および方法に関する。
し、特にデジタイザで標本採取した点の有効性を決定す
る装置および方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】感圧デジタイザはデジタイザの表面を押
圧するペンあるいはスチルスのようなデータ入力装置の
位置を記録するのに使用される装置である。デジタイザ
は、通常は分離されているがデータ入力装置の圧力が加
えられると相互に接触する二つの抵抗層を含む。押圧点
を除きこれら二層間にあるセパレータ・ドットが二層間
の接触を防いでいる。
圧するペンあるいはスチルスのようなデータ入力装置の
位置を記録するのに使用される装置である。デジタイザ
は、通常は分離されているがデータ入力装置の圧力が加
えられると相互に接触する二つの抵抗層を含む。押圧点
を除きこれら二層間にあるセパレータ・ドットが二層間
の接触を防いでいる。
【０００３】これら抵抗層間の抵抗は点状の接触抵抗を
デジタル化するため、顕著な不正確さを生じうる。接触
抵抗はデジタイザにローパスフィルタが結合されるとき
は形式の如何によらずローパスフィルタの充電時間を増
大させる。ローパスフィルタは通常、静電放電と雑音に
対する保護のために使用され、また当該標本点を取り入
れるアナログ-ディジタル コンバータへの安定な入力装
置として使用される。もしも充電時間がデジタイザの標
本採取周期よりも長いと、その標本は無効とされる。こ
の型の不正確な標本点は「スパイク」として知られてお
り、この不正確な点を生ずる過程は「スパイキング」と
呼ばれる。
デジタル化するため、顕著な不正確さを生じうる。接触
抵抗はデジタイザにローパスフィルタが結合されるとき
は形式の如何によらずローパスフィルタの充電時間を増
大させる。ローパスフィルタは通常、静電放電と雑音に
対する保護のために使用され、また当該標本点を取り入
れるアナログ-ディジタル コンバータへの安定な入力装
置として使用される。もしも充電時間がデジタイザの標
本採取周期よりも長いと、その標本は無効とされる。こ
の型の不正確な標本点は「スパイク」として知られてお
り、この不正確な点を生ずる過程は「スパイキング」と
呼ばれる。
【０００４】感圧デジタイザを使用する際に遭遇する別
の困難は、複数の点が同時に押圧される可能性があるこ
とである。それらの点のうちの一つがデータ入力装置の
実際の入力点である。他の点はデジタイザ上のユーザー
の手の位置あるいはデジタイザの欠陥点であったりす
る。
の困難は、複数の点が同時に押圧される可能性があるこ
とである。それらの点のうちの一つがデータ入力装置の
実際の入力点である。他の点はデジタイザ上のユーザー
の手の位置あるいはデジタイザの欠陥点であったりす
る。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】それゆえ無効な標本点
が記録されないようにする装置および方法を与えること
が望ましい。
が記録されないようにする装置および方法を与えること
が望ましい。
【０００６】従って本発明の課題はデジタイザで標本採
取した点の有効性判断を与える装置および方法を与える
ことである。
取した点の有効性判断を与える装置および方法を与える
ことである。
【０００７】本発明の別の課題は、デジタイザで標本採
取した点の有効性に関し、デジタイザ層間接触抵抗を計
算し、これを位置標本として受理若しくは拒絶すべく有
効範囲の抵抗値と比較する装置および方法を与えること
である。
取した点の有効性に関し、デジタイザ層間接触抵抗を計
算し、これを位置標本として受理若しくは拒絶すべく有
効範囲の抵抗値と比較する装置および方法を与えること
である。
【０００８】本発明のもう一つの課題は、デジタイザ層
間接触抵抗値を決定する装置および方法を与えることで
ある。
間接触抵抗値を決定する装置および方法を与えることで
ある。
【０００９】本発明のさらに別の課題は、デジタイザ層
間接触点における標本点の座標を決定する装置および方
法を与えることである。
間接触点における標本点の座標を決定する装置および方
法を与えることである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明によるデジタイザ
で標本採取した点の有効性判断を与える装置および方法
は以下の通りである。本装置は複数の駆動源の一つによ
りデジタイザを駆動するアナログ駆動回路と、この駆動
回路にいずれの駆動源を当該デジタイザに結合するかを
決定するスイッチ制御論理回路と、当該デジタイザに結
合されたアナログ-デジタル（anolog-to-digital）コン
バータと、そのアナログ-デジタルコンバータおよびス
イッチ制御論理回路間に接続されたマイクロコントロー
ラとを含む。このコントローラはスイッチ制御論理回路
を制御すると共にデジタイザの上方および下方の抵抗層
の間の接触点におけるこれら層間接触抵抗を決定し、そ
の接触抵抗値を受理若しくは拒絶すべく有効範囲の接触
抵抗値と比較する。
で標本採取した点の有効性判断を与える装置および方法
は以下の通りである。本装置は複数の駆動源の一つによ
りデジタイザを駆動するアナログ駆動回路と、この駆動
回路にいずれの駆動源を当該デジタイザに結合するかを
決定するスイッチ制御論理回路と、当該デジタイザに結
合されたアナログ-デジタル（anolog-to-digital）コン
バータと、そのアナログ-デジタルコンバータおよびス
イッチ制御論理回路間に接続されたマイクロコントロー
ラとを含む。このコントローラはスイッチ制御論理回路
を制御すると共にデジタイザの上方および下方の抵抗層
の間の接触点におけるこれら層間接触抵抗を決定し、そ
の接触抵抗値を受理若しくは拒絶すべく有効範囲の接触
抵抗値と比較する。
【００１１】デジタイザから得られる標本点の有効性を
決定する本方法は、デジタイザの上方層および下方層が
接触する接触点の接触抵抗を決定するステップと、その
接触抵抗を有効範囲の接触抵抗値と比較するステップと
を含む。もしもその接触抵抗値がその有効範囲内にあれ
ば、本方法はさらに当該点の位置を決定し、その位置を
メモリに格納する。
決定する本方法は、デジタイザの上方層および下方層が
接触する接触点の接触抵抗を決定するステップと、その
接触抵抗を有効範囲の接触抵抗値と比較するステップと
を含む。もしもその接触抵抗値がその有効範囲内にあれ
ば、本方法はさらに当該点の位置を決定し、その位置を
メモリに格納する。
【００１２】本方法によれば、かかる接触抵抗は前記上
方層にかかる第一電圧の測定するステップ、前記下方層
にかかる第二電圧を測定するステップ、前記上方層の第
一部分と下方層の第一部分との間にかかる電圧を測定す
るステップ（但し、これら第一部分は接触点で連結して
いるものとする）、前記上方層の第二部分および下方層
の第二部分の間にかかる第四電圧を測定するステップ
（但し、これら第二部分は接触点で連結しているものと
する）、並びに前記第一、第二電圧の和と第三、第四電
圧の和との間の差を決定するステップから決定できる。
方層にかかる第一電圧の測定するステップ、前記下方層
にかかる第二電圧を測定するステップ、前記上方層の第
一部分と下方層の第一部分との間にかかる電圧を測定す
るステップ（但し、これら第一部分は接触点で連結して
いるものとする）、前記上方層の第二部分および下方層
の第二部分の間にかかる第四電圧を測定するステップ
（但し、これら第二部分は接触点で連結しているものと
する）、並びに前記第一、第二電圧の和と第三、第四電
圧の和との間の差を決定するステップから決定できる。
【００１３】以下の実施例に関する説明および添付の図
面により前記特許請求の範囲に記載した本発明の利点お
よび特徴を明らかにする。
面により前記特許請求の範囲に記載した本発明の利点お
よび特徴を明らかにする。
【００１４】
【実施例】ここで図１を参照する。本発明に基づく装置
１０は、その主要部としてマイクロコントローラ１２、
スイッチ制御論理回路１４、アナログ駆動回路１６、お
よびアナログ-デジタル（Ａ／Ｄ）コンバータ１８を含
む。
１０は、その主要部としてマイクロコントローラ１２、
スイッチ制御論理回路１４、アナログ駆動回路１６、お
よびアナログ-デジタル（Ａ／Ｄ）コンバータ１８を含
む。
【００１５】マイクロコントローラ１２は本装置１０の
オペレーションを制御する。マイクロコントローラ１２
はメモリおよびＡ／Ｄコンバータ１８を介して入力を受
信するデータバッファを含む。マイクロコントローラ１
２はスイッチ制御論理回路１４を介してアナログ駆動回
路１６を制御する。マイクロコントローラ１２はまたデ
ジタイザ２０の上方層２２および下方層２４間の接触抵
抗を計算し、位置標本の有効性を決定する。
オペレーションを制御する。マイクロコントローラ１２
はメモリおよびＡ／Ｄコンバータ１８を介して入力を受
信するデータバッファを含む。マイクロコントローラ１
２はスイッチ制御論理回路１４を介してアナログ駆動回
路１６を制御する。マイクロコントローラ１２はまたデ
ジタイザ２０の上方層２２および下方層２４間の接触抵
抗を計算し、位置標本の有効性を決定する。
【００１６】スイッチ制御論理回路１４はマイクロコン
トローラ１２からの命令に応答してアナログ駆動回路１
６のオペレーションを制御する。好ましくはスイッチ制
御論理回路１４はマイクロコントローラ１２からのクロ
ックおよび命令入力を受信するラッチを含む。このラッ
チはマイクロコントローラ１２の外部に在ってもも内部
に在ってもよい。このラッチを内部にあるものとするな
らマイクロコントローラパッケージは本装置１０に供す
るに足りる十分なポートピンを具えていなければならな
い。ラッチに関する議論は１９７９年にマグローヒル社
から発行された「マイクロエレクトロニクス」と題する
ジェイコブ・ミルマン著の本に見られる。
トローラ１２からの命令に応答してアナログ駆動回路１
６のオペレーションを制御する。好ましくはスイッチ制
御論理回路１４はマイクロコントローラ１２からのクロ
ックおよび命令入力を受信するラッチを含む。このラッ
チはマイクロコントローラ１２の外部に在ってもも内部
に在ってもよい。このラッチを内部にあるものとするな
らマイクロコントローラパッケージは本装置１０に供す
るに足りる十分なポートピンを具えていなければならな
い。ラッチに関する議論は１９７９年にマグローヒル社
から発行された「マイクロエレクトロニクス」と題する
ジェイコブ・ミルマン著の本に見られる。
【００１７】アナログ駆動回路１６はスイッチ２６-３
２、複数のデジタイザ入力端、電圧源３４、４４、電流
源３６、４６、オープンポジション３８、４８、グラウ
ンド（接地線）４０、５０、およびオープンポジション
４２、５２を含む。スイッチ２６-３２は好ましくはト
ランジスタスイッチ回路である。このような回路に関す
る議論は１９７５年ジョンワイリーアンドサンズ社発行
の「エレクトロニクス回路および応用例」と題するステ
ファン Ｄ．センチュラおよびブルース Ｄ．ウィエド
ロック共著の本に見られる。
２、複数のデジタイザ入力端、電圧源３４、４４、電流
源３６、４６、オープンポジション３８、４８、グラウ
ンド（接地線）４０、５０、およびオープンポジション
４２、５２を含む。スイッチ２６-３２は好ましくはト
ランジスタスイッチ回路である。このような回路に関す
る議論は１９７５年ジョンワイリーアンドサンズ社発行
の「エレクトロニクス回路および応用例」と題するステ
ファン Ｄ．センチュラおよびブルース Ｄ．ウィエド
ロック共著の本に見られる。
【００１８】Ａ／Ｄコンバータ１８はデジタイザ２０の
電圧ＶｘおよびＶｙを標本採取し、それらをマイクロコ
ントローラ１２が利用できるデジタルコードに変換す
る。標本採取された電圧ＶｘおよびＶｙのデジタル表示
は電圧ＶｘおよびＶｙの実際のアナログ値に比例する。
電圧ＶｘおよびＶｙを標本採取し、それらをマイクロコ
ントローラ１２が利用できるデジタルコードに変換す
る。標本採取された電圧ＶｘおよびＶｙのデジタル表示
は電圧ＶｘおよびＶｙの実際のアナログ値に比例する。
【００１９】デジタイザ２０は上方層２２および下方層
２４を含む。各層は二つの平行なワイヤ電極を含む。上
方層２２は左右の平行な電極５４、５６を含み、下方層
２４は底部および頂部の平行な電極５８、６０を含む。
電極５４および５６は電極５８、６０と垂直である。
２４を含む。各層は二つの平行なワイヤ電極を含む。上
方層２２は左右の平行な電極５４、５６を含み、下方層
２４は底部および頂部の平行な電極５８、６０を含む。
電極５４および５６は電極５８、６０と垂直である。
【００２０】図２にはデータ入力装置からの押圧がない
ときのデジタイザ２０の離散抵抗モデルが示されてい
る。層２２、２４はそれぞれ一様に分布する抵抗を有す
る。しかしながら、このモデルでは各層を二つの抵抗値
として表す。左右の電極５４、５６は抵抗Ｒｘ１および
Ｒｘ２により分離される一方、底部と頂部の電極５８、
６０は抵抗Ｒｙ１およびＲｙ２で分離される。
ときのデジタイザ２０の離散抵抗モデルが示されてい
る。層２２、２４はそれぞれ一様に分布する抵抗を有す
る。しかしながら、このモデルでは各層を二つの抵抗値
として表す。左右の電極５４、５６は抵抗Ｒｘ１および
Ｒｘ２により分離される一方、底部と頂部の電極５８、
６０は抵抗Ｒｙ１およびＲｙ２で分離される。
【００２１】図３には図２のモデルをデータ入力装置か
らの押圧がある場合に修正したときの離散的抵抗モデル
が示されている。上下層２２、２４は接触抵抗Ｒｃによ
り結合される。層２２、２４間の接触点がＲｘ１、Ｒｘ
２、Ｒｙ１およびＲｙ２の値を決定する。
らの押圧がある場合に修正したときの離散的抵抗モデル
が示されている。上下層２２、２４は接触抵抗Ｒｃによ
り結合される。層２２、２４間の接触点がＲｘ１、Ｒｘ
２、Ｒｙ１およびＲｙ２の値を決定する。
【００２２】図４には複数の位置標本の中から選択を行
う方法が示されている。この方法は「開始」ステップ７
０から始まる。
う方法が示されている。この方法は「開始」ステップ７
０から始まる。
【００２３】ブロック７２で接触抵抗Ｒｃが本装置１０
を使って計算される。ブロック７２は図５に分解して示
してある。
を使って計算される。ブロック７２は図５に分解して示
してある。
【００２４】ブロック７４においてマイクロコントロー
ラ１２は接触抵抗Ｒｃを予定の値域と比較する。
ラ１２は接触抵抗Ｒｃを予定の値域と比較する。
【００２５】もしも接触抵抗Ｒｃが有効範囲内に在れ
ば、マイクロコントローラ１２はブロック７６でその接
触点の位置を計算する。ブロック７６は図６に分解して
示す。
ば、マイクロコントローラ１２はブロック７６でその接
触点の位置を計算する。ブロック７６は図６に分解して
示す。
【００２６】次いでブロック７８で位置標本が受理さ
れ、マイクロコントローラ１２のデータバッファに格納
され、本方法はブロック７２に戻って接触抵抗Ｒｃにつ
いて新たな値を計算する。
れ、マイクロコントローラ１２のデータバッファに格納
され、本方法はブロック７２に戻って接触抵抗Ｒｃにつ
いて新たな値を計算する。
【００２７】もしも接触抵抗Ｒｃが有効範囲外にある
と、本方法はブロック８０でマイクロコントローラ１２
のデータバッファに一点が格納されているか否かを決定
する。もしも接触抵抗Ｒｃが有効範囲の上にあると、当
該接触点に不十分な圧力が加えられているのであり、ス
パイキンブが生じているのである。もしも接触抵抗Ｒｃ
が有効範囲の下に在ればその点には二つ以上の点が在る
のである。
と、本方法はブロック８０でマイクロコントローラ１２
のデータバッファに一点が格納されているか否かを決定
する。もしも接触抵抗Ｒｃが有効範囲の上にあると、当
該接触点に不十分な圧力が加えられているのであり、ス
パイキンブが生じているのである。もしも接触抵抗Ｒｃ
が有効範囲の下に在ればその点には二つ以上の点が在る
のである。
【００２８】全く点が格納されていないなら、本方法は
ブロック７２に戻り、接触抵抗Ｒｃについて新たな値を
計算する。
ブロック７２に戻り、接触抵抗Ｒｃについて新たな値を
計算する。
【００２９】もしも点が格納されているなら、本方法は
ブロック８２に進み、バッファポインタのバックアップ
を行い最終点を削除する。本方法は次いでブロック７２
に戻り、接触抵抗Ｒｃについて新たな値を計算する。
ブロック８２に進み、バッファポインタのバックアップ
を行い最終点を削除する。本方法は次いでブロック７２
に戻り、接触抵抗Ｒｃについて新たな値を計算する。
【００３０】ここで図５を参照すると、「開始」ステッ
プ９０から始まる接触抵抗Ｒｃを決定する方法が示され
ている。
プ９０から始まる接触抵抗Ｒｃを決定する方法が示され
ている。
【００３１】ブロック９２でマイクロコントローラ１２
はスイッチ制御論理回路１４に信号を送り、スイッチ２
６をして電流源３６を左電極５４に結合させると共にス
イッチ２８をして右電極５６をグラウンド４０に結合さ
せる。
はスイッチ制御論理回路１４に信号を送り、スイッチ２
６をして電流源３６を左電極５４に結合させると共にス
イッチ２８をして右電極５６をグラウンド４０に結合さ
せる。
【００３２】ブロック９４でＡ／Ｄコンバータ１８は電
極５４の電圧Ｖｘを標本採取し、マイクロコントローラ
１２が電圧Ｖｘを記録する。
極５４の電圧Ｖｘを標本採取し、マイクロコントローラ
１２が電圧Ｖｘを記録する。
【００３３】ブロック９６でマイクロコントローラ１２
はスイッチ制御論理回路１４に信号を送りスイッチ２６
をして電流源３６を切り、スイッチ２８をしてグラウン
ド４０を切る。
はスイッチ制御論理回路１４に信号を送りスイッチ２６
をして電流源３６を切り、スイッチ２８をしてグラウン
ド４０を切る。
【００３４】ブロック９８でマイクロコントローラ１２
はスイッチ制御論理回路１４に信号を送りスイッチ３０
をして電流源４６を底部電極５８に結合させると共にス
イッチ３２をしてグラウンド５０を頂部電極６０に結合
させる。
はスイッチ制御論理回路１４に信号を送りスイッチ３０
をして電流源４６を底部電極５８に結合させると共にス
イッチ３２をしてグラウンド５０を頂部電極６０に結合
させる。
【００３５】ブロック１００でＡ／Ｄコンバータ１８は
電極５８の電圧Ｖｙを標本採取し、マイクロコントロー
ラ１２が電圧Ｖｙを記録する。
電極５８の電圧Ｖｙを標本採取し、マイクロコントロー
ラ１２が電圧Ｖｙを記録する。
【００３６】ブロック１０２でマイクロコントローラ１
２はスイッチ制御論理回路１４に信号を送り、スイッチ
３０をして電流源４６を切らせ、スイッチ３２をしてグ
ラウンド５０を切らせる。
２はスイッチ制御論理回路１４に信号を送り、スイッチ
３０をして電流源４６を切らせ、スイッチ３２をしてグ
ラウンド５０を切らせる。
【００３７】ブロック１０４でマイクロコントローラ１
２はスイッチ制御論理回路１４に信号を送り、スイッチ
２６をして電流源３６を電極５４に結合させると共にス
イッチ３２をしてグラウンド５０を電極６０に結合させ
る。
２はスイッチ制御論理回路１４に信号を送り、スイッチ
２６をして電流源３６を電極５４に結合させると共にス
イッチ３２をしてグラウンド５０を電極６０に結合させ
る。
【００３８】ブロック１０６でＡ／Ｄコンバータ１８は
電極５４の電圧Ｖｘを標本採取し、マイクロコントロー
ラ１２がそれを電圧Ｖｘ１として記録する。
電極５４の電圧Ｖｘを標本採取し、マイクロコントロー
ラ１２がそれを電圧Ｖｘ１として記録する。
【００３９】ブロック１０８でマイクロコントローラ１
２はスイッチ制御論理回路１４に信号を送りスイッチ２
６をして電流源３６を切らせると共にスイッチ３２をし
てグラウンド５０を切らせる。
２はスイッチ制御論理回路１４に信号を送りスイッチ２
６をして電流源３６を切らせると共にスイッチ３２をし
てグラウンド５０を切らせる。
【００４０】ブロック１１０でマイクロコントローラ１
２はスイッチ制御論理回路１４に信号を送りスイッチ３
０をして電流源４６を電極５８に結合させると共にスイ
ッチ２８をしてグラウンド４０を電極５６に結合させ
る。
２はスイッチ制御論理回路１４に信号を送りスイッチ３
０をして電流源４６を電極５８に結合させると共にスイ
ッチ２８をしてグラウンド４０を電極５６に結合させ
る。
【００４１】ブロック１１２でＡ／Ｄコンバータ１８は
電極５８の電圧Ｖｙを標本採取し、マイクロコントロー
ラ１２がそれを電圧Ｖｙ１として記録する。
電極５８の電圧Ｖｙを標本採取し、マイクロコントロー
ラ１２がそれを電圧Ｖｙ１として記録する。
【００４２】ブロック１１４でマイクロコントローラ１
２はスイッチ制御論理回路１４に信号を送り、スイッチ
３０をして電流源４６を切らせると共にスイッチ２８を
してグラウンド４０を切らせる。
２はスイッチ制御論理回路１４に信号を送り、スイッチ
３０をして電流源４６を切らせると共にスイッチ２８を
してグラウンド４０を切らせる。
【００４３】ブロック１１６でマイクロコントローラ１
２は接触抵抗Ｒｃを以下の計算式に基づいて計算する。 Ｒｃ＝｛（Ｖｘ１＋Ｖｙ１）−（Ｖｘ＋Ｖｙ）｝／（２＊Ｉ） ここにＩは定数で、電流源３６および４６の双方からの
電流値に等しい。Ａ／Ｄコンバータの出力と接触抵抗Ｒ
ｃとは実際の電圧読み取り値に比例するので、Ａ／Ｄコ
ンバータ出力を実際の電圧読み取り値に変換する必要は
なく、実際の電圧およびＡ／Ｄコンバータ出力を量（２
＊Ｉ）で除する必要もない。電圧Ｖｘ、Ｖｙに対するＡ
／Ｄコンバータ出力の和と電圧Ｖｘ１、Ｖｙ１に対する
Ａ／Ｄコンバータ出力の和との差を比較することによ
り、Ａ／Ｄコンバータ出力の有効範囲を確立することが
できる。
２は接触抵抗Ｒｃを以下の計算式に基づいて計算する。 Ｒｃ＝｛（Ｖｘ１＋Ｖｙ１）−（Ｖｘ＋Ｖｙ）｝／（２＊Ｉ） ここにＩは定数で、電流源３６および４６の双方からの
電流値に等しい。Ａ／Ｄコンバータの出力と接触抵抗Ｒ
ｃとは実際の電圧読み取り値に比例するので、Ａ／Ｄコ
ンバータ出力を実際の電圧読み取り値に変換する必要は
なく、実際の電圧およびＡ／Ｄコンバータ出力を量（２
＊Ｉ）で除する必要もない。電圧Ｖｘ、Ｖｙに対するＡ
／Ｄコンバータ出力の和と電圧Ｖｘ１、Ｖｙ１に対する
Ａ／Ｄコンバータ出力の和との差を比較することによ
り、Ａ／Ｄコンバータ出力の有効範囲を確立することが
できる。
【００４４】図６を参照すると、デジタイザ２０上の一
接触点の位置を決定する方法が示されている。このステ
ップは「開始」ステップ１２０で始まる。
接触点の位置を決定する方法が示されている。このステ
ップは「開始」ステップ１２０で始まる。
【００４５】ブロック１２２でマイクロコントローラ１
２はスイッチ制御論理回路１４に信号を送り、スイッチ
２６をして電圧源３４を電極５４に結合させると共にス
イッチ２８をしてグラウンド４０を電極５６に結合させ
る。
２はスイッチ制御論理回路１４に信号を送り、スイッチ
２６をして電圧源３４を電極５４に結合させると共にス
イッチ２８をしてグラウンド４０を電極５６に結合させ
る。
【００４６】ブロック１２４でＡ／Ｄコンバータ１８は
電極５８における電圧Ｖｙを標本採取し、その結果が当
該接触点のＸ-座標としてマイクロコントローラ１２の
バッファ内に格納される。
電極５８における電圧Ｖｙを標本採取し、その結果が当
該接触点のＸ-座標としてマイクロコントローラ１２の
バッファ内に格納される。
【００４７】ブロック１２６でマイクロコントローラ１
２はスイッチ制御論理回路１４に信号を送りスイッチ２
６をして電圧源３４を切らせると共にスイッチ２８をし
てグラウンド４０を切らせる。
２はスイッチ制御論理回路１４に信号を送りスイッチ２
６をして電圧源３４を切らせると共にスイッチ２８をし
てグラウンド４０を切らせる。
【００４８】ブロック１２８でマイクロコントローラ１
２はスイッチ制御論理回路１４に信号を送りスイッチ３
０をして電圧源４４を電極５８に結合させると共にスイ
ッチ３２をしてグラウンド５０を電極６０に結合させ
る。
２はスイッチ制御論理回路１４に信号を送りスイッチ３
０をして電圧源４４を電極５８に結合させると共にスイ
ッチ３２をしてグラウンド５０を電極６０に結合させ
る。
【００４９】ブロック１３０でＡ／Ｄコンバータ１８は
電極５４の電圧Ｖｘを標本採取し、その結果が当該接触
点のＹ-座標としてマイクロコントローラ１２のバッフ
ァに格納される。
電極５４の電圧Ｖｘを標本採取し、その結果が当該接触
点のＹ-座標としてマイクロコントローラ１２のバッフ
ァに格納される。
【００５０】ブロック１３２でマイクロコントローラ１
２はスイッチ制御論理回路１４に信号を送り、スイッチ
３０をして電圧源４４を切らせると共にスイッチ３２を
してグラウンド５０を切らせる。
２はスイッチ制御論理回路１４に信号を送り、スイッチ
３０をして電圧源４４を切らせると共にスイッチ３２を
してグラウンド５０を切らせる。
【００５１】
【効果】以上に説明したように本方法および装置は、デ
ジタイザの上方層および下方層間の接触点における接触
抵抗を決定し、それを接触抵抗値有効範囲と比較するこ
とにより、上記接触抵抗を決定し、それを有効範囲の抵
抗値と比較し、その接触抵抗が有効範囲内に在ればその
点の位置を格納し、その点を受理する。このように本発
明の方法および装置はデジタイザで標本採取した点の有
効性判断を与えるので、無効な標本点が記録されないよ
うにするすることができる。
ジタイザの上方層および下方層間の接触点における接触
抵抗を決定し、それを接触抵抗値有効範囲と比較するこ
とにより、上記接触抵抗を決定し、それを有効範囲の抵
抗値と比較し、その接触抵抗が有効範囲内に在ればその
点の位置を格納し、その点を受理する。このように本発
明の方法および装置はデジタイザで標本採取した点の有
効性判断を与えるので、無効な標本点が記録されないよ
うにするすることができる。
【図１】本発明の装置のブロック線図である。
【図２】デジタイザを押圧しないときのデジタイザの離
散抵抗モデルである。
散抵抗モデルである。
【図３】図２の離散抵抗モデルに電圧を印加したときの
様子を示す図である。
様子を示す図である。
【図４】複数の位置標本の中から選択を行う方法を示す
流れ図である。
流れ図である。
【図５】コンピューターによる接触抵抗を求める方法を
示す流れ図である。
示す流れ図である。
【図６】接触点の位置を計算する方法を示す流れ図であ
る。
る。
１０ 本発明の装置 １２ マイクロコントローラ １４ スイッチ制御論理回路 １６ アナログ駆動回路 １８ Ａ／Ｄコンバータ ２０ デジタイザ ２２ デジタイザの上方層 ２４ デジタイザの下方層 ２６-３２ スイッチ ３４、４４電圧源 ３６、４６ 電流源 ３８、４２、４８、５２ オープンポジション ４０、５０ グラウンド
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ウェイン アレン マーティン アメリカ合衆国 43732 オハイオ、カン バーランド、ハウエル ロード 52680 (72)発明者 ジョウゼフ ユージーン ブレイム アメリカ合衆国 43725 オハイオ、ケン ブリッジ、イースト パイク ロード 13591
Claims (2)
- 【請求項１】各々に複数の電極を含む上方および下方の
抵抗層を具えるデジタイザから標本採取した点の有効性
を決定する装置であって、 複数の駆動源の一つにより該デジタイザを駆動する駆動
手段と、 いずれの駆動源が該デジタイザに結合されるかを決定す
るための、該駆動手段に接続された選択手段と、 該デジタイザに結合された予定数の電極における予定数
の電気的パラメータを検知する検知手段と、 該検知手段と該選択手段との間に結合され、該選択手段
を制御し、該上方および下方の抵抗層間の接触点におけ
る該二層間の接触抵抗を決定し、当該点を受理若しくは
拒絶すべく有効範囲の接触抵抗値に対し該接触抵抗値を
比較する制御手段とを含むデジタイザ標本点有効性決定
装置。 - 【請求項２】各々に複数の電極を含む上方および下方の
抵抗層を具えるデジタイザから標本採取した点の有効性
を決定する方法であって、 （ａ）該上方および下方の抵抗層間の接触点における接
触抵抗を決定するステップと、 （ｂ）有効範囲の接触抵抗値に対し該接触抵抗値を比較
するステップと、 （ｃ）もしも該接触抵抗値が該有効範囲内にあれば該点
の位置を決定するステップと、 （ｄ）該位置を受理するステップとを含む標本点有効性
決定方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US836663 | 1992-02-18 | ||
| US07/836,663 US5245139A (en) | 1992-02-18 | 1992-02-18 | Apparatus and method for digitizer sampled point validation |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0612173A true JPH0612173A (ja) | 1994-01-21 |
Family
ID=25272444
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4985493A Pending JPH0612173A (ja) | 1992-02-18 | 1993-02-17 | デジタイザ標本点の有効性判断の方法および装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5245139A (ja) |
| EP (1) | EP0557001A1 (ja) |
| JP (1) | JPH0612173A (ja) |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5335230A (en) * | 1991-08-12 | 1994-08-02 | Ncr Corporation | Apparatus and method for automatic digitizer fault detection |
| JP3201873B2 (ja) * | 1993-04-23 | 2001-08-27 | エスエムケイ株式会社 | 抵抗感圧型タブレットの座標検出方法およびその装置 |
| JP3201874B2 (ja) * | 1993-04-23 | 2001-08-27 | エスエムケイ株式会社 | 抵抗感圧型タブレットの座標検出方法およびその装置 |
| JP2955149B2 (ja) * | 1993-05-11 | 1999-10-04 | グンゼ株式会社 | タッチパネルの座標検出装置 |
| US6005200A (en) * | 1994-08-05 | 1999-12-21 | Hyundai Electronics America | Compensation of stylus signals in digitizing tablet |
| EP0717367B1 (en) | 1994-12-16 | 2001-08-29 | Hyundai Electronics America | Digitizer stylus apparatus and method |
| EP0717368B1 (en) * | 1994-12-16 | 2001-10-04 | Hyundai Electronics America | Digitizer stylus and method of operation |
| US5892824A (en) * | 1996-01-12 | 1999-04-06 | International Verifact Inc. | Signature capture/verification systems and methods |
| US7023427B2 (en) * | 2002-06-28 | 2006-04-04 | Microsoft Corporation | Method and system for detecting multiple touches on a touch-sensitive screen |
| US20050276454A1 (en) * | 2004-06-14 | 2005-12-15 | Rodney Beatson | System and methods for transforming biometric image data to a consistent angle of inclination |
| US8395592B2 (en) * | 2008-08-05 | 2013-03-12 | Apex Material Technology Corp. | Sensing system |
| TWI459251B (zh) * | 2009-05-21 | 2014-11-01 | Apex Material Technology Corp | 感知系統以及用於該感知系統的訊號處理方法 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3885097A (en) * | 1972-08-11 | 1975-05-20 | Nat Res Dev | Graphical input apparatus for electrical apparatus |
| GB1559173A (en) * | 1975-10-21 | 1980-01-16 | Nat Res Dev | Graphical input apparatus for electrical equipment |
| US4575580A (en) * | 1984-04-06 | 1986-03-11 | Astec International, Ltd. | Data input device with a circuit responsive to stylus up/down position |
| US4680429A (en) * | 1986-01-15 | 1987-07-14 | Tektronix, Inc. | Touch panel |
| JPS62298820A (ja) * | 1986-06-18 | 1987-12-25 | Omron Tateisi Electronics Co | 座標入力装置 |
| JPS63314633A (ja) * | 1987-06-17 | 1988-12-22 | Gunze Ltd | タッチパネルにおける接触位置の検出方法 |
| US5008497A (en) * | 1990-03-22 | 1991-04-16 | Asher David J | Touch controller |
-
1992
- 1992-02-18 US US07/836,663 patent/US5245139A/en not_active Expired - Lifetime
-
1993
- 1993-02-10 EP EP93300950A patent/EP0557001A1/en not_active Withdrawn
- 1993-02-17 JP JP4985493A patent/JPH0612173A/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0557001A1 (en) | 1993-08-25 |
| US5245139A (en) | 1993-09-14 |
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