JPH0934641A - タッチパネル押圧位置検出装置 - Google Patents
タッチパネル押圧位置検出装置Info
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- JPH0934641A JPH0934641A JP18139695A JP18139695A JPH0934641A JP H0934641 A JPH0934641 A JP H0934641A JP 18139695 A JP18139695 A JP 18139695A JP 18139695 A JP18139695 A JP 18139695A JP H0934641 A JPH0934641 A JP H0934641A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 タッチパネルよりの出力電圧に雑音が重畳さ
れても精度の高い押圧位置を検出するようにしたタッチ
パネル押圧位置検出装置を提供することを課題とする。 【解決手段】 タッチパネルより出力される電圧をディ
ジタル値に変換するＡ／ＤとＡ／Ｄより出力される複数
データ記録するデータ記録手段と、データ記録手段に記
録されているデータの中より異常データを削除する異常
データ削除手段と、異常データ削除手段で削除され、前
記データ記録手段に記録されている残りのデータより押
圧位置を算出する押圧位置算出手段と、を備える。
れても精度の高い押圧位置を検出するようにしたタッチ
パネル押圧位置検出装置を提供することを課題とする。 【解決手段】 タッチパネルより出力される電圧をディ
ジタル値に変換するＡ／ＤとＡ／Ｄより出力される複数
データ記録するデータ記録手段と、データ記録手段に記
録されているデータの中より異常データを削除する異常
データ削除手段と、異常データ削除手段で削除され、前
記データ記録手段に記録されている残りのデータより押
圧位置を算出する押圧位置算出手段と、を備える。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はタッチパネルの押圧
位置を検出するタッチパネル押圧位置検出装置に関す
る。
位置を検出するタッチパネル押圧位置検出装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】今日の電子機器の入力方法の一つとし
て、表示画面上に設けられたタッチパネルより入力する
方法が用いられている。図３はタッチパネルの具体例を
示しており、液晶表示装置、ＣＲＴ等の表示面の上に、
例えばインジウム−錫酸化膜でできた透明導電薄膜（ｉ
ＴＤ膜）を２枚重ね合せ、上方の膜の左右の両端には電
極ＸＬおよびＸＲを、下方の膜の上下の両端には電極Ｙ
ＵおよびＹＬが取付けられている。
て、表示画面上に設けられたタッチパネルより入力する
方法が用いられている。図３はタッチパネルの具体例を
示しており、液晶表示装置、ＣＲＴ等の表示面の上に、
例えばインジウム−錫酸化膜でできた透明導電薄膜（ｉ
ＴＤ膜）を２枚重ね合せ、上方の膜の左右の両端には電
極ＸＬおよびＸＲを、下方の膜の上下の両端には電極Ｙ
ＵおよびＹＬが取付けられている。
【０００３】押圧位置の検出は、図４に示すように、Ｘ
軸方向の位置検出においては、上面の左電極ＸＬを接地
し、右電極ＸＲにバイアス電圧を加える。タッチパネル
を押圧すると上面のｉＤＴ膜が下面のｉＤＴ膜と押圧点
で接触する。したがって、下面の電極には、 Ｖxk＝ｋ・ＶB ・・・（１） ただし、ＶB ：バイアス電圧 ｋ＝Ｒ1 ／（Ｒ1 ＋Ｒ2 ）＝ＸP ／ＸW ・・・（２） ＸW ：ＸＬとＸＲ間の長さ、 ＸP ：ＸＬより押圧点までの長さ なる電圧Ｖxkが出力される。
軸方向の位置検出においては、上面の左電極ＸＬを接地
し、右電極ＸＲにバイアス電圧を加える。タッチパネル
を押圧すると上面のｉＤＴ膜が下面のｉＤＴ膜と押圧点
で接触する。したがって、下面の電極には、 Ｖxk＝ｋ・ＶB ・・・（１） ただし、ＶB ：バイアス電圧 ｋ＝Ｒ1 ／（Ｒ1 ＋Ｒ2 ）＝ＸP ／ＸW ・・・（２） ＸW ：ＸＬとＸＲ間の長さ、 ＸP ：ＸＬより押圧点までの長さ なる電圧Ｖxkが出力される。
【０００４】式（１）において、ＶB は既知であるの
で、ｋを知ることが出来、ｋは式（２）で表わされるの
で、Ｘ軸の押圧点ＸP を求めることができる。また、Ｙ
軸方向についても、Ｘ軸方向と同様にして押圧点ＹP を
求めることができる。
で、ｋを知ることが出来、ｋは式（２）で表わされるの
で、Ｘ軸の押圧点ＸP を求めることができる。また、Ｙ
軸方向についても、Ｘ軸方向と同様にして押圧点ＹP を
求めることができる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】前述したように、従来
のタッチパネルの押圧位置の検出においては、タッチパ
ネルの一方のｉＴＤ膜にバイアス電圧を加え、押圧する
ことによって接触し、他方のｉＴＤ膜より出される電圧
値によって押圧位置を求めるようにしていた。
のタッチパネルの押圧位置の検出においては、タッチパ
ネルの一方のｉＴＤ膜にバイアス電圧を加え、押圧する
ことによって接触し、他方のｉＴＤ膜より出される電圧
値によって押圧位置を求めるようにしていた。
【０００６】タッチパネルはＬＣＤやＣＲＴ等の表示装
置の表示面上に設置されている。このため表示装置から
誘導される雑音がタッチパネルの出力電圧に重畳され
る。すなわち、例えばドット型グラフィックＬＣＤはＸ
軸電極に走査電圧を順次加え、Ｙ軸電極に信号電圧を加
えて表示を行なうようにしているが、この場合の電圧は
間欠的に約３０Ｖ程度の高電圧が加えられ、この間欠的
な高電圧（パルス）がタッチパネルに誘導されて雑音と
なる。
置の表示面上に設置されている。このため表示装置から
誘導される雑音がタッチパネルの出力電圧に重畳され
る。すなわち、例えばドット型グラフィックＬＣＤはＸ
軸電極に走査電圧を順次加え、Ｙ軸電極に信号電圧を加
えて表示を行なうようにしているが、この場合の電圧は
間欠的に約３０Ｖ程度の高電圧が加えられ、この間欠的
な高電圧（パルス）がタッチパネルに誘導されて雑音と
なる。
【０００７】タッチパネルに雑音が重畳すると押圧位置
が大きく変化し、位置誤差発生の原因となる。本発明は
雑音が重畳されても精度の高い押圧位置を検出できるよ
うにしたタッチパネル押圧位置検出装置を提供すること
を課題とする。
が大きく変化し、位置誤差発生の原因となる。本発明は
雑音が重畳されても精度の高い押圧位置を検出できるよ
うにしたタッチパネル押圧位置検出装置を提供すること
を課題とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】前述した課題を解決する
ために本発明が採用した手段を説明する。第１の本発明
においては、タッチパネルの押圧位置を検出するタッチ
パネル押圧位置検出装置において、前記タッチパネルよ
り出力されるＸ軸およびＹ軸電圧をディジタル値に変換
するアナログディジタル変換手段と、前記タッチパネル
が押圧されている間の前記アナログディジタル変換手段
より出力されるＸ軸データおよびＹ軸データのそれぞれ
を複数データ記録するデータ記録手段と、前記データ記
録手段に記録されているＸ軸データおよびＹ軸データの
中より異常データを削除する異常データ削除手段と、前
記異常データ削除手段で削除され、前記データ記録手段
に記録されている残りのデータよりＸ軸データおよびＹ
軸データの平均値を算出し押圧位置を算出して出力する
押圧位置算出手段と、を備える。
ために本発明が採用した手段を説明する。第１の本発明
においては、タッチパネルの押圧位置を検出するタッチ
パネル押圧位置検出装置において、前記タッチパネルよ
り出力されるＸ軸およびＹ軸電圧をディジタル値に変換
するアナログディジタル変換手段と、前記タッチパネル
が押圧されている間の前記アナログディジタル変換手段
より出力されるＸ軸データおよびＹ軸データのそれぞれ
を複数データ記録するデータ記録手段と、前記データ記
録手段に記録されているＸ軸データおよびＹ軸データの
中より異常データを削除する異常データ削除手段と、前
記異常データ削除手段で削除され、前記データ記録手段
に記録されている残りのデータよりＸ軸データおよびＹ
軸データの平均値を算出し押圧位置を算出して出力する
押圧位置算出手段と、を備える。
【０００９】アナログディジタル変換手段は、タッチパ
ネルより出力されるＸ軸およびＹ軸電圧をディジタル値
に変換する。データ記録手段は、タッチパネルが押圧さ
れている間の前記アナログディジタル変換手段より出力
されるＸ軸データおよびＹ軸データのそれぞれを複数デ
ータ記録する。
ネルより出力されるＸ軸およびＹ軸電圧をディジタル値
に変換する。データ記録手段は、タッチパネルが押圧さ
れている間の前記アナログディジタル変換手段より出力
されるＸ軸データおよびＹ軸データのそれぞれを複数デ
ータ記録する。
【００１０】異常データ削除手段は、データ記録手段に
記録されているＸ軸データおよびＹ軸データの中より異
常データを削除する。押圧位置算出手段は、異常データ
削除手段で削除され、前記データ記録手段に記録されて
いる残りのデータよりＸ軸データおよびＹ軸データの平
均値を算出し押圧位置を算出して出力する。
記録されているＸ軸データおよびＹ軸データの中より異
常データを削除する。押圧位置算出手段は、異常データ
削除手段で削除され、前記データ記録手段に記録されて
いる残りのデータよりＸ軸データおよびＹ軸データの平
均値を算出し押圧位置を算出して出力する。
【００１１】また、第２の発明においては、前記異常デ
ータ削除手段が判定する異常データの判定を、前記デー
タ記録手段に記録されているＸ軸およびＹ軸データのそ
れぞれに対してデータを順次読出し、前回読出したデー
タと今回読出したデータ値の差が設定された値以上のと
き異常と判定して、前回読出したデータまたは両データ
を削除する。
ータ削除手段が判定する異常データの判定を、前記デー
タ記録手段に記録されているＸ軸およびＹ軸データのそ
れぞれに対してデータを順次読出し、前回読出したデー
タと今回読出したデータ値の差が設定された値以上のと
き異常と判定して、前回読出したデータまたは両データ
を削除する。
【００１２】また、第３の発明においては、前記異常デ
ータ削除手段が判定する異常データの判定を、前記デー
タ記録手段に記録されているＸ軸およびＹ軸データのそ
れぞれに対してデータの平均を求め、求めた平均値と記
録されているデータ値との差が設定された値以上のとき
異常と判定し、該データを削除する。
ータ削除手段が判定する異常データの判定を、前記デー
タ記録手段に記録されているＸ軸およびＹ軸データのそ
れぞれに対してデータの平均を求め、求めた平均値と記
録されているデータ値との差が設定された値以上のとき
異常と判定し、該データを削除する。
【００１３】また、第４の発明においては、前記異常デ
ータ削除手段が判定する異常データの判定を、前記デー
タ記録手段に記録されているＸ軸およびＹ軸データのそ
れぞれに対してデータの平均と標準偏差とを求め、求め
た平均値と記録されているデータ値との差がＡ・標準偏
差（Ａは設定値）以上のとき異常と判定し、該データを
削除する。
ータ削除手段が判定する異常データの判定を、前記デー
タ記録手段に記録されているＸ軸およびＹ軸データのそ
れぞれに対してデータの平均と標準偏差とを求め、求め
た平均値と記録されているデータ値との差がＡ・標準偏
差（Ａは設定値）以上のとき異常と判定し、該データを
削除する。
【００１４】また、第５の発明においては、前記異常デ
ータ削除手段が削除するデータを、前記データ記録手段
に記録されているＸ軸およびＹ軸データのそれぞれに対
してデータを順次読出し、前回と今回読出したデータ値
の差が設定された値以上であるときは前回または両デー
タを削除し、さらに残りのデータに対して平均値を求
め、求めた平均値と残りのデータ値との差が設定された
値以上となるデータを削除する。
ータ削除手段が削除するデータを、前記データ記録手段
に記録されているＸ軸およびＹ軸データのそれぞれに対
してデータを順次読出し、前回と今回読出したデータ値
の差が設定された値以上であるときは前回または両デー
タを削除し、さらに残りのデータに対して平均値を求
め、求めた平均値と残りのデータ値との差が設定された
値以上となるデータを削除する。
【００１５】また、第６の発明においては、前記異常デ
ータ削除手段が削除するデータを、前記データ記録手段
に記録されているＸ軸およびＹ軸データのそれぞれに対
してデータを順次読出し、前回と今回読出したデータ値
の差が設定された値以上であるときは前回または両デー
タを削除し、さらに残りのデータに対して平均値の標準
偏差を求め、求めた平均値と残りのデータ値との差がＡ
・標準偏差（Ａは設定値）以上となるデータを削除す
る。
ータ削除手段が削除するデータを、前記データ記録手段
に記録されているＸ軸およびＹ軸データのそれぞれに対
してデータを順次読出し、前回と今回読出したデータ値
の差が設定された値以上であるときは前回または両デー
タを削除し、さらに残りのデータに対して平均値の標準
偏差を求め、求めた平均値と残りのデータ値との差がＡ
・標準偏差（Ａは設定値）以上となるデータを削除す
る。
【００１６】以上のように、タッチパネルより出力され
る電圧をディジタル値に変換し、変換された複数のディ
ジタル値の中で、差が設定された値以上、平均値よりの
差が設定された値以上、または設定された偏差値以外と
なるデータを削除して、残りのデータより押圧位置を算
出するようにしたので、タッチパネルよりの出力される
電圧に雑音が重畳されても、雑音が重畳されたデータは
除去され、精度の高い押圧位置を検出することができ
る。
る電圧をディジタル値に変換し、変換された複数のディ
ジタル値の中で、差が設定された値以上、平均値よりの
差が設定された値以上、または設定された偏差値以外と
なるデータを削除して、残りのデータより押圧位置を算
出するようにしたので、タッチパネルよりの出力される
電圧に雑音が重畳されても、雑音が重畳されたデータは
除去され、精度の高い押圧位置を検出することができ
る。
【００１７】また、データの削除の差が設定された値以
上のデータを削除し、さらに残りのデータに対して平均
値よりの差が設定された値以上のデータも削除するよう
にしたので、平均値が０とならないインパルス性雑音お
よび平均値が０となる雑音の両雑音が重畳されても、精
度の高い押圧位置を検出することができる。
上のデータを削除し、さらに残りのデータに対して平均
値よりの差が設定された値以上のデータも削除するよう
にしたので、平均値が０とならないインパルス性雑音お
よび平均値が０となる雑音の両雑音が重畳されても、精
度の高い押圧位置を検出することができる。
【００１８】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図１および
図２を参照して説明する。図１は実施の形態の構成図、
図２は同実施の形態の動作フローチャートである。図１
において、１は図３で説明したタッチパネル、２および
３はスイッチ、４はオペアンプ、５はアナログディジタ
ル変換器（Ａ／Ｄ）、１１は押圧検出部、１２はデータ
記録部、１３は異常データ削除部、１４は押圧位置算出
部、１５はスイッチ制御部、１６〜１９はインタフェー
ス（Ｉ／Ｏ）、２０は処理を行うプロセッサ（ＣＰＵ）
である。
図２を参照して説明する。図１は実施の形態の構成図、
図２は同実施の形態の動作フローチャートである。図１
において、１は図３で説明したタッチパネル、２および
３はスイッチ、４はオペアンプ、５はアナログディジタ
ル変換器（Ａ／Ｄ）、１１は押圧検出部、１２はデータ
記録部、１３は異常データ削除部、１４は押圧位置算出
部、１５はスイッチ制御部、１６〜１９はインタフェー
ス（Ｉ／Ｏ）、２０は処理を行うプロセッサ（ＣＰＵ）
である。
【００１９】押圧位置検出開始前では、スイッチ２−１
および２−２は閉となってバイアス電圧が印加された状
態となっており、スイッチ３−１および３−２は開とな
った状態となっている。また、押圧されていないためＰ
で示す点でのｉＴＤ膜の接触はなく、オペアンプ４−１
の入力は０となっている。
および２−２は閉となってバイアス電圧が印加された状
態となっており、スイッチ３−１および３−２は開とな
った状態となっている。また、押圧されていないためＰ
で示す点でのｉＴＤ膜の接触はなく、オペアンプ４−１
の入力は０となっている。
【００２０】つぎに、図２を参照して、動作を説明す
る。処理Ｓ１では、押圧検出部１１は、タッチパネルが
押圧されたか否かを検出する。押圧されたか否かの検出
は、前述したように、押圧されていないときはオペアン
プ４−１の出力は０であるが、押圧されると０以下の値
が出力する。したがって、Ａ／Ｄ５より出力されるＸ軸
データ値（オペアンプ４−１の出力）が０以外となった
とき押圧されたと判定し、押圧されていないと判定され
た場合は押圧されるまで待機する。
る。処理Ｓ１では、押圧検出部１１は、タッチパネルが
押圧されたか否かを検出する。押圧されたか否かの検出
は、前述したように、押圧されていないときはオペアン
プ４−１の出力は０であるが、押圧されると０以下の値
が出力する。したがって、Ａ／Ｄ５より出力されるＸ軸
データ値（オペアンプ４−１の出力）が０以外となった
とき押圧されたと判定し、押圧されていないと判定され
た場合は押圧されるまで待機する。
【００２１】処理Ｓ２では、データ記録部１２は、Ａ／
Ｄ５より出力されるＸ軸データＶXをＩ／Ｏ１８を介し
て読込み、図示しないメモリに記録する。続いて処理Ｓ
３に移り、記録された個数がＮ個になったか否かを判定
し、Ｎ個になっていない場合は或時間後に処理Ｓ２に移
って次のＸ軸データを読込んで記録する。
Ｄ５より出力されるＸ軸データＶXをＩ／Ｏ１８を介し
て読込み、図示しないメモリに記録する。続いて処理Ｓ
３に移り、記録された個数がＮ個になったか否かを判定
し、Ｎ個になっていない場合は或時間後に処理Ｓ２に移
って次のＸ軸データを読込んで記録する。
【００２２】処理Ｓ４では、スイッチ制御部１５は、Ｉ
／Ｏ２を介してスイッチ２−１および２−２を開とし、
またＩ／Ｏ１７を介してスイッチ３−１および３−２を
閉にする。処理Ｓ５では、データ記録部１２は、オペア
ンプ４−２より出力され、Ａ／Ｄ変換されたＹ軸データ
ＶY をＩ／Ｏ１８を介して読込んで図示しないメモリに
記録し、処理Ｓ６に移って、記録したデータがＮ個にな
ったか否か判定し、判定がＮＯの場合は処理Ｓ５に移っ
て次のデータを読込んで記録する。
／Ｏ２を介してスイッチ２−１および２−２を開とし、
またＩ／Ｏ１７を介してスイッチ３−１および３−２を
閉にする。処理Ｓ５では、データ記録部１２は、オペア
ンプ４−２より出力され、Ａ／Ｄ変換されたＹ軸データ
ＶY をＩ／Ｏ１８を介して読込んで図示しないメモリに
記録し、処理Ｓ６に移って、記録したデータがＮ個にな
ったか否か判定し、判定がＮＯの場合は処理Ｓ５に移っ
て次のデータを読込んで記録する。
【００２３】処理Ｓ７では、異常データ削除部１３は、
処理Ｓ２で記録したＸ軸データおよび処理Ｓ５で記録し
たＹ軸データの中から異常データを削除する。異常デー
タの判定は、記録されているデータを順次読出し、第ｉ
番目および第ｉ＋１番目に読出したＸ軸データをＶXiお
よびＶXi+1とすると、 ｜ＶXi−ＶXi+1｜＞ＶD ・・・（３） ただし、ＶD は設定された値であるととき異常と判定
し、ＶXiまたはＶXiとＶXi+1の両データを記録より削除
する。また同様に、Ｙ軸データに対しても行い異常デー
タを削除する。
処理Ｓ２で記録したＸ軸データおよび処理Ｓ５で記録し
たＹ軸データの中から異常データを削除する。異常デー
タの判定は、記録されているデータを順次読出し、第ｉ
番目および第ｉ＋１番目に読出したＸ軸データをＶXiお
よびＶXi+1とすると、 ｜ＶXi−ＶXi+1｜＞ＶD ・・・（３） ただし、ＶD は設定された値であるととき異常と判定
し、ＶXiまたはＶXiとＶXi+1の両データを記録より削除
する。また同様に、Ｙ軸データに対しても行い異常デー
タを削除する。
【００２４】処理Ｓ８では、押圧位置算出部１４は、デ
ータ記録部１２の図示しないメモリに記録されたＮ個の
データより処理Ｓ７で削除されて残っているＭ個のデー
タより、 ＶXk＝（Ｖx1＋ＶX2＋……＋ＶXM）／Ｍ ・・・（４） なる演算を行って平均値ＶXkを求め、 Ｘｋ＝ＶXk／ＶB ・・・（５） なる演算を行ってＸ軸の押下位置Ｘｋを求め、Ｉ／Ｏ１
９を介して出力する。
ータ記録部１２の図示しないメモリに記録されたＮ個の
データより処理Ｓ７で削除されて残っているＭ個のデー
タより、 ＶXk＝（Ｖx1＋ＶX2＋……＋ＶXM）／Ｍ ・・・（４） なる演算を行って平均値ＶXkを求め、 Ｘｋ＝ＶXk／ＶB ・・・（５） なる演算を行ってＸ軸の押下位置Ｘｋを求め、Ｉ／Ｏ１
９を介して出力する。
【００２５】また、同様に、Ｙ軸に対して、図示しない
メモリに残っているＪ個のデータより ＶYK＝（ＶY1＋ＶY2＋……＋ＶYJ）／Ｊ ・・・（６） なる演算を行って平均値ＶYKを求め、 ＹK ＝ＶYK／ＶB ・・・（７） なる演算を行ってＹ軸の押下位置ＹK を求め、Ｉ／Ｏ１
９を介して出力する。
メモリに残っているＪ個のデータより ＶYK＝（ＶY1＋ＶY2＋……＋ＶYJ）／Ｊ ・・・（６） なる演算を行って平均値ＶYKを求め、 ＹK ＝ＶYK／ＶB ・・・（７） なる演算を行ってＹ軸の押下位置ＹK を求め、Ｉ／Ｏ１
９を介して出力する。
【００２６】処理Ｓ９では、押圧検出部１１は、オペア
ンプ４−２から出力され、Ａ／Ｄ変換されたＹ軸データ
値が０になったか否か、すなわち押圧が解除されたか否
かを判定し、判定がＮＯの場合はＹＥＳになるまで待機
する。処理Ｓ１０では、スイッチ制御部１５は、処理Ｓ
９での判定がＹＥＳになると、Ｉ／Ｏ１７を介してスイ
ッチ３−１および３−２を開とし、またＩ／Ｏ１６を介
してスイッチ２−１および２−２を閉として処理Ｓ１に
移り、次の押圧位置検出にそなえる。
ンプ４−２から出力され、Ａ／Ｄ変換されたＹ軸データ
値が０になったか否か、すなわち押圧が解除されたか否
かを判定し、判定がＮＯの場合はＹＥＳになるまで待機
する。処理Ｓ１０では、スイッチ制御部１５は、処理Ｓ
９での判定がＹＥＳになると、Ｉ／Ｏ１７を介してスイ
ッチ３−１および３−２を開とし、またＩ／Ｏ１６を介
してスイッチ２−１および２−２を閉として処理Ｓ１に
移り、次の押圧位置検出にそなえる。
【００２７】なお実施例では、異常データを判定を式
（３）によって判定させていたが、 Ｖa ＝（Ｖ1 ＋Ｖ2 ＋……＋ＶN ）／Ｎ ・・・（８） なる演算を行って平均Ｖa を求め、第ｉ番目のデータＶ
i に対して、 ｜Ｖi −Ｖa ｜＞ＶD ・・・（９） であるとき異常と判定し、データＶi を削除するように
してもよい。
（３）によって判定させていたが、 Ｖa ＝（Ｖ1 ＋Ｖ2 ＋……＋ＶN ）／Ｎ ・・・（８） なる演算を行って平均Ｖa を求め、第ｉ番目のデータＶ
i に対して、 ｜Ｖi −Ｖa ｜＞ＶD ・・・（９） であるとき異常と判定し、データＶi を削除するように
してもよい。
【００２８】すなわち、式（３）による判定は雑音の平
均値が０にならない場合は有効ではあるが、Ｖi および
Ｖi+1 に、共に同極性の雑音が重畳されている場合は異
常と判定されず、また平均値が０となる雑音に対しては
平均値と差より判定することにより異常データを確実に
削除することができる。
均値が０にならない場合は有効ではあるが、Ｖi および
Ｖi+1 に、共に同極性の雑音が重畳されている場合は異
常と判定されず、また平均値が０となる雑音に対しては
平均値と差より判定することにより異常データを確実に
削除することができる。
【００２９】また、異常データの判定を、 σ＝｛（Ｖ1 2＋Ｖ2 2＋……＋ＶN 2 ）／Ｎ−Ｖa 2 ｝0.5 ……（10） ただし、Ｖa は式（８）で求めた平均なる演算を行って
標準偏差σを求め、第ｉ番目のデータＶi に対して、 ｜Ｖi −Ｖa ｜＞Ａ・σ ……（11） ただし、Ａは設定された定数であるとき異常と判定し、
データＶi を削除するようにしても良い。
標準偏差σを求め、第ｉ番目のデータＶi に対して、 ｜Ｖi −Ｖa ｜＞Ａ・σ ……（11） ただし、Ａは設定された定数であるとき異常と判定し、
データＶi を削除するようにしても良い。
【００３０】また、まず式（３）によって判定を行って
データを削除し、残りのデータに対して、さらに式
（９）または式（１１）によって判定を行ってデータを
削除し、残ったデータに対して式（４）および式（６）
を行なうようにしてもよい。このように２段回路の削除
を行うことにより、平均値が０とならないインパルス性
雑音および平均値が０となる雑音が重畳されたデータを
削除することができる。
データを削除し、残りのデータに対して、さらに式
（９）または式（１１）によって判定を行ってデータを
削除し、残ったデータに対して式（４）および式（６）
を行なうようにしてもよい。このように２段回路の削除
を行うことにより、平均値が０とならないインパルス性
雑音および平均値が０となる雑音が重畳されたデータを
削除することができる。
【００３１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば次
の効果が得られる。タッチパネルより出力される電圧を
ディジタル値に変換し、変換された複数のディジタル値
の中で、差が設定された値以上、平均値よりの差が設定
された値以上、または設定された偏差値以外となるデー
タを削除して、残りのデータより押圧位置を算出するよ
うにしたので、タッチパネルよりの出力される電圧に雑
音が重畳されても、雑音が重畳されたデータは除去さ
れ、精度の高い押圧位置を検出することができる。
の効果が得られる。タッチパネルより出力される電圧を
ディジタル値に変換し、変換された複数のディジタル値
の中で、差が設定された値以上、平均値よりの差が設定
された値以上、または設定された偏差値以外となるデー
タを削除して、残りのデータより押圧位置を算出するよ
うにしたので、タッチパネルよりの出力される電圧に雑
音が重畳されても、雑音が重畳されたデータは除去さ
れ、精度の高い押圧位置を検出することができる。
【００３２】また、データの削除の差が設定された値以
上のデータを削除し、さらに残りのデータに対して平均
値よりの差が設定された値以上のデータも削除するよう
にしたので、平均値が０とならないインパルス性雑音お
よび平均値が０となる雑音の両雑音が重畳されても、精
度の高い押圧位置を検出することができる。
上のデータを削除し、さらに残りのデータに対して平均
値よりの差が設定された値以上のデータも削除するよう
にしたので、平均値が０とならないインパルス性雑音お
よび平均値が０となる雑音の両雑音が重畳されても、精
度の高い押圧位置を検出することができる。
【図１】本発明の実施の形態の構成図である。
【図２】同実施の形態の動作フローチャートである。
【図３】タッチパネルの具体例である。
【図４】タッチパネルより出力される電圧を説明する図
である。
である。
１ タッチパネル ２，３ スイッチ ４ オペアンプ ５ アナログディジタル変換器（Ａ／Ｄ） １１ 押圧検出部 １２ データ記録部 １３ 異常データ削除部 １４ 押圧位置算出部 １５ スイッチ制御部 １６〜１９ インタフェース（Ｉ／Ｏ） ２０ プロセッサ（ＣＰＵ）
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 守谷 学 鳥取県鳥取市千代水１丁目100番地アイシ ン千代ビル リコー鳥取技術開発株式会社 内
Claims (6)
- 【請求項１】 タッチパネルの押圧位置を検出するタッ
チパネル押圧位置検出装置において、 前記タッチパネルより出力されるＸ軸およびＹ軸電圧を
ディジタル値に変換するアナログディジタル変換手段
と、 前記タッチパネルが押圧されている間の前記アナログデ
ィジタル変換手段より出力されるＸ軸データおよびＹ軸
データのそれぞれを複数データ記録するデータ記録手段
と、 前記データ記録手段に記録されているＸ軸データおよび
Ｙ軸データの中より異常データを削除する異常データ削
除手段と、 前記異常データ削除手段で削除され、前記データ記録手
段に記録されている残りのデータよりＸ軸データおよび
Ｙ軸データの平均値を算出し押圧位置を算出して出力す
る押圧位置算出手段と、を備えたことを特徴とするタッ
チパネル押圧位置検出装置。 - 【請求項２】 前記異常データ削除手段が判定する異常
データの判定を、前記データ記録手段に記録されている
Ｘ軸およびＹ軸データのそれぞれに対してデータを順次
読出し、前回読出したデータと今回読出したデータ値の
差が設定された値以上のとき異常と判定して、前回読出
したデータまたは両データを削除するようにしたことを
特徴とする請求項１記載のタッチパネル押圧位置検出装
置。 - 【請求項３】 前記異常データ削除手段が判定する異常
データの判定を、前記データ記録手段に記録されている
Ｘ軸およびＹ軸データのそれぞれに対してデータの平均
を求め、求めた平均値と記録されているデータ値との差
が設定された値以上のとき異常と判定し、該データを削
除するようにしたことを特徴とする請求項１記載のタッ
チパネル押圧位置検出装置。 - 【請求項４】 前記異常データ削除手段が判定する異常
データの判定を、前記データ記録手段に記録されている
Ｘ軸およびＹ軸データのそれぞれに対してデータの平均
と標準偏差とを求め、求めた平均値と記録されているデ
ータ値との差がＡ・標準偏差（Ａは設定値）以上のとき
異常と判定し、該データを削除するようにしたことを特
徴とする請求項１記載のタッチパネル押圧位置検出装
置。 - 【請求項５】 前記異常データ削除手段が削除するデー
タを、前記データ記録手段に記録されているＸ軸および
Ｙ軸データのそれぞれに対してデータを順次読出し、前
回と今回読出したデータ値の差が設定された値以上であ
るときは前回または両データを削除し、さらに残りのデ
ータに対して平均値を求め、求めた平均値と残りのデー
タ値との差が設定された値以上となるデータを削除する
ようにしたことを特徴とする請求項１記載のタッチパネ
ル押圧位置検出装置。 - 【請求項６】 前記異常データ削除手段が削除するデー
タを、前記データ記録手段に記録されているＸ軸および
Ｙ軸データのそれぞれに対してデータを順次読出し、前
回と今回読出したデータ値の差が設定された値以上であ
るときは前回または両データを削除し、さらに残りのデ
ータに対して平均値の標準偏差を求め、求めた平均値と
残りのデータ値との差がＡ・標準偏差（Ａは設定値）以
上となるデータを削除するようにしたことを特徴とする
請求項１記載のタッチパネル押圧位置検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18139695A JPH0934641A (ja) | 1995-07-18 | 1995-07-18 | タッチパネル押圧位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18139695A JPH0934641A (ja) | 1995-07-18 | 1995-07-18 | タッチパネル押圧位置検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0934641A true JPH0934641A (ja) | 1997-02-07 |
Family
ID=16100017
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18139695A Pending JPH0934641A (ja) | 1995-07-18 | 1995-07-18 | タッチパネル押圧位置検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0934641A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11102259A (ja) * | 1997-09-29 | 1999-04-13 | Nec Software Hokkaido Ltd | タッチパネル入力装置用ノイズ除去装置 |
| JPH11143624A (ja) * | 1997-09-02 | 1999-05-28 | Fujitsu Ltd | 光走査型タッチパネル |
| KR100456154B1 (ko) * | 2002-11-13 | 2004-11-09 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 터치패널의 구동장치 |
| JP2012234476A (ja) * | 2011-05-09 | 2012-11-29 | Casio Comput Co Ltd | 情報処理装置、及びプログラム |
| JP2018067247A (ja) * | 2016-10-21 | 2018-04-26 | 三菱電機株式会社 | タッチパネル装置 |
| WO2025085102A1 (en) * | 2023-10-19 | 2025-04-24 | Nec Laboratories America, Inc. | Sequential event modeling for risk factor prediction |
-
1995
- 1995-07-18 JP JP18139695A patent/JPH0934641A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11143624A (ja) * | 1997-09-02 | 1999-05-28 | Fujitsu Ltd | 光走査型タッチパネル |
| JPH11102259A (ja) * | 1997-09-29 | 1999-04-13 | Nec Software Hokkaido Ltd | タッチパネル入力装置用ノイズ除去装置 |
| KR100456154B1 (ko) * | 2002-11-13 | 2004-11-09 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 터치패널의 구동장치 |
| JP2012234476A (ja) * | 2011-05-09 | 2012-11-29 | Casio Comput Co Ltd | 情報処理装置、及びプログラム |
| JP2018067247A (ja) * | 2016-10-21 | 2018-04-26 | 三菱電機株式会社 | タッチパネル装置 |
| WO2025085102A1 (en) * | 2023-10-19 | 2025-04-24 | Nec Laboratories America, Inc. | Sequential event modeling for risk factor prediction |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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