JPH061233B2 - 偏波面保存光フアイバの結合長の自動測定方法 - Google Patents

偏波面保存光フアイバの結合長の自動測定方法

Info

Publication number
JPH061233B2
JPH061233B2 JP42086A JP42086A JPH061233B2 JP H061233 B2 JPH061233 B2 JP H061233B2 JP 42086 A JP42086 A JP 42086A JP 42086 A JP42086 A JP 42086A JP H061233 B2 JPH061233 B2 JP H061233B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
polarization
light
optical fiber
maintaining optical
incident
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP42086A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS62159025A (ja
Inventor
達也 熊谷
博 梶岡
勇悦 詫摩
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Cable Ltd
Original Assignee
Hitachi Cable Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Cable Ltd filed Critical Hitachi Cable Ltd
Priority to JP42086A priority Critical patent/JPH061233B2/ja
Publication of JPS62159025A publication Critical patent/JPS62159025A/ja
Publication of JPH061233B2 publication Critical patent/JPH061233B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
    • G01M11/335—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face using two or more input wavelengths

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の背景と目的] 本発明は偏波面保存光ファイバの結合長の自動測定方法
に係り、特に結合長の短いものから長いものまで自動で
測定するのに好適な自動測定方法に関するものである。
偏波面保存光ファイバの結合長の測定には、光ファイバ
切断法,光散乱法,ファラデー回転を利用した方法,パ
ルス法など種々の方法が提案されているが、これらの従
来の測定方法では、測定可能な結合長に制限があり、短
結合長から長結合長までを精度よく短時間に短尺の試料
で測定できるものはなかった。
また、従来の結合長の測定方法として、入射波長を変化
させて出射光の偏光度の波長特性から結合長を測定する
波長変化法が知られているが、出射光の偏光度を複数波
長に対して測定するという点でコンピュータ制御による
自動化が非常に困難であるという問題があった。
本発明の目的は、上記した従来技術の欠点を解消し、結
合長の短いものから長いものまでを短尺試料で簡単に精
度よく自動測定することができる偏波面保存光ファイバ
の結合長の自動測定方法を提供することにある。
[発明の概要] 本発明の特徴は、光源からの白色光を分光器にて任意の
波長の単色光に分光した光を偏波面保存光ファイバの固
有偏光軸に対して45度方向の偏波面を持つ直線偏光と
して上記偏波面保存光ファイバに入射し、この偏波面保
存光ファイバの出射光の上記固有偏光軸に対して45度
の2方向の光強度を複数波長について測定し、上記2方
向の光強度の差と和の比の波長に対する周期的変化から
上記偏波面保存光ファイバの結合長を自動測定するよう
にした点にある。
[実施例] 以下、本発明の方法の一実施例を第1図を用いて詳細に
説明する。
第1図は本発明の偏波面保存光ファイバの結合長の自動
測定方法の一実施例を説明するための結合長自動測定装
置の測定系の一例を示す概略構成図である。第1図にお
いて1は白色光源,2は白色光源1からの光を分光する
分光器,3は分光器2で分光された単色光を直線偏光す
る偏光子,4はレンズで、これらは偏波面保存光ファイ
バ5の入射端側に設けてある。また、偏波面保存光ファ
イバ5の出射端側には、出射光の任意の偏光方位の光を
切り出す検光子6とその光をGe−APD(ゲルマ・ア
パランシェ・フォトダイオード)8に導く多モード光フ
ァイバ7とGe−APD8から出力される電気信号の電
圧を測定する電圧計9(光強度測定装置)が設けてあ
る。10は測定を自動化するために導入したコンコピュ
ータで、コンピュータ10は測定データの記憶,計算を
行うとともにモノクロメータコントローラ11に信号を
送り、モノクロメータコントローラ11を介して分光器
2の波長λを変化させ、また、X−Yプロッタ12を用
いて結果を図示するようにしてある。
偏光子3は、これを透過した直線偏光の振動方向が偏波
面保存光ファイバ5の固有偏光軸に対して45度の角度
をなして入射するように調整してあり、偏波面保存光フ
ァイバ5に入射された直線偏光は、偏波面保存光ファイ
バ5の2つの固有偏光モードに分離され、その偏光状態
を変化させつつ伝搬する。偏波面保存光ファイバ5から
出射された出射光は、固有偏光軸に対して45度の方位
に設定された検光子6を透過し、その透過光強度I
1(λ)を多モード光ファイバ7,Ge−APD8を介
してコンピュータ10に入力する。そして、この操作を
各波長に対して繰り返す。次に、検光子6を90度回転
し、上記操作と同様に各波長における光強度I2(λ)
を測定する。
ここで本発明の原理について説明する。
一般に、光ファイバの伝搬定数βは波長入の光において
近似的に、 で表わされる。偏波面保存光ファイバの2つの固有偏光
軸の伝搬定数βx,βyとするとその差Δβは、 (nx,ny:各固有偏光軸のコアの屈折率)で表わさ
れ、波長λの関数となる。
いま偏光板で固有偏光軸と45度の角度に直線偏光波を
入射すればx軸とy軸の位相差θは、 θ=Δβ・l (l:光ファイバ長) ・・・(3) となり偏光度Pは、 P=|cos(Δβ・l)| ・・・(4) と表わされる。光ファイバ出射光の偏光は、偏波面保存
光ファイバの固有偏光軸に対し45°の方位を主軸とし
て変化するため、先に測定したI1(λ),I2(λ)
の差と和の比は偏光度Pに極性を考慮した次式で表わさ
れる。
(5)式は同期2πの関数であるため、1周期を与える波
長をλ1,λ2とすると(2),(3)式より、 となる。
一方波長λ1における結合長L(λ1)は、 であるから、(2),(7),(8)式より、 となる。
従って、1周期を与える波長λ1,λ2をコンピュータ
で検索すれば、偏波面保存光ファイバの結合長が自動で
測定できる。
以上説明した通り本発明によれば、 (1)測定可能な偏波面保存光ファイバ5の結合長の長さ
に制限がなく、短尺の試料であっても簡易に、しかも、
精度よく結合長を測定できる。
(2)コンピュータ10の導入による自動測定を可能にし
たので、短時間で結合長を測定できる。
(3)任意の波長で結合長を測定できるので、従来不明で
あった結合長の波長特性を明らかにすることができる。
なお、cosθの波長に対する周期性は、偏波面保存光フ
ァイバ5のシングルモード領域で現われるので、周期の
乱れから偏波面保存光ファイバ5のカットオフ波長を求
めることができる。
また、各波長における結合長L(λ)を求めることによ
り、モード複屈折率B(λ)の波長特性を次式により求
めることができる。
また、偏波面保存光ファイバ5の軸方向に圧力を加える
と、結合長に変化が現われるので、その変化量と圧力と
の関係を予め求めておくことにより、偏波面保存光ファ
イバを用いた圧力測定器に応用できる。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、結合長の短いも
のから長いものまでを短尺試料で簡単に精度よく自動測
定することができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の偏波面保存光ファイバの結合長の自動
測定方法の一実施例を説明するための結合長自動測定装
置の測定系の一例を示す概略構成図である。 1…白 色 光 源, 2…分 光 器, 3…偏 光 子, 5…偏波面保存光ファイバ, 6…検 光 子, 7…多モード光ァイバ, 8…Ge−APD, 9…電 圧 計, 10…コンピュータ, 11…モノクロメータコントローラ, 12…X−Yプロッタ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】白色光源と分光器と偏光子と被測定偏波面
    保存光ファイバの入射側に設け、一方該被測定偏波面保
    存光ファイバの出射側には検光子と光強度測定装置とコ
    ンピュータを設けて成り、コンピュータで分光器を制御
    して白色光源の白色光を測定に使用する波長の単色光に
    分光すると共に、分光された光を偏光子を介して被偏波
    面保存光ファイバの固有偏光軸に対し45度方位の偏光
    面を持つ直線偏光として入射し、この入射光により生じ
    た被測定偏波面保存光ファイバの出射光を、検光子を9
    0度回転させることにより偏波面保存光ファイバの固有
    偏光軸に対し45度方位の2方向に透過させて、この2
    方向に光強度を光強度測定装置により測定し、2方向の
    透過光の光強度の差と和の比をコンピュータにより計
    算、記憶させる一連の動作を、コンピュータで制御され
    た分光器の設定波長を変化させて複数の波長について動
    作させ、入射波長に対する出射光強度比の周期変化にお
    ける1周期を与える2波長から偏波面保存光ファイバの
    結合長を計算することを特徴とする偏波面保存光ファイ
    バの結合長の自動測定方法。
JP42086A 1986-01-06 1986-01-06 偏波面保存光フアイバの結合長の自動測定方法 Expired - Lifetime JPH061233B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP42086A JPH061233B2 (ja) 1986-01-06 1986-01-06 偏波面保存光フアイバの結合長の自動測定方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP42086A JPH061233B2 (ja) 1986-01-06 1986-01-06 偏波面保存光フアイバの結合長の自動測定方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62159025A JPS62159025A (ja) 1987-07-15
JPH061233B2 true JPH061233B2 (ja) 1994-01-05

Family

ID=11473309

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP42086A Expired - Lifetime JPH061233B2 (ja) 1986-01-06 1986-01-06 偏波面保存光フアイバの結合長の自動測定方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH061233B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3014004U (ja) * 1995-01-25 1995-08-01 達雄 森川 ダンボール箱のコーナークリップ

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6721467B2 (en) 2001-06-07 2004-04-13 3M Innovative Properties Company Method and apparatus for aligning the polarization of a polarization maintaining optical fiber to the polarization of a light source

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3014004U (ja) * 1995-01-25 1995-08-01 達雄 森川 ダンボール箱のコーナークリップ

Also Published As

Publication number Publication date
JPS62159025A (ja) 1987-07-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4529313A (en) Ring interferometer
US4309110A (en) Method and apparatus for measuring the quantities which characterize the optical properties of substances
CA2447660A1 (en) Optical fibre backscatter polarimetry
RU2135983C1 (ru) Способ измерения пропускания, кругового дихроизма, оптического вращения оптически активных веществ и дихрограф для его осуществления
JPS6088353A (ja) 液体屈折率測定装置
US5517022A (en) Apparatus for measuring an ambient isotropic parameter applied to a highly birefringent sensing fiber using interference pattern detection
KR100336696B1 (ko) 편광 분석장치 및 편광 분석방법
JPH0643939B2 (ja) 単一モード光フアイバにおける偏り及び複屈折を測定する方法
RU2638582C1 (ru) Двухканальная интерферометрическая система для исследования ударно-волновых процессов
JPS63236945A (ja) ラマン散乱光の偏光特性を利用する結晶方位解析装置
JP3131242B2 (ja) 光ビーム入射角の測定方法、測定装置及び該装置を距離測定に使用する方法
US6982791B2 (en) Scatterometry to simultaneously measure critical dimensions and film properties
GB2117132A (en) Interferometer
JPS60122333A (ja) 偏光解析装置
US6495999B1 (en) Method and device for measuring a magnetic field with the aid of the faraday effect
JPH0617851B2 (ja) 複屈折ファイバーのモード複屈折率測定方法および装置
JPS62159025A (ja) 偏波面保存光フアイバの結合長の自動測定方法
JPS6071936A (ja) 円複屈折の測定方法および装置
US20050036154A1 (en) Interferometric system for the simultaneous measurement of the index of refraction and of the thickness of transparent materials, and related procedure
JPH06213770A (ja) 単一モード光ファイバ特性評価方法および装置
JPS6423126A (en) Multiple light source polarization analyzing method
JPS60104236A (ja) 偏波保持光フアイバのモ−ド複屈折率測定方法およびその装置
US20060139639A1 (en) Apparatus and method for measuring phase retardation
CA1203702A (en) Method of measuring the cutoff wavelength of the first higher order mode in optical fibres
JPS58223032A (ja) 定偏波フアイバのビ−ト長測定方法