JPH0361898B2 - - Google Patents
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- JPH0361898B2 JPH0361898B2 JP21089783A JP21089783A JPH0361898B2 JP H0361898 B2 JPH0361898 B2 JP H0361898B2 JP 21089783 A JP21089783 A JP 21089783A JP 21089783 A JP21089783 A JP 21089783A JP H0361898 B2 JPH0361898 B2 JP H0361898B2
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- JP
- Japan
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- light
- optical fiber
- polarization
- wavelength
- birefringence
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3181—Reflectometers dealing with polarisation
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- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
Description
本発明は偏波保持光フアイバの伝送特性を把握
するうえで、最も重要なモード複屈折率の測定方
法およびその装置に関するものである。 従来のこの種の測定法は、被測定偏波保持光フ
アイバを１mm程度ずつ切断しながら、その度に偏
光度を測定し、偏光度Ｐがフアイバの長さｌの関
数として、式(1)で表わせることからビート長Ｌを
求め、モード複屈折率Ｂを求めていた。 Ｐ＝｜COS（2π・Ｂ・ｌ／λ）｜ (1) なお式(1)において、λは測定波長であり、ビー
ト長Ｌとモード複屈折率Ｂとの関係は、 Ｌ・Ｂ＝λ (2) となる。この測定法では、少なくともビート長を
精度良く求めるためには、数十回程度被測定偏波
保持光フアイバを切断する必要があり、１mm程度
の長さを失敗なく切断してゆくのは非常に難しい
技術である。また切断の度に偏光度を測定しなけ
ればならず、作業性も悪い。 また１回のフアイバ切断でモード複屈折率を測
定するために、切断長ΔLに対する両モード間の
位相差を検出して測定する方法もある。 第１図はこの測定法の説明図であつて、光源１
から出た光は偏光子２によつて直線偏光され、被
測定用偏波保持光フアイバ３に入射される。この
とき、該光フアイバの複屈折軸に対し、45°の角
度で入射する。該光フアイバを伝搬した光は、フ
アイバの長さｌおよびモード複屈折率Ｂによつて
適当な楕円偏波となつて出射する。この楕円偏波
光を1/4波長板４を通すことによつて直線偏光に
変え、この偏波面を検光子５を用いて、光パワー
メータ６で検出する。ここで、今、該光フアイバ
をわずかに切断し、この切断によつて、偏光子と
検光子の主軸の角度差φがφ′に変化したとする
と、モード複屈折率Ｂは、 Ｂ＝２（φ−φ′）／KΔL (3) で与えられる。式(3)において、Ｋは2π／λであ
る。 この方法において、測定上重要なのは、ビート
長Ｌが未知な場合において、2ΔL＞Ｌとなつてし
まうことがあり、やはり数回ΔLを変えて測定し
なければならないことである。 従つて、この方法においても前述の従来方法と
同様の測定上の困難さがあるほか、切断した光フ
アイバを元に戻す時、光フアイバにねじれが加わ
つたり、切断端面の不整によつて、φ′が変化して
しまい、正確な測定を行うには、かなりの熟練を
必要とする。 本発明はこれらの欠点を解決するために、被測
定フアイバの長さを変化させることなく、光源の
波長を変え、かつ反射を利用することによつて、
モード複屈折率を測定することを特徴とし、その
目的は測定時間の短縮と測定精度の向上にある。 第２図は本発明の一実施例の構成図であつて、
７は波長可変光源、８は平行光にするレンズ、９
は光チヨツパ、１０は光検出器、１１は集光レン
ズ、１２は入射光と垂直な電界成分を有する反射
光、１３は集光レンズ、１４は偏光子（ロツチヨ
ンプリズム）２によつて直線偏光された入射光お
よび偏波保持光フアイバ３から反射して来た光、
１５は平行光にされた光源からの光、１６は光強
度信号、１７は光チヨツパからの同期信号、１８
はロツクンインアンプ、１９はレコーダである。 第２図の動作はまず、波長可変光源７からの光
をレンズ８で平行光にし、これを光チヨツパ９を
用いて断続光とする。光チヨツパー９を用いる理
由は、検出光のレベルが微弱な場合にＳ／Ｎ比を
改善し、測定精度を向上させるためである。さ
て、平行光は偏光子（ロツシヨンプリズム）２に
よつて直線偏光され、集光レンズ１３を通つて被
測定用偏波保持光フアイバ３に入射される。集光
レンズ１３の端面および該光フアイバ３の入射端
で反射する光は、偏波面が入射光と同じであるの
で、偏光子２をそのまま通過するが、該光フアイ
バ３の出射端で反射してきた光は楕円偏波となる
ので、入射光と垂直な電界成分を有することにな
る。この反射光は偏光子２も通る時、光路を偏向
され、光検出器１０に導かれる。もし該光フアイ
バ３の複屈折軸と入射光の偏波面が一致している
と、反射光と同じ偏波面となり、検出光は最小と
なる。そこで入射光の偏波面は該光フアイバ３の
複屈折軸に対してほぼ45°の角度で入射し、検出
器の受光、パワーが最大となるようにする。 一方、該光フアイバの長さが偶然に伝搬モード
間のビート長Ｌの1/2の整数倍になつている時、
該光フアイバ３から反射して来る光も常に直線偏
波となることがある。そこでこの測定法では、波
長可変光源７として、ハロゲンランプと分光器を
使用し、光源７のスペクトル幅も分光器のスリツ
トを変化させることによつて変えることができる
ようにし、前記の入射角設定の際には、光源７の
スペクトル幅を拡げ、入射光の偏波面が偏波保持
光フアイバ３の複屈折軸に一致している時以外で
該光フアイバ３の出射端からの反射光が直線偏波
にならないようにしている。従つて検出器１０で
の受光パワーが最大となる該光フアイバ３の複屈
折軸の回転位置が入射光の偏波面に対して、ほぼ
45°となる。 次に、光源７のスペクトル幅を狭くし、波長を
変えて、その時の受光パワーをロツクインアンプ
１８で同期検波し、レコーダ１９で記録する。 第３図は第２図に示す測定系を用いて測定され
た受光パワーの波長に対する変化である。まず被
測定光フアイバは波長1.3μｍ帯用に製造されたも
のであるので、1.3μｍ付近の受光パワーの変化を
読み取ると、第３図において、λA＝1.30054μｍ、
λB＝1.30374μｍとなる。さらにこの時のフアイバ
の長さは1.001ｍである。第３図の測定結果より
被測定フアイバのモード複屈折率Ｂを求めるには
以下の計算を用いる。 偏波保持光フアイバのビート長をLb、フアイ
バの長さをｌ、受光パワーが最低となる波長を
λA、λAの長波長側のとなりの最低部の波長をλB
とすると、次式の関係が得られる。 nLb（λA）＝2l、（ｎ−１）Lb（λB）＝2l (4) 式(4)は、偏波保持光フアイバを往復する光路が
ビート長の整数倍になる波長において、入射光の
偏波面と反射光の偏波面が一致し、受光パワーが
最小になることを意味している。さらに式(2)の関
数から式(4)は、 nλA／Ｂ（λA）＝2l、 （ｎ−１）λB／Ｂ（λB）＝2l (5) となり、 Ｂ（λA）｛λB−λAＢ（λB）／Ｂ（λA）｝＝λAλB
／2l(6) が得られる。一方、モード複屈折率Ｂは該光フア
イバの規格化周波数ＶがＶ＞1.8なる条件では、
コア中心のモード複屈折率BSOの一致することか
ら、 ＢBSO＝Ｃ（σX0−σy0） （Ｖ＞1.8） (7) となり、コア中心における複屈折軸方向ｘとその
垂直方向ｙでの光弾性定数差Ｃと応力差（σX0−
σy0）の積で表わされる。式(7)において波長依存
性を持つのはＣであり、Ｃは次式で表わされる
（参考文献N.K.Sinha；“Normalised dispersion
of birefringence of quartz and stress optical
coefficient of fused silica and plate glass”、
Physics and Chemistry of Glasses、Vol.19、
No.４、Aug.1978）。 Ｃ（λ）＝Ｃ（λ0）ｎ（λ0）／ｎ（λ）・λ2／λ0 2 ・（λ0 2−λ1 2）／（λ2−λ1 2）・（λ2−λ2 2）／
（λ0 2−λ2 2）(8) λ0＝0.5461μｍ λ1＝0.31215μｍ λ2＝6.9μｍ Ｃ（λ0）−3.489868×10-5mm2／Kg・ｗ ｎ(λ)＝〔0.6961663λ2／λ2−（0.0684043）2＋0.407
9426λ2／λ2−（0.1162414）2 ＋0.8974794λ2／λ2−（9.896161）2＋１〕1/2 （参考文献 I.H.malitson；“Interspecimen
Comparison of the Refractive Index of
Fused Silica”、Journal of the Optical
Society of America、Vol.55、No.10、
Oct.1965）。 従つて、式(7)と式(8)から
するうえで、最も重要なモード複屈折率の測定方
法およびその装置に関するものである。 従来のこの種の測定法は、被測定偏波保持光フ
アイバを１mm程度ずつ切断しながら、その度に偏
光度を測定し、偏光度Ｐがフアイバの長さｌの関
数として、式(1)で表わせることからビート長Ｌを
求め、モード複屈折率Ｂを求めていた。 Ｐ＝｜COS（2π・Ｂ・ｌ／λ）｜ (1) なお式(1)において、λは測定波長であり、ビー
ト長Ｌとモード複屈折率Ｂとの関係は、 Ｌ・Ｂ＝λ (2) となる。この測定法では、少なくともビート長を
精度良く求めるためには、数十回程度被測定偏波
保持光フアイバを切断する必要があり、１mm程度
の長さを失敗なく切断してゆくのは非常に難しい
技術である。また切断の度に偏光度を測定しなけ
ればならず、作業性も悪い。 また１回のフアイバ切断でモード複屈折率を測
定するために、切断長ΔLに対する両モード間の
位相差を検出して測定する方法もある。 第１図はこの測定法の説明図であつて、光源１
から出た光は偏光子２によつて直線偏光され、被
測定用偏波保持光フアイバ３に入射される。この
とき、該光フアイバの複屈折軸に対し、45°の角
度で入射する。該光フアイバを伝搬した光は、フ
アイバの長さｌおよびモード複屈折率Ｂによつて
適当な楕円偏波となつて出射する。この楕円偏波
光を1/4波長板４を通すことによつて直線偏光に
変え、この偏波面を検光子５を用いて、光パワー
メータ６で検出する。ここで、今、該光フアイバ
をわずかに切断し、この切断によつて、偏光子と
検光子の主軸の角度差φがφ′に変化したとする
と、モード複屈折率Ｂは、 Ｂ＝２（φ−φ′）／KΔL (3) で与えられる。式(3)において、Ｋは2π／λであ
る。 この方法において、測定上重要なのは、ビート
長Ｌが未知な場合において、2ΔL＞Ｌとなつてし
まうことがあり、やはり数回ΔLを変えて測定し
なければならないことである。 従つて、この方法においても前述の従来方法と
同様の測定上の困難さがあるほか、切断した光フ
アイバを元に戻す時、光フアイバにねじれが加わ
つたり、切断端面の不整によつて、φ′が変化して
しまい、正確な測定を行うには、かなりの熟練を
必要とする。 本発明はこれらの欠点を解決するために、被測
定フアイバの長さを変化させることなく、光源の
波長を変え、かつ反射を利用することによつて、
モード複屈折率を測定することを特徴とし、その
目的は測定時間の短縮と測定精度の向上にある。 第２図は本発明の一実施例の構成図であつて、
７は波長可変光源、８は平行光にするレンズ、９
は光チヨツパ、１０は光検出器、１１は集光レン
ズ、１２は入射光と垂直な電界成分を有する反射
光、１３は集光レンズ、１４は偏光子（ロツチヨ
ンプリズム）２によつて直線偏光された入射光お
よび偏波保持光フアイバ３から反射して来た光、
１５は平行光にされた光源からの光、１６は光強
度信号、１７は光チヨツパからの同期信号、１８
はロツクンインアンプ、１９はレコーダである。 第２図の動作はまず、波長可変光源７からの光
をレンズ８で平行光にし、これを光チヨツパ９を
用いて断続光とする。光チヨツパー９を用いる理
由は、検出光のレベルが微弱な場合にＳ／Ｎ比を
改善し、測定精度を向上させるためである。さ
て、平行光は偏光子（ロツシヨンプリズム）２に
よつて直線偏光され、集光レンズ１３を通つて被
測定用偏波保持光フアイバ３に入射される。集光
レンズ１３の端面および該光フアイバ３の入射端
で反射する光は、偏波面が入射光と同じであるの
で、偏光子２をそのまま通過するが、該光フアイ
バ３の出射端で反射してきた光は楕円偏波となる
ので、入射光と垂直な電界成分を有することにな
る。この反射光は偏光子２も通る時、光路を偏向
され、光検出器１０に導かれる。もし該光フアイ
バ３の複屈折軸と入射光の偏波面が一致している
と、反射光と同じ偏波面となり、検出光は最小と
なる。そこで入射光の偏波面は該光フアイバ３の
複屈折軸に対してほぼ45°の角度で入射し、検出
器の受光、パワーが最大となるようにする。 一方、該光フアイバの長さが偶然に伝搬モード
間のビート長Ｌの1/2の整数倍になつている時、
該光フアイバ３から反射して来る光も常に直線偏
波となることがある。そこでこの測定法では、波
長可変光源７として、ハロゲンランプと分光器を
使用し、光源７のスペクトル幅も分光器のスリツ
トを変化させることによつて変えることができる
ようにし、前記の入射角設定の際には、光源７の
スペクトル幅を拡げ、入射光の偏波面が偏波保持
光フアイバ３の複屈折軸に一致している時以外で
該光フアイバ３の出射端からの反射光が直線偏波
にならないようにしている。従つて検出器１０で
の受光パワーが最大となる該光フアイバ３の複屈
折軸の回転位置が入射光の偏波面に対して、ほぼ
45°となる。 次に、光源７のスペクトル幅を狭くし、波長を
変えて、その時の受光パワーをロツクインアンプ
１８で同期検波し、レコーダ１９で記録する。 第３図は第２図に示す測定系を用いて測定され
た受光パワーの波長に対する変化である。まず被
測定光フアイバは波長1.3μｍ帯用に製造されたも
のであるので、1.3μｍ付近の受光パワーの変化を
読み取ると、第３図において、λA＝1.30054μｍ、
λB＝1.30374μｍとなる。さらにこの時のフアイバ
の長さは1.001ｍである。第３図の測定結果より
被測定フアイバのモード複屈折率Ｂを求めるには
以下の計算を用いる。 偏波保持光フアイバのビート長をLb、フアイ
バの長さをｌ、受光パワーが最低となる波長を
λA、λAの長波長側のとなりの最低部の波長をλB
とすると、次式の関係が得られる。 nLb（λA）＝2l、（ｎ−１）Lb（λB）＝2l (4) 式(4)は、偏波保持光フアイバを往復する光路が
ビート長の整数倍になる波長において、入射光の
偏波面と反射光の偏波面が一致し、受光パワーが
最小になることを意味している。さらに式(2)の関
数から式(4)は、 nλA／Ｂ（λA）＝2l、 （ｎ−１）λB／Ｂ（λB）＝2l (5) となり、 Ｂ（λA）｛λB−λAＢ（λB）／Ｂ（λA）｝＝λAλB
／2l(6) が得られる。一方、モード複屈折率Ｂは該光フア
イバの規格化周波数ＶがＶ＞1.8なる条件では、
コア中心のモード複屈折率BSOの一致することか
ら、 ＢBSO＝Ｃ（σX0−σy0） （Ｖ＞1.8） (7) となり、コア中心における複屈折軸方向ｘとその
垂直方向ｙでの光弾性定数差Ｃと応力差（σX0−
σy0）の積で表わされる。式(7)において波長依存
性を持つのはＣであり、Ｃは次式で表わされる
（参考文献N.K.Sinha；“Normalised dispersion
of birefringence of quartz and stress optical
coefficient of fused silica and plate glass”、
Physics and Chemistry of Glasses、Vol.19、
No.４、Aug.1978）。 Ｃ（λ）＝Ｃ（λ0）ｎ（λ0）／ｎ（λ）・λ2／λ0 2 ・（λ0 2−λ1 2）／（λ2−λ1 2）・（λ2−λ2 2）／
（λ0 2−λ2 2）(8) λ0＝0.5461μｍ λ1＝0.31215μｍ λ2＝6.9μｍ Ｃ（λ0）−3.489868×10-5mm2／Kg・ｗ ｎ(λ)＝〔0.6961663λ2／λ2−（0.0684043）2＋0.407
9426λ2／λ2−（0.1162414）2 ＋0.8974794λ2／λ2−（9.896161）2＋１〕1/2 （参考文献 I.H.malitson；“Interspecimen
Comparison of the Refractive Index of
Fused Silica”、Journal of the Optical
Society of America、Vol.55、No.10、
Oct.1965）。 従つて、式(7)と式(8)から
【表】
が得られ、式(6)と式(9)より、
Ｂ（λA）＝λAλB／2l・１／λB−δ・λA (10)
モード複屈折率Ｂ（λ）Ｂ（λAとして、式(10)
のＢ（λA）からモード複屈折率を求めることがで
きる。ここにδはλAとλBにおける光弾性定数差
の比を表わす。 式(10)を用いて、第３図の測定に用いた偏波保持
光フアイバのモード複屈折率Ｂを求めると、Ｂ＝
2.45×10-4となる。従来のフアイバ切断法を用い
て求めたモード複屈折率はＢ＝2.2×10-4であり、
有効桁数および精度で、本発明の方法の方が優れ
ている。 なお、モード複屈折率は、コア形状による複屈
折率と応力による複屈折率の和として表わされる
が、コア形状の変化による複屈折率は、応力によ
る複屈折率に比較して、極めて小さいので上記の
計算では無視している。 一方、コア形状の変化による複屈折率が無視で
きない場合には、次のような計算法を用いる。第
３図のように対象とする波長λが （λA＋λB）／２＜λ＜（λB＋λC）／２となるよ
うに、測定波長λA、λB、λCをとる。まずλA〜λB
においてＢ（λA）＝Ｂ（λB）＝B1と仮定し、式(6)よ
りB1を求める。 B1＝λA・λB／｛2l（λB−λA）｝ （11） 同様にλB〜λCにおいて、Ｂ（λB）＝Ｂ（λC）＝B2
と仮定し、式(6)よりB2を求める。 B2＝λB・λC／｛2l（λC−λB）｝ （12） 式（11）と式（12）より、補間法を用いてモー
ド複屈折率Ｂ（λ）を求めることができる。 Ｂ（λ）＝１／2l｛2l−λA−λB／λC−λA （λBλC／λC−λB−λAλB／λB−λA）＋λAλB／
λB−λA｝（13） このように、式（13）を用いることにより、コ
ア形状が円形でない偏波保持光フアイバのモード
複屈折率も求めることができる。 以上説明したように、本発明では被測定用偏波
保持光フアイバを切断することなく、波長を変え
るだけで、速やかに測定できる利点がある。また
従来の測定方法では１〜２桁の測定精度しか得ら
れなかつたのに対し、本発明では少なくとも３桁
の測定精度が得られる利点がある。
のＢ（λA）からモード複屈折率を求めることがで
きる。ここにδはλAとλBにおける光弾性定数差
の比を表わす。 式(10)を用いて、第３図の測定に用いた偏波保持
光フアイバのモード複屈折率Ｂを求めると、Ｂ＝
2.45×10-4となる。従来のフアイバ切断法を用い
て求めたモード複屈折率はＢ＝2.2×10-4であり、
有効桁数および精度で、本発明の方法の方が優れ
ている。 なお、モード複屈折率は、コア形状による複屈
折率と応力による複屈折率の和として表わされる
が、コア形状の変化による複屈折率は、応力によ
る複屈折率に比較して、極めて小さいので上記の
計算では無視している。 一方、コア形状の変化による複屈折率が無視で
きない場合には、次のような計算法を用いる。第
３図のように対象とする波長λが （λA＋λB）／２＜λ＜（λB＋λC）／２となるよ
うに、測定波長λA、λB、λCをとる。まずλA〜λB
においてＢ（λA）＝Ｂ（λB）＝B1と仮定し、式(6)よ
りB1を求める。 B1＝λA・λB／｛2l（λB−λA）｝ （11） 同様にλB〜λCにおいて、Ｂ（λB）＝Ｂ（λC）＝B2
と仮定し、式(6)よりB2を求める。 B2＝λB・λC／｛2l（λC−λB）｝ （12） 式（11）と式（12）より、補間法を用いてモー
ド複屈折率Ｂ（λ）を求めることができる。 Ｂ（λ）＝１／2l｛2l−λA−λB／λC−λA （λBλC／λC−λB−λAλB／λB−λA）＋λAλB／
λB−λA｝（13） このように、式（13）を用いることにより、コ
ア形状が円形でない偏波保持光フアイバのモード
複屈折率も求めることができる。 以上説明したように、本発明では被測定用偏波
保持光フアイバを切断することなく、波長を変え
るだけで、速やかに測定できる利点がある。また
従来の測定方法では１〜２桁の測定精度しか得ら
れなかつたのに対し、本発明では少なくとも３桁
の測定精度が得られる利点がある。
第１図は従来のモード複屈折率の測定方法の説
明図、第２図は本発明の一実施例の構成図、第３
図は第２図に示す測定系を用いて測定された受光
パワーの波長に対する変化を示す図である。 １……光源、２……偏光子、３……偏波保持光
フアイバ、４……1/4波長板、５……検光子、６
……光パワーメータ、７……波長可変光源、８…
…平行光にするレンズ、９……光チヨツパ、１０
……光検出器、１１……集光レンズ、１２……入
射光と垂直な電界成分を有する反射光、１３……
集光レンズ、１４……偏光子２によつて直線偏光
された入射光および偏波保持光フアイバ３から反
射して来た光、１５……平行光にされた光源から
の光、１６……光強度信号、１７……光チヨツパ
からの同期信号、１８……ロツクインアンプ、１
９……レコーダ。
明図、第２図は本発明の一実施例の構成図、第３
図は第２図に示す測定系を用いて測定された受光
パワーの波長に対する変化を示す図である。 １……光源、２……偏光子、３……偏波保持光
フアイバ、４……1/4波長板、５……検光子、６
……光パワーメータ、７……波長可変光源、８…
…平行光にするレンズ、９……光チヨツパ、１０
……光検出器、１１……集光レンズ、１２……入
射光と垂直な電界成分を有する反射光、１３……
集光レンズ、１４……偏光子２によつて直線偏光
された入射光および偏波保持光フアイバ３から反
射して来た光、１５……平行光にされた光源から
の光、１６……光強度信号、１７……光チヨツパ
からの同期信号、１８……ロツクインアンプ、１
９……レコーダ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 偏波保持光フアイバの波長λにおけるモード
複屈折率を測定する方法において、光源として波
長を変えることができる光源を用い、該光源から
の光を直線偏波光とし、該偏波光の偏波面に対し
て被測定用偏波保持光フアイバの複屈折軸を傾け
た状態で、該偏波光を該光フアイバに入射して伝
搬させ、該光フアイバの出射端で反射し、再び入
射端に戻つて来る光の該入射光と垂直な電界成分
を検出しながら、該光源の波長の変化に対する該
検出光のパワーの周期的な変化を測定し、 該光フアイバのコア形状の変化による複屈折率
を無視できる場合は、 目的とする波長λに最も近い該周期の谷に相当
する波長λAを測定し、次にλAから長波長側へ１
周期目の波長をλBとするとき、λAとλBにおける
光弾性定数差の比をδ、被測定用偏波保持光フア
イバの長さをｌ、λAにおけるモード複屈折率を
Ｂ（λA）として、次式 Ｂ（λ）Ｂ（λA）＝λAλB／2l・１／λB−δ・λA より、モード複屈折率Ｂ（λ）を求めるか、また
は該光フアイバのコア形状の変化による複屈折率
を無視できない場合は、 該周期の谷に相当する波長を長波長側へ１周期
ごとに順次λA、λBおよびλCとし、（λA＋λB）／２
＜λ＜（λB＋λC）／２の関係が成立するように
λA、λB、λCを測定し、次式 Ｂ（λ）＝１／2l｛2λ−λA−λB／λC−λA （λBλC／λC−λB−λAλB／λB−λA）＋λAλB／
λB−λA｝ より、モード複屈折率Ｂ（λ）を求めることを特
徴とする偏波保持光フアイバのモード複屈折率測
定方法。 ２ 波長可変光源と、該光源からの光を被測定偏
波保持光フアイバに導入するレンズ系と、レンズ
系の途中に設けた前記光源からの光を直線偏光と
し、かつ被測定偏波保持フアイバからの反射光中
の入射光と垂直な電界成分をもつ光を空間的に分
離する偏光と、該分離された光を受光する光検出
器とからなることを特徴とする偏波保持光フアイ
バのモード複屈折率測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21089783A JPS60104236A (ja) | 1983-11-11 | 1983-11-11 | 偏波保持光フアイバのモ−ド複屈折率測定方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21089783A JPS60104236A (ja) | 1983-11-11 | 1983-11-11 | 偏波保持光フアイバのモ−ド複屈折率測定方法およびその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60104236A JPS60104236A (ja) | 1985-06-08 |
| JPH0361898B2 true JPH0361898B2 (ja) | 1991-09-24 |
Family
ID=16596886
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21089783A Granted JPS60104236A (ja) | 1983-11-11 | 1983-11-11 | 偏波保持光フアイバのモ−ド複屈折率測定方法およびその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60104236A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4854350B2 (ja) * | 2006-03-22 | 2012-01-18 | 旭有機材工業株式会社 | 流体混合装置 |
| JP4854348B2 (ja) * | 2006-03-22 | 2012-01-18 | 旭有機材工業株式会社 | 流体混合装置 |
| JP4778923B2 (ja) * | 2007-03-27 | 2011-09-21 | 大阪有機化学工業株式会社 | 混合気体の製造装置 |
| CN109580182B (zh) * | 2018-12-18 | 2020-07-31 | 北京理工大学 | 基于布儒斯特定律的曲面光学元件折射率测量方法和装置 |
-
1983
- 1983-11-11 JP JP21089783A patent/JPS60104236A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60104236A (ja) | 1985-06-08 |
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