JPH06123873A - 電気光学装置の画像表示方法 - Google Patents

電気光学装置の画像表示方法

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JPH06123873A
JPH06123873A JP15750691A JP15750691A JPH06123873A JP H06123873 A JPH06123873 A JP H06123873A JP 15750691 A JP15750691 A JP 15750691A JP 15750691 A JP15750691 A JP 15750691A JP H06123873 A JPH06123873 A JP H06123873A
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signal line
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舜平 山崎
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 電気光学装置の階調表示に関して、精密で素
子間のばらつきによる影響の少ない階調表示方式を提供
する。 【構成】 アクティブマトリクス型電気光学装置におい
て、個々の画素を駆動する素子として、いわゆるトラン
スファー・ゲイト型の相補型電界効果型素子を用い、そ
の入出力端の一方を画素電極に接続した構成において、
その制御電極に周期的にバイポーラパルスを印加し、出
入力端の他端に電圧を印加し、あるいは電圧を切りなが
ら、画素に電圧のかかる時間を任意に制御することによ
って視覚的な階調表示を得る表示方式。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の利用分野】本発明は、駆動用スイッチング素子
として薄膜トランジスタ(以下TFTという)を使用し
た液晶電気光学装置における画像表示方法において、特
に中間的な色調や濃淡の表現を得るための階調表示方法
に関するものである。本発明は、特に、外部からいかな
るアナログ信号をもアクティブ素子に印加することな
く、階調表示をおこなう、いわゆる完全デジタル階調表
示に関するものである。
【0002】
【従来の技術】液晶組成物はその物質特性から、分子軸
に対して水平方向と垂直方向に誘電率が異なるため、外
部の電解に対して水平方向に配列したり、垂直方向に配
列したりさせることが容易にできる。液晶電気光学装置
は、この誘電率の異方生を利用して、光の透過光量また
は散乱量を制御することでON/OFF、すなわち明暗
の表示をおこなっている。液晶材料としては、TN(ツ
イステッド・ネマティック)液晶、STN(スーパー・
ツイステッド・ネマティック)液晶、強誘電性液晶、ポ
リマー液晶あるいは分散型液晶とよばれる材料が知られ
ている。液晶は外部電圧に対して、無限に短い時間に反
応するのではなく、応答するまでにある一定の時間がか
かることが知られている。その値はそれぞれの液晶材料
に固有で、TN液晶の場合には、数10msec、ST
N液晶の場合には数100msec、強誘電性液晶の場
合には数100μsec、分散型あるいはポリマー液晶
の場合には数10msecである。
【0003】液晶を利用した電気光学装置のうちでもっ
とも優れた画質が得られるものは、アクティブマトリク
ス方式を用いたものであった。従来のアクティブマトリ
クス型の液晶電気光学装置では、アクティブ素子として
薄膜トランジスタ(TFT)を用い、TFTにはアモル
ファスまたは多結晶型の半導体を用い、1つの画素にP
型またはN型のいずれか一方のみのタイプのTFTを用
いたものであった。即ち、一般にはNチャネル型TFT
(NTFTという)を画素に直列に連結している。そし
て、マトリクスの信号線に信号電圧を流し、それぞれの
信号線の直交する箇所に設けられたTFTに双方から信
号が印加されるとTFTがON状態となることを利用し
て液晶画素のON/OFFを個別に制御するものであっ
た。このような方法によって画素の制御をおこなうこと
によって、コントラストの大きい液晶電気光学装置を実
現することができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うなアクティブマトリクス方式では、明暗や色調といっ
た、階調表示をおこなうことは極めて難しかった。従
来、階調表示は液晶の光透過性が、印加される電圧の大
きさによって変わることを利用する方式が検討されてい
た。これは、例えば、マトリクス中のTFTのソース・
ドレイン間に、適切な電圧を周辺回路から供給し、その
状態でゲイト電極に信号電圧を印加することによって、
液晶画素にその大きさの電圧をかけようとするものであ
った。
【0005】しかしながら、このような方法では、例え
ば、TFTの不均質性やマトリクス配線の不均質性のた
めに、実際には液晶画素にかかる電圧は、各画素によっ
て、最低でも数%も異なってしまった。これに対し、例
えば、液晶の光透過度の電圧依存性は、極めて非線型性
が強く、ある特定の電圧で急激に光透過性が変化するた
め、たとえ数%の違いでも、光透過性が著しく異なって
しまうことがあった。そのため、実際には16階調を達
成することが限界であった。
【0006】このように階調表示が困難であるというこ
とは、液晶ディスプレー装置が従来の一般的な表示装置
であるCRT(陰極線管)と競争してゆく上で極めて不
利であった。
【0007】本発明は従来、困難であった階調表示を実
現させるための全く新しい方法を提案することを目的と
するものである。
【0008】
【問題を解決するための手段】さて、液晶にかける電圧
をアナログ的に制御することによって、その光透過性を
制御することが可能であることを先に述べたが、本発明
人らは、液晶に電圧のかかっている時間を制御すること
によって、視覚的に階調を得ることができることを見出
した。
【0009】例えば、代表的な液晶材料であるTN(ツ
イステッド・ネマチック)液晶を用いた場合において、
例えば、図1(a)において、Aで示されるような矩形
パルスを印加する場合と、Cで示されるような矩形パル
スを印加する場合を比べて見ると、Aの方が明るいこと
を見出した。ここで、パルスの周期は1msecとし
た。結果的には、Aが最も明るく、以下、B、C、Dの
順であった。このことは全く予想外のことである。なぜ
ならば、通常の上記のTN液晶材料においては、1ms
ecという時間はあまりにも短く、そのような短時間に
はTN液晶は反応しないのである。したがって、いずれ
の場合にも液晶はON状態を実現することは不可能なは
ずである。しかしながら、実際には液晶は中間的な濃さ
を実現できた。
【0010】その具体的な原理についてはまだ詳細にわ
かっていない。しかしながら、本発明人らは、この現象
を利用して階調表現が可能であることを見いだしたので
ある。すなわち、液晶材料が反応しないような周期で液
晶材料にパルスを印加するときにパルスの幅を制御する
ことによって、中間的な明るさをデジタル制御で実現す
ることが、まさに本発明の特徴とするものである。本発
明人らの研究の結果、このような中間的な濃度を得るた
めのパルスの周期はTN液晶の場合には10msec以
下が必要であることがわかった。
【0011】ここで、パルスの周期という語句につい
て、その意味を明確にする。すなわち、この場合には、
複数のパルスを連続的に液晶に印加するのであるが、こ
の場合のパルスの周期とは、1つのパルスが始まってか
ら、次のパルスが始まるまでの間の時間のことをいう。
したがって、パルスの繰り返し周波数の逆数となる。ま
た、パルス幅とは、パルスが電圧状態にある時間のこと
をいう。したがって、図1において、例えばCのパルス
列の場合には、Tがパルスの周期であり、τがパルス幅
である。
【0012】同様な効果は、STN液晶においても、強
誘電性液晶においても、また、ポリマー液晶あるいは分
散型液晶においても見られた。いずれも、その応答時間
よりも短い周期のパルスを加えることによって、中間的
な色調が得られることが明らかになった。すなわち、S
TN液晶においては、100msec以下、のぞましく
は10msec以下、強誘電性液晶においては100μ
sec以下、のぞましくは10μsec以下、ポリマー
液晶あるいは分散型液晶においては10msec以下、
のぞましくは1msec以下の周期のパルスを加えるこ
とによって、階調表示が得られた。
【0013】通常は、テレビ等の画像では1秒間に30
枚の静止画が次々に繰り出されて動画を形成する。した
がって、1枚の静止画が継続する時間は約30msec
である。この時間は人間の目にはあまりにも早すぎて、
文字通り『目にも止まらない』時間であり、結果とし
て、視覚的には静止画を1枚1枚識別することはできな
い。ともかく、通常の動画を得るには、1枚の静止画は
長くても100msec以上継続することはできない。
【0014】本発明を利用して256階調の階調表示を
おこなうとすれば、例えば、T=3msecとすれば、
この3msecの時間を、少なくとも256分割しうる
パルス電圧印加方法、を画素に電圧を印加する方法とし
て採用する必要がある。すなわち、最短で3msec/
256=11.7μsecのパルス状の電圧が画素にか
かるような回路を組む必要がある。実際には、図3に示
すように、パルスのデューティー比τ/Tと液晶画素の
光透過性は非線型的な関係であり、256階調を得るた
めには、さらに、パルスのデューティー比を細かく制御
することが必要である。
【0015】しかも、実際の画像表示をおこなう場合に
は、他の画素も考慮しなければならない。実際の画像表
示装置では、例えば400行もの行がある。すなわち、
後に述べるように、マトリクスのアクティブ素子は10
0nsecという極短応答性が求められる。そこで、そ
のような短時間応答性を有する回路の例を図4に示し、
以下、その説明をする。
【0016】図4は本発明を実施するために必要な液晶
表示装置のアクティブマトリクスの回路の例を示す。本
発明では、アクティブ素子は100nsec以下の短時
間で応答することが要求されるので高速動作する回路を
組む必要がある。そのためには従来のようにNTFTあ
るいはPTFTだけでッスイッチングをおこなうのでは
なく、図4に示されるようにNTFTとPTFTとが相
補的に動作するように構成された、変形トランスファー
・ゲイト型の回路を用いることが必要である。
【0017】この例ではN×Mのマトリクスの例を示し
たものであるが、煩雑さをさけるために、そのうちのn
行m列近傍のみを示した。これと同じものを上下左右に
展開すれば完全なものが得られる。
【0018】図4には、4つの変形トランスファー・ゲ
イトが描かれているが、各変形トランスファー・ゲイト
のソースはYm あるいはYm+1 (以下、Y線と総称す
る)に接続され、また、各変形トランスファー・ゲイト
のゲイトはXn あるいはXn+1(以下、X線と総称す
る)に接続されている。また、各変形トランスファー・
ゲイトのドレインは液晶画素Zn,m 、Zn,m+1 、Z
n+1,m 、Zn+1,m+1 に接続されている。変形トランスフ
ァー・ゲイトにおいて、NTFTとPTFTは対称なの
で、その位置は入れ替わってもよい。
【0019】次に、このような回路を用いた場合の回路
の動作例を図1(b)および図2を用いて説明する。こ
のマトリクス回路は図1(a)に示されるようなパルス
状のんあつを液晶セルに印加するように動作する必要が
ある。そこで、このようなパルスを発生するためにX線
およびY線に印加される信号電圧の概要を図1(b)に
示す。例として、400×640のマトリクスを考え
る。
【0020】Y線に印加される信号は、例えばYm 線の
場合は、V(Ym )で示されるが、これは、周期Tで繰
り返されるひとまとまりのパルスの中に、実は256個
のパルス(以下、サブパルスという)が含まれており、
さらにその256個のサブパルスのそれぞれは、400
個の要素が入ったパルス列から構成されていることがわ
かる。ここで、400という数字はマトリクスの行数で
ある。したがって、Y線に印加されるパルスの最小単位
はT=3msecとすれば、29nsecである。
【0021】一方、X線には、時間T/256の間に、
図のV(X1 )、V(Xn )、V(Xn+1 )、V(X
400 )で示されるような、極性が少なくとも1回反転す
るパルス(以下、バイポーラ・パルスという)が、それ
ぞれのタイミングをずらして印加される。バイポーラ・
パルスは、上記Y線に印加されるパルスの最小単位パル
スよりもさらに短い必要がある。結局、時間Tの間に
は、各X線には、256回バイポーラ・パルスが印加さ
れる。
【0022】次に、実際の回路の動作を図2に基づいて
説明する。まず、第1のサブパルスがそれぞれのY線に
印加される。当然のことながら、これらのサブパルスは
Y線ごとに異なる。一方、X線には、先に述べたよう
に、バイポーラ・パルスが最初にX1 、次にX2 という
ように順々に印加されてゆく。まず、バイポーラ・パル
スがX1 に印加されたときを考える。このとき、画素Z
1,1 に接続されている、アクティブ素子はON状態とな
る。そして、このアクティブ素子に接続されているY線
は電圧が印加された状態であるので、画素Z11は充電さ
れる。そして、Y線の電圧がゼロとなる前にバイポーラ
・パルスは切られるので、結局、画素Z1,1 には電荷が
残され、電圧状態を保つ。同様に、Z1,m もZ1,m+1
1,400 も、電圧状態となる。
【0023】このようにして、バイポーラ・パルスが順
々に印加されてゆき、Xn に印加された場合を考える。
今、4つの画素Zn,m 、Zn,m+1 、Zn+1,m 、Z
n+1,m+1 に注目しているとすれば、Ym およびYm+1
第1のサブパルスのn番目および(n+1)番目に注目
すればよい。Ym もYm+1 もn番目にはパルスがあるの
で、画素Zn,m 、Zn,m+1 は電圧状態になる。ついで、
n+1 にバイポーラ・パルスが印加される。Ym もY
m+1 も(n+1)番目にはパルスがあるので、この場合
も画素Zn+1,m 、Zn+1,m+1 は充電状態となる。
【0024】次に、図では省略されているが、第2のサ
ブパルスが来たものとする。このとき、Ym もYm+1
n番目および(n+1)番目にはパルスがあったなら
ば、充電状態がなくならず、以上4つの画素は引き続き
電圧状態を継続する。その後、第(h−1)のサブパル
スまでは、4つの画素とも電圧状態が継続したものとす
る。
【0025】次に、サブパルスが進んで、第hのサブパ
ルスが来たものとする。図では煩雑さを避けるためにn
番目および(n+1)番目以外のパルスは省略した。こ
のとき、Ym もYm+1 もn番目にはパルスがあるので、
画素Zn,m 、Zn,m+1 は電圧状態を継続する。しかし、
m+1 には(n+1)番目のパルスがなかったので、画
素Zn+1,m は電圧状態が継続するものの、画素Z
n+1,m+1 は、アクティブ素子のゲイトがONになった状
態で、外部からの電圧の供給がないので、蓄えられてい
た電荷が放出され、電圧状態は中断される。
【0026】さらに、第iのサブパルスが来たときに
は、Ym の(n+1)番目のパルスの電圧がゼロであっ
たので、Zn+1,m の充電状態は解除される。以下、第j
および第kのサブパルスにおいて、それぞれ、Ym+1
m のn番目の信号がゼロであったので、画素Zn,m
n,m+1 の充電状態がぞれぞれ、第k、第jのサブパル
ス中に中断される。このような過程を経ることによっ
て、図2のV(Z)に示すように、各画素ごとに電圧状
態の時間をデジタル的にコントロールできる。
【0027】このような動作を繰り返すことにより、各
画素に加わる電圧パルスの幅を図1(a)のように任意
に制御することができる。
【0028】以上の説明から明らかなように、本発明を
実施するにあたっては、上記のようなサブパルスは、明
確に定義できるパルス状のものでなければならないわけ
ではない。説明を簡単にするために、サブパルスという
概念を持ち出したが、特に、サブパルスとサブパルスの
間が明確でなく、信号としては、ほとんど境界のないも
のであっても、本発明を実施できることはあきらかであ
る。同様に、前記サブパルス内に含まれる多数のパルス
についても、これらが、独立したパルスである必要はな
んらなく、ON/OFFが組み合わされた1連の信号で
あってもよい。さらに、説明をわかりやすくするため
に、信号のゼロレベルと電圧レベルを明確にしたが、こ
れは、液晶のしきい値電圧以下であるか、以上であるか
という問題だけであるので、絶対にゼロである必要はな
い。
【0029】
【実施例】
『実施例1』 本実施例では図4に示すような回路構成
を用いた液晶表示装置を用いて、壁掛けテレビを作製し
たので、その説明を行う。またその際のTFTは、レー
ザーアニールを用いた多結晶シリコンとした。
【0030】この回路構成に対応する実際の電極等の配
置構成を1つの画素について、図5に示している。ま
ず、本実施例で使用する液晶パネルの作製方法を図6を
使用して説明する。図6(A)において、石英ガラス等
の高価でない700℃以下、例えば約600℃の熱処理
に耐え得るガラス50上にマグネトロンRF(高周波)
スパッタ法を用いてブロッキング層51としての酸化珪
素膜を1000〜3000Åの厚さに作製する。プロセ
ス条件は酸素100%雰囲気、成膜温度150℃、出力
400〜800W、圧力0.5Paとした。タ−ゲット
に石英または単結晶シリコンを用いた成膜速度は30〜
100Å/分であった。
【0031】この上にシリコン膜をプラズマCVD法に
より珪素膜52を作製した。成膜温度は250℃〜35
0℃で行い本実施例では320℃とし、モノシラン(SiH
4)を用いた。モノシラン(SiH4)に限らず、ジシラン(Si2
H6) またトリシラン(Si3H8)を用いてもよい。これらを
PCVD装置内に3Paの圧力で導入し、13.56M
Hzの高周波電力を加えて成膜した。この際、高周波電
力は0.02〜0.10W/cm2 が適当であり、本実
施例では0.055W/cm2 を用いた。また、モノシ
ラン(SiH4)の流量は20SCCMとし、その時の成膜速
度は約120Å/ 分であった。PTFTとNTFTとの
スレッシュホ−ルド電圧(Vth)を概略同一に制御する
ため、ホウ素をジボランを用いて1×1015〜1×1018cm
-3の濃度として成膜中に添加してもよい。またTFTの
チャネル領域となるシリコン層の成膜にはこのプラズマ
CVDだけでなく、スパッタ法、減圧CVD法を用いて
も良く、以下にその方法を簡単に述べる。
【0032】スパッタ法で行う場合、スパッタ前の背圧
を1×10-5Pa以下とし、単結晶シリコンをタ−ゲット
として、アルゴンに水素を20〜80%混入した雰囲気
で行った。例えばアルゴン20%、水素80%とした。
成膜温度は150℃、周波数は13.56MHz、スパ
ッタ出力は400〜800W、圧力は0.5Paであっ
た。
【0033】減圧気相法で形成する場合、結晶化温度よ
りも100〜200℃低い450〜550℃、例えば5
30℃でジシラン(Si2H6) またはトリシラン(Si3H8) を
CVD装置に供給して成膜した。反応炉内圧力は30〜
300Paとした。成膜速度は50〜250Å/ 分であ
った。PTFTとNTFTとのスレッシュホ−ルド電圧
(Vth)を概略同一に制御するため、ホウ素をジボラン
を用いて1×1015〜1×1018cm-3の濃度として成膜中に
添加してもよい。
【0034】これらの方法によって形成された被膜は、
酸素が5×1021cm-3以下であることが好ましい。結晶化
を助長させるためには、酸素濃度を7×1019cm-3以下、
好ましくは1×1019cm-3以下とすることが望ましいが、
少なすぎると、バックライトによりオフ状態のリ−ク電
流が増加してしまうため、この濃度を選択した。この酸
素濃度が高いと、結晶化させにくく、レーザーアニ−ル
温度を高くまたはレーザーアニ−ル時間を長くしなけれ
ばならない。水素は4×1020cm-3であり、珪素4×1022
cm-3として比較すると1原子%であった。
【0035】また、ソ−ス、ドレインに対してより結晶
化を助長させるため、酸素濃度を7×1019cm-3以下、好
ましくは1×1019cm-3以下とし、ピクセル構成するTF
Tのチャネル形成領域のみに酸素をイオン注入法により
5×1020〜5×1021cm-3となるように添加してもよい。
上記方法によって、アモルファス状態の珪素膜を500
〜5000Å、本実施例では1000Åの厚さに成膜し
た。
【0036】その後、図6(B)に示すように、フォト
レジスト53をマスクP1を用いてソース・ドレイン領
域のみ開孔したパターンを形成した。その上に、プラズ
マCVD法によりn型の活性層となる珪素膜54を作製
した。成膜温度は250℃〜350℃で行い本実施例で
は320℃とし、モノシラン(SiH4)とモノシランベース
のフォスフィン(PH3) 3%濃度のものを用いた。これら
をPCVD装置内5Paの圧力でに導入し、13.56
MHzの高周波電力を加えて成膜した。この際、高周波
電力は0.05〜0.20W/cm2 が適当であり、本
実施例では0.120W/cm2 を用いた。
【0037】この方法によって出来上がったn型シリコ
ン層の比導電率は2×10-1〔Ωcm-1〕程度となっ
た。膜厚は50Åとした。その後リフトオフ法を用い
て、レジスト53を除去し、ソース・ドレイン領域5
5、56を形成した。
【0038】同様のプロセスを用いて、p型の活性層を
形成した。その際の導入ガスは、モノシラン(SiH4)とモ
ノシランベースのジボラン(B2H6)5%濃度のものを用い
た。これらをPCVD装置内に4Paの圧力でに導入
し、13.56MHzの高周波電力を加えて成膜した。
この際、高周波電力は0.05〜0.20W/cm2
適当であり、本実施例では0.120W/cm2 を用い
た。この方法によって出来上がったp型シリコン層の比
導電率は5×10-2〔Ωcm-1〕程度となった。膜厚は
50Åとした。その後N型領域と同様にリフトオフ法を
用いて、ソース・ドレイン領域59、60を形成した。
その後、マスクP3を用いて珪素膜52をエッチング除
去し、Nチャネル型薄膜トランジスタ用アイランド領域
63とPチャネル型薄膜トランジスタ用アイランド領域
64を形成した。
【0039】その後XeClエキシマレーザーを用い
て、ソース・ドレイン・チャネル領域をレーザーアニー
ルすると同時に、活性層にレーザードーピングを行なっ
た。この時のレーザーエネルギーは、閾値エネルギーが
130mJ/cm2 で、膜厚全体が溶融するには220
mJ/cm2 が必要となる。しかし、最初から220m
J/cm2 以上のエネルギーを照射すると、膜中に含ま
れる水素が急激に放出されるために、膜の破壊が起き
る。そのために低エネルギーで最初に水素を追い出した
後に溶融させる必要がある。本実施例では最初150m
J/cm2 で水素の追い出しを行なった後、230mJ
/cm2 で結晶化をおこなった。
【0040】この上に酸化珪素膜をゲイト絶縁膜として
500〜2000Å例えば1000Åの厚さに形成し
た。これはブロッキング層としての酸化珪素膜の作製と
同一条件とした。この成膜中に弗素を少量添加し、ナト
リウムイオンの固定化をさせてもよい。
【0041】この後、この上側にリンが1〜5×1021cm
-3の濃度に入ったシリコン膜またはこのシリコン膜とそ
の上にモリブデン(Mo)、タングステン(W),MoSi2 または
WSi2との多層膜を形成した。これを第4のフォトマスク
P4にてパタ−ニングして図6(E) を得た。NTFT用
のゲイト電極66、PTFT用のゲイト電極67を形成
した。例えばチャネル長7μm、ゲイト電極としてリン
ド−プ珪素を0.2μm、その上にモリブデンを0.3
μmの厚さに形成した。
【0042】また、ゲート電極材料としてアルミニウム
(Al)を用いた場合、これを第4のフォトマスク69に
てパタ−ニング後、その表面を陽極酸化することで、セ
ルファライン工法が適用可能なため、ソース・ドレイン
のコンタクトホールをよりゲートに近い位置に形成する
ことが出来るため、移動度、スレッシュホールド電圧の
低減からさらにTFTの特性を上げることができる。
【0043】かくすると、400℃以上にすべての工程
で温度を加えることがなくC/TFTを作ることができ
る。そのため、基板材料として、石英等の高価な基板を
用いなくてもよく、本発明の大画面の液晶表示装置にき
わめて適したプロセスであるといえる。
【0044】図6(F)において、層間絶縁物68を前
記したスパッタ法により酸化珪素膜の形成として行っ
た。この酸化珪素膜の形成はLPCVD法、光CVD
法、常圧CVD法を用いてもよい。例えば0.2〜0.
6μmの厚さに形成し、その後、第5のフォトマスクP
5を用いて電極用の窓79を形成した。その後、さら
に、これら全体にアルミニウムを0.3μmの厚みにス
パッタ法により形成し第6のフォトマスクP6を用いて
リ−ド74およびコンタクト73、75を作製した後、
表面を平坦化用有機樹脂77例えば透光性ポリイミド樹
脂を塗布形成し、再度の電極穴あけを第7のフォトマス
クP7にて行った。さらに、これら全体にITO(イン
ジウム酸化錫)を0.1μmの厚みにスパッタ法により
形成し第8のフォトマスクP8を用いて画素電極71を
形成した。このITOは室温〜150℃で成膜し、20
0〜400℃の酸素または大気中のアニ−ルにより成就
した。
【0045】得られたTFTの電気的な特性はPTFT
で移動度は40(cm2/Vs)、Vthは−5.9(V)で、
NTFTで移動度は80(cm2/Vs)、Vthは5.0
(V)であった。
【0046】上記の様な方法に従って作製された液晶電
気光学装置用の一方の基板を得ることが出来た。この液
晶表示装置の電極等の配置の様子を図5に示している。
Nチャネル型薄膜トランジスタとPチャネル型薄膜トラ
ンジスタとを第1の信号線3と第2の信号線4のとの交
差部に設けられている。このようなC/TFTを用いた
マトリクス構成を有せしめた。かかる構造を左右、上下
に繰り返すことにより、640×480、1280×9
60といった大画素の液晶表示装置とすることができ
る。本実施例では1920×400とした。この様にし
て第1の基板を得た。
【0047】他方の基板の作製方法を図7に示す。ガラ
ス基板上にポリイミドに黒色顔料を混合したポリイミド
樹脂をスピンコート法を用いて1μmの厚みに成膜し、
第9のフォトマスクP9を用いてブラックストライプ8
1を作製した。その後、赤色顔料を混合したポリイミド
樹脂をスピンコート法を用いて1μmの厚みに成膜し、
第10のフォトマスクP10を用いて赤色フィルター8
3を作製した。同様にしてマスクP11、P12を使用
し、緑色フィルター85および青色フィルター86を作
製した。これらの作製中各フィルターは350℃にて窒
素中で60分の焼成を行なった。その後、やはりスピン
コート法を用いて、レベリング層89を透明ポリイミド
を用いて制作した。
【0048】その後、これら全体にITO(インジュー
ム酸化錫)を0.1μmの厚みにスパッタ法により形成
し第5のフォトマスク91を用いて共通電極90を形成
した。このITOは室温〜150℃で成膜し、200〜
300℃の酸素または大気中のアニ−ルにより成就し、
第2の基板を得た。
【0049】前記基板上に、オフセット法を用いて、ポ
リイミド前駆体を印刷し、非酸化性雰囲気たとえば窒素
中にて350℃1時間焼成を行った。その後、公知のラ
ビング法を用いて、ポリイミド表面を改質し、少なくと
も初期において、液晶分子を一定方向に配向させる手段
を設けた。
【0050】その後、前記第一の基板と第二の基板によ
って、ネマチック液晶組成物を挟持し、周囲をエポキシ
性接着剤にて固定した。基板上のリードにTAB形状の
駆動ICと共通信号、電位配線を有するPCBを接続
し、外側に偏光板を貼り、透過型の液晶電気光学装置を
得た。これと冷陰極管を3本配置した後部照明装置、テ
レビ電波を受信するチューナーを接続し、壁掛けテレビ
として完成させた。従来のCRT方式のテレビと比べ
て、平面形状の装置となったために、壁等に設置するこ
とも出来るようになった。この液晶テレビの動作は図
1、図2に示したものと、実質的に同等な信号を液晶画
素に印加することにより確認された。
【0051】『実施例2』本実施例では、対角1インチ
を有する液晶電気光学装置を用いた、ビデオカメラ用ビ
ューファインダーを作製し、本発明を実施したので説明
を加える。
【0052】本実施例では、画素数が387×128の
構成にして、低温プロセスによる高移動度TFTを用い
た素子を形成し、ビューファインダーを構成した。本実
施例で使用する液晶表示装置の基板上のアクティブ素子
の配置の様子を図5に示し図5のA−A’断面およびB
−B’断面を示す作製プロセスを図8に描く。
【0053】図8(A)において、安価な、700℃以
下、例えば約600℃の熱処理に耐え得るガラス50上
にマグネトロンRF(高周波) スパッタ法を用いてブロ
ッキング層51としての酸化珪素膜を1000〜300
0Åの厚さに作製する。プロセス条件は酸素100%雰
囲気、成膜温度15℃、出力400〜800W、圧力
0.5Paとした。タ−ゲットに石英または単結晶シリ
コンを用いた成膜速度は30〜100Å/分であった。
【0054】この上にシリコン膜をLPCVD(減圧気
相)法、スパッタ法またはプラズマCVD法により形成
した。減圧気相法で形成する場合、結晶化温度よりも1
00〜200℃低い450〜550℃、例えば530℃
でジシラン(Si2H6) またはトリシラン(Si3H8) をCVD
装置に供給して成膜した。反応炉内圧力は30〜300
Paとした。成膜速度は50〜250Å/ 分であった。
PTFTとNTFTとのスレッシュホ−ルド電圧(Vt
h)に概略同一に制御するため、ホウ素をジボランを用
いて1×1015〜1×1018cm-3の濃度として成膜中に添加
してもよい。
【0055】スパッタ法で行う場合、スパッタ前の背圧
を1×10-5Pa以下とし、単結晶シリコンをタ−ゲット
として、アルゴンに水素を20〜80%混入した雰囲気
で行った。例えばアルゴン20%、水素80%とした。
成膜温度は150℃、周波数は13.56MHz、スパ
ッタ出力は400〜800W、圧力は0.5Paであっ
た。
【0056】プラズマCVD法により珪素膜を作製する
場合、温度は例えば300℃とし、モノシラン(SiH4)ま
たはジシラン(Si2H6) を用いた。これらをPCVD装置
内に導入し、13.56MHzの高周波電力を加えて成
膜した。
【0057】上記方法によって、アモルファス状態の珪
素膜を500〜5000Å、例えば1500Åの厚さに
作製の後、450〜700℃の温度にて12〜70時間
非酸化物雰囲気にて中温の加熱処理、例えば水素雰囲気
下にて600℃の温度で保持した。
【0058】図8(A) において、珪素膜を第1のフォト
マスクにてフォトエッチングを施し、NTFT用の領
域13(チャネル巾20μm)を図面のA−A’断面側
に、PTFT用の領域22をB−B’断面側に作製し
た。
【0059】この上に酸化珪素膜をゲイト絶縁膜として
500〜2000Å例えば1000Åの厚さに形成し
た。これはブロッキング層としての酸化珪素膜の作製と
同一条件とした。この成膜中に弗素を少量添加し、ナト
リウムイオンの固定化をさせてもよい。
【0060】この後、この上側にリンが1〜5×1021cm
-3の濃度に入ったシリコン膜またはこのシリコン膜とそ
の上にモリブデン(Mo)、タングステン(W),MoSi2 または
WSi2との多層膜を形成した。これを第2のフォトマスク
にてパタ−ニングして図8(B) を得た。NTFT用の
ゲイト電極9、PTFT用のゲイト電極21を形成し
た。本実施例にでは、NTFT用チャネル長は10μ
m、PTFT用チャネル長は7μm、ゲイト電極として
リンド−プ珪素を0.2μm、その上にモリブデンを
0.3μmの厚さに形成した。
【0061】図8(C)において、PTFT用のソ−ス
18ドレイン20に対し、ホウ素を1〜5×1015cm-2
のド−ズ量でイオン注入法により添加した。
【0062】次に図8(D)の如く、フォトレジスト6
1をフォトマスクを用いて形成した。NTFT用のソ
−ス10、ドレイン12としてリンを1〜5×1015cm
-2のドーズ量でイオン注入法により添加した。
【0063】また、ゲート電極材料としてアルミニウム
(Al)を用いた場合、これを第2のフォトマスクにて
パタ−ニング後、その表面を陽極酸化することで、セル
ファライン工法が適用可能なため、ソース・ドレインの
コンタクトホールをよりゲートに近い位置に形成するこ
とが出来るため、移動度、スレッシュホールド電圧の低
減からさらにTFTの特性を上げることができる。
【0064】次に、600℃にて10〜50時間再び加
熱アニ−ルを行った。NTFTのソ−ス10、ドレイン
12、PTFTのソ−ス18、ドレイン20を不純物を
活性化してP+ 、N+ として作製した。またゲイト電極
21、9下にはチャネル形成領域19、11がセミアモ
ルファス半導体として形成されている。
【0065】かくすると、セルフアライン方式でありな
がらも、700℃以上にすべての工程で温度を加えるこ
とがなくC/TFTを作ることができる。そのため、基
板材料として、石英等の高価な基板を用いなくてもよ
く、本発明の大画素の液晶表示装置にきわめて適したプ
ロセスである。
【0066】本実施例では熱アニ−ルは図8(A)、
(D)で2回行った。しかし図8(A)のアニ−ルは求
める特性により省略し、双方を図8(D)のアニ−ルに
より兼ね製造時間の短縮を図ってもよい。図8(E)に
おいて、層間絶縁物65を前記したスパッタ法により酸
化珪素膜の形成として行った。この酸化珪素膜の形成は
LPCVD法、光CVD法、常圧CVD法を用いてもよ
い。例えば0.2〜0.6μmの厚さに形成し、その
後、フォトマスクを用いて電極用の窓66を形成し
た。さらに、図8(F)に示す如くこれら全体にアルミ
ニウムをスパッタ法により形成し、リ−ド71、および
コンタクト72をフォトマスクを用いて作製した後、
表面を平坦化用有機樹脂69例えば透光性ポリイミド樹
脂を塗布形成し、再度の電極穴あけをフォトマスクに
て行った。
【0067】2つのTFTを相補型構成とし、かつその
出力端を液晶装置の一方の画素の電極を透明電極として
それに連結するため、スパッタ法によりITO(インジ
ュ−ム・スズ酸化膜)を形成した。それをフォトマスク
によりエッチングし、電極17を構成させた。このI
TOは室温〜150℃で成膜し、200〜400℃の酸
素または大気中のアニ−ルにより成就した。かくの如く
にしてNTFTとPTFT22と透明導電膜の電極17
とを同一ガラス基板50上に作製した。得られたTFT
の電気的な特性はPTFTで移動度は20(cm2/Vs)、
Vthは−5.9(V)で、NTFTで移動度は40(cm
2/Vs)、Vthは5.0(V)であった。
【0068】上記の様な方法に従って液晶装置用の一方
の基板を作製した。この液晶表示装置の電極等の配置の
様子を図5に示している。このようなC/TFTを用い
たマトリクス構成を有せしめた。
【0069】次に第二の基板として、青板ガラス上にス
パッタ法を用いて、酸化珪素膜を2000Å積層した基
板上に、やはり スパッタ法によりITO(インジュ−
ム・スズ酸化膜)を形成した。このITOは室温〜15
0℃で成膜し、200〜400℃の酸素または大気中の
アニ−ルにより成就した。また、この基板上に『実施例
1』と同様の手法を用いたカラーフィルターを形成し
て、第二の基板とした。
【0070】前記基板上に、オフセット法を用いて、ポ
リイミド前駆体を印刷し、非酸化性雰囲気たとえば窒素
中にて350℃1時間焼成を行った。その後、公知のラ
ビング法を用いて、ポリイミド表面を改質し、少なくと
も初期において、液晶分子を一定方向に配向させる手段
を設けて第一および第二の基板とした。
【0071】その後、前記第一の基板と第二の基板によ
って、ネマチック液晶組成物を挟持し、周囲をエポキシ
性接着剤にて固定した。基板上のリードはそのピッチが
46μmと微細なため、COG法を用いて接続をおこな
った。本実施例ではICチップ上に設けた金バンプをエ
ポキシ系の銀パラジウム樹脂で接続し、ICチップと基
板間を固着と封止を目的としたエポキシ変成アクリル樹
脂にて埋めて固定する方法を用いた。その後、外側に偏
光板を貼り、透過型の液晶表示装置を得た。
【0072】実施例1と実質的に同等な駆動方法により
この液晶表示装置の128階調表示が可能であることを
確認した。
【0073】例えば384×128ドットの49,15
2組のTFTを50mm角(300mm角基板から36
枚の多面取り)に作成した液晶電気光学装置に対し通常
のアナログ的な階調表示を行った場合、TFTの特性ば
らつきが約±10%存在するために、16階調表示が限
界であった。しかしながら、本発明によるデジタル階調
表示をおこなった場合、TFT素子の特性ばらつきの影
響を受けにくいために、128階調表示まで可能になり
カラー表示では2,097,152色の多彩であり微妙
な色彩の表示が実現できている。
【0074】テレビ映像の様なソフトを映す場合、例え
ば同一色からなる『岩』でもその微細な窪み等にあたる
光の加減から微妙に色合いが異なる。自然の色彩に近い
表示を行おうとした場合、16階調では困難を要し、こ
れらの微妙な窪みの表現には向かない。本発明による階
調表示によって、これらの微細な色調の変化を付けるこ
とが可能になった。
【0075】『実施例3』 本実施例では図4に示すよ
うな回路構成を用いた液晶表示装置を用いて、壁掛けテ
レビを作製したので、その説明を行う。またその際のT
FTは、レーザーアニールを用いた多結晶シリコンとし
た。
【0076】以下では、TFT部分の作製方法について
図9にしたがって記述する。図9(A)において、石英
ガラス等の高価でない700℃以下、例えば約600℃
の熱処理に耐え得るガラス100上にマグネトロンRF
(高周波) スパッタ法を用いてブロッキング層101と
しての酸化珪素膜を1000〜3000Åの厚さに作製
する。プロセス条件は酸素100%雰囲気、成膜温度1
5℃、出力400〜800W、圧力0.5Paとした。
タ−ゲットに石英または単結晶シリコンを用いた成膜速
度は30〜100Å/分であった。
【0077】この上にシリコン膜をプラズマCVD法に
より珪素膜102を作製した。成膜温度は250℃〜3
50℃で行い本実施例では320℃とし、モノシラン(S
iH4)を用いた。モノシラン(SiH4)に限らず、ジシラン(S
i2H6) またトリシラン(Si3H8) を用いてもよい。これら
をPCVD装置内に3Paの圧力で導入し、13.56
MHzの高周波電力を加えて成膜した。この際、高周波
電力は0.02〜0.10W/cm2 が適当であり、本
実施例では0.055W/cm2 を用いた。また、モノ
シラン(SiH4)の流量は20SCCMとし、その時の成膜
速度は約120Å/ 分であった。PTFTとNTFTと
のスレッシュホ−ルド電圧(Vth)を概略同一に制御す
るため、ホウ素をジボランを用いて1×1015〜1×1018
cm-3の濃度として成膜中に添加してもよい。またTFT
のチャネル領域となるシリコン層の成膜にはこのプラズ
マCVDだけでなく、スパッタ法、減圧CVD法を用い
ても良く、以下にその方法を簡単に述べる。
【0078】スパッタ法で行う場合、スパッタ前の背圧
を1×10-5Pa以下とし、単結晶シリコンをタ−ゲット
として、アルゴンに水素を20〜80%混入した雰囲気
で行った。例えばアルゴン20%、水素80%とした。
成膜温度は150℃、周波数は13.56MHz、スパ
ッタ出力は400〜800W、圧力は0.5Paであっ
た。
【0079】減圧気相法で形成する場合、結晶化温度よ
りも100〜200℃低い450〜550℃、例えば5
30℃でジシラン(Si2H6) またはトリシラン(Si3H8) を
CVD装置に供給して成膜した。反応炉内圧力は30〜
300Paとした。成膜速度は50〜250Å/ 分であ
った。PTFTとNTFTとのスレッシュホ−ルド電圧
(Vth)を概略同一に制御するため、ホウ素をジボラン
を用いて1×1015〜1×1018cm-3の濃度として成膜中に
添加してもよい。
【0080】これらの方法によって形成された被膜は、
酸素が5×1021cm-3以下であることが好ましい。結晶化
を助長させるためには、酸素濃度を7×1019cm-3以下、
好ましくは1×1019cm-3以下とすることが望ましいが、
少なすぎると、バックライトによりオフ状態のリ−ク電
流が増加してしまうため、この濃度を選択した。この酸
素濃度が高いと、結晶化させにくく、レーザーアニ−ル
温度を高くまたはレーザーアニ−ル時間を長くしなけれ
ばならない。水素は4×1020cm-3であり、珪素4×1022
cm-3として比較すると1原子%であった。
【0081】また、ソ−ス、ドレインに対してより結晶
化を助長させるため、酸素濃度を7×1019cm-3以下、好
ましくは1×1019cm-3以下とし、ピクセル構成するTF
Tのチャネル形成領域のみに酸素をイオン注入法により
5×1020〜5×1021cm-3となるように添加してもよい。
上記方法によって、アモルファス状態の珪素膜を500
〜5000Å、本実施例では1000Åの厚さに成膜し
た。
【0082】その後、フォトレジスト103をマスクP
1を用いてNTFTのソース・ドレイン領域となるべき
領域のみ開孔したパターンを形成した。そして、レジス
ト103をマスクとして、リンイオンをイオン注入法に
より、2×1014〜5×1016cm-2、好ましくは2×
1016cm-2だけ、注入し、n型不純物領域104を形
成した。その後、レジスト103は除去された。
【0083】同様に、レジスト105を塗布し、マスク
P3を用いて、PTFTのソース・ドレイン領域となる
べき領域のみ開孔したパターンを形成した。そして、レ
ジスト105をマスクとして、p型の不純物領域を形成
した。不純物としては、ホウソを用い、やはりイオン注
入法を用いて、2×1014〜5×1016cm-2、好まし
くは2×1016cm-2だけ、不純物を導入した。このよ
うにして。図9(B)を得た。
【0084】その後、珪素膜102上に、厚さ50〜3
00nm、例えば、100nmの酸化珪素被膜107
を、上記のRFスパッタ法によって形成した。そして、
XeClエキシマレーザーを用いて、ソース・ドレイン
・チャネル領域をレーザーアニールによって、結晶化・
活性化した。この時のレーザーエネルギーは、閾値エネ
ルギーが130mJ/cm2 で、膜厚全体が溶融するに
は220mJ/cm2 が必要となる。しかし、最初から
220mJ/cm2 以上のエネルギーを照射すると、膜
中に含まれる水素が急激に放出されるために、膜の破壊
が起きる。そのために低エネルギーで最初に水素を追い
出した後に溶融させる必要がある。本実施例では最初1
50mJ/cm2 で水素の追い出しを行なった後、23
0mJ/cm2 で結晶化をおこなった。さらに、レーザ
ーアニール終了後は酸化珪素膜107は取り去った。
【0085】その後、フォトマスクP3によって、アイ
ランド状のNTFT領域111とPTFT領域112を
形成した。この上に酸化珪素膜108をゲイト絶縁膜と
して500〜2000Å例えば1000Åの厚さに形成
した。これはブロッキング層としての酸化珪素膜の作製
と同一条件とした。この成膜中に弗素を少量添加し、ナ
トリウムイオンの固定化をさせてもよい。
【0086】この後、この上側にリンが1〜5×1021cm
-3の濃度に入ったシリコン膜またはこのシリコン膜とそ
の上にモリブデン(Mo)、タングステン(W),MoSi2 または
WSi2との多層膜を形成した。これを第4のフォトマスク
P4にてパタ−ニングして図9(D) を得た。NTFT用
のゲイト電極109、PTFT用のゲイト電極110を
形成した。例えばチャネル長7μm、ゲイト電極として
リンド−プ珪素を0.2μm、その上にモリブデンを
0.3μmの厚さに形成した。
【0087】また、ゲート電極材料としてアルミニウム
(Al)を用いた場合、これを第4のフォトマスクP4に
てパタ−ニング後、その表面を陽極酸化することで、セ
ルファライン工法が適用可能なため、ソース・ドレイン
のコンタクトホールをよりゲートに近い位置に形成する
ことが出来るため、移動度、スレッシュホールド電圧の
低減からさらにTFTの特性を上げることができる。
【0088】かくすると、400℃以上にすべての工程
で温度を加えることがなくC/TFTを作ることができ
る。そのため、基板材料として、石英等の高価な基板を
用いなくてもよく、本発明の大画面の液晶表示装置にき
わめて適したプロセスであるといえる。
【0089】図9(E)において、層間絶縁物113を
前記したスパッタ法により酸化珪素膜の形成として行っ
た。この酸化珪素膜の形成はLPCVD法、光CVD
法、常圧CVD法を用いてもよい。例えば0.2〜0.
6μmの厚さに形成し、その後、第5のフォトマスクP
5を用いて電極用の窓117を形成した。その後、さら
に、これら全体にアルミニウムを0.3μmの厚みにス
パッタ法により形成し第6のフォトマスクP6を用いて
リ−ド116およびコンタクト114、115を作製し
た後、表面を平坦化用有機樹脂119、例えば透光性ポ
リイミド樹脂を塗布形成し、再度の電極穴あけを第7の
フォトマスクP7にて行った。さらに、これら全体にI
TO(インジウム酸化錫)を0.1μmの厚みにスパッ
タ法により形成し第8のフォトマスクP8を用いて画素
電極118を形成した。このITOは室温〜150℃で
成膜し、200〜400℃の酸素または大気中のアニ−
ルにより成就した。
【0090】得られたTFTの電気的な特性はPTFT
で移動度は35(cm2/Vs)、Vthは−5.9(V)で、
NTFTで移動度は90(cm2/Vs)、Vthは4.8
(V)であった。
【0091】上記の様な方法に従って作製された液晶電
気光学装置用の一方の基板を得ることが出来た。他方の
基板の作製方法は実施例1と同じであるので省略する。
その後、前記第一の基板と第二の基板によって、ネマチ
ック液晶組成物を挟持し、周囲をエポキシ性接着剤にて
固定した。基板上のリードにTAB形状の駆動ICと共
通信号、電位配線を有するPCBを接続し、外側に偏光
板を貼り、透過型の液晶電気光学装置を得た。これと冷
陰極管を3本配置した後部照明装置、テレビ電波を受信
するチューナーを接続し、壁掛けテレビとして完成させ
た。従来のCRT方式のテレビと比べて、平面形状の装
置となったために、壁等に設置することも出来るように
なった。この液晶テレビの動作は図1、図2に示したも
のと、実質的に同等な信号を液晶画素に印加することに
より確認された。
【0092】
【発明の効果】本発明では、従来のアナログ方式の階調
表示に対し、デジタル方式の階調表示を行うことを特徴
としている。その効果として、例えば640×400ド
ットの画素数を有する液晶電気光学装置を想定したばあ
い、合計256,000個のTFTすべての特性をばら
つき無く作製することは、非常に困難を有し、現実的に
は量産性、歩留りを考慮すると、16階調表示が限界と
考えられているのに対し、本発明のように、全くアナロ
グ的な信号を加えることなく純粋にデジタル制御のみで
階調表示することにより、256階調表示以上の階調表
示が可能となった。完全なデジタル表示であるので、T
FTの特性ばらつきによる階調の曖昧さは全くなくな
り、したがって、TFTのばらつきが少々あっても、極
めて均質な階調表示が可能であった。したがって、従来
はばらつきの少ないTFTを得るために極めて歩留りが
悪かったのに対し、本発明によって、TFTの歩留りが
さほど問題とされなくなったため、液晶装置の歩留りは
向上し、作製コストも著しく抑えることができた。
【0093】例えば640×400ドットの256,0
00組のTFTを300mm角に作成した液晶電気光学
装置に対し通常のアナログ的な階調表示を行った場合、
TFTの特性ばらつきが約±10%存在するために、1
6階調表示が限界であった。しかしながら、本発明によ
るデジタル階調表示をおこなった場合、TFT素子の特
性ばらつきの影響を受けにくいために、256階調表示
まで可能になりカラー表示ではなんと16,777,2
16色の多彩であり微妙な色彩の表示が実現できてい
る。テレビ映像の様なソフトを映す場合、例えば同一色
からなる『岩』でもその微細な窪み等から微妙に色合い
が異なる。自然の色彩に近い表示を行おうとした場合、
16階調では困難を要する。本発明による階調表示によ
って、これらの微細な色調の変化を付けることが可能に
なった。
【0094】本発明の実施例では、シリコンを用いたT
FTを中心に説明を加えたが、ゲルマニウムを用いたT
FTも同様に使用できる。とくに、単結晶ゲルマニウム
の電子移動度は3600cm2 /Vs、ホール移動度は
1800cm2 /Vsと、単結晶シリコンの値(電子移
動度で1350cm2 /Vs、ホール移動度で480c
2 /Vs)の特性を上回っているため、高速動作が要
求される本発明を実行する上で極めて優れた材料であ
る。また、ゲルマニウムは非晶質状態から結晶状態へ遷
移する温度がシリコンに比べて低く、低温プロセスに向
いている。また、結晶成長の際の核発生率が小さく、し
たがって、一般に、多結晶成長させた場合には大きな結
晶が得られる。このようにゲルマニウムはシリコンと比
べても遜色のない特性を有している。
【0095】本発明の技術思想を説明するために、主と
して液晶を用いた電気光学装置、特に表示装置を例とし
て説明を加えたが、本発明の思想を適用するには、なに
も表示装置である必要はなく、いわゆるプロジェクショ
ン型テレビやその他の光スイッチ、光シャッターであっ
てもよい。さらに、電気光学材料も液晶に限らず、電
界、電圧等の電気的な影響を受けて光学的な特性の変わ
るものであれば、本発明を適用できることは明らかであ
ろう。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明による駆動波形を示す。
【図2】 本発明による駆動波形を示す。
【図3】 本発明による階調表示特性の例を示す。
【図4】 本発明によるマトリクス構成の例を示す。
【図5】 実施例による素子の平面構造を示す。
【図6】 実施例によるTFTのプロセスを示す。
【図7】 実施例によるカラーフィルターの工程を示
す。
【図8】 実施例によるTFTのプロセスを示す。
【図9】 実施例によるTFTのプロセスを示す。
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成5年9月22日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】図面の簡単な説明
【補正方法】変更
【補正内容】
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明による駆動波形を示す。
【図2】 本発明による駆動波形を示す。
【図3】 本発明による階調表示特性の例を示す。
【図4】 本発明によるマトリクス構成の例を示す。
【図5】 実施例による素子の平面構造を示す。
【図6】 実施例によるTFTのプロセスを示す。
【図7】 実施例によるTFTのプロセスを示す。
【図8】 実施例によるカラーフィルターの工程を示
す。
【図9】 実施例によるTFTのプロセスを示す。
【図10】 実施例によるTFTのプロセスを示す。
【手続補正2】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正内容】
【図1】
【図2】
【図3】
【図5】
【図6】
【図7】
【図4】
【図8】
【図9】
【図10】
フロントページの続き (72)発明者 竹村 保彦 神奈川県厚木市長谷398番地 株式会社半 導体エネルギー研究所内

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板上に、N本の信号線X1,2,..Xn,..
    N と、それに直交するM本の信号線Y1,2,..Ym,..
    M とによってマトリクス状に形成された配線と、各マ
    トリクスの交差点領域には、Nチャネル型薄膜トランジ
    スタとPチャネル型薄膜トランジスタとによって形成さ
    れたそれぞれ少なくとも1つのトランスファー・ゲイト
    素子と、各信号線の交差点領域に設けられた画素Z11,
    12,...Zmn,...ZMNとを有し、各トランスファー・ゲ
    イト素子の出力端子は各画素を構成する静電装置の電極
    の一方に接続され、該トランスファー・ゲイト素子の制
    御電極は信号線X1,2,..Xn,..XN に、入力端子は信
    号線Y1,2,..Ym,..YMに接続された電気光学装置に
    おいて、時間T0 からT1 においては信号線Ym に電圧
    を加えるとともに、信号線Xn に時間(T1 −T0 )よ
    りも短く、少なくとも極性が1回反転する信号を加える
    過程と、時間T2 からT3 (T3 >T2 )においては、
    信号線Ym に電圧を加えないで、信号線Xn に時間(T
    3 −T2 )よりも短く、少なくとも極性が1回反転する
    信号を加える過程とを有し、よって、画素電極に短くと
    も時間T1 からT3 まで電圧のかかった状態を実現する
    ことを特徴とする電気光学装置の画像表示方法。
  2. 【請求項2】基板上に、N本の信号線X1,2,..Xn,..
    N と、それに直交するM本の信号線Y1,2,..Ym,..
    M とによってマトリクス状に形成された配線と、各マ
    トリクスの交差点領域には、Nチャネル型薄膜トランジ
    スタとPチャネル型薄膜トランジスタとによって形成さ
    れたそれぞれ少なくとも1つのトランスファー・ゲイト
    素子と、各信号線の交差点領域に設けられた画素Z11,
    12,...Zmn,...ZMNとを有し、各トランスファー・ゲ
    イト素子の出力端子は各画素を構成する静電装置の電極
    の一方に接続され、該トランスファー・ゲイト素子の制
    御電極は信号線X1,2,..Xn,..XN に、入力端子は信
    号線Y1,2,..Ym,..YMに接続された電気光学装置に
    おいて、画素電極にパルス周期が30msec以下のパ
    ルスを加えることによって信号を表示する表示方法にお
    いて、パルス幅を可変にすることによって階調表示をお
    こなうことを特徴とする電気光学装置の画像表示方法。
  3. 【請求項3】基板上に、N本の信号線X1,2,..Xn,..
    N と、それに直交するM本の信号線Y1,2,..Ym,..
    M とによってマトリクス状に形成された配線と、各マ
    トリクスの交差点領域には、Nチャネル型薄膜トランジ
    スタとPチャネル型薄膜トランジスタとによって形成さ
    れたそれぞれ少なくとも1つのトランスファー・ゲイト
    素子と、各信号線の交差点領域に設けられた画素Z11,
    12,...Zmn,...ZMNとを有し、各トランスファー・ゲ
    イト素子の出力端子は各画素を構成する静電装置の電極
    の一方に接続され、該トランスファー・ゲイト素子の制
    御電極は信号線X1,2,..Xn,..XN に、入力端子は信
    号線Y1,2,..Ym,..YMに接続された電気光学装置に
    おいて、任意の信号線Xn には周期的に少なくとも極性
    が1回反転する信号を加え、前記信号が加わっている間
    には、任意の信号線Ym に電圧を加わった状態にするこ
    とを複数回繰り返す過程と、その後、信号線Xn には周
    期的に少なくとも極性が1回反転する信号を加え、前記
    信号が加わっている間には、信号線Ym に電圧の加わっ
    ていない状態にすることを複数回繰り返す過程とを有す
    ることを特徴とする電気光学装置の画像表示方法。
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US6707067B2 (en) 1995-06-06 2004-03-16 Lg.Philips Lcd Co., Ltd. High aperture LCD with insulating color filters overlapping bus lines on active substrate
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US7531838B2 (en) 1995-06-06 2009-05-12 Lg Display Co., Ltd. LCD with increased pixel opening sizes
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