JPH0612515Y2 - 超微小材料試験機 - Google Patents
超微小材料試験機Info
- Publication number
- JPH0612515Y2 JPH0612515Y2 JP3893189U JP3893189U JPH0612515Y2 JP H0612515 Y2 JPH0612515 Y2 JP H0612515Y2 JP 3893189 U JP3893189 U JP 3893189U JP 3893189 U JP3893189 U JP 3893189U JP H0612515 Y2 JPH0612515 Y2 JP H0612515Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- indenter
- converter
- load
- current
- testing machine
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本考案は、マイクロビッカース硬さ試験機等の超微小材
料試験機に関し、特に電気的に負荷荷重を加える機構を
有したもので、その負荷速度を広い範囲で制御しうる超
微小材料試験機に関する。
料試験機に関し、特に電気的に負荷荷重を加える機構を
有したもので、その負荷速度を広い範囲で制御しうる超
微小材料試験機に関する。
[従来の技術] 電磁力により試料に所定の荷重を負荷するようにした超
微小材料試験機では、磁石とコイル部を有する電磁式駆
動部に電流を加えて圧子を試験片に向けて降下させ、試
料に当接後は圧子を試料表面に押込んで試験を行なって
いる。かかる圧子の負荷作動の制御は、CPUで構成さ
れた制御部により行なわれている。
微小材料試験機では、磁石とコイル部を有する電磁式駆
動部に電流を加えて圧子を試験片に向けて降下させ、試
料に当接後は圧子を試料表面に押込んで試験を行なって
いる。かかる圧子の負荷作動の制御は、CPUで構成さ
れた制御部により行なわれている。
例えば、特願昭60−210492号に開示されたもの
では、CPUに圧子の駆動制御を行なわせるとともに、
検出器からのデータ収集およびデータ処理を全てCPU
で行なうように構成されている。また、実開昭62−1
2850号に開示されたものでは、発振器からの出力を
カウンタに入れ、ラッチ回路を介してD/A変換を行な
っており、速度制御を行なうための構成ではないため、
CPUにより発振器のパルスをカウントし、分周を行な
って速度制御を行なっている。
では、CPUに圧子の駆動制御を行なわせるとともに、
検出器からのデータ収集およびデータ処理を全てCPU
で行なうように構成されている。また、実開昭62−1
2850号に開示されたものでは、発振器からの出力を
カウンタに入れ、ラッチ回路を介してD/A変換を行な
っており、速度制御を行なうための構成ではないため、
CPUにより発振器のパルスをカウントし、分周を行な
って速度制御を行なっている。
[考案が解決しようとする課題] 上記従来装置はいずれも、圧子が試料に当接した際のシ
ョックを柔らげるため、圧子が試料に当接するまでの電
流増加速度と圧子が試料に当接した後の電流増加速度を
変える必要があり、CPUを介して速度制御を行なって
いる。そのためCPUにおいて、検出器からのデータ収
集のタイミングを時分割で管理する必要が生じ、変換可
能な速度範囲が限定され、また、データ収集速度にも、
限界が生じるという問題点があった。
ョックを柔らげるため、圧子が試料に当接するまでの電
流増加速度と圧子が試料に当接した後の電流増加速度を
変える必要があり、CPUを介して速度制御を行なって
いる。そのためCPUにおいて、検出器からのデータ収
集のタイミングを時分割で管理する必要が生じ、変換可
能な速度範囲が限定され、また、データ収集速度にも、
限界が生じるという問題点があった。
[課題を解決するための手段] 本考案は、上記課題を解決するために、次のような構成
を採用した。
を採用した。
すなわち、本考案にかかる超微小材料試験機は、電磁式
駆動部に電流を加えて圧子を駆動し、試料表面に当接し
た圧子に試験荷重を負荷する負荷機構を備えた超微小材
料試験機であって、パルスを発生する発振器と、制御部
からの指令によって発生周波数を変化させるレートジェ
ネレータと該レートジェネレータから出力されるパルス
をカウントするカウンタと、該カウンタのカウントに応
じてアナログ電圧を出力するD/A変換器と、前記パル
ス発生器の発生パルスに応じてD/A変換器にD/A変
換開始指令信号を出力する指令パルス発生器と、D/A
変換器から出力される電圧を電流に変換し電磁式駆動部
に供給する電圧電流変換器とからなる負荷電流制御手段
を設けたことを特徴とする。
駆動部に電流を加えて圧子を駆動し、試料表面に当接し
た圧子に試験荷重を負荷する負荷機構を備えた超微小材
料試験機であって、パルスを発生する発振器と、制御部
からの指令によって発生周波数を変化させるレートジェ
ネレータと該レートジェネレータから出力されるパルス
をカウントするカウンタと、該カウンタのカウントに応
じてアナログ電圧を出力するD/A変換器と、前記パル
ス発生器の発生パルスに応じてD/A変換器にD/A変
換開始指令信号を出力する指令パルス発生器と、D/A
変換器から出力される電圧を電流に変換し電磁式駆動部
に供給する電圧電流変換器とからなる負荷電流制御手段
を設けたことを特徴とする。
[作用] 制御部からの指令によって周波数を変化させるレートジ
ェネレータの出力に応じてD/A変換器を作動させ、電
磁式駆動部への電流供給を制御するので、制御部におけ
るCPUは、レートジェネレータへの周波数設定および
負荷開始指令を与えるのみで速度制御を行なうことがで
きる。速度変更指令をいったん出力した後のCPUは、
速度制御を継続して行なう必要がなく、検出器からのデ
ータ収集と処理を専念して行なわせることができる。
ェネレータの出力に応じてD/A変換器を作動させ、電
磁式駆動部への電流供給を制御するので、制御部におけ
るCPUは、レートジェネレータへの周波数設定および
負荷開始指令を与えるのみで速度制御を行なうことがで
きる。速度変更指令をいったん出力した後のCPUは、
速度制御を継続して行なう必要がなく、検出器からのデ
ータ収集と処理を専念して行なわせることができる。
[実施例] 第1図は本考案の実施例を示す図であって、この超微小
材料試験機は、圧子3と該圧子を駆動する負荷機構1を
備えている。負荷機構1はコイル部1aと永久磁石1b
からなり、前記圧子3はコイル部1aに取り付けられて
いる。圧子3には略L字状の変位検出バー5が取り付け
られ、該変位検出バーの先端部は作動トランス式変位検
出器7の鉄芯7bとされている。この鉄芯7bの外側に
は円筒状ボビンに巻回されたコイル部7aが設けられて
いる。
材料試験機は、圧子3と該圧子を駆動する負荷機構1を
備えている。負荷機構1はコイル部1aと永久磁石1b
からなり、前記圧子3はコイル部1aに取り付けられて
いる。圧子3には略L字状の変位検出バー5が取り付け
られ、該変位検出バーの先端部は作動トランス式変位検
出器7の鉄芯7bとされている。この鉄芯7bの外側に
は円筒状ボビンに巻回されたコイル部7aが設けられて
いる。
負荷機構(電磁式圧子駆動部)1のコイル部1aは制御
部10と接続され、電流の向きを制御することにより圧
子2を上昇、下降させることができるようになってい
る。コイル部1aと制御部10との間には負荷電流制御
部11と負荷検出部12が介装され、コイル部1aへの
供給負荷電流が制御される。また、差動トランス式変位
検出器7のコイル部7aも制御部10に接続され、圧子
3と一体となって移動する変位検出バー5の変位量に応
じた電圧が制御部に入力される。
部10と接続され、電流の向きを制御することにより圧
子2を上昇、下降させることができるようになってい
る。コイル部1aと制御部10との間には負荷電流制御
部11と負荷検出部12が介装され、コイル部1aへの
供給負荷電流が制御される。また、差動トランス式変位
検出器7のコイル部7aも制御部10に接続され、圧子
3と一体となって移動する変位検出バー5の変位量に応
じた電圧が制御部に入力される。
なお、圧子3の下方には試料台14が設けられており、
試料15がこれに載置される。
試料15がこれに載置される。
負荷電流制御部11は第2図に示すように、発信器30
からの出力パルスがレートジェネレータ31を介してゲ
ート32に入力され、ゲート32が開閉することによ
り、アップダウンカウンタ35〜38がレートジェネレ
ータ31から出力されるパルスを計数する。レートジェ
ネレータ31における分周値の設定は、制御部10のC
PU20からの指令信号によって行なわれ、ゲート32
へのアップ側若しくはダウン側オープン指令は、CPU
20からPI/O23を介して与えられる。PI/O2
3からはカウンタ35〜38へのリセット信号も出力さ
れる。
からの出力パルスがレートジェネレータ31を介してゲ
ート32に入力され、ゲート32が開閉することによ
り、アップダウンカウンタ35〜38がレートジェネレ
ータ31から出力されるパルスを計数する。レートジェ
ネレータ31における分周値の設定は、制御部10のC
PU20からの指令信号によって行なわれ、ゲート32
へのアップ側若しくはダウン側オープン指令は、CPU
20からPI/O23を介して与えられる。PI/O2
3からはカウンタ35〜38へのリセット信号も出力さ
れる。
圧子3の下降または上昇指令に応じてゲート32が開き
カウンタ35〜38によってパルスが計数されると、そ
の出力信号によりD/A変換器41、42がそれぞれア
ップ側、ダウン側のカウンタ出力に応じてアナログ電圧
を出力する。D/A変換器41,42からの出力はそれ
ぞれ増幅器43,44で増幅され電圧電流変換器45,
46によって圧子下降または上昇用負荷電流I1,I2
として出力される。
カウンタ35〜38によってパルスが計数されると、そ
の出力信号によりD/A変換器41、42がそれぞれア
ップ側、ダウン側のカウンタ出力に応じてアナログ電圧
を出力する。D/A変換器41,42からの出力はそれ
ぞれ増幅器43,44で増幅され電圧電流変換器45,
46によって圧子下降または上昇用負荷電流I1,I2
として出力される。
ただしD/A変換器41,42のD/A変換動作の開始
は、ゲートがONになりレートジェネレータ31からの
発生パルスを基に、D/A変換器への入力データが安定
するまでの時間を遅らせるために設けた遅延回路40か
ら出力されるD/A開始信号によって行なわれる。
は、ゲートがONになりレートジェネレータ31からの
発生パルスを基に、D/A変換器への入力データが安定
するまでの時間を遅らせるために設けた遅延回路40か
ら出力されるD/A開始信号によって行なわれる。
上記のように構成された負荷電流制御部11によって負
荷を開始するためには、まず、各カウンタの値をリセッ
トし、ゲートをOFF状態にしておく。圧子が試料に当
接するまでは、圧子がゆっくり下降するようにレートジ
ェネレータ31の分周値を例えば1/400に設定し、
ゲートのアップ側をオープンすることにより、各カウン
タがカウントを開始し、D/A開始信号が出力されるご
とにD/A変換器の出力が増加する。
荷を開始するためには、まず、各カウンタの値をリセッ
トし、ゲートをOFF状態にしておく。圧子が試料に当
接するまでは、圧子がゆっくり下降するようにレートジ
ェネレータ31の分周値を例えば1/400に設定し、
ゲートのアップ側をオープンすることにより、各カウン
タがカウントを開始し、D/A開始信号が出力されるご
とにD/A変換器の出力が増加する。
圧子が試料に当接以後は、レートジェネレータの分周を
例えば1/4として設定することにより、当接以前の1
00倍の速度で圧子を試料にくい込ませることができ
る。
例えば1/4として設定することにより、当接以前の1
00倍の速度で圧子を試料にくい込ませることができ
る。
第3図に上記各部の動作動作タイミングを示す。かかる
制御手段は制御部10のROM21に書き込まれたプロ
グラムに従って行なわれ、制御部10へ送られるデータ
はROM22に記憶される。
制御手段は制御部10のROM21に書き込まれたプロ
グラムに従って行なわれ、制御部10へ送られるデータ
はROM22に記憶される。
上記したように圧子駆動の速度変更を行なうにはレート
ジェネレータの分周値を設定変更するだけで任意に速度
変更が可能となり、D/A変換器の出力に何ら影響を及
ぼすことなく、タイミングを管理する必要がなくなっ
て、CPUへの負担をなくすことができる。
ジェネレータの分周値を設定変更するだけで任意に速度
変更が可能となり、D/A変換器の出力に何ら影響を及
ぼすことなく、タイミングを管理する必要がなくなっ
て、CPUへの負担をなくすことができる。
また、上記実施例において、圧子に繰返し負荷を与える
には、ゲートのアップ側ダウン側を切り換えるだけでよ
く、この場合にもCPUは何ら管理する必要がない。従
来はCPUで負荷速度に見合うタイミングによって1つ
ずつカウントを減ずる方式がとられていた。
には、ゲートのアップ側ダウン側を切り換えるだけでよ
く、この場合にもCPUは何ら管理する必要がない。従
来はCPUで負荷速度に見合うタイミングによって1つ
ずつカウントを減ずる方式がとられていた。
また、プリセット可能なカウンタを用いることにより、
所定荷重を一気に圧子に加えることや、2回目以降の測
定で1回目の圧子が試料に当接した位置の数μm手前ま
で一気に負荷電流を与えることも可能である。例えば、
同一試料で数回の測定を行なう際、1回目の測定で圧子
が10μm程度の位置で試料に当接したとすると、2回
目以降の測定では8μm程度の位置に圧子が降下するま
での電圧に相当するカウンタをプリセットすることによ
り、短時間で測定を行なうことができる。
所定荷重を一気に圧子に加えることや、2回目以降の測
定で1回目の圧子が試料に当接した位置の数μm手前ま
で一気に負荷電流を与えることも可能である。例えば、
同一試料で数回の測定を行なう際、1回目の測定で圧子
が10μm程度の位置で試料に当接したとすると、2回
目以降の測定では8μm程度の位置に圧子が降下するま
での電圧に相当するカウンタをプリセットすることによ
り、短時間で測定を行なうことができる。
このようにCPUの負担が軽減されることにより、デー
タ収集の時間間隔を短縮することが可能となって、圧子
のより細かい動きを把えることができ、圧子が試料に当
接した瞬間や、試料の変形の様子をより詳しく高精度で
測定することができる。
タ収集の時間間隔を短縮することが可能となって、圧子
のより細かい動きを把えることができ、圧子が試料に当
接した瞬間や、試料の変形の様子をより詳しく高精度で
測定することができる。
[考案の効果] 上記の説明から明らかなように、本考案にかかる超微小
材料試験機によれば、圧子の負荷速度の変更を任意に広
い範囲にわたって行なうことができ、制御部のCPUの
負担が軽減されることにより、データ収集を精緻に行な
え高精度に測定することができるようになった。
材料試験機によれば、圧子の負荷速度の変更を任意に広
い範囲にわたって行なうことができ、制御部のCPUの
負担が軽減されることにより、データ収集を精緻に行な
え高精度に測定することができるようになった。
第1図は本考案の実施例の構成を示すブロック図、第2
図はその要部の構成を示すブロック図、第3図は各部の
動作タイミングを示すタイミングチャートである。 1…負荷機構、10…制御部、11…負荷電流制御部、
30…発信機、31…レートジェネレータ、41,42
…D/A変換器、45,46…電圧電流変換機
図はその要部の構成を示すブロック図、第3図は各部の
動作タイミングを示すタイミングチャートである。 1…負荷機構、10…制御部、11…負荷電流制御部、
30…発信機、31…レートジェネレータ、41,42
…D/A変換器、45,46…電圧電流変換機
Claims (1)
- 【請求項1】電磁式駆動部に電流を加えて圧子を駆動
し、試料表面に当接した圧子に試験荷重を負荷する負荷
機構を備えた超微小材料試験機であって、パルスを発生
する発振器と、制御部からの指令によって発生周波数を
変化させるレートジェネレータと 該レートジェネレー
タから出力されるパルスをカウントするカウンタと、該
カウンタのカウントに応じてアナログ電圧を出力するD
/A変換器と、前記パルス発生器の発生パルスに応じて
D/A変換器にD/A変換開始指令信号を出力する指令
パルス発生器と、D/A変換器から出力される電圧を電
流に変換し電磁式駆動部に供給する電圧電流変換器とか
らなる負荷電流制御手段を設けたことを特徴とする超微
小材料試験機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3893189U JPH0612515Y2 (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 超微小材料試験機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3893189U JPH0612515Y2 (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 超微小材料試験機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02129852U JPH02129852U (ja) | 1990-10-25 |
| JPH0612515Y2 true JPH0612515Y2 (ja) | 1994-03-30 |
Family
ID=31547378
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3893189U Expired - Lifetime JPH0612515Y2 (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 超微小材料試験機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0612515Y2 (ja) |
-
1989
- 1989-03-31 JP JP3893189U patent/JPH0612515Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02129852U (ja) | 1990-10-25 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |