JPH061259B2 - 質量分析計 - Google Patents
質量分析計Info
- Publication number
- JPH061259B2 JPH061259B2 JP59178339A JP17833984A JPH061259B2 JP H061259 B2 JPH061259 B2 JP H061259B2 JP 59178339 A JP59178339 A JP 59178339A JP 17833984 A JP17833984 A JP 17833984A JP H061259 B2 JPH061259 B2 JP H061259B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sweep
- mass spectrometer
- mass
- control means
- peak
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/022—Circuit arrangements, e.g. for generating deviation currents or voltages ; Components associated with high voltage supply
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、質量分析計に関するものである。
第１図は一般的な質量分析計の構成を示す図であり、試
料導入装置１に導入された試料はイオン源２によつてイ
オン化され、コンピユータ８によつて制御される掃引制
御回路９、この制御回路９により制御される分析磁場３
により質量分散させられ、当該質量数を有するイオンの
みがコレクタ１０を通過し、増幅器４にて増幅された
後、ビジグラフ５にマススペクトルとして出力される。
一方、イオン強度を示す信号はＡ／Ｄ変換器６を介して
ピーク判定回路７に送出されてピーク値が判定されると
共に、その判定の結果はコンピユータ８に送出される。
料導入装置１に導入された試料はイオン源２によつてイ
オン化され、コンピユータ８によつて制御される掃引制
御回路９、この制御回路９により制御される分析磁場３
により質量分散させられ、当該質量数を有するイオンの
みがコレクタ１０を通過し、増幅器４にて増幅された
後、ビジグラフ５にマススペクトルとして出力される。
一方、イオン強度を示す信号はＡ／Ｄ変換器６を介して
ピーク判定回路７に送出されてピーク値が判定されると
共に、その判定の結果はコンピユータ８に送出される。
第２図に、掃引制御回路９による繰返し掃引における周
期の定義を示す。設定された掃引質量範囲の掃引に要す
る掃引時間とｔａ、その戻りに要する時間をｔｂ、測定
者が設定した待ちを時間ｔｃとした場合、掃引の１周期
ｔcycは、 ｔcyc＝ｔａ＋ｔｂ＋ｔｃ で定義される。したがつて、最小の周期で繰返し掃引を
行わせるためには、待ち時間ｔｃを０にして行えば良い
ことがわかる。しかし、戻りの時間ｔｂは、分析磁場３
に与えた励磁電流を０にした後、ヒステリシスの影響を
考慮した十分な時間をとる必要があり、高速なサイクリ
ツクスキヤンを行わせるためには、励磁電流を単に０に
するだけでなく負の電流（逆励磁電流）を流し、強制的
にヒステリシスを打消し、元の掃引開始の磁場強度まで
到達させる必要が生じる。この操作を行つた場合、戻り
に要する時間ｔｂは、掃引質量範囲、磁場材料、逆励磁
電流を発生させる逆励磁電源の特性により左右されるこ
とが多く、測定者は十分な余裕をもつた待ち時間ｔｃを
設定し、繰返し掃引の周期を決定しなければならない。
従つて、最小の周期で繰返し掃引を行わしめることは容
易でない。
期の定義を示す。設定された掃引質量範囲の掃引に要す
る掃引時間とｔａ、その戻りに要する時間をｔｂ、測定
者が設定した待ちを時間ｔｃとした場合、掃引の１周期
ｔcycは、 ｔcyc＝ｔａ＋ｔｂ＋ｔｃ で定義される。したがつて、最小の周期で繰返し掃引を
行わせるためには、待ち時間ｔｃを０にして行えば良い
ことがわかる。しかし、戻りの時間ｔｂは、分析磁場３
に与えた励磁電流を０にした後、ヒステリシスの影響を
考慮した十分な時間をとる必要があり、高速なサイクリ
ツクスキヤンを行わせるためには、励磁電流を単に０に
するだけでなく負の電流（逆励磁電流）を流し、強制的
にヒステリシスを打消し、元の掃引開始の磁場強度まで
到達させる必要が生じる。この操作を行つた場合、戻り
に要する時間ｔｂは、掃引質量範囲、磁場材料、逆励磁
電流を発生させる逆励磁電源の特性により左右されるこ
とが多く、測定者は十分な余裕をもつた待ち時間ｔｃを
設定し、繰返し掃引の周期を決定しなければならない。
従つて、最小の周期で繰返し掃引を行わしめることは容
易でない。
本発明の目的は、最小の掃引周期での掃引を容易に行う
ことができる質量分析計を提供することにある。
ことができる質量分析計を提供することにある。
本発明は、２回の掃引により得られるピークパターンが
一致したかどうかで最小の掃引周期を自動的に判定さ
せ、この決定結果に基づいて掃引周期を設定するように
したものである。
一致したかどうかで最小の掃引周期を自動的に判定さ
せ、この決定結果に基づいて掃引周期を設定するように
したものである。
以下、本発明を実施例に基づき説明する。
第３図はこの発明による掃引周期を決定するための手順
を示すフローチヤートである。まず、第２図に示したよ
うに、掃引の周期ｔcycは、掃引所要時間ｔａ、戻り時
間ｔｂ、待ち時間ｔｃの和により決定される。そこでま
ず、待ち時間ｔｃ＝０とし、掃引質量数範囲から逆算し
た時間に、十分磁場が掃引開始点の磁場強度まで戻るで
あろう時間を加えた時間としてｔｂを決定する。そし
て、第１回目の掃引で設定された質量数範囲を掃引する
のに要する時間ｔａをコンピユータ８により計時測定す
る。次いで、ｔｂの待ち時間を加えて第２回目の掃引を
行う。一方、この間、コンピユータ８は、設定された掃
引開始時間から一定期間内に得られたピークパターンに
ついて、第１日目のピークパターンと第２回目のピーク
パターンとの一致があるかどうか判別する。十分に磁場
が戻つている場合は、このピークパターンの一致が大幅
に認知される。
を示すフローチヤートである。まず、第２図に示したよ
うに、掃引の周期ｔcycは、掃引所要時間ｔａ、戻り時
間ｔｂ、待ち時間ｔｃの和により決定される。そこでま
ず、待ち時間ｔｃ＝０とし、掃引質量数範囲から逆算し
た時間に、十分磁場が掃引開始点の磁場強度まで戻るで
あろう時間を加えた時間としてｔｂを決定する。そし
て、第１回目の掃引で設定された質量数範囲を掃引する
のに要する時間ｔａをコンピユータ８により計時測定す
る。次いで、ｔｂの待ち時間を加えて第２回目の掃引を
行う。一方、この間、コンピユータ８は、設定された掃
引開始時間から一定期間内に得られたピークパターンに
ついて、第１日目のピークパターンと第２回目のピーク
パターンとの一致があるかどうか判別する。十分に磁場
が戻つている場合は、このピークパターンの一致が大幅
に認知される。
一方、この判定ルーチンを介し、戻り時間ｔｂを順次小
さくしていくと、完全に磁場が戻り切らない内に、次の
掃引が開始されることとなり、十分に戻り待ち時間をと
つた掃引ピークパターンと大幅に異なるピークパターン
が得られ、磁場の戻り時間ｔｂの不足が判別できる。コ
ンピユータ８は、このようにして決定された最小戻り時
間を以後の掃引待ち時間ｔｂとして記憶し、掃引周期ｔ
cyc ｔcyc＝ｔａ＋ｔｂ として、掃引制御回路９へ送出する。
さくしていくと、完全に磁場が戻り切らない内に、次の
掃引が開始されることとなり、十分に戻り待ち時間をと
つた掃引ピークパターンと大幅に異なるピークパターン
が得られ、磁場の戻り時間ｔｂの不足が判別できる。コ
ンピユータ８は、このようにして決定された最小戻り時
間を以後の掃引待ち時間ｔｂとして記憶し、掃引周期ｔ
cyc ｔcyc＝ｔａ＋ｔｂ として、掃引制御回路９へ送出する。
これにより、分析磁場３の掃引周期は最小値に設定され
る。
る。
以上の説明から明らかなように本発明によれば、高速サ
イクリツクスキヤンが必要な際、自動的に最も効率の良
い掃引周期を極めて容易に決定でき、分析性能を向上さ
せることができるという効果がある。
イクリツクスキヤンが必要な際、自動的に最も効率の良
い掃引周期を極めて容易に決定でき、分析性能を向上さ
せることができるという効果がある。
第１図は本発明が適用される質量分析計制御系を示す
図、第２図は繰返し掃引周期の定義を示す図、第３図は
最小掃引周期を決定するための手順を示すフローチヤー
トである。 １…試料導入装置、２…イオン源、３…分析磁場、４…
増幅器、６…Ａ／Ｄ変換器、７…ピーク判定回路、８…
コンピユータ、９…掃引制御回路。
図、第２図は繰返し掃引周期の定義を示す図、第３図は
最小掃引周期を決定するための手順を示すフローチヤー
トである。 １…試料導入装置、２…イオン源、３…分析磁場、４…
増幅器、６…Ａ／Ｄ変換器、７…ピーク判定回路、８…
コンピユータ、９…掃引制御回路。
Claims (4)
- 【請求項１】質量分散を用いた質量分析計において、イ
オン化された試料の質量分散のための掃引開始および停
止を制御する掃引制御手段と、この掃引制御手段の第１
及び第２の掃引により質量分散されたイオン強度のピー
クパターンを取り込むピークパターン取込手段と、この
ピークパターン取込手段の取込内容に基づいて前記第１
及び第２の掃引により得られるピークパターンが一致し
たかどうかを判別する判別手段と、この判別手段の判別
結果に基づいて前記掃引制御手段による掃引繰返し周期
の最小値を判別しこの判別値に基づいて前記掃引繰返し
周期を設定する制御手段とを備えたことを特徴とする質
量分析計。 - 【請求項２】特許請求の範囲第１項において、前記ピー
クパターン取込手段は、掃引開始後一定時間の間のピー
クを取り込むように構成されていることを特徴とする質
量分析計。 - 【請求項３】特許請求の範囲第１項において、前記制御
手段は、前記掃引繰返し周期を所定値から減少させて設
定するように構成されていることを特徴とする質量分析
計。 - 【請求項４】特許請求の範囲第１項において、ガスクロ
マトグラフ直結形であることを特徴とする質量分析計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59178339A JPH061259B2 (ja) | 1984-08-29 | 1984-08-29 | 質量分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59178339A JPH061259B2 (ja) | 1984-08-29 | 1984-08-29 | 質量分析計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6156961A JPS6156961A (ja) | 1986-03-22 |
| JPH061259B2 true JPH061259B2 (ja) | 1994-01-05 |
Family
ID=16046757
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59178339A Expired - Lifetime JPH061259B2 (ja) | 1984-08-29 | 1984-08-29 | 質量分析計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH061259B2 (ja) |
-
1984
- 1984-08-29 JP JP59178339A patent/JPH061259B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6156961A (ja) | 1986-03-22 |
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