JPH06137896A - 位置検出装置 - Google Patents
位置検出装置Info
- Publication number
- JPH06137896A JPH06137896A JP28783692A JP28783692A JPH06137896A JP H06137896 A JPH06137896 A JP H06137896A JP 28783692 A JP28783692 A JP 28783692A JP 28783692 A JP28783692 A JP 28783692A JP H06137896 A JPH06137896 A JP H06137896A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- hold circuit
- sampling
- signal
- sample hold
- detection head
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 高調波成分によるＤＣオフセットを打ち消す
位置検出装置を提案することを目的とする。 【構成】 基準周期を有する励磁信号εを用いてスケー
ル１０との相対的変位を指示する平衡変調信号ｈs を生
成する検出ヘッド９と、検出ヘッド９からの平衡変調信
号ｈs を励磁信号εの基準周期と同期した第１サンプリ
ングパルスｆp を用いてサンプリングする第１サンプル
ホールド回路７と、第１サンプリングパルスｆp を１８
０度移相する移相器３と、移相器３の出力を第２サンプ
リングパルスｆp ' として平衡変調信号ｈs をサンプリ
ングする第２サンプルホールド回路８と、第１サンプル
ホールド回路７及び第２サンプルホールド回路８でサン
プリングした後の両信号Ｈs ，Ｈs ' を加算して出力信
号Ｓとする加算器６とを有する。
位置検出装置を提案することを目的とする。 【構成】 基準周期を有する励磁信号εを用いてスケー
ル１０との相対的変位を指示する平衡変調信号ｈs を生
成する検出ヘッド９と、検出ヘッド９からの平衡変調信
号ｈs を励磁信号εの基準周期と同期した第１サンプリ
ングパルスｆp を用いてサンプリングする第１サンプル
ホールド回路７と、第１サンプリングパルスｆp を１８
０度移相する移相器３と、移相器３の出力を第２サンプ
リングパルスｆp ' として平衡変調信号ｈs をサンプリ
ングする第２サンプルホールド回路８と、第１サンプル
ホールド回路７及び第２サンプルホールド回路８でサン
プリングした後の両信号Ｈs ，Ｈs ' を加算して出力信
号Ｓとする加算器６とを有する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばスケールと検出
ヘッドとの間の相対的変位量を検出する位置検出装置に
関する。
ヘッドとの間の相対的変位量を検出する位置検出装置に
関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、図３に示す位置検出装置は、位置
検出部と、位置検出回路とを有し、位置検出部はスケー
ル１０と、検出ヘッド９とを有する。ここで、検出ヘッ
ド９はスケール１０に対して相対的に変位することが出
来るように構成されている。
検出部と、位置検出回路とを有し、位置検出部はスケー
ル１０と、検出ヘッド９とを有する。ここで、検出ヘッ
ド９はスケール１０に対して相対的に変位することが出
来るように構成されている。
【０００３】位置検出回路は、基準周波数ｆを有する信
号を供給する発振器１と、基準周波数ｆを有する正弦波
又はパルス波の励磁信号εを生成する励磁回路４と、検
出ヘッド９からの平衡変調信号ｈs を増幅する増幅器５
と、基準周波数ｆの基準信号と同期した適切なパルス幅
と位相を持つサンプリングパルスを出力する移相器２
と、移相器２より出力された周波数ｆp のパルスをサン
プリングパルスとして平衡変調信号ｈs をサンプリング
して出力信号Ｈs とするサンプルホールド回路とを有す
る。
号を供給する発振器１と、基準周波数ｆを有する正弦波
又はパルス波の励磁信号εを生成する励磁回路４と、検
出ヘッド９からの平衡変調信号ｈs を増幅する増幅器５
と、基準周波数ｆの基準信号と同期した適切なパルス幅
と位相を持つサンプリングパルスを出力する移相器２
と、移相器２より出力された周波数ｆp のパルスをサン
プリングパルスとして平衡変調信号ｈs をサンプリング
して出力信号Ｈs とするサンプルホールド回路とを有す
る。
【０００４】このような従来の位置検出装置において
は、発振器１からの基準周波数ｆを有する励磁信号εを
励磁回路４にて生成し、検出ヘッド９からの平衡変調信
号ｈsを増幅器５にて増幅し、サンプルホールド回路７
にて移相器２より出力されたサンプリングパルスｆp で
平衡変調信号ｈs をサンプリングして出力信号Ｈs と
し、この出力信号Ｈs によりスケール１０と検出ヘッド
９との間の相対的変位量を知るようにしていた。
は、発振器１からの基準周波数ｆを有する励磁信号εを
励磁回路４にて生成し、検出ヘッド９からの平衡変調信
号ｈsを増幅器５にて増幅し、サンプルホールド回路７
にて移相器２より出力されたサンプリングパルスｆp で
平衡変調信号ｈs をサンプリングして出力信号Ｈs と
し、この出力信号Ｈs によりスケール１０と検出ヘッド
９との間の相対的変位量を知るようにしていた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述した装置
では、サンプリングした出力信号Ｈs には、スケール信
号成分の他に高調波成分がＤＣとして重畳していて、こ
れを取り除かなければならなかった。この高調波成分は
本来固定分であるため、ＤＣオフセット調整を行えば無
くなるものであるが、このＤＣ分はスケール１０及び検
出ヘッド９の特性によりかなりばらつきがあり、ＤＣオ
フセットの調整範囲を広く取らなければならないという
不都合があった。
では、サンプリングした出力信号Ｈs には、スケール信
号成分の他に高調波成分がＤＣとして重畳していて、こ
れを取り除かなければならなかった。この高調波成分は
本来固定分であるため、ＤＣオフセット調整を行えば無
くなるものであるが、このＤＣ分はスケール１０及び検
出ヘッド９の特性によりかなりばらつきがあり、ＤＣオ
フセットの調整範囲を広く取らなければならないという
不都合があった。
【０００６】本発明はかかる点に鑑みてなされたもの
で、高調波成分によるＤＣオフセットを打ち消す位置検
出装置を提案しようとするものである。
で、高調波成分によるＤＣオフセットを打ち消す位置検
出装置を提案しようとするものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の位置検出装置は
例えば図１乃至図２に示す如く、基準周期を有する正弦
波又はパルス波の励磁信号εを用いてスケール１０との
相対的変位を指示する平衡変調信号ｈs を生成する検出
ヘッド９と、検出ヘッド９からの平衡変調信号ｈs を励
磁信号εの基準周期と同期した第１サンプリングパルス
ｆp を用いてサンプリングする第１サンプルホールド回
路７と、第１サンプリングパルスｆp を１８０度移相す
る移相器３と、移相器３の出力を第２サンプリングパル
スｆp 'として平衡変調信号ｈs をサンプリングする第
２サンプルホールド回路８と、第１サンプルホールド回
路７及び第２サンプルホールド回路８でサンプリングし
た後の両信号Ｈs ，Ｈs ' を加算して出力信号Ｓとする
加算器６とを有する。また、本発明は、前述において、
各々検出ヘッド９と第１サンプルホールド回路７と移相
器３と第２サンプルホールド回路８と加算器６とを含む
チャンネルを１又は２以上有する。また、本発明は、前
述において、検出ヘッド９は磁気スケール１０を読み取
る磁気ヘッド９である。また、本発明は、前述におい
て、検出ヘッド９は磁気スケール１０を読み取る磁気抵
抗効果素子を含む。また、本発明は、前述において、検
出ヘッド９は発光装置からの光を受光する受光装置を含
み、光学式スケール１０を読み取る光学ヘッド９として
構成されている。
例えば図１乃至図２に示す如く、基準周期を有する正弦
波又はパルス波の励磁信号εを用いてスケール１０との
相対的変位を指示する平衡変調信号ｈs を生成する検出
ヘッド９と、検出ヘッド９からの平衡変調信号ｈs を励
磁信号εの基準周期と同期した第１サンプリングパルス
ｆp を用いてサンプリングする第１サンプルホールド回
路７と、第１サンプリングパルスｆp を１８０度移相す
る移相器３と、移相器３の出力を第２サンプリングパル
スｆp 'として平衡変調信号ｈs をサンプリングする第
２サンプルホールド回路８と、第１サンプルホールド回
路７及び第２サンプルホールド回路８でサンプリングし
た後の両信号Ｈs ，Ｈs ' を加算して出力信号Ｓとする
加算器６とを有する。また、本発明は、前述において、
各々検出ヘッド９と第１サンプルホールド回路７と移相
器３と第２サンプルホールド回路８と加算器６とを含む
チャンネルを１又は２以上有する。また、本発明は、前
述において、検出ヘッド９は磁気スケール１０を読み取
る磁気ヘッド９である。また、本発明は、前述におい
て、検出ヘッド９は磁気スケール１０を読み取る磁気抵
抗効果素子を含む。また、本発明は、前述において、検
出ヘッド９は発光装置からの光を受光する受光装置を含
み、光学式スケール１０を読み取る光学ヘッド９として
構成されている。
【０００８】
【作用】上述せる本発明によれば、移相器３にて第１サ
ンプリングパルスｆp を１８０度移相し、第２サンプル
ホールド回路８にて移相器３の出力を第２サンプリング
パルスｆp ' として平衡変調信号ｈs をサンプリング
し、第１サンプルホールド回路７及び第２サンプルホー
ルド回路８でサンプリングした後の両信号Ｈs ，Ｈ s '
を加算器６にて加算し、この出力信号Ｓによりスケール
１０と検出ヘッド９との間の相対的変位量を知る。
ンプリングパルスｆp を１８０度移相し、第２サンプル
ホールド回路８にて移相器３の出力を第２サンプリング
パルスｆp ' として平衡変調信号ｈs をサンプリング
し、第１サンプルホールド回路７及び第２サンプルホー
ルド回路８でサンプリングした後の両信号Ｈs ，Ｈ s '
を加算器６にて加算し、この出力信号Ｓによりスケール
１０と検出ヘッド９との間の相対的変位量を知る。
【０００９】
【実施例】以下に、図１乃至図２を参照して本発明の位
置検出装置の一実施例について詳細に説明する。なお図
３に示した従来の位置検出装置に対応する部分には同一
の符号を付し、その詳細説明を省略する。
置検出装置の一実施例について詳細に説明する。なお図
３に示した従来の位置検出装置に対応する部分には同一
の符号を付し、その詳細説明を省略する。
【００１０】図１において、位置検出装置は位置検出部
と位置検出回路からなり、位置検出部はスケール１０と
検出ヘッド９を含み、位置検出回路は発振器１と励磁回
路４と増幅器５とサンプルホールド回路７と移相器２と
を含む。
と位置検出回路からなり、位置検出部はスケール１０と
検出ヘッド９を含み、位置検出回路は発振器１と励磁回
路４と増幅器５とサンプルホールド回路７と移相器２と
を含む。
【００１１】本例の位置検出回路は、図３の従来の位置
検出回路と比較して、移相器３とサンプルホールド回路
８と加算器６とが設けられている点が異なる。移相器３
はサンプリングパルスｆp を１８０度移相するものであ
り、サンプルホールド回路８は移相器３の出力をサンプ
リングパルスｆp ' として平衡変調信号ｈs をサンプリ
ングするものであり、加算器６はサンプルホールド回路
７及びサンプルホールド回路８でサンプリングした後の
両信号Ｈs ，Ｈs ' を加算するものである。
検出回路と比較して、移相器３とサンプルホールド回路
８と加算器６とが設けられている点が異なる。移相器３
はサンプリングパルスｆp を１８０度移相するものであ
り、サンプルホールド回路８は移相器３の出力をサンプ
リングパルスｆp ' として平衡変調信号ｈs をサンプリ
ングするものであり、加算器６はサンプルホールド回路
７及びサンプルホールド回路８でサンプリングした後の
両信号Ｈs ，Ｈs ' を加算するものである。
【００１２】本例の位置検出装置は上述した構成からな
り、以下の作用をする。発振器１から出力される基準信
号の基準周波数をｆ（＝ωc ／２π）とし、励磁回路４
から出力される励磁電流をε＝ｉsin ωc ｔとすると、
検出ヘッド９の出力信号は、
り、以下の作用をする。発振器１から出力される基準信
号の基準周波数をｆ（＝ωc ／２π）とし、励磁回路４
から出力される励磁電流をε＝ｉsin ωc ｔとすると、
検出ヘッド９の出力信号は、
【００１３】
【数１】
【００１４】となる。ここに、θ＝２πｘ／λ、λはス
ケールの波長、ｘはスケールに対する検出ヘッドの相対
的移動量である。また、ωc 、ａn 、φn は定数であ
る。
ケールの波長、ｘはスケールに対する検出ヘッドの相対
的移動量である。また、ωc 、ａn 、φn は定数であ
る。
【００１５】ここで、ｔをある値に決定してサンプリン
グすることにより信号が得られる。いま、ｔ＝１／ｆと
おいたとすると、ωc ｔ＝２πｆｔ＝２π とおける。
同様に、２ωc ｔ＝４π、３ωc ｔ＝６π、・・・・
となる。これを数１に代入すると、
グすることにより信号が得られる。いま、ｔ＝１／ｆと
おいたとすると、ωc ｔ＝２πｆｔ＝２π とおける。
同様に、２ωc ｔ＝４π、３ωc ｔ＝６π、・・・・
となる。これを数１に代入すると、
【００１６】
【数２】
【００１７】これは、以下のように置き換えられる。
【００１８】
【数３】
【００１９】他方で、ｔをＴ＋Ｔ／２と置き、ωc ｔを
置換すると、ωc ｔ＝２πｆｔ＝２π・１／Ｔ・（Ｔ＋
Ｔ／２）＝３π とおける。
置換すると、ωc ｔ＝２πｆｔ＝２π・１／Ｔ・（Ｔ＋
Ｔ／２）＝３π とおける。
【００２０】同様に、２ωc ｔ＝６π、３ωc ｔ＝９
π、４ωc ｔ＝１２π、・・・・ となる。これを数１
に代入すると、
π、４ωc ｔ＝１２π、・・・・ となる。これを数１
に代入すると、
【００２１】
【数４】
【００２２】これは以下のように置き換えられる。
【００２３】
【数５】 よって、以上より、数３と数５とを加えると、
【００２４】
【数６】
【００２５】となり、定数項である奇数次項が消去され
る。ここで、ａ2n、sin φ2nはある値を持った定数であ
るといえる。よって２ａ2n・sin φ2n＝ｂ2nとおき、数
６を整理すると、
る。ここで、ａ2n、sin φ2nはある値を持った定数であ
るといえる。よって２ａ2n・sin φ2n＝ｂ2nとおき、数
６を整理すると、
【００２６】
【数７】
【００２７】
【数８】
【００２８】となり、スケール信号の項のみ取り出せる
ことになる。図２は、平衡変調信号ｈs 、サンプリング
パルスｆp 及びｆp ' の場合の各サンプリング波形Ｈs
及びＨs ' 、さらにこれらを加算した出力波形Ｓを示
す。検出ヘッド９からの信号を増幅器５で増幅した平衡
変調信号ｈs は図のようになり、スケール移動に対する
信号のピーク値がそれぞれ実線及び点線に示すようにな
る。
ことになる。図２は、平衡変調信号ｈs 、サンプリング
パルスｆp 及びｆp ' の場合の各サンプリング波形Ｈs
及びＨs ' 、さらにこれらを加算した出力波形Ｓを示
す。検出ヘッド９からの信号を増幅器５で増幅した平衡
変調信号ｈs は図のようになり、スケール移動に対する
信号のピーク値がそれぞれ実線及び点線に示すようにな
る。
【００２９】ここで、実線について注目すると、Ｈ
s （ｘ）とＨs ' （ｘ）の２種類のレベルを持つことが
わかる。サンプリング周期をＴ／２とするとＨs （ｘ）
とＨs '（ｘ）の２つのレベルをとるため、出力は直線
とならなくなるので、周期をＴとしてサンプリングする
ことにより直線の出力Ｈs （ｘ）を得るが、これでは、
Ｈ s （ｘ）とＨs ' （ｘ）の値が異なるため、出力され
るsin 波形としてはＤＣ成分がずれた波形Ｈs になって
しまう。
s （ｘ）とＨs ' （ｘ）の２種類のレベルを持つことが
わかる。サンプリング周期をＴ／２とするとＨs （ｘ）
とＨs '（ｘ）の２つのレベルをとるため、出力は直線
とならなくなるので、周期をＴとしてサンプリングする
ことにより直線の出力Ｈs （ｘ）を得るが、これでは、
Ｈ s （ｘ）とＨs ' （ｘ）の値が異なるため、出力され
るsin 波形としてはＤＣ成分がずれた波形Ｈs になって
しまう。
【００３０】そこで、サンプリングパルスｆp よりＴ／
２周期だけ位相をずらしたサンプリングパルスｆp ' を
作り、これを用いて平衡変調信号ｈs をサンプリングす
ると、Ｈs ' の信号が得られる。これはＨs 信号に対し
て反転した形で出力されるため、Ｈs とＨs ' を加算す
ることにより、ＤＣオフセット分をキャンセルした出力
信号Ｓが得られる。この出力信号Ｓによりスケール１０
と検出ヘッド９との間の相対的変位量を知ることができ
る。これにより、高調波成分によるＤＣオフセットは打
ち消し合わせることにより無くなるため、後段の調整部
の負担を軽減することが出来る。また、サンプリングタ
イムＴに対して、１８０度移相したＴでサンプリングし
たものとを加算するため、見かけ上、サンプリングタイ
ムがＴ／２となり最大応答速度が向上する。
２周期だけ位相をずらしたサンプリングパルスｆp ' を
作り、これを用いて平衡変調信号ｈs をサンプリングす
ると、Ｈs ' の信号が得られる。これはＨs 信号に対し
て反転した形で出力されるため、Ｈs とＨs ' を加算す
ることにより、ＤＣオフセット分をキャンセルした出力
信号Ｓが得られる。この出力信号Ｓによりスケール１０
と検出ヘッド９との間の相対的変位量を知ることができ
る。これにより、高調波成分によるＤＣオフセットは打
ち消し合わせることにより無くなるため、後段の調整部
の負担を軽減することが出来る。また、サンプリングタ
イムＴに対して、１８０度移相したＴでサンプリングし
たものとを加算するため、見かけ上、サンプリングタイ
ムがＴ／２となり最大応答速度が向上する。
【００３１】上述した例においては、検出ヘッド９等が
１つの１チャンネルの場合のみを示したが、検出ヘッド
９と第１サンプルホールド回路７と移相器３と第２サン
プルホールド回路８と加算器６とを必要に応じて２以上
有する複数チャンネルとしてもよい。また、上例の位置
検出部は、磁気スケールと磁気ヘッドとよりなるもの、
又は磁気エンコーダと磁気抵抗効果素子とよりなる磁気
記録式のもの等のいずれであってもよく、又さらに、光
学式スケールと光学ヘッドと発光装置からの光を受光す
る受光装置とよりなるものであってもよい。尚、上述の
実施例は本発明の一例であり、本発明の要旨を逸脱しな
い範囲でその他様々な構成が取り得ることは勿論であ
る。
１つの１チャンネルの場合のみを示したが、検出ヘッド
９と第１サンプルホールド回路７と移相器３と第２サン
プルホールド回路８と加算器６とを必要に応じて２以上
有する複数チャンネルとしてもよい。また、上例の位置
検出部は、磁気スケールと磁気ヘッドとよりなるもの、
又は磁気エンコーダと磁気抵抗効果素子とよりなる磁気
記録式のもの等のいずれであってもよく、又さらに、光
学式スケールと光学ヘッドと発光装置からの光を受光す
る受光装置とよりなるものであってもよい。尚、上述の
実施例は本発明の一例であり、本発明の要旨を逸脱しな
い範囲でその他様々な構成が取り得ることは勿論であ
る。
【００３２】
【発明の効果】本発明によれば、第１サンプリングパル
スを１８０度移相する移相器と、移相器の出力を第２サ
ンプリングパルスとして平衡変調信号をサンプリングす
る第２サンプルホールド回路と、第１サンプルホールド
回路及び前記第２サンプルホールド回路でサンプリング
した後の両信号を加算して出力信号とする加算器とを有
するので、高調波成分によるＤＣオフセットは打ち消し
合わせることにより無くなるため、後段の調整部の負担
を軽減することが出来る。また、従来のサンプリングタ
イムＴに対して、本発明では１８０度移相したＴでサン
プリングしたものとの加算であるため、見かけ上、サン
プリングタイムがＴ／２となり最大応答速度が向上する
という利点がある。
スを１８０度移相する移相器と、移相器の出力を第２サ
ンプリングパルスとして平衡変調信号をサンプリングす
る第２サンプルホールド回路と、第１サンプルホールド
回路及び前記第２サンプルホールド回路でサンプリング
した後の両信号を加算して出力信号とする加算器とを有
するので、高調波成分によるＤＣオフセットは打ち消し
合わせることにより無くなるため、後段の調整部の負担
を軽減することが出来る。また、従来のサンプリングタ
イムＴに対して、本発明では１８０度移相したＴでサン
プリングしたものとの加算であるため、見かけ上、サン
プリングタイムがＴ／２となり最大応答速度が向上する
という利点がある。
【図１】本発明の位置検出装置の一実施例のブロック図
である。
である。
【図２】図１の要部の動作を説明する図である。
【図３】従来の位置検出装置のブロック図である。
３ 移相器 ６ 加算器 ７ 第１サンプルホールド回路 ８ 第２サンプルホールド回路 ９ 検出ヘッド １０ スケール
Claims (5)
- 【請求項１】 基準周期を有する正弦波又はパルス波の
励磁信号を用いてスケールとの相対的変位を指示する平
衡変調信号を生成する検出ヘッドと、前記検出ヘッドか
らの平衡変調信号を前記励磁信号の前記基準周期と同期
した第１サンプリングパルスを用いてサンプリングする
第１サンプルホールド回路と、前記第１サンプリングパ
ルスを１８０度移相する移相器と、前記移相器の出力を
第２サンプリングパルスとして前記平衡変調信号をサン
プリングする第２サンプルホールド回路と、前記第１サ
ンプルホールド回路及び前記第２サンプルホールド回路
でサンプリングした後の両信号を加算して出力信号とす
る加算器とを有することを特徴とする位置検出装置。 - 【請求項２】 各々前記検出ヘッドと前記第１サンプル
ホールド回路と前記移相器と前記第２サンプルホールド
回路と前記加算器とを含むチャンネルを１又は２以上有
することを特徴とする請求項１記載の位置検出装置。 - 【請求項３】 前記検出ヘッドは磁気スケールを読み取
る磁気ヘッドであることを特徴とする請求項１又は２記
載の位置検出装置。 - 【請求項４】 前記検出ヘッドは磁気スケールを読み取
る磁気抵抗効果素子であることを特徴とする請求項１、
２又は３記載の位置検出装置。 - 【請求項５】 前記検出ヘッドは発光装置からの光を受
光する受光装置を含み、光学式スケールを読み取る光学
ヘッドとして構成されていることを特徴とする請求項
１、２、３又は４記載の位置検出装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28783692A JPH06137896A (ja) | 1992-10-26 | 1992-10-26 | 位置検出装置 |
| US08/079,569 US5432443A (en) | 1992-06-23 | 1993-06-22 | Linear position detector including a phase shifter and a sample-and-hold circuit for synchronizing a sample pulse period with the reference period of the equilibrium modulated signal |
| DE4320856A DE4320856A1 (de) | 1992-06-23 | 1993-06-23 | Vorrichtung zum Erfassen der relativen Verschiebung zwischen einer Skala und einem Kopf |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28783692A JPH06137896A (ja) | 1992-10-26 | 1992-10-26 | 位置検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06137896A true JPH06137896A (ja) | 1994-05-20 |
Family
ID=17722399
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28783692A Pending JPH06137896A (ja) | 1992-06-23 | 1992-10-26 | 位置検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06137896A (ja) |
-
1992
- 1992-10-26 JP JP28783692A patent/JPH06137896A/ja active Pending
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