JPH06138395A - 顕微鏡の位置決め制御装置 - Google Patents

顕微鏡の位置決め制御装置

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JPH06138395A
JPH06138395A JP28847192A JP28847192A JPH06138395A JP H06138395 A JPH06138395 A JP H06138395A JP 28847192 A JP28847192 A JP 28847192A JP 28847192 A JP28847192 A JP 28847192A JP H06138395 A JPH06138395 A JP H06138395A
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Kenichi Misawa
健一 三澤
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Abstract

(57)【要約】 【目的】レボルバ、またはステージの被駆動部の位置決
め精度を高めることができる装置を得ることにある。 【構成】顕微鏡の鏡基本体4に、移動機構を介してステ
ージ2が所定方向に移動自在に構成され、ステージ2に
対して駆動力を与える電歪素子63を備えた顕微鏡にお
いて、ステージ2と鏡基本体4のセンサ支持部材7との
相対距離を検出する静電容量形変位センサ8と、この変
位センサ8で検出された相対距離ならびに電歪素子63
に対して任意に設定可能な移動目標指令を与え、この移
動目標指令と前記相対距離の偏差に応じて電歪素子63
が駆動制御される制御回路とを具備した顕微鏡の位置決
め制御装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、顕微鏡のステージ、ま
たはレボルバの被駆動部を光軸方向に移動させる際、そ
の位置決め精度を高めることが可能な顕微鏡の位置決め
制御装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来顕微鏡におけるピント合わせは、焦
準ハンドルを手動により回転して被検査物(試料)が載
置されているステージを、対物レンズの焦点位置に動か
すことができるように構成されたものがある(第1の従
来例)。
【0003】この従来の第1の例では、オートフォーカ
ス等の目的のために、焦点位置へ自動で動かす手段とし
て、従来焦準ハンドルの回転軸部分をモータと動力伝達
機構により回転駆動させるように構成したものがある
(第2の従来例)。この場合、ステージの位置決め制御
を行うために、モータの回転変位量を検出し、この検出
値をモータの制御回路にフィードバックし、これと任意
に設定できる移動目標指令(目標信号)との偏差に応じ
た制御が行われ、該偏差が零になるように制御されるよ
うに構成されている。また、電歪素子を駆動源としてい
る場合、電歪素子そのものの変位量を検出することによ
りフィードバックを行う構成となっている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、第2の従来例
では、その駆動源であるモータから、最終的に動作させ
るステージまでに介在する動力伝達機構の構成要素によ
り発生する誤差要因については、配慮がなされていな
い。また、電歪素子でも同様である。つまり、モータの
回転変位量を検出してフィードバックしているだけであ
るため、全体構成としてステージの移動時の反力でモー
タ側の位置が変化してしまうなど、被検査物から対物レ
ンズに至る機構の変形が誤差となる可能性があるからで
ある。このため、例えば走査型レーザ顕微鏡のように、
レボルバとステージの相対距離を、所定量毎に移動させ
て、立体像を構築する場合に、移動量にばらつきが生ず
ることがあり、このため被検査物の実際の形状に対し、
構築像の形状が異なったり、解像度を低下させる原因と
なることが考えられている。
【0005】本発明は、以上の欠点を除去するためなさ
れたもので、レボルバ、またはステージの被駆動部の位
置決め精度を高めることができる顕微鏡の位置決め装置
を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、請求項1に対応する発明は、顕微鏡の固定部に、移
動機構を介してステージまたはレボルバの被駆動部が所
定方向に移動自在に構成され、前記被駆動部に対して駆
動力を与える駆動源を備えた顕微鏡において、前記被駆
動部と前記固定部との得られる画像の焦点位置相互距離
の絶対値を検出する相対距離検出器と、
【0007】この相対距離検出器で検出された相対距離
ならびに前記駆動源に対して任意に設定可能な移動目標
指令を与え、この移動目標指令と前記相対距離の偏差に
応じて前記駆動源が駆動制御される制御回路とを具備し
た顕微鏡の位置決め制御装置である。
【0008】
【作用】請求項1に対応する発明によれば、ステージま
たはレボルバの被駆動部の可動部と固定部との相対距離
を検出し、この相対距離をフィードバックすると共に、
移動目標指令との偏差に応じて駆動源が駆動制御される
ので、レボルバまたはステージの被駆動部の位置決め精
度を高めることができる。
【0009】
【実施例】以下、本発明の実施例について、図面を参照
して説明する。図1は本発明の概略構成を示す図であ
り、正立形顕微鏡であって、対物レンズ1とステージ2
の相対距離Lを測定できるように構成したものである。
図中3は被検査物(試料)、鏡基本体4である。
【0010】図2は、本発明の第1の実施例の要部(第
1図のA部)のみを示す概略構成図であり、ステージ2
は鏡基本体4に対して光軸方向(被検査物の深さ方向、
図2のZ方向)に、移動可能に構成され、この構成とし
て粗動機構部5と微動機構部6を備えている。
【0011】粗動機構部5は、鏡基本体4に固定された
固定側動力伝達機構収納箱51と、この収納箱51の外
周部に直線移動用のベアリング52を介して移動可能に
支持された可動側動力伝達機構収納箱53と、各収納箱
51,53にはそれぞれ図示しない歯車およびピニオン
ならびに観察者が回転操作する焦準ハンドルと、焦準ハ
ンドルからの回転力が可動側動力伝達機構収納箱53内
のピニオンに伝達されるようになっている。
【0012】微動機構部6は、ステージ2をZ方向に直
線移動用のベアリング61を介して移動可能にするステ
ージ支持部材62と、電圧印加値により可動片の突出す
る変位量が変化する電歪素子63とからなっている。
【0013】さらに、鏡基本体4にはステージ2の被検
査物3を載置する面の端部近くに延出するセンサ支持部
材7がほぼ水平に固定され、センサ支持部材7の端部に
静電容量形変位センサ8が取り付けられ、これに有する
第1の電極81と平行に対向するステージ2の上面の端
部に、第2の電極82が取り付けられている。
【0014】ここで、静電容量形変位センサ8は、コン
デンサの原理を利用したものであり、以下この原理につ
いて説明する。すなわち、平行に対向して配置された1
対の電極81,82間の静電容量Cは、電極81,82
の面積をS、電極81,82間の距離をd、誘電率をε
とすると、 C=εS÷d
【0015】となる。そこで、電極の一方81をセンサ
の検出電極とし、他方82を被検査物にすると、静電容
量Cの変化から距離dの変化、すなわち変位を知ること
ができる。静電容量Cの変化は、静電容量ー電圧変換回
路を用いて、電圧の変化として測定することができるも
のである。
【0016】図3は、前述の微動駆動部6の駆動回路と
静電容量形変位センサ8の関係を示す制御ブロック図で
あり、駆動回路9は、任意に目標変位指令(目標信号)
を設定可能な指令設定器90と、静電容量形変位センサ
8で求めた相対距離信号を増幅する増幅器91と、増幅
器91の出力信号と該目標変位指令の偏差を求める比較
器92と、比較器92の偏差を入力して電歪素子63の
電圧信号に変換する制御回路93と、制御回路93によ
り変換された電圧信号を増幅して電歪素子63に与える
電歪素子駆動アンプ94からなっている。
【0017】このように構成された顕微鏡の位置決め制
御装置の第1の実施例の動作について説明する。観察者
が被検査物3を観察するあたっては、焦準ハンドルを回
転させることにより、粗動機構部5を介してステージ2
がZ方向(被検査物3の深さ方法)に大雑把に移動させ
られ、所定量だけ移動した後停止する。
【0018】その後、以下のようにして微動機構部6に
よりステージ2が微動させられる。すなわち、設定器9
0から目標変位指令が駆動回路9に入力されると、比較
器92を介して電歪素子駆動アンプ9により増幅されて
電歪素子63に所定を電圧が与えられるので、電歪素子
63の可動片が該電圧値に応じて変位させられ、この変
位量10に応じてステージ2が、Z方向に微動させられ
る。ステージ2が、Z方向に微動させられることによ
り、ステージ2と静電容量形変位センサ8の相対距離が
変化し、これが静電容量形変位センサ8により検出され
る。この静電容量形変位センサ8により検出された相対
距離信号は、増幅器91により増幅されて比較器92の
一方の入力端子に入力され、これと他方の入力端子に入
力されている目標変位指令との偏差が求められ、この偏
差が制御回路93と電歪素子駆動アンプ94を介して電
歪素子63が与えられ、該偏差が零になるように電歪素
子63の可動片が移動制御される。
【0019】以上述べたように、第1の実施例装置によ
れば、ステージ2と鏡基本体4に取り付けられている静
電容量形変位センサ8の相対距離、すなわちステージ2
と対物レンズ1との相対距離(つまり、得られる画像の
焦点位置相互距離の絶対値)が確実に検出され、この検
出信号が駆動回路に9にフィードバックされるので、従
来装置のように、動力伝達機構等の変形に伴う誤差発生
要因がなくなるため、ステージ2を高精度に位置決めが
可能になる。
【0020】図4は、本発明の第2の実施例を示す概略
構成図であり、前述の第1の実施例で相対距離検出器と
して静電容量形変位センサ8を用いたが、これの代りと
して差動トランス形リニアセンサ11を、センサ支持部
材7の端部に取り付けたものである。この場合、リニア
センサ11のプローブをステージ2に当接させてステー
ジ2と対物レンズの相対距離を求めるようにしたもので
ある。
【0021】図5は、本発明の第3の実施例を示す概略
構成図であり、相対距離検出器としてガラススケール1
2を、鏡基本体4に設けたものである。この場合、ガラ
ススケール12のスリットの検出ヘッド13をステージ
2側に取り付けた場合である。 図6は、本発明の第4
の実施例を示す概略構成図であり、前述各実施例の微動
駆動機構部の駆動源として用いた電歪素子63の代り
に、モータ14を焦準回転軸15に設けたものである。
なお、B部には前述した相対距離検出器を設けることは
いうまでもない、
【0022】図7は、本発明の第5の実施例を示す概略
構成図であり、以上述べた各実施例はいずれも正立形顕
微鏡を対象としていたものが、この実施例は倒立形顕微
鏡を対象とした概略構成図である。すなわち、相対距離
検出器として静電容量形変位センサ8を用い、図7のC
部、すなわちセンサ8を固定側の鏡基に取り付け、また
電極82を可動側レボルバ16に取り付けた例である。
【0023】本発明は、前述した実施例に限定されず、
例えば以下のようにすることもできる。前述の図2の実
施例のセンサ8をステージ2側に取り付け、電極82を
センサ取り付け部材7に取り付けたり、同様に図7のセ
ンサ8と電極82を逆に取り付けるようにしてもよい。
前述の電歪素子63の代りに、直流サーボモータ、交流
サーボモータのいずれか、またはステッピングモータを
用いてもよく、ステッピングモータの場合には入力は電
圧信号ではなくパルス信号を与えればよい。その他、本
発明の要旨を変更しない範囲で種々変形して実施でき
る。
【0024】
【発明の効果】本発明によれば、レボルバ、またはステ
ージの被駆動部の位置決め精度を高めることができる顕
微鏡の位置決め制御装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による顕微鏡の位置決め制御装置の第1
の実施例の概略構成を示す図。
【図2】図1の実施例のA部を拡大して示す概略構成
図。
【図3】図2の駆動回路および静電容量形変位センサの
制御関係を示すブロック図。
【図4】本発明による顕微鏡の位置決め制御装置の第2
の実施例の概略構成を示す図。
【図5】本発明による顕微鏡の位置決め制御装置の第3
の実施例の概略構成を示す図。
【図6】本発明による顕微鏡の位置決め制御装置の第4
の実施例の概略構成を示す図。
【図7】本発明による顕微鏡の位置決め制御装置の第5
の実施例の概略構成を示す図。
【符号の説明】
1…対物レンズ、2…ステージ、3…被検査物、4…鏡
基本体、5…粗動機構部、6…微動機構部、63…電歪
素子、7…センサ支持部材、8…静電容量形変位セン
サ、9…駆動回路、11…差動トランス形リニアセン
サ、12…ガラススケール。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 顕微鏡の固定部に、移動機構を介してス
    テージまたはレボルバの被駆動部が所定方向に移動自在
    に構成され、前記被駆動部に対して駆動力を与える駆動
    源を備えた顕微鏡において、 前記被駆動部と前記固定部との得られる画像の焦点位置
    相互距離の絶対値を検出する相対距離検出器と、 この相対距離検出器で検出された相対距離ならびに前記
    駆動源に対して任意に設定可能な移動目標指令を与え、
    この移動目標指令と前記相対距離の偏差に応じて前記駆
    動源が駆動制御される制御回路と、 を具備した顕微鏡の位置決め制御装置。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08136820A (ja) * 1994-11-11 1996-05-31 Koike Seiki Kk レーザ走査顕微鏡用資料台上下微動装置
US6204965B1 (en) * 1998-12-05 2001-03-20 Carl Zeiss Jena Gmbh Microscope with table device
JP2002006226A (ja) * 2000-06-19 2002-01-09 Sony Corp 検査装置
JP2002090648A (ja) * 2000-09-19 2002-03-27 Olympus Optical Co Ltd 測定顕微鏡
CN105866938A (zh) * 2016-06-07 2016-08-17 北京寺库商贸有限公司 移动式载物台及移动式显微镜

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