JPH0614012B2 - 外観検査装置 - Google Patents
外観検査装置Info
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- JPH0614012B2 JPH0614012B2 JP59010860A JP1086084A JPH0614012B2 JP H0614012 B2 JPH0614012 B2 JP H0614012B2 JP 59010860 A JP59010860 A JP 59010860A JP 1086084 A JP1086084 A JP 1086084A JP H0614012 B2 JPH0614012 B2 JP H0614012B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 技術分野 この発明は、走査コヒーレント光を被検面に投光し、そ
の直反射光を受けて被検面を自動的に検査する外観検査
装置に関する。
の直反射光を受けて被検面を自動的に検査する外観検査
装置に関する。
従来技術 従来、この種の装置では、投光系および受光系に対する
被検面の向きの関係が、被検物に応じて固定化され、一
定の幾何学的配置をなすのを特徴としている。このよう
な方式を自動車ボディのように、各種の異なる傾斜、曲
率を持つ面の外観検査に適用しようとした場合、投光系
および受光系に対する被検面受光部の向きが一定しない
ため、直反射光による良好な信号を得ることができず、
自動検査実現の妨げとなっている。
被検面の向きの関係が、被検物に応じて固定化され、一
定の幾何学的配置をなすのを特徴としている。このよう
な方式を自動車ボディのように、各種の異なる傾斜、曲
率を持つ面の外観検査に適用しようとした場合、投光系
および受光系に対する被検面受光部の向きが一定しない
ため、直反射光による良好な信号を得ることができず、
自動検査実現の妨げとなっている。
目的 この発明は、従来通りの検査光学系に簡単な2次元位置
センサーを組合せて被検面受光部の投光系および受光系
に対する傾きを検出し、それによる傾き信号に応じて被
検物および光学検査ヘッドの少なくとも一方に、走査方
向をy軸、被検面を含みy軸と直交する方向をx軸とし
たときに、y軸まわり回転機構およびx軸まわり回転機
構よりなる支持姿勢調節手段を設けて姿勢を制御し、被
検面受光部の投光系および受光系に対する向きを一定に
保つようにして、簡単な改良で前記従来の欠点を解消し
得る外観検査装置を提供することを目的とする。
センサーを組合せて被検面受光部の投光系および受光系
に対する傾きを検出し、それによる傾き信号に応じて被
検物および光学検査ヘッドの少なくとも一方に、走査方
向をy軸、被検面を含みy軸と直交する方向をx軸とし
たときに、y軸まわり回転機構およびx軸まわり回転機
構よりなる支持姿勢調節手段を設けて姿勢を制御し、被
検面受光部の投光系および受光系に対する向きを一定に
保つようにして、簡単な改良で前記従来の欠点を解消し
得る外観検査装置を提供することを目的とする。
構成 そこでこの発明では、被検面に走査コヒーレント光を当
てその直反射光を受けて被検面を検査する光学検査ヘッ
ドに、前記反射光の受光位置により被検面受光部の傾き
を検出する2次元位置センサが設けられ、前記光学検査
ヘッドまたは被検物の少なくとも一方に、前記コヒーレ
ント光の走査方向をy軸、前記被検面を含みy軸と直交
する方向をx軸、x軸とy軸に直交する方向をz軸とし
たときの、y軸回りの回転機構と、x軸回りの回転機構
と、前記3軸のそれぞれの方向への移動機構とを備える
調整手段が設けられ、この調整手段が前記2次元位置セ
ンサからの出力信号に応じて制御され、前記光学検査ヘ
ッドにおける投光系および受光系に対する前記被検面受
光部の向きが相対的に一定に保たれるようにしている。
てその直反射光を受けて被検面を検査する光学検査ヘッ
ドに、前記反射光の受光位置により被検面受光部の傾き
を検出する2次元位置センサが設けられ、前記光学検査
ヘッドまたは被検物の少なくとも一方に、前記コヒーレ
ント光の走査方向をy軸、前記被検面を含みy軸と直交
する方向をx軸、x軸とy軸に直交する方向をz軸とし
たときの、y軸回りの回転機構と、x軸回りの回転機構
と、前記3軸のそれぞれの方向への移動機構とを備える
調整手段が設けられ、この調整手段が前記2次元位置セ
ンサからの出力信号に応じて制御され、前記光学検査ヘ
ッドにおける投光系および受光系に対する前記被検面受
光部の向きが相対的に一定に保たれるようにしている。
実施例 第1図に、この発明の一実施例として、自動車ボディを
外観検査する場合が示されており、光学検査ヘッド1
が、被検物としての自動車ボディ2の被検面3に向け得
るよう設けられている。自動車ボディ2が図示しない支
持手段によって所定位置に支持されるのに対し、光学検
査ヘッド1は、x軸周りの回転機構4およびy軸周りの
回転機構5を有するロボットアーム6に連結され、それ
ら回転機構4および5が光学検査ヘッド1の支持姿勢調
節手段7をなすようにしている。ロボットアーム6は、
x軸方向に移動可能なよう支持された駆動函8に対しz
軸方向に移動可能なよう支持されている。駆動函8は、
それをx軸方向に駆動する機構、ロボットアーム6を駆
動函8に対しz軸方向に駆動する機構、およびロボット
アーム6の各回転機構4,5を駆動する各機構を内蔵し
ており、図示しないが、ロボットアーム6をy軸方向に
移動させる手段も別に設けられ、それらの各駆動機構を
NC制御部9により制御する。
外観検査する場合が示されており、光学検査ヘッド1
が、被検物としての自動車ボディ2の被検面3に向け得
るよう設けられている。自動車ボディ2が図示しない支
持手段によって所定位置に支持されるのに対し、光学検
査ヘッド1は、x軸周りの回転機構4およびy軸周りの
回転機構5を有するロボットアーム6に連結され、それ
ら回転機構4および5が光学検査ヘッド1の支持姿勢調
節手段7をなすようにしている。ロボットアーム6は、
x軸方向に移動可能なよう支持された駆動函8に対しz
軸方向に移動可能なよう支持されている。駆動函8は、
それをx軸方向に駆動する機構、ロボットアーム6を駆
動函8に対しz軸方向に駆動する機構、およびロボット
アーム6の各回転機構4,5を駆動する各機構を内蔵し
ており、図示しないが、ロボットアーム6をy軸方向に
移動させる手段も別に設けられ、それらの各駆動機構を
NC制御部9により制御する。
光学検査ヘッド1は、第2図に示されるような検査光学
系を内蔵している。この光学系では、従来の場合同様H
e−Neレーザー管10を出たレーザー光が、全反射ミ
ラー11,12で反射されて振動ミラー13に達し、振
動ミラー13により扇状に拡がるビームとされる。この
扇状ビームは、振動ミラー13上レーザー光反射点に対
して自身の焦点距離にほぼ等しくなる位置に置かれたレ
ンズ14により平行走査ビームに変換され、被検面3を
y軸方向に走査する(第3図)。被検面3受光部から反
射光は、直反射成分と、被検面3受光部の表面粗さによ
る拡散反射成分との合成からなるが、疵検出上、直反射
成分を全反射ミラー15を経て集光レンズ16により集
め、干渉フィルター17により外光の影響を除去して受
光素子18で受ける。被検面3受光部に疵があると、直
反射成分が減り、拡散反射成分が増えるから、前記受光
素子18への受光量をモニターして外観検査がなされ
る。この検査は、光学検査ヘッド1が、x軸方向の移動
に加え、y軸方向にも移動されることによって、被検面
3の所望範囲に及び、その際の被検面3受光部の位置変
化に伴う、光学検査ヘッド1と被検面3受光部との距離
変化が、ロボットアーム6のz軸方向移動により是正さ
れる。
系を内蔵している。この光学系では、従来の場合同様H
e−Neレーザー管10を出たレーザー光が、全反射ミ
ラー11,12で反射されて振動ミラー13に達し、振
動ミラー13により扇状に拡がるビームとされる。この
扇状ビームは、振動ミラー13上レーザー光反射点に対
して自身の焦点距離にほぼ等しくなる位置に置かれたレ
ンズ14により平行走査ビームに変換され、被検面3を
y軸方向に走査する(第3図)。被検面3受光部から反
射光は、直反射成分と、被検面3受光部の表面粗さによ
る拡散反射成分との合成からなるが、疵検出上、直反射
成分を全反射ミラー15を経て集光レンズ16により集
め、干渉フィルター17により外光の影響を除去して受
光素子18で受ける。被検面3受光部に疵があると、直
反射成分が減り、拡散反射成分が増えるから、前記受光
素子18への受光量をモニターして外観検査がなされ
る。この検査は、光学検査ヘッド1が、x軸方向の移動
に加え、y軸方向にも移動されることによって、被検面
3の所望範囲に及び、その際の被検面3受光部の位置変
化に伴う、光学検査ヘッド1と被検面3受光部との距離
変化が、ロボットアーム6のz軸方向移動により是正さ
れる。
前記検査光学系に対し、被検面3受光部からの直反射光
を、受光素子18へ向う光路から一部分割して取出すビ
ームスプリッター19と、該ビームスプリッター19に
より分割して取出されたビームを受ける2次元位置セン
サー20と、ビームスプリッター19による分割取出し
ビームの2次元位置センサー20に対する結像倍率調節
用のレンズ21とが、さらに設けられており、ビームス
プリッター19は集光レンズ16と干渉フィルター17
との間に配置されている。
を、受光素子18へ向う光路から一部分割して取出すビ
ームスプリッター19と、該ビームスプリッター19に
より分割して取出されたビームを受ける2次元位置セン
サー20と、ビームスプリッター19による分割取出し
ビームの2次元位置センサー20に対する結像倍率調節
用のレンズ21とが、さらに設けられており、ビームス
プリッター19は集光レンズ16と干渉フィルター17
との間に配置されている。
2次元位置センサー20は、光学検査ヘッド1に内蔵さ
れる投光系および受光系に対する被検面3受光部の傾き
に対応して、前記分割検出ビームの受光位置が受光面上
で変化することにより、前記被検面3受光部のx軸周り
およびy軸周りの傾きを検出することができ、この2次
元位置センサー20からの出力信号に応じて、前記支持
姿勢調節手段7としての各回転機構4,5を適宜制御
し、被検面3受光部が投光系および受光系に対し常に一
定の向きとなるようにする。これによって、被検面3が
自動車ボディのように種々の傾きや曲率を持つ被検物で
あっても、その所望被検範囲全域で、直反射光による良
好な検査信号が自動的に得られ、高精度な自動外観検査
が可能となる。
れる投光系および受光系に対する被検面3受光部の傾き
に対応して、前記分割検出ビームの受光位置が受光面上
で変化することにより、前記被検面3受光部のx軸周り
およびy軸周りの傾きを検出することができ、この2次
元位置センサー20からの出力信号に応じて、前記支持
姿勢調節手段7としての各回転機構4,5を適宜制御
し、被検面3受光部が投光系および受光系に対し常に一
定の向きとなるようにする。これによって、被検面3が
自動車ボディのように種々の傾きや曲率を持つ被検物で
あっても、その所望被検範囲全域で、直反射光による良
好な検査信号が自動的に得られ、高精度な自動外観検査
が可能となる。
以下、2次元位置センサー20による被検面3受光部の
傾き検出について詳述する。
傾き検出について詳述する。
y軸周りの傾きについて、 第4図に、等価光路で示されているように、光学検査ヘ
ッド投光系からのレーザー光は、被検面3に対し左方か
ら入射し、被検面3でスネルの法則に従って反射される
が、投光系および受光系に対する被検面3の適正なy軸
周りの向きを(ロ)の状態に設定する場合、そのときの被
検面3からの直反射光が2次元位置センサー20受光面
のx軸方向中央点Oxに結像するように調整されてい
る。被検面3が(ロ)の状態から(ハ)の状態に傾くと、被検
面3からの直反射光は破線で示されているように、2次
元位置センサー20受光面の中央点Oxから外れた位置
に結像される。
ッド投光系からのレーザー光は、被検面3に対し左方か
ら入射し、被検面3でスネルの法則に従って反射される
が、投光系および受光系に対する被検面3の適正なy軸
周りの向きを(ロ)の状態に設定する場合、そのときの被
検面3からの直反射光が2次元位置センサー20受光面
のx軸方向中央点Oxに結像するように調整されてい
る。被検面3が(ロ)の状態から(ハ)の状態に傾くと、被検
面3からの直反射光は破線で示されているように、2次
元位置センサー20受光面の中央点Oxから外れた位置
に結像される。
結局、第5図に示される如く被検面3受光部の光学検査
ヘッド1の投受光系に対する向きが、y軸周りに(イ),
(ロ),(ハ)と変化した場合、その傾き状態(イ),(ロ),(ハ)に従
って、2次元位置センサー20のx軸方向位置信号出力
Vxが、第6図(イ),(ロ),(ハ)のように変化する。なお、
走査レーザー光は、y軸に平行に走査されているため
に、前記x軸方向位置信号出力Vxは直流となってい
る。
ヘッド1の投受光系に対する向きが、y軸周りに(イ),
(ロ),(ハ)と変化した場合、その傾き状態(イ),(ロ),(ハ)に従
って、2次元位置センサー20のx軸方向位置信号出力
Vxが、第6図(イ),(ロ),(ハ)のように変化する。なお、
走査レーザー光は、y軸に平行に走査されているため
に、前記x軸方向位置信号出力Vxは直流となってい
る。
以上によって、2次元位置センサー20からのx軸方向
位置信号出力Vxをモニターすることにより、被検面3
受光部のy軸周りの適正向きに対する傾きを自動的に連
結検出することができる。
位置信号出力Vxをモニターすることにより、被検面3
受光部のy軸周りの適正向きに対する傾きを自動的に連
結検出することができる。
x軸周りの傾きについて、 被検面3のx軸周りの傾き変化は、x軸方向から、つま
り正面側から見た光学検査ヘッド1に対し、第7図に示
される(ニ),(ホ),(ヘ)のように表わされる。ここで、投光
系および受光系に対する被検面3の適正なx軸周りの向
きを(ホ)の状態に設定した場合、第8図に等価光路で示
されているように、そのときの被検面3からの直反射光
が、2次元位置センサー20受光面上の、y軸方向中央
点Oyを中心とする対称な位置に結像するように調整さ
れている。第8図において被検面3が(ホ)の状態から(ヘ)
の状態に傾いたとき、2次元位置センサー20受光面へ
の直反射光結像位置が、破線で示されているようにy軸
方向中央点Oyから変化する。
り正面側から見た光学検査ヘッド1に対し、第7図に示
される(ニ),(ホ),(ヘ)のように表わされる。ここで、投光
系および受光系に対する被検面3の適正なx軸周りの向
きを(ホ)の状態に設定した場合、第8図に等価光路で示
されているように、そのときの被検面3からの直反射光
が、2次元位置センサー20受光面上の、y軸方向中央
点Oyを中心とする対称な位置に結像するように調整さ
れている。第8図において被検面3が(ホ)の状態から(ヘ)
の状態に傾いたとき、2次元位置センサー20受光面へ
の直反射光結像位置が、破線で示されているようにy軸
方向中央点Oyから変化する。
結局、第7図に示されるように、被検面3受光部の光学
検査ヘッド1の投受光系に対する向きが、x軸周りに
(ニ),(ホ),(ヘ)と変化した場合、その傾き状態(ニ),(ホ),(ヘ)
に従って、2次元位置センサー20のy軸方向位置信号
出力Vyが、第9図(ニ),(ホ),(ヘ)のように変化する。な
お、走査レーザー光は、その走査方向がy軸方向に一致
しているために、前記y軸方向位置信号出力Vyは、第
9図に示されているように、交流成分と直流成分の2成
分を含んでいる。
検査ヘッド1の投受光系に対する向きが、x軸周りに
(ニ),(ホ),(ヘ)と変化した場合、その傾き状態(ニ),(ホ),(ヘ)
に従って、2次元位置センサー20のy軸方向位置信号
出力Vyが、第9図(ニ),(ホ),(ヘ)のように変化する。な
お、走査レーザー光は、その走査方向がy軸方向に一致
しているために、前記y軸方向位置信号出力Vyは、第
9図に示されているように、交流成分と直流成分の2成
分を含んでいる。
以上によって、2次元位置センサー20からのy軸方向
位置信号出力をモニターすることによって、被検面3受
光部のx軸周りの適正向きに対する傾きを自動的に連続
検出することができる。
位置信号出力をモニターすることによって、被検面3受
光部のx軸周りの適正向きに対する傾きを自動的に連続
検出することができる。
2次元位置センサー20から得られる前記x軸方向、y
軸方向の各位置信号出力は、被検面3受光部の適正向き
に対するy軸およびx軸周りの各傾き信号として、第1
図におけるNC制御部9にフィードバックされ、その信
号に応じて、光学検査ヘッド1の支持姿勢調節手段7を
なす各回転機構4,5を制御し、光学検査ヘッド1の投
光系および受光系に対する被検面3受光部の向きが常に
一定であるよう、光学検査ヘッド1の支持姿勢が調節さ
れる。この結果、被検物2の所望被検面3の全域で、被
検面3各部の傾きや曲率の違いにかかわりなく、走査レ
ーザー光が所定の方向から入射し所定の方向に直反射す
ることによる良好なS/N比の信号が自動的に得られ、高
精度な自動外観検査が達成される。
軸方向の各位置信号出力は、被検面3受光部の適正向き
に対するy軸およびx軸周りの各傾き信号として、第1
図におけるNC制御部9にフィードバックされ、その信
号に応じて、光学検査ヘッド1の支持姿勢調節手段7を
なす各回転機構4,5を制御し、光学検査ヘッド1の投
光系および受光系に対する被検面3受光部の向きが常に
一定であるよう、光学検査ヘッド1の支持姿勢が調節さ
れる。この結果、被検物2の所望被検面3の全域で、被
検面3各部の傾きや曲率の違いにかかわりなく、走査レ
ーザー光が所定の方向から入射し所定の方向に直反射す
ることによる良好なS/N比の信号が自動的に得られ、高
精度な自動外観検査が達成される。
もっとも、被検面3受光部の傾き検出による光学検査ヘ
ッド1の支持姿勢調節は、その傾きが検出された被検面
3受光部に対してであり、その受光中心点Pを中心とし
てなされなければならない。それには、光学検査ヘッド
1のx軸周りおよびy軸周りの支持姿勢調節と共に、そ
の調節に伴う前記受光中心点Pに対するx軸、y軸、z
軸方向の位置ズレが補正されればよい。このような補正
は、NC制御部9でなされる。
ッド1の支持姿勢調節は、その傾きが検出された被検面
3受光部に対してであり、その受光中心点Pを中心とし
てなされなければならない。それには、光学検査ヘッド
1のx軸周りおよびy軸周りの支持姿勢調節と共に、そ
の調節に伴う前記受光中心点Pに対するx軸、y軸、z
軸方向の位置ズレが補正されればよい。このような補正
は、NC制御部9でなされる。
前記のような投光系および受光系に対する被検面受光部
の向き調節は、被検物側の支持姿勢を調節してもなされ
るし、光学検査ヘッドおよび被検物双方の各支持姿勢を
相互調節するようにしてもよい。被検物側だけか光学検
査ヘッドと共にx,y,z軸方向移動機構が設けられて
もよい。
の向き調節は、被検物側の支持姿勢を調節してもなされ
るし、光学検査ヘッドおよび被検物双方の各支持姿勢を
相互調節するようにしてもよい。被検物側だけか光学検
査ヘッドと共にx,y,z軸方向移動機構が設けられて
もよい。
前記2次元位置センサーとしては、半導体型のものや、
ビジコン、エアリアセンサー等種々のものを利用するこ
とができる。
ビジコン、エアリアセンサー等種々のものを利用するこ
とができる。
効果 この発明によれば、被検面が自動車ボディのように各種
の傾きや曲率を持つものであっても投光系および受光系
に対する被検面受光部の適正向きに対する傾きが連続検
出され、その検出信号に応じた光学検査ヘッドおよび被
検物の少なくとも一方の支持姿勢調節によって前記傾き
が相対的に是正されるから、被検物の所望被検面全域
で、被検面各部の傾きや曲率の違いにかかわりなく、直
反射光による良好なS/N比の信号が得られ、高精度な
自動外観検査が達成される。
の傾きや曲率を持つものであっても投光系および受光系
に対する被検面受光部の適正向きに対する傾きが連続検
出され、その検出信号に応じた光学検査ヘッドおよび被
検物の少なくとも一方の支持姿勢調節によって前記傾き
が相対的に是正されるから、被検物の所望被検面全域
で、被検面各部の傾きや曲率の違いにかかわりなく、直
反射光による良好なS/N比の信号が得られ、高精度な
自動外観検査が達成される。
しかも光学検査ヘッドに2次元位置センサーが設けら
れ、この光学検査ヘッドおよび被検物の支持手段の少な
くとも一方に、走査方向をy軸とし、被検面を含みy軸
と直交する方向をx軸としたときの、y軸周りの回転機
構およびx軸周りの回転機構からなる支持姿勢調節手段
が設けられ、該支持姿勢調節手段が前記2次元位置セン
サーからの出力信号に応じて制御されるので、x軸或い
はy軸周りの被検面の傾きを検知でき、ロボットアーム
による制御を可能とし、自動外観検査を可能とする。
れ、この光学検査ヘッドおよび被検物の支持手段の少な
くとも一方に、走査方向をy軸とし、被検面を含みy軸
と直交する方向をx軸としたときの、y軸周りの回転機
構およびx軸周りの回転機構からなる支持姿勢調節手段
が設けられ、該支持姿勢調節手段が前記2次元位置セン
サーからの出力信号に応じて制御されるので、x軸或い
はy軸周りの被検面の傾きを検知でき、ロボットアーム
による制御を可能とし、自動外観検査を可能とする。
第1図は一実施例の検査状態を示すy軸方向から見た側
面図、第2図は光学検査ヘッドの内部光学系を示す第1
図と同じ向きの側面図、第3図は光学検査ヘッドおよび
その支持姿勢調節手段を持つロボットアームの斜面図、
第4図は被検面受光部のy軸周りの傾き検出状態を示す
等価光路図、第5図は投受光系に対する被検面のy軸周
りの傾き変化状態を示すy軸方向から見た側面図、第6
図は第5図の被検面各傾き状態に対応した2次元位置セ
ンサーのx軸方向位置信号出力を示す線図、第7図は投
受光系に対する被検面のx軸周りの傾き変化状態を示す
x軸方向から見た正面図、第8図は被検面受光部のx軸
周りの傾き検出状態を示す等価光路図、第9図は第7図
の各傾き状態に対応した2次元位置センサーのy軸方向
位置信号出力を示す線図である。 1…光学検査ヘッド、2…自動車ボディ(被検物)、3
…被検面、 4…x軸周り回転機構(7…支持姿勢調節手段)、 5…y軸周り回転機構(7…支持姿勢調節手段)、 6…ロボットアーム(支持手段)、8…駆動函、 9…NC制御部、 10…He−Neレーザー管(投光系)、 11,12…全反射ミラー(投光系)、 13…振動ミラー(投光系)、 14…レンズ(投光系)、 15…全反射ミラー(受光系)、 16…集光レンズ(受光系)、 17…干渉フィルター(受光系)、 18…受光素子(受光系)、 20…2次元位置センサー
面図、第2図は光学検査ヘッドの内部光学系を示す第1
図と同じ向きの側面図、第3図は光学検査ヘッドおよび
その支持姿勢調節手段を持つロボットアームの斜面図、
第4図は被検面受光部のy軸周りの傾き検出状態を示す
等価光路図、第5図は投受光系に対する被検面のy軸周
りの傾き変化状態を示すy軸方向から見た側面図、第6
図は第5図の被検面各傾き状態に対応した2次元位置セ
ンサーのx軸方向位置信号出力を示す線図、第7図は投
受光系に対する被検面のx軸周りの傾き変化状態を示す
x軸方向から見た正面図、第8図は被検面受光部のx軸
周りの傾き検出状態を示す等価光路図、第9図は第7図
の各傾き状態に対応した2次元位置センサーのy軸方向
位置信号出力を示す線図である。 1…光学検査ヘッド、2…自動車ボディ(被検物)、3
…被検面、 4…x軸周り回転機構(7…支持姿勢調節手段)、 5…y軸周り回転機構(7…支持姿勢調節手段)、 6…ロボットアーム(支持手段)、8…駆動函、 9…NC制御部、 10…He−Neレーザー管(投光系)、 11,12…全反射ミラー(投光系)、 13…振動ミラー(投光系)、 14…レンズ(投光系)、 15…全反射ミラー(受光系)、 16…集光レンズ(受光系)、 17…干渉フィルター(受光系)、 18…受光素子(受光系)、 20…2次元位置センサー
Claims (1)
- 【請求項1】被検面に走査コヒーレント光を当てその直
反射光を受けて被検面を検査する光学検査ヘッドに、前
記反射光の受光位置により被検面受光部の傾きを検出す
る2次元位置センサが設けられ、 前記光学検査ヘッドまたは被検物の少なくとも一方に、
前記コヒーレント光の走査方向をy軸、前記被検面を含
みy軸と直交する方向をx軸、x軸とy軸に直交する方
向をz軸としたときの、y軸回りの回転機構と、x軸回
りの回転機構と、前記3軸のそれぞれの方向への移動機
構とを備える調整手段が設けられ、 この調整手段が前記2次元位置センサからの出力信号に
応じて制御され、前記光学検査ヘッドにおける投光系お
よび受光系に対する前記被検面受光部の向きが相対的に
一定に保たれることを特徴とする外観検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59010860A JPH0614012B2 (ja) | 1984-01-23 | 1984-01-23 | 外観検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59010860A JPH0614012B2 (ja) | 1984-01-23 | 1984-01-23 | 外観検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60154145A JPS60154145A (ja) | 1985-08-13 |
| JPH0614012B2 true JPH0614012B2 (ja) | 1994-02-23 |
Family
ID=11762108
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59010860A Expired - Lifetime JPH0614012B2 (ja) | 1984-01-23 | 1984-01-23 | 外観検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0614012B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0210250A (ja) * | 1988-06-29 | 1990-01-16 | Kanto Auto Works Ltd | 塗装面の欠陥検査装置用姿勢制御方法及び装置 |
| JPH0210249A (ja) * | 1988-06-29 | 1990-01-16 | Kanto Auto Works Ltd | 塗装面の欠陥検査装置 |
| JP4889544B2 (ja) * | 2007-03-30 | 2012-03-07 | 本田技研工業株式会社 | 球体中心算出方法 |
| MX2022014785A (es) * | 2020-05-26 | 2023-01-16 | Cin Advanced Systems Group S L | Dispositivo de inspeccion de defectos superficiales, linea de inspeccion de defectos superficiales de carrocerias de vehiculos y procedimiento de inspeccion de defectos superficiales. |
| DE102021205659B4 (de) * | 2021-06-03 | 2023-08-10 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung eingetragener Verein | Verfahren zum Prüfen von Bauteiloberflächen auf Fehler und/oder Bestimmen von Eigenschaften von Bauteilbeschichtungen |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6035608B2 (ja) * | 1980-09-13 | 1985-08-15 | 松下電工株式会社 | 位置・姿勢制御装置 |
| JPS58118740A (ja) * | 1982-01-08 | 1983-07-14 | アロカ株式会社 | 超音波探触子のスキヤナ |
-
1984
- 1984-01-23 JP JP59010860A patent/JPH0614012B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60154145A (ja) | 1985-08-13 |
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