JPH06140882A - リセット制御可能な双安定フリップフロップ回路 - Google Patents

リセット制御可能な双安定フリップフロップ回路

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JPH06140882A
JPH06140882A JP5134270A JP13427093A JPH06140882A JP H06140882 A JPH06140882 A JP H06140882A JP 5134270 A JP5134270 A JP 5134270A JP 13427093 A JP13427093 A JP 13427093A JP H06140882 A JPH06140882 A JP H06140882A
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JP
Japan
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input
flop circuit
inverter
signal
reset
Prior art date
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JP5134270A
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Inventor
Bruno P Menut
ブルーノ メヌ パトリック
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STMicroelectronics SA
STMicroelectronics lnc USA
Original Assignee
SGS Thomson Microelectronics SA
SGS Thomson Microelectronics Inc
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Publication date
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    • H03K3/356008—Bistable circuits ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied; storing the actual state when the supply voltage fails
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    • H03K3/356017—Bistable circuits using additional transistors in the input circuit

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明はリセット制御可能な双安定フリップ
フロップ回路に関し、小さな面積でリセット制御可能な
双安定フリップフロップ回路を実現することを目的とす
る。 【構成】 入力ターミナル3と、出力ターミナル4と、
リセット制御ターミナル5と、入力と出力がそれぞれ接
続された第一インバータ7と第二インバータ8とを有す
る記憶セル6とを備える双安定フリップフロップ回路で
あって、リセット信号NRESETが活性状態の時に第
一インバータ7の入力を基準ターミナル1に接続して第
一インバータ7の入力を特定の論理状態にする第一のス
イッチ14と、リセット信号が活性状態の時に第一イン
バータ7の入力が特定の論理状態と逆の状態の書き込み
信号を受けることができないようにする第二スイッチ1
3とを備えるように構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はリセット制御可能な双安
定フリップフロップ回路に関し、特に本発明はCMOS
(Complementary Metal-Oxide Semiconductor )技術に
よって作られた遅延フリップフロップ回路(以下、この
遅延フリップフロップ回路をDフリップフロップ回路と
称することとする。)に適用される。
【0002】
【従来の技術】このようなDフリップフロップ回路は、
通常その間にオフセットを有するクロック信号によって
設定される主(マスタ)ステージと従(スレーブ)ステ
ージとを含んでいる。各ステージは平行に接続された二
個の論理ゲートを含む記憶セルで構成され、これらの二
個のゲートの一方を他方に対して帰還(フィードバッ
ク)接続することにより記憶機能を実現している。漏れ
電流が生じないようにするため及び記憶した情報を安定
させるため、フィードバック接続論理ゲートは抵抗性チ
ャンネルMOSトランジスタ、すなわち比較的長いチャ
ンネルと比較的長いゲートを有するMOSトランジスタ
で作られる。これらの抵抗性チャンネルトランジスタは
集積回路において大きな面積を占めるため、所定の機能
を小さな回路で実現するにはその個数を低減することが
一般的には必要である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】Dフリップフロップ回
路をリセットするには、同一の制御信号を二個のステー
ジに同時に働かせなければならない。従来の回路におい
ては、マスタステージは反転ゲート(インバータ)に対
してフィードバック接続された一個のNANDゲートを
有し、このマスタゲートをリセットするにはこのNAN
Dゲートの入力の一つに論理状態「0」の活性リセット
制御信号を入力させる。このNANDゲートを構成する
には、四個の抵抗性チャンネルMOSトランジスタが必
要であり、そのため集積回路の面積という点でこの回路
は相対的に大きくなる。また、反転ゲートの入力におけ
る書き込みの競合を避けるためには、このNANDゲー
トに更に他の論理要素を付加することも必要である。
【0004】本発明は上記問題点に鑑みてなされたもの
であり、専有面積の小さな双安定フリップフロップ回
路、特に遅延型フリップフロップ回路の実現を目的と
し、更にそれによりこの形式のフリップフロップ回路を
有する集積回路の配置密度を向上させることを目的とす
る。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的は、本発明の双
安定フリップフロップ回路によって達成される。本発明
の双安定フリップフロップ回路は、少なくとも一個の入
力ターミナルと、一個の出力ターミナルと、一個のリセ
ット制御ターミナルと、一個の記憶セルとを備えてい
る。上記の記憶セルは第一インバータと第二インバータ
とを備えており、第一インバータの入力端は上記の入力
ターミナルに供給される入力信号に対応した書き込み信
号を受ける。第二インバータの入力は第一インバータの
出力に接続され、第二インバータの出力は第一インバー
タの入力に接続される。双安定フリップフロップ回路
は、第一のスイッチと第二のスイッチとを有する。第一
のスイッチは、リセット信号によって制御され、上記の
第一インバータの入力をこのフリップフロップ回路の基
準ターミナルに選択的に接続してリセット信号が活性状
態の時に上記第一インバータの入力を特定の論理状態に
する。第二のスイッチは、リセット信号によって制御さ
れ、リセット信号が活性状態の時に上記第一インバータ
の入力が上記の特定の論理状態と逆の状態の書き込み信
号を受けることができないようにする。
【0006】
【作用】上記のように、記憶セル内のフィードバック論
理ゲートは、二個の抵抗性チャンネルトランジスタで構
成できるインバータである。従って、このフリップフロ
ップ回路は従来のフリップフロップ回路に比べて表面積
が小さい。リセット動作は二個のスイッチによって実行
され、第一のスイッチは記憶セルのリセットを行わせる
が、第二のスイッチは第一のインバータの入力における
信号の競合を防止する。
【0007】
【実施例】以下、図面を参照しながら本発明の実施例を
説明することにより、本発明の特徴と利点を示す。但
し、本発明はこの実施例に限られるものではない。図1
は本発明に基づいて作られたリセット制御可能な遅延フ
リップフロップ(Dフリップフロップ)回路を示す図で
ある。
【0008】このフリップフロップ回路の入力と出力は
次の通りである。基準ターミナル1には、論理状態
「1」を表す回路の正電源電圧VDDが入力される。基
準ターミナル2には、論理状態「0」を表すアース電圧
VSSが入力される。
【0009】入力ターミナル3には、フリップフロップ
回路の二値入力信号Dが入力される。出力ターミナル4
は、フリップフロップ回路の二値出力信号Qを出力す
る。リセット制御ターミナル5には、活性状態において
活性状態になる二値リセット信号NRESETが入力さ
れる。
【0010】主(マスタ)クロックターミナル10a、
10bには、それぞれマスタクロック信号HMとこのマ
スタクロック信号の論理的に逆の信号NHMが入力され
る。従(スレーブ)クロックターミナル16a、16b
には、それぞれスレーブクロック信号HEとこのスレー
ブクロック信号の論理的に逆の信号NHEが入力され
る。
【0011】このフリップフロップ回路は、主(マス
タ)ステージ6と従(スレーブ)ステージ17を有し、
それぞれが記憶セルを構成する。マスタステージ6の入
力は、ゲート9とインタラプタ(遮断器)10を介して
フリップフロップ回路の入力ターミナル3に接続され
る。マスタステージ6の出力は、インタラプタ16を介
してスレーブステージ17の入力に接続される。スレー
ブステージ17の出力は、インバータ20を介してフリ
ップフロップ回路の出力ターミナル4に接続される。
【0012】ゲート9は、その構造の詳細については後
述するが、入力信号Dの論理的に逆な信号である書き込
み信号を生成し、ある特定の条件下ではこの書き込み信
号をインタラプタ10に送る。インタラプタ10は、通
常ゲートにマスタクロック信号HMが入力されるnチャ
ンネルMOSトランジスタとゲートに反転したマスタク
ロック信号NHMが入力されるpチャンネルMOSトラ
ンジスタで構成され、これら二個のトランジスタはそれ
らのチャンネルが平行になるように接続される。従っ
て、インタラプタ10は、マスタクロック信号HMが
「0」の時には開き、マスタクロック信号HMが「1」
の時には閉じる。
【0013】マスタステージを形成する記憶セル6は、
入力がインタラプタ10に接続される第一インバータ7
と、入力が第一インバータ7の出力に接続され出力が第
一インバータ7の入力に接続される第二インバータ8を
有する。既に説明したように、フィードバック接続され
た第二インバータ8は、記憶セル6内の漏れ電流をなく
すために、通常抵抗性チャンネルMOSトランジスタで
構成される。
【0014】第一インバータ7の出力は、インタラプタ
10と同一の形式のインタラプタ16に接続される。イ
ンタラプタ16は、ゲートにスレーブクロック信号HE
が入力されるnチャンネルMOSトランジスタと、ゲー
トに反転したスレーブクロック信号NHEが入力される
pチャンネルMOSトランジスタとを有する。従って、
インタラプタ16は、スレーブクロック信号HEが
「0」の時に開き、スレーブクロック信号HEが「1」
の時に閉じる。
【0015】スレーブステージ17は、通常NANDゲ
ート18とインバータ19を有する記憶セルで構成され
る。NANDゲート18は、第一の入力がインタラプタ
16に接続され、第二の入力がリセット制御ターミナル
5に接続され、出力がインバータ20を介してフリップ
フロップ回路の出力ターミナル5に接続されるNAND
ゲート18に接続される。インバータ19は、入力がN
ANDゲート18の出力に接続され、出力がNANDゲ
ート18の第一の入力に接続されるというように、NA
NDゲート18に対してフィードバック接続される。イ
ンバータ19は、スレーブステージ17における漏れ電
流を防ぐため、抵抗性チャンネルMOSトランジスタで
構成される。
【0016】マスタクロック信号HMとスレーブクロッ
ク信号HEは、類似の周波数を有する信号で、二個のス
テージ6、17にマスタ/スレーブ動作を行わせるため
に二個の信号の間には時間的なオフセットがある。そし
て、フリップフロップ回路の通過の問題を避けるために
同時に「高」状態にはならない。典型的には、マスタク
ロック信号HMを0.5のデューティサイクルを有する
信号とし、スレーブクロック信号HEをマスタクロック
信号HMの論理的に逆の信号とすることで実現できる。
【0017】スレーブステージ17のリセットは、NA
NDゲート18の第二入力によって行える。リセット信
号が活性(アクティヴ)状態(NRESET=0)の
時、スレーブステージ17の出力は「1」状態になり、
フリップフロップ回路の出力信号は「0」状態にリセッ
トされる。スレーブステージ17のこの状態は、リセッ
ト信号がなくなり且つインタラプタ16を介してNAN
Dゲート18の第一の入力に「1」状態の信号が入力さ
れるまで維持される。
【0018】マスタステージ6を同時にリセットするた
めに、図示した例では、フリップフロップ回路はゲート
がリセット制御ターミナル5に接続されるPチャンネル
MOS電界効果トランジスタ(FET)14で構成され
る第一のスイッチ14を備える。トランジスタ14のチ
ャンネルは、電圧VDDの基準ターミナル1とマスタス
テージ6の第一インバータ7の入力との間に接続され
る。二値リセット信号NRESETが活性状態の時、ス
イッチ14は閉じ、インバータ7の入力は「1」状態に
される。これにより、マスタステージ6の出力は「0」
状態になる。
【0019】フリップフロップ回路は、更に第二スイッ
チ13を有する。この第二スイッチ13は、リセット信
号NRESETが活性状態の時に、第一インバータ7の
入力が第一スイッチ14によって設定された状態と逆の
論理状態「0」の書き込み信号が第一インバータ7の入
力に入力されるのを防止する。図示の例では、第二スイ
ッチ13は、論理ゲート9を有するnチャンネルMOS
電界効果トランジスタであり、このトランジスタのゲー
トはリセット制御ターミナル5に接続される。
【0020】論理ゲート9は、第二スイッチ13とは別
に、それぞれのゲートがフリップフロップ回路の入力タ
ーミナル3に接続された異なる極性の二個のMOS電界
効果トランジスタ11、12を有している。pチャンネ
ルMOSトランジスタ11のソースは電圧VDDの基準
ターミナル1に接続され、ドレインはインタラプタ10
に接続される。nチャンネルMOSトランジスタ12の
チャンネルは、電圧VSSの基準ターミナル2とインタ
ラプタ10の間の第二スイッチを形成するトランジスタ
13のチャンネルに直列に接続される。図示の例におい
ては、nチャンネルトランジスタ12のドレインは基準
ターミナル2に接続され、ソースはトランジスタスイッ
チ13のドレインに接続され、トランジスタスイッチ1
3のソースはインタラプタ10に接続される。この回路
は、スイッチ13を除けば、CMOSインバータの従来
の構成を有することがわかる。書き込み信号はインタラ
プタ10が閉じている時にマスタステージ6の入力を設
定し、書き込み信号は入力信号Dの反転信号になる。し
かしながら、リセット命令が出ている間(NRESET
=0)はスイッチ13は開いており、そのためインバー
タ7の入力におけるデータと競合し、基準ターミナル
1、2の間で短絡状態を起こすような「0」状態の書き
込み信号は送信されない。
【0021】図示の遅延フリップフロップ回路は、面積
の大きな基本要素である抵抗性チャンネルトランジスタ
の個数が最小であるため、最良の密度を有する。この好
ましい例においては、リセット制御が行えないフリップ
フロップ回路に抵抗性チャンネル型でない二個のトラン
ジスタ(スイッチ13と14)を付加するだけでリセッ
ト制御が実現できる。
【0022】ここでは本発明の好ましい実施例を説明し
たが、本発明はこの実施例に限られるものではなく、本
発明の範囲から逸脱しない範囲で異なった変形が可能で
あるのはいうなでもない。例えば、単一のステージを有
するフリップフロップ回路に本発明を適用することも可
能であり、マスタモードとスレーブモードで動作する二
ステージのDフリップフロップ回路に限られない。更
に、本発明は図に示した論理要素の特定の形態に限られ
ないことは明らかである。例えば、記憶セル6の入力を
設定する書き込み信号の変形としては、それを反転して
いない入力信号Dとすることも可能であり、その場合第
二スイッチ13は、リセット制御信号が活性状態の時
に、単にこの信号Dの送信を行わないようにするだけで
よい。
【0023】
【発明の効果】以上説明したように、本発明により、双
安定フリップフロップ回路を小さな面積で実現すること
が可能になり、このようなフリップフロップ回路を有す
る集積回路を小型化することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のフリップフロップ回路の実施例を示す
図である。
【符号の説明】 1…基準ターミナル(VDD) 2…基準ターミナル(VSS) 3…入力ターミナル 4…出力ターミナル 5…リセット入力ターミナル 6…記憶セル 7…第一インバータ 8…第二インバータ 13…第二スイッチ 14…第一スイッチ

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも一個の入力ターミナル(3)
    と、一個の出力ターミナル(4)と、一個のリセット制
    御ターミナル(5)と、一個の記憶セル(6)とを備
    え、前記記憶セル(6)は、前記入力ターミナル(3)
    に供給される入力信号(D)に対応した書き込み信号を
    受ける入力端と出力端とを有する第一インバータ(7)
    と、入力が前記第一インバータ(7)の出力に接続され
    出力が前記第一インバータ(7)の入力に接続される第
    二インバータ(8)とを備える双安定フリップフロップ
    回路であって、 リセット信号(NRESET)によって制御され、前記
    第一インバータ(7)の入力を当該フリップフロップ回
    路の基準ターミナル(1)に選択的に接続し、前記リセ
    ット信号(NRESET)が活性状態の時に前記第一イ
    ンバータ(7)の入力を特定の論理状態にする第一のス
    イッチ(14)と、 前記リセット信号(NRESET)によって制御され、
    前記リセット信号(NRESET)が活性状態の時に前
    記第一インバータ(7)の入力が前記特定の論理状態と
    逆の状態の書き込み信号を受けることができないように
    する第二スイッチ(13)とを備えることを特徴とする
    リセット制御可能な双安定フリップフロップ回路。
  2. 【請求項2】 前記第一のスイッチ(14)は、ゲート
    が前記リセット制御ターミナル(5)に接続され、チャ
    ンネルが前記第一インバータ(7)の入力と前記基準タ
    ーミナル(1)との間に接続される電界効果トランジス
    タであることを特徴とする請求項1に記載のリセット制
    御可能な双安定フリップフロップ回路。
  3. 【請求項3】 前記入力ターミナル(3)は前記入力信
    号(D)を反転することにより前記書き込み信号を生成
    するように構成された異なる極性の二個の電界効果トラ
    ンジスタ(11、12)のゲートに接続され、 前記第二のスイッチ(13)は、ゲートが前記リセット
    制御ターミナル(5)に接続され、チャンネルが前記異
    なる極性の二個の電界効果トランジスタ(11、12)
    の一個のチャンネルに直列に接続される電界効果トラン
    ジスタであり、前記リセット信号(NRESET)が活
    性状態である時に前記書き込み信号の送信が行われない
    ことを特徴とする請求項1又は2に記載のリセット制御
    可能な双安定フリップフロップ回路。
  4. 【請求項4】 前記第一のスイッチ(14)及び前記第
    二のスイッチ(13)は、それぞれのゲートが前記リセ
    ット制御ターミナル(5)に接続された異なる極性の二
    個の電界効果トランジスタであることを特徴とする請求
    項1乃至3のいずれか1項に記載のリセット制御可能な
    双安定フリップフロップ回路。
  5. 【請求項5】 請求項1乃至4のいずれか1項に記載の
    リセット制御可能な双安定フリップフロップ回路を備え
    る遅延フリップフロップ回路であって、 前記記憶セル(6)が遅延フリップフロップ回路の主ス
    テージを形成し、 前記第一インバータ(7)の入力は第一クロック信号
    (HM、NHM)により制御される第一インタラプタ
    (10)に接続され、 前記遅延フリップフロップ回路は更に従ステージ(1
    7)を備え、 該従ステージ(17)は、 第一入力が前記第一クロック信号(HM、NHM)に対
    して時間的なオフセット量を有する第二クロック信号
    (HE、NHE)によって制御される第二インタラプタ
    (16)を介して前記第一インバータ(7)の出力に接
    続され、第二入力が前記リセット制御ターミナル(5)
    に接続され、出力が当該遅延フリップフロップ回路の出
    力ターミナル(4)に接続されるNANDゲート(1
    8)と、 入力が前記NANDゲート(18)の出力に接続され、
    出力が前記NANDゲート(18)の入力に接続される
    インバータ(19)とを備えることを特徴とする遅延フ
    リップフロップ回路。
JP5134270A 1992-06-05 1993-06-04 リセット制御可能な双安定フリップフロップ回路 Pending JPH06140882A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR9206871A FR2692072A1 (fr) 1992-06-05 1992-06-05 Bascule bistable à commande de réinitialisation.
FR9206871 1992-06-05

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JPH06140882A true JPH06140882A (ja) 1994-05-20

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ID=9430499

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5134270A Pending JPH06140882A (ja) 1992-06-05 1993-06-04 リセット制御可能な双安定フリップフロップ回路

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US (1) US5406134A (ja)
EP (1) EP0573326B1 (ja)
JP (1) JPH06140882A (ja)
DE (1) DE69301062T2 (ja)
FR (1) FR2692072A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100490294B1 (ko) * 1998-09-28 2005-08-01 주식회사 하이닉스반도체 반도체 소자의 리셋 회로
WO2015030150A1 (en) * 2013-08-30 2015-03-05 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Storage circuit and semiconductor device

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5684422A (en) * 1995-01-25 1997-11-04 Advanced Micro Devices, Inc. Pipelined microprocessor including a high speed single-clock latch circuit
EP0752174A1 (en) * 1995-01-25 1997-01-08 Advanced Micro Devices, Inc. A high-speed latch circuit including multiple transmission gates and a pipelined microprocessor employing the same
JP3526100B2 (ja) * 1995-03-06 2004-05-10 株式会社ルネサステクノロジ モード設定回路
WO1996027945A1 (en) * 1995-03-08 1996-09-12 Advanced Micro Devices, Inc. Conditional latching mechanism and pipelined microprocessor employing the same
DE19654929C2 (de) * 1995-09-05 2002-08-08 Mitsubishi Electric Corp Speicherschaltung
US5767718A (en) * 1996-09-04 1998-06-16 Etron Technology, Inc. High speed conditional synchronous one shot circuit
US6064246A (en) * 1996-10-15 2000-05-16 Kabushiki Kaisha Toshiba Logic circuit employing flip-flop circuit
US6031403A (en) * 1996-11-13 2000-02-29 International Business Machines Corporation Pull-up and pull-down circuits
US6661121B2 (en) 2001-09-19 2003-12-09 International Business Machines Corporation Pulse generator with controlled output characteristics
US6919875B2 (en) * 2001-10-02 2005-07-19 Rohm Co., Ltd. Flip-flop circuit, shift register and scan driving circuit for display device
US6700425B1 (en) 2001-10-30 2004-03-02 Integrated Device Technology, Inc. Multi-phase clock generators that utilize differential signals to achieve reduced setup and hold times
US6573775B2 (en) 2001-10-30 2003-06-03 Integrated Device Technology, Inc. Integrated circuit flip-flops that utilize master and slave latched sense amplifiers
FR2832567B1 (fr) * 2001-11-19 2004-04-02 Atmel Nantes Sa Circuit de generation d'impulsions, et composant micro-electronique correspondant
US7315191B2 (en) * 2005-06-30 2008-01-01 Texas Instruments Incorporated Digital storage element architecture comprising dual scan clocks and reset functionality
US8692592B2 (en) * 2005-06-30 2014-04-08 Texas Instruments Incorporated Digital storage element architecture comprising integrated 2-to-1 multiplexer functionality
US7596732B2 (en) 2005-06-30 2009-09-29 Texas Instruments Incorporated Digital storage element architecture comprising dual scan clocks and gated scan output
KR100727406B1 (ko) * 2005-09-27 2007-06-13 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치의 출력회로 및 데이터 출력방법

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3930169A (en) * 1973-09-27 1975-12-30 Motorola Inc Cmos odd multiple repetition rate divider circuit
US4181862A (en) * 1976-09-27 1980-01-01 Rca Corporation High speed resettable dynamic counter
JPS60241320A (ja) * 1984-05-16 1985-11-30 Nec Corp リセツト回路
JPS61101113A (ja) * 1984-10-24 1986-05-20 Toshiba Corp フリツプフロツプ回路
IT1201860B (it) * 1986-12-10 1989-02-02 Sgs Microelettronica Spa Circuito logico cmos
EP0273082B1 (en) * 1986-12-30 1992-03-18 International Business Machines Corporation A new latch cell family in cmos technology gate array
US4785200A (en) * 1987-08-20 1988-11-15 Motorola, Inc. Self correcting single event upset (SEU) hardened CMOS register
US4806786A (en) * 1987-11-02 1989-02-21 Motorola, Inc. Edge set/reset latch circuit having low device count
JP2570436B2 (ja) * 1989-02-21 1997-01-08 三菱電機株式会社 Srラッチ回路
US4974241A (en) * 1989-03-31 1990-11-27 Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. Counter employing exclusive NOR gate and latches in combination
US5140180A (en) * 1990-08-24 1992-08-18 Ncr Corporation High speed cmos flip-flop employing clocked tristate inverters
US5175753A (en) * 1991-04-01 1992-12-29 Advanced Micro Devices, Inc. Counter cell including a latch circuit, control circuit and a pull-up circuit

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100490294B1 (ko) * 1998-09-28 2005-08-01 주식회사 하이닉스반도체 반도체 소자의 리셋 회로
WO2015030150A1 (en) * 2013-08-30 2015-03-05 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Storage circuit and semiconductor device
JP2015065650A (ja) * 2013-08-30 2015-04-09 株式会社半導体エネルギー研究所 記憶回路、および半導体装置
US9438206B2 (en) 2013-08-30 2016-09-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Storage circuit and semiconductor device
US10164612B2 (en) 2013-08-30 2018-12-25 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Storage circuit and semiconductor device

Also Published As

Publication number Publication date
EP0573326A1 (fr) 1993-12-08
US5406134A (en) 1995-04-11
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DE69301062D1 (de) 1996-02-01
FR2692072A1 (fr) 1993-12-10
EP0573326B1 (fr) 1995-12-20

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