JPH0614090B2 - 点検方式 - Google Patents
点検方式Info
- Publication number
- JPH0614090B2 JPH0614090B2 JP59139671A JP13967184A JPH0614090B2 JP H0614090 B2 JPH0614090 B2 JP H0614090B2 JP 59139671 A JP59139671 A JP 59139671A JP 13967184 A JP13967184 A JP 13967184A JP H0614090 B2 JPH0614090 B2 JP H0614090B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test signal
- signal
- waveform
- transmission line
- waveform processing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、送電線の故障点を標定するシステムの点検方
式の改良に関する。
式の改良に関する。
従来、送電線の故障点を標定するシステムとして、例え
ば第1図に示す如く、送電線1の事故サージ電圧波形を
コンデンサ分圧回路2で分圧して駆動回路3を駆動し、
これにより発光素子4を発光させてその出力光を光ファ
イバ5を介して伝送し、上記出力光を受光素子6で光電
変換したのち増幅回路7で増幅して波形処理装置8に導
き、この波形処理装置8で所定の波形解析を行なってそ
の結果から送電線1の故障点標定を行なうようにしたも
のがある。そして、この種のシステムでは、従来より例
えば、波形処理装置8から定期的に試験信号を発して増
幅回路7に供給し、この増幅回路7を介して波形処理装
置8に入力される試験信号の波形を解析して異常の有無
を検出することにより、増幅回路7の動作点検を行なっ
ている。
ば第1図に示す如く、送電線1の事故サージ電圧波形を
コンデンサ分圧回路2で分圧して駆動回路3を駆動し、
これにより発光素子4を発光させてその出力光を光ファ
イバ5を介して伝送し、上記出力光を受光素子6で光電
変換したのち増幅回路7で増幅して波形処理装置8に導
き、この波形処理装置8で所定の波形解析を行なってそ
の結果から送電線1の故障点標定を行なうようにしたも
のがある。そして、この種のシステムでは、従来より例
えば、波形処理装置8から定期的に試験信号を発して増
幅回路7に供給し、この増幅回路7を介して波形処理装
置8に入力される試験信号の波形を解析して異常の有無
を検出することにより、増幅回路7の動作点検を行なっ
ている。
ところが、このような従来の点検方式にあっては、確か
に増幅回路7以降の回路の動作点検は行なえるが、事故
信号波形を送信する側の駆動回路3や光伝送系の動作状
態を点検することができず、点検個所の盲点が多く点検
性能が低かった。
に増幅回路7以降の回路の動作点検は行なえるが、事故
信号波形を送信する側の駆動回路3や光伝送系の動作状
態を点検することができず、点検個所の盲点が多く点検
性能が低かった。
また、光伝送系の発光素子4から出力される信号の直流
バイアス成分を検出することにより点検を行なう方式が
提唱されているが、この方式にあっても、依然として駆
動回路3のダイナミックな点検を行なうことができなか
った。
バイアス成分を検出することにより点検を行なう方式が
提唱されているが、この方式にあっても、依然として駆
動回路3のダイナミックな点検を行なうことができなか
った。
本発明は、電力線の故障点標価システム各部の動作状態
をもれなくダイナミックに点検し得、点検性能の高い点
検方式を提供することを目的とする。
をもれなくダイナミックに点検し得、点検性能の高い点
検方式を提供することを目的とする。
本発明は、上記目的を達成するために、例えば光ファイ
バなどの試験信号伝送路と、例えば波形処理装置などの
波形処理手段が出力する信号を前記試験信号伝送路へと
送信する例えば駆動回路および発光素子からなる試験信
号送信手段と、前記試験信号伝送路を介して到来した信
号を受信し、例えば駆動回路および発光素子からなる検
出信号送信手段に入力する例えば受光素子と増幅器から
なる試験信号受信手段とを設け、前記波形処理手段から
所定の試験信号を前記試験信号送信手段へと出力して当
該試験信号を前記試験信号送信手段、前記試験信号伝送
路および前記試験信号受信手段を介して前記検出信号送
信手段へと供給し、これにより前記波形処理手段側へと
帰還され、前記検出信号受信手段により受信される信号
に基づいて前記波形処理手段が前記システムの点検を行
うようにしたものである。
バなどの試験信号伝送路と、例えば波形処理装置などの
波形処理手段が出力する信号を前記試験信号伝送路へと
送信する例えば駆動回路および発光素子からなる試験信
号送信手段と、前記試験信号伝送路を介して到来した信
号を受信し、例えば駆動回路および発光素子からなる検
出信号送信手段に入力する例えば受光素子と増幅器から
なる試験信号受信手段とを設け、前記波形処理手段から
所定の試験信号を前記試験信号送信手段へと出力して当
該試験信号を前記試験信号送信手段、前記試験信号伝送
路および前記試験信号受信手段を介して前記検出信号送
信手段へと供給し、これにより前記波形処理手段側へと
帰還され、前記検出信号受信手段により受信される信号
に基づいて前記波形処理手段が前記システムの点検を行
うようにしたものである。
第2図は、本発明の一実施例における点検方式を適用し
た故障点標定システムの概略構成図で、前記第1図と同
一部分には同一符号を付してある。
た故障点標定システムの概略構成図で、前記第1図と同
一部分には同一符号を付してある。
同図において、波形処理装置8と事故サージ電圧波形を
検出するコンデンサ分圧回路2との間には、試験信号伝
送系11が設けてある。この試験信号伝送系11は、波
形処理装置8から発生される試験信号により駆動回路1
2を駆動して発光素子13を発光させ、この発光信号、
つまり試験信号を光ファイバ14を介して伝送して受光
素子15で受光し、その受光信号を増幅器16で増幅し
てその出力を再生試験信号として、事故サージ電圧波形
伝送用の駆動回路17の入力端に供給するように構成し
たものである。
検出するコンデンサ分圧回路2との間には、試験信号伝
送系11が設けてある。この試験信号伝送系11は、波
形処理装置8から発生される試験信号により駆動回路1
2を駆動して発光素子13を発光させ、この発光信号、
つまり試験信号を光ファイバ14を介して伝送して受光
素子15で受光し、その受光信号を増幅器16で増幅し
てその出力を再生試験信号として、事故サージ電圧波形
伝送用の駆動回路17の入力端に供給するように構成し
たものである。
このような構成であるから、波形処理装置8で試験信号
を発すると、この試験信号は試験信号伝送路10を介し
て事故サージ電圧波形検出側の駆動回路3の入力端に供
給される。そして、上記試験信号は駆動回路3および発
光素子4により光信号に変換されたのち、光ファイバ5
を介して事故サージ電圧波形の場合と同様に伝送されて
受光素子6および増幅回路7により光電変換され、波形
処理装置8に供給される。つまり、試験信号は事故サー
ジ電圧波形を伝送するための全回路をもれなく通過する
ことになる。
を発すると、この試験信号は試験信号伝送路10を介し
て事故サージ電圧波形検出側の駆動回路3の入力端に供
給される。そして、上記試験信号は駆動回路3および発
光素子4により光信号に変換されたのち、光ファイバ5
を介して事故サージ電圧波形の場合と同様に伝送されて
受光素子6および増幅回路7により光電変換され、波形
処理装置8に供給される。つまり、試験信号は事故サー
ジ電圧波形を伝送するための全回路をもれなく通過する
ことになる。
したがって、波形処理装置8で帰還した試験信号の波形
を解析し、その異常の有無を検出することにより、上記
事故サージ電圧波形を伝送するための全回路の動作状態
をチェックすることができる。また、本実施例では、試
験信号伝送系11を光ファイバ14を用いた光伝送路と
しているので、送電線1側と波形処理装置8側との間の
電気的絶縁状態を確実に保持できる。
を解析し、その異常の有無を検出することにより、上記
事故サージ電圧波形を伝送するための全回路の動作状態
をチェックすることができる。また、本実施例では、試
験信号伝送系11を光ファイバ14を用いた光伝送路と
しているので、送電線1側と波形処理装置8側との間の
電気的絶縁状態を確実に保持できる。
なお、本発明は上記実施例に限定されるものではない。
例えば、送電線1が第3図に示す如く三相線路1a、1
b、1cの場合には、波形処理装置8から発生される試
験信号を、駆動回路12、発光素子13および1本の光
ファイバ14を介して事故サージ電圧波形検出側に送
り、ここで光カプラ18により3方向に分配してそれぞ
れ受光素子15a、15b、15cに導き、その受光出
力を増幅器16a、16b、16cを介してそれぞれ駆
動回路3a、3b、3cに供給するように構成すればよ
い。またこの場合、試験信号は時分割で各駆動回路3
a、3b、3cに供給することによって、3系統とも各
別に確実に点検できる。以上の構成であれば、試験信号
の伝送路を1系統だけ設ければよいので3系統設ける場
合に比べて構成を簡単にできる利点がある。また、試験
信号伝送系は、場合によっては光ファイバを用いずに電
気伝送路を用いてもよく、その他伝送路の構成について
は本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施で
きる。
例えば、送電線1が第3図に示す如く三相線路1a、1
b、1cの場合には、波形処理装置8から発生される試
験信号を、駆動回路12、発光素子13および1本の光
ファイバ14を介して事故サージ電圧波形検出側に送
り、ここで光カプラ18により3方向に分配してそれぞ
れ受光素子15a、15b、15cに導き、その受光出
力を増幅器16a、16b、16cを介してそれぞれ駆
動回路3a、3b、3cに供給するように構成すればよ
い。またこの場合、試験信号は時分割で各駆動回路3
a、3b、3cに供給することによって、3系統とも各
別に確実に点検できる。以上の構成であれば、試験信号
の伝送路を1系統だけ設ければよいので3系統設ける場
合に比べて構成を簡単にできる利点がある。また、試験
信号伝送系は、場合によっては光ファイバを用いずに電
気伝送路を用いてもよく、その他伝送路の構成について
は本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施で
きる。
以上詳述したように本発明は、試験信号伝送路と、波形
処理手段が出力する信号を前記試験信号伝送路へと送信
する試験信号送信手段と、前記試験信号伝送路を介して
到来した信号を受信し、検出信号送信手段に入力する試
験信号受信手段とを設け、前記波形処理手段から所定の
試験信号を前記試験信号送信手段へと出力して当該試験
信号を前記試験信号送信手段、前記試験信号伝送路およ
び前記試験信号受信手段を介して前記検出信号送信手段
へと供給し、これにより前記波形処理手段側へと帰還さ
れ、前記検出信号受信手段により受信される信号に基づ
いて前記波形処理手段が前記システムの点検を行うよう
にしたものである。
処理手段が出力する信号を前記試験信号伝送路へと送信
する試験信号送信手段と、前記試験信号伝送路を介して
到来した信号を受信し、検出信号送信手段に入力する試
験信号受信手段とを設け、前記波形処理手段から所定の
試験信号を前記試験信号送信手段へと出力して当該試験
信号を前記試験信号送信手段、前記試験信号伝送路およ
び前記試験信号受信手段を介して前記検出信号送信手段
へと供給し、これにより前記波形処理手段側へと帰還さ
れ、前記検出信号受信手段により受信される信号に基づ
いて前記波形処理手段が前記システムの点検を行うよう
にしたものである。
したがって、本発明によれば、電力線の故障点標定シス
テム各部の動作状態をもれなくダイナミックに点検し
得、点検性能の高い点検方式を提供することができる。
テム各部の動作状態をもれなくダイナミックに点検し
得、点検性能の高い点検方式を提供することができる。
第1図は従来における点検方式を適用した故障点標価シ
ステムの概略構成図、第2図は本発明の一実施例におけ
る点検方式を適用した故障点標価システムの概略構成
図、第3図は本発明の他の実施例における点検方式を適
用したシステムの概略構成図である。 1……送電線、2……コンデンサ分圧回路、3,3a,
3b,3c,12……駆動回路、4,4a,4b,4
c,13……発光素子、5,14……光ファイバ、6,
15,15a,15b,15c……受光素子、7,1
6,16a,16b,16c……増幅回路、11……試
験信号伝送系、18……光カプラ。
ステムの概略構成図、第2図は本発明の一実施例におけ
る点検方式を適用した故障点標価システムの概略構成
図、第3図は本発明の他の実施例における点検方式を適
用したシステムの概略構成図である。 1……送電線、2……コンデンサ分圧回路、3,3a,
3b,3c,12……駆動回路、4,4a,4b,4
c,13……発光素子、5,14……光ファイバ、6,
15,15a,15b,15c……受光素子、7,1
6,16a,16b,16c……増幅回路、11……試
験信号伝送系、18……光カプラ。
Claims (1)
- 【請求項1】電力線の事故信号波形を検出部で検出して
得られた検出信号を検出信号送信手段から光伝送路を介
して送信するとともに、前記光伝送路を介して到来した
前記検出信号を検出信号受信手段により受信して波形処
理手段に入力し、この波形処理手段で前記検出信号を波
形処理して故障点を標定するシステムにおいて、 試験信号伝送路と、 前記波形処理手段が出力する信号を前記試験信号伝送路
へと送信する試験信号送信手段と、 前記試験信号伝送路を介して到来した信号を受信し、前
記検出信号送信手段に入力する試験信号受信手段とを設
け、 前記波形処理手段から所定の試験信号を前記試験信号送
信手段へと出力して当該試験信号を前記試験信号送信手
段、前記試験信号伝送路および前記試験信号受信手段を
介して前記検出信号送信手段へと入力するとともに、前
記検出信号受信手段により受信される信号に基づいて前
記波形処理手段が前記システムの点検を行うことを特徴
とする点検方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59139671A JPH0614090B2 (ja) | 1984-07-05 | 1984-07-05 | 点検方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59139671A JPH0614090B2 (ja) | 1984-07-05 | 1984-07-05 | 点検方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6117964A JPS6117964A (ja) | 1986-01-25 |
| JPH0614090B2 true JPH0614090B2 (ja) | 1994-02-23 |
Family
ID=15250706
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59139671A Expired - Lifetime JPH0614090B2 (ja) | 1984-07-05 | 1984-07-05 | 点検方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0614090B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5413723B2 (ja) * | 2009-09-07 | 2014-02-12 | 学校法人東海大学 | 防波堤 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5033230U (ja) * | 1973-07-20 | 1975-04-10 | ||
| JPS57162535A (en) * | 1981-03-31 | 1982-10-06 | Fujitsu Ltd | Detecting system of cable fault |
-
1984
- 1984-07-05 JP JP59139671A patent/JPH0614090B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6117964A (ja) | 1986-01-25 |
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