JPH06142093A - Ｘ線断層撮影装置 - Google Patents
Ｘ線断層撮影装置Info
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- JPH06142093A JPH06142093A JP4298586A JP29858692A JPH06142093A JP H06142093 A JPH06142093 A JP H06142093A JP 4298586 A JP4298586 A JP 4298586A JP 29858692 A JP29858692 A JP 29858692A JP H06142093 A JPH06142093 A JP H06142093A
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】 Ｘ線管と受像部が幾何学的な相対位置からず
れていても、相似運動を正確に行ったとした場合と同様
の断層像を得ることのできるＸ線断層像の提供。 【構成】 駆動機構３は被検体の近傍のある１点を中心
にＸ線発生源１とＸ線検出器２を幾何学的に相似関係を
保って反対方向に移動させる。位置検出器４はＸ線発生
源１とＸ線検出器２の移動位置を検出する。記憶装置５
はＸ線検出器２から出力される画像情報を位置検出器４
の出力信号と関連付けて格納する。小物体６は被検体９
に対し相対的に動かないように固定されＸ線透過領域に
置かれた例えば鉛製の小円板である。画像処理手段８は
記憶装置５に格納した画像情報の中から小物体６の投影
像を抽出しその位置を求める。演算処理手段７で小物体
６の本来有るべき位置と画像処理手段８で求めた実際の
位置との差を求め、各画像の透過像の位置を補正して重
ね合わせる。
れていても、相似運動を正確に行ったとした場合と同様
の断層像を得ることのできるＸ線断層像の提供。 【構成】 駆動機構３は被検体の近傍のある１点を中心
にＸ線発生源１とＸ線検出器２を幾何学的に相似関係を
保って反対方向に移動させる。位置検出器４はＸ線発生
源１とＸ線検出器２の移動位置を検出する。記憶装置５
はＸ線検出器２から出力される画像情報を位置検出器４
の出力信号と関連付けて格納する。小物体６は被検体９
に対し相対的に動かないように固定されＸ線透過領域に
置かれた例えば鉛製の小円板である。画像処理手段８は
記憶装置５に格納した画像情報の中から小物体６の投影
像を抽出しその位置を求める。演算処理手段７で小物体
６の本来有るべき位置と画像処理手段８で求めた実際の
位置との差を求め、各画像の透過像の位置を補正して重
ね合わせる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、Ｘ線断層装置に関し、
特に、Ｘ線断層装置による再構成画像の補正手段に関す
る。
特に、Ｘ線断層装置による再構成画像の補正手段に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来、Ｘ線断層装置はＸ線管とフィルム
を被検部のある一点（断層中心）を中心に相対的に運動
させながらＸ線撮影を行い、断層中心を含みフィルムと
平行な面だけをフィルムに抽出していたが、近年の画像
処理技術の向上により、この断層撮影にフィルムの代り
にイメージ増倍管（Image Intensifier ；以下、ＩＩと
記す）を用いるＴＶ断層（デジタル断層ともいう）が実
用化されている。
を被検部のある一点（断層中心）を中心に相対的に運動
させながらＸ線撮影を行い、断層中心を含みフィルムと
平行な面だけをフィルムに抽出していたが、近年の画像
処理技術の向上により、この断層撮影にフィルムの代り
にイメージ増倍管（Image Intensifier ；以下、ＩＩと
記す）を用いるＴＶ断層（デジタル断層ともいう）が実
用化されている。
【０００３】ＴＶ断層ではＸ線像をフィルムに写し込む
代りにＸ線像のＴＶ信号を順次メモリに記憶する。そし
て、撮影終了後に記憶したＸ線像を重ね合わせることに
より一枚の断層像を再構成するが、重ね合わせる位置を
ずらすことにより抽出する断面像を変えることができ
る。
代りにＸ線像のＴＶ信号を順次メモリに記憶する。そし
て、撮影終了後に記憶したＸ線像を重ね合わせることに
より一枚の断層像を再構成するが、重ね合わせる位置を
ずらすことにより抽出する断面像を変えることができ
る。
【０００４】従って、従来のフィルムを使うＸ線断層装
置では断面像を変える毎に断層撮影を行う必要があった
が、ＴＶ断層では１回の断層撮影を行えば、他の断層面
は画像処理操作だけで得ることができ、被検者のＸ線被
曝線量を低減できるメリットがある。
置では断面像を変える毎に断層撮影を行う必要があった
が、ＴＶ断層では１回の断層撮影を行えば、他の断層面
は画像処理操作だけで得ることができ、被検者のＸ線被
曝線量を低減できるメリットがある。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ＴＶ断
層だけでなく従来のフィルムを用いたＸ線断層撮影装置
にも共通な問題として、Ｘ線断層撮影ではＸ線管と受像
部（ＩＩやフィルム）を正確に相似運動させる必要があ
り、相似運動が正確でないと断層像の画質が著しく劣化
するという問題点があった。ところが、現実的には、断
層装置を構成する部品の弾性的なたわみや振動及び加工
誤差等に起因して、正確な相似運動を得ることは難しく
Ｘ線管と受像部が幾何学的な相対位置からずれてしまう
ので、断層像の解像度が相似運動を正確に行ったとした
場合に比較して、劣化してしまうという問題点があっ
た。また、断層像の解像度を向上させるためには、Ｘ線
管と受像部を正確に相対運動させるために、構成部品の
剛性を強め、高精度に部品を加工する必要があり、コス
トアップの要因となっていた。
層だけでなく従来のフィルムを用いたＸ線断層撮影装置
にも共通な問題として、Ｘ線断層撮影ではＸ線管と受像
部（ＩＩやフィルム）を正確に相似運動させる必要があ
り、相似運動が正確でないと断層像の画質が著しく劣化
するという問題点があった。ところが、現実的には、断
層装置を構成する部品の弾性的なたわみや振動及び加工
誤差等に起因して、正確な相似運動を得ることは難しく
Ｘ線管と受像部が幾何学的な相対位置からずれてしまう
ので、断層像の解像度が相似運動を正確に行ったとした
場合に比較して、劣化してしまうという問題点があっ
た。また、断層像の解像度を向上させるためには、Ｘ線
管と受像部を正確に相対運動させるために、構成部品の
剛性を強め、高精度に部品を加工する必要があり、コス
トアップの要因となっていた。
【０００６】本発明は上記問題点に鑑みて創案されたも
のであり、Ｘ線管と受像部が幾何学的な相対位置からず
れていても、相似運動を正確に行ったとした場合と同様
の断層像を得ることのできるＸ線断層像を提供すること
を目的とする。
のであり、Ｘ線管と受像部が幾何学的な相対位置からず
れていても、相似運動を正確に行ったとした場合と同様
の断層像を得ることのできるＸ線断層像を提供すること
を目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明のＸ線断層撮影装置は、Ｘ線発生源と、被検
体を間に挟んで該Ｘ線源と対抗配置され透過Ｘ線像を電
気信号に変換して画像情報として出力する検出手段と、
Ｘ線源と検出手段とを相対移動させる駆動機構と、Ｘ線
源の移動位置を検出する位置検出器と、相対運動中の検
出手段からの画像情報を位置検出器の出力と関連付けて
格納する記憶装置と、Ｘ線透過領域内において被検体に
対して相対的に固定した、該被検体及びＸ線透過領域内
の物体とＸ線吸収率の異なる小物体と、記憶装置から格
納された複数の画像情報を取り出し、各画像情報を所定
の位置関係をもって重ね合わせて被検体の断層像を得る
演算処理手段と、記憶装置から格納された複数の画像情
報を取り出し、各画像情報の中から小物体の透過像位置
を求めて小物体の透過像位置情報として演算処理手段に
出力する画像処理手段と、を有し、演算処理手段が、画
像情報を重ね合わせる時、小物体の透過像位置情報によ
り各画像情報の重ね合わせる位置を補正することを特徴
とする。
めに本発明のＸ線断層撮影装置は、Ｘ線発生源と、被検
体を間に挟んで該Ｘ線源と対抗配置され透過Ｘ線像を電
気信号に変換して画像情報として出力する検出手段と、
Ｘ線源と検出手段とを相対移動させる駆動機構と、Ｘ線
源の移動位置を検出する位置検出器と、相対運動中の検
出手段からの画像情報を位置検出器の出力と関連付けて
格納する記憶装置と、Ｘ線透過領域内において被検体に
対して相対的に固定した、該被検体及びＸ線透過領域内
の物体とＸ線吸収率の異なる小物体と、記憶装置から格
納された複数の画像情報を取り出し、各画像情報を所定
の位置関係をもって重ね合わせて被検体の断層像を得る
演算処理手段と、記憶装置から格納された複数の画像情
報を取り出し、各画像情報の中から小物体の透過像位置
を求めて小物体の透過像位置情報として演算処理手段に
出力する画像処理手段と、を有し、演算処理手段が、画
像情報を重ね合わせる時、小物体の透過像位置情報によ
り各画像情報の重ね合わせる位置を補正することを特徴
とする。
【０００８】また、上記Ｘ線断層撮影装置において、Ｘ
線受像部を固定し、駆動機構が、Ｘ線発生源と被検体を
相対的に移動させるよう構成してもよい。
線受像部を固定し、駆動機構が、Ｘ線発生源と被検体を
相対的に移動させるよう構成してもよい。
【０００９】
【作用】上記構成により本発明のＸ線断層撮影装置は、
検出手段が透過Ｘ線像を電気信号に変換して画像情報と
して出力し、駆動機構がＸ線源と検出手段とを相対移動
させ、位置検出器がＸ線源の移動位置を検出し、記憶装
置が相対運動中の検出手段からの画像情報を位置検出器
の出力と関連付けて格納し、演算処理手段が、記憶装置
から格納された複数の画像情報を取り出し、各画像情報
を所定の位置関係をもって重ね合わせて被検体の断層像
を得る。一方、画像処理手段が記憶装置から格納された
複数の画像情報を取り出し、各画像情報の中から小物体
の透過像位置を求めて小物体の透過像位置情報として演
算処理手段に出力し、更に、演算処理手段が、画像情報
を重ね合わせる時、小物体の透過像位置情報により各画
像情報の重ね合わせる位置を補正する。
検出手段が透過Ｘ線像を電気信号に変換して画像情報と
して出力し、駆動機構がＸ線源と検出手段とを相対移動
させ、位置検出器がＸ線源の移動位置を検出し、記憶装
置が相対運動中の検出手段からの画像情報を位置検出器
の出力と関連付けて格納し、演算処理手段が、記憶装置
から格納された複数の画像情報を取り出し、各画像情報
を所定の位置関係をもって重ね合わせて被検体の断層像
を得る。一方、画像処理手段が記憶装置から格納された
複数の画像情報を取り出し、各画像情報の中から小物体
の透過像位置を求めて小物体の透過像位置情報として演
算処理手段に出力し、更に、演算処理手段が、画像情報
を重ね合わせる時、小物体の透過像位置情報により各画
像情報の重ね合わせる位置を補正する。
【００１０】
【実施例】図１は本発明に基づくＸ線診断装置の一実施
例の構成を示すブロック図である。
例の構成を示すブロック図である。
【００１１】図１において、１はＸ線発生源、２は検出
手段としてのＸ線検出器、２ａはＩＩ（イメージ倍増
管）、２ｂはＡ／Ｄコンバータ、３は駆動機構、４は位
置検出器、５は記憶装置、６はＸ線吸収率の高い小物
体、７は演算処理手段、８は画像処理手段、９は被検
体、１０は高圧発生器、１１はＸ線制御器、１２は操作
卓、１３は表示装置、１４は被検体を載せる天板であ
る。
手段としてのＸ線検出器、２ａはＩＩ（イメージ倍増
管）、２ｂはＡ／Ｄコンバータ、３は駆動機構、４は位
置検出器、５は記憶装置、６はＸ線吸収率の高い小物
体、７は演算処理手段、８は画像処理手段、９は被検
体、１０は高圧発生器、１１はＸ線制御器、１２は操作
卓、１３は表示装置、１４は被検体を載せる天板であ
る。
【００１２】本実施例において、Ｘ線発生源１はＸ線管
であり高圧発生器１０とＸ線制御器１１に接続されＸ線
を発生する。Ｘ線検出器２はＩＩ２ａと撮増管及びＡ／
Ｄコンバータ２ｂとからなり、Ｘ線発生源１からＸ線を
被検体９に対して曝射し、被検体９を透過した透過Ｘ線
を電気信号に変換して画像情報として出力する。
であり高圧発生器１０とＸ線制御器１１に接続されＸ線
を発生する。Ｘ線検出器２はＩＩ２ａと撮増管及びＡ／
Ｄコンバータ２ｂとからなり、Ｘ線発生源１からＸ線を
被検体９に対して曝射し、被検体９を透過した透過Ｘ線
を電気信号に変換して画像情報として出力する。
【００１３】駆動機構３は被検体の近傍のある１点を中
心にＸ線発生源１とＸ線検出器２を幾何学的に相似関係
を保って反対方向に移動させる駆動手段である。
心にＸ線発生源１とＸ線検出器２を幾何学的に相似関係
を保って反対方向に移動させる駆動手段である。
【００１４】位置検出器４はＸ線発生源１とＸ線検出器
２の移動位置を検出する。但し、Ｘ線発生源１とＸ線検
出器２の位置関係は駆動機構３によって幾何学的に相似
関係を保たれるからＸ線発生源１の位置を検出するだけ
でもよい。
２の移動位置を検出する。但し、Ｘ線発生源１とＸ線検
出器２の位置関係は駆動機構３によって幾何学的に相似
関係を保たれるからＸ線発生源１の位置を検出するだけ
でもよい。
【００１５】記憶装置５は断層撮影中にＸ線検出器２か
ら出力される画像情報を位置検出器４の出力信号と関連
付けて複数枚格納するメモリで構成する。
ら出力される画像情報を位置検出器４の出力信号と関連
付けて複数枚格納するメモリで構成する。
【００１６】小物体６は被検体９に対し相対的に動かな
いように固定されておりＸ線透過領域に置かれ、且つ周
囲とＸ線吸収率の異なる小さな物体である。本実施例で
は小物体６として鉛製の小円板を用いており、図１に示
すように天板１４上に置いている。
いように固定されておりＸ線透過領域に置かれ、且つ周
囲とＸ線吸収率の異なる小さな物体である。本実施例で
は小物体６として鉛製の小円板を用いており、図１に示
すように天板１４上に置いている。
【００１７】演算処理手段７は記憶装置５に格納した各
画像情報を順次取り出して重ね合わせて断層画像を作り
出す。この際に各画像情報を単純に重ね合わせるとＸ線
発生源１と検出器２の相対運動中心Ｏ点を含みＸ線検出
面に平行な面Ｘ0 の断層像が得られる。また、各画像情
報を適当にずらしながら重ね合わせると、面Ｘ0 と平行
な任意の面の断層像が得られる。
画像情報を順次取り出して重ね合わせて断層画像を作り
出す。この際に各画像情報を単純に重ね合わせるとＸ線
発生源１と検出器２の相対運動中心Ｏ点を含みＸ線検出
面に平行な面Ｘ0 の断層像が得られる。また、各画像情
報を適当にずらしながら重ね合わせると、面Ｘ0 と平行
な任意の面の断層像が得られる。
【００１８】画像処理手段８は記憶装置５に格納した複
数の画像情報を順次取り出し各画像情報の中からそれぞ
れ小物体６の投影像を抽出して、各画像情報中の小物体
像の位置を求め小物体の透過像位置情報として演算処理
手段に出力する。
数の画像情報を順次取り出し各画像情報の中からそれぞ
れ小物体６の投影像を抽出して、各画像情報中の小物体
像の位置を求め小物体の透過像位置情報として演算処理
手段に出力する。
【００１９】そして、演算処理手段７は、更に、画像情
報を重ね合わせる時、画像処理手段８から入力する小物
体の透過像位置情報により各画像情報の重ね合わせる位
置を補正する。
報を重ね合わせる時、画像処理手段８から入力する小物
体の透過像位置情報により各画像情報の重ね合わせる位
置を補正する。
【００２０】表示装置１３は演算処理手段７により位置
補正された画像情報を被検体の断層撮影像として視覚的
に表示する。
補正された画像情報を被検体の断層撮影像として視覚的
に表示する。
【００２１】上記演算処理手段７による画像情報の位置
補正における小物体６による位置決定の原理は下記の通
りである。
補正における小物体６による位置決定の原理は下記の通
りである。
【００２２】記憶装置５に格納する画像情報には被検体
９の透過像と共に小物体６の透過像が写し込まれてい
る。図２はＸ線発生源１と検出器２の相対運動の各時点
で得られる断層像から被検体９の透過像を省略し小物体
６の透過像だけを示したものであり、断層像Ｆ１、Ｆ
２、・・・、Ｆｎとそれらに写し込まれた小物体６が示
されている。図２において、各画像中の小物体の投影位
置が順次位置を変えているが、これは断層撮影中にＸ線
発生源１とＸ線検出器２の位置が小物体６に対して相対
的に位置を変えるためである。
９の透過像と共に小物体６の透過像が写し込まれてい
る。図２はＸ線発生源１と検出器２の相対運動の各時点
で得られる断層像から被検体９の透過像を省略し小物体
６の透過像だけを示したものであり、断層像Ｆ１、Ｆ
２、・・・、Ｆｎとそれらに写し込まれた小物体６が示
されている。図２において、各画像中の小物体の投影位
置が順次位置を変えているが、これは断層撮影中にＸ線
発生源１とＸ線検出器２の位置が小物体６に対して相対
的に位置を変えるためである。
【００２３】図３は、図２の断層像Ｆ１、Ｆ２、・・
・、Ｆｎを演算処理手段７により重ね合わせて得た１枚
の断層像であり、図３で白丸印で示されている点ＰはＸ
線発生源１とＸ線検出器２が幾何学的に相似関係を保っ
て反対方向に移動した場合に小物体６のあるべき位置で
あり、点Ｐの軌跡は断層像には直線的に写し込まれてい
るはずである。しかし、実際に写し込まれる小物体６の
軌跡は図３で黒丸印で示されている点Ｐｉのように点Ｐ
の直線的な軌跡からずれている。このずれは前述したよ
うにＸ線断層装置を構成している部品の振動や加工誤差
に起因するものであり、このずれは最終的に得られる断
層像の解像度を劣化させる原因となる。
・、Ｆｎを演算処理手段７により重ね合わせて得た１枚
の断層像であり、図３で白丸印で示されている点ＰはＸ
線発生源１とＸ線検出器２が幾何学的に相似関係を保っ
て反対方向に移動した場合に小物体６のあるべき位置で
あり、点Ｐの軌跡は断層像には直線的に写し込まれてい
るはずである。しかし、実際に写し込まれる小物体６の
軌跡は図３で黒丸印で示されている点Ｐｉのように点Ｐ
の直線的な軌跡からずれている。このずれは前述したよ
うにＸ線断層装置を構成している部品の振動や加工誤差
に起因するものであり、このずれは最終的に得られる断
層像の解像度を劣化させる原因となる。
【００２４】そこで、演算処理手段７において、小物体
６の本来有るべき位置と画像処理手段８で求めた小物体
６の実際の位置との差を求め、その差の分だけ各画像の
小物体６の位置を補正して重ね合わせることにより小物
体６の投影像を含む各画像は図４に示すように本来ある
べき位置に重ね合わされるため、解像度の劣化のない鮮
明な断層像を得ることが出来る。なお、小物体６の本来
あるべき位置はＸ線発生源１とＸ線検出器２及び小物体
６の幾何学的な位置関係により一義的に決るものであ
り、各画像情報を取込んだ時の位置検出器４の信号（位
置情報）から容易に計算して求めることができる。
６の本来有るべき位置と画像処理手段８で求めた小物体
６の実際の位置との差を求め、その差の分だけ各画像の
小物体６の位置を補正して重ね合わせることにより小物
体６の投影像を含む各画像は図４に示すように本来ある
べき位置に重ね合わされるため、解像度の劣化のない鮮
明な断層像を得ることが出来る。なお、小物体６の本来
あるべき位置はＸ線発生源１とＸ線検出器２及び小物体
６の幾何学的な位置関係により一義的に決るものであ
り、各画像情報を取込んだ時の位置検出器４の信号（位
置情報）から容易に計算して求めることができる。
【００２５】また、各画像と重ね合わせて得られる断層
像において、小物体６の投影像は図４に示したような断
続的な投影像となるが、図４で示した像は説明上強調し
たものであり、実際には断層写真上いわゆるピンボケ像
として表され、描き出される被検体の断層面の透過像よ
り薄いので診断の邪魔になることはない。なお、十分に
ボケた像とはならず診断の邪魔になる場合を考慮して、
画像処理手段８で小物体６の投影像の濃度をその近傍の
濃度レベルにまで下げる（または上げる）処理を行うよ
うにすることもできる。
像において、小物体６の投影像は図４に示したような断
続的な投影像となるが、図４で示した像は説明上強調し
たものであり、実際には断層写真上いわゆるピンボケ像
として表され、描き出される被検体の断層面の透過像よ
り薄いので診断の邪魔になることはない。なお、十分に
ボケた像とはならず診断の邪魔になる場合を考慮して、
画像処理手段８で小物体６の投影像の濃度をその近傍の
濃度レベルにまで下げる（または上げる）処理を行うよ
うにすることもできる。
【００２６】上記説明では、被検体９を固定しＸ線発生
源１とＸ線検出器２とを相対的に反対方向に移動させた
が、Ｘ線検出器２を固定し被検体９とＸ線発生源１を相
対的に同方向に動かしながら撮影しても全く同じ結果が
得られる。この場合、被検体９を動かすには天板１４を
移動する機構が必要であるが、この種の装置では通常装
備されている。また、Ｘ線検出器２を固定してＸ線発生
源１だけを駆動することも比較的容易に実現できる。従
って、簡単な機構で解像度劣化のないＸ線断層撮影を行
うことが出来る。
源１とＸ線検出器２とを相対的に反対方向に移動させた
が、Ｘ線検出器２を固定し被検体９とＸ線発生源１を相
対的に同方向に動かしながら撮影しても全く同じ結果が
得られる。この場合、被検体９を動かすには天板１４を
移動する機構が必要であるが、この種の装置では通常装
備されている。また、Ｘ線検出器２を固定してＸ線発生
源１だけを駆動することも比較的容易に実現できる。従
って、簡単な機構で解像度劣化のないＸ線断層撮影を行
うことが出来る。
【００２７】以上本発明の一実施例について説明した
が、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、種
々の変形実施が可能であることはいうまでもない。
が、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、種
々の変形実施が可能であることはいうまでもない。
【００２８】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、記
憶装置に記憶したＸ線透過像を重ね合わせる時にＸ線管
と受像部が、正確な相似位置からずれていてもそのずれ
分（誤差分）を補正して重ね合わせるため、Ｘ線断層装
置を構成している部品の振動や加工誤差に起因するＸ線
管と受像部の相対位置のずれや、その他の原因によるず
れがあっても、Ｘ線管と受像部が正確な相似運動をした
場合と同じように解像度の劣化のない断層像を得ること
ができ、断層画像の解像度が向上するので、より明確で
有益な診断情報を診断者に提供することができる。
憶装置に記憶したＸ線透過像を重ね合わせる時にＸ線管
と受像部が、正確な相似位置からずれていてもそのずれ
分（誤差分）を補正して重ね合わせるため、Ｘ線断層装
置を構成している部品の振動や加工誤差に起因するＸ線
管と受像部の相対位置のずれや、その他の原因によるず
れがあっても、Ｘ線管と受像部が正確な相似運動をした
場合と同じように解像度の劣化のない断層像を得ること
ができ、断層画像の解像度が向上するので、より明確で
有益な診断情報を診断者に提供することができる。
【００２９】また、本発明の装置は、Ｘ線管と受像部を
正確に相対運動させるために、構成部品の剛性を特に強
める必要がなく、また、高精度に部品を加工する必要も
なく、また、装置の構成を簡素化することができるの
で、低コストなＸ線診断装置の供給を可能とする。
正確に相対運動させるために、構成部品の剛性を特に強
める必要がなく、また、高精度に部品を加工する必要も
なく、また、装置の構成を簡素化することができるの
で、低コストなＸ線診断装置の供給を可能とする。
【図１】本発明に基づくＸ線診断装置の一実施例の構成
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図２】Ｘ線発生源とＸ線検出器の相対運動の各時点で
得られる断層像における小物体の透過像を示す図であ
る。
得られる断層像における小物体の透過像を示す図であ
る。
【図３】図２の各断層像を重ね合わせて得た断層像にお
ける小物体の位置を示す図である。
ける小物体の位置を示す図である。
【図４】図２の各断層像を補正した後、重ね合わせて得
た断層像における小物体の位置を示す図である
た断層像における小物体の位置を示す図である
１ Ｘ線発生源 ２ Ｘ線検出器（検出手段） ３ 駆動機構 ４ 位置検出器 ５ 記憶装置 ６ 小物体 ７ 演算処理手段 ８ 画像処理手段 ９ 被検体
Claims (2)
- 【請求項１】 Ｘ線発生源と、被検体を間に挟んで該Ｘ
線源と対抗配置され透過Ｘ線像を電気信号に変換して画
像情報として出力する検出手段と、前記Ｘ線源と検出手
段とを相対移動させる駆動機構と、前記Ｘ線源の移動位
置を検出する位置検出器と、前記相対運動中の検出手段
からの画像情報を前記位置検出器の出力と関連付けて格
納する記憶装置と、Ｘ線透過領域内において被検体に対
して相対的に固定した、該被検体及び該Ｘ線透過領域内
の物体とＸ線吸収率の異なる小物体と、前記記憶装置か
ら前記格納された複数の画像情報を取り出し、該各画像
情報を所定の位置関係をもって重ね合わせて被検体の断
層像を得る演算処理手段と、前記記憶装置から前記格納
された複数の画像情報を取り出し、該各画像情報の中か
ら前記小物体の透過像位置を求めて小物体の透過像位置
情報として前記演算処理手段に出力する画像処理手段
と、を有し、前記演算処理手段が、画像情報を重ね合わ
せる時、前記小物体の透過像位置情報により各画像情報
の重ね合わせる位置を補正することを特徴とするＸ線断
層撮影装置。 - 【請求項２】 請求項１記載のＸ線断層撮影装置におい
て、Ｘ線受像部を固定し、駆動機構が、Ｘ線発生源と被
検体を相対的に移動させることを特徴とするＸ線断層撮
影装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4298586A JPH06142093A (ja) | 1992-11-09 | 1992-11-09 | Ｘ線断層撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4298586A JPH06142093A (ja) | 1992-11-09 | 1992-11-09 | Ｘ線断層撮影装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06142093A true JPH06142093A (ja) | 1994-05-24 |
Family
ID=17861661
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4298586A Pending JPH06142093A (ja) | 1992-11-09 | 1992-11-09 | Ｘ線断層撮影装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06142093A (ja) |
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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-
1992
- 1992-11-09 JP JP4298586A patent/JPH06142093A/ja active Pending
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