JPH06152143A - 電子部品搭載用基板の製造方法 - Google Patents
電子部品搭載用基板の製造方法Info
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- JPH06152143A JPH06152143A JP4328900A JP32890092A JPH06152143A JP H06152143 A JPH06152143 A JP H06152143A JP 4328900 A JP4328900 A JP 4328900A JP 32890092 A JP32890092 A JP 32890092A JP H06152143 A JPH06152143 A JP H06152143A
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- JP
- Japan
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- circuit board
- opening hole
- electronic component
- component mounting
- metal plating
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- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
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- H10W70/60—Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers
- H10W70/67—Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers characterised by their insulating layers or insulating parts
- H10W70/68—Shapes or dispositions thereof
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
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- H10W72/541—Dispositions of bond wires
- H10W72/5449—Dispositions of bond wires not being orthogonal to a side surface of the chip, e.g. fan-out arrangements
-
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- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
- H10W90/754—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked insulating package substrate, interposer or RDL
Landscapes
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
- Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
- Manufacturing Of Printed Circuit Boards (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 開口穴内に金属メッキを形成できると共に,
ボンディングワイヤーとリング状メッキとのショートが
なく,ファインパターン形成が容易な電子部品搭載用基
板の製造方法を提供すること。 【構成】 電子部品搭載用凹部を形成するための開口穴
99を有する電子部品搭載用基板を製造するに当たっ
て,回路基板9の表側面方向から裏側面に向けて拡開す
るテーパー状内壁991を有する開口穴99を形成す
る。該開口穴99の表面を含めた回路基板9の全表面を
金属メッキ5及び電着膜6により被覆する。開口穴99
及びその周辺に露光用の光79が照射されるようにマス
クフィルム7を載置し,光照射し,現像し,開口穴99
周辺の電着膜6を除去する。更に,エッチングにより開
口穴99周辺の金属メッキ5を除去し,次いで残りの電
着膜6を除去する。
ボンディングワイヤーとリング状メッキとのショートが
なく,ファインパターン形成が容易な電子部品搭載用基
板の製造方法を提供すること。 【構成】 電子部品搭載用凹部を形成するための開口穴
99を有する電子部品搭載用基板を製造するに当たっ
て,回路基板9の表側面方向から裏側面に向けて拡開す
るテーパー状内壁991を有する開口穴99を形成す
る。該開口穴99の表面を含めた回路基板9の全表面を
金属メッキ5及び電着膜6により被覆する。開口穴99
及びその周辺に露光用の光79が照射されるようにマス
クフィルム7を載置し,光照射し,現像し,開口穴99
周辺の電着膜6を除去する。更に,エッチングにより開
口穴99周辺の金属メッキ5を除去し,次いで残りの電
着膜6を除去する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は,電子部品搭載用基板の
製造方法に関する。
製造方法に関する。
【0002】
【従来技術】従来,電子部品搭載用基板としては,例え
ば,図7に示すごとく,内層回路51,52を有する回
路基板9と,該回路基板9に設けた開口穴99と,該開
口穴99の一端を被覆するように接着したヒートシンク
8と,該ヒートシンク8と上記開口穴99とにより形成
される電子部品搭載用凹部900とを有するものがあ
る。
ば,図7に示すごとく,内層回路51,52を有する回
路基板9と,該回路基板9に設けた開口穴99と,該開
口穴99の一端を被覆するように接着したヒートシンク
8と,該ヒートシンク8と上記開口穴99とにより形成
される電子部品搭載用凹部900とを有するものがあ
る。
【0003】上記開口穴99の内壁999には湿気侵入
防止用の金属メッキ5が施されており,また開口穴99
の周辺には,リング状メッキ59が形成されている。一
方,回路基板9の裏側面における上記開口穴99周辺に
は,接着シート65を介してヒートシンク8が接着固定
されている。回路基板9は,絶縁基板91,92,93
を積層することにより形成されている。絶縁基板91,
92の上には,上記内層回路51,52が形成されてい
る。
防止用の金属メッキ5が施されており,また開口穴99
の周辺には,リング状メッキ59が形成されている。一
方,回路基板9の裏側面における上記開口穴99周辺に
は,接着シート65を介してヒートシンク8が接着固定
されている。回路基板9は,絶縁基板91,92,93
を積層することにより形成されている。絶縁基板91,
92の上には,上記内層回路51,52が形成されてい
る。
【0004】回路基板9の表側面には,外層回路50が
形成されている。また,回路基板9の裏側面は,湿気防
止用の金属メッキ5により被覆されている。上記電子部
品搭載用凹部900には,電子部品3が搭載され,ボン
ディングワイヤー30により回路基板9上の外層回路5
0と電気的に接続されている。
形成されている。また,回路基板9の裏側面は,湿気防
止用の金属メッキ5により被覆されている。上記電子部
品搭載用凹部900には,電子部品3が搭載され,ボン
ディングワイヤー30により回路基板9上の外層回路5
0と電気的に接続されている。
【0005】次に,上記電子部品搭載用基板の製造方法
について説明する。上記製造法においては,近年,電着
膜を用いたパターン形成方法がある。電着膜法は,ファ
インパターンの形成にとって,優れた方法である。以下
に,まずこの方法を示す。
について説明する。上記製造法においては,近年,電着
膜を用いたパターン形成方法がある。電着膜法は,ファ
インパターンの形成にとって,優れた方法である。以下
に,まずこの方法を示す。
【0006】即ち,図8(J)に示すJ工程において,
絶縁基板91,92,93を下から順に積層し,回路基
板9を作製する。絶縁基板91,92の上には内層回路
51,52がそれぞれ形成されている。次に,図8
(K)に示すK工程において,上記回路基板9に開口穴
99を穿設する。次に,図8(L)に示すL工程におい
て,上記開口穴99の内壁999を含む上記回路基板9
の表面全体に金属メッキ5を施す。
絶縁基板91,92,93を下から順に積層し,回路基
板9を作製する。絶縁基板91,92の上には内層回路
51,52がそれぞれ形成されている。次に,図8
(K)に示すK工程において,上記回路基板9に開口穴
99を穿設する。次に,図8(L)に示すL工程におい
て,上記開口穴99の内壁999を含む上記回路基板9
の表面全体に金属メッキ5を施す。
【0007】次に,図9(M)に示すM工程において,
上記金属メッキ5の表面全体に電着膜6を形成する。次
に,図9(N)に示すN工程において,回路基板9の表
側面に,外層回路及びリング状メッキと同形状のパター
ン70を有するマスクフィルム7を載置する。そして,
該マスクフィルム7の上方から紫外線79を照射し,電
着膜6を露光する。
上記金属メッキ5の表面全体に電着膜6を形成する。次
に,図9(N)に示すN工程において,回路基板9の表
側面に,外層回路及びリング状メッキと同形状のパター
ン70を有するマスクフィルム7を載置する。そして,
該マスクフィルム7の上方から紫外線79を照射し,電
着膜6を露光する。
【0008】次に,図10(O)に示すO工程におい
て,上記マスクフィルムを取り去り,電着膜6における
露光された部分を現像により除去する。次に,図10
(P)に示すP工程において,上記電着膜6により被覆
されていない部分の金属メッキ5をエッチングにより除
去する。次に,図10(Q)に示すQ工程において,上
記残りの電着膜6を除去する。
て,上記マスクフィルムを取り去り,電着膜6における
露光された部分を現像により除去する。次に,図10
(P)に示すP工程において,上記電着膜6により被覆
されていない部分の金属メッキ5をエッチングにより除
去する。次に,図10(Q)に示すQ工程において,上
記残りの電着膜6を除去する。
【0009】次に,図10(R)に示すR工程におい
て,上記回路基板9の裏側面において上記開口穴99を
被覆するように,接着シート65を介してヒートシンク
8を接着する。上記電着膜法によれば,図7,図11に
示すごとく,開口穴99の壁面999に金属メッキ5が
形成されていると共に表側面において開口穴99周辺に
リング状メッキ59が残存形成されている。このリング
状メッキ59を形成する理由は,次のようである。
て,上記回路基板9の裏側面において上記開口穴99を
被覆するように,接着シート65を介してヒートシンク
8を接着する。上記電着膜法によれば,図7,図11に
示すごとく,開口穴99の壁面999に金属メッキ5が
形成されていると共に表側面において開口穴99周辺に
リング状メッキ59が残存形成されている。このリング
状メッキ59を形成する理由は,次のようである。
【0010】即ち,マスクフィルム7と回路基板9との
位置関係にズレがあると,光照射位置にズレを生じ,開
口穴99の内壁999も光照射され,その表面の電着膜
6が露光され,現像,エッチング工程において,開口穴
99の内壁999表面の金属メッキ5が除去されてしま
うためである。それ故,リング状メッキを形成せざるを
得ないのである。
位置関係にズレがあると,光照射位置にズレを生じ,開
口穴99の内壁999も光照射され,その表面の電着膜
6が露光され,現像,エッチング工程において,開口穴
99の内壁999表面の金属メッキ5が除去されてしま
うためである。それ故,リング状メッキを形成せざるを
得ないのである。
【0011】
【解決しようとする課題】しかしながら,上記リング状
メッキ59は,ボンディングワイヤー30とショートす
るおそれがある。そこで,図12に示すごとく,表側面
において,開口穴99の周辺にリング状メッキを形成さ
せないことが考えられる。そのためには,上記N工程に
おいて,図13に示すごとく,回路基板9の開口穴99
及びその周辺が全て透明に形成されたマスクフィルム7
を用いることが考えられる(図9と比較)。
メッキ59は,ボンディングワイヤー30とショートす
るおそれがある。そこで,図12に示すごとく,表側面
において,開口穴99の周辺にリング状メッキを形成さ
せないことが考えられる。そのためには,上記N工程に
おいて,図13に示すごとく,回路基板9の開口穴99
及びその周辺が全て透明に形成されたマスクフィルム7
を用いることが考えられる(図9と比較)。
【0012】しかし,これでは,光照射の際に開口穴9
9の内壁999表面の電着膜6も露光されてしまう。そ
のため,その後の現像,エッチング工程において,内壁
999表面の金属メッキ5も除去されてしまう。それ
故,図14に示すごとく,内壁999に金属メッキ不着
部分990が形成されてしまう。その結果,該金属メッ
キ不着部分990から開口穴99に湿気が浸入するおそ
れがある。また,電子部品を搭載した上記電子部品搭載
用基板を使用する際には,インダクタンスを低下させる
ことができないことがある。
9の内壁999表面の電着膜6も露光されてしまう。そ
のため,その後の現像,エッチング工程において,内壁
999表面の金属メッキ5も除去されてしまう。それ
故,図14に示すごとく,内壁999に金属メッキ不着
部分990が形成されてしまう。その結果,該金属メッ
キ不着部分990から開口穴99に湿気が浸入するおそ
れがある。また,電子部品を搭載した上記電子部品搭載
用基板を使用する際には,インダクタンスを低下させる
ことができないことがある。
【0013】そこで,上記問題点に鑑み,半田剥離法を
用いる方法が考えられる。以下,該半田剥離法につい
て,図15〜図17を用いて説明する。まず,上記電着
膜法と同様に,前記の図8(J)〜図8(L)に示すJ
工程〜L工程を行う。次に,図15(S)に示すS工程
において,回路基板9の表側面及び裏側面に感光性ドラ
イフィルム60,61を載置する。
用いる方法が考えられる。以下,該半田剥離法につい
て,図15〜図17を用いて説明する。まず,上記電着
膜法と同様に,前記の図8(J)〜図8(L)に示すJ
工程〜L工程を行う。次に,図15(S)に示すS工程
において,回路基板9の表側面及び裏側面に感光性ドラ
イフィルム60,61を載置する。
【0014】次に,図15(T)に示すT工程におい
て,感光性ドライフィルム60の上に,上記開口穴99
周辺が透明であって,かつ外層回路及び開口穴99と同
形状のパターン70を有するマスクフィルム7を載置す
る。そして,該マスクフィルム7の上から紫外線79を
光照射し,パターン70以外の部分の下に位置する感光
性ドライフィルム60を露光する。
て,感光性ドライフィルム60の上に,上記開口穴99
周辺が透明であって,かつ外層回路及び開口穴99と同
形状のパターン70を有するマスクフィルム7を載置す
る。そして,該マスクフィルム7の上から紫外線79を
光照射し,パターン70以外の部分の下に位置する感光
性ドライフィルム60を露光する。
【0015】次に,図16(U)に示すU工程におい
て,上記マスクフィルムを取り去り,感光性ドライフィ
ルム60,61における露光されていない部分を現像に
より除去する。次に,図16(V)に示すV工程におい
て,上記感光性ドライフィルム60により被覆されてい
ない金属メッキ5の表面に半田メッキ62を施す。次
に,図16(W)に示すW工程において,上記残りの感
光性ドライフィルム60を除去する。
て,上記マスクフィルムを取り去り,感光性ドライフィ
ルム60,61における露光されていない部分を現像に
より除去する。次に,図16(V)に示すV工程におい
て,上記感光性ドライフィルム60により被覆されてい
ない金属メッキ5の表面に半田メッキ62を施す。次
に,図16(W)に示すW工程において,上記残りの感
光性ドライフィルム60を除去する。
【0016】次に,図17(X)に示すX工程におい
て,上記半田メッキ62により被覆されていない部分の
金属メッキ5をエッチングにより除去する。次に,図1
7(Y)に示すY工程において,上記残りの半田メッキ
62を除去する。その後,図12に示すごとく,前記電
着膜法のR工程と同様に,回路基板9の裏側面にヒート
シンク8を接着する。これにより,表側面の開口穴99
の周辺にリング状メッキ59(図7,図11)を有しな
い,電子部品搭載用基板が得られる。
て,上記半田メッキ62により被覆されていない部分の
金属メッキ5をエッチングにより除去する。次に,図1
7(Y)に示すY工程において,上記残りの半田メッキ
62を除去する。その後,図12に示すごとく,前記電
着膜法のR工程と同様に,回路基板9の裏側面にヒート
シンク8を接着する。これにより,表側面の開口穴99
の周辺にリング状メッキ59(図7,図11)を有しな
い,電子部品搭載用基板が得られる。
【0017】しかし,上記半田剥離法は,製造工程が多
く,製造に長時間を要する。また,鮮明な配線パターン
を得難く,ファインパターン形成に不向きである。本発
明はかかる問題点に鑑み,上記開口穴の内壁に金属メッ
キを形成できると共に,ボンディングワイヤーとリング
状メッキとのショートがなく,ファインパターン形成が
容易な電子部品搭載用基板の製造方法を提供しようとす
るものである。
く,製造に長時間を要する。また,鮮明な配線パターン
を得難く,ファインパターン形成に不向きである。本発
明はかかる問題点に鑑み,上記開口穴の内壁に金属メッ
キを形成できると共に,ボンディングワイヤーとリング
状メッキとのショートがなく,ファインパターン形成が
容易な電子部品搭載用基板の製造方法を提供しようとす
るものである。
【0018】
【課題の解決手段】本発明は,回路基板と,該回路基板
に設けた電子部品搭載用凹部を形成するための開口穴と
を有する電子部品搭載用基板の製造方法において,回路
基板を準備するA工程と,該回路基板の表側面から裏側
面に向けて拡開するテーパー状内壁を有する開口穴を形
成するB工程と,上記開口穴の表面を含めた回路基板の
全表面を金属メッキにより被覆するC工程と,上記金属
メッキの表面を電着膜により被覆するD工程と,上記回
路基板の表側面に配線パターン形成用の露光用のマスク
フィルムを載置し,該マスクフィルムの上から光照射す
るE工程と,上記回路基板上のマスクフィルムを取り去
り,回路基板を現像することにより,開口穴周辺の電着
膜を除去するF工程と,上記回路基板をエッチングする
ことにより表側面における開口穴周辺の金属メッキを除
去するG工程と,上記回路基板から残りの電着膜を除去
するH工程とよりなることを特徴とする電子部品搭載用
基板の製造方法にある。
に設けた電子部品搭載用凹部を形成するための開口穴と
を有する電子部品搭載用基板の製造方法において,回路
基板を準備するA工程と,該回路基板の表側面から裏側
面に向けて拡開するテーパー状内壁を有する開口穴を形
成するB工程と,上記開口穴の表面を含めた回路基板の
全表面を金属メッキにより被覆するC工程と,上記金属
メッキの表面を電着膜により被覆するD工程と,上記回
路基板の表側面に配線パターン形成用の露光用のマスク
フィルムを載置し,該マスクフィルムの上から光照射す
るE工程と,上記回路基板上のマスクフィルムを取り去
り,回路基板を現像することにより,開口穴周辺の電着
膜を除去するF工程と,上記回路基板をエッチングする
ことにより表側面における開口穴周辺の金属メッキを除
去するG工程と,上記回路基板から残りの電着膜を除去
するH工程とよりなることを特徴とする電子部品搭載用
基板の製造方法にある。
【0019】本発明において最も注目すべきことは,B
工程において,回路基板に,該回路基板の表側面方向か
ら裏側面に向けて拡開するテーパー状内壁を有する開口
穴を形成しておくことである。上記回路基板は,1又は
複数の絶縁基板からなる。また,回路基板の内部には,
内層回路,スルーホールを形成することができる。
工程において,回路基板に,該回路基板の表側面方向か
ら裏側面に向けて拡開するテーパー状内壁を有する開口
穴を形成しておくことである。上記回路基板は,1又は
複数の絶縁基板からなる。また,回路基板の内部には,
内層回路,スルーホールを形成することができる。
【0020】上記電子部品搭載用基板の表側面,裏側面
の一方又は双方には,外層回路を形成することができ
る。回路基板の開口穴周辺にはヒートシンクが接着され
る。該ヒートシンクを回路基板に接着する際には,接着
シート等を用いることが好ましい。
の一方又は双方には,外層回路を形成することができ
る。回路基板の開口穴周辺にはヒートシンクが接着され
る。該ヒートシンクを回路基板に接着する際には,接着
シート等を用いることが好ましい。
【0021】
【作用及び効果】本発明においては,開口穴は,表側面
から裏側面にかけて拡開したテーパー状内壁を有する。
そのため,露光を行なうE工程において,光は拡開した
テーパー状内壁上端に遮られて,テーパー状内壁全体に
は光が照射されない(図4(実施例)参照)。それ故,
前記現像,エッチングを行なっても,テーパー状内壁全
体に金属メッキを残存形成することができる。
から裏側面にかけて拡開したテーパー状内壁を有する。
そのため,露光を行なうE工程において,光は拡開した
テーパー状内壁上端に遮られて,テーパー状内壁全体に
は光が照射されない(図4(実施例)参照)。それ故,
前記現像,エッチングを行なっても,テーパー状内壁全
体に金属メッキを残存形成することができる。
【0022】また,上記マスクフィルムは,回路基板の
開口穴及びその周辺に位置する部分が透明であるため,
光照射の際に開口穴周辺の電着膜が露光される。そのた
め,開口穴周辺の金属メッキを除去することができる。
そのため,従来のごとくリング状メッキは形成されな
い。それ故,本発明によればリング状メッキを形成する
ことなく,開口穴内に金属メッキを残存形成することが
できる。
開口穴及びその周辺に位置する部分が透明であるため,
光照射の際に開口穴周辺の電着膜が露光される。そのた
め,開口穴周辺の金属メッキを除去することができる。
そのため,従来のごとくリング状メッキは形成されな
い。それ故,本発明によればリング状メッキを形成する
ことなく,開口穴内に金属メッキを残存形成することが
できる。
【0023】また,そのため,電子部品と外層回路とを
電気的に接続するボンディングワイヤーが,リング状メ
ッキとの間でショートすることはない。したがって,本
発明によれば,上記開口部内に金属メッキを形成できる
と共に,ボンディングワイヤーとリング状メッキとのシ
ョートがなく,ファインパターン形成が容易な電子部品
搭載用基板の製造方法を提供することができる。
電気的に接続するボンディングワイヤーが,リング状メ
ッキとの間でショートすることはない。したがって,本
発明によれば,上記開口部内に金属メッキを形成できる
と共に,ボンディングワイヤーとリング状メッキとのシ
ョートがなく,ファインパターン形成が容易な電子部品
搭載用基板の製造方法を提供することができる。
【0024】
実施例1 本発明にかかる実施例について,図1〜図5を用いて説
明する。本例により製造される電子部品搭載用基板は,
図1,図2に示すごとく,内層回路51,52を有する
回路基板9と,該回路基板9に設けた開口穴99と,該
開口穴99の一端を被覆するように接着したヒートシン
ク8と,該ヒートシンク8と上記開口穴99とにより形
成される電子部品搭載用凹部900とを有している。
明する。本例により製造される電子部品搭載用基板は,
図1,図2に示すごとく,内層回路51,52を有する
回路基板9と,該回路基板9に設けた開口穴99と,該
開口穴99の一端を被覆するように接着したヒートシン
ク8と,該ヒートシンク8と上記開口穴99とにより形
成される電子部品搭載用凹部900とを有している。
【0025】上記開口穴99の内壁全体は,金属メッキ
5により被覆されている。回路基板9の裏側面における
上記開口穴99には,接着シート65を介して,ヒート
シンク8が回路基板9に接着固定されている。回路基板
9は,絶縁基板91,92,93を積層することにより
形成されている。絶縁基板91,92の上には,内層回
路51,52が形成されている。
5により被覆されている。回路基板9の裏側面における
上記開口穴99には,接着シート65を介して,ヒート
シンク8が回路基板9に接着固定されている。回路基板
9は,絶縁基板91,92,93を積層することにより
形成されている。絶縁基板91,92の上には,内層回
路51,52が形成されている。
【0026】回路基板9の表側面には,外層回路50が
形成されている。回路基板9において,その電子部品搭
載用凹部900と裏側面は,湿気防止のために金属メッ
キ5が被覆されている。また,表側面において,開口穴
99の周辺には前記従来例で示したリング状メッキ59
(図7,図11)は形成されていない。その他は,従来
例と同様である。
形成されている。回路基板9において,その電子部品搭
載用凹部900と裏側面は,湿気防止のために金属メッ
キ5が被覆されている。また,表側面において,開口穴
99の周辺には前記従来例で示したリング状メッキ59
(図7,図11)は形成されていない。その他は,従来
例と同様である。
【0027】次に,上記電子部品搭載用基板の製造方法
について説明する。先ず,図3(A)に示すA工程にお
いて,絶縁基板91,92,93を準備すると共にこれ
らを下から順に積層し,回路基板9を作製する。絶縁基
板91,92の上には内層回路51,52がそれぞれ形
成されている。次に,図3(B)に示すB工程におい
て,上記回路基板9に,該回路基板9の表側面方向から
裏側面に向けて拡開するテーパー状内壁991を有する
開口穴99を形成する。
について説明する。先ず,図3(A)に示すA工程にお
いて,絶縁基板91,92,93を準備すると共にこれ
らを下から順に積層し,回路基板9を作製する。絶縁基
板91,92の上には内層回路51,52がそれぞれ形
成されている。次に,図3(B)に示すB工程におい
て,上記回路基板9に,該回路基板9の表側面方向から
裏側面に向けて拡開するテーパー状内壁991を有する
開口穴99を形成する。
【0028】次に,図3(C)に示すC工程において,
開口穴99のテーパー状内壁991を含めて,上記回路
基板9の表面全体に金属メッキ5を施す。次に,図3
(D)に示すD工程において,上記金属メッキ5の表面
全体に電着膜6を形成する。
開口穴99のテーパー状内壁991を含めて,上記回路
基板9の表面全体に金属メッキ5を施す。次に,図3
(D)に示すD工程において,上記金属メッキ5の表面
全体に電着膜6を形成する。
【0029】次に,図4(E)に示すE工程において,
上記表側面にマスクフィルム7を載置する。マスクフィ
ルム7は外層回路形成用のパターン70が形成されてい
る。また,マスクフィルム7は,回路基板9の外層回路
を形成する位置に光が照射されないように形成してあ
る。
上記表側面にマスクフィルム7を載置する。マスクフィ
ルム7は外層回路形成用のパターン70が形成されてい
る。また,マスクフィルム7は,回路基板9の外層回路
を形成する位置に光が照射されないように形成してあ
る。
【0030】次にマスクフィルム7の上方から紫外線7
9を光照射し,電着膜6を露光する。次に,図4(F)
に示すF工程において,上記マスクフィルムを取り去
り,回路基板9を現像することにより,開口穴99周辺
の光照射された電着膜6を除去する。また,外層回路を
形成しない位置にある光照射された電着膜6も除去す
る。
9を光照射し,電着膜6を露光する。次に,図4(F)
に示すF工程において,上記マスクフィルムを取り去
り,回路基板9を現像することにより,開口穴99周辺
の光照射された電着膜6を除去する。また,外層回路を
形成しない位置にある光照射された電着膜6も除去す
る。
【0031】次に,図4(G)に示すG工程において,
上記回路基板9をエッチングすることにより,開口穴9
9周辺の金属メッキ5及び外層回路を形成しない部分の
金属メッキ5を除去する。次に,図5(H)に示すH工
程において,上記回路基板9から残りの電着膜を除去す
る。次に,図5(I)に示すI工程において,上記回路
基板9の裏側面における上記開口穴99付近に,接着シ
ート65を介してヒートシンク8を接着する。これによ
り,前記図1,図2に示した電子部品搭載用基板が得ら
れる。
上記回路基板9をエッチングすることにより,開口穴9
9周辺の金属メッキ5及び外層回路を形成しない部分の
金属メッキ5を除去する。次に,図5(H)に示すH工
程において,上記回路基板9から残りの電着膜を除去す
る。次に,図5(I)に示すI工程において,上記回路
基板9の裏側面における上記開口穴99付近に,接着シ
ート65を介してヒートシンク8を接着する。これによ
り,前記図1,図2に示した電子部品搭載用基板が得ら
れる。
【0032】次に,本例の作用効果につき説明する。本
例においては,図3に示すごとく,開口穴99は,表側
面から裏側面にかけて拡開したテーパー状内壁991を
有する。そのため,図4に示すごとく,露光を行なうE
工程において,紫外線79は,拡開したテーパー状内壁
991上端に遮られて,テーパー状内壁991全体には
照射しない。それ故,前記現像,エッチングを行なって
も,開口穴99全体に金属メッキ5を残存形成すること
ができる。
例においては,図3に示すごとく,開口穴99は,表側
面から裏側面にかけて拡開したテーパー状内壁991を
有する。そのため,図4に示すごとく,露光を行なうE
工程において,紫外線79は,拡開したテーパー状内壁
991上端に遮られて,テーパー状内壁991全体には
照射しない。それ故,前記現像,エッチングを行なって
も,開口穴99全体に金属メッキ5を残存形成すること
ができる。
【0033】また,上記マスクフィルム7は,回路基板
9の開口穴99及びその周辺に位置する部分が透明であ
るため,光照射の際に開口穴99周辺の電着膜6が露光
される。そのため,開口穴99周辺の金属メッキ5を除
去することができる。そのため,従来のごとくリング状
メッキは形成されない。
9の開口穴99及びその周辺に位置する部分が透明であ
るため,光照射の際に開口穴99周辺の電着膜6が露光
される。そのため,開口穴99周辺の金属メッキ5を除
去することができる。そのため,従来のごとくリング状
メッキは形成されない。
【0034】それ故,本例によればリング状メッキを形
成することなく,開口穴99のテーパー状内壁991に
金属メッキ5を残存形成することができる。また,その
ため,電子部品3と外層回路50とを電気的に接続する
ボンディングワイヤー30がリング状メッキとの間でシ
ョートすることはない(図11参照)。
成することなく,開口穴99のテーパー状内壁991に
金属メッキ5を残存形成することができる。また,その
ため,電子部品3と外層回路50とを電気的に接続する
ボンディングワイヤー30がリング状メッキとの間でシ
ョートすることはない(図11参照)。
【0035】実施例2 本例により製造された電子部品搭載用基板は,図6に示
すごとく,絶縁基板94〜96からなる回路基板9と,
該回路基板9に設けた開口穴97,98と,該開口穴9
8の一端を被覆するように接着したヒートシンク8とを
有する。上記開口穴97,98は,回路基板9の表側面
方向から裏側面に向けて拡開するテーパー状内壁97
1,981を有する。開口穴98の下方は,ヒートシン
ク8を埋設するための拡大部982が形成されている。
開口穴97,98とヒートシンク8とにより電子部品搭
載用凹部900が形成されている。
すごとく,絶縁基板94〜96からなる回路基板9と,
該回路基板9に設けた開口穴97,98と,該開口穴9
8の一端を被覆するように接着したヒートシンク8とを
有する。上記開口穴97,98は,回路基板9の表側面
方向から裏側面に向けて拡開するテーパー状内壁97
1,981を有する。開口穴98の下方は,ヒートシン
ク8を埋設するための拡大部982が形成されている。
開口穴97,98とヒートシンク8とにより電子部品搭
載用凹部900が形成されている。
【0036】上記絶縁基板94,95の表側面には,内
層回路54,55が形成されている。上記絶縁基板94
の裏面側には接着シート65を介してヒートシンク8が
接着している。上記絶縁基板95,96と絶縁基板94
とは,接着シート65により接着している。回路基板9
の表側面には外層回路50が形成されている。その裏側
面は金属メッキ5により覆われている。
層回路54,55が形成されている。上記絶縁基板94
の裏面側には接着シート65を介してヒートシンク8が
接着している。上記絶縁基板95,96と絶縁基板94
とは,接着シート65により接着している。回路基板9
の表側面には外層回路50が形成されている。その裏側
面は金属メッキ5により覆われている。
【0037】上記電子部品搭載用基板の製造方法につい
て説明する。まず,絶縁基板95,96について,実施
例1と同様にA〜H工程を行なう。なお,絶縁基板96
の裏面側には金属メッキを形成させない。また,絶縁基
板94について,B工程において,テーパー状内壁98
1及び拡大部982からなる開口穴98を形成する。以
下,C〜I工程において実施例1と同様に行なう。
て説明する。まず,絶縁基板95,96について,実施
例1と同様にA〜H工程を行なう。なお,絶縁基板96
の裏面側には金属メッキを形成させない。また,絶縁基
板94について,B工程において,テーパー状内壁98
1及び拡大部982からなる開口穴98を形成する。以
下,C〜I工程において実施例1と同様に行なう。
【0038】その後,上記絶縁基板94の表側面に接着
シート65を介して絶縁基板95,96を積層する。こ
れにより,図6に示す電子部品搭載用基板が得られる。
本例においても,開口穴97,98にはテーパー状内壁
971,981が形成されているので,実施例1と同様
の効果を得ることができる。
シート65を介して絶縁基板95,96を積層する。こ
れにより,図6に示す電子部品搭載用基板が得られる。
本例においても,開口穴97,98にはテーパー状内壁
971,981が形成されているので,実施例1と同様
の効果を得ることができる。
【図1】実施例1の電子部品搭載用基板の断面図。
【図2】実施例1の電子部品搭載用基板の平面図。
【図3】実施例1にかかる,電子部品搭載用基板の製造
工程説明図。
工程説明図。
【図4】図3に続く,製造工程説明図。
【図5】図4に続く,製造工程説明図。
【図6】実施例2の電子部品搭載用基板の断面図。
【図7】従来例の電子部品搭載用基板の断面図。
【図8】従来例にかかる,電子部品搭載用基板の電着膜
法による製造工程説明図。
法による製造工程説明図。
【図9】図8に続く,製造工程説明図。
【図10】図9に続く,製造工程説明図。
【図11】従来例の電子部品搭載用基板の平面図。
【図12】他の従来例において,得ようとする電子部品
搭載用基板の断面図。
搭載用基板の断面図。
【図13】他の従来例にかかる,電子部品搭載用基板の
他の電着膜法による製造工程説明図。
他の電着膜法による製造工程説明図。
【図14】他の従来例にかかる,電子部品搭載用基板の
製造方法の問題点を示す説明図。
製造方法の問題点を示す説明図。
【図15】更に他の従来例にかかる,電子部品搭載用基
板の半田剥離法による製造工程説明図。
板の半田剥離法による製造工程説明図。
【図16】図15に続く,製造工程説明図。
【図17】図16に続く,製造工程説明図。
3...電子部品, 30...ボンディングワイヤー, 5...金属メッキ, 50...外層回路, 6...電着膜, 65...接着シート, 8...ヒートシンク, 9...回路基板, 900...電子部品搭載用凹部, 91〜96...絶縁基板, 97〜99...開口穴, 971,981,991...テーパー状内壁,
Claims (1)
- 【請求項1】 回路基板と,該回路基板に設けた電子部
品搭載用凹部を形成するための開口穴とを有する電子部
品搭載用基板の製造方法において,回路基板を準備する
A工程と,該回路基板の表側面から裏側面に向けて拡開
するテーパー状内壁を有する開口穴を形成するB工程
と,上記開口穴の表面を含めた回路基板の全表面を金属
メッキにより被覆するC工程と,上記金属メッキの表面
を電着膜により被覆するD工程と,上記回路基板の表側
面に配線パターン形成用の露光用のマスクフィルムを載
置し,該マスクフィルムの上から光照射するE工程と,
上記回路基板上のマスクフィルムを取り去り,回路基板
を現像することにより,開口穴周辺の電着膜を除去する
F工程と,上記回路基板をエッチングすることにより表
側面における開口穴周辺の金属メッキを除去するG工程
と,上記回路基板から残りの電着膜を除去するH工程と
よりなることを特徴とする電子部品搭載用基板の製造方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4328900A JPH06152143A (ja) | 1992-11-13 | 1992-11-13 | 電子部品搭載用基板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4328900A JPH06152143A (ja) | 1992-11-13 | 1992-11-13 | 電子部品搭載用基板の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06152143A true JPH06152143A (ja) | 1994-05-31 |
Family
ID=18215350
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4328900A Pending JPH06152143A (ja) | 1992-11-13 | 1992-11-13 | 電子部品搭載用基板の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06152143A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6744341B2 (en) | 2000-08-10 | 2004-06-01 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Polarizing device for a permanent magnet rotor |
| JP2008098482A (ja) * | 2006-10-13 | 2008-04-24 | Toshiba Corp | 高周波回路基板及び高周波回路基板の製造方法 |
| US9583459B2 (en) | 2013-05-30 | 2017-02-28 | Linxens Holding | Method for producing a printed circuit, printed circuit obtained by this method and electronic module comprising such a printed circuit |
-
1992
- 1992-11-13 JP JP4328900A patent/JPH06152143A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6744341B2 (en) | 2000-08-10 | 2004-06-01 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Polarizing device for a permanent magnet rotor |
| JP2008098482A (ja) * | 2006-10-13 | 2008-04-24 | Toshiba Corp | 高周波回路基板及び高周波回路基板の製造方法 |
| US9583459B2 (en) | 2013-05-30 | 2017-02-28 | Linxens Holding | Method for producing a printed circuit, printed circuit obtained by this method and electronic module comprising such a printed circuit |
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