JPH0616006B2 - 材料試験機の荷重−伸び記録装置 - Google Patents
材料試験機の荷重−伸び記録装置Info
- Publication number
- JPH0616006B2 JPH0616006B2 JP15281585A JP15281585A JPH0616006B2 JP H0616006 B2 JPH0616006 B2 JP H0616006B2 JP 15281585 A JP15281585 A JP 15281585A JP 15281585 A JP15281585 A JP 15281585A JP H0616006 B2 JPH0616006 B2 JP H0616006B2
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- JP
- Japan
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- elongation
- load
- plotter
- axis
- extensometer
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- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 <産業上の利用分野> 本発明は、材料試験機における被試験体の荷重−伸び曲
線の記録装置に関する。
線の記録装置に関する。
<従来の技術> 材料試験、時に引張試験においては、一般に、被試験体
の荷重−伸び曲線からその材料の特性を解析するが、そ
の解析に当たっては特に伸びが所定値に達するまでの部
分が重要となる。そこで、被試験体に感度の異る伸び計
を2個装着し、伸びが所定値に達するまでは高感度の伸
び計からのデータを、所定値を越えると低感度の伸び計
からのデータを採用して、荷重検出器からのデータとに
よって、プロッタで荷重−伸び曲線を記録させることが
従来から行われている。
の荷重−伸び曲線からその材料の特性を解析するが、そ
の解析に当たっては特に伸びが所定値に達するまでの部
分が重要となる。そこで、被試験体に感度の異る伸び計
を2個装着し、伸びが所定値に達するまでは高感度の伸
び計からのデータを、所定値を越えると低感度の伸び計
からのデータを採用して、荷重検出器からのデータとに
よって、プロッタで荷重−伸び曲線を記録させることが
従来から行われている。
プロッタによる荷重−伸び曲線の記録は、従来、第5図
にフローチャートで示す如き手順によって実行されてい
る。すなわち、先ず、プロッタの伸びおよび荷重に対応
する軸(以下、伸び軸および荷重軸と称する)のカウン
タ値PcおよびPc′を0に設定する。そして、伸びお
よび荷重のデータEiおよびLiのサンプリングごと
に、各軸の位置を移動させてプロットするが、その方法
は、例えば伸びに関して、サンプリングデータEiと用
いている伸び計の測定範囲フルケール値fs,および
プロッタの伸び軸位置カウンタのフルスケール位置にお
ける値FSから、 Dc=(Ei/fs)×Fs …(1) なる値(以下、データカウント値と称する)を算出す
る。そして、このDcと現時点における伸び軸カウンタ
の値Pcとを比較し、その差ΔPcだけ伸び軸の位置を
移動させる。荷重軸に関しても同様である。
にフローチャートで示す如き手順によって実行されてい
る。すなわち、先ず、プロッタの伸びおよび荷重に対応
する軸(以下、伸び軸および荷重軸と称する)のカウン
タ値PcおよびPc′を0に設定する。そして、伸びお
よび荷重のデータEiおよびLiのサンプリングごと
に、各軸の位置を移動させてプロットするが、その方法
は、例えば伸びに関して、サンプリングデータEiと用
いている伸び計の測定範囲フルケール値fs,および
プロッタの伸び軸位置カウンタのフルスケール位置にお
ける値FSから、 Dc=(Ei/fs)×Fs …(1) なる値(以下、データカウント値と称する)を算出す
る。そして、このDcと現時点における伸び軸カウンタ
の値Pcとを比較し、その差ΔPcだけ伸び軸の位置を
移動させる。荷重軸に関しても同様である。
<発明が解決しようとする問題点> 以上のような従来の記録方式で、試験過程において上述
の如く伸び計を高感度のものから低感度のものに切換え
た場合、その記録結果は第6図に示す如く、曲線が途切
れ、かつ、切換え前後の曲線が重複してしまう場合があ
って、読み取りにくいという問題が生ずる。
の如く伸び計を高感度のものから低感度のものに切換え
た場合、その記録結果は第6図に示す如く、曲線が途切
れ、かつ、切換え前後の曲線が重複してしまう場合があ
って、読み取りにくいという問題が生ずる。
この現象は、高感度伸び計の測定範囲フルスケール値を
h,低感度伸び計のそれをlとしたとき、h>
lであるから、双方の伸び計について(1)式で得られる
Dc値は相違し、その結果、第6図に示す如く、伸びが
Evに達したときに切換えたとすると、伸び軸のプロッ
ト位置がA点からB点へと移動する為である。
h,低感度伸び計のそれをlとしたとき、h>
lであるから、双方の伸び計について(1)式で得られる
Dc値は相違し、その結果、第6図に示す如く、伸びが
Evに達したときに切換えたとすると、伸び軸のプロッ
ト位置がA点からB点へと移動する為である。
本発明の目的は、試験の途中で伸び計を感度の異るもの
に切換えても、連続した荷重−伸び曲線が得られる記録
装置を提供することにある。
に切換えても、連続した荷重−伸び曲線が得られる記録
装置を提供することにある。
<問題点を解決する為の手段> 本発明の構成を、第1図に示す基本概念図に基づいて説
明する。
明する。
被試験体Wに感度の異る複数の伸び計1,2を装着す
る。この伸び計のうち、試験の進行に伴って順次選択さ
れる一個の伸び計の出力と、荷重検出器3の出力とか
ら、プロッタ4の伸び軸および荷重軸の位置を、それぞ
れあらかじめ設定された出力値−プロッタ軸位置関係に
基づいて、伸び軸位置決定手段aおよび荷重軸位置決定
手段bにより決定し、被試験体Wの荷重−伸び曲線を記
録する。設定変更手段cは、選択により採用する伸び計
を切換える時点において、その時点から用いる伸び計の
その時点における出力値によるプロッタ4の伸び軸位置
が、その時点における伸び軸の位置、すなわち、その時
点まで用いられていた伸び計のその時点における出力値
に基づく伸び軸位置、と一致するよう、伸び軸位置決定
手段aの設定を変更する。
る。この伸び計のうち、試験の進行に伴って順次選択さ
れる一個の伸び計の出力と、荷重検出器3の出力とか
ら、プロッタ4の伸び軸および荷重軸の位置を、それぞ
れあらかじめ設定された出力値−プロッタ軸位置関係に
基づいて、伸び軸位置決定手段aおよび荷重軸位置決定
手段bにより決定し、被試験体Wの荷重−伸び曲線を記
録する。設定変更手段cは、選択により採用する伸び計
を切換える時点において、その時点から用いる伸び計の
その時点における出力値によるプロッタ4の伸び軸位置
が、その時点における伸び軸の位置、すなわち、その時
点まで用いられていた伸び計のその時点における出力値
に基づく伸び軸位置、と一致するよう、伸び軸位置決定
手段aの設定を変更する。
<作用> 採用する伸び計を切換える時点において、プロッタ4の
伸び軸位置と出力値との関係を自動的に再設定すること
により、伸び計の感度が変わっても連続的な荷重−伸び
曲線を得ることできる。
伸び軸位置と出力値との関係を自動的に再設定すること
により、伸び計の感度が変わっても連続的な荷重−伸び
曲線を得ることできる。
<実施例> 本発明の実施例を、以下、図面に基づいて説明する。
第2図は本発明実施例の構成図である。
被試験体Wは材料試験機のつかみ具9a,9bによって
把持された状態で引張荷重が与えられる。被試験体Wに
は、高感度伸び計1および低感度伸び計2が装着されて
おり、これらの出力はそれぞれの伸び計のアンプ11お
よび21と,切換スイッチ8,A−D変換器6を介して
制御部5へ採り込まれる。また、荷重検出部3の出力は
荷重アンプ31,A−D変換器7を介して制御部5に採
り込まれる。
把持された状態で引張荷重が与えられる。被試験体Wに
は、高感度伸び計1および低感度伸び計2が装着されて
おり、これらの出力はそれぞれの伸び計のアンプ11お
よび21と,切換スイッチ8,A−D変換器6を介して
制御部5へ採り込まれる。また、荷重検出部3の出力は
荷重アンプ31,A−D変換器7を介して制御部5に採
り込まれる。
制御部5はマイクロコピュータで構成され、CPU5
1,ROM52,RAM53および入出力ポート54等
を備え、A−D変換器6,7からの伸び,荷重データを
採り込むとともに、後述する如く、荷重−伸び曲線を記
録する為のプロッタ4への駆動指令を与えることができ
る。
1,ROM52,RAM53および入出力ポート54等
を備え、A−D変換器6,7からの伸び,荷重データを
採り込むとともに、後述する如く、荷重−伸び曲線を記
録する為のプロッタ4への駆動指令を与えることができ
る。
高感度伸び計1と低感度伸び計2からのデータのいずれ
を荷重−伸び曲線の伸びデータとして採用するかは、制
御部5からの指令に基づく切換スイッチ8の作動によ
り、その切換時点はあらかじめ、例えば伸びのデータが
Evに達した時点等として設定されている。
を荷重−伸び曲線の伸びデータとして採用するかは、制
御部5からの指令に基づく切換スイッチ8の作動によ
り、その切換時点はあらかじめ、例えば伸びのデータが
Evに達した時点等として設定されている。
第3図ROM52に書き込まれたプログラムを示すフロ
ーチャートで、この図を参照しつつ本発明実施例の作用
を説明する。なお、試験開始当初において、高感度伸び
計1からのデータが採用されているものとする。
ーチャートで、この図を参照しつつ本発明実施例の作用
を説明する。なお、試験開始当初において、高感度伸び
計1からのデータが採用されているものとする。
先ず、プロッタ4の伸び軸のカウンタ値Pcおよび荷重
軸のカウンタ値Pc′を0に設定する。そして、伸びお
よび荷重のデジタル変換データEiおよびLiを採取す
るごとに、各種の位置を移動させてプロットするが、荷
重軸に関しては従来と全く同様な手法による。伸び軸に
関して、データEiを採取すると、そのデータEiが伸
び計の切換点Evに達するまでは、高感度伸び計1の測
定範囲フルスケール値をh,プロッタ4の伸び軸カウ
ンタのフルスケール位置における値とFSとすると、 Dc=(Ei/h)×FS …(2) なるデータカウント値を算出し、そのDcと現時点にお
ける伸び軸のカウンタ値Pcとの差ΔPcだけ伸び軸の
位置を移動する。ここまでは従来と同様である。
軸のカウンタ値Pc′を0に設定する。そして、伸びお
よび荷重のデジタル変換データEiおよびLiを採取す
るごとに、各種の位置を移動させてプロットするが、荷
重軸に関しては従来と全く同様な手法による。伸び軸に
関して、データEiを採取すると、そのデータEiが伸
び計の切換点Evに達するまでは、高感度伸び計1の測
定範囲フルスケール値をh,プロッタ4の伸び軸カウ
ンタのフルスケール位置における値とFSとすると、 Dc=(Ei/h)×FS …(2) なるデータカウント値を算出し、そのDcと現時点にお
ける伸び軸のカウンタ値Pcとの差ΔPcだけ伸び軸の
位置を移動する。ここまでは従来と同様である。
EiがEvに達すると、切換スイッチ8を駆動すると同
時に、その時点における伸び軸カウンタ値Pcを、低感
度伸び計2の測定範囲フルスケール値lを用いて、次
の(3)式で示す如く変更する。
時に、その時点における伸び軸カウンタ値Pcを、低感
度伸び計2の測定範囲フルスケール値lを用いて、次
の(3)式で示す如く変更する。
Pc=(Ev/l)×FS …(3) そして、データカウント値Dcの算出は、切換え以後、 Dc=(Ei/l)×FS …(4) に変更する。従って、Ei=Evの時点においては、
(3),(4)から、 Pc=Dc …(5) であるから、この切換時点において伸び軸が移動するこ
とがない。
(3),(4)から、 Pc=Dc …(5) であるから、この切換時点において伸び軸が移動するこ
とがない。
その結果、得られた荷重−伸び曲線は、第4図に示す如
く、連続したものとなる。なお、このようにして得られ
た荷重−伸び曲線においては、伸び計の切変え前後にお
いて伸び軸のスケールが異るので、この切換点を示すマ
ークをプロッタによって自動的に付するよう構成するこ
とが好ましい。
く、連続したものとなる。なお、このようにして得られ
た荷重−伸び曲線においては、伸び計の切変え前後にお
いて伸び軸のスケールが異るので、この切換点を示すマ
ークをプロッタによって自動的に付するよう構成するこ
とが好ましい。
以上の実施例においては、伸び計を高感度および低感度
の2種類を装着した例を示したが、3個以上の感度の異
る伸び計を装着して、順次切換えていく場合において
も、同様な処理によって連続的な荷重−伸び曲線が得ら
れることは云うまでもない。
の2種類を装着した例を示したが、3個以上の感度の異
る伸び計を装着して、順次切換えていく場合において
も、同様な処理によって連続的な荷重−伸び曲線が得ら
れることは云うまでもない。
<効果> 以上説明したように、本発明によれば、感度の異る複数
の伸び計のうちの一つの出力と、荷重検出器の出力とか
ら、プロッタにより荷重−伸び曲線を記録するに当り、
採用する伸び計を切換えると同時に、プロッタの伸び軸
位置を自動的に再設定して、切換時点における伸び軸の
位置を移動させないよう構成したから、従来のように曲
線が重なり合うことがなく、極めて読み取り易くなっ
た。
の伸び計のうちの一つの出力と、荷重検出器の出力とか
ら、プロッタにより荷重−伸び曲線を記録するに当り、
採用する伸び計を切換えると同時に、プロッタの伸び軸
位置を自動的に再設定して、切換時点における伸び軸の
位置を移動させないよう構成したから、従来のように曲
線が重なり合うことがなく、極めて読み取り易くなっ
た。
第1図は本発明の構成を示す基本概念図、第2図は本発
明実施例の構成図、第3図はそのROM52に書き込ま
れたプログラムを示すフローチャート、第4図は本発明
実施例により記録された荷重−伸び曲線の例を示すグラ
フ、第5図は従来装置における荷重−伸び曲線の記録手
順を示すフローチャート、第6図は従来装置によって記
録された荷重−伸び曲線の例を示すグラフである。 1……高感度伸び計、2……低感度伸び計 3……荷重検出器、4……プロッタ 5……制御部、6,7……A−D変換器 8……切換えスイッチ
明実施例の構成図、第3図はそのROM52に書き込ま
れたプログラムを示すフローチャート、第4図は本発明
実施例により記録された荷重−伸び曲線の例を示すグラ
フ、第5図は従来装置における荷重−伸び曲線の記録手
順を示すフローチャート、第6図は従来装置によって記
録された荷重−伸び曲線の例を示すグラフである。 1……高感度伸び計、2……低感度伸び計 3……荷重検出器、4……プロッタ 5……制御部、6,7……A−D変換器 8……切換えスイッチ
Claims (1)
- 【請求項1】被試験体に感度の異る複数の伸び計を装着
し、荷重検出器の出力と、上記複数の伸び計のうち試験
の進行に伴って順次選択される一個の伸び計の出力とか
ら、プロッタの荷重対応軸および伸び対応軸の位置を、
それぞれについてあらかじめ設定された出力値−プロッ
タ軸位置関係に基づいて決定することにより、被試験体
の荷重−伸び曲線を記録する装置において、上記伸び計
の選択の切換時点において、その時点から用いる伸び計
のその時点における出力値による上記プロッタの伸び対
応軸の位置が、その時点における伸び対応軸の位置と一
致するよう、伸び対応軸についての上記出力値−プロッ
タ軸位置関係を設定変更する手段を備えたことを特徴と
する、材料試験機の荷重−伸び記録装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15281585A JPH0616006B2 (ja) | 1985-07-10 | 1985-07-10 | 材料試験機の荷重−伸び記録装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15281585A JPH0616006B2 (ja) | 1985-07-10 | 1985-07-10 | 材料試験機の荷重−伸び記録装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6212832A JPS6212832A (ja) | 1987-01-21 |
| JPH0616006B2 true JPH0616006B2 (ja) | 1994-03-02 |
Family
ID=15548759
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15281585A Expired - Lifetime JPH0616006B2 (ja) | 1985-07-10 | 1985-07-10 | 材料試験機の荷重−伸び記録装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0616006B2 (ja) |
-
1985
- 1985-07-10 JP JP15281585A patent/JPH0616006B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6212832A (ja) | 1987-01-21 |
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