JPH06161378A - 液晶表示装置検査装置 - Google Patents
液晶表示装置検査装置Info
- Publication number
- JPH06161378A JPH06161378A JP31692992A JP31692992A JPH06161378A JP H06161378 A JPH06161378 A JP H06161378A JP 31692992 A JP31692992 A JP 31692992A JP 31692992 A JP31692992 A JP 31692992A JP H06161378 A JPH06161378 A JP H06161378A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- liquid crystal
- crystal display
- display device
- inspection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 液晶表示装置検査装置の高性能化を目的とす
る。 【構成】 液晶表示装置検査装置において、液晶表示装
置の表示画面にあらかじめ決められたパターンを表示さ
せ、該表示画面を複数の領域に分割し、該領域を撮像す
る手段と該手段の出力を画像処理する手段と該手段の出
力により検査を行う演算処理手段とを備えた。
る。 【構成】 液晶表示装置検査装置において、液晶表示装
置の表示画面にあらかじめ決められたパターンを表示さ
せ、該表示画面を複数の領域に分割し、該領域を撮像す
る手段と該手段の出力を画像処理する手段と該手段の出
力により検査を行う演算処理手段とを備えた。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、液晶表示装置を検査す
る装置の改良に関するものである。
る装置の改良に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】これまで商品化されているカラー液晶テ
レビやＯＡ用ディスプレイなどの液晶表示装置は、一般
的に液晶表示素子と液晶駆動回路とバックライトなどか
ら構成されている。
レビやＯＡ用ディスプレイなどの液晶表示装置は、一般
的に液晶表示素子と液晶駆動回路とバックライトなどか
ら構成されている。
【０００３】ところで、液晶表示装置が正常に動作する
ためには、各構成部が良品でなければならないことはも
ちろんであり、更に各構成部が組み合わされた後に、液
晶表示装置を実際に点灯動作チェックを行ない、検査す
る必要がある。
ためには、各構成部が良品でなければならないことはも
ちろんであり、更に各構成部が組み合わされた後に、液
晶表示装置を実際に点灯動作チェックを行ない、検査す
る必要がある。
【０００４】従来、液晶表示装置の表示欠陥（線欠陥、
点欠陥、ムラ等）を検査する場合には、人による目視検
査で行われており、検査精度、検査品質等に問題があっ
た。そこで、液晶表示装置の表示状態を撮像カメラによ
り観察し、この観察結果から表示欠陥を検出する方法が
開発されている。
点欠陥、ムラ等）を検査する場合には、人による目視検
査で行われており、検査精度、検査品質等に問題があっ
た。そこで、液晶表示装置の表示状態を撮像カメラによ
り観察し、この観察結果から表示欠陥を検出する方法が
開発されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、液晶表
示素子、バックライト、駆動回路などの影響により、画
面全体を同一色に同一濃度でベタ表示した場合でも、微
妙に濃度のバラツキを生じる。特に、製品個々に各機種
毎にバックライトの照度分布の差の影響により大きく濃
度差を生じる場合もある。更に、液晶特有の視野角の影
響により、カメラレンズを通し、撮像カメラで撮像した
場合、撮像画像に一定方向のほぼリニアな濃度差を生じ
る。以上の理由により、表示欠陥の認識が困難となる。
これを防ぐためにあらかじめ良品の液晶表示装置の表示
状態を記憶しておき、検査画像の補正を行う、というシ
ェーディング補正という手段であるが、各液晶表示装置
のバックライトのバラツキがあり、十分補正できない欠
点があった。
示素子、バックライト、駆動回路などの影響により、画
面全体を同一色に同一濃度でベタ表示した場合でも、微
妙に濃度のバラツキを生じる。特に、製品個々に各機種
毎にバックライトの照度分布の差の影響により大きく濃
度差を生じる場合もある。更に、液晶特有の視野角の影
響により、カメラレンズを通し、撮像カメラで撮像した
場合、撮像画像に一定方向のほぼリニアな濃度差を生じ
る。以上の理由により、表示欠陥の認識が困難となる。
これを防ぐためにあらかじめ良品の液晶表示装置の表示
状態を記憶しておき、検査画像の補正を行う、というシ
ェーディング補正という手段であるが、各液晶表示装置
のバックライトのバラツキがあり、十分補正できない欠
点があった。
【０００６】また特願昭６３−１３６０８６等の従来例
での液晶パネル検査装置では液晶パネルの欠陥検査は行
えるが、液晶パネル、ＴＡＢ、回路、バックライトを含
めた総合的評価検査が不可能であった。
での液晶パネル検査装置では液晶パネルの欠陥検査は行
えるが、液晶パネル、ＴＡＢ、回路、バックライトを含
めた総合的評価検査が不可能であった。
【０００７】本発明は、このような問題点を解決した液
晶表示装置検査装置である。
晶表示装置検査装置である。
【０００８】
【課題を解決するための手段】液晶製品としての総合的
評価検査を行う液晶表示装置検査装置において、液晶表
示装置の表示画面にあらかじめ決められたパターンを表
示させ、該表示画面を複数の領域に分割し、分割された
それぞれの領域を撮像領域とするとき、該撮像領域を撮
像する撮像部と、該撮像部の出力を高速に画像処理する
画像処理部と該画像処理部の出力により検査を行う演算
処理部とを備えたことを特徴とする液晶表示装置検査装
置である。
評価検査を行う液晶表示装置検査装置において、液晶表
示装置の表示画面にあらかじめ決められたパターンを表
示させ、該表示画面を複数の領域に分割し、分割された
それぞれの領域を撮像領域とするとき、該撮像領域を撮
像する撮像部と、該撮像部の出力を高速に画像処理する
画像処理部と該画像処理部の出力により検査を行う演算
処理部とを備えたことを特徴とする液晶表示装置検査装
置である。
【０００９】
【作用】このような手段を備えた事により、演算処理部
から液晶表示装置駆動部に液晶表示装置に表示する検査
パターンを指示し、表示された検査パターンを撮像部で
撮像し、この出力を画像処理部で画像処理し、画像処理
部で得られた特徴データから演算処理部で判定を行う事
で、液晶表示装置の表示欠陥の検出が可能となる。
から液晶表示装置駆動部に液晶表示装置に表示する検査
パターンを指示し、表示された検査パターンを撮像部で
撮像し、この出力を画像処理部で画像処理し、画像処理
部で得られた特徴データから演算処理部で判定を行う事
で、液晶表示装置の表示欠陥の検出が可能となる。
【００１０】
【実施例】以下図１〜図３を用いて本発明の一実施例を
説明する。
説明する。
【００１１】図１に本発明である液晶表示装置検査装置
の簡略構成図を示す。図外のＸＹテーブルに載置された
液晶表示装置２０の上方位置には、液晶表示装置２０を
撮影する撮像カメラ１０が配置されている。この撮像カ
メラ１０は例えば白黒用のＣＣＤカメラ等からなり、検
査部の画像のデータを所定のタイミングで後述する判定
部５０に出力するような構成となっている。
の簡略構成図を示す。図外のＸＹテーブルに載置された
液晶表示装置２０の上方位置には、液晶表示装置２０を
撮影する撮像カメラ１０が配置されている。この撮像カ
メラ１０は例えば白黒用のＣＣＤカメラ等からなり、検
査部の画像のデータを所定のタイミングで後述する判定
部５０に出力するような構成となっている。
【００１２】液晶表示装置２０に検査用パターンを表示
するため、液晶表示装置駆動回路部５５に接続されてい
る。液晶表示パターンは、演算処理部５４にあらかじめ
プログラミングされており、所定の検査タイミングで液
晶表示装置駆動部５５へ指示し、液晶表示装置２０に検
査用表示パターンを表示させる。液晶表示装置駆動部５
５は、液晶表示装置２０のインターフェイス回路で構成
されている。
するため、液晶表示装置駆動回路部５５に接続されてい
る。液晶表示パターンは、演算処理部５４にあらかじめ
プログラミングされており、所定の検査タイミングで液
晶表示装置駆動部５５へ指示し、液晶表示装置２０に検
査用表示パターンを表示させる。液晶表示装置駆動部５
５は、液晶表示装置２０のインターフェイス回路で構成
されている。
【００１３】撮像カメラ１０の出力段に接続された判定
部５０は、マイクロコンピュータを主構成とする回路で
あって、撮像カメラ１０のアナログ出力をデジタル信号
へ変換するＡ／Ｄ変換部５１、そのデジタル信号を格納
する画像メモリ５２、その画像データから特徴データを
抽出する画像処理部５３、その特徴データから判定を行
う演算処理部５４からなっている。即ち、画像メモリ５
２には、液晶表示装置の画像データが取り込まれ、格納
された画像データは、あらかじめ画像処理部５３に登録
されている画像処理アルゴリズムに従って処理され、特
徴データが抽出される。画像処理アルゴリズムプログラ
ムは、演算処理部５４から容易に変更、修正可能となっ
ている。この特徴データを演算処理部５４によって必要
な計算、判定が行われる。
部５０は、マイクロコンピュータを主構成とする回路で
あって、撮像カメラ１０のアナログ出力をデジタル信号
へ変換するＡ／Ｄ変換部５１、そのデジタル信号を格納
する画像メモリ５２、その画像データから特徴データを
抽出する画像処理部５３、その特徴データから判定を行
う演算処理部５４からなっている。即ち、画像メモリ５
２には、液晶表示装置の画像データが取り込まれ、格納
された画像データは、あらかじめ画像処理部５３に登録
されている画像処理アルゴリズムに従って処理され、特
徴データが抽出される。画像処理アルゴリズムプログラ
ムは、演算処理部５４から容易に変更、修正可能となっ
ている。この特徴データを演算処理部５４によって必要
な計算、判定が行われる。
【００１４】図２に演算処理部５４における画像処理ア
ルゴリズム例を示す。ＣＰＵ（中央演算処理部）５４
１、ＣＰＵ用メモリ５４２、ディスプレイやディスプレ
イコントロール等からなる表示部５４３、ハードディス
クやフロッピーディスク等からなる外部記憶部５４４、
キーボードやマウスやパラレルＩ／Ｏインターフェイス
等からなる入出力部５４５とＲＳ−２３２Ｃ等からなる
通信部５４６で構成されている。上記の各部分は、シス
テムバスで結合されており、ＣＰＵ５４１により管理さ
れている。例えば、画像処理部５３への演算命令の出力
や特徴データの入力や液晶表示装置駆動回路５５の出力
は、入出力部５４５を通して行われ、ＸＹテーブルの制
御は通信部５４６を通して行われる。
ルゴリズム例を示す。ＣＰＵ（中央演算処理部）５４
１、ＣＰＵ用メモリ５４２、ディスプレイやディスプレ
イコントロール等からなる表示部５４３、ハードディス
クやフロッピーディスク等からなる外部記憶部５４４、
キーボードやマウスやパラレルＩ／Ｏインターフェイス
等からなる入出力部５４５とＲＳ−２３２Ｃ等からなる
通信部５４６で構成されている。上記の各部分は、シス
テムバスで結合されており、ＣＰＵ５４１により管理さ
れている。例えば、画像処理部５３への演算命令の出力
や特徴データの入力や液晶表示装置駆動回路５５の出力
は、入出力部５４５を通して行われ、ＸＹテーブルの制
御は通信部５４６を通して行われる。
【００１５】次に、上記のように構成された液晶表示装
置検査装置の動作説明を行う。
置検査装置の動作説明を行う。
【００１６】まず、検査用表示パターンを液晶表示装置
２０へ表示させる。例えば、検査用表示パターンは、何
種類か用意されており、最適な表示パターンを選択可能
とする。
２０へ表示させる。例えば、検査用表示パターンは、何
種類か用意されており、最適な表示パターンを選択可能
とする。
【００１７】そこで、撮像領域３０に検査を行なう領域
が入るよう図外のＸＹテーブルを動かす。撮像カメラ１
０で撮像した撮像信号は、Ａ／Ｄ変換部５１でデジタル
画像データに変換され、画像メモリ部５２に格納され、
画像処理部５３によって処理され、特徴データが抽出さ
れる。
が入るよう図外のＸＹテーブルを動かす。撮像カメラ１
０で撮像した撮像信号は、Ａ／Ｄ変換部５１でデジタル
画像データに変換され、画像メモリ部５２に格納され、
画像処理部５３によって処理され、特徴データが抽出さ
れる。
【００１８】図３に本実施例においての演算処理部のフ
ローチャート図を示す。まず、で撮像した原画像を大
型平滑化（画像Ａ）する。
ローチャート図を示す。まず、で撮像した原画像を大
型平滑化（画像Ａ）する。
【００１９】画像処理で大型平滑化は公知の手法で、注
目する点の濃度値をその点の周囲の点の濃度値の平均値
とする手法で、図４では７×７の行列を使用したが、実
際は最適なサイズを選択する。
目する点の濃度値をその点の周囲の点の濃度値の平均値
とする手法で、図４では７×７の行列を使用したが、実
際は最適なサイズを選択する。
【００２０】大型平滑化を何回か行うとミクロな領域の
情報は失われるが、画像全体のマクロな画像濃度分布は
残る。で原画像と大型平滑化した画像Ａとの差をとる
と、画面の濃度バラツキが補正される。しかし、原画像
のミクロな情報、即ち、表示欠陥等は残り、検出しやす
くなる。ではで得られた画像をあらかじめ経験的に
得られたしきい値で２値化する。表示欠陥部を１にその
ほか部分を０に変換する。では収縮、膨張などの画像
処理でノイズ除去を行う。で１の部分、即ち、表示欠
陥部の位置を求め、欠陥の検出を行い、この結果を演算
処理部に送る。
情報は失われるが、画像全体のマクロな画像濃度分布は
残る。で原画像と大型平滑化した画像Ａとの差をとる
と、画面の濃度バラツキが補正される。しかし、原画像
のミクロな情報、即ち、表示欠陥等は残り、検出しやす
くなる。ではで得られた画像をあらかじめ経験的に
得られたしきい値で２値化する。表示欠陥部を１にその
ほか部分を０に変換する。では収縮、膨張などの画像
処理でノイズ除去を行う。で１の部分、即ち、表示欠
陥部の位置を求め、欠陥の検出を行い、この結果を演算
処理部に送る。
【００２１】以上の動作を液晶表示装置２０の全表示部
の検査が終了するまで繰り返し、液晶表示装置１枚の検
査を行う。
の検査が終了するまで繰り返し、液晶表示装置１枚の検
査を行う。
【００２２】なお、本発明は、上記実施例に限定され
ず、撮像カメラが白黒ＣＣＤカメラの場合について説明
したが、例えば、カラーＣＣＤカメラを用いても実現可
能である。
ず、撮像カメラが白黒ＣＣＤカメラの場合について説明
したが、例えば、カラーＣＣＤカメラを用いても実現可
能である。
【００２３】
【発明の効果】本発明によれば、製品個々に各機種毎に
バラツキを持った液晶表示装置でも十分信頼性の高い検
査が可能となる。更に画像処理部で特徴データが抽出さ
れるため、演算処理部でのデータ処理量が非常に少なく
て済み、さらに、画像処理部と演算処理部とを並列処理
可能なため高速検査が実現できる。
バラツキを持った液晶表示装置でも十分信頼性の高い検
査が可能となる。更に画像処理部で特徴データが抽出さ
れるため、演算処理部でのデータ処理量が非常に少なく
て済み、さらに、画像処理部と演算処理部とを並列処理
可能なため高速検査が実現できる。
【図１】本発明における液晶表示装置検査装置の簡略構
成図である。
成図である。
【図２】本発明の一実施例においての画像処理部におけ
る画像処理アルゴリズム例を示す図である。
る画像処理アルゴリズム例を示す図である。
【図３】本発明の実施例においての演算処理部のフロー
チャート図である。
チャート図である。
【図４】本発明の実施例においての大型平滑化例を示す
図である。
図である。
１０ 撮像カメラ ２０ 液晶表示装置 ３０ 撮像領域 ５０ 判定部 ５１ Ａ／Ｄ変換部 ５２ 画像メモリ ５３ 画像処理部 ５４ 演算処理部 ５５ 液晶表示装置駆動回路
Claims (1)
- 【請求項１】 液晶製品としての総合的評価検査を行う
液晶表示装置検査装置において、液晶表示装置の表示画
面にあらかじめ決められたパターンを表示させ、該表示
画面を複数の領域に分割し、分割されたそれぞれの領域
を撮像領域とするとき、該撮像領域を撮像する撮像部
と、該撮像部の出力を高速に画像処理する画像処理部
と、該画像処理部の出力により検査を行う演算処理部と
を備えたことを特徴とする液晶表示装置検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31692992A JPH06161378A (ja) | 1992-11-26 | 1992-11-26 | 液晶表示装置検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31692992A JPH06161378A (ja) | 1992-11-26 | 1992-11-26 | 液晶表示装置検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06161378A true JPH06161378A (ja) | 1994-06-07 |
Family
ID=18082500
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31692992A Pending JPH06161378A (ja) | 1992-11-26 | 1992-11-26 | 液晶表示装置検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06161378A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100480074B1 (ko) * | 2002-12-10 | 2005-04-07 | 엘지전자 주식회사 | 이동 통신 단말기의 엘시디 상태조정 방법 |
| KR100753318B1 (ko) * | 2005-08-30 | 2007-08-29 | 산요덴키가부시키가이샤 | 표시 장치 |
| JP2009036582A (ja) * | 2007-07-31 | 2009-02-19 | Toshiba Corp | 平面表示パネルの検査方法、検査装置及び検査プログラム |
-
1992
- 1992-11-26 JP JP31692992A patent/JPH06161378A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100480074B1 (ko) * | 2002-12-10 | 2005-04-07 | 엘지전자 주식회사 | 이동 통신 단말기의 엘시디 상태조정 방법 |
| KR100753318B1 (ko) * | 2005-08-30 | 2007-08-29 | 산요덴키가부시키가이샤 | 표시 장치 |
| JP2009036582A (ja) * | 2007-07-31 | 2009-02-19 | Toshiba Corp | 平面表示パネルの検査方法、検査装置及び検査プログラム |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2008180696A (ja) | 欠陥検出装置、欠陥検出方法、イメージセンサデバイス、イメージセンサモジュール、欠陥検出プログラム、およびコンピュータ読取可能な記録媒体 | |
| KR100759950B1 (ko) | 외관 검사 방법 및 그 장치 | |
| JP2004132950A (ja) | 外観検査装置及び外観検査方法 | |
| US11080860B2 (en) | Image inspection method | |
| JPH06161378A (ja) | 液晶表示装置検査装置 | |
| JPH11257937A (ja) | 欠陥検査方法 | |
| JPH0682377A (ja) | 半導体の外観検査装置 | |
| JP3584507B2 (ja) | パタンムラ検査装置 | |
| JPH0735699A (ja) | 表面欠陥検出方法およびその装置 | |
| JP2000162089A (ja) | 画面検査方法と装置 | |
| JP2004163113A (ja) | 電子回路用部品の外観検査装置 | |
| JP3433333B2 (ja) | 欠陥検査方法 | |
| JPS6385432A (ja) | 線状欠陥の検査方法 | |
| JP2003203218A (ja) | 外観検査装置および方法 | |
| JP2728789B2 (ja) | カラー固体撮像素子の検査装置 | |
| JP2004085543A (ja) | 外観検査装置及び外観検査方法 | |
| JPH0682724B2 (ja) | ウエハ欠陥検査装置 | |
| JP2002140695A (ja) | 検査方法およびその装置 | |
| JPH06259036A (ja) | 液晶表示装置検査装置 | |
| JP4121628B2 (ja) | 画面検査方法及びその装置 | |
| JP3604974B2 (ja) | 画面検査方法 | |
| JP3190173B2 (ja) | 半導体装置の外観検査方法および外観検査装置 | |
| JP2004163115A (ja) | 電子回路用部品の外観検査方法及び電子回路用部品の製造方法 | |
| JPH0777495A (ja) | パターン検査方法 | |
| JPH064665A (ja) | 境界抽出方法および装置 |