JPH06162979A - 磁界界浸型電子銃 - Google Patents
磁界界浸型電子銃Info
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- JPH06162979A JPH06162979A JP5211848A JP21184893A JPH06162979A JP H06162979 A JPH06162979 A JP H06162979A JP 5211848 A JP5211848 A JP 5211848A JP 21184893 A JP21184893 A JP 21184893A JP H06162979 A JPH06162979 A JP H06162979A
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- electron gun
- electrostatic lens
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 長手の電子銃の静電レンズ系の収差を十分に
低減した磁界界浸型電子銃を提供する。 【構成】 陰極から引き出された電子ビームを集束する
電界を発生する静電レンズと、電子ビームの周囲に配置
されて、静電レンズの収差による電子ビーム系の広がり
を防止するためにこのビームを集束させる磁界を発生す
る磁界発生手段と、磁界の強度のピーク値が静電レンズ
における収差が最も顕著になる場所に一致するような位
置に磁界発生手段を移動させる移動手段と、を備える。 【効果】 全長が長い静電レンズ系を備える電界放出型
電子銃であっても、効率良く静電レンズ系のレンズ効果
を抑制することが可能になり、球面及び色収差の低い電
子銃を提供することができる。
低減した磁界界浸型電子銃を提供する。 【構成】 陰極から引き出された電子ビームを集束する
電界を発生する静電レンズと、電子ビームの周囲に配置
されて、静電レンズの収差による電子ビーム系の広がり
を防止するためにこのビームを集束させる磁界を発生す
る磁界発生手段と、磁界の強度のピーク値が静電レンズ
における収差が最も顕著になる場所に一致するような位
置に磁界発生手段を移動させる移動手段と、を備える。 【効果】 全長が長い静電レンズ系を備える電界放出型
電子銃であっても、効率良く静電レンズ系のレンズ効果
を抑制することが可能になり、球面及び色収差の低い電
子銃を提供することができる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、走査電子顕微鏡(SE
M)、電子ビーム露光装置、寸法測定走査電子顕微鏡等
の電子ビームを用いる電子ビーム応用装置に使用される
電界放出型電子銃の改良に関する。
M)、電子ビーム露光装置、寸法測定走査電子顕微鏡等
の電子ビームを用いる電子ビーム応用装置に使用される
電界放出型電子銃の改良に関する。
【0002】
【従来の技術】上記電子ビーム応用装置においては、電
子ビームを発生する電子銃が重要な役割を担っている。
この電子銃に、従来の熱陰極に比べて輝度の高い電界放
出型電子銃が用いられるようになってきている。電界放
出型電子銃の陰極の先端は非常に小さな針状(半径1μ
m以下)になっており、電子は陰極から放射状に出射
し、発散する。このため、大電流を得るためには大きな
開き角の電子ビームが必要となり、電子銃の持つ静電レ
ンズ系の球面収差のために電子ビーム径が広がる。その
結果、輝度が低下する。そこで、電子銃の陰極を含めた
静電レンズ系に磁界を重畳させて電子ビームを集束さ
せ、静電レンズの収差の低減を行っている。このような
構造の電子銃は、磁界界浸型電子銃と呼ばれる。
子ビームを発生する電子銃が重要な役割を担っている。
この電子銃に、従来の熱陰極に比べて輝度の高い電界放
出型電子銃が用いられるようになってきている。電界放
出型電子銃の陰極の先端は非常に小さな針状(半径1μ
m以下)になっており、電子は陰極から放射状に出射
し、発散する。このため、大電流を得るためには大きな
開き角の電子ビームが必要となり、電子銃の持つ静電レ
ンズ系の球面収差のために電子ビーム径が広がる。その
結果、輝度が低下する。そこで、電子銃の陰極を含めた
静電レンズ系に磁界を重畳させて電子ビームを集束さ
せ、静電レンズの収差の低減を行っている。このような
構造の電子銃は、磁界界浸型電子銃と呼ばれる。
【0003】図11は、磁界界浸型電子銃の一例を示し
ている。この電子銃は、陰極101、第1陽極102及
び第2陽極103によって構成される3電極電界放出型
電子銃である。第2陽極103は、真空容器104と接
続されて接地される。陰極101には、真空容器104
に対して負の加速電圧が電源105により印加される。
更に、陰極101は電源107によって加熱される。第
1陽極102は、陰極101に対して正電圧になるよう
に電源106に接続される。
ている。この電子銃は、陰極101、第1陽極102及
び第2陽極103によって構成される3電極電界放出型
電子銃である。第2陽極103は、真空容器104と接
続されて接地される。陰極101には、真空容器104
に対して負の加速電圧が電源105により印加される。
更に、陰極101は電源107によって加熱される。第
1陽極102は、陰極101に対して正電圧になるよう
に電源106に接続される。
【0004】真空容器104の外部に単極磁界レンズ1
08が設置され、電子銃に磁界を重畳する。この単極磁
界レンズ108は、磁束を発生するコイル109及び磁
路を形成する磁性体110によって構成される。
08が設置され、電子銃に磁界を重畳する。この単極磁
界レンズ108は、磁束を発生するコイル109及び磁
路を形成する磁性体110によって構成される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従来使用されている磁
界界浸型電子銃の静電レンズ系は、陰極と陽極からなる
2極電子銃、あるいは陰極、第1及び第2陽極からなる
3極電子銃である。かかる構成の電子銃では、電極の数
が少なく、電子銃全体の長さ(陰極から陽極までの距
離)も短いため、陰極近傍に磁界を重畳することで球面
収差の低減を図っている。
界界浸型電子銃の静電レンズ系は、陰極と陽極からなる
2極電子銃、あるいは陰極、第1及び第2陽極からなる
3極電子銃である。かかる構成の電子銃では、電極の数
が少なく、電子銃全体の長さ(陰極から陽極までの距
離)も短いため、陰極近傍に磁界を重畳することで球面
収差の低減を図っている。
【0006】一方、電子ビーム応用機器において、エミ
ッション電流と、クロスオーバ位置(焦点位置)とを独
立に設定する必要性が生じたことから、エミッション電
流を決定する引出電極とクロスオーバ位置を決定するレ
ンズ電極を独立して持つ電子銃が使用されるようになっ
た。ところが、陰極、引出電極、レンズ電極及び陽極か
らなる4極構造の電子銃を用いた磁界界浸型電子銃を構
成する場合には、従来の陰極近傍に磁界を重畳させる磁
界界浸型電子銃では、球面収差を十分に低減することが
できない。これは、4電極以上の多電極構造では電極の
数が多く、電子銃の長さも長くなるため、収差の発生す
る箇所が陰極近傍に集中しなくなったためと考えられ
る。また、静電レンズ系の全体に渡って高い磁界強度を
得るためには、磁界を発生させる電磁石あるいは永久磁
石の規模が大きくなってしまい、実用性に欠ける。
ッション電流と、クロスオーバ位置(焦点位置)とを独
立に設定する必要性が生じたことから、エミッション電
流を決定する引出電極とクロスオーバ位置を決定するレ
ンズ電極を独立して持つ電子銃が使用されるようになっ
た。ところが、陰極、引出電極、レンズ電極及び陽極か
らなる4極構造の電子銃を用いた磁界界浸型電子銃を構
成する場合には、従来の陰極近傍に磁界を重畳させる磁
界界浸型電子銃では、球面収差を十分に低減することが
できない。これは、4電極以上の多電極構造では電極の
数が多く、電子銃の長さも長くなるため、収差の発生す
る箇所が陰極近傍に集中しなくなったためと考えられ
る。また、静電レンズ系の全体に渡って高い磁界強度を
得るためには、磁界を発生させる電磁石あるいは永久磁
石の規模が大きくなってしまい、実用性に欠ける。
【0007】例えば、特開平2−37651号公報に開
示された『電子銃』によれば、陰極と第1乃至第3電極
とから3局部を構成する電子銃において、第2電極の電
子ビーム通過孔の近傍、かつ第2電極の軸方向の厚み範
囲内に、電子ビームのビーム径を縮小する磁界を発生す
る永久磁石を配置している。この公報に開示された図1
を参照すれば直ちに理解できるように、断面U字状に形
成された第2電極の溝内に永久磁石が配置され、この永
久磁石により発生させられる磁界が電子ビームの束の大
きさを細くして主レンズの球面収差を改善している。
示された『電子銃』によれば、陰極と第1乃至第3電極
とから3局部を構成する電子銃において、第2電極の電
子ビーム通過孔の近傍、かつ第2電極の軸方向の厚み範
囲内に、電子ビームのビーム径を縮小する磁界を発生す
る永久磁石を配置している。この公報に開示された図1
を参照すれば直ちに理解できるように、断面U字状に形
成された第2電極の溝内に永久磁石が配置され、この永
久磁石により発生させられる磁界が電子ビームの束の大
きさを細くして主レンズの球面収差を改善している。
【0008】よって、本発明の目的は、磁界界浸型電子
銃において、電子銃の持つ静電レンズ系の収差が十分に
低くなるように、磁界を重畳させた磁界界浸型電子銃を
提供することである。
銃において、電子銃の持つ静電レンズ系の収差が十分に
低くなるように、磁界を重畳させた磁界界浸型電子銃を
提供することである。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本発明の磁界界浸型電子銃は、中心軸を有する真空容器
と、上記真空容器の中心軸上に配置されて電子ビームを
発生する陰極と、発生した上記電子ビームに上記中心軸
方向に加速する電界を与えて電子ビームの通路を形成す
る陽極と、上記陰極及び上記陽極相互間に配置されて、
加速された上記電子ビームを上記中心軸上に集束する電
界を発生する静電レンズと、上記電子ビーム通路を囲む
ように配置されて、収差低減のために電子ビームを収束
させる磁界を発生する磁界発生手段と、上記静電レンズ
における収差が顕著になる場所に磁界強度がピーク値と
なる場所が一致するように前記磁界発生手段を移動させ
る移動手段と、を備えることを特徴とする。
本発明の磁界界浸型電子銃は、中心軸を有する真空容器
と、上記真空容器の中心軸上に配置されて電子ビームを
発生する陰極と、発生した上記電子ビームに上記中心軸
方向に加速する電界を与えて電子ビームの通路を形成す
る陽極と、上記陰極及び上記陽極相互間に配置されて、
加速された上記電子ビームを上記中心軸上に集束する電
界を発生する静電レンズと、上記電子ビーム通路を囲む
ように配置されて、収差低減のために電子ビームを収束
させる磁界を発生する磁界発生手段と、上記静電レンズ
における収差が顕著になる場所に磁界強度がピーク値と
なる場所が一致するように前記磁界発生手段を移動させ
る移動手段と、を備えることを特徴とする。
【0010】
【作用】電界放出型電子銃のもつ静電レンズ系の収差が
発生する場所に磁界を重畳して磁界によって電子ビーム
を収束し、静電レンズ系を補うことによって、長手の電
子銃における電子ビームの収差を低減すると共に、前記
収差が最も顕著に発生する箇所と磁界の強度がピークと
なる箇所とを一致させるように磁界発生手段を移動させ
るので、静電レンズ系により発生する収差を的確に補正
する。
発生する場所に磁界を重畳して磁界によって電子ビーム
を収束し、静電レンズ系を補うことによって、長手の電
子銃における電子ビームの収差を低減すると共に、前記
収差が最も顕著に発生する箇所と磁界の強度がピークと
なる箇所とを一致させるように磁界発生手段を移動させ
るので、静電レンズ系により発生する収差を的確に補正
する。
【0011】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。図1は、本発明の第1実施例に係る磁界界
浸型電子銃200の構成を示す断面図であり、該電子銃
の陰極201には、例えば酸化ジルコニウム/タングス
テン(ZrO/W)よりなるエミッタが用いられてい
る。陰極201は、電源210から供給される電流によ
って加熱され、熱電界放出モードで動作する。陰極20
1から不要方向への電子の放出を抑制するために、陰極
201全体を覆うようにサプレッサ電極202が設けら
れている。このサプレッサ電極202には、陰極201
に対してサプレッサ電極202の電圧が−250〜−3
50[V]になるように電源211から負電圧が印加さ
れる。サプレッサ電極202内に組立てられた陰極20
1には、サプレッサ電極202の開口部から電子銃の中
心軸方向に放出される電子ビームを陽極205の方向に
加速するべく電源214によって陰極−陽極間加速電圧
が印加される。サプレッサ電極202は、セラミックス
で形成された絶縁碍子206の上に固定されて、筒状の
上部真空容器215の上端部の真空フランジ216に取
付けられる。上部真空容器215及び真空フランジ21
6間には、メタル・Oリングが真空状態を保つための真
空シールとして使用されている。
て説明する。図1は、本発明の第1実施例に係る磁界界
浸型電子銃200の構成を示す断面図であり、該電子銃
の陰極201には、例えば酸化ジルコニウム/タングス
テン(ZrO/W)よりなるエミッタが用いられてい
る。陰極201は、電源210から供給される電流によ
って加熱され、熱電界放出モードで動作する。陰極20
1から不要方向への電子の放出を抑制するために、陰極
201全体を覆うようにサプレッサ電極202が設けら
れている。このサプレッサ電極202には、陰極201
に対してサプレッサ電極202の電圧が−250〜−3
50[V]になるように電源211から負電圧が印加さ
れる。サプレッサ電極202内に組立てられた陰極20
1には、サプレッサ電極202の開口部から電子銃の中
心軸方向に放出される電子ビームを陽極205の方向に
加速するべく電源214によって陰極−陽極間加速電圧
が印加される。サプレッサ電極202は、セラミックス
で形成された絶縁碍子206の上に固定されて、筒状の
上部真空容器215の上端部の真空フランジ216に取
付けられる。上部真空容器215及び真空フランジ21
6間には、メタル・Oリングが真空状態を保つための真
空シールとして使用されている。
【0012】陰極201に近接し、かつ、陰極201の
中心線を共有するように筒状の引出電極203が配置さ
れる。引出電極203は、例えば陰極201から0.5
[mm]の位置であり、電源212によって4000〜
5000[V]の正電圧が印加される。引出電極203
に続いて電子銃の焦点(クロスオーバ位置)を決定する
筒状のレンズ電極204が配置される。レンズ電極20
4には出力可変な電源213から設定に応じた電圧が印
加される。レンズ電極204に続いて陽極205が配置
される。陽極205は、筒状の下部真空容器217に固
定され、下部真空容器217は接地されている。引出電
極203、レンズ電極204及び陽極205は、各々の
中心軸が一致するようにセラミックによって筒状に形成
された絶縁部品207によって固定される。これによ
り、各電極の機械的精度及び電気的絶縁が保たれる。絶
縁部品207は、下部真空容器217の上端部に固定さ
れる。上部真空容器215の下端部及び下部真空容器2
17の上端部相互間には、メタル・Oリングが真空状態
を保つための真空シールとして使用されている。陰極2
01、サプレッサ電極202、引出電極203、レンズ
電極204及び陽極205によって3電極構造の静電レ
ンズ系が構成される。この静電レンズ系は、特に、レン
ズ電極204が引出電極203側に偏った位置にある非
対称レンズ系を構成している。
中心線を共有するように筒状の引出電極203が配置さ
れる。引出電極203は、例えば陰極201から0.5
[mm]の位置であり、電源212によって4000〜
5000[V]の正電圧が印加される。引出電極203
に続いて電子銃の焦点(クロスオーバ位置)を決定する
筒状のレンズ電極204が配置される。レンズ電極20
4には出力可変な電源213から設定に応じた電圧が印
加される。レンズ電極204に続いて陽極205が配置
される。陽極205は、筒状の下部真空容器217に固
定され、下部真空容器217は接地されている。引出電
極203、レンズ電極204及び陽極205は、各々の
中心軸が一致するようにセラミックによって筒状に形成
された絶縁部品207によって固定される。これによ
り、各電極の機械的精度及び電気的絶縁が保たれる。絶
縁部品207は、下部真空容器217の上端部に固定さ
れる。上部真空容器215の下端部及び下部真空容器2
17の上端部相互間には、メタル・Oリングが真空状態
を保つための真空シールとして使用されている。陰極2
01、サプレッサ電極202、引出電極203、レンズ
電極204及び陽極205によって3電極構造の静電レ
ンズ系が構成される。この静電レンズ系は、特に、レン
ズ電極204が引出電極203側に偏った位置にある非
対称レンズ系を構成している。
【0013】上部真空容器215の外側に、サプレッサ
電極202、引出電極203、レンズ電極204及び陽
極205を経由して形成される電子ビーム通路を一周し
て囲むように、電磁石コイル208及び磁性体209か
らなる環状の電磁石220が設けられる。電磁石コイル
208には可変電流源22から駆動電流が供給される。
磁性体209によって構成される磁路は、電磁石コイル
208によって発生した磁束の発散を抑制する。また、
磁路の形状は電極の中心軸上における磁界強度を高め、
かつ、磁界強度を局所化するためにその形状が工夫され
ている。電磁石220の位置は、上部真空容器215の
中心軸方向Zにおいて移動可能であり、静電レンズ系の
収差が発生する場所に磁界の最大値となる部分が位置す
るように設定される。静電レンズ系の収差が発生する部
分は、加速電圧、引出電極電圧によって大きく変化す
る。このため、電磁石220の電子銃200に対する相
対的位置を自由に設定できるように、電磁石220を電
子銃200の中心軸方向Zにおいて移動する移動機構2
21を備える。移動機構221は、モータ、歯車、ネジ
機構等によって構成される。
電極202、引出電極203、レンズ電極204及び陽
極205を経由して形成される電子ビーム通路を一周し
て囲むように、電磁石コイル208及び磁性体209か
らなる環状の電磁石220が設けられる。電磁石コイル
208には可変電流源22から駆動電流が供給される。
磁性体209によって構成される磁路は、電磁石コイル
208によって発生した磁束の発散を抑制する。また、
磁路の形状は電極の中心軸上における磁界強度を高め、
かつ、磁界強度を局所化するためにその形状が工夫され
ている。電磁石220の位置は、上部真空容器215の
中心軸方向Zにおいて移動可能であり、静電レンズ系の
収差が発生する場所に磁界の最大値となる部分が位置す
るように設定される。静電レンズ系の収差が発生する部
分は、加速電圧、引出電極電圧によって大きく変化す
る。このため、電磁石220の電子銃200に対する相
対的位置を自由に設定できるように、電磁石220を電
子銃200の中心軸方向Zにおいて移動する移動機構2
21を備える。移動機構221は、モータ、歯車、ネジ
機構等によって構成される。
【0014】ここで、静電レンズ系における収差の発生
する箇所について説明する。近軸軌道を用いた静電レン
ズの収差係数は次式で与えられる。
する箇所について説明する。近軸軌道を用いた静電レン
ズの収差係数は次式で与えられる。
【0015】
【数1】 ここで、CSO、CCOは物面側での球面及び色収差係数で
ある。Z0 、Zi は物面及び像面位置である。rαは近
軸軌道である。V、V´及びV''は夫々Z軸上の電位分
布、その一回微分及び二回微分である。V(Z0 )は物
面における電位である。この積分方程式の積分子の分布
を見ることで、レンズの軸上での収差の発生する箇所を
同定することができる。
ある。Z0 、Zi は物面及び像面位置である。rαは近
軸軌道である。V、V´及びV''は夫々Z軸上の電位分
布、その一回微分及び二回微分である。V(Z0 )は物
面における電位である。この積分方程式の積分子の分布
を見ることで、レンズの軸上での収差の発生する箇所を
同定することができる。
【0016】図2は、このような手法によって上記した
静電レンズ系の収差を求めた例を示しており、同図
(a)は、静電レンズ系の構造を示している。同図
(b)は、陰極を−1[kV]、引出電極電圧を4[k
V]、レンズ電極電圧を1.3[kV]、陽極を0
[V]としたときの、球面収差積分子の分布を同図
(a)の構造に対応して、陰極位置を距離0として示し
ている。また、同図(b)は、同じ条件における色収差
係数の積分子の分布を同図(a)の構造に対応して同様
に示している。
静電レンズ系の収差を求めた例を示しており、同図
(a)は、静電レンズ系の構造を示している。同図
(b)は、陰極を−1[kV]、引出電極電圧を4[k
V]、レンズ電極電圧を1.3[kV]、陽極を0
[V]としたときの、球面収差積分子の分布を同図
(a)の構造に対応して、陰極位置を距離0として示し
ている。また、同図(b)は、同じ条件における色収差
係数の積分子の分布を同図(a)の構造に対応して同様
に示している。
【0017】これ等の電圧条件における積分子の分布
は、球面及び色収差に引出電極とレンズ電極間のZ=1
5[mm]にピークを持つ分布になっている。このピー
クが収差係数を決定している。これより、収差は引出電
極203とレンズ電極204の間に局所的に発生するこ
とが判る。これは、引出電極203からレンズ電極20
4にかけての電位の変化が激しく、V´、V''が大きく
なってしまい、この結果積分子が増大したためである。
電位分布の変化は陰極電圧、引出電圧、レンズ電極電
圧、陽極電圧の電圧条件によって大きく変化し、その結
果積分子の分布も大きく変化する。そのため、収差の発
生する箇所も各電極電圧条件によって静電レンズ系全域
に渡って大きく変化する。そこで、電子ビーム通路を一
周する電磁石220によって収差を補う磁界を与える。
は、球面及び色収差に引出電極とレンズ電極間のZ=1
5[mm]にピークを持つ分布になっている。このピー
クが収差係数を決定している。これより、収差は引出電
極203とレンズ電極204の間に局所的に発生するこ
とが判る。これは、引出電極203からレンズ電極20
4にかけての電位の変化が激しく、V´、V''が大きく
なってしまい、この結果積分子が増大したためである。
電位分布の変化は陰極電圧、引出電圧、レンズ電極電
圧、陽極電圧の電圧条件によって大きく変化し、その結
果積分子の分布も大きく変化する。そのため、収差の発
生する箇所も各電極電圧条件によって静電レンズ系全域
に渡って大きく変化する。そこで、電子ビーム通路を一
周する電磁石220によって収差を補う磁界を与える。
【0018】第1実施例に示すような磁極構造である
と、4電極構造のような静電レンズ系の全長が長い電界
放出型電子銃においても効率良く静電レンズのレンズ効
果を弱め、静電レンズ系の収差の発生する部分に局所的
に磁界強度を高めた磁界を重畳して収差を抑制すること
ができる。また、磁界の軸上分布と静電レンズ系の相対
位置を移動機構221によって可変出来る。これによ
り、各電極の印加電圧に対して収差の発生する位置に磁
界分布の最大値であるピーク部分を設定し、可変電流源
222によってピーク値を調整することで、収差が最小
になるような電子銃の最適化を行うことができる。
と、4電極構造のような静電レンズ系の全長が長い電界
放出型電子銃においても効率良く静電レンズのレンズ効
果を弱め、静電レンズ系の収差の発生する部分に局所的
に磁界強度を高めた磁界を重畳して収差を抑制すること
ができる。また、磁界の軸上分布と静電レンズ系の相対
位置を移動機構221によって可変出来る。これによ
り、各電極の印加電圧に対して収差の発生する位置に磁
界分布の最大値であるピーク部分を設定し、可変電流源
222によってピーク値を調整することで、収差が最小
になるような電子銃の最適化を行うことができる。
【0019】なお、上記第1実施例では、磁界の発生源
として電磁石用のコイル208を用いているが、軸対称
のリング状永久磁石を用いても良い。その材料として
は、残留磁束密度が10Kガウス以上のサマリウム・コ
バルト(SmCo)磁石などの希土類磁石が好ましい。
永久磁石を用いた磁気回路を構成すると、電磁石用の定
電流源等が不要なため、装置を簡略化することが出来
る。また、磁気回路を取り付けたまま、真空チャンバ2
15へのベークも可能となる。更に、真空中でのガス放
出がないので永久磁石と磁性体からなる磁気回路を真空
チャンバ215内の真空空間に設置することが出来る。
この結果、電子銃全体の小型化が達成される。さらに、
上記第1実施例では、電子銃として4電極構造の静電レ
ンズ系を持つ電界放出型電子銃について説明したが、本
発明を2電極、3電極及び5電極以上の多電極構造の静
電レンズ系を持つ電子銃にも適用できる。また、上記第
1実施例では、非対称構造の静電レンズ系の場合につい
て説明したが、対称構造の静電レンズ系についても当然
にこの発明が適用可能である。
として電磁石用のコイル208を用いているが、軸対称
のリング状永久磁石を用いても良い。その材料として
は、残留磁束密度が10Kガウス以上のサマリウム・コ
バルト(SmCo)磁石などの希土類磁石が好ましい。
永久磁石を用いた磁気回路を構成すると、電磁石用の定
電流源等が不要なため、装置を簡略化することが出来
る。また、磁気回路を取り付けたまま、真空チャンバ2
15へのベークも可能となる。更に、真空中でのガス放
出がないので永久磁石と磁性体からなる磁気回路を真空
チャンバ215内の真空空間に設置することが出来る。
この結果、電子銃全体の小型化が達成される。さらに、
上記第1実施例では、電子銃として4電極構造の静電レ
ンズ系を持つ電界放出型電子銃について説明したが、本
発明を2電極、3電極及び5電極以上の多電極構造の静
電レンズ系を持つ電子銃にも適用できる。また、上記第
1実施例では、非対称構造の静電レンズ系の場合につい
て説明したが、対称構造の静電レンズ系についても当然
にこの発明が適用可能である。
【0020】次に、図3を参照しつつ上記第1実施例の
変形例としての第2実施例に係る磁界界浸型電子銃20
0Aについて説明する。この第2実施例に係る磁界界浸
型電子銃200Aは、電磁石220のZ方向の調整を行
なう移動機構221を自動的に移動させるための自動位
置検出制御機構223を備えている点に特徴を有する。
この自動位置検出制御機構223は、引出電極203用
の電源212、レンズ電極204用の電源213、及び
陰極−陽極間加速電圧印加用の電源214の設定値を夫
々入力して、この電子銃の引出電極203及びレンズ電
極204内における静電レンズ系の収差が最大となる箇
所を算出するものである。
変形例としての第2実施例に係る磁界界浸型電子銃20
0Aについて説明する。この第2実施例に係る磁界界浸
型電子銃200Aは、電磁石220のZ方向の調整を行
なう移動機構221を自動的に移動させるための自動位
置検出制御機構223を備えている点に特徴を有する。
この自動位置検出制御機構223は、引出電極203用
の電源212、レンズ電極204用の電源213、及び
陰極−陽極間加速電圧印加用の電源214の設定値を夫
々入力して、この電子銃の引出電極203及びレンズ電
極204内における静電レンズ系の収差が最大となる箇
所を算出するものである。
【0021】この第2実施例に係る磁界界浸型電子銃2
00Aの動作について説明する。自動位置検出制御機構
223は、上述のように静電レンズ系の収差が最大とな
る箇所を算出し、この算出された値に基づいて電磁石2
20の移動量を移動機構221へ指令する。移動機構2
21は、前記自動位置検出制御機構223からの制御信
号に基づいて例えばモータ等の回転を制御してZ軸方向
の最適位置に電磁石を移動させる。以上のようにして静
電レンズ系における収差が最も顕著となる箇所と電磁石
の磁界強度がピークとなる箇所とが一致する位置まで電
磁石220を移動させる。この電磁石220の移動によ
って磁界強度のピーク点が収差の最も顕著な箇所に一致
して静電レンズ系の収差が的確に補正される。
00Aの動作について説明する。自動位置検出制御機構
223は、上述のように静電レンズ系の収差が最大とな
る箇所を算出し、この算出された値に基づいて電磁石2
20の移動量を移動機構221へ指令する。移動機構2
21は、前記自動位置検出制御機構223からの制御信
号に基づいて例えばモータ等の回転を制御してZ軸方向
の最適位置に電磁石を移動させる。以上のようにして静
電レンズ系における収差が最も顕著となる箇所と電磁石
の磁界強度がピークとなる箇所とが一致する位置まで電
磁石220を移動させる。この電磁石220の移動によ
って磁界強度のピーク点が収差の最も顕著な箇所に一致
して静電レンズ系の収差が的確に補正される。
【0022】次に、図4乃至図6を用いてこの発明の第
3実施例に係る磁界界浸型電子銃200Bについて説明
する。この第3実施例の電子銃200Bは、真空容器内
の真空を維持するための排気手段としてのいわゆるイオ
ンポンプ250を備えている。このイオンポンプ250
は、上部真空容器215の途中箇所を外側に突出させて
形成した断面矩形形状のフランジ部215a内に設けら
れたイオンポンプ陽極251と、この陽極251に印加
される電圧を供給する陽極印加電源252と、前記陽極
251の上端及び下端に対向する前記フランジ部の内壁
に夫々設けられたチタン(Ti)製のリング板状陰極2
53と、により構成されている。
3実施例に係る磁界界浸型電子銃200Bについて説明
する。この第3実施例の電子銃200Bは、真空容器内
の真空を維持するための排気手段としてのいわゆるイオ
ンポンプ250を備えている。このイオンポンプ250
は、上部真空容器215の途中箇所を外側に突出させて
形成した断面矩形形状のフランジ部215a内に設けら
れたイオンポンプ陽極251と、この陽極251に印加
される電圧を供給する陽極印加電源252と、前記陽極
251の上端及び下端に対向する前記フランジ部の内壁
に夫々設けられたチタン(Ti)製のリング板状陰極2
53と、により構成されている。
【0023】上記イオンポンプが設けられる理由は、以
下の通りである。一般に電子銃の真空容器内は高真空状
態で維持されている必要がある。従来の電子光学鏡筒に
おいては、電子銃室に汎用のスパッタイオンポンプを取
り付けて排気を行なうことにより高真空を保っている。
電界放出型電子銃の場合、特に10-9Torr以下の超
高真空状態を必要としているため、真空容器内の排気を
どのように行なうかは最も重要な課題の1つである。上
記汎用スパッタイオンポンプは、ポンプを取付ける配管
系のコンダクタンス等によって実効排気速度が低下する
ので、超高真空状態を安定して維持するには不充分であ
った。この第3実施例で用いるイオンポンプ250は、
真空容器内の電子銃の周囲に配置された陽極及び陰極を
備えている。この構成により電子銃の周りを直接排気し
て超高真空状態を維持できるので、実効排気速度の高速
化と真空排気系の小型化が可能となる。このような排気
の高速化とシステムの小型化は、電界放出型電子銃の性
能向上の要請に合致するので、上述のようにイオンポン
プ及び電子銃/鏡筒を一体化したシステムは、将来その
重要性を増すことになろう。
下の通りである。一般に電子銃の真空容器内は高真空状
態で維持されている必要がある。従来の電子光学鏡筒に
おいては、電子銃室に汎用のスパッタイオンポンプを取
り付けて排気を行なうことにより高真空を保っている。
電界放出型電子銃の場合、特に10-9Torr以下の超
高真空状態を必要としているため、真空容器内の排気を
どのように行なうかは最も重要な課題の1つである。上
記汎用スパッタイオンポンプは、ポンプを取付ける配管
系のコンダクタンス等によって実効排気速度が低下する
ので、超高真空状態を安定して維持するには不充分であ
った。この第3実施例で用いるイオンポンプ250は、
真空容器内の電子銃の周囲に配置された陽極及び陰極を
備えている。この構成により電子銃の周りを直接排気し
て超高真空状態を維持できるので、実効排気速度の高速
化と真空排気系の小型化が可能となる。このような排気
の高速化とシステムの小型化は、電界放出型電子銃の性
能向上の要請に合致するので、上述のようにイオンポン
プ及び電子銃/鏡筒を一体化したシステムは、将来その
重要性を増すことになろう。
【0024】前記上部真空容器215の外周側には、前
記フランジ部215aにより外方へ突出する環状部が形
成されており、この環状部を覆うように磁界発生手段と
しての磁気回路255が形成される。この磁界発生手段
としての磁気回路255は、上部真空容器215の外周
側全体を覆う筒状の磁性体256と、磁性体256の上
端内壁に固定されたリング状の第1の永久磁石257
と、磁性体256の下端内壁に固定されたリング状の第
2の永久磁石258と、より構成されている。なお、こ
の第3実施例においては、第1の永久磁石257及び第
2の永久磁石258を用いているが、これらを夫々電磁
石に置換してもよい。この第3実施例の電子銃200B
は、第1実施例の電子銃200と比べて絶縁碍子206
が長尺なものにより構成されている点と、これに関連し
て磁界発生手段255が大型化されている点、及び前記
イオンポンプ250が設けられている点、等が他の実施
例との相違点であり、その他の基本的構成は第1実施例
の電子銃200と同一であるので重複説明を省略する。
記フランジ部215aにより外方へ突出する環状部が形
成されており、この環状部を覆うように磁界発生手段と
しての磁気回路255が形成される。この磁界発生手段
としての磁気回路255は、上部真空容器215の外周
側全体を覆う筒状の磁性体256と、磁性体256の上
端内壁に固定されたリング状の第1の永久磁石257
と、磁性体256の下端内壁に固定されたリング状の第
2の永久磁石258と、より構成されている。なお、こ
の第3実施例においては、第1の永久磁石257及び第
2の永久磁石258を用いているが、これらを夫々電磁
石に置換してもよい。この第3実施例の電子銃200B
は、第1実施例の電子銃200と比べて絶縁碍子206
が長尺なものにより構成されている点と、これに関連し
て磁界発生手段255が大型化されている点、及び前記
イオンポンプ250が設けられている点、等が他の実施
例との相違点であり、その他の基本的構成は第1実施例
の電子銃200と同一であるので重複説明を省略する。
【0025】次に、本発明の第3の実施例の動作につい
て説明する。この第3実施例では、磁界の発生源として
2片の軸対称のリング状永久磁石257及び258が用
いられる。永久磁石257及び258は電子銃200B
の中心軸方向に平行に設置され、リング状の両磁石は共
に軸方向において同一方向に磁化される。両磁石間は磁
性体256による磁路が形成される。2つの磁石257
及び258と磁性体256によって構成される磁気回路
255の中心軸上における磁界分布は図5(b)のグラ
フに示されるようになる。同グラフにおいて、磁界の強
さの最大ピーク位置は、縦軸の距離目盛が0として示さ
れる2片の磁石257及び258の中間の位置即ちイオ
ンポンプ陽極251の中間点にある。この位置から離れ
るに従って磁界の強さは減少し、磁力線の方向が反転
し、リング状磁石の端部で再度ピークを持つ分布を示
す。そこで、静電レンズ系の収差が発生する場所、例え
ば、図5(a)に示される引出電極203及びレンズ電
極204の中間点に、この磁界分布のピークの1つを位
置させる。図4に示される第3実施例においても、静電
レンズ系と磁気回路255の相対位置を移動機構221
によって変化させることが出来る。
て説明する。この第3実施例では、磁界の発生源として
2片の軸対称のリング状永久磁石257及び258が用
いられる。永久磁石257及び258は電子銃200B
の中心軸方向に平行に設置され、リング状の両磁石は共
に軸方向において同一方向に磁化される。両磁石間は磁
性体256による磁路が形成される。2つの磁石257
及び258と磁性体256によって構成される磁気回路
255の中心軸上における磁界分布は図5(b)のグラ
フに示されるようになる。同グラフにおいて、磁界の強
さの最大ピーク位置は、縦軸の距離目盛が0として示さ
れる2片の磁石257及び258の中間の位置即ちイオ
ンポンプ陽極251の中間点にある。この位置から離れ
るに従って磁界の強さは減少し、磁力線の方向が反転
し、リング状磁石の端部で再度ピークを持つ分布を示
す。そこで、静電レンズ系の収差が発生する場所、例え
ば、図5(a)に示される引出電極203及びレンズ電
極204の中間点に、この磁界分布のピークの1つを位
置させる。図4に示される第3実施例においても、静電
レンズ系と磁気回路255の相対位置を移動機構221
によって変化させることが出来る。
【0026】この第3実施例による電子銃においては、
静電レンズ系の収差が発生する引出電極203及びレン
ズ電極204の間に磁界のピークの1つを一致させるよ
うに構成した。即ち、図5において磁界の最大ピーク
(300Gauss )、及びこの最大ピークからの距離が±
50mm付近の2つのピーク(−150Gauss )のうち
の何れか1つを両電極203及び204の間に一致させ
るように構成している。
静電レンズ系の収差が発生する引出電極203及びレン
ズ電極204の間に磁界のピークの1つを一致させるよ
うに構成した。即ち、図5において磁界の最大ピーク
(300Gauss )、及びこの最大ピークからの距離が±
50mm付近の2つのピーク(−150Gauss )のうち
の何れか1つを両電極203及び204の間に一致させ
るように構成している。
【0027】図6は、静電レンズ系と磁気回路255の
相対位置を変化させたときの球面収差係数CSO及び色収
差係数CCOの変化を示すグラフである。このグラフの横
軸は2片の永久磁石257及び258の中間位置から陰
極までの距離を示し、縦軸はクロスオーバ位置を陰極か
ら40[mm]に固定した場合の物面側の球面収差係数
CSO及び色収差係数CCOの計算結果を示している。各収
差が最低となる位置は、磁界のピーク位置(2片の磁石
の中間位置)が陰極位置に来た場合ではなく、静電レン
ズ系の引出電極とレンズ電極の間に来た場合である。ク
ロスオーバ位置が陰極から40[mm]、加速電圧1.
0[kV]、引出電極電圧4.0[kV]における静電
レンズ系の収差は主に引出電極とレンズ電極の間で発生
しており、収差係数が最低になる磁界の最大値のピーク
位置と一致する。第3の実施例の磁気回路255の構造
では、中心軸上の磁界分布のピークは、2片のリング状
磁石の中間位置になる。この位置では外周は磁性体によ
って囲まれているため、磁界の径方向分布は中心軸近く
に偏り、その結果軸上磁界分布の強度が向上する。この
ため、図1に示した第1実施例に示されるような1片の
リング状磁石と磁性体からなる磁気回路を用いた場合に
比して、より高い軸上磁界分布を得ることが可能にな
る。
相対位置を変化させたときの球面収差係数CSO及び色収
差係数CCOの変化を示すグラフである。このグラフの横
軸は2片の永久磁石257及び258の中間位置から陰
極までの距離を示し、縦軸はクロスオーバ位置を陰極か
ら40[mm]に固定した場合の物面側の球面収差係数
CSO及び色収差係数CCOの計算結果を示している。各収
差が最低となる位置は、磁界のピーク位置(2片の磁石
の中間位置)が陰極位置に来た場合ではなく、静電レン
ズ系の引出電極とレンズ電極の間に来た場合である。ク
ロスオーバ位置が陰極から40[mm]、加速電圧1.
0[kV]、引出電極電圧4.0[kV]における静電
レンズ系の収差は主に引出電極とレンズ電極の間で発生
しており、収差係数が最低になる磁界の最大値のピーク
位置と一致する。第3の実施例の磁気回路255の構造
では、中心軸上の磁界分布のピークは、2片のリング状
磁石の中間位置になる。この位置では外周は磁性体によ
って囲まれているため、磁界の径方向分布は中心軸近く
に偏り、その結果軸上磁界分布の強度が向上する。この
ため、図1に示した第1実施例に示されるような1片の
リング状磁石と磁性体からなる磁気回路を用いた場合に
比して、より高い軸上磁界分布を得ることが可能にな
る。
【0028】次に、図7を用いてこの発明の第4実施例
に係る磁界界浸型電子銃200Cについて説明する。こ
の第4実施例に係る電子銃200Cは、第3実施例に係
る電子銃200Bと略々同一構成を有しており、異なる
点は第2実施例に係る電子銃200Aと同様の構成を有
する自動位置検出制御機構223を備えている点と、磁
界発生手段としての磁気回路255の永久磁石258が
電磁石259に置換されている点の2つである。
に係る磁界界浸型電子銃200Cについて説明する。こ
の第4実施例に係る電子銃200Cは、第3実施例に係
る電子銃200Bと略々同一構成を有しており、異なる
点は第2実施例に係る電子銃200Aと同様の構成を有
する自動位置検出制御機構223を備えている点と、磁
界発生手段としての磁気回路255の永久磁石258が
電磁石259に置換されている点の2つである。
【0029】最初の相違点である自動位置検出制御機構
223は、電源212,213及び214の夫々の設定
値に基づいて、前記磁気回路255の磁性体256をZ
方向に移動調整する移動機構221の駆動を制御してお
り、その構成及び動作は第2実施例で説明したものと同
一である。
223は、電源212,213及び214の夫々の設定
値に基づいて、前記磁気回路255の磁性体256をZ
方向に移動調整する移動機構221の駆動を制御してお
り、その構成及び動作は第2実施例で説明したものと同
一である。
【0030】更に、第3実施例における2片の磁石25
7、258のうち一方を永久磁石、他方を電磁石とし、
永久磁石257と電磁石259の合成磁界を静電レンズ
系に重畳させても、第3の実施例と同様な効果が得られ
る。この構造では、永久磁石を用いることで電子銃全体
の寸法の小形化、簡略化が達成できる。高い磁界を静電
レンズ系に重畳することが出来る。また、電磁石の磁界
強度を可変電流源222によって変化させることで、静
電レンズ系に重畳する磁界分布を変化させ、収差が発生
する任意の場所に、磁界分布の最大値を簡単に設定する
ことが出来る利点がある。
7、258のうち一方を永久磁石、他方を電磁石とし、
永久磁石257と電磁石259の合成磁界を静電レンズ
系に重畳させても、第3の実施例と同様な効果が得られ
る。この構造では、永久磁石を用いることで電子銃全体
の寸法の小形化、簡略化が達成できる。高い磁界を静電
レンズ系に重畳することが出来る。また、電磁石の磁界
強度を可変電流源222によって変化させることで、静
電レンズ系に重畳する磁界分布を変化させ、収差が発生
する任意の場所に、磁界分布の最大値を簡単に設定する
ことが出来る利点がある。
【0031】次に、図8及び図9を用いてこの発明の第
5実施例に係る磁界界浸型電子銃200Dについて説明
する。この第5実施例の電子銃200Dは、磁界発生手
段としての磁気回路300の構成が第1乃至第4実施例
の電子銃と異なっていると共に、引出電極203及びレ
ンズ電極204の中間点が磁気回路300を構成する磁
性体303の長手方向の略々中間点と一致するものであ
る。第3及び第4実施例の電子銃と同様に磁界発生手段
の外形が長尺な円筒タンク状となってはいるが、イオン
ポンプ250を備えていないので磁界強度の最大ピーク
に相当する箇所に静電レンズ系を配置することが可能と
なる。
5実施例に係る磁界界浸型電子銃200Dについて説明
する。この第5実施例の電子銃200Dは、磁界発生手
段としての磁気回路300の構成が第1乃至第4実施例
の電子銃と異なっていると共に、引出電極203及びレ
ンズ電極204の中間点が磁気回路300を構成する磁
性体303の長手方向の略々中間点と一致するものであ
る。第3及び第4実施例の電子銃と同様に磁界発生手段
の外形が長尺な円筒タンク状となってはいるが、イオン
ポンプ250を備えていないので磁界強度の最大ピーク
に相当する箇所に静電レンズ系を配置することが可能と
なる。
【0032】図8において、下部真空容器217の中央
部分は、静電レンズ系の台座のように図の上方へ立上が
っている。この台座の上に絶縁部品207が設置され
て、この絶縁部品207には引出電極203、レンズ電
極204及び陽極205が第1乃至第4実施例の電子銃
と同様に取付けられている。
部分は、静電レンズ系の台座のように図の上方へ立上が
っている。この台座の上に絶縁部品207が設置され
て、この絶縁部品207には引出電極203、レンズ電
極204及び陽極205が第1乃至第4実施例の電子銃
と同様に取付けられている。
【0033】磁気回路300は、上部側の電磁石301
と、下部側の電磁石302と、これら電磁石301及び
302が夫々上端及び下端の内壁に取付けられる磁性体
303と、より構成されている。電磁石302は、第4
実施例と同様に可変電流源222に接続されており、ま
た、電磁石301も可変電流源333に接続されてい
る。
と、下部側の電磁石302と、これら電磁石301及び
302が夫々上端及び下端の内壁に取付けられる磁性体
303と、より構成されている。電磁石302は、第4
実施例と同様に可変電流源222に接続されており、ま
た、電磁石301も可変電流源333に接続されてい
る。
【0034】以上の構成を有する第5実施例の電子銃2
00Dによれば、図9に示すように、磁気回路300に
より発生させられる磁界の3つのピーク点のうち最大の
ピーク値を有する箇所と、静電レンズ系の収差が最も顕
著となる引出電極203とレンズ電極204との中間点
と、を一致させることが比較的容易に実現できる。
00Dによれば、図9に示すように、磁気回路300に
より発生させられる磁界の3つのピーク点のうち最大の
ピーク値を有する箇所と、静電レンズ系の収差が最も顕
著となる引出電極203とレンズ電極204との中間点
と、を一致させることが比較的容易に実現できる。
【0035】なお、上記第5実施例においては、磁界の
発生源として電磁石301及び302を用いているが、
これらを軸対象の2片のリング状永久磁石により置換し
ても良い。
発生源として電磁石301及び302を用いているが、
これらを軸対象の2片のリング状永久磁石により置換し
ても良い。
【0036】最後に、この発明の第6実施例に係る磁界
界浸型電子銃200Eを図10に従い説明する。この第
6実施例の電子銃200Eが、この発明における最良の
実施態様である。第6実施例の電子銃200Eは、基本
的には第5実施例の電子銃200Dと同じ構成を有して
いる。異なる点は、磁界発生手段としての磁気回路30
0の磁性体303を所望の位置までZ方向に移動させる
移動機構221を自動制御する自動位置検出制御機構2
23を備えているところである。この自動位置検出制御
機構223は、第2及び第4実施例と同様に、電源21
2,213及び214の夫々の設定値に基づいて移動機
構221に駆動制御指令を出力する。移動機構221
は、この駆動制御指令に基づいて例えばモータ等を所定
量回転させて磁気回路300を移動させる。これによ
り、静電レンズ系の収差の最も顕著な点と、磁界強度の
ピーク点とを一致させることができる。
界浸型電子銃200Eを図10に従い説明する。この第
6実施例の電子銃200Eが、この発明における最良の
実施態様である。第6実施例の電子銃200Eは、基本
的には第5実施例の電子銃200Dと同じ構成を有して
いる。異なる点は、磁界発生手段としての磁気回路30
0の磁性体303を所望の位置までZ方向に移動させる
移動機構221を自動制御する自動位置検出制御機構2
23を備えているところである。この自動位置検出制御
機構223は、第2及び第4実施例と同様に、電源21
2,213及び214の夫々の設定値に基づいて移動機
構221に駆動制御指令を出力する。移動機構221
は、この駆動制御指令に基づいて例えばモータ等を所定
量回転させて磁気回路300を移動させる。これによ
り、静電レンズ系の収差の最も顕著な点と、磁界強度の
ピーク点とを一致させることができる。
【0037】なお、この第6実施例においては、第5実
施例と異なり可変電流源222及び333の電流の変化
についても自動位置検出制御機構223からの制御信号
に基づいて制御するようにしている。このように構成す
ることにより、静電レンズ系に重畳される磁界分布を電
磁石301及び302に夫々供給される電流の夫々の強
弱変化によっても変更することができるようになり、磁
界のピーク点の位置調整を磁気回路のZ方向の移動と連
携して磁界強度の調整を行なうことが可能となる。
施例と異なり可変電流源222及び333の電流の変化
についても自動位置検出制御機構223からの制御信号
に基づいて制御するようにしている。このように構成す
ることにより、静電レンズ系に重畳される磁界分布を電
磁石301及び302に夫々供給される電流の夫々の強
弱変化によっても変更することができるようになり、磁
界のピーク点の位置調整を磁気回路のZ方向の移動と連
携して磁界強度の調整を行なうことが可能となる。
【0038】
【発明の効果】本発明の電子銃においては、4電極構造
のような全長が長い静電レンズ系を備える電界放出型電
子銃であっても、静電レンズ系における収差発生場所に
局所的に強い磁界を重畳することができるため、効率良
く静電レンズ系のレンズ効果を抑制することが可能にな
り、球面収差の低い多電極の電子銃を提供することがで
きる。
のような全長が長い静電レンズ系を備える電界放出型電
子銃であっても、静電レンズ系における収差発生場所に
局所的に強い磁界を重畳することができるため、効率良
く静電レンズ系のレンズ効果を抑制することが可能にな
り、球面収差の低い多電極の電子銃を提供することがで
きる。
【0039】また、レンズ軸上の磁界分布と静電レンズ
系の相対位置を変更できるため、各電極の印加電圧に対
して収差が発生する位置に磁界の最大位置を設定して収
差を最小に抑制して電子銃の最適化を図ることができ
る。
系の相対位置を変更できるため、各電極の印加電圧に対
して収差が発生する位置に磁界の最大位置を設定して収
差を最小に抑制して電子銃の最適化を図ることができ
る。
【0040】また、複数個の軸対称のリング状磁石の外
周を磁性体で繋ぎ磁路を構成することにより、磁性体の
外部への磁界の漏れを抑えると共に、軸上磁界分布の強
度を高めることが出来る。その結果、効率良く静電レン
ズ系に磁界を重畳することが可能になる。
周を磁性体で繋ぎ磁路を構成することにより、磁性体の
外部への磁界の漏れを抑えると共に、軸上磁界分布の強
度を高めることが出来る。その結果、効率良く静電レン
ズ系に磁界を重畳することが可能になる。
【0041】更に、電磁石と永久磁石の合成磁界を用い
ることで磁界分布を可変に出来るため、収差の発生する
任意の位置に、磁界の最大値を簡単に設定することが可
能になる。
ることで磁界分布を可変に出来るため、収差の発生する
任意の位置に、磁界の最大値を簡単に設定することが可
能になる。
【0042】また、自動位置検出制御手段を用いること
により、磁界強度のピーク点とレンズ収差の顕著な点と
の相対位置を容易かつ自動的に一致させることが可能と
なる。
により、磁界強度のピーク点とレンズ収差の顕著な点と
の相対位置を容易かつ自動的に一致させることが可能と
なる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例を示す断面図。
【図2】実施例における静電レンズ系の収差積分の積分
子の分布を示すグラフ。
子の分布を示すグラフ。
【図3】本発明の第2の実施例を示す断面図。
【図4】本発明の第3の実施例を示す断面図。
【図5】第3の実施例の中心軸上における磁界分布を示
すグラフ。
すグラフ。
【図6】第3の実施例における収差係数の分布を示すグ
ラフ。
ラフ。
【図7】本発明の第4の実施例を示す断面図。
【図8】本発明の第5の実施例を示す断面図。
【図9】第5の実施例の中心軸上における磁界分布を示
すグラフ。
すグラフ。
【図10】本発明の第6の実施例を示す断面図。
【図11】従来の磁界界浸型電子銃の例を示す断面図。
201 陰極 202 サプレッサ電極 203 引出電極 204 レンズ電極 205 陽極 206 絶縁碍子 207 絶縁筒 208 コイル 209,256,303 磁性体 221 移動機構 222,333 可変電流源 223 自動位置検出制御機構 255,300 磁界発生手段(磁気回路) 257,258 リング状永久磁石 259,301,302 電磁石(コイル)
Claims (7)
- 【請求項1】中心軸を有する真空容器と、 前記真空容器の中心軸上に配置されて電子ビームを発生
する陰極と、 発生した前記電子ビームを前記中心軸方向に加速して電
子ビームの通路を形成する陽極と、 前記陰極及び前記陽極相互間に配置されて、加速された
前記電子ビームを前記中心軸上に集束する電界を発生す
る静電レンズと、 前記電子ビームの周囲に配置されて、この電子ビームを
収束させる磁界を発生する磁界発生手段と、 前記磁界発生手段により発生した磁界の強度のピーク値
が前記静電レンズにおける収差が最も顕著となる箇所と
一致する位置に前記磁界発生手段を移動させる移動手段
と、を備えることを特徴とする磁界界浸型電子銃。 - 【請求項2】前記静電レンズは、前記陰極に近接して配
置されて前記電子ビームを引き出す引出電極と、この引
出電極に続いて配置されて前記電子ビームを集束するレ
ンズ電極とからなることを特徴とする請求項1記載の磁
界界浸型電子銃。 - 【請求項3】前記磁界発生手段は、前記電子ビームの通
路方向に所定の間隔を有して設けられた複数個の磁石を
備えたことを特徴とする請求項1及び2のいずれか1つ
に記載の磁界界浸型電子銃。 - 【請求項4】前記磁界発生手段は、電磁石及び永久磁石
のいずれか一方あるいは両方を用いることを特徴とする
請求項1乃至3のいずれか1つに記載の磁界界浸型電子
銃。 - 【請求項5】前記磁界発生手段は、前記複数個の磁石を
磁性体で繋ぐ磁路を有し、磁界強度のピークが前記複数
個の磁石の中間点を含む位置にあることを特徴とする請
求項4に記載の磁界界浸型電子銃。 - 【請求項6】前記真空容器内の前記複数個の磁石の中間
点を含む位置に、該真空容器内の真空状態を維持する排
気手段が設けられていることを特徴とする請求項4また
は5に記載の磁界界浸型電子銃。 - 【請求項7】前記真空容器及び静電レンズ用の複数の電
源の設定値に基づいて前記静電レンズ内で収差が最大と
なる箇所を算出して前記移動手段の駆動を自動制御する
自動位置決め制御手段を更に備えることを特徴とする請
求項1乃至6のいずれか1つに記載の磁界界浸型電子
銃。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5211848A JP2835265B2 (ja) | 1992-08-27 | 1993-08-26 | 磁界界浸型電子銃及び磁界界浸型電子銃操作方法 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22868592 | 1992-08-27 | ||
| JP4-228685 | 1992-08-27 | ||
| JP5211848A JP2835265B2 (ja) | 1992-08-27 | 1993-08-26 | 磁界界浸型電子銃及び磁界界浸型電子銃操作方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06162979A true JPH06162979A (ja) | 1994-06-10 |
| JP2835265B2 JP2835265B2 (ja) | 1998-12-14 |
Family
ID=26518877
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5211848A Expired - Fee Related JP2835265B2 (ja) | 1992-08-27 | 1993-08-26 | 磁界界浸型電子銃及び磁界界浸型電子銃操作方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2835265B2 (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001312986A (ja) * | 2000-04-26 | 2001-11-09 | Hitachi Ltd | 電子銃 |
| JP2002538596A (ja) * | 1999-03-05 | 2002-11-12 | エテック システムズ インコーポレイテッド | 強化された角強度を有するショットキーおよびフィールド・エミッション電子銃 |
| JP2004327439A (ja) * | 2003-04-24 | 2004-11-18 | Fei Co | 永久磁気レンズおよび静電レンズを備える粒子光学装置 |
| JP2006294481A (ja) * | 2005-04-13 | 2006-10-26 | Hitachi High-Technologies Corp | 荷電粒子線装置 |
| JP2006324119A (ja) * | 2005-05-19 | 2006-11-30 | Hitachi Ltd | 電子銃 |
| DE112010002063T5 (de) | 2009-05-22 | 2012-07-19 | Hitachi High-Technologies Corp. | Elektronenkanone |
| KR20180122551A (ko) * | 2017-05-03 | 2018-11-13 | 에프이아이 컴파니 | 하전 입자 현미경의 건 렌즈 설계 |
| JP2019511823A (ja) * | 2016-04-11 | 2019-04-25 | ケーエルエー−テンカー コーポレイション | チューナビリティ用非磁性金属部分が組み込まれた永久磁石粒子ビーム装置及び方法 |
-
1993
- 1993-08-26 JP JP5211848A patent/JP2835265B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002538596A (ja) * | 1999-03-05 | 2002-11-12 | エテック システムズ インコーポレイテッド | 強化された角強度を有するショットキーおよびフィールド・エミッション電子銃 |
| JP2001312986A (ja) * | 2000-04-26 | 2001-11-09 | Hitachi Ltd | 電子銃 |
| JP2004327439A (ja) * | 2003-04-24 | 2004-11-18 | Fei Co | 永久磁気レンズおよび静電レンズを備える粒子光学装置 |
| JP2006294481A (ja) * | 2005-04-13 | 2006-10-26 | Hitachi High-Technologies Corp | 荷電粒子線装置 |
| JP2006324119A (ja) * | 2005-05-19 | 2006-11-30 | Hitachi Ltd | 電子銃 |
| DE112010002063T5 (de) | 2009-05-22 | 2012-07-19 | Hitachi High-Technologies Corp. | Elektronenkanone |
| US8669535B2 (en) | 2009-05-22 | 2014-03-11 | Hitachi High-Technologies Corporation | Electron gun |
| DE112010002063B4 (de) | 2009-05-22 | 2018-10-04 | Hitachi High-Technologies Corporation | Feldemissions-Elektronenkanone und Elektronenstrahlvorrichtung mit einer solchen Feldemissions-Elektronenkanone |
| JP2019511823A (ja) * | 2016-04-11 | 2019-04-25 | ケーエルエー−テンカー コーポレイション | チューナビリティ用非磁性金属部分が組み込まれた永久磁石粒子ビーム装置及び方法 |
| KR20180122551A (ko) * | 2017-05-03 | 2018-11-13 | 에프이아이 컴파니 | 하전 입자 현미경의 건 렌즈 설계 |
| JP2018190723A (ja) * | 2017-05-03 | 2018-11-29 | エフ イー アイ カンパニFei Company | 荷電粒子顕微鏡のガンレンズ設計 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2835265B2 (ja) | 1998-12-14 |
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