JPH06163869A - はんだ自動整合結合方法 - Google Patents
はんだ自動整合結合方法Info
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- JPH06163869A JPH06163869A JP5195265A JP19526593A JPH06163869A JP H06163869 A JPH06163869 A JP H06163869A JP 5195265 A JP5195265 A JP 5195265A JP 19526593 A JP19526593 A JP 19526593A JP H06163869 A JPH06163869 A JP H06163869A
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- B23K1/0008—Soldering, e.g. brazing, or unsoldering specially adapted for particular articles or work
- B23K1/0016—Soldering of electronic components
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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- B23K35/22—Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting characterised by the composition or nature of the material
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/42—Coupling light guides with opto-electronic elements
- G02B6/4201—Packages, e.g. shape, construction, internal or external details
- G02B6/4204—Packages, e.g. shape, construction, internal or external details the coupling comprising intermediate optical elements, e.g. lenses, holograms
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
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- G02B6/4228—Passive alignment, i.e. without a detection of the degree of coupling or the position of the elements
- G02B6/4232—Passive alignment, i.e. without a detection of the degree of coupling or the position of the elements using the surface tension of fluid solder to align the elements, e.g. solder bump techniques
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/072—Connecting or disconnecting of bump connectors
- H10W72/07231—Techniques
- H10W72/07236—Soldering or alloying
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- Mechanical Engineering (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 半導体チップ13を基板12と整合させ、そ
れに結合するためのはんだ自動整合方法を提供する。 【構成】 少なくとも溶融工程を気体状のギ酸に富む雰
囲気中で行う半導体チップ13を基板12と整合させ、
それに結合するためのはんだ自動整合方法。前記のギ酸
雰囲気は自動整合ステップおよびはんだ素子23の冷却
固化ステップの間も維持されることが好ましい。これに
より、いかなる固体ならびに液体フラックスも使用する
必要がなくなり、それらの使用から生じる問題も回避で
きる。溶融はんだ素子23は結合表面にしっかりと結合
し、素子と結合面とは垂直方向に整合する。
れに結合するためのはんだ自動整合方法を提供する。 【構成】 少なくとも溶融工程を気体状のギ酸に富む雰
囲気中で行う半導体チップ13を基板12と整合させ、
それに結合するためのはんだ自動整合方法。前記のギ酸
雰囲気は自動整合ステップおよびはんだ素子23の冷却
固化ステップの間も維持されることが好ましい。これに
より、いかなる固体ならびに液体フラックスも使用する
必要がなくなり、それらの使用から生じる問題も回避で
きる。溶融はんだ素子23は結合表面にしっかりと結合
し、素子と結合面とは垂直方向に整合する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、はんだの自動整合法に
関し、特に半導体チップを基板上に正確にマウントとす
るためにはんだの自動整合を用いる方法に関する。
関し、特に半導体チップを基板上に正確にマウントとす
るためにはんだの自動整合を用いる方法に関する。
【0002】
【従来の技術】光波通信の出現に刺激され、ホトニック
装置の組立方法は、とりわけ発達をとげてきた。ホトニ
ック装置はレーザーや光検出器などのように光学的属性
と電気的属性を合わせ持つものである。複雑な光波通信
システムには多くのホトニック装置が必要となり、それ
ぞれが光ファイバーやレンズのような光学素子と正確に
また高い信頼性を持って整合されなくてはならない。こ
のような装置の組立はできるだけ自動化し、必要な整合
を行なうためにオペレーターに必要とされる技量を軽減
することが重要である。
装置の組立方法は、とりわけ発達をとげてきた。ホトニ
ック装置はレーザーや光検出器などのように光学的属性
と電気的属性を合わせ持つものである。複雑な光波通信
システムには多くのホトニック装置が必要となり、それ
ぞれが光ファイバーやレンズのような光学素子と正確に
また高い信頼性を持って整合されなくてはならない。こ
のような装置の組立はできるだけ自動化し、必要な整合
を行なうためにオペレーターに必要とされる技量を軽減
することが重要である。
【0003】例えば、ここに参考のためその内容を記載
してあるが、1972年、第22回電子部品会議のプロシ
ーディングズ、332から339頁に発表されたL.S.ゴ
ールドマンの「制御下で崩壊するチップ結合の自動整合
能力」および1990年9月のジャーナル・オブ・ライ
トウエーブ・テクノロジーの第8巻、No.9、1323
ページに発表されたK.カツラらの「高速受光体用はんだ
バンプを用いた新規フリップチップ相互接続方法」に記
載されているように、はんだ自動整合呼ばれる方法をホ
トニック装置のような半導体のチップを基板へ導電的に
相互接続するために、また正確に整合された接続のため
に、用いることができる。この方法によれば、基板上の
一組の結合パッドをはんだで被覆し、前記の半導体チッ
プをそのそれぞれの結合パッドが基板の結合パットに重
なるように、基板上に機械的に配置する。最終的な位置
決めには1または2ミクロン内の正確度が要求される
が、この機械的な配置は数十ミクロン以下の正確度があ
ればよい。このアセンブリは次に加熱されて、はんだを
溶融すなわち「リフロー」し、それにより基板のそれぞ
れの結合パッドの上のはんだが集まり、それぞれ対応す
る前記の半導体チップの結合パッドを濡らすのである。
溶融はんだ素子の表面張力によりはんだは、垂直軸ある
いは面の周りに対称的に分布するように流れる。この張
力が前記のチップを動かし、それによってこのチップが
基板と正確に整合される。このチップは例えば光検出器
やレーザーであってもよく、それが例えば前記の基板に
結合された光ファイバーなどと正確に整合されるのであ
る。
してあるが、1972年、第22回電子部品会議のプロシ
ーディングズ、332から339頁に発表されたL.S.ゴ
ールドマンの「制御下で崩壊するチップ結合の自動整合
能力」および1990年9月のジャーナル・オブ・ライ
トウエーブ・テクノロジーの第8巻、No.9、1323
ページに発表されたK.カツラらの「高速受光体用はんだ
バンプを用いた新規フリップチップ相互接続方法」に記
載されているように、はんだ自動整合呼ばれる方法をホ
トニック装置のような半導体のチップを基板へ導電的に
相互接続するために、また正確に整合された接続のため
に、用いることができる。この方法によれば、基板上の
一組の結合パッドをはんだで被覆し、前記の半導体チッ
プをそのそれぞれの結合パッドが基板の結合パットに重
なるように、基板上に機械的に配置する。最終的な位置
決めには1または2ミクロン内の正確度が要求される
が、この機械的な配置は数十ミクロン以下の正確度があ
ればよい。このアセンブリは次に加熱されて、はんだを
溶融すなわち「リフロー」し、それにより基板のそれぞ
れの結合パッドの上のはんだが集まり、それぞれ対応す
る前記の半導体チップの結合パッドを濡らすのである。
溶融はんだ素子の表面張力によりはんだは、垂直軸ある
いは面の周りに対称的に分布するように流れる。この張
力が前記のチップを動かし、それによってこのチップが
基板と正確に整合される。このチップは例えば光検出器
やレーザーであってもよく、それが例えば前記の基板に
結合された光ファイバーなどと正確に整合されるのであ
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】前記のはんだ自動整合
方法に対する必須要件は、はんだ粒子が付着している結
合パッドを濡らすことである。通常このために液体フラ
ックスを結合パッド上に被覆するが、この液体フラック
スには数多くの問題がある。例えば、このフラックスは
前記のはんだづけ操作中に気体を発生し、それにより前
記のチップがはずれたり、あるいは前記のチップや光学
素子の表面が汚染され、光伝送の妨害が生じたりする。
我々は一酸化炭素や水素雰囲気のような還元性雰囲気中
で液体フラックスを使用せずにはんだづけ操作を行なう
ことを試みたが、このような還元性雰囲気による置換は
満足すべきものではないことがわかった。我々の研究で
はこのような還元性雰囲気との置換を用いると、溶融は
んだ素子がしばしば、はんだ自動整合に必要とされる、
整合した対称的な配置を取らないことがわかった。した
がって、半導体チップを基板へ結合するために、はんだ
の自動整合を用いる改良された方法が以前から引き続き
求められている。
方法に対する必須要件は、はんだ粒子が付着している結
合パッドを濡らすことである。通常このために液体フラ
ックスを結合パッド上に被覆するが、この液体フラック
スには数多くの問題がある。例えば、このフラックスは
前記のはんだづけ操作中に気体を発生し、それにより前
記のチップがはずれたり、あるいは前記のチップや光学
素子の表面が汚染され、光伝送の妨害が生じたりする。
我々は一酸化炭素や水素雰囲気のような還元性雰囲気中
で液体フラックスを使用せずにはんだづけ操作を行なう
ことを試みたが、このような還元性雰囲気による置換は
満足すべきものではないことがわかった。我々の研究で
はこのような還元性雰囲気との置換を用いると、溶融は
んだ素子がしばしば、はんだ自動整合に必要とされる、
整合した対称的な配置を取らないことがわかった。した
がって、半導体チップを基板へ結合するために、はんだ
の自動整合を用いる改良された方法が以前から引き続き
求められている。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記の問題は、前記のは
んだ自動整合過程を少なくとも前記の溶融過程の間は、
気体状のギ酸に富む雰囲気中で行なうことにより、回避
することができる。前記のギ酸雰囲気は前記自動整合工
程と前記はんだ素子の冷却硬化工程の間保たれることが
好ましい。これにより、いかなる固体または液体フラッ
クスも全く使用しなくてすみ、従ってフラックスの使用
に伴う結果も回避することができる。それでもなお、は
んだ素子は結合表面へしっかりと結合し対称的な配置を
とって、整合が行われる。
んだ自動整合過程を少なくとも前記の溶融過程の間は、
気体状のギ酸に富む雰囲気中で行なうことにより、回避
することができる。前記のギ酸雰囲気は前記自動整合工
程と前記はんだ素子の冷却硬化工程の間保たれることが
好ましい。これにより、いかなる固体または液体フラッ
クスも全く使用しなくてすみ、従ってフラックスの使用
に伴う結果も回避することができる。それでもなお、は
んだ素子は結合表面へしっかりと結合し対称的な配置を
とって、整合が行われる。
【0006】
【実施例】図1に、本発明の一実施例に従って組み立て
ることのできるタイプのホトニックモジュールが図示さ
れているが、これはセラミックパッケージ11、シリコ
ンサブマウント12、およびホトニック装置13(これ
は具体的には「PIN」光検出器として知られている半導
体チップなどである)からなっている。前記サブマウン
ト12には、光ファイバー17を支持するために調節さ
れた溝15と16が設けられている。溝15の一方の端
には、光ファイバー17からの光を光検出チップ13の
能動領域へと反射するようにミラー18が取付けてあ
る。このチップ13は、前記のミラー18と厳密に整合
されるように前記のサブマウント12上の結合パッドに
はんだ付けされている。このサブマウント12は次に二
重インラインパッケージ、すなわちDIPパッケージと呼
ばれるタイプのセラミックパッケージ11のくぼみにマ
ウントされる。光ファイバーがサポート19を通って延
び、溝15と16内で結合されるが、これによってこの
ファイバーは前記のミラー18ついで前記のチップ13
と整合される。
ることのできるタイプのホトニックモジュールが図示さ
れているが、これはセラミックパッケージ11、シリコ
ンサブマウント12、およびホトニック装置13(これ
は具体的には「PIN」光検出器として知られている半導
体チップなどである)からなっている。前記サブマウン
ト12には、光ファイバー17を支持するために調節さ
れた溝15と16が設けられている。溝15の一方の端
には、光ファイバー17からの光を光検出チップ13の
能動領域へと反射するようにミラー18が取付けてあ
る。このチップ13は、前記のミラー18と厳密に整合
されるように前記のサブマウント12上の結合パッドに
はんだ付けされている。このサブマウント12は次に二
重インラインパッケージ、すなわちDIPパッケージと呼
ばれるタイプのセラミックパッケージ11のくぼみにマ
ウントされる。光ファイバーがサポート19を通って延
び、溝15と16内で結合されるが、これによってこの
ファイバーは前記のミラー18ついで前記のチップ13
と整合される。
【0007】光検出チップ13のシリコンサブマウント
12へのはんだ付けを図2および3にさらに詳しく示
す。このチップは四方に配置された4本の結合パッド2
1を持ち、前記のサブマウント12は前記の結合パッド
21のそれぞれに対応する位置に4つの結合パッド22
を持つ。前記の結合パッドは、図示したように、はんだ
素子23によりはんだ付けされる。正しく位置決めされ
ると光ファイバー17の中央軸に沿って送られた光はミ
ラー18で反射され光検出器13の能動領域20に突き
当たる。製造される特定の装置によって異なるが、仕様
によっては1ミクロン未満から数ミクロン未満の公差内
の位置決めが要求されることもある。この高い精度は図
4と5に図示されている公知のはんだ自動整合原理を用
いることにより達成される。
12へのはんだ付けを図2および3にさらに詳しく示
す。このチップは四方に配置された4本の結合パッド2
1を持ち、前記のサブマウント12は前記の結合パッド
21のそれぞれに対応する位置に4つの結合パッド22
を持つ。前記の結合パッドは、図示したように、はんだ
素子23によりはんだ付けされる。正しく位置決めされ
ると光ファイバー17の中央軸に沿って送られた光はミ
ラー18で反射され光検出器13の能動領域20に突き
当たる。製造される特定の装置によって異なるが、仕様
によっては1ミクロン未満から数ミクロン未満の公差内
の位置決めが要求されることもある。この高い精度は図
4と5に図示されている公知のはんだ自動整合原理を用
いることにより達成される。
【0008】図4で、結合パッド22に最初はんだ23
が被覆される。光検出チップ13を次に機械的手段によ
って大体の位置決め位置に持ってくるが、結合パッド2
1と結合パッド22は、ずれて整合されることもある。
例えば、結合パッド21と22が一辺が75ミクロンで
あるとすると、当初は50から60ミクロンの整合度で
おおまかに位置決めされることもある。ずれた整合の典
型例を結合パッド22に対する結合パッド21の変位に
より図示した。その後、このアセンブリを加熱すると、
はんだ23が表面張力により集まり、球状になる。はん
だはシリコンサブマウント12の表面を濡らさないので
結合パッド22上に封じ込められる。各結合パッド22
の上には「はんだダム」が形成されるが、厳密なはんだ
の封じ込めを設けるためには、これはチタニウムのよう
にはんだが濡れない材料からなるリングで構成される。
が被覆される。光検出チップ13を次に機械的手段によ
って大体の位置決め位置に持ってくるが、結合パッド2
1と結合パッド22は、ずれて整合されることもある。
例えば、結合パッド21と22が一辺が75ミクロンで
あるとすると、当初は50から60ミクロンの整合度で
おおまかに位置決めされることもある。ずれた整合の典
型例を結合パッド22に対する結合パッド21の変位に
より図示した。その後、このアセンブリを加熱すると、
はんだ23が表面張力により集まり、球状になる。はん
だはシリコンサブマウント12の表面を濡らさないので
結合パッド22上に封じ込められる。各結合パッド22
の上には「はんだダム」が形成されるが、厳密なはんだ
の封じ込めを設けるためには、これはチタニウムのよう
にはんだが濡れない材料からなるリングで構成される。
【0009】はんだ23は結合パッド21を濡らして図
5に示す形状となる。はんだ23の表面張力により本質
的に、はんだは垂直に整列された配置を取るように流動
し、それによって光検出素子上へ、矢印24によって示
されるような力が加わる。これにより光検出チップ13
は位置決めされ、図3に示すようにその結合パッド21
がそれと組あわさる結合パッド22の上にぴったりと重
なる。この最終位置決め調整を得る方法は、はんだ自動
整合として知られており、半導体チップとそれをマウン
トする基板との間で1から2ミクロンの位置決め精度を
得るのに通常用いることができる。
5に示す形状となる。はんだ23の表面張力により本質
的に、はんだは垂直に整列された配置を取るように流動
し、それによって光検出素子上へ、矢印24によって示
されるような力が加わる。これにより光検出チップ13
は位置決めされ、図3に示すようにその結合パッド21
がそれと組あわさる結合パッド22の上にぴったりと重
なる。この最終位置決め調整を得る方法は、はんだ自動
整合として知られており、半導体チップとそれをマウン
トする基板との間で1から2ミクロンの位置決め精度を
得るのに通常用いることができる。
【0010】再び図3に戻るが、本発明に関連する問題
は、はんだ素子23の結合パッド21および22への結
合を確実にするために通常液体フラックスが必要である
ことである。このはんだ付けの間、液体フラックスは沸
騰し、気泡を生じ、さらにはチップ13を取り外してし
まうかもしれない。またミラー18(図2)上や光検出
チップ13の能動領域上にはねかえり、この装置の故障
を引き起こすかも知れない。
は、はんだ素子23の結合パッド21および22への結
合を確実にするために通常液体フラックスが必要である
ことである。このはんだ付けの間、液体フラックスは沸
騰し、気泡を生じ、さらにはチップ13を取り外してし
まうかもしれない。またミラー18(図2)上や光検出
チップ13の能動領域上にはねかえり、この装置の故障
を引き起こすかも知れない。
【0011】図4に戻り説明するが、気体状のギ酸を含
む雰囲気中でこのはんだ自動整合方法を行うことにより
液体フラックスの必要性は完全になくなった。この気体
状のギ酸は、結合パッド上に薄い酸化物の層が形成され
るのを防ぎ、結合パッド21および22上がはんだ23
で濡れることを助ける。図5において、ギ酸はさらに溶
融はんだ素子23の側壁に微細な酸化物層が形成するの
を防ぐ。我々の研究により、図5に示す配置から図3に
示す配置への移行、即ち自動整合が起こる上でこのよう
に酸化物層の形成が防がれることは重要であることがわ
かった。一酸化炭素および水素還元性大気を用いた我々
の実験は素子23が図3の配置へと移行する点でうまく
行かず、また信頼性を示さなかった。この問題を我々は
溶融はんだの表面張力特性を変化させる微細な酸化物層
の形成のためと考えた。この問題は本発明により完全に
回避される。
む雰囲気中でこのはんだ自動整合方法を行うことにより
液体フラックスの必要性は完全になくなった。この気体
状のギ酸は、結合パッド上に薄い酸化物の層が形成され
るのを防ぎ、結合パッド21および22上がはんだ23
で濡れることを助ける。図5において、ギ酸はさらに溶
融はんだ素子23の側壁に微細な酸化物層が形成するの
を防ぐ。我々の研究により、図5に示す配置から図3に
示す配置への移行、即ち自動整合が起こる上でこのよう
に酸化物層の形成が防がれることは重要であることがわ
かった。一酸化炭素および水素還元性大気を用いた我々
の実験は素子23が図3の配置へと移行する点でうまく
行かず、また信頼性を示さなかった。この問題を我々は
溶融はんだの表面張力特性を変化させる微細な酸化物層
の形成のためと考えた。この問題は本発明により完全に
回避される。
【0012】図6に、実験的にベルジャー26内で自動
整合を行った様子を示す。装置アセンブリ27は図4に
示すアセンブリからなり、電極29を持つヒーター28
上に支持されている。ヒーターの温度は熱電対30によ
って監視された。窒素を液状のギ酸33を含む容器32
の中に吹き込み、気化したギ酸を窒素をキャリアとして
ベルジャー26内に導入した。酸素モニター35を気体
出口へ接続し、この気体を液体36中に吹き込んでから
放出した。前記のギ酸はかなり有毒である。従って熱分
解や液体との反応など、様々な方法を用いてこの排ガス
の毒性を制御する。チップを基板の上方に保持する装置
は図6に示していない。本発明の商業的な実施にあたっ
ては、ロボットによる配置装置を用いて基板の上方に光
検出チップを自動的に配置し、またバッチ処理を用い
て、自動整合光検出チップあるいはその他の半導体チッ
プを同時に一つのオーブンではんだづけすることであろ
う。
整合を行った様子を示す。装置アセンブリ27は図4に
示すアセンブリからなり、電極29を持つヒーター28
上に支持されている。ヒーターの温度は熱電対30によ
って監視された。窒素を液状のギ酸33を含む容器32
の中に吹き込み、気化したギ酸を窒素をキャリアとして
ベルジャー26内に導入した。酸素モニター35を気体
出口へ接続し、この気体を液体36中に吹き込んでから
放出した。前記のギ酸はかなり有毒である。従って熱分
解や液体との反応など、様々な方法を用いてこの排ガス
の毒性を制御する。チップを基板の上方に保持する装置
は図6に示していない。本発明の商業的な実施にあたっ
ては、ロボットによる配置装置を用いて基板の上方に光
検出チップを自動的に配置し、またバッチ処理を用い
て、自動整合光検出チップあるいはその他の半導体チッ
プを同時に一つのオーブンではんだづけすることであろ
う。
【0013】公知の通り、前記のV字型の溝15と16
はフォトリソグラフィーによるマスキングとエッチング
により、非常に高い精度で製造することができる。鏡面
16は好ましくはここに示すようにメタライズされる。
V字型の溝15と16の表面はメタライズしてもしなく
てもよい。導体ラインと結合パッドのために我々が用い
たこのメタライゼーションは、モリブデンシャドーマス
クを用いてdcマグネトロンプロセスによってパターン状
にスパッタリングされた薄膜チタン(1000オングス
トローム)、プラチナ(2000オングストローム)お
よび金(5000オングストローム)からなるものであ
った。このメタライザーションプロセスにおいては前記
のチタンは接着層として作用し、前記のプラチナはバリ
アーならびにはんだ付け可能な表面として作用し、また
前記の金は表面を酸化から保護する働きをする。つい
で、ウエッタブルはんだボンドパッド領域を規定し、は
んだダムを設けるためにチタンのスパッタリングを行っ
た。最後に、5ミクロンの金ースズ共晶はんだ層を電子
線蒸着法を用いて、シャドーマスキングを通して結合パ
ッド領域上に蒸着した。
はフォトリソグラフィーによるマスキングとエッチング
により、非常に高い精度で製造することができる。鏡面
16は好ましくはここに示すようにメタライズされる。
V字型の溝15と16の表面はメタライズしてもしなく
てもよい。導体ラインと結合パッドのために我々が用い
たこのメタライゼーションは、モリブデンシャドーマス
クを用いてdcマグネトロンプロセスによってパターン状
にスパッタリングされた薄膜チタン(1000オングス
トローム)、プラチナ(2000オングストローム)お
よび金(5000オングストローム)からなるものであ
った。このメタライザーションプロセスにおいては前記
のチタンは接着層として作用し、前記のプラチナはバリ
アーならびにはんだ付け可能な表面として作用し、また
前記の金は表面を酸化から保護する働きをする。つい
で、ウエッタブルはんだボンドパッド領域を規定し、は
んだダムを設けるためにチタンのスパッタリングを行っ
た。最後に、5ミクロンの金ースズ共晶はんだ層を電子
線蒸着法を用いて、シャドーマスキングを通して結合パ
ッド領域上に蒸着した。
【0014】ギ酸蒸気濃度が約800から1000PPM
に制御された雰囲気中でリフローが行なわれた。ヒータ
ーは毎分150から200度Cの加熱速度で加熱可能
な、グラファイトストリップヒーターであった。このリ
フロー温度は320度Cであった。
に制御された雰囲気中でリフローが行なわれた。ヒータ
ーは毎分150から200度Cの加熱速度で加熱可能
な、グラファイトストリップヒーターであった。このリ
フロー温度は320度Cであった。
【0015】本発明を光検出モジュールを用いて解説し
たが、基板に対する半導体チップの整合が必要であるよ
うなものならば、どのような装置に対しても本発明を用
いることができる。ここで、「半導体チップ」とは、レ
ーザー、レーザーアレイ、光検出器アレイ、ダイオー
ド、ダイオードアレイ、および集積回路を含む。本発明
はレンズのような受動的な装置とその下に位置する表面
との位置決めにもまた使用できる。公知の通り、はんだ
自動整合を用いて整合される本体は十分に小さく複数の
溶融はんだ素子の表面張力によって動かすことができな
ければならない。本発明に従い、単一のはんだ素子を自
動整合に用いる事も可能である。ギ酸が有効なのは、ギ
酸が大変酸素と反応し易く、したがってこの自動整合中
にはんだの表面に酸化物が形成することを特によく防ぐ
からであると、考えられている、が、本発明は気体状の
ギ酸を用いると、その他の還元性雰囲気を用いた場合と
は異なり、液体あるいは固体のフラックスを一切用いる
ことなく信頼性のある結合と自動整合が生じるという実
験的事実のもとになされたものである。
たが、基板に対する半導体チップの整合が必要であるよ
うなものならば、どのような装置に対しても本発明を用
いることができる。ここで、「半導体チップ」とは、レ
ーザー、レーザーアレイ、光検出器アレイ、ダイオー
ド、ダイオードアレイ、および集積回路を含む。本発明
はレンズのような受動的な装置とその下に位置する表面
との位置決めにもまた使用できる。公知の通り、はんだ
自動整合を用いて整合される本体は十分に小さく複数の
溶融はんだ素子の表面張力によって動かすことができな
ければならない。本発明に従い、単一のはんだ素子を自
動整合に用いる事も可能である。ギ酸が有効なのは、ギ
酸が大変酸素と反応し易く、したがってこの自動整合中
にはんだの表面に酸化物が形成することを特によく防ぐ
からであると、考えられている、が、本発明は気体状の
ギ酸を用いると、その他の還元性雰囲気を用いた場合と
は異なり、液体あるいは固体のフラックスを一切用いる
ことなく信頼性のある結合と自動整合が生じるという実
験的事実のもとになされたものである。
【0016】
【発明の効果】本発明は半導体チップを基板へ結合する
ために、はんだの自動整合を用いた改良方法であり、は
んだ自動整合過程を気体状のギ酸に富む雰囲気中で行な
うことにより、いかなる固体または液体フラックスも全
く使用せずに、はんだ素子をしっかりと結合でき、従っ
てフラックスの使用に伴って従来生じていた問題を解決
した。
ために、はんだの自動整合を用いた改良方法であり、は
んだ自動整合過程を気体状のギ酸に富む雰囲気中で行な
うことにより、いかなる固体または液体フラックスも全
く使用せずに、はんだ素子をしっかりと結合でき、従っ
てフラックスの使用に伴って従来生じていた問題を解決
した。
【図1】本発明の一実施例に従い製造される光検出器パ
ッケージの分解斜視図である。
ッケージの分解斜視図である。
【図2】図1の光検出器パッケージの部分断面図であ
る。
る。
【図3】図2の3と3を結ぶ線に沿って切り取った図で
ある。
ある。
【図4】本発明の一つの実施例に従い、図3に示す装置
を組み立てる連続工程を示す。
を組み立てる連続工程を示す。
【図5】本発明の一つの実施例に従い、図3に示す装置
を組み立てる連続工程を示す。
を組み立てる連続工程を示す。
【図6】図4と図5に示される工程の間気化したギ酸雰
囲気を保つために使用する装置の図である。
囲気を保つために使用する装置の図である。
11 セラミックパッケージ 12 シリコンサブマウント 13 ホトニック装置 15 溝 16 溝 17 光ファイバー 18 ミラー 19 サポート 20 能動領域 21 結合パッド 22 結合パッド 23 はんだ素子 26 ベルジャー 27 装置アセンブリ 28 ヒーター 29 電極 30 熱電対 32 容器 33 液体ギ酸 35 酸素モニター 36 液体
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 31/02 7210−4M H01L 31/02 B (72)発明者 マイケル フランシス ブラディー アメリカ合衆国 19067 ペンシルヴェニ ア モーリスヴィル、ヘッジロー ドライ ヴ 52 (72)発明者 ラジャン ディー.デシュムク アメリカ合衆国 19067 ペンシルヴェニ ア ヤードレー、ナイツブリッジ ドライ ヴ 200
Claims (9)
- 【請求項1】 部品(13)を基板(12)に整合しな
がら結合する方法において、 前記の部品上に第一の金属結合パッド(21)を、前記
の基板上に第二の結合パット(22)を、それぞれ所定
の対応する位置に形成するステップと、前記の金属結合
パッドの少なくとも一方にはんだ(23)を被覆するス
テップと、 前記の第一の結合パッドを前記の第二の結合パッドの近
傍におおまかに位置決めするステップと、 前記のはんだが集まり、前記の第一の結合パッド(2
1)と第二の結合パッド(22)とに同時に接触するよ
うに、前記はんだを溶融するステップと、 前記の溶融はんだの表面張力により前記の部品が前記の
基板と整合するように、はんだ自動整合を用いるステッ
プと、 前記のはんだを固化し、前記の第一および第二の結合パ
ッドを結合するために冷却するステップと、からなるハ
ンダ自動整合結合方法において、 少なくとも前記の溶融ステップの間中、前記のはんだと
前記の結合パッドを気体状のギ酸に富む雰囲気に露出す
ることを特徴とするはんだ自動整合結合方法。 - 【請求項2】 前記自己整合ステップの間中、前記のは
んだと前記の結合パッドを気体状のギ酸に富む雰囲気に
露出することを特徴とする請求項1の方法。 - 【請求項3】少なくとも前記溶融ステップの間中、前記
のはんだと前記の結合パッドを気体状のギ酸に富む雰囲
気に露出することを特徴とする請求項1の方法 - 【請求項4】 気体状のギ酸を形成するため、液体ギ酸
中にキャリアーガスを吹き込むステップと、 前記の溶融、自動整合および冷却ステップの間中、気体
状のギ酸を前記の部品ならびに前記の基板を通過させて
流すステップとをさらに含むことを特徴とする、請求項
2または3の方法。 - 【請求項5】 前記のキャリアガスが、高純度の窒素で
あることを特徴とする請求項4の方法。 - 【請求項6】 前記の半導体チップが、前記の基板の上
に形成されたミラーと整合するようにはんだづけされた
ホトニック装置であり、前記のミラーと整合するように
光ファイバーを前記の基板に結合するステップをさらに
含むことを特徴とする請求項1の方法。 - 【請求項7】 前記の第一の金属結合パッドが前記の部
品上の複数の第一の結合パッドのうちの一つであり、 前記の第二の金属結合パッドが、前記の基板上の複数の
第二の金属結合パッドの一つであり、 前記の第二の金属結合パッドの位置が、前記第一の金属
結合パッドの位置と適合し、 前記の第一の結合パッドのそれぞれを相当する前記第二
の結合パッドにはんだ結合するために、はんだ自動整合
を用いることを特徴とする請求項1の方法。 - 【請求項8】 前記の部品がホトニック装置であり、 前記のホトニック装置と整合されるべき光学装置が、前
記の基板に結合されていることを特徴とする請求項1の
方法。 - 【請求項9】 気体状のギ酸を形成するため、液体ギ酸
中にキャリアーガスを吹き込むステップと、 前記の溶融、自動整合および冷却ステップの間中、気体
状のギ酸を前記のホトニック装置ならびに前記の基板を
通過させて流すステップとをさらに含むことを特徴とす
る請求項1または8の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US915492 | 1992-07-16 | ||
| US07/915,492 US5249733A (en) | 1992-07-16 | 1992-07-16 | Solder self-alignment methods |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06163869A true JPH06163869A (ja) | 1994-06-10 |
| JP2813109B2 JP2813109B2 (ja) | 1998-10-22 |
Family
ID=25435843
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5195265A Expired - Lifetime JP2813109B2 (ja) | 1992-07-16 | 1993-07-13 | はんだ自動整合結合方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5249733A (ja) |
| EP (1) | EP0579438A2 (ja) |
| JP (1) | JP2813109B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPH09232601A (ja) * | 1996-02-27 | 1997-09-05 | Nec Corp | 受光デバイス |
| JPH09318845A (ja) * | 1996-05-24 | 1997-12-12 | Ricoh Co Ltd | 光伝送モジュール |
| JP2009081398A (ja) * | 2007-09-27 | 2009-04-16 | Fujitsu Microelectronics Ltd | 電極の形成方法及び半導体装置の製造方法 |
| JP2010527794A (ja) * | 2007-05-23 | 2010-08-19 | セントロターム・サーマル・ソルーションズ・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング・ウント・コンパニー・コマンデイトゲゼルシヤフト | プロセスガスの濃度制御方法 |
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1992
- 1992-07-16 US US07/915,492 patent/US5249733A/en not_active Expired - Lifetime
-
1993
- 1993-07-06 EP EP93305294A patent/EP0579438A2/en not_active Ceased
- 1993-07-13 JP JP5195265A patent/JP2813109B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| EP0579438A2 (en) | 1994-01-19 |
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