JPH06167540A - Icの位置決め装置 - Google Patents
Icの位置決め装置Info
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- JPH06167540A JPH06167540A JP4265634A JP26563492A JPH06167540A JP H06167540 A JPH06167540 A JP H06167540A JP 4265634 A JP4265634 A JP 4265634A JP 26563492 A JP26563492 A JP 26563492A JP H06167540 A JPH06167540 A JP H06167540A
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Abstract
決めを行う。 【構成】 搬送レール3上を完成されたIC5が、上方
から滑落する。IC5は樹脂モールドされた本体部5と
本体部5の両側面から一列に突出した複数のリード7と
からなる。可動部10には、本体部5に当接する第1の
ピン11とリード7に当接する第2のピン12a、12
bが植設されている。可動部10は矢印A方向に移動習
性が付与され、ストローク差Lを有する一対のシリンダ
14、15のロッド14a、15aが当接している。第
1のピン11と第2のピン12a、12bは、可動部1
0の移動にともなって先端部分が搬送レール3に進退自
在となっている。そして、第1のピン11は、第2のピ
ン12よりも、ストローク差Lとほぼ同一の長さlだけ
短く形成されている。
Description
自動的にテストシステムに供給し、テスト結果に基づい
て自動的に分類収納するICハンドラに関し、特に、I
CハンドラにおけるICの位置決め装置に関する。
は、搬送レール上を1秒以内の間隔で断続的に滑落する
ICを一時的に停止させて位置決めし、しかるのち、搬
送レール上からテストシステム、たとえばテスト用ソケ
ットにICを挿入し、ICのリードとソケットのピンと
を電気的に接続させ、ICテスタでICの良否を測定し
て、再び搬送レール上に戻し、良否の測定結果に基づい
てICを自動的に分類収納している。
止させ位置決めする装置としては、搬送路内に進退自在
な停止ピンが設けられ、この停止ピンを搬送路内を滑落
するICの樹脂モールドされた本体部に当接させて、I
Cを一時的に停止、位置決めさせる方法がある。また、
別の方法は、停止ピンがICのリードに対応して配設さ
れ、リードに当接して、ICを一時的に停止、位置決め
させる方法である。
ように、ICの樹脂モールドされた本体部に停止ピンを
当接させて停止させる場合には、樹脂モールドの剛性に
よって、樹脂モールドが停止ピンにあたる際に、衝撃で
ICが弾み、ソケットにICを挿入する際に位置ずれを
起こすため、測定ができなかったり、無理にソケットに
ICを挿入するために、リードを破損するといった問題
があった。さらに、樹脂モールドの本体部分とリードと
の間に製造誤差があると、ソケットに対するリードの正
確な位置決めができないといった欠点があった。また、
第2の方法のように、リードを停止ピンで当接させる場
合には、停止ピンにあたる衝撃によって、リード曲がり
を起こすといった問題があった。
の欠点あるいは問題に鑑みてなされたものであり、その
目的とするところは、リード曲がりを起こすことなく、
正確な位置決めを行い得るICの位置決め装置を提供す
ることにある。
に、本発明に係るICの位置決め装置は、ICの搬送路
内に進退自在な第1および第2の停止ピンが設けられ、
第1の停止ピンはICの樹脂モールドされた本体部に当
接し、第2の停止ピンはリードに当接し、第1の停止ピ
ンが先に退出することによって、第2の停止ピンでIC
の位置決めをする。
止ピンに対する衝撃は、樹脂モールドによって吸収さ
れ、位置決めは、リードと停止ピンとの当接により行わ
れる。
する。図1は本発明に係るICの位置決め装置を示し、
(a)は側面図、(b)は底面図、(c)は要部正面
図、(d)は要部斜視図である。これらの図において、
符号2で示すものは、装置の台座で、搬送レール3が上
下方向に沿って固定されている。この搬送レール3上を
完成されたIC5が、同図(a)中、上方から断続的に
滑落してくる。IC5は、樹脂モールドされた本体部6
と本体部6の両側面から一列に突出した複数のリード7
とから構成されている。
ピン11、12a、12bが一列に植設されており、図
中A方向、すなわち、搬送レール3から離間する方向に
図示しない付勢手段によって移動習性が付与されてい
る。同図(b)中、中央に位置する第1のピン11は、
搬送レール3上を滑落するIC5の本体部6に対応し、
同一形状の第2のピン12a、12bはリード7に対応
している。第2のピン12a、12bは、先端部分が細
径状に、かつ、第1のピン11よりもlだけ長く形成さ
れている。
用シリンダで、それぞれに作動用ロッド14a、15a
を有し、ロッド14aの作動ストロークが、15aより
もLだけ長く設定されている。このストロークの差L
は、前記第1および第2のピン11、12の長さの差l
とほぼ同一である。これらロッド14a、15aは、シ
リンダ14、15がOFFとなるとシリンダ14、15
から突出して、先端が可動部10に当接して、可動部1
0を矢印A方向と反対方向に移動させる。この状態にお
いては、一方のロッド14aが可動部10に当接し、第
1のピン11および第2のピン12a、12bが搬送レ
ール3側に進出している。
る。完成されたIC5が、搬送レール3上を滑落してく
ると、両シリンダ14、15がともにOFFとなり、一
方のロッド14aが可動部10を矢印A方向と反対方向
に押圧して移動させる。この状態においては、前述した
ように第1および第2のピン11、12a、12bの先
端部分がともに、搬送レール3側に進出しているが、第
2のピン12a、12bの先端部分が細径状に形成さ
れ、しかも、滑落するIC5の本体部6の底面が最下方
のリード7a、7bよりも、下方に位置しているので、
IC5は、第1のピン11に本体部6が当接して停止す
る。
14をONとして、ロッド14aを矢印B方向に作動さ
せる。この動作にともない、可動部10が図1の状態か
ら矢印A方向に長さL移動して、他方のロッド15aの
先端に当接して停止する。可動部10がL移動すること
によって、第1および第2のピン11、12a、12b
も約L移動して、第1のピン11は搬送レール3から退
出して、第1のピン11の先端部とIC5の本体部6と
の当接が解除する。一方、第2のピン12a、12bは
図1における第1のピン11とほぼ同一の位置、すなわ
ち、搬送レール3側に位置しているので、IC5は、最
下方のリード7a、7bが第2のピン12a、12bの
先端部分に当接して停止する。
一時的に停止して、図示しないテスト用ソケットに対し
て位置決めがなされる。すなわち、IC5の搬送レール
3側に、IC5のリード7に対応してピンを設けたソケ
ットが配設されており、図示しない駆動手段によって、
IC5を搬送レール3とともに、矢印C側に移動させ
て、IC5をソケット内に嵌合させ、リード7とピンと
を電気的に接続し、IC5の良否を測定する。測定後、
再び、駆動手段によってIC5を搬送レール3ととも
に、元の位置、すなわち、第2のピン12a、12b上
にリード7a、7bを載置した状態に戻す。
ダ15をONとして、ロッド15aを矢印D方向に移動
させる。これにともない、可動部10も矢印A方向に移
動して、第2のピン12a、12bが搬送レール3から
退出するので、IC5には当接するものがなくなり、I
C5は搬送レール3上を落下し、前述した測定結果に基
づいた良否判定にしたがって、図示しないシュートに自
動的に分類収納される。
り、まず、第1のピン11でIC5の樹脂モールドされ
た本体部6を当接させて、IC5の衝突の衝撃を緩和
し、しかるのちに、第2のピン12a、12bにリード
を当接させて、位置決めを行うようにしたので、リード
曲げを起こすことなく、かつ、位置決めの精度を高める
ことができる。
体部が樹脂モールドされ両側面にリードを有するICが
滑落する搬送路が設けられ、搬送路内に進退自在でIC
の本体部とリードとにそれぞれ当接する第1および第2
のピンを有し、第1のピンが第2のピンよりも先に搬送
路から退出しICのリードが第2のピンに当接すること
によってICの位置決めを行うようして、滑落してくる
ICをまず、第1のピンに本体部を当接させることによ
って、ピンへの衝突の衝撃を緩和し、しかるのちに、リ
ードを第2のピンに当接させてICの位置決めを行うよ
うにしたので、リード曲げを起こすことなく、かつ、位
置決めの精度を高めることができる。
(a)は側面図、(b)は底面図、(c)は要部正面
図、(d)は要部斜視図である。
決め状態を示し、(a)は側面図、(b)は底面図、
(c)は要部正面図、(d)は要部斜視図である。
決め後の排出状態を示し、(a)は側面図、(b)は底
面図、(c)は要部斜視図である。
Claims (1)
- 【請求項1】 本体部が樹脂モールドされ両側面にリー
ドを有するICが滑落する搬送路と、この搬送路中に滑
落するICを一時的に停止させる停止ピンとが設けら
れ、この停止ピンは搬送路内に進退自在で前記ICの本
体部とリードとのそれぞれに当接する第1および第2の
ピンからなり、第1のピンが第2のピンよりも先に搬送
路から退出しICのリードが第2のピンに当接すること
によってICの位置決めを行うことを特徴としたICの
位置決め装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4265634A JPH0792490B2 (ja) | 1992-09-09 | 1992-09-09 | Icの位置決め装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4265634A JPH0792490B2 (ja) | 1992-09-09 | 1992-09-09 | Icの位置決め装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06167540A true JPH06167540A (ja) | 1994-06-14 |
| JPH0792490B2 JPH0792490B2 (ja) | 1995-10-09 |
Family
ID=17419865
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4265634A Expired - Lifetime JPH0792490B2 (ja) | 1992-09-09 | 1992-09-09 | Icの位置決め装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0792490B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102501835B1 (ko) * | 2016-06-27 | 2023-02-23 | 세메스 주식회사 | 베이크 유닛 및 방법 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63127200U (ja) * | 1987-02-10 | 1988-08-19 |
-
1992
- 1992-09-09 JP JP4265634A patent/JPH0792490B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63127200U (ja) * | 1987-02-10 | 1988-08-19 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0792490B2 (ja) | 1995-10-09 |
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