JPH06174811A - Squid磁束計 - Google Patents

Squid磁束計

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JPH06174811A
JPH06174811A JP4351432A JP35143292A JPH06174811A JP H06174811 A JPH06174811 A JP H06174811A JP 4351432 A JP4351432 A JP 4351432A JP 35143292 A JP35143292 A JP 35143292A JP H06174811 A JPH06174811 A JP H06174811A
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loop
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Gen Uehara
弦 上原
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 出力電圧を基準電圧と比較する方式を用い電
子回路を単純化するとともに、超伝導回路を複雑化する
ことなくバイアス電流の変動による磁束雑音を低減しう
るSQUID磁束計を提供する。 【構成】 SQUIDループ1,11のバイアス電流注
入位置2,12を非対称位置に設け、出力電圧を基準電
圧と比較することにより磁束ロックループを構成し、バ
イアス電流Ib の変動による磁束雑音を低減する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、心磁波、脳磁波、眼筋
磁場等の生体磁気計測、または、地磁気計測、あるいは
物質の帯磁率計測、さらには磁気的信号伝送用のインタ
ーフェイス等に適したSQUID(Superconducting Qu
antum Interference Device :超伝導量子干渉デバイ
ス)磁束計に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、SQUID磁束計に用いるSQU
IDとしては、超伝導ループ内にジョセフソン接合を2
個含むdcSQUIDと、ジョセフソン接合を1個含む
rfSQUIDとがあるが、前者は後者に比べ雑音特性
が優れているため広く研究が進められている。以下、d
cSQUID(単にSQUIDと呼ぶ)について説明す
る。図5は、従来のSQUIDの模式図であり、2つの
ジョセフソン接合25,26を含む超伝導ループ21に
直流電圧端子を設けた構成になっている。図5におい
て、Ic はジョセフソン接合の臨界電流を、Ls は超伝
導ループのインダクタンスをそれぞれ示している。Rは
ジョセフソン接合の常伝導抵抗であり、トンネル接合の
場合はヒステリシスを消すために加えたシャント抵抗で
ある。上記のSQUIDの特性と動作を図6により説明
する。SQUIDとは、超伝導ループ21内に外部から
磁束が印加されると、ループに周回電流が誘起され、ル
ープ内のジョセフソン接合における量子的な干渉効果に
より、印加された外部磁束の微小な変化が周回電流の大
きな変化となって現れることを利用して、微小磁束変化
を測定するものである。この場合、超伝導ループ21の
中に入る外部磁束Φext が、磁束量子Φo の整数倍のと
きは、SQUIDに電圧を発生せずに流し得る最大の電
流(以下、最大電流という)は、2Ic となり、SQU
IDの電流−電圧特性(I−V特性)は、図6(A)に
おいてAで示す曲線になる。外部磁束Φext が磁束量子
Φo の(整数+1/2)倍のときは、最大電流は(2I
c −ΔI)となり、SQUIDのI−V特性は、図6
(A)においてBで示す曲線になる。Φを連続的に増や
していくと、I−V特性は上記の2つの曲線AとBの間
を往復し、その周期はΦo となる。したがって、 I=2Ic となるように電流をバイアスして電圧を観測すると、図
6(B)に示すような周期Φo の磁束−電圧曲線(Φ−
V曲線)が得られる。ΔI/2Ic の値はSQUIDの
変調深さと呼ばれており、遮蔽パラメータβ(=2Ls
Ic /Φo )の関数として詳しく計算されている。概略
的には、 ΔI/2Ic =1/(1+β) となり、βが大きい方が変調は浅くなる。次に、図7
に、従来のSQUID磁束計20の構成を示す。SQU
IDループ21は、通常大きくないため、計測すべき磁
場を直接ループ内に入れるには効率が悪い。そこで、測
定すべき磁場は、ピックアップコイル23によって検出
され、入力コイル24を通じてSQUIDループ21に
結合される。入力コイル23に隣接するコイル28は変
調コイルであり、この変調コイル28により、発振器2
9でドライブされた変調磁束がSQUIDループ21に
加えられる。この場合、SQUIDループ21,入力コ
イル24および変調コイル28は、超低温格納容器等の
内部に格納され、超低温状態(約4K)に維持されてい
る。SQUIDの出力電圧は、インピーダンス整合回路
32および前置増幅器33を経てPSD(Phase Sensit
ive Detector:位相弁別器)35においてロックイン検
波され、Φ−V曲線の1次微分が得られる。この出力を
上記の変調コイル28に加算してネガティブフィードバ
ックすると、Φ−V曲線の1次微分が零になる点(山あ
るいは谷)に安定し、測定すべき磁場は、上記のフィー
ドバック量を出力Vout でモニターすることにより得る
ことができる。この状態を「ロックされた」と表現す
る。上記の方法は、FLL(Flux Locked Loop:磁束ロ
ックループ)法と呼ばれ、いわゆる「零位法」の一種で
あり、入出力の関係が線形になるのが特徴である。図7
において、インピーダンス整合回路32は、超低温状態
(約4K)のSQUID21と室温状態にある前置増幅
器33とのインピーダンスマッチングをとるためのもの
であり、図示したLC回路のほか、超伝導トランスが用
いられる場合も多い。上記のように、磁束電圧特性(Φ
−V特性)の周期関数に対して、ある周波数の変調磁束
を与えてその出力電圧を同じ周波数で検波する方式で
は、図8に示すように、バイアス電流Ib の注入位置2
2はSQUIDループ21のインダクタンスに関して対
称位置となっていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来の方
式のSQUID磁束計では、変調を加えるための発振
器、検波するための位相弁別器などが必要になり、電子
回路が複雑になる、という欠点があった。これに対し
て、D. Drungらは、変調をかけずに直接出力電圧を基準
電圧と比較する方式を提案した。また、あわせて、SQ
UIDループを並列に接続したループとすることでイン
ダクタンスを小さくし、磁場を直接SQUIDループに
結合することが可能な方式を提案した。このことによ
り、彼らの方式では、従来方式における入力コイルは不
要となった。以下に、彼らの方式によるSQUID磁束
計の概要を説明する。すなわち、図9に示すように、Dr
ung らのSQUID磁束計40では、SQUID41の
出力電圧は、積分増幅器54において基準電圧と比較さ
れて増幅される。そして、帰還コイル48へのフィード
バックにより、SQUID41の出力電圧が基準電圧と
一致するような磁束のところにロックがかかる。上記の
通常方式のFLLでは、Φ−V曲線の1次微分が零にな
るところでロックをかけるが、Drung らの方式では、微
分する前のΦ−V曲線で値が零になるところにロックを
かけようとするものである。このDrung らの方式では、
SQUIDの出力電圧を正負に振動させる必要があり、
Φ−V曲線にバイアス電圧をはかせている。換言すれ
ば、出力電圧を基準電圧と比較していることになる。こ
のDrung らの方式では、ロックイン検波ではないので、
分解能は悪くなるが、図7と図9とを比較してわかるよ
うに、発振器や位相弁別器がなどが不要となり、電子回
路の複雑化が防止される。しかしながら、彼らの方式で
は、バイアス電流が変動すると、出力電圧が変動し、こ
れが磁束計の磁束雑音になるという欠点があり、これを
防ぐために、Drung らは、図10に示すような構成のB
CF(Bias Current Feedback :バイアス電流フィード
バック)を提案した。これは、バイアス電流の変動をイ
ンダクタンスを通じてSQUID自身にフィードバック
することによりバイアス電流の変動をキャンセルしよう
とするものである(D. Drung and H. Koch, "An Electr
onicSecond - Order Gradiometer for Biomagnetic A
pplications in ClinicalShielded Rooms", ASC'92,
Chicago, August, 1992(米国電気電子学会(IEE
E)発行「Transaction on Superconductivity」1993
参照))。しかしながら、図10に示すBCF方式で
は、図5と比較してわかるように、SQUIDループを
含む超伝導回路部分が複雑になる、という問題点を有し
ていた。そして、このBCF方式においても、図10に
示すように、バイアス電流の注入位置42はSQUID
ループ41のインダクタンスに関して対称位置となって
いた。本発明は、これらの問題点を解決するためになさ
れたものであり、出力電圧を基準電圧と比較する方式を
用い電子回路を単純化するとともに、超伝導回路を複雑
化することなくバイアス電流の変動による磁束雑音を低
減しうるSQUID磁束計を提供することを目的とす
る。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、本発明に係るSQUID磁束計は、SQUIDルー
プのバイアス電流注入位置を非対称位置に設け、出力電
圧を基準電圧と比較することにより磁束ロックループを
構成し、バイアス電流の変動による磁束雑音を低減する
ように構成される。
【0005】
【作用】上記構成を有する本発明によれば、バイアス電
流の注入位置を非対称位置とすることにより、バイアス
電流を変えると、磁束−電圧特性(Φ−V特性)は、図
3の左側のグラフに示すように磁束軸(Φ軸)の方向に
シフトしていく。これをバイアス電流−電圧軸で見る
と、図3の右側のグラフに示すように、バイアス電流の
変動に対し電圧の変動が鈍くなり、バイアス電流の変動
がキャンセルされることになる。
【0006】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面にもとづいて説
明する。図1は、本発明の一実施例であるSQUID磁
束計におけるSQUIDループ1の構成を示した等価回
路図である。
【0007】このSQUIDループ1は、インダクタン
ス3,4と、ジョセフソン接合5,6とを有し、その一
部が位置7で接地されたSQUIDループであり、イン
ダクタンスに関して非対称となる位置2にバイアス電流
Ib が注入されるように構成されている。
【0008】図2は、上記のSQUIDループを用い
た、2個の環を有するdouble - washer 型の、出力電圧
を基準電圧と直接比較する方式のdcSQUID磁束計
の一部の構成を示した図である。図に示すように、所定
のインダクタンスを有するSQUIDループ11には、
ジョセフソン接合たるトンネル接合13,13が設けら
れ、インダクタンスに関して非対称となる位置12にバ
イアス電流Ib が注入されるように構成されている。ま
た、14は入力コイルであり、この入力コイル14は図
示しないピックアップコイルに接続されている。そし
て、本実施例のSQUID磁束計は、上記のSQUID
ループ1またはSQUIDループ11以外の構成は、図
9に示すものと同様である。
【0009】図3は、上記のdcSQUIDの外部から
印加される磁束である外部磁束Φext と出力電圧Vとの
関係(Φ−V特性)、およびバイアス電流を変化させた
ときの電流と電圧の関係(I−V特性)を説明する概念
的特性グラフである。バイアス電圧の注入位置を図1お
よび図2に示すようにSQUIDループのインダクタン
スに関して非対称にすると、磁束−電圧特性(Φ−V特
性)は、磁束軸(Φ軸)の方向にシフトしていく(図3
左側グラフ)。
【0010】そして、これをバイアス電流と電圧の関係
(I−V特性)で見ると、その特性曲線上には停留点a
が生じ、バイアス電流が変動しても出力電圧の変化は鈍
くなる。したがって、この停留点の特性を利用すれば、
バイアス電流の変動による磁束雑音を所定値以下に抑制
することが可能となる。
【0011】図4は、図2のdcSQUIDにおいて、
バイアス電流を0μA(マイクロアンペア),66,8
8,110,132,154μAに変えていった場合に
おける外部磁束(1目盛=0.43Φo ,Φo :磁束量
子)と、その場合のSQUIDの出力電圧(1目盛=2
0μV,μV:マイクロボルト)を示したΦ−V特性グ
ラフであり、図3の左側のグラフ(磁束−電圧特性)に
相当するものである。
【0012】この図4のbの箇所から、出力電圧値の変
動に対するバイアス電流値の変動であるdIb /dVを
読み取ると、バイアス電流が88μAの出力電圧曲線と
バイアス電流が110μAの出力電圧曲線とのバイアス
電流の差は、 dIb =22μA であり、図4のbの箇所における2つの出力電圧曲線の
電圧値の差(換言すれば、2つの曲線の離隔)は、 dV=2μV であるから、 dIb /dV=22μA/2μV=11A/V となり、図4の特性の場合はb点が停留点となることが
わかる。
【0013】したがって、磁束雑音を
【数1】 以内に抑えるためには、
【数2】 と、
【数3】 より、バイアス電流の変動を、
【数4】 の範囲内に抑えれば十分であることがわかる。ここに、
nAはナノアンペアである。
【0014】通常、図9に示す前置増幅器53として市
販の増幅器を用いた場合、バイアス電流の変動値は、
【数5】 程度であるので、図9に示す前置増幅器53として市販
の増幅器を用いれば上記のIn の値の範囲内に抑えうる
電子回路は現在の技術で十分に実現可能である。ここ
に、pAはピコアンペアである。したがって、出力電圧
を基準電圧と比較する方式を用いることにより電子回路
を単純化するとともに、超伝導回路を複雑化することな
くバイアス電流の変動による磁束雑音を低減することが
できる。
【0015】なお、本発明は、上記実施例に限定される
ものではない。上記実施例は、例示であり、本発明の特
許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一な
構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなる
ものであっても本発明の技術的範囲に包含される。
【0016】上記実施例においては、dcSQUIDと
して、2個の環を有するdouble - washer 型の場合を例
に挙げて説明したが、これは、他の形式のdcSQUI
D、例えば、1個の環を有するsingle - washer 型、3
個の環を有するtriple - washer 型、あるいは一般にn
個の環(washer)を有する形式のものであってもよく、
これらの環においてインダクタンスがアンバランス(非
平衡、すなわち非対称)になるようにバイアス電流を注
入する構成であれば、どのようなdcSQUIDであっ
ても本発明の効果を奏することができる。
【0017】また、上記実施例においては、ジョセフソ
ン接合としてトンネル接合の場合を例に挙げて説明した
が、これは、他のジョセフソン接合(マイクロブリッ
ジ、点接触等)であってもかまわない。
【0018】
【発明の効果】以上説明したように、上記構成を有する
本発明によれば、バイアス電流の注入位置を非対称位置
とすることにより、バイアス電流を変えると、磁束−電
圧特性は磁束軸の方向にシフトしていく。これをバイア
ス電流−電圧軸で見ると、バイアス電流の変動に対し電
圧の変動が鈍くなり、バイアス電流の変動がキャンセル
されることになる。したがって、出力電圧を基準電圧と
比較する方式を用いることにより電子回路を単純化する
とともに、超伝導回路を複雑化することなくバイアス電
流の変動による磁束雑音を低減することができる、とい
う利点を有している。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例であるSQUID磁束計にお
けるSQUIDループの等価回路図である。
【図2】本発明の一実施例であるSQUID磁束計の一
部の構成を示す図である。
【図3】図2に示すSQUIDループのΦ−V特性およ
びI−V特性を示す図である。
【図4】図2に示すSQUIDループにおいて、バイア
ス電流を0,66,88,110,132,154μA
に変えていった場合における外部磁束と、その場合のS
QUIDの出力電圧を示したΦ−V特性を示す図であ
る。
【図5】従来のSQUID磁束計におけるSQUIDの
模式図である。
【図6】図5に示すSQUIDの特性を示す図であり、
図6(A)は電流−電圧特性を、図6(B)は磁束−電
圧を特性を、それぞれ示している。
【図7】従来のSQUID磁束計の全体構成を示す回路
図である。
【図8】従来のSQUID磁束計におけるSQUIDル
ープの等価回路図である。
【図9】Drung らによって提案されたSQUID磁束計
の構成を示す回路図である。
【図10】Drung らによって提案されたSQUIDルー
プの等価回路図である。
【符号の説明】
1 SQUIDループ 2 バイアス電流注入位置 3,4 インダクタンス 5,6 ジョセフソン接合 7 接地位置 11 SQUIDループ 12 バイアス電流注入位置 14 入力コイル 15,16 トンネル接合 20 SQUID磁束計 21 SQUIDループ 22 バイアス電流注入位置 23 ピックアップコイル 24 入力コイル 25,26 ジョセフソン接合 27 接地位置 28 変調コイル 29 発振器 30 フェーズシフタ 31 バイアス電流源 32 インピーダンス整合回路 33 前置増幅器 34 積分増幅器 35 PSD 40 SQUID磁束計 41 SQUIDループ 42 バイアス電流注入位置 43 ピックアップコイル 44 入力コイル 45,46 ジョセフソン接合 47 接地位置 48 帰還コイル 53 前置増幅器 54 積分増幅器 60 超低温格納容器

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 SQUIDループのバイアス電流注入位
    置を非対称位置に設け、出力電圧を基準電圧と比較する
    ことにより磁束ロックループを構成し、バイアス電流の
    変動による磁束雑音を低減したことを特徴とするSQU
    ID磁束計。
JP4351432A 1992-12-08 1992-12-08 Squid磁束計 Expired - Lifetime JPH07104404B2 (ja)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0320684A (ja) * 1989-06-17 1991-01-29 Aisin Seiki Co Ltd 超伝導量子干渉計及びその駆動・検出方法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0320684A (ja) * 1989-06-17 1991-01-29 Aisin Seiki Co Ltd 超伝導量子干渉計及びその駆動・検出方法

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