JPH06175934A - 1ビットエラー処理方式 - Google Patents
1ビットエラー処理方式Info
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- JPH06175934A JPH06175934A JP4345624A JP34562492A JPH06175934A JP H06175934 A JPH06175934 A JP H06175934A JP 4345624 A JP4345624 A JP 4345624A JP 34562492 A JP34562492 A JP 34562492A JP H06175934 A JPH06175934 A JP H06175934A
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- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 10
- 238000003672 processing method Methods 0.000 claims description 14
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims description 6
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 abstract description 3
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 abstract description 2
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 208000011580 syndromic disease Diseases 0.000 description 5
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
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- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
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- Detection And Correction Of Errors (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】 主記憶装置12には、1ビットエラーを検出
し、その誤り訂正を行うためのECC機構部17と、E
CC機構部17によって検出された1ビットエラーの訂
正回数をカウントするカウンタ18が設けられている。
一方、プロセッサ11には、一定周期でカウンタ18の
値を読出す一定周期読出し手段14と、読出したカウン
タ値を所定値と比較することによって、主記憶装置12
の異常判定を行うための判定手段15が設けられてい
る。例えば、1ビットエラーが頻発し、一定周期のカウ
ンタ値が所定値以上になった場合、判定手段15は、主
記憶装置12に何らかの異常があると判定する。 【効果】 1ビットエラーが頻発した場合でもプロセッ
サの能力低下を防止できる。
し、その誤り訂正を行うためのECC機構部17と、E
CC機構部17によって検出された1ビットエラーの訂
正回数をカウントするカウンタ18が設けられている。
一方、プロセッサ11には、一定周期でカウンタ18の
値を読出す一定周期読出し手段14と、読出したカウン
タ値を所定値と比較することによって、主記憶装置12
の異常判定を行うための判定手段15が設けられてい
る。例えば、1ビットエラーが頻発し、一定周期のカウ
ンタ値が所定値以上になった場合、判定手段15は、主
記憶装置12に何らかの異常があると判定する。 【効果】 1ビットエラーが頻発した場合でもプロセッ
サの能力低下を防止できる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、記憶装置の1ビットエ
ラー誤り訂正を行う1ビットエラー処理方式に関し、更
に詳細には、ECC(error check and correction)機
構を備えた情報処理装置における主記憶装置の1ビット
エラー処理方式に関する。
ラー誤り訂正を行う1ビットエラー処理方式に関し、更
に詳細には、ECC(error check and correction)機
構を備えた情報処理装置における主記憶装置の1ビット
エラー処理方式に関する。
【0002】
【従来の技術】情報処理装置における主記憶装置の信頼
性向上を図るため、読出し/書込み動作時のチェックが
行われている。このような主記憶装置におけるチェック
として、ECCが用いられている。このECCとは、主
記憶装置に書き込まれる単位幅データに誤り訂正コード
(error correcting code )を付加して書込みを行い、
その読出し時に誤り訂正コードによって、単位幅データ
のどのビットに誤りがあるかを判定するものである。そ
して、この誤り訂正コードとしては、2ビット誤り検
出、1ビット誤り訂正機能をもつコードが広く用いられ
ている。
性向上を図るため、読出し/書込み動作時のチェックが
行われている。このような主記憶装置におけるチェック
として、ECCが用いられている。このECCとは、主
記憶装置に書き込まれる単位幅データに誤り訂正コード
(error correcting code )を付加して書込みを行い、
その読出し時に誤り訂正コードによって、単位幅データ
のどのビットに誤りがあるかを判定するものである。そ
して、この誤り訂正コードとしては、2ビット誤り検
出、1ビット誤り訂正機能をもつコードが広く用いられ
ている。
【0003】図2に、このようなECC機構を備えた情
報処理装置の要部を示す。図の装置は、プロセッサ1と
主記憶装置2がシステムバス3に接続された構成であ
る。プロセッサ1には、主記憶装置2の1ビットエラー
発生回数をカウントするためのカウンタ4が設けられ、
主記憶装置2にはECC機構部5が設けられている。こ
のような装置において、ECC機構部5により、1ビッ
トエラーが検出されると、主記憶装置2からの読出しデ
ータは訂正され、また、プロセッサ1には割込み通知が
送出される。プロセッサ1は、この割込み通知を受ける
と次のような割込み処理を行う。
報処理装置の要部を示す。図の装置は、プロセッサ1と
主記憶装置2がシステムバス3に接続された構成であ
る。プロセッサ1には、主記憶装置2の1ビットエラー
発生回数をカウントするためのカウンタ4が設けられ、
主記憶装置2にはECC機構部5が設けられている。こ
のような装置において、ECC機構部5により、1ビッ
トエラーが検出されると、主記憶装置2からの読出しデ
ータは訂正され、また、プロセッサ1には割込み通知が
送出される。プロセッサ1は、この割込み通知を受ける
と次のような割込み処理を行う。
【0004】図3に、その割込み処理のフローチャート
を示す。先ず、プロセッサ1は、割込みを受けると、そ
の割込み要因が1ビットエラーによるものかどうかを判
定し(ステップS1)、そうでなかった場合は、別処理
を行う(ステップS2)。そして、割込み要因が1ビッ
トエラーであった場合は、カウンタ4のカウントアップ
を行い(ステップS3)、そのカウント値がN回以上か
否かを判断する(ステップS4)。このステップS4に
おいて、N回以上であった場合は、システムダウンとし
(ステップS5)、N回未満であった場合は、その発生
回数を図示省略したシステムコンソールに表示する(ス
テップS6)。また、これと共に、ECC機構部2に対
し1ビットエラーの発生したアドレスとシンドローム情
報を要求し、これらの情報をログとして収集する(ステ
ップS7)。
を示す。先ず、プロセッサ1は、割込みを受けると、そ
の割込み要因が1ビットエラーによるものかどうかを判
定し(ステップS1)、そうでなかった場合は、別処理
を行う(ステップS2)。そして、割込み要因が1ビッ
トエラーであった場合は、カウンタ4のカウントアップ
を行い(ステップS3)、そのカウント値がN回以上か
否かを判断する(ステップS4)。このステップS4に
おいて、N回以上であった場合は、システムダウンとし
(ステップS5)、N回未満であった場合は、その発生
回数を図示省略したシステムコンソールに表示する(ス
テップS6)。また、これと共に、ECC機構部2に対
し1ビットエラーの発生したアドレスとシンドローム情
報を要求し、これらの情報をログとして収集する(ステ
ップS7)。
【0005】このように、主記憶装置2に1ビットエラ
ーが発生すると、これがシステムコンソールに表示さ
れ、また、一定時間内に多く発生する場合は、主記憶装
置2におけるメモリ素子の固定的な故障と考え、システ
ムダウンとする場合もある。これは、通常、メモリ素子
の固定的な故障でない場合の1ビットエラーは多く発生
することはないため、保守員によってログの確認がなさ
れる程度で事足りているが、メモリ素子の固定的な故障
であった場合は、1ビットエラーが頻発し、システム運
用の障害となってしまうからである。
ーが発生すると、これがシステムコンソールに表示さ
れ、また、一定時間内に多く発生する場合は、主記憶装
置2におけるメモリ素子の固定的な故障と考え、システ
ムダウンとする場合もある。これは、通常、メモリ素子
の固定的な故障でない場合の1ビットエラーは多く発生
することはないため、保守員によってログの確認がなさ
れる程度で事足りているが、メモリ素子の固定的な故障
であった場合は、1ビットエラーが頻発し、システム運
用の障害となってしまうからである。
【0006】即ち、1ビットエラーが発生すると、その
度にプロセッサ1は1ビットエラー割込み処理を行うた
め、メモリ素子の固定的な故障等で1ビットエラーが頻
発する場合は、プロセッサ1の処理はその割込み処理に
追われてしまい、システムとしての能力が不足し、その
結果、システムとして運用が正常に行えないことになっ
てしまうからである。
度にプロセッサ1は1ビットエラー割込み処理を行うた
め、メモリ素子の固定的な故障等で1ビットエラーが頻
発する場合は、プロセッサ1の処理はその割込み処理に
追われてしまい、システムとしての能力が不足し、その
結果、システムとして運用が正常に行えないことになっ
てしまうからである。
【0007】一方、上記のような割込み処理の頻発する
のを避けるため、主記憶装置2での1ビットエラーをマ
スクし、プロセッサ1に割込みを発生させない構成も考
えられる。しかしながら、このような構成であった場合
は、1ビットエラーをマスクしたままシステムを運用す
ることになるため、1ビットエラーの割込み処理を行う
構成自体が無駄であるということになってしまう。ま
た、このようなマスク機構を備えることはコストアップ
にもつながり、かつ、このような構成であっても1ビッ
トエラーを判定するには、何らかのプロセッサ1への割
込み処理を行う必要があり、結果として、このような構
成は採用することができなかった。
のを避けるため、主記憶装置2での1ビットエラーをマ
スクし、プロセッサ1に割込みを発生させない構成も考
えられる。しかしながら、このような構成であった場合
は、1ビットエラーをマスクしたままシステムを運用す
ることになるため、1ビットエラーの割込み処理を行う
構成自体が無駄であるということになってしまう。ま
た、このようなマスク機構を備えることはコストアップ
にもつながり、かつ、このような構成であっても1ビッ
トエラーを判定するには、何らかのプロセッサ1への割
込み処理を行う必要があり、結果として、このような構
成は採用することができなかった。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、従来の
1ビットエラー処理方式では、1ビットエラーが発生す
る度にプロセッサ1は割込み処理を行うのが一般的であ
ったため、1ビットエラーが頻発する場合は、システム
としての能力が低下してしまうといった問題点があっ
た。
1ビットエラー処理方式では、1ビットエラーが発生す
る度にプロセッサ1は割込み処理を行うのが一般的であ
ったため、1ビットエラーが頻発する場合は、システム
としての能力が低下してしまうといった問題点があっ
た。
【0009】そして、1ビットエラーがある回数以上発
生した場合はシステムダウンとする構成もあるが、例え
ば、OLTP(Online Transaction Processing )等で
24時間運用を行うシステムにあっては、そのシステム
運用を止めることは好ましくなく、従って、メモリ素子
の固定的な故障等で、1ビットエラーが頻発した場合で
もシステムの運用を正常に行うことのできる1ビットエ
ラー処理方式が求められていた。
生した場合はシステムダウンとする構成もあるが、例え
ば、OLTP(Online Transaction Processing )等で
24時間運用を行うシステムにあっては、そのシステム
運用を止めることは好ましくなく、従って、メモリ素子
の固定的な故障等で、1ビットエラーが頻発した場合で
もシステムの運用を正常に行うことのできる1ビットエ
ラー処理方式が求められていた。
【0010】本発明は、上記従来の問題点を解決するた
めになされたもので、1ビットエラーが頻発した場合で
もプロセッサの能力の低下を防止することができる1ビ
ットエラー処理方式を提供することを目的とする。
めになされたもので、1ビットエラーが頻発した場合で
もプロセッサの能力の低下を防止することができる1ビ
ットエラー処理方式を提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明の1ビットエラー
処理方式は、記憶装置から読出される単位幅データの1
ビット誤り訂正を行う1ビットエラー処理方式におい
て、記憶装置の1ビットエラー訂正回数をカウントする
カウンタ手段を設け、前記カウンタ手段のカウント値を
所定の周期で読出し、これが予め決定された基準値以上
であった場合は、記憶装置が異常であると判定すること
を特徴とするものである。
処理方式は、記憶装置から読出される単位幅データの1
ビット誤り訂正を行う1ビットエラー処理方式におい
て、記憶装置の1ビットエラー訂正回数をカウントする
カウンタ手段を設け、前記カウンタ手段のカウント値を
所定の周期で読出し、これが予め決定された基準値以上
であった場合は、記憶装置が異常であると判定すること
を特徴とするものである。
【0012】
【作用】本発明の1ビットエラー処理方式においては、
ECC機構部が、主記憶装置の1ビットエラーを検出
し、かつその誤り訂正を行い、また、カウンタはECC
機構部によって1ビットエラーの発生毎にカウントアッ
プされる。一方、プロセッサは、一定周期読出し手段
が、予め定められた周期でカウンタの値を読出す。そし
て、判定手段は、一定周期読出し手段で読出した値と、
予め決定されている基準値とを比較し、主記憶装置が異
常であるか否かの判定結果を制御手段に出力する。例え
ば、判定結果が異常であった場合、制御手段は主記憶装
置のメモリ素子に固定的な故障ありと判断する。
ECC機構部が、主記憶装置の1ビットエラーを検出
し、かつその誤り訂正を行い、また、カウンタはECC
機構部によって1ビットエラーの発生毎にカウントアッ
プされる。一方、プロセッサは、一定周期読出し手段
が、予め定められた周期でカウンタの値を読出す。そし
て、判定手段は、一定周期読出し手段で読出した値と、
予め決定されている基準値とを比較し、主記憶装置が異
常であるか否かの判定結果を制御手段に出力する。例え
ば、判定結果が異常であった場合、制御手段は主記憶装
置のメモリ素子に固定的な故障ありと判断する。
【0014】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を用いて詳細に
説明する。図1は本発明の1ビットエラー処理方式を実
施するためのシステムを示すブロック図である。図のシ
ステムは、プロセッサ11と主記憶装置12とがシステ
ムバス13で接続されて構成されている。プロセッサ1
1には、一定周期読出し手段14、判定手段15、制御
手段16とが備えられている。一定周期読出し手段14
は、タイマ等で構成され、後述する主記憶装置12内の
カウンタの値を一定周期で読出す手段である。また、判
定手段15は予め決定された基準値データを有し、この
基準値と一定周期読出し手段14で読みだしたカウンタ
値とを比較して、1ビットエラー発生状況を判定する手
段である。更に、制御手段16は、主記憶装置12内の
カウンタの値のゼロクリアや値の書込み等のリード/ラ
イトや、主記憶装置12における1ビットエラー発生ア
ドレスやそのシンドローム情報の読出し等、プロセッサ
11としての、制御処理を行う手段である。
説明する。図1は本発明の1ビットエラー処理方式を実
施するためのシステムを示すブロック図である。図のシ
ステムは、プロセッサ11と主記憶装置12とがシステ
ムバス13で接続されて構成されている。プロセッサ1
1には、一定周期読出し手段14、判定手段15、制御
手段16とが備えられている。一定周期読出し手段14
は、タイマ等で構成され、後述する主記憶装置12内の
カウンタの値を一定周期で読出す手段である。また、判
定手段15は予め決定された基準値データを有し、この
基準値と一定周期読出し手段14で読みだしたカウンタ
値とを比較して、1ビットエラー発生状況を判定する手
段である。更に、制御手段16は、主記憶装置12内の
カウンタの値のゼロクリアや値の書込み等のリード/ラ
イトや、主記憶装置12における1ビットエラー発生ア
ドレスやそのシンドローム情報の読出し等、プロセッサ
11としての、制御処理を行う手段である。
【0015】主記憶装置12は、ECC機構部17と、
カウンタ18を備えている。ECC機構部17は、従来
と同様の例えば1ビット誤り訂正、2ビット誤り検出を
行うものである。カウンタ18は、ハードウェアあるい
はソフトウェアで構成されたカウンタ手段であり、EC
C機構部17にて検出・訂正された1ビットエラー発生
の回数をカウントするための機能を有している。
カウンタ18を備えている。ECC機構部17は、従来
と同様の例えば1ビット誤り訂正、2ビット誤り検出を
行うものである。カウンタ18は、ハードウェアあるい
はソフトウェアで構成されたカウンタ手段であり、EC
C機構部17にて検出・訂正された1ビットエラー発生
の回数をカウントするための機能を有している。
【0016】次に上記システムにおける1ビットエラー
処理方式を説明する。先ず、プロセッサ11からのデー
タ読出し時において、主記憶装置12に1ビットエラー
が検出されると、ECC機構部17はこれを訂正すると
共に、カウンタ18の値を+1する。尚、このカウンタ
値は予め上限値が決められており、1ビットエラー訂正
回数が、この上限値を超えた場合はそれ以上カウンタ値
を更新しないように構成されている。一方、プロセッサ
11の一定周期読出し手段14は、ある周期で主記憶装
置12のカウンタ値を読出す。また、この周期として
は、1時間毎あるいは1日毎等、適宜選択する。
処理方式を説明する。先ず、プロセッサ11からのデー
タ読出し時において、主記憶装置12に1ビットエラー
が検出されると、ECC機構部17はこれを訂正すると
共に、カウンタ18の値を+1する。尚、このカウンタ
値は予め上限値が決められており、1ビットエラー訂正
回数が、この上限値を超えた場合はそれ以上カウンタ値
を更新しないように構成されている。一方、プロセッサ
11の一定周期読出し手段14は、ある周期で主記憶装
置12のカウンタ値を読出す。また、この周期として
は、1時間毎あるいは1日毎等、適宜選択する。
【0017】図4に、プロセッサ11によるカウンタ読
出し処理のフローチャートを示す。先ず、一定周期読出
し手段14によってカウンタ18の値が読み出されると
(ステップS1)、判定手段15は、その値が“0”で
あるか否かを判定する(ステップS2)。この値が
“0”であれば、主記憶装置12に1ビットエラーが発
生していないため、プロセッサ11は特に何もせず、カ
ウンタ読出し処理を終了する。
出し処理のフローチャートを示す。先ず、一定周期読出
し手段14によってカウンタ18の値が読み出されると
(ステップS1)、判定手段15は、その値が“0”で
あるか否かを判定する(ステップS2)。この値が
“0”であれば、主記憶装置12に1ビットエラーが発
生していないため、プロセッサ11は特に何もせず、カ
ウンタ読出し処理を終了する。
【0018】一方、上記ステップS2においてカウンタ
値が“0”でなかった場合は、1ビットエラーが発生し
ているため、制御手段16は、その1ビットエラーの状
況を認識するために、ECC機構部17にて検出された
1ビットエラー発生アドレスとシンドローム情報を読出
す(ステップS3)。そして、判定手段15は、そのカ
ウンタ値が基準値以上であるかを判定する(ステップS
4)。ここで、基準値未満であった場合、判定手段15
は主記憶装置12に異常がないと判定し、制御手段16
は、この判定結果を受け、カウンタ18をゼロクリアし
(ステップS5)、カウンタ読出し処理を終了する。ま
た、ステップS4において、カウンタ値が基準値以上で
あった場合、判定手段15は主記憶装置12に異常あり
と判定し、制御手段16は、この判定結果に基づき、主
記憶装置12のメモリ素子に固定の障害有りと判断し
て、その旨を図示しないシステムコンソールに表示させ
(ステップS6)、カウンタ読出し処理を終了する。
値が“0”でなかった場合は、1ビットエラーが発生し
ているため、制御手段16は、その1ビットエラーの状
況を認識するために、ECC機構部17にて検出された
1ビットエラー発生アドレスとシンドローム情報を読出
す(ステップS3)。そして、判定手段15は、そのカ
ウンタ値が基準値以上であるかを判定する(ステップS
4)。ここで、基準値未満であった場合、判定手段15
は主記憶装置12に異常がないと判定し、制御手段16
は、この判定結果を受け、カウンタ18をゼロクリアし
(ステップS5)、カウンタ読出し処理を終了する。ま
た、ステップS4において、カウンタ値が基準値以上で
あった場合、判定手段15は主記憶装置12に異常あり
と判定し、制御手段16は、この判定結果に基づき、主
記憶装置12のメモリ素子に固定の障害有りと判断し
て、その旨を図示しないシステムコンソールに表示させ
(ステップS6)、カウンタ読出し処理を終了する。
【0019】尚、上記カウンタ18における上限値の設
定は、一定周期読出し手段14がカウンタ値を読出す周
期と、主記憶装置12の1ビットエラー発生確率を勘案
して決定すればよく、その値としては、通常数ビットの
カウンタで十分な値である。また、1ビットエラーのア
ドレスおよびシンドローム情報は、1ビットエラーの発
生回数分ハードウェアで持つ必要性は少なく、例えば、
最後の1ビットエラー発生時のアドレス、シンドローム
情報を持つだけで実用上は十分である。従って、本方式
を実現するためのハードウェア量の増加は僅かである。
定は、一定周期読出し手段14がカウンタ値を読出す周
期と、主記憶装置12の1ビットエラー発生確率を勘案
して決定すればよく、その値としては、通常数ビットの
カウンタで十分な値である。また、1ビットエラーのア
ドレスおよびシンドローム情報は、1ビットエラーの発
生回数分ハードウェアで持つ必要性は少なく、例えば、
最後の1ビットエラー発生時のアドレス、シンドローム
情報を持つだけで実用上は十分である。従って、本方式
を実現するためのハードウェア量の増加は僅かである。
【0020】更に、プロセッサ11は、その制御手段1
6によって、カウンタ18の値をゼロクリアするだけで
なく、値を書き込むことができるよう構成されているた
め、例えば、動作テストとして、カウンタ18にその上
限値を書込み、これによって、判定手段15やシステム
コンソールの表示が正常に動作できるかどうかを試験す
ることもできる。
6によって、カウンタ18の値をゼロクリアするだけで
なく、値を書き込むことができるよう構成されているた
め、例えば、動作テストとして、カウンタ18にその上
限値を書込み、これによって、判定手段15やシステム
コンソールの表示が正常に動作できるかどうかを試験す
ることもできる。
【0021】以上のように、上記実施例では、1ビット
エラーでのプロセッサの割込み処理をやめ、プロセッサ
11側から定期的に1ビットエラーの発生状況を見に行
くようにしたので、たとえ1ビットエラーが頻発したと
しても、システム性能は低下せず、システムとして処理
続行が可能である。尚、この場合、メモリ素子の固定的
な故障ではECC機構部17により、1ビットエラーの
読出し時の訂正は行えるが、この訂正したデータのメモ
リ素子への書込みは正常には行えないため、プロセッサ
11側から再び読み出せば1ビットエラーが頻発するこ
とになる。即ち、主記憶装置12の、あるアドレスのメ
モリ素子そのものが異常であった場合は、ECC機構部
17によって訂正された正しいデータを再度そのアドレ
スに書き込んでも、正常な書込みが行えないからであ
る。
エラーでのプロセッサの割込み処理をやめ、プロセッサ
11側から定期的に1ビットエラーの発生状況を見に行
くようにしたので、たとえ1ビットエラーが頻発したと
しても、システム性能は低下せず、システムとして処理
続行が可能である。尚、この場合、メモリ素子の固定的
な故障ではECC機構部17により、1ビットエラーの
読出し時の訂正は行えるが、この訂正したデータのメモ
リ素子への書込みは正常には行えないため、プロセッサ
11側から再び読み出せば1ビットエラーが頻発するこ
とになる。即ち、主記憶装置12の、あるアドレスのメ
モリ素子そのものが異常であった場合は、ECC機構部
17によって訂正された正しいデータを再度そのアドレ
スに書き込んでも、正常な書込みが行えないからであ
る。
【0022】しかしながら、このような場合でも、上記
実施例では、カウンタ18に1ビットエラー発生回数を
カウントしておくため、2ビットエラーに発展する危険
性を検知することができる。即ち、カウンタ値が上限値
になっていれば、あるアドレスに固定的な故障があり、
2ビットエラーに発展する恐れがあると判断し、メモリ
素子の復旧処理等、速やかに対策を講じることができる
と共に、従来のように、プロセッサの割込み処理が頻発
することによっていきなりシステムダウンに至るのとい
った事態を避けることができるのである。
実施例では、カウンタ18に1ビットエラー発生回数を
カウントしておくため、2ビットエラーに発展する危険
性を検知することができる。即ち、カウンタ値が上限値
になっていれば、あるアドレスに固定的な故障があり、
2ビットエラーに発展する恐れがあると判断し、メモリ
素子の復旧処理等、速やかに対策を講じることができる
と共に、従来のように、プロセッサの割込み処理が頻発
することによっていきなりシステムダウンに至るのとい
った事態を避けることができるのである。
【0023】また、上記実施例では、カウンタ18を主
記憶装置12内に設けたが、これをプロセッサ11内に
設けてもよい。ただ、この場合、カウンタ18のカウン
トアップはプロセッサ11の割込み処理によって行うの
ではなく、ECC機構部17によって行われるものであ
る。
記憶装置12内に設けたが、これをプロセッサ11内に
設けてもよい。ただ、この場合、カウンタ18のカウン
トアップはプロセッサ11の割込み処理によって行うの
ではなく、ECC機構部17によって行われるものであ
る。
【0024】更に、上記実施例では、一定周期でのカウ
ンタ値を基準値と比較するようにしたが、カウンタ値を
読出す周期は任意に設定可能であり、時間帯によって変
更する等の構成であってもよい。そして、1ビットエラ
ーの処理を行う記憶装置として、情報処理装置における
主記憶装置12を例にとって説明したが、これ以外にも
外部記憶装置等、どんな記憶装置であっても同様に適用
可能である。
ンタ値を基準値と比較するようにしたが、カウンタ値を
読出す周期は任意に設定可能であり、時間帯によって変
更する等の構成であってもよい。そして、1ビットエラ
ーの処理を行う記憶装置として、情報処理装置における
主記憶装置12を例にとって説明したが、これ以外にも
外部記憶装置等、どんな記憶装置であっても同様に適用
可能である。
【0025】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の1ビット
エラー処理方式によれば、記憶装置の1ビットエラー発
生回数をカウントするカウンタ手段を設け、所定の周期
のカウンタ値が、予め決定された基準値以上であった場
合は、記憶装置が異常であると判定するようにしたの
で、1ビットエラーが頻発した場合でも、プロセッサが
これによる割込み処理に追われることがなく、従って、
このような場合のプロセッサの能力の低下を防止するこ
とができる。
エラー処理方式によれば、記憶装置の1ビットエラー発
生回数をカウントするカウンタ手段を設け、所定の周期
のカウンタ値が、予め決定された基準値以上であった場
合は、記憶装置が異常であると判定するようにしたの
で、1ビットエラーが頻発した場合でも、プロセッサが
これによる割込み処理に追われることがなく、従って、
このような場合のプロセッサの能力の低下を防止するこ
とができる。
【図1】本発明の1ビットエラー処理方式を実施するた
めのシステム構成のブロック図である。
めのシステム構成のブロック図である。
【図2】従来の1ビットエラー処理方式を実施するため
のシステム構成のブロック図である。
のシステム構成のブロック図である。
【図3】従来の1ビットエラー処理方式における割込み
処理のフローチャートである。
処理のフローチャートである。
【図4】本発明の1ビットエラー処理方式におけるカウ
ンタ読出し処理のフローチャートである。
ンタ読出し処理のフローチャートである。
11 プロセッサ 12 主記憶装置 14 一定周期読出し手段 15 判定手段 17 ECC機構部 18 カウンタ
Claims (1)
- 【請求項1】 記憶装置から読出される単位幅データの
1ビット誤り訂正を行う1ビットエラー処理方式におい
て、 記憶装置の1ビットエラー訂正回数をカウントするカウ
ンタ手段を設け、 前記カウンタ手段のカウント値を所定の周期で読出し、
これが予め決定された基準値以上であった場合は、記憶
装置が異常であると判定することを特徴とする1ビット
エラー処理方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4345624A JPH06175934A (ja) | 1992-12-01 | 1992-12-01 | 1ビットエラー処理方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4345624A JPH06175934A (ja) | 1992-12-01 | 1992-12-01 | 1ビットエラー処理方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06175934A true JPH06175934A (ja) | 1994-06-24 |
Family
ID=18377866
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4345624A Pending JPH06175934A (ja) | 1992-12-01 | 1992-12-01 | 1ビットエラー処理方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06175934A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6574177B2 (en) | 2000-09-20 | 2003-06-03 | Fujitsu Limited | Data read method for remedying low-quality read data and storage apparatus employing such a data read method |
| JP2009520289A (ja) * | 2005-12-20 | 2009-05-21 | ローベルト ボッシュ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | データ記憶装置における停電を検出する方法、およびデータ記憶装置を復旧する方法 |
| WO2009078145A1 (ja) * | 2007-12-14 | 2009-06-25 | Kabushiki Kaisha Toshiba | 制御装置 |
| JP2009205212A (ja) * | 2008-02-26 | 2009-09-10 | Nec Corp | メモリ障害処理システム、メモリ障害処理方法、及びメモリ障害処理プログラム |
| US7823046B2 (en) | 2003-03-13 | 2010-10-26 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device |
| JP2012103826A (ja) * | 2010-11-09 | 2012-05-31 | Fujitsu Ltd | キャッシュメモリシステム |
| JP2015153125A (ja) * | 2014-02-14 | 2015-08-24 | 三菱電機株式会社 | ハードウェア異常監視装置 |
-
1992
- 1992-12-01 JP JP4345624A patent/JPH06175934A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6574177B2 (en) | 2000-09-20 | 2003-06-03 | Fujitsu Limited | Data read method for remedying low-quality read data and storage apparatus employing such a data read method |
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| US8145951B2 (en) | 2007-12-14 | 2012-03-27 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Control device |
| JP2009205212A (ja) * | 2008-02-26 | 2009-09-10 | Nec Corp | メモリ障害処理システム、メモリ障害処理方法、及びメモリ障害処理プログラム |
| JP2012103826A (ja) * | 2010-11-09 | 2012-05-31 | Fujitsu Ltd | キャッシュメモリシステム |
| JP2015153125A (ja) * | 2014-02-14 | 2015-08-24 | 三菱電機株式会社 | ハードウェア異常監視装置 |
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