JPH0617896B2 - 誘導性センサ装置および同装置使用のための測定装置 - Google Patents
誘導性センサ装置および同装置使用のための測定装置Info
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- JPH0617896B2 JPH0617896B2 JP59139737A JP13973784A JPH0617896B2 JP H0617896 B2 JPH0617896 B2 JP H0617896B2 JP 59139737 A JP59139737 A JP 59139737A JP 13973784 A JP13973784 A JP 13973784A JP H0617896 B2 JPH0617896 B2 JP H0617896B2
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- G—PHYSICS
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- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/02—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
- G01B7/023—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring distance between sensor and object
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K9/00—Arc welding or cutting
- B23K9/12—Automatic feeding or moving of electrodes or work for spot or seam welding or cutting
- B23K9/127—Means for tracking lines during arc welding or cutting
- B23K9/1272—Geometry oriented, e.g. beam optical trading
- B23K9/1276—Using non-contact, electric or magnetic means, e.g. inductive means
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
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Description
【発明の詳細な説明】 本発明は特許請求の範囲第1項に記載の上位概念に基づ
く誘導性センサ装置に関する。
く誘導性センサ装置に関する。
記載方式の誘導性センサ装置は種々の実施態様で既知で
あり、たとえば欧州特許登録第7034号またはフランス特
許登録第2,394,783号あるいはそれらの異議申立書に記
載されている。これらのセンサ装置はいずれも共通し
て、非磁性体または強磁性体材料への接近による振動回
路の誘導が材料の磁性特性、減衰および/または渦電流
形成により変化し、この誘導はある一定範囲内では対象
物距離の関数であることを基礎としている。これらのセ
ンサ装置は解像度に限界があり、とくにたとえば裂け
目、孔または隆起部のような対象物の不規則部を高い精
度で計測することには不適当である。これらはむしろ距
離計測に使用が限定される。本発明は高い解像度と高い
計測精度とを可能とし、また対象物の不規則な表面形状
においても使用可能である誘導性センサ装置を提供する
ことの課題を基礎としている。センサ装置はさらに構造
が簡単で使用に際し頑丈であることが必要である。
あり、たとえば欧州特許登録第7034号またはフランス特
許登録第2,394,783号あるいはそれらの異議申立書に記
載されている。これらのセンサ装置はいずれも共通し
て、非磁性体または強磁性体材料への接近による振動回
路の誘導が材料の磁性特性、減衰および/または渦電流
形成により変化し、この誘導はある一定範囲内では対象
物距離の関数であることを基礎としている。これらのセ
ンサ装置は解像度に限界があり、とくにたとえば裂け
目、孔または隆起部のような対象物の不規則部を高い精
度で計測することには不適当である。これらはむしろ距
離計測に使用が限定される。本発明は高い解像度と高い
計測精度とを可能とし、また対象物の不規則な表面形状
においても使用可能である誘導性センサ装置を提供する
ことの課題を基礎としている。センサ装置はさらに構造
が簡単で使用に際し頑丈であることが必要である。
この課題は本発明により、まず発信コイルおよび/また
は受信コイルはメタル層として、平坦で非導電性コイル
担持体の少くとも1方の表面に担持されていることで達
成される。たとえば厚層フイルム技術または薄層フイル
ム技術による平坦ベース上へのこのような導電層の担持
はコイルの形状形成において無限の可能性を許容する。
平坦ベースは他方最も簡単で最も有利に多層コイル装置
への「積層」ないしは組合わせを可能とし、また適切材
料の選択により変形とくに彎曲を可能としこれにより対
象物の表面への適合を可能とする。本発明の構成により
また1個のコイル担持体上しかもコイル担持体の両面に
複数個のコイルの具備を可能とする。したがつて、たと
えば最も簡単な方法としては受信コイルはコイル担持体
の対象物に面する側にまた発信コイルはコイル担持体の
対象物とは反対の面に具備することを可能とする。これ
により、小なる構成高さ、小なるコイル寸法、したがつ
て高い解像度が確保されるばかりでなく受信コイル相互
間ならびに受信コイルと発信コイル間の構造上に起因す
る距離変化は回避可能である。したがつて製作誤差は最
低に減少可能でたとえば使用中の機械的障害も回避可能
である。
は受信コイルはメタル層として、平坦で非導電性コイル
担持体の少くとも1方の表面に担持されていることで達
成される。たとえば厚層フイルム技術または薄層フイル
ム技術による平坦ベース上へのこのような導電層の担持
はコイルの形状形成において無限の可能性を許容する。
平坦ベースは他方最も簡単で最も有利に多層コイル装置
への「積層」ないしは組合わせを可能とし、また適切材
料の選択により変形とくに彎曲を可能としこれにより対
象物の表面への適合を可能とする。本発明の構成により
また1個のコイル担持体上しかもコイル担持体の両面に
複数個のコイルの具備を可能とする。したがつて、たと
えば最も簡単な方法としては受信コイルはコイル担持体
の対象物に面する側にまた発信コイルはコイル担持体の
対象物とは反対の面に具備することを可能とする。これ
により、小なる構成高さ、小なるコイル寸法、したがつ
て高い解像度が確保されるばかりでなく受信コイル相互
間ならびに受信コイルと発信コイル間の構造上に起因す
る距離変化は回避可能である。したがつて製作誤差は最
低に減少可能でたとえば使用中の機械的障害も回避可能
である。
本発明により複数個のコイルがコイル担持体上に対称
(軸対称または点対称)に配設されるセンサ装置が実現
可能であることはとくに有利である。このような対称配
設は裂け目の追跡および/または対象物不規則面上での
センサのセンタリングに最適でとくに有利である。
(軸対称または点対称)に配設されるセンサ装置が実現
可能であることはとくに有利である。このような対称配
設は裂け目の追跡および/または対象物不規則面上での
センサのセンタリングに最適でとくに有利である。
不規則な表面を有する対象物に適合させるために対象物
に対し2個またはそれ以上の相互に隣接して配設された
コイル担持体を具備可能であることは有利である。本発
明による手段、すなわち彎曲可能な平坦ベースの挿入、
および/または複数個のコイル担持体の相互重ね合わせ
による積層、および/またはコイル担持体の隣接するお
よび/または相互に角をなす配設等の組合せにより従来
達成不可能であった方法で実際にこの種の誘導センサに
課された課題が解決可能である。
に対し2個またはそれ以上の相互に隣接して配設された
コイル担持体を具備可能であることは有利である。本発
明による手段、すなわち彎曲可能な平坦ベースの挿入、
および/または複数個のコイル担持体の相互重ね合わせ
による積層、および/またはコイル担持体の隣接するお
よび/または相互に角をなす配設等の組合せにより従来
達成不可能であった方法で実際にこの種の誘導センサに
課された課題が解決可能である。
センサ装置は少くとも1個の受信コイルと発信コイルと
を具備し、ここで該発信コイルは発振器、とくにHF発
振器に接続されまた発信コイルは対象物とセンサ装置と
の相対位置変化に応じた位相変化および/または電圧変
化を計測するための評価回路に接続されているところの
センサ装置の相対位置計測のため計測装置への本発明に
よるセンサ装置の使用はとくにきわめて有利である。解
像度の向上および/または特殊な測定要求または特殊な
対象物への適合のためにここで本発明により、少くとも
受信コイルおよび/または発信コイルは少くとも2個の
部分コイルに分割されていること、および部分コイルの
一方および/または他方を評価回路に選択接続するため
の切換装置を具備していることが提案される。ここで該
部分コイルが対象物に対し異なる作用をなすコイル平面
を提示する場合、たとえば大なる捕獲領域を確保するた
めに大なる表面を有するコイルが対象物接近の間に評価
回路と接続され、一方作用のより小なるコイル表面を有
するコイルは接近の終結後評価回路に接続することが可
能であるが、これらは解像度および操作精度の向上を確
実に行なうためのものである。たとえば一方では距離の
計測をまた他方では対象物の不規則部に対する相対位置
の計測を実行するという場合のように設定課題に応じて
コイル表面が切換装置を介して任意に直列またはその逆
に切換えることもまた思考可能である。
を具備し、ここで該発信コイルは発振器、とくにHF発
振器に接続されまた発信コイルは対象物とセンサ装置と
の相対位置変化に応じた位相変化および/または電圧変
化を計測するための評価回路に接続されているところの
センサ装置の相対位置計測のため計測装置への本発明に
よるセンサ装置の使用はとくにきわめて有利である。解
像度の向上および/または特殊な測定要求または特殊な
対象物への適合のためにここで本発明により、少くとも
受信コイルおよび/または発信コイルは少くとも2個の
部分コイルに分割されていること、および部分コイルの
一方および/または他方を評価回路に選択接続するため
の切換装置を具備していることが提案される。ここで該
部分コイルが対象物に対し異なる作用をなすコイル平面
を提示する場合、たとえば大なる捕獲領域を確保するた
めに大なる表面を有するコイルが対象物接近の間に評価
回路と接続され、一方作用のより小なるコイル表面を有
するコイルは接近の終結後評価回路に接続することが可
能であるが、これらは解像度および操作精度の向上を確
実に行なうためのものである。たとえば一方では距離の
計測をまた他方では対象物の不規則部に対する相対位置
の計測を実行するという場合のように設定課題に応じて
コイル表面が切換装置を介して任意に直列またはその逆
に切換えることもまた思考可能である。
部分コイルの切換えのための切換装置の使用は、明らか
にそれ自体すでにこの種の計測装置の実質的な改良へと
つながつている。これにより必要なコイル数は減少可能
であると同時に場合によつてはただ1個の評価回路で距
離の計測ならび対象物の不規則部に対する横方向相対位
置の計測に交互にまたサイクリツクに利用可能であると
いう方法で評価回路は簡単化が可能である。切換装置を
有する計測装置と組み合わせて、本発明による誘導性セ
ンサ装置を利用すれば、広範囲な利用可能性、機械的安
定性ならびに機械的影響に対する抵抗性を基礎としてと
くに顕著な結果を提供する。
にそれ自体すでにこの種の計測装置の実質的な改良へと
つながつている。これにより必要なコイル数は減少可能
であると同時に場合によつてはただ1個の評価回路で距
離の計測ならび対象物の不規則部に対する横方向相対位
置の計測に交互にまたサイクリツクに利用可能であると
いう方法で評価回路は簡単化が可能である。切換装置を
有する計測装置と組み合わせて、本発明による誘導性セ
ンサ装置を利用すれば、広範囲な利用可能性、機械的安
定性ならびに機械的影響に対する抵抗性を基礎としてと
くに顕著な結果を提供する。
以下図により本発明を実施例で詳細に説明する。
第1a図および第1b図において、自動溶接装置で使用
されているような、ここで略図で示したイナートガス溶
接ノズルSの周囲にリング状コイル担持体2が具備さ
れ、該コイル担持体上に厚層フイルム技術でその上側に
発信コイル1がまたその下側に第1の受信部分コイル4
aおよび第2の受信部分コイル4bが配設されている。
受信部分コイル4aおよび4bは軸対称に形成され切断
で分割された板7の両半分の上方に位置する。発信コイ
ル1により電磁界が励起され該電磁界は板7内に渦電流
を惹起し、該渦電流は一方部分コイル4aおよび4bに
影響を及ぼす。両方の受信コイル4aおよび4bの対称
性の理由で、イナートガス溶接ノズルSおよびそれに付
属の発信コイル1と受信部分コイル4aならびに4bと
からなる装置が板7の切断面7a上の中央に存在する限
り、これら受信コイルは明らかに同一の影響を受ける。
しかしながら、ひとたび中心移動が発生すると部分コイ
ルは異なる影響を受け出力端4a-1,4a-2ないし4b-1,4b-2
に位相および/または振幅の異なる出力電圧が発生し、
該出力電圧は既知の方法で評価され中心移動の量に比例
する信号の提供に利用可能である。
されているような、ここで略図で示したイナートガス溶
接ノズルSの周囲にリング状コイル担持体2が具備さ
れ、該コイル担持体上に厚層フイルム技術でその上側に
発信コイル1がまたその下側に第1の受信部分コイル4
aおよび第2の受信部分コイル4bが配設されている。
受信部分コイル4aおよび4bは軸対称に形成され切断
で分割された板7の両半分の上方に位置する。発信コイ
ル1により電磁界が励起され該電磁界は板7内に渦電流
を惹起し、該渦電流は一方部分コイル4aおよび4bに
影響を及ぼす。両方の受信コイル4aおよび4bの対称
性の理由で、イナートガス溶接ノズルSおよびそれに付
属の発信コイル1と受信部分コイル4aならびに4bと
からなる装置が板7の切断面7a上の中央に存在する限
り、これら受信コイルは明らかに同一の影響を受ける。
しかしながら、ひとたび中心移動が発生すると部分コイ
ルは異なる影響を受け出力端4a-1,4a-2ないし4b-1,4b-2
に位相および/または振幅の異なる出力電圧が発生し、
該出力電圧は既知の方法で評価され中心移動の量に比例
する信号の提供に利用可能である。
コイル担持体2を比較的薄いコイル積層を有するリング
板として形成することにより全体配設はきわめてコンパ
クトにして溶接部近傍に配設が可能でこれは高い計測精
度を確保する。この場合、セラミックベース上への厚層
技術または薄層フイルム技術が高温雰囲気をも可能とす
る。
板として形成することにより全体配設はきわめてコンパ
クトにして溶接部近傍に配設が可能でこれは高い計測精
度を確保する。この場合、セラミックベース上への厚層
技術または薄層フイルム技術が高温雰囲気をも可能とす
る。
第2図はコイル担持体2上に4個の受信部分コイル4a1,
4a2,4b1,4b2が配設されているセンサ装置を示す。ここ
で部分コイル4a−1および4a−2は部分コイル4a
−2および4b−2と軸対称に配設されている。部分コ
イル4a−2および4b−2は対称軸からより大なる距
離にあるのでたとえば第1a図の切断面7aのような対
象物の不規則部に接近した場合、明らかにより大なる
「捕獲領域」がえられる。すなわちセンサ装置が切断面
7aに(たとえば上方から)接近した場合まず外側から
位置する部分コイル4a−2および4b−2の評価によ
り大なる確実性をもつて裂け目7aによつて与えられる
不規則部は発信コイル1により与えられるHF−磁界の
影響内にて「探知」可能である。センサ装置が切断部7
a上の近傍に配置されれば該対象物の不規則部の近傍に
部分コイルは配置されることとなる。この目的のために
このときは内方に位置する部分コイル4a1および4b1
からえられる信号が評価可能で、これにより高度な追跡
精度が達成可能である。
4a2,4b1,4b2が配設されているセンサ装置を示す。ここ
で部分コイル4a−1および4a−2は部分コイル4a
−2および4b−2と軸対称に配設されている。部分コ
イル4a−2および4b−2は対称軸からより大なる距
離にあるのでたとえば第1a図の切断面7aのような対
象物の不規則部に接近した場合、明らかにより大なる
「捕獲領域」がえられる。すなわちセンサ装置が切断面
7aに(たとえば上方から)接近した場合まず外側から
位置する部分コイル4a−2および4b−2の評価によ
り大なる確実性をもつて裂け目7aによつて与えられる
不規則部は発信コイル1により与えられるHF−磁界の
影響内にて「探知」可能である。センサ装置が切断部7
a上の近傍に配置されれば該対象物の不規則部の近傍に
部分コイルは配置されることとなる。この目的のために
このときは内方に位置する部分コイル4a1および4b1
からえられる信号が評価可能で、これにより高度な追跡
精度が達成可能である。
第2b図は第2a図に類似の実施例を示すがここでは部
分コイル4a-1,4a-2,4b-1,4b-2は長方形に走行する軌道
を有している。第2c図は計測装置のブロツク線図を示
し、第2a図または第2b図のセンサ装置の信号は該計
測装置内で評価可能である。ここで発信コイル1はHF
−発振器3で励起される。受信コイル4a−1および4
b−1は巻線方向が逆に接続され第1の増幅器6の入力
端に接続されている。部分コイル4a-1および4b−1の
逆方向接続により、部分コイルが対象物に対し対称に影
響を受ける限りその出力電圧は相殺されてゼロとなる。
しかしながら非対称が発生してたとえば切断部7aがも
はやコイル装置の対称軸と正確に一致しなくなった場
合、両方の部分コイルは切断部のために一方はより弱く
他方はより強く影響を受ける。増幅器6は振幅比較器お
よび/または位相比較器として形成されHF−発振器3
から基準電圧を受ける。部分コイル4a-1,4b-1の各々の
非対称は合成信号の振幅変動および/または位相移動と
なり、したがつて増幅器6の出力端に信号が発生する。
同様に外方に位置する受信部分コイル4a-2,4b-2も逆方
向に接続されて増幅器6aの入力端に接続され、該増幅
器も同様に位相比較器として形成され基準入力を介して
HF−発振器と結合されている。両方の増幅器6および
6aは出力側が切換装置8と接続されている。切換装置
8が開であること、すなわち増幅器6の出力端のみが切
換装置8を介して加算増幅器6bに接続された状態であ
る限り、計測装置の出力端9に達する信号はもつぱら内
方に位置する部分コイル4a−1および4b−1の測定
信号から来るものである。これにより、対象物に作用す
るコイル平面が小なることからすでにわずかに移動して
も評価可能な対称関係変動とすることが可能である。一
方切換装置8が閉とされると、増幅器6aの出力も加算
増幅器6bの入力端に付加され、これにより外方に位置
する部分コイル4a−2および4b−2から送られる信
号も出力端9における加算信号に付加される。4a−1
ないし4b−2の装置全体のすべての部分コイルからな
るより大なる作用コイル平面により、切換装置8のこの
開閉状態では測定装置の大なる捕獲領域が確保され、こ
の捕獲領域は対象物7から大なる距離にあつてもなお対
象物の不規則部を評価可能に「確認」しうる範囲内にあ
る。この場合複数個のこのような部分コイルが具備され
ているとき、一種の「景観図」すなわちセンサ装置下の
対象物の図がえられることはきわめて有利である。ここ
でコイル表面は段階的に小または大となすことが可能で
ある。切換がシーケンシヤルな切換装置(走査装置)で
達成可能であることは有利で、この場合個々の切換段の
計測値はたとえばマイクロプロセツサで処理可能であ
る。
分コイル4a-1,4a-2,4b-1,4b-2は長方形に走行する軌道
を有している。第2c図は計測装置のブロツク線図を示
し、第2a図または第2b図のセンサ装置の信号は該計
測装置内で評価可能である。ここで発信コイル1はHF
−発振器3で励起される。受信コイル4a−1および4
b−1は巻線方向が逆に接続され第1の増幅器6の入力
端に接続されている。部分コイル4a-1および4b−1の
逆方向接続により、部分コイルが対象物に対し対称に影
響を受ける限りその出力電圧は相殺されてゼロとなる。
しかしながら非対称が発生してたとえば切断部7aがも
はやコイル装置の対称軸と正確に一致しなくなった場
合、両方の部分コイルは切断部のために一方はより弱く
他方はより強く影響を受ける。増幅器6は振幅比較器お
よび/または位相比較器として形成されHF−発振器3
から基準電圧を受ける。部分コイル4a-1,4b-1の各々の
非対称は合成信号の振幅変動および/または位相移動と
なり、したがつて増幅器6の出力端に信号が発生する。
同様に外方に位置する受信部分コイル4a-2,4b-2も逆方
向に接続されて増幅器6aの入力端に接続され、該増幅
器も同様に位相比較器として形成され基準入力を介して
HF−発振器と結合されている。両方の増幅器6および
6aは出力側が切換装置8と接続されている。切換装置
8が開であること、すなわち増幅器6の出力端のみが切
換装置8を介して加算増幅器6bに接続された状態であ
る限り、計測装置の出力端9に達する信号はもつぱら内
方に位置する部分コイル4a−1および4b−1の測定
信号から来るものである。これにより、対象物に作用す
るコイル平面が小なることからすでにわずかに移動して
も評価可能な対称関係変動とすることが可能である。一
方切換装置8が閉とされると、増幅器6aの出力も加算
増幅器6bの入力端に付加され、これにより外方に位置
する部分コイル4a−2および4b−2から送られる信
号も出力端9における加算信号に付加される。4a−1
ないし4b−2の装置全体のすべての部分コイルからな
るより大なる作用コイル平面により、切換装置8のこの
開閉状態では測定装置の大なる捕獲領域が確保され、こ
の捕獲領域は対象物7から大なる距離にあつてもなお対
象物の不規則部を評価可能に「確認」しうる範囲内にあ
る。この場合複数個のこのような部分コイルが具備され
ているとき、一種の「景観図」すなわちセンサ装置下の
対象物の図がえられることはきわめて有利である。ここ
でコイル表面は段階的に小または大となすことが可能で
ある。切換がシーケンシヤルな切換装置(走査装置)で
達成可能であることは有利で、この場合個々の切換段の
計測値はたとえばマイクロプロセツサで処理可能であ
る。
第3図は第2c図の装置に類似して構成されている計測
装置の実施例を示す。前述の装置との相違は切換装置8
が専ら受信部分コイル4a−1,4a-2,4b-1,4b-2の出力
端と直接結合されていることであつて、したがつて大な
る捕獲領域を有する一方の位置と大なる解像能力を有す
る第2の位置との間の切換は増幅器6の前で行われるこ
とである。ここで明らかなように受信部分コイル4a−
1ないし4b−2から導入された信号は直接相互に逆方
向に接続され、第2c図の回路と同様な結果をうる。
装置の実施例を示す。前述の装置との相違は切換装置8
が専ら受信部分コイル4a−1,4a-2,4b-1,4b-2の出力
端と直接結合されていることであつて、したがつて大な
る捕獲領域を有する一方の位置と大なる解像能力を有す
る第2の位置との間の切換は増幅器6の前で行われるこ
とである。ここで明らかなように受信部分コイル4a−
1ないし4b−2から導入された信号は直接相互に逆方
向に接続され、第2c図の回路と同様な結果をうる。
第4a図は円形形状の部分コイル4a-1,4a-2,4b-1および
4b-2を有する誘導性センサ装置を示す。発信コイル1は
コイル担持体2の上面に配設されている(第4b図)。
記述のセンサ装置は受信部分コイル4a-1,4a-2,4b-1,4b-
2からえられた信号の評価ののち、裂け目7aに対する
コイル担持体2の対称軸Xの相対位置に関する出力情報
と同様に点状の対象物の不規則部に対する相対位置の決
定も可能とする。これは受信コイルの対角線に位置する
対すなわち4a-1,4b-2および4a-2,4b-1の出力信号の比較
で可能である。
4b-2を有する誘導性センサ装置を示す。発信コイル1は
コイル担持体2の上面に配設されている(第4b図)。
記述のセンサ装置は受信部分コイル4a-1,4a-2,4b-1,4b-
2からえられた信号の評価ののち、裂け目7aに対する
コイル担持体2の対称軸Xの相対位置に関する出力情報
と同様に点状の対象物の不規則部に対する相対位置の決
定も可能とする。これは受信コイルの対角線に位置する
対すなわち4a-1,4b-2および4a-2,4b-1の出力信号の比較
で可能である。
第5図はコイル担持体2が彎曲しやすい材料から製作さ
れしたがって2個のメタル片7bおよび7cの彎曲面に
適合可能な実施例を示す。
れしたがって2個のメタル片7bおよび7cの彎曲面に
適合可能な実施例を示す。
第6図は2個のメタル部分7bおよび7cの表面形状に
適合するように2個のコイル担持体2aおよび2bが相
互に角をなして配設されている実施例を示す。これらの
実施例は本発明によるセンサ装置の広範囲な利用可能性
を示す。図示の変更態様においては使用例および運転条
件等に応じて彎曲しやすい絶縁材料、セラミツク、ガラ
ス等からなるコイル担持体が使用可能である。専門家に
は適切な材料がよく知られている。
適合するように2個のコイル担持体2aおよび2bが相
互に角をなして配設されている実施例を示す。これらの
実施例は本発明によるセンサ装置の広範囲な利用可能性
を示す。図示の変更態様においては使用例および運転条
件等に応じて彎曲しやすい絶縁材料、セラミツク、ガラ
ス等からなるコイル担持体が使用可能である。専門家に
は適切な材料がよく知られている。
第7a図および第7b図は「積層」すなわち種々のコイ
ル担持体の重畳結合によりセンサ装置がさらにいかに改
善されるかを見やすく示している。明確な記述を可能と
するために第7a図においては2個のコイル担持体2a
および2bは相互に隔離して記載されている。最終の組
立形状は第7b図で明瞭なように両方のコイル担持体2
aおよび2bは相互に糊着され固く結合されている。両
方のコイル担持体2aおよび2bは受信部分コイル4a-
1,4b-1,ないしは4a-2,4b-2を具備し、これらはコイル担
持体2上に薄層フイルム技術でそれぞれほぼD形状およ
び軸対称に担持されている。ここで対称軸X1およびX
2は相互に直交して二等分している。これにより第7b
図の実施例のように受信部分コイルは発信コイル1ない
しは対象物(図示なし)の非対称により影響を受ける。
しかしながらこの場合コイル形状(D形状)により、対
称軸に平行に走行する巻線部分が比較的短かい1個づつ
のコイルの配設の場合よりもより良好な解像度がえられ
る。
ル担持体の重畳結合によりセンサ装置がさらにいかに改
善されるかを見やすく示している。明確な記述を可能と
するために第7a図においては2個のコイル担持体2a
および2bは相互に隔離して記載されている。最終の組
立形状は第7b図で明瞭なように両方のコイル担持体2
aおよび2bは相互に糊着され固く結合されている。両
方のコイル担持体2aおよび2bは受信部分コイル4a-
1,4b-1,ないしは4a-2,4b-2を具備し、これらはコイル担
持体2上に薄層フイルム技術でそれぞれほぼD形状およ
び軸対称に担持されている。ここで対称軸X1およびX
2は相互に直交して二等分している。これにより第7b
図の実施例のように受信部分コイルは発信コイル1ない
しは対象物(図示なし)の非対称により影響を受ける。
しかしながらこの場合コイル形状(D形状)により、対
称軸に平行に走行する巻線部分が比較的短かい1個づつ
のコイルの配設の場合よりもより良好な解像度がえられ
る。
第8a図および第8b図は4個のコイル担持体2a,2b,2c
および2aを有するセンサ装置の変更態様を示す。第7図
の実施例と類似してコイル担持体2aおよび2b上に発
信コイル1ならびに受信部分コイル4a-1,4b-1,4b-2,お
よび4b−2がD形状に配設されている。第3のコイル
担持体2c上にさらにリング状の第3の受信部分コイル
4cが具備され、該コイルはセンサ装置と対象物との間
の距離の計測に利用可能である。さらに第4のコイル担
持体2a上にコンデンサとして働くさらに2個の円形導
体11、12が配設され、該導体は既知の方法で、セン
サ装置と対象物との間の静電容量的距離計測のための装
置に結合可能である。この静電容量電極11、12は個
々にセンサ装置の対象物7b,7cに対する距離を高精
度に計測することを可能とする。コンデンサ電極11お
よび12は第8b図から明らかなように最下層のコイル
担持体2aの背側に配設されしたがつて保護されてい
る。記述の複数個の部分コイルならびに最も簡単な方法
で組込まれたコンデンサ電極からなる総体装置はきわめ
てコンパクトで、操作が確実で高度な解像度を有する広
く適用可能なセンサ装置の製作を可能とする。
および2aを有するセンサ装置の変更態様を示す。第7図
の実施例と類似してコイル担持体2aおよび2b上に発
信コイル1ならびに受信部分コイル4a-1,4b-1,4b-2,お
よび4b−2がD形状に配設されている。第3のコイル
担持体2c上にさらにリング状の第3の受信部分コイル
4cが具備され、該コイルはセンサ装置と対象物との間
の距離の計測に利用可能である。さらに第4のコイル担
持体2a上にコンデンサとして働くさらに2個の円形導
体11、12が配設され、該導体は既知の方法で、セン
サ装置と対象物との間の静電容量的距離計測のための装
置に結合可能である。この静電容量電極11、12は個
々にセンサ装置の対象物7b,7cに対する距離を高精
度に計測することを可能とする。コンデンサ電極11お
よび12は第8b図から明らかなように最下層のコイル
担持体2aの背側に配設されしたがつて保護されてい
る。記述の複数個の部分コイルならびに最も簡単な方法
で組込まれたコンデンサ電極からなる総体装置はきわめ
てコンパクトで、操作が確実で高度な解像度を有する広
く適用可能なセンサ装置の製作を可能とする。
第9図は本発明による計測装置の実施例を示す。ここで
は発信装置1ならびに受信部分コイル4a,4bおよび4
cはコイル担持体上に平面に担持される層としては表示
されてないが、これは第9図の本発明による計測装置は
3次元に巻付けられたコイルにおいても使用可能だから
である。しかしながら計測装置は前述例のようなセンサ
装置を用いて実施することがきわめて有利である。
は発信装置1ならびに受信部分コイル4a,4bおよび4
cはコイル担持体上に平面に担持される層としては表示
されてないが、これは第9図の本発明による計測装置は
3次元に巻付けられたコイルにおいても使用可能だから
である。しかしながら計測装置は前述例のようなセンサ
装置を用いて実施することがきわめて有利である。
第9図において部分コイル4a,4bおよび4cは出力側
で切換装置8に接続されている。シーケンシヤルに動作
するスイツチである切換装置8が作動して実線位置Iの
状態では、両方の受信部分コイル4bおよび4cは前述
の方法で発信コイル1の交流磁界で影響される。これに
よりセンサ装置を介してメタル部分7bおよび7cの間
の切断部7aは受信部分コイル4bおよび4cに対しそ
の相対位置内に探知可能である。したがつて切換装置8
の位置Iにおいて増幅器6の出力端9に信号が到達し、
該信号はセンサ装置の切断部7aに対する横方向移動を
指示する。これは第10図のIの略図内で明瞭である。こ
れに対し、切換装置8が位置IIに切換えられると、第1
の受信部分コイル4aと第2の受信部分コイル4bとが
相互に逆方向に接続される。この両方の受信部分コイル
の合成信号はしかしながら両方の受信部分コイル4aお
よび4bのメタル部分7からの垂直距離に依存するの
で、位置IIでは増幅器6の出力端9にはセンサ装置のメ
タル部分7からの高さすなわち垂直距離に比例した信号
が到達する。切換装置8の挿入により、位相及び/又は
振幅を決定することが出来る唯1個の評価装置(増幅器
6)の使用のもとで明らかに距離に比例したまた対象物
の不規則部に対する横方向移動に比例した出力信号が出
力端9に発生する。このきわめて経済的で簡単な機能は
とくに、受信部分4a,4b,4cおよび発信コイル1を前述の
方法で狭い空間に好ましい変形態様で製作し「積層」さ
せることで推進される。
で切換装置8に接続されている。シーケンシヤルに動作
するスイツチである切換装置8が作動して実線位置Iの
状態では、両方の受信部分コイル4bおよび4cは前述
の方法で発信コイル1の交流磁界で影響される。これに
よりセンサ装置を介してメタル部分7bおよび7cの間
の切断部7aは受信部分コイル4bおよび4cに対しそ
の相対位置内に探知可能である。したがつて切換装置8
の位置Iにおいて増幅器6の出力端9に信号が到達し、
該信号はセンサ装置の切断部7aに対する横方向移動を
指示する。これは第10図のIの略図内で明瞭である。こ
れに対し、切換装置8が位置IIに切換えられると、第1
の受信部分コイル4aと第2の受信部分コイル4bとが
相互に逆方向に接続される。この両方の受信部分コイル
の合成信号はしかしながら両方の受信部分コイル4aお
よび4bのメタル部分7からの垂直距離に依存するの
で、位置IIでは増幅器6の出力端9にはセンサ装置のメ
タル部分7からの高さすなわち垂直距離に比例した信号
が到達する。切換装置8の挿入により、位相及び/又は
振幅を決定することが出来る唯1個の評価装置(増幅器
6)の使用のもとで明らかに距離に比例したまた対象物
の不規則部に対する横方向移動に比例した出力信号が出
力端9に発生する。このきわめて経済的で簡単な機能は
とくに、受信部分4a,4b,4cおよび発信コイル1を前述の
方法で狭い空間に好ましい変形態様で製作し「積層」さ
せることで推進される。
第1a図は自動イナートガス溶接ノズルにおける誘導性
センサ装置の略側面図、 第1b図は第1図のセンサ装置の底面図、 第2a図は複数個の部分コイルを有する誘導性センサ装
置、 第2b図は第2a図に類似のセンサ装置であって他のコ
イル形状を有したもの、 第2c図は第2b図のセンサ装置を使用した本発明の特
徴を有する計測装置、 第3図は切換装置と切換可能センサ装置とを有する計測
装置の略図、 第4a図は点対称に配設された4個の部分コイルを有す
るリング状センサ装置、 第4b図は第4a図のセンサ装置の側面図、 第5図は彎曲コイル担持性を有するセンサ装置の略図、 第6図は相互に角をなして配設された2個のコイル担持
体を有するセンサ装置の略図、 第7a図は2個の積層コイル担持体を有するセンサ装置
の略図、 第7b図は第7a図のセンサ装置の略側面図でコイル担
持体を接合したもの、 第8a図は複数個の部分コイルならびに2個の静電容量
補助電極を有するセンサ装置の略平面図、 第8b図は第8a図の線A−Aによる断面図、第9図は
切換装置と切換可能な部分コイルとを有する計測装置、 第10図は第9図の位置IおよびIIにおける各々の作動
で協働して接続された部分コイルの図である。 1:発信コイル 2:コイル担持体 3:発振器 4a,4b,4c,4d:受信部分コイル 6,6a,6b:増幅器 7:メタル板 7a:切断部 8:切換装置 9:出力端
センサ装置の略側面図、 第1b図は第1図のセンサ装置の底面図、 第2a図は複数個の部分コイルを有する誘導性センサ装
置、 第2b図は第2a図に類似のセンサ装置であって他のコ
イル形状を有したもの、 第2c図は第2b図のセンサ装置を使用した本発明の特
徴を有する計測装置、 第3図は切換装置と切換可能センサ装置とを有する計測
装置の略図、 第4a図は点対称に配設された4個の部分コイルを有す
るリング状センサ装置、 第4b図は第4a図のセンサ装置の側面図、 第5図は彎曲コイル担持性を有するセンサ装置の略図、 第6図は相互に角をなして配設された2個のコイル担持
体を有するセンサ装置の略図、 第7a図は2個の積層コイル担持体を有するセンサ装置
の略図、 第7b図は第7a図のセンサ装置の略側面図でコイル担
持体を接合したもの、 第8a図は複数個の部分コイルならびに2個の静電容量
補助電極を有するセンサ装置の略平面図、 第8b図は第8a図の線A−Aによる断面図、第9図は
切換装置と切換可能な部分コイルとを有する計測装置、 第10図は第9図の位置IおよびIIにおける各々の作動
で協働して接続された部分コイルの図である。 1:発信コイル 2:コイル担持体 3:発振器 4a,4b,4c,4d:受信部分コイル 6,6a,6b:増幅器 7:メタル板 7a:切断部 8:切換装置 9:出力端
Claims (18)
- 【請求項1】HF発振器(3)から交流電圧が供給され
る1個の発信コイル(1)と、 前記発信コイルの有効電磁界の中に配置された受信コイ
ルであって、該受信コイルと金属対象物(7)の裂け
目、隅等の実質的な長さを有する不規則部(7a)との
距離及び相対位置の少なくとも一方を計測するための少
なくとも2個の受信部分コイルを有する受信コイル
(4)と、 を備え、前記不規則部に対する相対的な位置を表す交流
信号が誘導されるように、前記発信コイル及び前記受信
コイルが前記金属対象物の同じ側に配置されている誘導
性センサ装置において、 前記受信部分コイル(4a,4b;4a1,4b1;4
a2,4b2)に誘導される信号の位相及び振幅のいず
れか一方の変化を決定するための評価回路(6、6a)
を前記受信部分コイルに接続し、 前記発信コイルによって逆相のエネルギーが誘導される
ように、前記受信部分コイルを前記不規則部に関して両
側に配置し、 前記発信コイル及び前記受信コイルをコイル担持体
(2)に設けてなることを特徴とする誘導性センサ装
置。 - 【請求項2】前記コイル担持体の一方の面に前記発信コ
イルが、他方の面に前記受信部分コイルがそれぞれ設け
られていることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
の誘導性センサ装置。 - 【請求項3】少なくとも2個の前記コイル担持体(2
a,2b)が相互に積層されていることを特徴とする特
許請求の範囲第2項記載の誘導性センサ装置。 - 【請求項4】前記コイル担持体(2、2a,2b,2
c,2d)が湾曲可能な材料からなることを特徴とする
特許請求の範囲第1〜3項のいずれか1つに記載の誘導
性センサ装置。 - 【請求項5】前記金属対象物に対して、互いに隣接する
少なくとも2個の前記コイル担持体(2a,2b)を設
けたことを特徴とする特許請求の範囲第1〜4項のいず
れか1つに記載の誘導性センサ装置。 - 【請求項6】2個の前記コイル担持体が互いに角度をな
して配置されることを特徴とする特許請求の範囲第5項
記載の誘導性センサ装置。 - 【請求項7】線(X1,X1)に関して対称に配置され
た2個の受信部分コイル(4a1,4b1;4a2,4
b2)をそれぞれ有する少なくとも2個の前記コイル担
持体(2a,2b)を、前記線が交差するように重畳し
て配置することを特徴とする特許請求の範囲第5項に記
載の誘導性センサ装置。 - 【請求項8】前記の二対の受信部分コイルをそれぞれ前
記コイル担持体の異なる面に設けることを特徴とする特
許請求の範囲第7項記載の誘導性センサ装置。 - 【請求項9】前記受信部分コイルのそれぞれは前記線に
平行な少なくとも1つの巻線部分を備えることを特徴と
する特許請求の範囲第8項に記載の誘導性センサ装置。 - 【請求項10】前記コイル担持体が非導電性の円板から
なることを特徴とする特許請求の範囲第1〜9項のいず
れか1つに記載の誘導性センサ装置。 - 【請求項11】前記発信コイル及び前記受信部分コイル
が厚膜技術及び薄膜技術のいずれか一方によって形成さ
れること特徴とする特許請求の範囲第1〜10項のいず
れか1つに記載の誘導性センサ装置。 - 【請求項12】前記発信コイル及び前記受信部分コイル
のいずれか一方がリングセグメントで構成されているこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1〜11項のいずれか
1つに記載の誘導性センサ装置。 - 【請求項13】距離測定用コイル(4c)が更に設けら
れることを特徴とする特許請求の範囲第1〜12項のい
ずれか1つに記載の誘導性センサ装置。 - 【請求項14】前記発信コイル及び前記受信部分コイル
の巻線軸が前記金属対象物の方を向いていることを特徴
とする特許請求の範囲第1〜13項のいずれか1つに記
載の誘導性センサ装置。 - 【請求項15】特許請求の範囲第1〜14項のいずれか
1つに記載の誘導性センサ装置において金属対象物
(7)に対する位置を計測するための計測装置であっ
て、前記受信部分コイル(4a,4b;4a1,4b
1;4a2,4b2)の1つを選択的に前記評価回路
(6,6a)に接続するための切換装置(8)を備える
ことを特徴とする計測装置。 - 【請求項16】前記受信部分コイルが前記金属対象物に
対して異なる作用をなすコイル面を備えることを特徴と
する特許請求の範囲第15項記載の計測装置。 - 【請求項17】前記受信コイル(4)は少なくとも一対
の相互に間隔を置いて軸対称に配置された受信部分コイ
ル(4b,4c)と、前記一対の受信部分コイルと同じ
側に配置され且つ前記金属対象物に対して前記受信部分
コイルとは異なる距離に配置された第3のコイル(4
a)とを備え、 前記切換回路(8)は、前記金属対象物の面に平行な方
向での計測に関しては、前記受信部分コイル(4b,4
c)からの信号が差動的に前記評価回路(6)に入力さ
れ、前記金属対象物との距離の計測に関しては、前記受
信部分コイルの1つ(4b)からの信号と前記第3のコ
イル(4a)からの信号とが逆相で前記評価回路(6)
に入力されるように、2つの異なる計測位置(I、II)
に切り換えることができ、もって、前記金属対象物に対
する距離及び前記金属対象物の不規則部に関する相対位
置を計測することができる特許請求の範囲第15項又は
第16項記載の計測装置。 - 【請求項18】前記切換装置(8)がシーケンシャルに
動作するスイッチであることを特徴とする特許請求の範
囲第15〜17項記載の計測装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CH3682/83-5 | 1983-07-05 | ||
| CH368283 | 1983-07-05 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6038648A JPS6038648A (ja) | 1985-02-28 |
| JPH0617896B2 true JPH0617896B2 (ja) | 1994-03-09 |
Family
ID=4261251
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59139737A Expired - Lifetime JPH0617896B2 (ja) | 1983-07-05 | 1984-07-05 | 誘導性センサ装置および同装置使用のための測定装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4810966A (ja) |
| EP (1) | EP0130940B2 (ja) |
| JP (1) | JPH0617896B2 (ja) |
| AT (1) | ATE39869T1 (ja) |
| DE (1) | DE3476035D1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005091357A (ja) * | 2003-09-12 | 2005-04-07 | General Electric Co <Ge> | 全方向性渦電流プローブ、アレイプローブ及び検査システム |
Families Citing this family (72)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3420330C1 (de) * | 1984-05-30 | 1985-12-05 | Deutsche Forschungs- und Versuchsanstalt für Luft- und Raumfahrt e.V., 5000 Köln | Induktiver Sensor und Verfahren zur beruehrungslosen,dreidimensionalen Positionserfassung von Loechern,Bohrungen,Bolzen,Niete u.ae. in bzw. an Metallteilen mittels eines solchen Sensors |
| EP0190100B1 (de) * | 1985-01-31 | 1989-10-04 | GET Gesellschaft für Elektronik-Technologie mbH | Sensoranordnung für Lichtbogen-Bearbeitungsmaschinen |
| CH668736A5 (de) * | 1985-07-03 | 1989-01-31 | Weidmueller C A Gmbh Co | Anordnung zur laserbearbeitung eines werkstuecks. |
| DE3619308C1 (de) * | 1986-06-07 | 1991-08-29 | Klaus Ebinger | Sonde fuer ein Metallsuchgeraet |
| GB2201786B (en) * | 1987-03-06 | 1990-11-28 | Gen Electric Plc | Magnetometers |
| EP0292426A3 (de) * | 1987-05-18 | 1991-01-02 | C.A. Weidmüller GmbH & Co. | Einrichtung zum Ermitteln der Lage eines rotationssymmetrischen Körpers bezüglich einer Referenzachse |
| USRE36986E (en) * | 1987-10-02 | 2000-12-12 | Massachusetts Institute Of Technology | Apparatus and methods for measuring permeability and conductivity in materials using multiple wavenumber magnetic interrogations |
| DE3916754A1 (de) * | 1988-06-09 | 1989-12-21 | Weidmueller C A Gmbh Co | Verfahren und vorrichtung zum abgleichen einer anordnung zur beruehrungslosen messung der relativlage |
| DE3912840A1 (de) * | 1989-04-19 | 1990-10-25 | Foerster Inst Dr Friedrich | Suchspulenanordnung fuer ein induktives suchgeraet |
| FR2667952A1 (fr) * | 1990-10-15 | 1992-04-17 | Plymouth Francaise Sa | Dispositif pour la detection, l'identification et le suivi de canalisations enterrees ou autres objets optiquement invisibles. |
| EP0536565B1 (de) * | 1991-10-01 | 1997-03-12 | Messer Griesheim Gmbh | Vorrichtung zum berührungslosen Erfassen von Daten einer thermischen Bearbeitungsmaschine |
| US5453689A (en) | 1991-12-06 | 1995-09-26 | Massachusetts Institute Of Technology | Magnetometer having periodic winding structure and material property estimator |
| DE4423661A1 (de) * | 1994-07-06 | 1996-01-11 | Foerster Inst Dr Friedrich | Suchspulenanordnung |
| US5793206A (en) * | 1995-08-25 | 1998-08-11 | Jentek Sensors, Inc. | Meandering winding test circuit |
| US6420867B1 (en) | 1997-03-13 | 2002-07-16 | Jentek Sensors, Inc. | Method of detecting widespread fatigue and cracks in a metal structure |
| US6657429B1 (en) | 1995-08-25 | 2003-12-02 | Jentek Sensors, Inc. | Material condition assessment with spatially periodic field sensors |
| CH690934A5 (fr) * | 1996-04-29 | 2001-02-28 | Suisse Electronique Microtech | Dispositif de détection de position et de mouvement à variation de champ magnétique. |
| DE19628974C1 (de) * | 1996-07-18 | 1997-11-20 | Leica Mikroskopie & Syst | Einrichtung zur Schwingungsisolierung |
| US5952822A (en) * | 1996-10-24 | 1999-09-14 | Allen-Bradley Company, Llc | Method and apparatus for proximity sensing in the presence of an external field |
| DE19646056C2 (de) * | 1996-11-07 | 1998-11-26 | Vogt Electronic Ag | Vorrichtung zum Messen der Drehzahl eines um eine Drehachse rotierenden Körpers |
| US6486673B1 (en) | 1997-01-06 | 2002-11-26 | Jentek Sensors, Inc. | Segmented field dielectrometer |
| WO1998030921A2 (en) * | 1997-01-06 | 1998-07-16 | Jentek Sensors, Inc. | Magnetometer and dielectrometer detection of subsurface objects |
| US6781387B2 (en) | 1997-01-06 | 2004-08-24 | Jentek Sensors, Inc. | Inspection method using penetrant and dielectrometer |
| FR2761772B1 (fr) * | 1997-04-07 | 1999-05-21 | Suisse Electronique Microtech | Capteur inductif micro-usine, notamment pour la mesure de la position et/ou du mouvement d'un objet |
| CA2308166C (en) * | 1997-10-29 | 2007-09-04 | Jentek Sensors, Inc. | Absolute property measurement with air calibration |
| AU1405199A (en) | 1997-11-14 | 1999-06-07 | Jentek Sensors, Inc. | Multiple frequency quantitative coating characterization |
| WO1999058989A1 (en) * | 1998-05-12 | 1999-11-18 | Jentek Sensors, Incorporated | Methods for utilizing dielectrometry signals using estimation grids |
| US6087743A (en) * | 1998-09-10 | 2000-07-11 | Wisconsin Alumni Research Foundation | Position control system for use with micromechanical actuators |
| JP2002533659A (ja) * | 1998-12-18 | 2002-10-08 | マイクロ−エプシロン・メステヒニク・ゲーエムベーハー・ウント・コンパニー・カー・ゲー | 渦電流センサの作動方法及び渦電流センサ |
| US7161350B2 (en) | 1999-09-07 | 2007-01-09 | Jentek Sensors, Inc. | Method for material property monitoring with perforated, surface mounted sensors |
| GB2400445B (en) * | 1999-09-20 | 2004-11-24 | Jentek Sensors Inc | Testing substrate using eddy-current sensor arrays |
| US7824244B2 (en) * | 2007-05-30 | 2010-11-02 | Corning Incorporated | Methods and apparatus for polishing a semiconductor wafer |
| CA2385868A1 (en) * | 1999-09-20 | 2001-03-29 | Jentek Sensors, Inc. | Eddy-current sensor arrays |
| DE10105082A1 (de) * | 2001-02-05 | 2002-08-14 | Wincor Nixdorf Gmbh & Co Kg | Vorrichtung zur Entgegennahme von Banknoten |
| DE60130890T2 (de) * | 2001-09-26 | 2008-08-14 | Hilti Ag | Induktive Sensoranordnung und Verfahren zur Erfassung von eisernen Objekten |
| DE10318350C5 (de) * | 2003-04-23 | 2010-08-19 | Werner Turck Gmbh & Co. Kg | Induktiver Näherungsschalter |
| DE10332422B4 (de) * | 2003-07-16 | 2006-04-20 | Messer Cutting & Welding Gmbh | Verfahren für die thermische Bearbeitung eines Werkstücks, thermische Bearbeitungsmaschine dafür, sowie für den Einsatz in der Bearbeitungsmaschine geeignetes Schneid- oder Schweißwerkzeug |
| JP4323437B2 (ja) * | 2005-01-12 | 2009-09-02 | 株式会社日立製作所 | 渦電流探傷プローブ及び渦電流探傷装置 |
| JP4754865B2 (ja) * | 2005-04-25 | 2011-08-24 | 日本高圧電気株式会社 | 物体を測定する方法および装置 |
| DE102005048757A1 (de) * | 2005-10-10 | 2007-04-19 | Oliver Gurok | Sensorvorrichtung zum Erkennen elektromagnetisch detektierbarer Fördergutteile und Sortiervorrichtung mit einer solchen Sensorvorrichtung |
| ES2274715B1 (es) * | 2005-10-25 | 2008-03-16 | Automatizaciones Badiola, S.L. | Sistema de control de movimiento en soldadura. |
| DE102005061868A1 (de) * | 2005-12-23 | 2007-07-05 | Robert Bosch Gmbh | Vorrichtung zur Bestimmung eines Gegenstands, insbesondere Ortungsgerät und Materialerkennungsgerät |
| US7295004B2 (en) * | 2006-03-03 | 2007-11-13 | Gary Kroner | Eddy current probe and method of manufacture thereof |
| DE102006041934B4 (de) * | 2006-09-07 | 2017-05-04 | Werner Turck Gmbh & Co. Kg | Vorrichtung zur Bestimmung der Position eines Beeinflussungselementes |
| US20090160437A1 (en) * | 2007-12-21 | 2009-06-25 | Carbon Steel Inspection, Inc. | Eddy Current Probe And Method Of Manufacture Thereof |
| DE202010004903U1 (de) * | 2010-04-12 | 2010-07-29 | Iht Automation Gmbh & Co. Kg | Schweiß- oder Schneidgerät |
| DE102011085876A1 (de) * | 2011-11-07 | 2013-05-08 | Robert Bosch Gmbh | Objektfinder |
| KR101326846B1 (ko) | 2011-12-09 | 2013-11-11 | (주) 디에이치홀딩스 | 비접촉식 감지 모듈 및 그 제조 방법 |
| DE102012223872B4 (de) * | 2012-12-20 | 2016-11-10 | Robert Bosch Gmbh | Sensor zur Ortung metallischer oder magnetischer Objekte |
| DE102012223875A1 (de) * | 2012-12-20 | 2014-06-26 | Robert Bosch Gmbh | Sensor zur Ortung metallischer oder magnetischer Objekte |
| US9759580B2 (en) * | 2015-08-27 | 2017-09-12 | Texas Instruments Incorporated | Position sensor |
| CN105665981B (zh) * | 2016-04-19 | 2017-11-07 | 湘潭大学 | 一种旋转边缘电容焊缝跟踪传感器 |
| CN107008999B (zh) * | 2017-04-26 | 2020-02-07 | 湘潭大学 | 一种电、磁场双控电弧的焊缝跟踪传感器 |
| EP3406754B1 (en) * | 2017-05-05 | 2020-07-08 | Universal Display Corporation | Capacitive sensor for positioning in ovjp printing |
| US10866080B2 (en) | 2018-11-01 | 2020-12-15 | Mitutoyo Corporation | Inductive position detection configuration for indicating a measurement device stylus position |
| US11213912B2 (en) * | 2018-06-25 | 2022-01-04 | Bwxt Nuclear Operations Group, Inc. | Methods and systems for monitoring a temperature of a component during a welding operation |
| US11740064B2 (en) | 2018-11-01 | 2023-08-29 | Mitutoyo Corporation | Inductive position detection configuration for indicating a measurement device stylus position |
| JP7261144B2 (ja) * | 2018-11-01 | 2023-04-19 | 株式会社ミツトヨ | 測定デバイスのスタイラスの位置を示すための誘導性位置検出構成体 |
| US11543899B2 (en) | 2018-11-01 | 2023-01-03 | Mitutoyo Corporation | Inductive position detection configuration for indicating a measurement device stylus position and including coil misalignment compensation |
| US11644298B2 (en) | 2018-11-01 | 2023-05-09 | Mitutoyo Corporation | Inductive position detection configuration for indicating a measurement device stylus position |
| US10914570B2 (en) | 2018-11-01 | 2021-02-09 | Mitutoyo Corporation | Inductive position detection configuration for indicating a measurement device stylus position |
| DE102019103670B4 (de) * | 2019-02-13 | 2024-07-25 | Balluff Gmbh | Induktiver Sensor und Verfahren zu seinem Betrieb |
| US11778889B2 (en) | 2020-07-20 | 2023-10-03 | Universal Display Corporation | Height measurement and control in confined spaces for vapor deposition system |
| EP4019888B1 (en) | 2020-12-28 | 2024-04-24 | Mitutoyo Corporation | Inductive position detection configuration for indicating a measurement device stylus position and including coil misalignment compensation |
| EP4019889B1 (en) * | 2020-12-28 | 2024-05-01 | Mitutoyo Corporation | Inductive position detection configuration for indicating a measurement device stylus position |
| EP4019886B1 (en) * | 2020-12-28 | 2024-05-01 | Mitutoyo Corporation | Inductive position detection configuration for indicating a measurement device stylus position |
| US11644299B2 (en) | 2020-12-31 | 2023-05-09 | Mitutoyo Corporation | Inductive position sensor signal gain control for coordinate measuring machine probe |
| EP4083663B1 (de) * | 2021-04-29 | 2024-06-05 | Dr. Johannes Heidenhain GmbH | Sensoranordnung zum erfassen eines abstands eines objekts von einer referenzebene |
| US11713956B2 (en) | 2021-12-22 | 2023-08-01 | Mitutoyo Corporation | Shielding for sensor configuration and alignment of coordinate measuring machine probe |
| US11733021B2 (en) | 2021-12-22 | 2023-08-22 | Mitutoyo Corporation | Modular configuration for coordinate measuring machine probe |
| US12174013B2 (en) | 2022-12-28 | 2024-12-24 | Mitutoyo Corporation | Measuring probe with sensing coils and temperature compensation |
| US12320635B2 (en) | 2022-12-28 | 2025-06-03 | Mitutoyo Corporation | Measuring probe with field generating coil configuration and temperature compensation |
Family Cites Families (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2867783A (en) * | 1948-11-06 | 1959-01-06 | Edward G Martin | Measuring device |
| US2900612A (en) * | 1955-09-26 | 1959-08-18 | Inductosyn Corp | Variable coupling transformers |
| US3171071A (en) * | 1960-07-15 | 1965-02-23 | Robert L Brown | Seam follower |
| US3268805A (en) * | 1962-11-16 | 1966-08-23 | Air Reduction | Seam tracking and flaw detection |
| GB1377953A (en) * | 1970-12-01 | 1974-12-18 | Int Research & Dev Co Ltd | Electro-inductive transducers for measurement of displacement |
| JPS4840496A (ja) * | 1971-09-23 | 1973-06-14 | ||
| DE2419084A1 (de) * | 1974-04-20 | 1975-11-06 | Messer Griesheim Gmbh | Einrichtung zum automatischen nachfuehren von werkzeugen, insbesondere von schweissbrennern |
| SE406642B (sv) * | 1977-02-16 | 1979-02-19 | Aga Ab | Elektromekanisk legesgivare |
| DE2726648A1 (de) * | 1977-06-14 | 1979-02-15 | Precitec Gmbh | Schaltungsanordnung zur messung des werkzeug/werkstueckabstands |
| DE2747539A1 (de) * | 1977-10-22 | 1979-04-26 | Precitec Gmbh | Elektrodenanordnung zur induktiven abstandsmessung |
| SU697802A1 (ru) * | 1978-05-11 | 1979-11-15 | Ivashin Anatolij F | Трансформаторный преобразователь |
| DE2829851A1 (de) * | 1978-07-07 | 1980-01-24 | Precitec Gmbh | Anordnung zur messung des abstands zwischen einem metallischen werkstueck und einem bearbeitungswerkzeug |
| SU800610A1 (ru) * | 1979-04-02 | 1981-01-30 | Предприятие П/Я Р-6930 | Преобразователь перемещений |
| SU848985A1 (ru) * | 1979-04-02 | 1981-07-23 | Предприятие П/Я Р-6930 | Датчик перемещений |
| US4438754A (en) * | 1979-08-14 | 1984-03-27 | Shell Oil Company | Method for sensing and remotely controlling a tool to workpiece spatial relationship |
| DE3014137A1 (de) * | 1980-04-12 | 1981-10-22 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Vorrichtung zur beruehrungslosen weg- und/oder geschwindigkeitsmessung |
| SU994907A1 (ru) * | 1980-09-05 | 1983-02-07 | Предприятие П/Я Р-6930 | Датчик перемещений (его варианты) |
| JPS5741743Y2 (ja) * | 1980-11-10 | 1982-09-13 | ||
| FR2516250A1 (fr) * | 1981-11-10 | 1983-05-13 | Etude Dev Rech Indl | Dispositif de detection de la presence d'objets dans des caisses fermees |
| JPH105505A (ja) * | 1996-06-28 | 1998-01-13 | Kubota Corp | 固液分離装置 |
-
1984
- 1984-06-14 EP EP84810291A patent/EP0130940B2/de not_active Expired - Lifetime
- 1984-06-14 DE DE8484810291T patent/DE3476035D1/de not_active Expired
- 1984-06-14 AT AT84810291T patent/ATE39869T1/de not_active IP Right Cessation
- 1984-06-19 US US06/622,120 patent/US4810966A/en not_active Expired - Fee Related
- 1984-07-05 JP JP59139737A patent/JPH0617896B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005091357A (ja) * | 2003-09-12 | 2005-04-07 | General Electric Co <Ge> | 全方向性渦電流プローブ、アレイプローブ及び検査システム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0130940A1 (de) | 1985-01-09 |
| ATE39869T1 (de) | 1989-01-15 |
| JPS6038648A (ja) | 1985-02-28 |
| EP0130940B1 (de) | 1989-01-11 |
| US4810966A (en) | 1989-03-07 |
| EP0130940B2 (de) | 1993-12-01 |
| DE3476035D1 (en) | 1989-02-16 |
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