JPH06183165A - メタルマスク及びその製造方法 - Google Patents

メタルマスク及びその製造方法

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JPH06183165A
JPH06183165A JP33905892A JP33905892A JPH06183165A JP H06183165 A JPH06183165 A JP H06183165A JP 33905892 A JP33905892 A JP 33905892A JP 33905892 A JP33905892 A JP 33905892A JP H06183165 A JPH06183165 A JP H06183165A
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JP
Japan
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metal mask
conductive film
film
wiring board
printed wiring
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JP33905892A
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Yasuo Moriya
康雄 森谷
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】プリント配線基板に形成されている配線と素子
の外部リード等とを接着するための半田ペーストをプリ
ント基板上に選択塗布する等の際用いられるメタルマス
クに関し、耐磨耗性,摺動性及び洗浄性を向上させると
ともに、静電気の発生を防止し、また微細化された開口
部からの半田ペーストの抜け性の向上を図ることが可能
なメタルマスクを提供する。 【構成】プリント配線基板16に重ね、該プリント配線
基板16上に適量の半田ペースト17a,17bを選択的に
塗布形成するメタルマスク11において、板状の導電性
の基体12と、該基体12に形成され、前記半田ペース
ト17a,17bを埋め込み、通過させる開口部15a,15b
と、撥水性を有する樹脂からなる粒子が分散して含有さ
れ、少なくとも前記プリント配線基板16と当接する面
に被覆された導電性膜14とを含む。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はメタルマスク及びその製
造方法に関し、より詳しくは、プリント配線基板に形成
されている配線と素子の外部リード等とを接着するため
の半田ペーストをプリント基板上に選択塗布する等の際
用いられるメタルマスク及びその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】プリント配線基板に半導体装置を搭載す
る際、プリント配線基板に形成された配線と半導体装置
の外部リードとがボンディングによる圧着や半田による
接着等により接続される。特に、半田による接着を行う
場合には、従来、多数箇所に一定量の半田ペーストを一
度に塗布することができるメタルマスクが用いられてい
る。
【0003】近年、半導体装置の小型化に伴い、微細箇
所に選択的に半田ペーストを塗布する必要がある。従っ
て、半田ペーストが収まるメタルマスクの開口部も微細
化されてきており、半田ペーストの抜け性が問題とな
る。また、半田ペースト塗布後に、メタルマスクを再使
用するため、半田ペーストが付着したメタルマスクの洗
浄を行っているが、容易に半田ペーストが除去される必
要がある。
【0004】図11(a)は、第1の従来例のメタルマ
スクの断面図で、図中符号1はステンレス又はニッケル
からなるメタルマスクで、プリント配線基板3の所定の
位置に塗布すべき半田ペースト4a,4bが通過する開
口部2a,2bが形成されている。
【0005】プリント配線基板3に半田ペーストを塗布
する場合、メタルマスク1をプリント配線基板3に重ね
た状態で、半田ペーストをメタルマスク1の片面に載
せ、不図示のスキージによりメタルマスク1面を強く押
さえて半田ペーストを巻き込みながら移動することによ
り、半田ペーストを開口部2a,2bに埋め込む。続い
て、メタルマスク1を取り除くと、半田ペースト4a,
4bが開口部2a,2bを通過し、プリント配線基板3
上の所定の箇所に一定量の半田ペースト4a,4bが形
成される。
【0006】その後、メタルマスク1を再使用するた
め、半田ペーストの塗布後にフロン系の洗浄剤により、
半田ペーストが付着したメタルマスク1の洗浄を行う。
また、第2の従来例として、半田ペースト塗布の用途と
は異なるが、図11(b)に示すように、印刷箇所の微
細化に対処すべく、開口部8a,8bを通過し、印刷基
板9上に達したインク10a,10bの滲みを少なくするた
め、撥水性を有する樹脂膜7、例えばポリテトラフロロ
エチレン(PTFE)やシリコン等の樹脂膜7をマスク
基体6の当接面に形成したメタルマスク5が知られてい
る(特開昭56−67985号公報を参照)。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、近年、第1
の従来例のメタルマスク1を洗浄する際、環境破壊を防
止するため、フロン系の洗浄剤を用いずに、イソプロピ
ルアルコールや水等フロン系の洗浄剤以外の洗浄剤を用
いるようになってきている。しかし、メタルマスク1に
よれば、フロン系の洗浄剤以外の洗浄剤ではメタルマス
ク1に付着した半田ペーストが除去しにくく、洗浄に長
時間を要するという問題がある。
【0008】しかし、また、第2の従来例と同じ構成の
メタルマスク5を用いた場合は、洗浄時に半田ペースト
は除去しやすくなるが、非導電性を有する樹脂膜7の存
在により、当接した状態での摺動により静電気が生じ、
塵等が付着する場合がある。このため、開口部8a又は
8bが塞がれ、半田ペーストがプリント配線基板上に正
常に形成されないという問題がある。また、上記の樹脂
膜7は表面硬度が十分でなく、プリント配線基板と当接
した状態での摺動により、樹脂膜7が磨耗するという問
題もある。
【0009】更に、上記両方のメタルマスク1,5とも
に、開口部2a,2b/8a,8bが微細化された場合
に、半田ペーストを開口部2a,2b/8a,8bに埋
め込んだ後、メタルマスク1,5を取り除く際、メタル
マスク1,5と開口部2a,2b/8a,8b内に埋め
込まれた半田ペーストとの剥離が難しくなる、即ち半田
ペーストの抜け性が悪化するという問題もある。
【0010】本発明は、係る従来例の問題点に鑑みて創
作されたものであり、耐磨耗性,摺動性及び洗浄性を向
上させるとともに、静電気の発生を防止し、また微細化
された開口部からの半田ペーストの抜け性の向上を図る
ことが可能なメタルマスクの提供を目的とするものであ
る。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記課題は、第1に、プ
リント配線基板に重ね、該プリント配線基板上に適量の
半田ペーストを選択的に塗布形成するメタルマスクにお
いて、板状の導電性の基体と、該基体に形成され、前記
半田ペーストを埋め込み、通過させる開口部と、撥水性
を有する樹脂からなる粒子が分散して含有され、少なく
とも前記プリント配線基板と当接する面に被覆された導
電性膜とを有するメタルマスクによって達成され、第2
に、前記導電性膜は、前記プリント配線基板と当接する
面及び前記開口部内の側壁に被覆されていることを特徴
とする第1の発明に記載のメタルマスクによって達成さ
れ、第3に、前記導電性膜は、前記プリント配線基板と
当接する面,前記開口部内の側壁及び前記プリント配線
基板と当接しない面に被覆されていることを特徴とする
第1の発明に記載のメタルマスクによって達成され、第
4に、前記基体はステンレス板又はニッケル板であるこ
とを特徴とする第1乃至第3の発明のいずれかに記載の
メタルマスクによって達成され、第5に、前記導電性膜
はニッケルを主成分とする導電性膜であることを特徴と
する第1乃至第4の発明のいずれかに記載のメタルマス
クによって達成され、第6に、前記導電性膜は前記撥水
性を有する樹脂からなる粒子のほかにリンが含有され
た、ニッケルを主成分とする導電性膜であることを特徴
とする第5の発明に記載のメタルマスクによって達成さ
れ、第7に、前記撥水性を有する樹脂はシリコン樹脂又
はフッ素樹脂であることを特徴とする第1乃至第6の発
明のいずれかに記載のメタルマスクによって達成され、
第8に、前記撥水性を有する樹脂からなる粒子の前記導
電性膜中の含有率は30vol(ボリュウム) %以下で
あることを特徴とする第1乃至第7の発明のいずれかに
記載のメタルマスクによって達成され、第9に、前記基
体と前記導電性膜との間に密着強化膜が介在することを
特徴とする第1乃至第8の発明のいずれかに記載のメタ
ルマスクによって達成され、第10に、前記密着強化膜
はニッケルを主成分とすることを特徴とする第9の発明
に記載のメタルマスクによって達成され、第11に、第
1乃至第10の発明のいずれかに記載の導電性膜を、前
記撥水性を有する樹脂からなる粒子及び導電性物質を少
なくとも含有するメッキ液を用いた無電解メッキにより
形成することを特徴とするメタルマスクの製造方法によ
って達成され、第12に、前記導電性膜を、前記撥水性
を有する樹脂からなる粒子,導電性物質及び前記導電性
膜の硬化促進作用を有する添加物を含有するメッキ液を
用いた無電解メッキにより形成することを特徴とする第
11の発明に記載のメタルマスクの製造方法によって達
成され、第13に、第1乃至第10の発明のいずれかに
記載の導電性膜を、前記撥水性を有する樹脂からなる粒
子及び導電性物質を少なくとも含有するペーストを塗布
することにより形成することを特徴とするメタルマスク
の製造方法によって達成され、第14に、前記導電性膜
を、前記撥水性を有する樹脂からなる粒子,導電性物質
及び前記導電性膜の硬化促進作用を有する添加物を含有
するペーストを塗布することにより形成することを特徴
とする第13の発明に記載のメタルマスクの製造方法に
よって達成される。
【0012】
【作用】本発明のメタルマスクによれば、メタルマスク
の当接面を被覆する導電性膜中に撥水性を有する樹脂、
例えばシリコン樹脂又はフッ素樹脂の粒子が分散されて
含有されているので、当接面には常に樹脂粒子が表出
し、かつ摺動による当接面が磨耗した場合でも常に新し
い樹脂粒子が表出する。このため、樹脂粒子の作用によ
るメタルマスクの当接面の滑りやすい性質を維持するこ
とができるので、良好な摺動性を保持することができ
る。
【0013】また、開口部内の側壁に撥水性を有する樹
脂粒子を含む導電性膜が被覆されることにより、開口部
内で半田ペーストと該導電性膜とが直接接触する。この
ため、該導電性膜表面に露出した撥水性を有する樹脂粒
子の作用により、半田ペーストはメタルマスクから剥離
し易くなる。従って、微細化された開口部からの半田ペ
ーストの抜け性の向上を図ることができる。
【0014】更に、メタルマスクの当接面,開口部内の
側壁及び当接しない面に被覆された導電性膜の表面には
撥水性を有する樹脂の粒子が分散されて表出しているの
で、導電性膜の表面は撥水性を有し、メタルマスクに付
着した半田ペーストを容易に除去することができる。
【0015】また、導電性膜は導電性を有するので、メ
タルマスクの表面に静電気が発生するのを防止すること
ができる。これにより、メタルマスクへの塵等の付着を
防止することができるので、半田ペーストを開口部内に
正常に埋め込み、かつ通過させてプリント配線基板上に
塗布形成することができる。
【0016】更に、導電性膜の主成分として硬度の高い
ニッケルを用いることにより、従来の樹脂膜の場合と比
較して表面硬度を向上するとともに、導電性膜中に添加
物、例えばリンが含有されることにより、導電性膜を加
熱処理することで、リンの硬化促進作用により、導電性
膜の表面硬度が増す。これにより、メタルマスクを摺動
させた場合に磨耗が減少する。
【0017】また、導電性膜を加熱処理することによ
り、樹脂粒子が一層よく分散し、樹脂粒子の分布の均一
性が増す。これにより、摺動性や半田ペーストの抜け性
の向上を図ることができる。
【0018】更に、本発明のメタルマスクの製造方法に
よれば、無電解メッキを用いて導電性膜を形成すること
により、導電性膜の膜厚の均一性が向上し、プリント配
線基板上に塗布形成される半田ペースト量の面内均一性
を確保することができる。
【0019】
【実施例】次に、図面を参照しながら本発明の実施例に
ついて説明する。 (1)第1の実施例 (a)本発明の第1の実施例に係るメタルマスクの製造
方法 図2は本発明の第1の実施例に係るメタルマスクの製造
方法について説明する工程図、図3(a)〜(d),図
4(a)〜(c)は、本発明の第1の実施例に係るメタ
ルマスクの製造方法について説明する断面図である。な
お、このようなメタルマスクの製法はエッチング法とい
われる。
【0020】まず、図3(a)に示す厚さ100〜30
0μmのステンレス板からなる基体12の片面にレジス
ト膜18を塗布する(図3(b))。なお、プリント配
線基板16上に選択塗布される半田ペースト17a,17b
の量は開口部15a,15bの高さにより決まるので、後に
形成される導電性膜14の膜厚を考慮して上記の範囲で
予め基体12の厚さを設定することが必要である。
【0021】次いで、レジスト膜18を選択的に露光し
た後、現像液に曝す。これにより、メタルマスク11の
開口部15c,15dを形成すべき領域であって、直径約1
70μmの円形状の領域のレジスト膜18が選択的に除
去され、他の領域にエッチングマスクとしてのレジスト
マスク18aが残存する(図3(c))。
【0022】次に、レジストマスク18aに基づいて塩化
第二鉄の水溶液により、基体12を選択的にエッチング
し、除去する。これにより、基体12の開口部15c,15
dが形成される(図3(d))。
【0023】次いで、レジスト剥離液によりレジストマ
スク18aを除去した(図4(a))後、基体12の両表
面及び開口部15c,15d内の側壁にストライクメッキを
施すため、基体12を洗浄する。即ち、基体12をアル
カリ溶液に浸漬し、基体12の表面を脱脂した後、酸に
浸漬し、基体12の表面を活性化する。
【0024】次に、ストライクメッキにより、基体12
の両表面及び開口部15c,15d内の側壁に膜厚1μm程
度のニッケル膜(密着強化膜)13を形成する(図4
(b))。なお、このストライクメッキによるニッケル
膜13はメタルマスクの基体12と後に形成される導電
性膜14との密着性を向上するために形成される。
【0025】次いで、約30vol%ののPTFE(撥
水性を有する樹脂)からなる粒子及びリン(導電体膜の
硬化促進作用を有する添加物)を含有する無電解ニッケ
ルメッキ液を攪拌しながら加熱し、温度90℃に保持す
る。続いて、開口部15c,15dの形成された基体12を
ニッケルメッキ液の中に浸漬し、メッキ液を攪拌しなが
ら約60分間保持すると、基体12の両表面及び開口部
15c,15d内の側壁に、約25vol%程度のPTFE
からなる粒子が適度に分散して含有され、かつリンが含
有された、ニッケルを主成分とする膜厚約10μmの導
電性膜14が形成される。なお、PTFEからなる粒子
の含有率は30vol%以下、特に20vol%台であ
ることが好ましい。これは、PTFEからなる粒子の含
有率が30vol%以上になると、導電性が低下した
り、摺動性や耐磨耗性が悪化したりするためであり、少
なすぎると、PTFEの作用・効果が小さくなるためで
ある。また、導電性膜14の主成分として硬度の高いニ
ッケルを用いているので、従来の樹脂膜のみの場合と比
較してメタルマスク11の表面硬度を向上することがで
きる。更に、無電解メッキを用いて導電性膜14を形成
することにより、導電性膜14の膜厚の均一性が向上す
るため、プリント配線基板16上に塗布形成される半田
ペースト17a,17b量の面内均一性を確保することがで
きる。
【0026】その後、温度300℃で約1時間の加熱処
理を行うと、直径約150μmの円形状の開口部15a,
15bを有するメタルマスク11が完成する(図4
(c))。このとき、この加熱処理により、導電性膜1
4中の添加物のリンの作用により硬化が促進され、加熱
処理の前にはHv300程度の導電性膜14の表面硬度
がHv600程度に向上する。これにより、メタルマス
ク11を摺動させた場合に磨耗が減少する。また、この
加熱処理により、PTFEからなる粒子が一層よく分散
し、PTFEからなる粒子の分布の均一性が増す。これ
により、摺動性や半田ペーストの抜け性の向上を図るこ
とができる。
【0027】(b)第1の実施例のメタルマスクを用い
てプリント配線基板上に半田ペーストを選択的に形成す
る方法 次に、このメタルマスクを用いてプリント配線基板上に
半田ペーストを選択的に形成する方法について図1を参
照しながら説明する。
【0028】まず、プリント配線基板16とメタルマス
ク11とをある程度の位置合わせをして重ねた後、プリ
ント配線基板16上、メタルマスク11を摺動させて、
精密な位置合わせを行う。このとき、メタルマスク11
を被覆する導電性膜中にはPTFEの粒子が分散して含
有されているので、当接面には必ずPTFEの粒子が表
出し、また摺動により当接面が磨耗しても常に新しいP
TFEの粒子が当接面に表出する。これにより、PTF
Eの粒子の作用による滑りやすさを維持し、良好な摺動
性を保持することができる。
【0029】次いで、メタルマスク11の片面に半田ペ
ーストを載せた後、不図示のスキージによりメタルマス
ク11を強く押さえ、かつ前記半田ペーストを巻き込み
ながら、メタルマスク11上を移動させる。これによ
り、メタルマスク11の開口部15a,15b内に半田ペー
スト17a,17bが埋め込まれ、開口部15a,15bの位置
に対応する、プリント配線基板16上の所定の位置に一
定量の半田ペースト17a,17bが形成される。
【0030】次に、プリント配線基板16に重ねられた
メタルマスク11をプリント配線基板16表面から取り
除くと、直径約150μmの円柱状の半田ペースト17
a,17bがプリント配線基板16上の所定の位置に選択
的に塗布形成される。このとき、開口部15a,15b内の
側壁が撥水性を有するPTFEの粒子を含む導電性膜1
4により被覆されていることにより、開口部15a,15b
内で埋め込まれた半田ペースト17a,17bと該導電性膜
14とが直接接触する。このため、該導電性膜14表面
に露出した撥水性を有するPTFEの粒子の作用によ
り、半田ペースト17a,17bはメタルマスク11から剥
離し易くなり、半田ペースト17a,17bとメタルマスク
11とを容易に剥離することができる。
【0031】その後、再使用のため、イソプロピルアル
コール又は水によりメタルマスク11を洗浄し、メタル
マスク11に付着した半田ペーストを除去する。このと
き、メタルマスク11の当接面,開口部15a,15b内の
側壁及び当接しない面に被覆された導電性膜14の表面
にはPTFEの粒子が分散されて表出しているので、導
電性膜14の表面は撥水性を有し、メタルマスクに付着
した半田ペーストを容易に除去することができる。
【0032】なお、半田ペースト17a,17bの形成され
たプリント配線基板16については、半田ペースト17
a,17b上に、対応する半導体装置の外部リードを載せ
た後、温度約215℃で30秒〜60秒間の加熱処理を
行う。これにより、半田ペースト17a,17bを溶融させ
て、プリント配線基板16上の配線と半導体装置の外部
リードとが接着され、電気的に接続される。
【0033】以上のように、本発明の第1の実施例のメ
タルマスクによれば、メタルマスク11の当接面を被覆
する導電性膜14中に撥水性を有するフッ素樹脂の一種
であるPTFEの粒子が分散して含有されているので、
当接面には常にPTFE粒子が表出し、かつ摺動により
当接面が磨耗した場合でも常に新しいPTFE粒子が表
出する。このため、PTFE粒子の作用によるメタルマ
スクの当接面の滑りやすい性質を維持することができる
ので、良好な摺動性を保持することができる。
【0034】また、開口部15a,15b内の側壁が撥水性
を有するPTFE粒子を含む導電性膜14が被覆される
ことにより、開口部15a,15b内で埋め込まれた半田ペ
ースト17a,17bと該導電性膜14とが直接接触し、こ
のため、該導電性膜14表面に露出した撥水性を有する
PTFE粒子の作用により、半田ペースト17a,17bは
メタルマスク11から剥離し易くなる。従って、微細化
された開口部15a,15bからの半田ペースト17a,17b
の抜け性の向上を図ることができる。
【0035】更に、メタルマスク11の当接面,開口部
15a,15b内の側壁及び当接しない面に被覆された導電
性膜14の表面には撥水性を有するPTFEの粒子が分
散されて表出しているので、導電性膜14の表面は撥水
性を有し、メタルマスク11に付着した半田ペーストを
容易に除去することができる。これにより、メタルマス
ク11の洗浄性が向上する。
【0036】また、導電性膜14は導電性を有するの
で、メタルマスク11の表面に静電気が発生するのを防
止することができる。これにより、メタルマスク11へ
の塵等の付着を防止することができるので、半田ペース
ト17a,17bを開口部15a,15b内を正常に通過させて
プリント配線基板16上に塗布形成することができる。
【0037】更に、導電性膜14の主成分として硬度の
高いニッケルを用いることにより、従来の樹脂膜の場合
と比較して表面硬度を向上するとともに、加熱による硬
化促進作用を有するリンが導電性膜14中に含有される
ことにより、導電性膜14を加熱処理することで、導電
性膜14の硬度が増す。これにより、メタルマスク11
を摺動させた場合に磨耗が減少する。
【0038】また、導電性膜14を加熱処理することに
より、PTFE粒子が一層よく分散し、PTFE粒子の
分布の均一性が増す。これにより、摺動性や半田ペース
ト17a,17bの抜け性の向上を図ることができる。
【0039】更に、無電解メッキを用いて導電性膜14
を形成することにより、導電性膜14の膜厚の均一性が
向上し、プリント配線基板16上に塗布形成される半田
ペースト17a,17b量の面内均一性を確保することがで
きる。
【0040】なお、上記第1の実施例によれば、樹脂と
してフッ素樹脂の一種であるPTFEを用いているが、
他のフッ素樹脂を用いることもでき、或いはシリコン樹
脂を用いることもできる。
【0041】また、導電性膜14はニッケルを主成分と
しているが、他の導電性物質を用いてもよい。更に、導
電性膜14の硬化促進作用を有する添加物としてリンを
用いているが、硬化促進作用を有する他の添加物を用い
てもよいし、場合により、添加しなくてもよい。
【0042】(2)第2の実施例 (a)本発明の第2の実施例に係るメタルマスクの製造
方法 図5は本発明の第2の実施例に係るメタルマスクの製造
方法について説明する工程図、図6(a)〜(d),図
7(a)〜(c)は、本発明の第2の実施例に係るメタ
ルマスクの製造方法について説明する断面図である。な
お、このようなメタルマスクの製法はアディティブ法と
称される。
【0043】まず、図6(a)に示す厚さ数mmのステ
ンレス板からなるベース基体20の片面にレジスト膜2
1を塗布する(図6(b))。次いで、レジスト膜21
を選択的に露光した後、現像液に曝す。これにより、メ
タルマスクとして残すべき部分に対応するレジスト膜2
1が選択的に除去され、基体12aの開口部15g,15hを
形成すべき領域に直径約150μmの円柱状のレジスト
パターン膜21a,21bが残存する(図6(c))。
【0044】次に、電解メッキにより、レジストパター
ン膜21a,21bの残存するベース基体の表面にレジスト
パターン膜21a,21bの形成領域を除いて膜厚100〜
300μmのメタルマスクの基体12aとなるニッケル膜
12aを形成する(図6(d))。なお、プリント配線基
板16上に選択塗布される半田ペースト17a,17bの量
は開口部15e,15fの高さにより決まるので、後に形成
される導電性膜14aの膜厚を考慮して上記の範囲で予め
ニッケル膜12aの膜厚を設定することが必要である。
【0045】次いで、レジスト剥離液によりレジストパ
ターン膜21a,21bを除去して、ニッケル膜12aをベー
ス基体20から取り外す。これにより、開口部15g,15
hを有するメタルマスクの基体12aの作成が完了する
(図7(a))。
【0046】次に、基体12aの両表面及び開口部15g,
15h内の側壁にストライクメッキを施すため、基体12a
を洗浄する。即ち、基体12aをアルカリ溶液に浸漬し、
基体12aの表面を脱脂した後、酸に浸漬し、基体12aの
表面を活性化する。
【0047】次に、ストライクメッキにより、基体12a
の両表面及び開口部15g,15h内の側壁に膜厚1μm程
度のニッケル膜(密着強化膜)13aを形成する(図7
(b))。
【0048】次いで、約30vol%のPTFEからな
る微細粒子及びリンを含有する無電解ニッケルメッキ液
を攪拌しながら加熱し、温度90℃に保持する。続い
て、開口部15g,15hの形成された基体12aをニッケル
メッキ液の中に浸漬し、メッキ液を攪拌しながら約60
分間保持すると、基体12aの両表面及び開口部15g,15
h内の側壁に、約25vol%程度のPTFEからなる
粒子が分散して含有され、かつリンが含有された、ニッ
ケルを主成分とする膜厚約10μmの導電性膜14aが形
成される。また、導電性膜14aの主成分として硬度の高
いニッケルを用いているので、従来の樹脂膜のみの場合
と比較してメタルマスク11aの表面硬度を向上すること
ができる。
【0049】その後、温度300℃で約1時間の加熱処
理を行うと、メタルマスク11aが完成する(図6
(c))。このとき、この加熱処理による、含有物のリ
ンの硬化促進作用により、加熱処理の前にはHv300
程度の導電性膜14aの表面硬度がHv600程度に向上
する。また、この加熱処理により、PTFEからなる粒
子が一層よく分散し、粒子の分布の均一性が一層増す。
【0050】(b)第2の実施例のメタルマスクを用い
てプリント配線基板上に半田ペーストを選択的に形成す
る方法 次に、第2の実施例のメタルマスク11aを用いてプリン
ト配線基板上に半田ペーストを選択的に形成する方法に
ついて説明する。即ち、第1の実施例と同様な工程を行
うことにより、図1に示すように、直径約150μmの
円柱状の半田ペースト17a,17bがプリント配線基板1
6上の所定の位置に選択的に塗布形成される。この場合
にも、第1の実施例に説明したのと同様なメタルマスク
11の作用・効果を奏する。
【0051】以上のように、本発明の第2の実施例のメ
タルマスクによれば、メタルマスク11aの表面に撥水性
を有するPTFE粒子が分散して含有され、かつリンが
含有された、ニッケルを主成分とする導電性膜14aが形
成されているので、メタルマスク11aの耐磨耗性,摺動
性及び洗浄性を向上させるとともに、メタルマスク11a
への静電気の発生を防止し、また微細化された開口部15
e,15fからの半田ペースト17a,17bの抜け性の向上
を図ることができる。
【0052】(3)第3及び第5の実施例 (a)本発明の第3の実施例に係るメタルマスクの製造
方法 図8(a)は本発明の第3の実施例に係るメタルマスク
の製造方法について説明する工程図、図10(a)は、
上記の製造方法により作成された本発明の第3の実施例
に係るメタルマスクについて説明する断面図である。こ
の場合、メタルマスクの開口部の寸法が比較的大きい場
合に適している。
【0053】第1及び第2の実施例のメタルマスクと異
なるところは、撥水性を有するPTFE粒子が分散して
含有され、かつリンが含有された、ニッケルを主成分と
する導電性膜14bがメタルマスク11bの当接面にのみ形
成されていることである。
【0054】また、第2の実施例のメタルマスクの製造
方法と異なるところは、ベース基体上に形成されたメタ
ルマスクの基体をベース基体から取り外す前に、ストラ
イクメッキによりニッケル膜(密着強化膜)13bを形成
し、更に、無電解メッキにより、該ニッケル膜13b上
に、撥水性を有するPTFE粒子が分散して含有され、
かつリンが含有された、ニッケルを主成分とする導電性
膜14bを形成することである。
【0055】まず、図6(a)〜図6(d)に示す工程
と同様な工程により、直径約300μmの円筒状のレジ
ストパターン膜21a,21bの残存するベース基体20の
表面にレジストパターン膜21a,21bの形成領域を除い
てメタルマスクの基体12bとなる膜厚100〜300μ
mのニッケル膜を形成する(図6(d))。
【0056】次に、ストライクメッキにより、メタルマ
スクの基体12bとなるニッケル膜の露出する片表面であ
って、当接面となる片表面に膜厚1μm程度のニッケル
膜13bを形成する。
【0057】次いで、約30vol%のPTFEからな
る粒子及びリンを含有する無電解ニッケルメッキ液を攪
拌しながら加熱し、温度90℃に保持する。続いて、ベ
ース基体20に保持されている状態でメタルマスクの基
体12bとなるニッケル膜を前記ニッケルメッキ液の中に
浸漬し、メッキ液を攪拌しながら約60分間保持する
と、基体12bの片表面に、約25vol%程度のPTF
Eからなる粒子が分散して含有され、かつリンが含有さ
れた、ニッケルを主成分とする膜厚約10μmの導電性
膜14bが形成される。
【0058】次に、レジスト剥離液によりレジストパタ
ーン膜21a,21bを除去して、ニッケル膜をベース基体
20から取り外す。これにより、開口部15i,15jが形
成され、導電性膜14bが形成された基体12bが作成され
る。
【0059】その後、温度300℃で約1時間の加熱処
理を行うと、直径約300μmの円形状の開口部15i,
15jを有するメタルマスク11bが完成する(図10
(a))。このとき、この加熱処理による、含有物のリ
ンの硬化促進作用により、加熱処理の前にはHv300
程度の導電性膜14bの表面硬度がHv600程度に向上
する。また、この加熱処理により、PTFEからなる粒
子が一層よく分散し、微細粒子の分布の均一性が一層増
す。
【0060】なお、導電性膜14bの形成を無電解メッキ
により行っているが、図9に示す第5の実施例に係るメ
タルマスクの製造工程図に従い、ベース基体上にメタル
マスクの基体となるニッケル膜を形成し、更に、ストラ
イクメッキによりニッケル膜の形成を行った後に、撥水
性を有するPTFE粒子及びリンを含有し、ニッケルを
主成分とするペーストの塗布によっても行うことができ
る。
【0061】(b)第3の実施例のメタルマスクを用い
てプリント配線基板上に半田ペーストを選択的に形成す
る方法 次に、第3の実施例のメタルマスクを用いてプリント配
線基板上に半田ペーストを選択的に形成する方法につい
て図10(a)を参照しながら説明する。この場合に
も、上記の第1,第2の実施例の場合と同様にして、プ
リント配線基板16b上に選択的に一定量の半田ペースト
17c,17dを形成することができる。
【0062】第3の実施例のメタルマスク11bによれ
ば、メタルマスク11bの当接面にのみ、撥水性を有する
PTFE粒子が分散して含有され、かつリンが含有され
た、ニッケルを主成分とする導電性膜14bが形成されて
いるので、メタルマスク11bの耐磨耗性及び摺動性を向
上させるとともに、従来の樹脂膜の場合と比較してメタ
ルマスク11bへの静電気の発生を防止することができ
る。
【0063】なお、メタルマスク11bの当接面にのみ形
成され、開口部15i,15j内の側壁には導電性膜が形成
されていないので、第1及び第2の実施例と比較して半
田ペースト17c,17dの抜け性は若干劣るが、開口部15
i,15jの寸法が大きいので、半田ペースト17c,17d
の抜け性は余り問題とならない。
【0064】(4)第4の実施例 (a)本発明の第4の実施例に係るメタルマスクの製造
方法 図8(b)は本発明の第4の実施例に係るメタルマスク
の製造方法について説明する工程図、図10(b)は、
上記の製造方法により作成された本発明の第3の実施例
に係るメタルマスクについて説明する断面図である。
【0065】第1及び第2の実施例のメタルマスクと異
なるところは、撥水性を有するPTFE粒子が分散して
含有され、かつリンが含有された、ニッケルを主成分と
する導電性膜14cがメタルマスク11cの当接面及び開口
部15k,15l内の側壁にのみ形成されていることであ
る。
【0066】また、第2の実施例のメタルマスクの製造
方法と異なるところは、ストライクメッキの形成後に、
当接しない面にレジスト膜を形成し、更に、その状態で
無電解メッキにより、前記ニッケル膜13c上に、撥水性
を有するPTFE粒子が分散して含有され、かつリンが
含有された、ニッケルを主成分とする導電性膜14cを形
成することである。
【0067】まず、図6(a)〜図6(d),図7
(a),(b)に示す工程と同様な工程により、メタル
マスクの基体12cとなる膜厚100〜300μmのニッ
ケル膜の露出する片表面であって、当接面となる片表面
に膜厚1μm程度のニッケル膜(密着強化膜)13cを形
成する。
【0068】次いで、当接しない面をレジスト膜により
被覆した後、約30vol%のPTFEの粒子及びリン
を含有する無電解ニッケルメッキ液を攪拌しながら加熱
し、温度90℃に保持する。続いて、基体12cとなるニ
ッケル膜を前記ニッケルメッキ液の中に浸漬し、メッキ
液を攪拌しながら約60分間保持すると、基体12cの当
接面及び開口部内の側壁に、約25vol%程度のPT
FEの粒子が分散して含有され、かつリンを含有する、
ニッケルを主成分とする膜厚約10μmの導電性膜14c
が形成される。
【0069】その後、温度300℃で約1時間の加熱処
理を行うと、直径約150μmの円形状の開口部15k,
15lを有するメタルマスクが完成する(図10
(b))。このとき、この加熱処理による、含有物のリ
ンの硬化促進作用により、加熱処理の前にはHv300
程度の導電性膜14の表面硬度がHv600程度に向上
する。また、この加熱処理により、PTFEの粒子が一
層よく分散し、微細粒子の分布の均一性が一層増す。
【0070】(b)第4の実施例のメタルマスクを用い
てプリント配線基板上に半田ペーストを選択的に形成す
る方法 次に、第4の実施例のメタルマスクを用いてプリント配
線基板上に半田ペーストを選択的に形成する方法につい
て図10(b)を参照しながら説明する。この場合に
も、上記の第1,第2の実施例の場合と同様にして、プ
リント配線基板16c上に選択的に一定量の半田ペースト
17e,17fを形成することができる。
【0071】第4の実施例のメタルマスク11cによれ
ば、メタルマスク11cの当接面及び開口部15k,15l内
の側壁にのみ、メタルマスク11cの表面に撥水性を有す
るPTFE粒子が分散して含有され、かつリンが含有さ
れた、ニッケルを主成分とする導電性膜14cが形成され
ているので、メタルマスク11cの耐磨耗性及び摺動性を
向上させるとともに、従来の樹脂膜の場合と比較してメ
タルマスク11cへの静電気の発生を防止し、半田ペース
ト17e,17fの抜け性を向上することができる。
【0072】なお、メタルマスク11cの当接面及び開口
部15k,15l内の側壁にのみ形成され、当接しない面に
は導電性膜14cが形成されていないので、第1及び第2
の実施例と比較して若干洗浄性は劣ると考えられる。
【0073】
【発明の効果】以上のように、本発明のメタルマスクに
よれば、メタルマスクの当接面を被覆する導電性膜中に
撥水性を有する樹脂、例えばシリコン樹脂又はフッ素樹
脂の粒子が分散されて含有されているので、良好な摺動
性を保持することができる。
【0074】また、開口部内の側壁が撥水性を有する樹
脂粒子を含む導電性膜が被覆されることにより、微細化
された開口部からの半田ペーストの抜け性の向上を図る
ことができる。
【0075】更に、メタルマスクの当接面,開口部内の
側壁及び当接しない面に被覆された導電性膜の表面には
撥水性を有する樹脂粒子が分散されて表出しているの
で、メタルマスクに付着した半田ペーストを容易に除去
することができ、洗浄性の向上を計ることができる。
【0076】また、導電性膜は導電性を有するので、静
電気によるメタルマスクへの塵等の付着を防止し、これ
により、半田ペーストを開口部内に正常に埋め込み、か
つ通過させてプリント配線基板上に塗布形成することが
できる。
【0077】更に、導電性膜の主成分として硬度の高い
ニッケルを用いることにより、従来の樹脂膜の場合と比
較して表面硬度を向上するとともに、導電性膜中に添加
物、例えばリンの、加熱による硬化促進作用により、導
電性膜の表面硬度が一層増し、メタルマスクの耐磨耗性
の向上を図ることができる。また、導電性膜を加熱処理
することにより、樹脂粒子が一層よく分散し、樹脂粒子
の分布の均一性が増し、摺動性及び半田ペーストの抜け
性の向上を図ることができる。
【0078】また、本発明のメタルマスクの製造方法に
より、無電解メッキを用いて導電性膜を形成することに
より、導電性膜の膜厚の均一性が向上し、プリント配線
基板上に塗布形成される半田ペースト量の面内均一性を
確保することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例に係るメタルマスクにつ
いて説明する断面図である。
【図2】本発明の第1の実施例に係るメタルマスクの製
造方法について説明する工程図である。
【図3】本発明の第1の実施例に係るメタルマスクの製
造方法について説明する断面図(その1)である。
【図4】本発明の第1の実施例に係るメタルマスクの製
造方法について説明する断面図(その2)である。
【図5】本発明の第2の実施例に係るメタルマスクの製
造方法について説明する工程図である。
【図6】本発明の第2の実施例に係るメタルマスクの製
造方法について説明する断面図(その1)である。
【図7】本発明の第2の実施例に係るメタルマスクの製
造方法について説明する断面図(その2)である。
【図8】本発明の第3及び第4の実施例に係るメタルマ
スクの製造方法について説明する工程図である。
【図9】本発明の第5の実施例に係るメタルマスクの製
造方法について説明する工程図である。
【図10】本発明の第3〜第5の実施例に係るメタルマ
スクについて説明する断面図である。
【図11】第1及び第2の従来例に係るメタルマスクに
ついて説明する断面図である。
【符号の説明】
11,11a〜11c メタルマスク、 12,12a〜12c 基体、 13,13a〜13c 密着強化膜(ニッケル膜)、 14,14a〜14c 導電性膜、 15a〜15l,19a,19b 開口部、 16,16b,16c プリント配線基板、 17a〜17f 半田ペースト、 18,21 レジスト膜、 18a レジストマスク、 21a,21b レジストパターン膜。

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 プリント配線基板に重ね、該プリント配
    線基板上に適量の半田ペーストを選択的に塗布形成する
    メタルマスクにおいて、 板状の導電性の基体と、該基体に形成され、前記半田ペ
    ーストを埋め込み、通過させる開口部と、撥水性を有す
    る樹脂からなる粒子が分散して含有され、少なくとも前
    記プリント配線基板と当接する面に被覆された導電性膜
    とを有するメタルマスク。
  2. 【請求項2】 前記導電性膜は、前記プリント配線基板
    と当接する面及び前記開口部内の側壁に被覆されている
    ことを特徴とする請求項1記載のメタルマスク。
  3. 【請求項3】 前記導電性膜は、前記プリント配線基板
    と当接する面,前記開口部内の側壁及び前記プリント配
    線基板と当接しない面に被覆されていることを特徴とす
    る請求項1記載のメタルマスク。
  4. 【請求項4】 前記基体はステンレス板又はニッケル板
    であることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれ
    かに記載のメタルマスク。
  5. 【請求項5】 前記導電性膜はニッケルを主成分とする
    導電性膜であることを特徴とする請求項1乃至請求項4
    のいずれかに記載のメタルマスク。
  6. 【請求項6】 前記導電性膜は前記撥水性を有する樹脂
    からなる粒子のほかにリンが含有された、ニッケルを主
    成分とする導電性膜であることを特徴とする請求項5記
    載のメタルマスク。
  7. 【請求項7】 前記撥水性を有する樹脂はシリコン樹脂
    又はフッ素樹脂であることを特徴とする請求項1乃至請
    求項6のいずれかに記載のメタルマスク。
  8. 【請求項8】 前記撥水性を有する樹脂からなる粒子の
    前記導電性膜中の含有率は30vol%以下であること
    を特徴とする請求項1乃至請求項7のいずれかに記載の
    メタルマスク。
  9. 【請求項9】 前記基体と前記導電性膜との間に密着強
    化膜が介在することを特徴とする請求項1乃至請求項8
    のいずれかに記載のメタルマスク。
  10. 【請求項10】 前記密着強化膜はニッケルを主成分と
    することを特徴とする請求項9記載のメタルマスク。
  11. 【請求項11】 請求項1乃至請求項10のいずれかに
    記載の導電性膜を、前記撥水性を有する樹脂からなる粒
    子及び導電性物質を少なくとも含有するメッキ液を用い
    た無電解メッキにより形成することを特徴とするメタル
    マスクの製造方法。
  12. 【請求項12】 前記導電性膜を、前記撥水性を有する
    樹脂からなる粒子,導電性物質及び前記導電性膜の硬化
    促進作用を有する添加物を含有するメッキ液を用いた無
    電解メッキにより形成することを特徴とする請求項11
    記載のメタルマスクの製造方法。
  13. 【請求項13】 請求項1乃至請求項10のいずれかに
    記載の導電性膜を、前記撥水性を有する樹脂からなる粒
    子及び導電性物質を少なくとも含有するペーストを塗布
    することにより形成することを特徴とするメタルマスク
    の製造方法。
  14. 【請求項14】 前記導電性膜を、前記撥水性を有する
    樹脂からなる粒子,導電性物質及び前記導電性膜の硬化
    促進作用を有する添加物を含有するペーストを塗布する
    ことにより形成することを特徴とする請求項13記載の
    メタルマスクの製造方法。
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