JPH0618377A - 試料の前処理注入法 - Google Patents
試料の前処理注入法Info
- Publication number
- JPH0618377A JPH0618377A JP17141192A JP17141192A JPH0618377A JP H0618377 A JPH0618377 A JP H0618377A JP 17141192 A JP17141192 A JP 17141192A JP 17141192 A JP17141192 A JP 17141192A JP H0618377 A JPH0618377 A JP H0618377A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- pretreatment
- loop
- flow path
- injection
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 複雑な装置を用いることなく、しかも特別な
操作を全く必要とせず、試料注入時に夾雑成分を注入試
料から自動的に取り除くことを目的とする。 【構成】 8ポート以上のポート数を持つバルブのポー
トに試料前処理ループ,試料注入ループ,移動相出入口
流路,廃液流路を各々接続し、試料注入時は試料前処理
ループ→試料注入ループ→廃液流路を連通させ、試料分
析時は移動相入口流路→試料注入ループ→移動相出口流
路を連通させることにより夾雑成分を含まない試料のみ
分析部へ注入することを特徴とする。
操作を全く必要とせず、試料注入時に夾雑成分を注入試
料から自動的に取り除くことを目的とする。 【構成】 8ポート以上のポート数を持つバルブのポー
トに試料前処理ループ,試料注入ループ,移動相出入口
流路,廃液流路を各々接続し、試料注入時は試料前処理
ループ→試料注入ループ→廃液流路を連通させ、試料分
析時は移動相入口流路→試料注入ループ→移動相出口流
路を連通させることにより夾雑成分を含まない試料のみ
分析部へ注入することを特徴とする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はクロマトグラフィなどの
流れ分析法を用いた分析に関する。さらに詳しくは、高
速液体クロマトグラフィー(HPLC)、イオンクロマ
トグラフィー(IC)、フローインジェクション分析
(FIA)などを用いた分析における、試料の前処理お
よび注入に関する。
流れ分析法を用いた分析に関する。さらに詳しくは、高
速液体クロマトグラフィー(HPLC)、イオンクロマ
トグラフィー(IC)、フローインジェクション分析
(FIA)などを用いた分析における、試料の前処理お
よび注入に関する。
【0002】
【従来の技術】HPLC、IC、FIAなどにおいて、
実試料の注入に際しては一般に何等かの前処理により試
料をクリーンアップしておく必要があり、このための手
段として、多くの方法が実用されている。これらの前処
理法のなかで、ミニカラムや膜を用いた方法は前処理効
率の高さから、複雑な試料への適用性に優れる。
実試料の注入に際しては一般に何等かの前処理により試
料をクリーンアップしておく必要があり、このための手
段として、多くの方法が実用されている。これらの前処
理法のなかで、ミニカラムや膜を用いた方法は前処理効
率の高さから、複雑な試料への適用性に優れる。
【0003】これらの前処理を行うためには、(1) 使い
捨てタイプのミニカラムを用い用手的に行う方法と、
(2) パックドカラムと高圧流路切り換えバルブを組合せ
自動的に行う方法が広く用いられている。
捨てタイプのミニカラムを用い用手的に行う方法と、
(2) パックドカラムと高圧流路切り換えバルブを組合せ
自動的に行う方法が広く用いられている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら,(1) 法
は、特別な装置を必要とせず、イニシャルコストが低い
が、操作が煩雑である、汚染や操作の不手際により精度
が低下する危険性が高い、前処理カラムが使い捨てであ
るためランニングコストが高い、などと言った課題を持
つ。
は、特別な装置を必要とせず、イニシャルコストが低い
が、操作が煩雑である、汚染や操作の不手際により精度
が低下する危険性が高い、前処理カラムが使い捨てであ
るためランニングコストが高い、などと言った課題を持
つ。
【0005】また、(2) 法では、高圧流路切り換えバル
ブを、予めプログラムしておいた通りに自動的に作動さ
せることにより、前処理の自動化が可能であり、また、
前処理用カラムを洗浄、再利用できるため、(1) 法の課
題の多くを解決できる。しかしながら、装置が複雑化す
るため、イニシャルコストが高く、保守にも課題を有す
る。
ブを、予めプログラムしておいた通りに自動的に作動さ
せることにより、前処理の自動化が可能であり、また、
前処理用カラムを洗浄、再利用できるため、(1) 法の課
題の多くを解決できる。しかしながら、装置が複雑化す
るため、イニシャルコストが高く、保守にも課題を有す
る。
【0006】そこで、本発明は、複雑な装置を用いるこ
となく、しかも特別な操作を全く必要とせず、試料注入
時に夾雑成分を注入試料から自動的に取り除くことを目
的とする。
となく、しかも特別な操作を全く必要とせず、試料注入
時に夾雑成分を注入試料から自動的に取り除くことを目
的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の発明者は、鋭意
検討の結果、試料前処理部と高圧流路切り換えバルブの
組合せによる前処理法において、バルブの構成や試料の
注入法などを種々検討した結果、試料中の目的成分を速
やかに通過させ、かつ、夾雑成分を有効に保持可能な試
料前処理部を、新規に考案された高圧8ポートバルブの
流路系と組み合わせることにより、複雑な装置を用いる
ことなく、しかも特別な操作を全く必要とせず、試料注
入時に夾雑成分を注入試料から自動的に取り除くことが
可能となることを見いだした。
検討の結果、試料前処理部と高圧流路切り換えバルブの
組合せによる前処理法において、バルブの構成や試料の
注入法などを種々検討した結果、試料中の目的成分を速
やかに通過させ、かつ、夾雑成分を有効に保持可能な試
料前処理部を、新規に考案された高圧8ポートバルブの
流路系と組み合わせることにより、複雑な装置を用いる
ことなく、しかも特別な操作を全く必要とせず、試料注
入時に夾雑成分を注入試料から自動的に取り除くことが
可能となることを見いだした。
【0008】すなわち、本発明は、少なくとも8ポート
以上のポート数を持つバルブのポートに試料前処理ルー
プ,試料注入ループ,移動相出入口流路,廃液流路を各
々接続し、試料注入時は試料前処理ループ→試料注入ル
ープ→廃液流路を連通させ、試料分析時は移動相入口流
路→試料注入ループ→移動相出口流路を連通させること
により夾雑成分を含まない試料のみ分析部へ注入するこ
とを特徴とする。
以上のポート数を持つバルブのポートに試料前処理ルー
プ,試料注入ループ,移動相出入口流路,廃液流路を各
々接続し、試料注入時は試料前処理ループ→試料注入ル
ープ→廃液流路を連通させ、試料分析時は移動相入口流
路→試料注入ループ→移動相出口流路を連通させること
により夾雑成分を含まない試料のみ分析部へ注入するこ
とを特徴とする。
【0009】ここで、少なくとも8ポート以上のポート
数を持つバルブとしては、8ポートバルブよりポート数
の多いものや、ポート数の少ないものを複数使用したも
のでもよい。
数を持つバルブとしては、8ポートバルブよりポート数
の多いものや、ポート数の少ないものを複数使用したも
のでもよい。
【0010】また、試料前処理ループには、試料前処理
カラムまたは膜などの試料前処理部が配設されており、
ここで夾雑成分を有効に保持する。試料前処理カラムと
しては、例えば、イオン交換樹脂が充填されたイオン交
換カラムを挙げることができるが、これに限定されな
い。また、膜としては、例えば、イオン交換膜、透析膜
などを挙げることができる試料注入ループは、例えば、
計量管を備えた公知の構造のものを用いることができ、
試料の前処理ための注入は、公知の手法、例えば、自動
試料注入装置やマイクロシリンジなどで行える。
カラムまたは膜などの試料前処理部が配設されており、
ここで夾雑成分を有効に保持する。試料前処理カラムと
しては、例えば、イオン交換樹脂が充填されたイオン交
換カラムを挙げることができるが、これに限定されな
い。また、膜としては、例えば、イオン交換膜、透析膜
などを挙げることができる試料注入ループは、例えば、
計量管を備えた公知の構造のものを用いることができ、
試料の前処理ための注入は、公知の手法、例えば、自動
試料注入装置やマイクロシリンジなどで行える。
【0011】なお、分析部は、HPLC、ICの場合に
は、例えば試料分離用の充填剤を充填した分離カラム及
び検出器からなり、FIAの場合には、例えば、酵素反
応用カラムやイオン選択性電極などが該当するが、これ
らには限定されない。
は、例えば試料分離用の充填剤を充填した分離カラム及
び検出器からなり、FIAの場合には、例えば、酵素反
応用カラムやイオン選択性電極などが該当するが、これ
らには限定されない。
【0012】
【作用】本発明では、通常の試料注入法のごとく試料注
入口から注入された試料が、まず試料前処理部に導かれ
夾雑成分が除去された後、試料注入ループに満たされ
る。この後、高圧切り換えバルブの作動により分析流路
系に導入される。この結果、操作的には通常の注入と全
く変わらず、前処理および注入が一度に行われる。
入口から注入された試料が、まず試料前処理部に導かれ
夾雑成分が除去された後、試料注入ループに満たされ
る。この後、高圧切り換えバルブの作動により分析流路
系に導入される。この結果、操作的には通常の注入と全
く変わらず、前処理および注入が一度に行われる。
【0013】
【実施例】図1は本発明の方法を実施する装置の高圧8
ポートバルブ部の流路図である。便宜的に各ポートに順
に番号をつけてある。
ポートバルブ部の流路図である。便宜的に各ポートに順
に番号をつけてある。
【0014】図から明らかなように、ポート1と7は試
料前処理部Aを含む試料前処理ループPに、ポート2は
ドレインに、ポート3と6は試料注入ループSに、ポー
ト4は移動相またはキャリア液の出口(即ち、カラムま
たは反応コイルへの流路)、ポート5は移動相またはキ
ャリア液の入口(即ち、送液ポンプへの流路)にそれぞ
れ接続される。ポート8には、栓をしておく。このバル
ブは2つのポジションをとることができる(図では実線
と点線)。
料前処理部Aを含む試料前処理ループPに、ポート2は
ドレインに、ポート3と6は試料注入ループSに、ポー
ト4は移動相またはキャリア液の出口(即ち、カラムま
たは反応コイルへの流路)、ポート5は移動相またはキ
ャリア液の入口(即ち、送液ポンプへの流路)にそれぞ
れ接続される。ポート8には、栓をしておく。このバル
ブは2つのポジションをとることができる(図では実線
と点線)。
【0015】試料は、図中◎の部分(ポート1のとこ
ろ)から注入される。試料注入時には、流路は実線状態
にあり、◎部より注入された試料は、ポート1→試料前
処理部→ポート7→ポート6→試料注入ループS→ポー
ト3→ポート2→ドレインの順に通る。この中で試料前
処理において夾雑成分が除去される。また、試料は試料
注入ループを完全に満たすに必要な量が注入される。
ろ)から注入される。試料注入時には、流路は実線状態
にあり、◎部より注入された試料は、ポート1→試料前
処理部→ポート7→ポート6→試料注入ループS→ポー
ト3→ポート2→ドレインの順に通る。この中で試料前
処理において夾雑成分が除去される。また、試料は試料
注入ループを完全に満たすに必要な量が注入される。
【0016】試料が試料注入ループに満たされた状態で
バルブを切り換え(図では反時計回りに60°)、点線
状態にすると、試料注入ループ中の試料は移動相または
キャリア液により分析系に導入され、分析の開始とな
る。この状態では試料前処理部は流路から切り離されて
おり、ポート8のところに移動した注入口(◎部)から
適当な洗浄液およびコンディショニング液を注入するこ
とにより洗浄、コンディショニングが可能である。この
際洗浄液は、ポート8−ポート7−試料前処理部−ポー
ト1−ポート2−ドレインの順で流れ、試料前処理部を
逆洗することになるため、より効率的な洗浄が可能であ
る。
バルブを切り換え(図では反時計回りに60°)、点線
状態にすると、試料注入ループ中の試料は移動相または
キャリア液により分析系に導入され、分析の開始とな
る。この状態では試料前処理部は流路から切り離されて
おり、ポート8のところに移動した注入口(◎部)から
適当な洗浄液およびコンディショニング液を注入するこ
とにより洗浄、コンディショニングが可能である。この
際洗浄液は、ポート8−ポート7−試料前処理部−ポー
ト1−ポート2−ドレインの順で流れ、試料前処理部を
逆洗することになるため、より効率的な洗浄が可能であ
る。
【0017】つぎに、本発明を適用した具体的な例につ
いて説明する。
いて説明する。
【0018】高濃度の塩を含む水溶液に含まれるふっ化
物イオンの分析は、拡散分離法を前処理法に適用したI
Cで行うことが可能である。拡散分離後のふっ化物イオ
ンは、0.1N程度の水酸化ナトリウム水溶液に溶けた状態
となっており、このままICに注入すると、ベースライ
ンや保持時間の変動をきたし、精度の高い分析が困難で
ある。
物イオンの分析は、拡散分離法を前処理法に適用したI
Cで行うことが可能である。拡散分離後のふっ化物イオ
ンは、0.1N程度の水酸化ナトリウム水溶液に溶けた状態
となっており、このままICに注入すると、ベースライ
ンや保持時間の変動をきたし、精度の高い分析が困難で
ある。
【0019】そこで、H型陽イオン交換樹脂カラムを通
して中和した後にICに注入する必要があるが、予め中
和しておくと、自動試料注入装置で注入の順番を待って
いる内に、共存するトリメチルシランと再結合して、ト
リメチルフルオロシランとなり揮散してしまう。このた
め、拡散分離法とICの組合せによる塩水中のふっ化物
イオンの分析は、従来自動化が不可能であった。そこ
で、本法を用いると、試料注入直前に、しかも閉鎖系に
おいて中和がなされるため、目的成分が揮散する恐れが
なく、精度のよい自動分析法が提供される。
して中和した後にICに注入する必要があるが、予め中
和しておくと、自動試料注入装置で注入の順番を待って
いる内に、共存するトリメチルシランと再結合して、ト
リメチルフルオロシランとなり揮散してしまう。このた
め、拡散分離法とICの組合せによる塩水中のふっ化物
イオンの分析は、従来自動化が不可能であった。そこ
で、本法を用いると、試料注入直前に、しかも閉鎖系に
おいて中和がなされるため、目的成分が揮散する恐れが
なく、精度のよい自動分析法が提供される。
【0020】本分析の場合には、試料前処理部にH型陽
イオン交換カラム(例えばShim-pckIC-PC1,IC-GC1 )ま
たはH型陽イオン交換膜の2重管を用いた陽イオン交換
装置を用いる。
イオン交換カラム(例えばShim-pckIC-PC1,IC-GC1 )ま
たはH型陽イオン交換膜の2重管を用いた陽イオン交換
装置を用いる。
【0021】また、自動試料注入装置に1N程度の酸水溶
液を設置し、10分析程度毎にこれを注入するようプログ
ラムしておけば、イオン交換樹脂が都度洗浄されるの
で、長期間特別な再生操作無しに使用することが可能と
なる。
液を設置し、10分析程度毎にこれを注入するようプログ
ラムしておけば、イオン交換樹脂が都度洗浄されるの
で、長期間特別な再生操作無しに使用することが可能と
なる。
【0022】図2は、本実施例で示した、拡散分離−I
C法による海水中のふっ化物イオンの分析例である。こ
の方法の使用により、約3%の塩化ナトリウム水溶液中
の1ppm程度のふっ化物イオンが良好に定量されてい
る。
C法による海水中のふっ化物イオンの分析例である。こ
の方法の使用により、約3%の塩化ナトリウム水溶液中
の1ppm程度のふっ化物イオンが良好に定量されてい
る。
【0023】
【発明の効果】本発明によれば、分析カラムを汚染する
物質や目的成分の分析を妨害する成分を夾雑成分として
含有する試料の分析において、高価な装置や、特別な操
作を必要とせず、効率的に前処理および注入が可能な方
法およびそのための装置が提供される。
物質や目的成分の分析を妨害する成分を夾雑成分として
含有する試料の分析において、高価な装置や、特別な操
作を必要とせず、効率的に前処理および注入が可能な方
法およびそのための装置が提供される。
【0024】また、試料前処理部を分析流路から独立さ
せているため、分析中に試料前処理部の洗浄やコンディ
ショニングを行うことができ、この結果、分析周期の短
縮やランニングコストの低減を図ることが可能である。
せているため、分析中に試料前処理部の洗浄やコンディ
ショニングを行うことができ、この結果、分析周期の短
縮やランニングコストの低減を図ることが可能である。
【0025】さらに、自動試料注入装置に本発明のシス
テムを組み込むことにより、試料の前処理を、自動的
に、閉鎖系で、しかも試料の注入の直前に行うことがで
きる。このため、前処理後に試料が不安定な場合や汚染
を嫌う場合に特に有効となる。この結果、分析にかかる
コスト、手間を大幅に削減し、かつ、信頼性の高いデー
タを得ることが可能となる。
テムを組み込むことにより、試料の前処理を、自動的
に、閉鎖系で、しかも試料の注入の直前に行うことがで
きる。このため、前処理後に試料が不安定な場合や汚染
を嫌う場合に特に有効となる。この結果、分析にかかる
コスト、手間を大幅に削減し、かつ、信頼性の高いデー
タを得ることが可能となる。
【図1】本発明の試料前処理装置の高圧8ポートバルブ
部の流路図。
部の流路図。
【図2】拡散分離−IC法による海水中のふっ化物イオ
ンの分析例。
ンの分析例。
P:試料前処理ループ S:試料注
入ループ
入ループ
Claims (1)
- 【請求項1】 少なくとも8ポート以上のポート数を持
つバルブのポートに試料前処理ループ,試料注入ルー
プ,移動相出入口流路,廃液流路を各々接続し、試料注
入時は試料前処理ループ→試料注入ループ→廃液流路を
連通させ、試料分析時は移動相入口流路→試料注入ルー
プ→移動相出口流路を連通させることにより夾雑成分を
含まない試料のみ分析部へ注入することを特徴とする試
料の前処理注入法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17141192A JPH0618377A (ja) | 1992-06-30 | 1992-06-30 | 試料の前処理注入法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17141192A JPH0618377A (ja) | 1992-06-30 | 1992-06-30 | 試料の前処理注入法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0618377A true JPH0618377A (ja) | 1994-01-25 |
Family
ID=15922645
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17141192A Pending JPH0618377A (ja) | 1992-06-30 | 1992-06-30 | 試料の前処理注入法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0618377A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001092869A1 (en) * | 2000-05-29 | 2001-12-06 | Mitsui Mining & Smelting Company, Ltd. | Method for measuring concentrations and molecular weights of glue and gelatin |
| CN109342617A (zh) * | 2018-11-05 | 2019-02-15 | 江苏天宇检测技术有限公司 | 一种气质联用仪样品预处理装置 |
| CN115516319A (zh) * | 2020-05-29 | 2022-12-23 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置的控制方法 |
-
1992
- 1992-06-30 JP JP17141192A patent/JPH0618377A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001092869A1 (en) * | 2000-05-29 | 2001-12-06 | Mitsui Mining & Smelting Company, Ltd. | Method for measuring concentrations and molecular weights of glue and gelatin |
| CN109342617A (zh) * | 2018-11-05 | 2019-02-15 | 江苏天宇检测技术有限公司 | 一种气质联用仪样品预处理装置 |
| CN109342617B (zh) * | 2018-11-05 | 2021-11-09 | 江苏天宇检测技术有限公司 | 一种气质联用仪样品预处理装置 |
| CN115516319A (zh) * | 2020-05-29 | 2022-12-23 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置的控制方法 |
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