JPH061863B2 - 位相比較回路 - Google Patents
位相比較回路Info
- Publication number
- JPH061863B2 JPH061863B2 JP13985690A JP13985690A JPH061863B2 JP H061863 B2 JPH061863 B2 JP H061863B2 JP 13985690 A JP13985690 A JP 13985690A JP 13985690 A JP13985690 A JP 13985690A JP H061863 B2 JPH061863 B2 JP H061863B2
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- circuit
- wave
- pulse
- diode
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Links
- 238000011084 recovery Methods 0.000 claims description 20
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 10
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 7
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Manipulation Of Pulses (AREA)
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はステップリカバリダイオードを使用したパルス
発生回路を利用した位相比較回路に関する。
発生回路を利用した位相比較回路に関する。
従来、ステップリカバリダイオードを使用した平衡型パ
ルス発生回路は、第１図の如く構成されている。第１図
でＴ１は不平衡基準波入力を平衡に変換するトランス、
Ｘ１はステップリカバリダイオードである。通常、基準
波入力周波数としては数十ＭHz〜数百ＭHz程度を使用
し、マイクロ波帯の高調波パルスを取り出している。
ルス発生回路は、第１図の如く構成されている。第１図
でＴ１は不平衡基準波入力を平衡に変換するトランス、
Ｘ１はステップリカバリダイオードである。通常、基準
波入力周波数としては数十ＭHz〜数百ＭHz程度を使用
し、マイクロ波帯の高調波パルスを取り出している。
一般に、パルスの発生は入力回路とステップリカバリダ
イオードの特性で決定されるが、第１図の回路ではステ
ップリカバリダイオードＸ１で発生したパルスが、基準
波入力回路側へも伝搬し、トランスＴ１及びトランスＴ
１からステップリカバリダイオードＸ１への線路によ
り、発生パルスの損失及び周波数特性上の共振が生じて
いた。損失は主としてトランスＴ１が原因であり、共振
は、トランスＴ１及びトランスＴ１からステップリカバ
リダイオードＸ１への線路及びステップリカバリダイオ
ードＸ１の逆方向容量Ｃｄで決定されるため、外部回路
なるトランスＴ１の影響を直接受け共振点を所望帯域外
へ持っていくことが困難であった。従って、前記２つの
理由から、出力パルスの波高値は、本来ステップリカバ
リダイオードＸ１で発生されるパルスから低下し、かつ
周波数特性上の共振（パルス波高値の低下）が所望帯域
内に入るという好ましくない特性となっていた。
イオードの特性で決定されるが、第１図の回路ではステ
ップリカバリダイオードＸ１で発生したパルスが、基準
波入力回路側へも伝搬し、トランスＴ１及びトランスＴ
１からステップリカバリダイオードＸ１への線路によ
り、発生パルスの損失及び周波数特性上の共振が生じて
いた。損失は主としてトランスＴ１が原因であり、共振
は、トランスＴ１及びトランスＴ１からステップリカバ
リダイオードＸ１への線路及びステップリカバリダイオ
ードＸ１の逆方向容量Ｃｄで決定されるため、外部回路
なるトランスＴ１の影響を直接受け共振点を所望帯域外
へ持っていくことが困難であった。従って、前記２つの
理由から、出力パルスの波高値は、本来ステップリカバ
リダイオードＸ１で発生されるパルスから低下し、かつ
周波数特性上の共振（パルス波高値の低下）が所望帯域
内に入るという好ましくない特性となっていた。
このパルス発生回路を利用した位相比較回路では、第５
図の破線で示す如く、ビート波出力電圧が低く、周波数
特性上共振が存在してしまう問題点がある。
図の破線で示す如く、ビート波出力電圧が低く、周波数
特性上共振が存在してしまう問題点がある。
本発明の目的は、前述の従来の位相比較回路の有する欠
点を改善し、ビート波出力電圧が高く、周波数特性上共
振が存在しない位相比較回路を提供することにある。
点を改善し、ビート波出力電圧が高く、周波数特性上共
振が存在しない位相比較回路を提供することにある。
本発明によれば、ステップリカバリダイオードと該ステ
ップリカバリダイオードと電気長ｌの線路を介して並列
に接続されたコンデンサとを有するパルス発生回路と、
該パルス発生回路に平衡基準信号を入力し、該パルス発
生回路から出力される平衡出力パルス波をサンプリング
波として第１の検波用ダイオードのアノード及び第２の
検波用ダイオードのカソードに入力するとともに被サン
プリング波を前記第１の検波用ダイオードのカソード及
び前記第２の検波用ダイオードのアノードへ不平衡に入
力することにより、前記平衡基準信号と前記被サンプリ
ング波との位相差に対応したビート波を平衡出力として
取り出し、前記ステップリカバリダイオードと前記線路
の電気長ｌとで決まる共振点を前記被サンプリング波の
使用周波数帯域の帯域外へ設けたことを特徴とする位相
比較回路が得られる。
ップリカバリダイオードと電気長ｌの線路を介して並列
に接続されたコンデンサとを有するパルス発生回路と、
該パルス発生回路に平衡基準信号を入力し、該パルス発
生回路から出力される平衡出力パルス波をサンプリング
波として第１の検波用ダイオードのアノード及び第２の
検波用ダイオードのカソードに入力するとともに被サン
プリング波を前記第１の検波用ダイオードのカソード及
び前記第２の検波用ダイオードのアノードへ不平衡に入
力することにより、前記平衡基準信号と前記被サンプリ
ング波との位相差に対応したビート波を平衡出力として
取り出し、前記ステップリカバリダイオードと前記線路
の電気長ｌとで決まる共振点を前記被サンプリング波の
使用周波数帯域の帯域外へ設けたことを特徴とする位相
比較回路が得られる。
以下、図面を参照して本発明の一実施例を詳細に説明す
る。
る。
第２図に本発明に使用されるパルス発生回路の回路構成
を示す。第２図において、Ｔ１、Ｘ１は第１図の従来回
路と同一のトランス及びステップリカバリダイオードで
あり、Ｃ１はコンデンサ、ｌは電気長である。ステップ
リカバリダイオードＸ１で発生したパルスは、一部基準
波入力側へも伝搬するが、コンデンサＣ１によるショー
ト効果のため完全反射され、トランスＴ１へは伝搬しな
い、従って、発生パルスの損失は改善される。本発明者
の測定によると、第２図に示す回路から出力されるパル
スの波高値は、第１図の従来回路から出力されるパルス
の波高値の約１．５倍であった。
を示す。第２図において、Ｔ１、Ｘ１は第１図の従来回
路と同一のトランス及びステップリカバリダイオードで
あり、Ｃ１はコンデンサ、ｌは電気長である。ステップ
リカバリダイオードＸ１で発生したパルスは、一部基準
波入力側へも伝搬するが、コンデンサＣ１によるショー
ト効果のため完全反射され、トランスＴ１へは伝搬しな
い、従って、発生パルスの損失は改善される。本発明者
の測定によると、第２図に示す回路から出力されるパル
スの波高値は、第１図の従来回路から出力されるパルス
の波高値の約１．５倍であった。
一方、入力回路による共振は、コンデンサＣ１の存在に
より、第３図に示したコンデンサＣ１、電気長ｌ、ステ
ップリカバリダイオードＸ１の逆方向容量Ｃｄなる等価
回路の直列共振となり、コンデンサＣ１以前の入力回路
（トランスＴ１及びトランスＴ１からコンデンサＣ１へ
の線路）の影響は無視できる。
より、第３図に示したコンデンサＣ１、電気長ｌ、ステ
ップリカバリダイオードＸ１の逆方向容量Ｃｄなる等価
回路の直列共振となり、コンデンサＣ１以前の入力回路
（トランスＴ１及びトランスＴ１からコンデンサＣ１へ
の線路）の影響は無視できる。
共振点は で表される。ここで、Ｌは電気長ｌで定まるインダクタ
ンスである。したがって、例えば、所望周波数ｆが、 となるように電気長ｌを選ぶことにより、前記共振点を
所望帯域内に入らないようにする。
ンスである。したがって、例えば、所望周波数ｆが、 となるように電気長ｌを選ぶことにより、前記共振点を
所望帯域内に入らないようにする。
第４図は、第２図のパルス発生回路を利用した本発明の
位相比較回路である。ステップリカバリダイオードＸ１
で発生した高調波により端子６より入力されたマイクロ
波をサンプリングし、基準波とマイクロ波の位相差に対
応したビート波出力を得る回路である。
位相比較回路である。ステップリカバリダイオードＸ１
で発生した高調波により端子６より入力されたマイクロ
波をサンプリングし、基準波とマイクロ波の位相差に対
応したビート波出力を得る回路である。
第５図にパルス発生回路に第２図の回路を使用した本発
明の位相比較回路（第４図）と、パルス発生回路に第１
図の回路を使用した従来の位相比較回路に対して、基準
波入力が１００ＭHzで＋１８ｄＢｍ、マイクロ波入力レ
ベルが０ｄＢｍのときのビート波出力電圧のデータを示
す。第５図において、実線が本発明の位相比較回路（第
４図）のビート波出力特性を示し、破線が従来の位相比
較回路のビート波出力特性を示す。第５図から明らかな
ように、従来の位相比較回路では、前述した欠点からビ
ート波出力電圧が低く、また周波数特性上共振が存在し
ているが、本発明の位相比較回路では、これらの点が大
幅に改善されていることがわかる。
明の位相比較回路（第４図）と、パルス発生回路に第１
図の回路を使用した従来の位相比較回路に対して、基準
波入力が１００ＭHzで＋１８ｄＢｍ、マイクロ波入力レ
ベルが０ｄＢｍのときのビート波出力電圧のデータを示
す。第５図において、実線が本発明の位相比較回路（第
４図）のビート波出力特性を示し、破線が従来の位相比
較回路のビート波出力特性を示す。第５図から明らかな
ように、従来の位相比較回路では、前述した欠点からビ
ート波出力電圧が低く、また周波数特性上共振が存在し
ているが、本発明の位相比較回路では、これらの点が大
幅に改善されていることがわかる。
以上の説明で明らかなように、本発明によれば、ビート
波出力電圧を高くでき、周波数特性上共振が存在しない
ようにできるという効果がある。
波出力電圧を高くでき、周波数特性上共振が存在しない
ようにできるという効果がある。
第１図は従来のパルス発生回路の構成を示した回路図、
第２図は本発明が使用するパルス発生回路の構成を示し
た回路図、第３図は第２図の回路の等価回路図、第４図
は第２図のパルス発生回路を利用した本発明による位相
比較回路の構成を示した回路図、第５図は第４図の位相
比較回路とパルス発生回路に第１図の回路を使用した従
来の位相比較回路におけるビート波出力特性例を示した
グラフである。 Ｔ１……トランス、Ｘ１……ステップリカバリダイオー
ド、Ｃ１……コンデンサ、ｌ……電気長、Ｃｄ……Ｘ１
の逆方向容量、Ｘ２、Ｘ３……検波用ダイオード。
第２図は本発明が使用するパルス発生回路の構成を示し
た回路図、第３図は第２図の回路の等価回路図、第４図
は第２図のパルス発生回路を利用した本発明による位相
比較回路の構成を示した回路図、第５図は第４図の位相
比較回路とパルス発生回路に第１図の回路を使用した従
来の位相比較回路におけるビート波出力特性例を示した
グラフである。 Ｔ１……トランス、Ｘ１……ステップリカバリダイオー
ド、Ｃ１……コンデンサ、ｌ……電気長、Ｃｄ……Ｘ１
の逆方向容量、Ｘ２、Ｘ３……検波用ダイオード。
Claims (1)
- 【請求項１】ステップリカバリダイオードと該ステップ
リカバリダイオードと電気長ｌの線路を介して並列に接
続されたコンデンサとを有するパルス発生回路と、該パ
ルス発生回路に平衡基準信号を入力し、該パルス発生回
路から出力される平衡出力パルス波をサンプリング波と
して第１の検波用ダイオードのアノード及び第２の検波
用ダイオードのカソードに入力するとともに被サンプリ
ング波を前記第１の検波用ダイオードのカソード及び前
記第２の検波用ダイオードのアノードへ不平衡に入力す
ることにより、前記平衡基準信号と前記被サンプリング
波との位相差に対応したビート波を平衡出力として取り
出し、前記ステップリカバリダイオードと前記線路の電
気長ｌとで決まる共振点を前記被サンプリング波の使用
周波数帯域の帯域外へ設けたことを特徴とする位相比較
回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13985690A JPH061863B2 (ja) | 1990-05-31 | 1990-05-31 | 位相比較回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13985690A JPH061863B2 (ja) | 1990-05-31 | 1990-05-31 | 位相比較回路 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58083484A Division JPS59210721A (ja) | 1983-05-14 | 1983-05-14 | パルス発生回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0316304A JPH0316304A (ja) | 1991-01-24 |
| JPH061863B2 true JPH061863B2 (ja) | 1994-01-05 |
Family
ID=15255134
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13985690A Expired - Lifetime JPH061863B2 (ja) | 1990-05-31 | 1990-05-31 | 位相比較回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH061863B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04269012A (ja) * | 1991-02-25 | 1992-09-25 | Nec Corp | サンプリング位相比較器 |
| WO2002061314A1 (en) | 2001-01-31 | 2002-08-08 | Nok Corporation | Solenoid valve |
| JP4713961B2 (ja) * | 2005-06-24 | 2011-06-29 | 株式会社アドバンテスト | パルス発生回路およびその製造方法 |
-
1990
- 1990-05-31 JP JP13985690A patent/JPH061863B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0316304A (ja) | 1991-01-24 |
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