JPH06187084A - 座標入力装置 - Google Patents
座標入力装置Info
- Publication number
- JPH06187084A JPH06187084A JP33863492A JP33863492A JPH06187084A JP H06187084 A JPH06187084 A JP H06187084A JP 33863492 A JP33863492 A JP 33863492A JP 33863492 A JP33863492 A JP 33863492A JP H06187084 A JPH06187084 A JP H06187084A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- detection
- input device
- coordinate input
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Abstract
(57)【要約】
【目的】 切替え操作を必要とせずに当該膜抵抗アナロ
グ方式座標入力装置に於けるタッチ位置を高速度で検出
出来る座標入力装置を提供する。 【構成】 均一な電極膜で構成された２枚の電極５、６
を対向させ、一方の電極５を印加電極として当該電極に
検出用電圧を印加して電圧分布を形成せしめ、他方の電
極６を検出電極として当該電極の端部から、当該両電極
の一部を互いに接触せしめた場合に発生する電圧を検出
する事により、当該両電極５、６が互いに接触した位置
（Ｐ点）を演算する座標入力装置１０に於いて、当該検
出電極６の両側に設けられた２個の検出出力端部Ｏ３、
Ｏ４に、該検出電極６が有する膜抵抗と反比例する増幅
率を有する増幅回路１１、１２をそれぞれ接続した座標
入力装置１０。
グ方式座標入力装置に於けるタッチ位置を高速度で検出
出来る座標入力装置を提供する。 【構成】 均一な電極膜で構成された２枚の電極５、６
を対向させ、一方の電極５を印加電極として当該電極に
検出用電圧を印加して電圧分布を形成せしめ、他方の電
極６を検出電極として当該電極の端部から、当該両電極
の一部を互いに接触せしめた場合に発生する電圧を検出
する事により、当該両電極５、６が互いに接触した位置
（Ｐ点）を演算する座標入力装置１０に於いて、当該検
出電極６の両側に設けられた２個の検出出力端部Ｏ３、
Ｏ４に、該検出電極６が有する膜抵抗と反比例する増幅
率を有する増幅回路１１、１２をそれぞれ接続した座標
入力装置１０。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は座標入力装置に関するも
のであり、更に詳しくは、操作性が良く、省スペースに
有利なポインティングデバイスとして、特に手書き入力
装置として高速化に対応しうる座標入力装置に関するも
のである。
のであり、更に詳しくは、操作性が良く、省スペースに
有利なポインティングデバイスとして、特に手書き入力
装置として高速化に対応しうる座標入力装置に関するも
のである。
【０００２】
【従来の技術】座標入力装置としては、従来から種々の
構成を有する装置が提案されている。中でも、広範囲の
用途に適用出来、然かも手書き入力も可能なポインティ
ングデバイスとしての座標入力装置として、膜抵抗アナ
ログ方式座標入力装置が知られている。
構成を有する装置が提案されている。中でも、広範囲の
用途に適用出来、然かも手書き入力も可能なポインティ
ングデバイスとしての座標入力装置として、膜抵抗アナ
ログ方式座標入力装置が知られている。
【０００３】図２（Ａ）〜（Ｃ）は、係る膜抵抗アナロ
グ方式座標入力装置の従来の構造を説明する図であり、
基本的には、均一に電極膜を施した二枚の電極を対向さ
せ、一方の電極を印加電極として当該電極に検出用電圧
を印加して電圧分布を形成せしめ、他方の電極を検出電
極として当該電極の端部から、当該両電極の一部を互い
に接触せしめた場合に発生する電圧を検出する事によ
り、当該両電極が互いに接触したか否かを判定する（タ
ッチセンサ）と共に、両電極が互いに接触した位置の座
標を演算する様に構成されたもので有る。
グ方式座標入力装置の従来の構造を説明する図であり、
基本的には、均一に電極膜を施した二枚の電極を対向さ
せ、一方の電極を印加電極として当該電極に検出用電圧
を印加して電圧分布を形成せしめ、他方の電極を検出電
極として当該電極の端部から、当該両電極の一部を互い
に接触せしめた場合に発生する電圧を検出する事によ
り、当該両電極が互いに接触したか否かを判定する（タ
ッチセンサ）と共に、両電極が互いに接触した位置の座
標を演算する様に構成されたもので有る。
【０００４】当該膜抵抗アナログ方式座標入力装置に於
いては、図１（Ａ）に示す様に、第１の透明電極膜１の
互いに対向する２辺ａ，ｂの近傍に沿って例えばＹ方向
に互いに対向する２個の導電体３、３’を設けＹ方向電
極５とすると共に、図１（Ｂ）に示す様に第２の透明電
極膜２の互いに対向する２辺ｃ，ｄの近傍に沿って例え
ばＸ方向に互いに対向する２個の導電体４、４’を設け
Ｘ方向電極６とする、図１（Ｃ）に示される様に、両電
極５と６とを当該各Ｘ方向の導電体４、４’とＹ方向の
導電体３、３’とが互いに直角に配列される様に積層配
列し、且つ当該両電極の間に所定の均一な間隔Ｌを設け
て該両電極膜を互いに対向させて配置したものである。
いては、図１（Ａ）に示す様に、第１の透明電極膜１の
互いに対向する２辺ａ，ｂの近傍に沿って例えばＹ方向
に互いに対向する２個の導電体３、３’を設けＹ方向電
極５とすると共に、図１（Ｂ）に示す様に第２の透明電
極膜２の互いに対向する２辺ｃ，ｄの近傍に沿って例え
ばＸ方向に互いに対向する２個の導電体４、４’を設け
Ｘ方向電極６とする、図１（Ｃ）に示される様に、両電
極５と６とを当該各Ｘ方向の導電体４、４’とＹ方向の
導電体３、３’とが互いに直角に配列される様に積層配
列し、且つ当該両電極の間に所定の均一な間隔Ｌを設け
て該両電極膜を互いに対向させて配置したものである。
【０００５】図１（Ｃ）の例では、該Ｙ方向電極を有す
る電極膜１を印加電極となし、又該Ｘ方向電極を有する
電極膜２を検出電極となしたものである。そして、該印
加電極５の一方の導電体３の端部に接続された配線Ｅ１
を適宜のスイッチ手段ＳＷ１を介して高電位電源電圧、
例えばＶｃｃと接続させるか、或いは、ハイインピーダ
ンスを含むオープンの状態になすと共に、他方の導電体
３’の端部に接続された配線Ｅ２を適宜のスイッチ手段
ＳＷ２を介して低電位電源電圧、例えばＧＮＤと接続さ
せるか、検出端子Ｄ２と接続させる様になっている。
る電極膜１を印加電極となし、又該Ｘ方向電極を有する
電極膜２を検出電極となしたものである。そして、該印
加電極５の一方の導電体３の端部に接続された配線Ｅ１
を適宜のスイッチ手段ＳＷ１を介して高電位電源電圧、
例えばＶｃｃと接続させるか、或いは、ハイインピーダ
ンスを含むオープンの状態になすと共に、他方の導電体
３’の端部に接続された配線Ｅ２を適宜のスイッチ手段
ＳＷ２を介して低電位電源電圧、例えばＧＮＤと接続さ
せるか、検出端子Ｄ２と接続させる様になっている。
【０００６】一方、該検出電極６の一方の導電体４の端
部に接続された配線Ｅ３を適宜のスイッチ手段ＳＷ３を
介して低電位電源電圧、例えばＧＮＤと接続させるか、
検出端子Ｄ１と接続させると共に、他方の導電体４’の
端部に接続された配線Ｅ４を適宜のスイッチ手段ＳＷ４
を介して高電位電源電圧、例えばＶｃｃと接続させる
か、或いは、ハイインピーダンスを含むオープンの状態
になす様に構成したものである。
部に接続された配線Ｅ３を適宜のスイッチ手段ＳＷ３を
介して低電位電源電圧、例えばＧＮＤと接続させるか、
検出端子Ｄ１と接続させると共に、他方の導電体４’の
端部に接続された配線Ｅ４を適宜のスイッチ手段ＳＷ４
を介して高電位電源電圧、例えばＶｃｃと接続させる
か、或いは、ハイインピーダンスを含むオープンの状態
になす様に構成したものである。
【０００７】係る回路構成に於いて、例えば、Ｙ方向の
座標を検出する場合には、該スイッチＳＷ１を作動させ
て、該配線Ｅ１を高電位電源電圧、例えばＶｃｃと接続
させると同時に、該スイッチ手段ＳＷ２を作動させて、
該配線Ｅ２を低電位電源電圧、例えばＧＮＤと接続させ
る。一方、該スイッチＳＷ３を作動させて、該配線Ｅ３
を検出端子Ｄ１と接続させると同時に、該スイッチ手段
ＳＷ４を作動させて、該配線Ｅ４をハイインピーダンス
の状態にする。
座標を検出する場合には、該スイッチＳＷ１を作動させ
て、該配線Ｅ１を高電位電源電圧、例えばＶｃｃと接続
させると同時に、該スイッチ手段ＳＷ２を作動させて、
該配線Ｅ２を低電位電源電圧、例えばＧＮＤと接続させ
る。一方、該スイッチＳＷ３を作動させて、該配線Ｅ３
を検出端子Ｄ１と接続させると同時に、該スイッチ手段
ＳＷ４を作動させて、該配線Ｅ４をハイインピーダンス
の状態にする。
【０００８】そして、該座標入力装置の任意の場所を押
圧して両電極を互いにタッチさせると、その接触部分で
両電極が導通して、当該検出端子Ｄ１には、Ｙ方向電極
抵抗のタッチ位置での分割比により印加電圧Ｖｃｃを分
割した電圧レベルＶｏｕｔが出力され、それによって、
当該タッチ部位置のＹ座標は、Ｖｏｕｔ／Ｖｃｃとして
算出される。
圧して両電極を互いにタッチさせると、その接触部分で
両電極が導通して、当該検出端子Ｄ１には、Ｙ方向電極
抵抗のタッチ位置での分割比により印加電圧Ｖｃｃを分
割した電圧レベルＶｏｕｔが出力され、それによって、
当該タッチ部位置のＹ座標は、Ｖｏｕｔ／Ｖｃｃとして
算出される。
【０００９】ただし、この場合には、電極膜が均一に形
成されている事が必要となる。次に、同一位置に於ける
Ｘ座標を検出して算出する場合には、当該各スイッチを
切替えるものであり、該スイッチＳＷ１を切替えて、該
配線Ｅ１をハイインピーダンスの状態にすると同時に、
該スイッチ手段ＳＷ２を切替えて、該配線Ｅ２を低電位
電源電圧、例えばＧＮＤと接続させる。
成されている事が必要となる。次に、同一位置に於ける
Ｘ座標を検出して算出する場合には、当該各スイッチを
切替えるものであり、該スイッチＳＷ１を切替えて、該
配線Ｅ１をハイインピーダンスの状態にすると同時に、
該スイッチ手段ＳＷ２を切替えて、該配線Ｅ２を低電位
電源電圧、例えばＧＮＤと接続させる。
【００１０】一方、該スイッチＳＷ３を作動させて、該
配線Ｅ３を検出端子Ｄ２と接続させると同時に、該スイ
ッチ手段ＳＷ４を作動させて、該配線Ｅ４を高電位電源
電圧、例えばＶｃｃと接続させる。この結果、当該検出
端子Ｄ２には、Ｘ方向電極抵抗のタッチ位置での分割比
により印加電圧Ｖｃｃを分割した電圧レベルＶｏｕｔが
出力され、それによって、当該タッチ部位置のＸ座標
は、Ｖｏｕｔ／Ｖｃｃとして算出される。
配線Ｅ３を検出端子Ｄ２と接続させると同時に、該スイ
ッチ手段ＳＷ４を作動させて、該配線Ｅ４を高電位電源
電圧、例えばＶｃｃと接続させる。この結果、当該検出
端子Ｄ２には、Ｘ方向電極抵抗のタッチ位置での分割比
により印加電圧Ｖｃｃを分割した電圧レベルＶｏｕｔが
出力され、それによって、当該タッチ部位置のＸ座標
は、Ｖｏｕｔ／Ｖｃｃとして算出される。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】然しながら、係る従来
の膜抵抗アナログ方式座標入力装置に於いては、一つの
位置を検出してＸ方向とＹ方向の２次元座標値として算
出する為には、上記した様に、印加電極と検出電極とを
Ｘ方向座標を算出する時とＹ方向座標を算出する時で切
り換えて演算する必要があり、その為、検出速度が遅く
なり、検出速度向上の妨げとなっていた。
の膜抵抗アナログ方式座標入力装置に於いては、一つの
位置を検出してＸ方向とＹ方向の２次元座標値として算
出する為には、上記した様に、印加電極と検出電極とを
Ｘ方向座標を算出する時とＹ方向座標を算出する時で切
り換えて演算する必要があり、その為、検出速度が遅く
なり、検出速度向上の妨げとなっていた。
【００１２】つまり、係る従来の膜抵抗アナログ方式座
標入力装置に於いては、上記に様に、Ｘ方向座標を算出
する時とＹ方向座標を算出する時に当該各スイッチＳＷ
を切替える操作が必要な為、それだけで時間だ係ると同
時に、それぞれの回路に容量が設けられており、当該各
スイッチを切替えた場合には、所定の電圧値まで立ち上
がるまで待ってから、検出操作を行う必要があるので、
その待機時間が、それぞれの切替え操作毎に必要となっ
ているので、その分も演算速度を遅くする原因となって
いる。
標入力装置に於いては、上記に様に、Ｘ方向座標を算出
する時とＹ方向座標を算出する時に当該各スイッチＳＷ
を切替える操作が必要な為、それだけで時間だ係ると同
時に、それぞれの回路に容量が設けられており、当該各
スイッチを切替えた場合には、所定の電圧値まで立ち上
がるまで待ってから、検出操作を行う必要があるので、
その待機時間が、それぞれの切替え操作毎に必要となっ
ているので、その分も演算速度を遅くする原因となって
いる。
【００１３】従って、本発明の目的は、上記した従来技
術の欠点を改良し、切替え操作を必要とせずに当該膜抵
抗アナログ方式座標入力装置に於けるタッチ位置を高速
度で検出出来る座標入力装置を提供するものである。
術の欠点を改良し、切替え操作を必要とせずに当該膜抵
抗アナログ方式座標入力装置に於けるタッチ位置を高速
度で検出出来る座標入力装置を提供するものである。
【００１４】
【課題を解決するための手段】本発明は上記した目的を
達成するため、以下に記載されたような技術構成を採用
するものである。即ち、均一な電極膜で構成された２枚
の電極を対向させ、一方の電極を印加電極として当該電
極に検出用電圧を印加して電圧分布を形成せしめ、他方
の電極を検出電極として当該電極の端部から、当該両電
極の一部を互いに接触せしめた場合に発生する電圧を検
出する事により、当該両電極が互いに接触した位置を演
算する座標入力装置に於いて、当該検出電極の両側に設
けられた２個の検出出力端部に、該検出電極が有する膜
抵抗と反比例する増幅率を有する増幅回路を接続した座
標入力装置である。
達成するため、以下に記載されたような技術構成を採用
するものである。即ち、均一な電極膜で構成された２枚
の電極を対向させ、一方の電極を印加電極として当該電
極に検出用電圧を印加して電圧分布を形成せしめ、他方
の電極を検出電極として当該電極の端部から、当該両電
極の一部を互いに接触せしめた場合に発生する電圧を検
出する事により、当該両電極が互いに接触した位置を演
算する座標入力装置に於いて、当該検出電極の両側に設
けられた２個の検出出力端部に、該検出電極が有する膜
抵抗と反比例する増幅率を有する増幅回路を接続した座
標入力装置である。
【００１５】
【作用】本発明に係る、座標入力装置に於いては、上記
した基本的な構成を有しているので、従来の様な、２次
元座標値を検出し算出する操作に於いて、Ｘ方向座標を
算出する時とＹ方向座標を切替え操作をそれぞれ実行し
ながら別々に求める必要がなく、任意のタッチ位置のＸ
方向座標とＹ方向座標とが、一つの検出操作で瞬時に求
められるので、高速検出が可能である。
した基本的な構成を有しているので、従来の様な、２次
元座標値を検出し算出する操作に於いて、Ｘ方向座標を
算出する時とＹ方向座標を切替え操作をそれぞれ実行し
ながら別々に求める必要がなく、任意のタッチ位置のＸ
方向座標とＹ方向座標とが、一つの検出操作で瞬時に求
められるので、高速検出が可能である。
【００１６】従って、高速化が要求されている手書き座
標入力装置として有効に機能する事が出来る。更には、
本発明に係る該座標入力装置の検出回路構成は、シンプ
ルで、専有面積の縮小も可能である事から、座標入力装
置そのもののダウンサイジング化を図る事も可能であ
る。
標入力装置として有効に機能する事が出来る。更には、
本発明に係る該座標入力装置の検出回路構成は、シンプ
ルで、専有面積の縮小も可能である事から、座標入力装
置そのもののダウンサイジング化を図る事も可能であ
る。
【００１７】
【実施例】以下に、本発明に係る座標入力装置の具体例
を図面を参照しながら詳細に説明する。即ち、図１は、
本発明に係る座標入力装置１０の一具体例の構成を示す
ブロックダイアグラムで有って、具体的には、均一な電
極膜で構成された２枚の電極５、６を対向させ、一方の
電極５を印加電極として当該電極に検出用電圧を印加し
て電圧分布を形成せしめ、他方の電極６を検出電極とし
て当該電極の端部から、当該両電極の一部を互いに接触
せしめた場合に発生する電圧を検出する事により、当該
両電極５、６が互いに接触した位置（Ｐ点）を演算する
座標入力装置１０に於いて、当該検出電極６の両側に設
けられた２個の検出出力端部Ｏ３、Ｏ４に、該検出電極
６が有する膜抵抗と反比例する増幅率を有する増幅回路
１１、１２をそれぞれ接続した座標入力装置１０が示さ
れている。
を図面を参照しながら詳細に説明する。即ち、図１は、
本発明に係る座標入力装置１０の一具体例の構成を示す
ブロックダイアグラムで有って、具体的には、均一な電
極膜で構成された２枚の電極５、６を対向させ、一方の
電極５を印加電極として当該電極に検出用電圧を印加し
て電圧分布を形成せしめ、他方の電極６を検出電極とし
て当該電極の端部から、当該両電極の一部を互いに接触
せしめた場合に発生する電圧を検出する事により、当該
両電極５、６が互いに接触した位置（Ｐ点）を演算する
座標入力装置１０に於いて、当該検出電極６の両側に設
けられた２個の検出出力端部Ｏ３、Ｏ４に、該検出電極
６が有する膜抵抗と反比例する増幅率を有する増幅回路
１１、１２をそれぞれ接続した座標入力装置１０が示さ
れている。
【００１８】即ち、本発明に係る座標入力装置に於いて
は、従来問題となっていたＸ座標とＹ座標を検出する際
の切替えスイッチをなくし、一回の測定操作によってＸ
座標とＹ座標とを同時に演算して検出する様に構成した
ものであり、その基本的構成は、上記した様に、該印加
電極５の両側に設けられた２個の印加入力端部Ｏ１、Ｏ
２に所定の電圧レベルを有する印加電圧Ｖ０を印加する
と共に、該検出電極６の検出端部には、該増幅回路１
１、１２をそれぞれ設け、当該検出電極６に於いて該印
加電極５と該検出電極６とが接触した位置（Ｐ点）が、
当該検出電極６の幅方向の全長に対して占める位置に対
応した分圧値ＶXAとＶXBとをそれぞれ演算して検出する
増幅回路１１、１２をそれぞれを設け、更に、それぞれ
の増幅回路１１、１２の出力を所定の演算回路１３、１
４にそれぞれ入力して、当該Ｐ点のＸ座標とＹ座標とを
同時に演算処理して求めるものである。
は、従来問題となっていたＸ座標とＹ座標を検出する際
の切替えスイッチをなくし、一回の測定操作によってＸ
座標とＹ座標とを同時に演算して検出する様に構成した
ものであり、その基本的構成は、上記した様に、該印加
電極５の両側に設けられた２個の印加入力端部Ｏ１、Ｏ
２に所定の電圧レベルを有する印加電圧Ｖ０を印加する
と共に、該検出電極６の検出端部には、該増幅回路１
１、１２をそれぞれ設け、当該検出電極６に於いて該印
加電極５と該検出電極６とが接触した位置（Ｐ点）が、
当該検出電極６の幅方向の全長に対して占める位置に対
応した分圧値ＶXAとＶXBとをそれぞれ演算して検出する
増幅回路１１、１２をそれぞれを設け、更に、それぞれ
の増幅回路１１、１２の出力を所定の演算回路１３、１
４にそれぞれ入力して、当該Ｐ点のＸ座標とＹ座標とを
同時に演算処理して求めるものである。
【００１９】本発明に於いて使用される該増幅回路１
１、１２は、該検出電極６が有する膜抵抗と反比例する
増幅率を有する機能を持った回路構成であれば如何なる
回路でも使用しうるが、好ましくは反転増幅型のオペア
ンプＯＰ１、ＯＰ２を使用する事が望ましい。即ち、本
発明に於いては、当該検出電極６の一方の端部ｃに設け
られた第１の検出出力端部Ｏ４に接続された第１の増幅
回路１１と当該検出電極６の他方の端部ｄに設けられた
第２の検出出力端部Ｏ３に接続された第２の増幅回路１
２と、該第１と第２の増幅回路１１、１２の出力の双方
ががそれぞれ個別に入力される第１の演算回路１３と第
２の演算回路１４とが設けられ、該第１の演算回路１３
は、前記第１の増幅回路１１の出力するＸ方向の分圧値
ＶXAと該第２の増幅回路１２が出力するＸ方向の他の分
圧値ＶXAとから次式 ＶXB／（ＶXA＋ＶXB） の演算を実行して、当該検出電極側の座標、即ちＸ座標
値を算出する様に構成されており、又該第２の演算回路
１４は、前記第１の増幅回路１１の出力するＸ方向の分
圧値ＶXAと該第２の増幅回路１２が出力するＸ方向の他
の分圧値ＶXAとから次式 −ＲP ／Ｒ・（ＶXA・ＶXB）／（ＶXA＋ＶXB）・１／Ｖ
0 の演算を実行して、当該印加電極側の座標、即ちＹ座標
値を算出する様に構成されている。
１、１２は、該検出電極６が有する膜抵抗と反比例する
増幅率を有する機能を持った回路構成であれば如何なる
回路でも使用しうるが、好ましくは反転増幅型のオペア
ンプＯＰ１、ＯＰ２を使用する事が望ましい。即ち、本
発明に於いては、当該検出電極６の一方の端部ｃに設け
られた第１の検出出力端部Ｏ４に接続された第１の増幅
回路１１と当該検出電極６の他方の端部ｄに設けられた
第２の検出出力端部Ｏ３に接続された第２の増幅回路１
２と、該第１と第２の増幅回路１１、１２の出力の双方
ががそれぞれ個別に入力される第１の演算回路１３と第
２の演算回路１４とが設けられ、該第１の演算回路１３
は、前記第１の増幅回路１１の出力するＸ方向の分圧値
ＶXAと該第２の増幅回路１２が出力するＸ方向の他の分
圧値ＶXAとから次式 ＶXB／（ＶXA＋ＶXB） の演算を実行して、当該検出電極側の座標、即ちＸ座標
値を算出する様に構成されており、又該第２の演算回路
１４は、前記第１の増幅回路１１の出力するＸ方向の分
圧値ＶXAと該第２の増幅回路１２が出力するＸ方向の他
の分圧値ＶXAとから次式 −ＲP ／Ｒ・（ＶXA・ＶXB）／（ＶXA＋ＶXB）・１／Ｖ
0 の演算を実行して、当該印加電極側の座標、即ちＹ座標
値を算出する様に構成されている。
【００２０】但し、Ｒは、当該増幅回路の出力端と反転
入力端子との間に接続された抵抗の抵抗値、ＲP は該検
出電極の抵抗値、ＶXAは該第１の増幅回路の出力値、Ｖ
XBは該第２の増幅回路の出力値及びＶ0 は印加電極に対
する印加電圧である。本発明に係る該座標値演算処理回
路に於いて、反転増幅型のオペアンプＯＰ１、ＯＰ２を
使用する理由は、該反転増幅型のオペアンプＯＰの反転
入力端子に接続される抵抗を当該電極膜の抵抗値に置き
換え、係る膜抵抗値と該各オペアンプＯＰ１、ＯＰ２の
出力と該反転入力端子との間に接続された適宜の抵抗Ｒ
との比が、当該印加電極５に印加された印加電圧Ｖ０と
該オペアンプＯＰの出力ＶXAとＶXBとが反比例する事を
利用する事によるものである。
入力端子との間に接続された抵抗の抵抗値、ＲP は該検
出電極の抵抗値、ＶXAは該第１の増幅回路の出力値、Ｖ
XBは該第２の増幅回路の出力値及びＶ0 は印加電極に対
する印加電圧である。本発明に係る該座標値演算処理回
路に於いて、反転増幅型のオペアンプＯＰ１、ＯＰ２を
使用する理由は、該反転増幅型のオペアンプＯＰの反転
入力端子に接続される抵抗を当該電極膜の抵抗値に置き
換え、係る膜抵抗値と該各オペアンプＯＰ１、ＯＰ２の
出力と該反転入力端子との間に接続された適宜の抵抗Ｒ
との比が、当該印加電極５に印加された印加電圧Ｖ０と
該オペアンプＯＰの出力ＶXAとＶXBとが反比例する事を
利用する事によるものである。
【００２１】次に、上記本発明に係る該座標入力装置１
０に於ける電極膜上の接触点（Ｐ）のＸ座標、及びＹ座
標を求める演算方法の例を説明する。先ず、当該印加電
極５の印加電圧入力端子部Ｏ１、Ｏ２に接続されている
入力電圧配線Ｅ１、Ｅ２の端子間に所定の印加電圧Ｖｏ
を印加しておき、該所望の点Ｐを押圧して当該印加電極
５と検出電極６の一部同士を互いに当接せしめて、両電
極５、６間を導通させる。
０に於ける電極膜上の接触点（Ｐ）のＸ座標、及びＹ座
標を求める演算方法の例を説明する。先ず、当該印加電
極５の印加電圧入力端子部Ｏ１、Ｏ２に接続されている
入力電圧配線Ｅ１、Ｅ２の端子間に所定の印加電圧Ｖｏ
を印加しておき、該所望の点Ｐを押圧して当該印加電極
５と検出電極６の一部同士を互いに当接せしめて、両電
極５、６間を導通させる。
【００２２】この状態に於いて、Ｐ点に於けるＹ座標
は、当該接触位置Ｐ点に於ける電圧Ｖ Y を用いてＶY ／
Ｖ0 から求められる。処で、当該ＶY を求める手順は、
例えば以下の様にして演算処理する事になる。即ち、当
該増幅回路１１、１２の出力ＶXA、ＶXBが、 ＶXA＝−Ｒ／ＲX ・ＶY −−−（１） ＶXB＝−Ｒ／Ｒ 1-X・ＶY −−−（２） と表されることから、 ＲX ＝−Ｒ／ＶXA・ＶY −−−−（３） Ｒ 1-X＝−Ｒ／ＶXB・ＶY −−−−（４） となる。
は、当該接触位置Ｐ点に於ける電圧Ｖ Y を用いてＶY ／
Ｖ0 から求められる。処で、当該ＶY を求める手順は、
例えば以下の様にして演算処理する事になる。即ち、当
該増幅回路１１、１２の出力ＶXA、ＶXBが、 ＶXA＝−Ｒ／ＲX ・ＶY −−−（１） ＶXB＝−Ｒ／Ｒ 1-X・ＶY −−−（２） と表されることから、 ＲX ＝−Ｒ／ＶXA・ＶY −−−−（３） Ｒ 1-X＝−Ｒ／ＶXB・ＶY −−−−（４） となる。
【００２３】ここで、検出電極６の全抵抗値をＲP とす
ると ＲP ＝ ＲX ＋Ｒ 1-X −−−−（５） であるから、 ＲP ＝−Ｒ・ＶY ・（１／ＶXA＋１／ＶXB）−−−（６） となる。
ると ＲP ＝ ＲX ＋Ｒ 1-X −−−−（５） であるから、 ＲP ＝−Ｒ・ＶY ・（１／ＶXA＋１／ＶXB）−−−（６） となる。
【００２４】従って、ＶY ＝−ＲP ／Ｒ・（ＶXA・
ＶXB）／（ＶXA＋ＶXB）−−−（７） となる。従って、印加電極側の座標値（Ｙ座標）＝ＶY
／Ｖ0 ＝−ＲP ／Ｒ・（ＶXA・ＶXB）／（ＶXA＋ＶXB）・１／
Ｖ0 −−−−（８） と表される。
ＶXB）／（ＶXA＋ＶXB）−−−（７） となる。従って、印加電極側の座標値（Ｙ座標）＝ＶY
／Ｖ0 ＝−ＲP ／Ｒ・（ＶXA・ＶXB）／（ＶXA＋ＶXB）・１／
Ｖ0 −−−−（８） と表される。
【００２５】即ち、印加電極側の座標値（Ｙ座標）は、
上記式８の演算を該第２の演算回路１４で実行させる事
によって、求められる事が判る。次に、検出電極側の座
標値（Ｘ座標）は、上記式１、２から 検出電極側の座標値（Ｘ座標）＝ＲX ／ＲX ＋Ｒ 1-X ＝ＶXB ／（ＶXA＋ＶXB）−−−（９） と表される。
上記式８の演算を該第２の演算回路１４で実行させる事
によって、求められる事が判る。次に、検出電極側の座
標値（Ｘ座標）は、上記式１、２から 検出電極側の座標値（Ｘ座標）＝ＲX ／ＲX ＋Ｒ 1-X ＝ＶXB ／（ＶXA＋ＶXB）−−−（９） と表される。
【００２６】即ち、検出電極側の座標値（Ｘ座標）は、
上記式９の演算を該第１の演算回路１３で実行させる事
によって、求められる事が判る。
上記式９の演算を該第１の演算回路１３で実行させる事
によって、求められる事が判る。
【００２７】
【発明の効果】本発明に係る座標入力装置は、上記した
様な技術構成を採用しているので、印加電極、検出電極
の各電圧を測定する際の切替え操作が不要となり、Ｘ方
向とＹ方向との２座標を全く並列に且つ同時に検出する
事が出来るので、高速検出が可能となる。
様な技術構成を採用しているので、印加電極、検出電極
の各電圧を測定する際の切替え操作が不要となり、Ｘ方
向とＹ方向との２座標を全く並列に且つ同時に検出する
事が出来るので、高速検出が可能となる。
【００２８】又、検出電極を分割した複数点の検出が可
能となる様に構成されたタッチパネルに対しても、同様
の構成とする事によって、検出速度を損なう事なく対応
する事が可能となる。従って、高速化が要求されている
手書き座標入力装置として有効に機能する事が出来る。
能となる様に構成されたタッチパネルに対しても、同様
の構成とする事によって、検出速度を損なう事なく対応
する事が可能となる。従って、高速化が要求されている
手書き座標入力装置として有効に機能する事が出来る。
【００２９】更には、本発明に係る該座標入力装置の検
出回路構成は、シンプルで、専有面積の縮小も可能であ
る事から、座標入力装置そのもののダウンサイジング化
を図る事も可能である。
出回路構成は、シンプルで、専有面積の縮小も可能であ
る事から、座標入力装置そのもののダウンサイジング化
を図る事も可能である。
【図１】図１は、本発明に係る座標入力装置の一具体例
の構成を示す図である。
の構成を示す図である。
【図２】図２は、従来の座標入力装置の構成例を示す図
である。
である。
１…電極膜 ２…電極膜 ３、３’…導電体 ４、４’…導電性 ５…印加電極 ６…検出電極 １０…座標入力装置 １１、１２…増幅回路 １３、１４…演算回路
Claims (3)
- 【請求項１】 均一な電極膜で構成された２枚の電極を
対向させ、一方の電極を印加電極として当該電極に検出
用電圧を印加して電圧分布を形成せしめ、他方の電極を
検出電極として当該電極の端部から、当該両電極の一部
を互いに接触せしめた場合に発生する電圧を検出する事
により、当該両電極が互いに接触した位置を演算する座
標入力装置に於いて、当該検出電極の両側に設けられた
２個の検出出力端部に、該検出電極が有する膜抵抗と反
比例する増幅率を有する増幅回路を接続した事を特徴と
する座標入力装置。 - 【請求項２】 当該増幅回路が、反転増幅型のオペアン
プである事を特徴とする請求項１記載の座標入力装置。 - 【請求項３】 当該検出電極の一方の端部に設けられた
第１の検出出力端部に接続された第１の増幅回路と当該
検出電極の他方の端部に設けられた第２の検出出力端部
に接続された第２の増幅回路と、該第１と第２の増幅回
路との双方ががそれぞれ個別に入力される第１の演算回
路と第２の演算回路とが設けられ、該第１の演算回路
は、 −ＲP ／Ｒ・（ＶXA・ＶXB）／（ＶXA＋ＶXB）・１／Ｖ
0 の演算を実行して、当該印加電極側の座標を算出し、又
該第２の演算回路は、 ＶXB／（ＶXA＋ＶXB） の演算を実行して、当該検出電極側の座標を算出する様
に構成されている事を特徴とする請求項１記載の座標入
力装置。但し、Ｒは、当該増幅回路の出力端と反転入力
端子との間に接続された抵抗の抵抗値、ＲP は該検出電
極の抵抗値、ＶXAは該第１の増幅回路の出力値、ＶXBは
該第２の増幅回路の出力値及びＶ0 は印加電極に対する
印加電圧である。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33863492A JPH06187084A (ja) | 1992-12-18 | 1992-12-18 | 座標入力装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33863492A JPH06187084A (ja) | 1992-12-18 | 1992-12-18 | 座標入力装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06187084A true JPH06187084A (ja) | 1994-07-08 |
Family
ID=18320026
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33863492A Withdrawn JPH06187084A (ja) | 1992-12-18 | 1992-12-18 | 座標入力装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06187084A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002278690A (ja) * | 2001-03-19 | 2002-09-27 | Aiphone Co Ltd | タッチパネルの位置検出回路 |
| CN114155763A (zh) * | 2022-01-21 | 2022-03-08 | 上海域圆信息科技有限公司 | 一种针灸模拟训练装置、系统及训练方法 |
-
1992
- 1992-12-18 JP JP33863492A patent/JPH06187084A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002278690A (ja) * | 2001-03-19 | 2002-09-27 | Aiphone Co Ltd | タッチパネルの位置検出回路 |
| CN114155763A (zh) * | 2022-01-21 | 2022-03-08 | 上海域圆信息科技有限公司 | 一种针灸模拟训练装置、系统及训练方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4739299A (en) | Digitizer pad | |
| JP3190407B2 (ja) | タッチパネル装置 | |
| JPH06187084A (ja) | 座標入力装置 | |
| JP2001043002A (ja) | 対角方式座標検出装置 | |
| JPH0648027U (ja) | 透過型座標検出装置 | |
| JP2994155B2 (ja) | 抵抗膜方式タブレット | |
| JPH0583928B2 (ja) | ||
| JPH07160402A (ja) | アナログ・タッチスイッチ | |
| JPS62134717A (ja) | 位置検出方法およびその装置 | |
| JP3719880B2 (ja) | ビーム位置測定システム | |
| JPS62206423A (ja) | 分布型触覚センサの触覚検出方法及びその回路 | |
| JPH0113124B2 (ja) | ||
| US12554361B2 (en) | Touch-sensitive apparatus and method | |
| JPS6320522A (ja) | 座標入力装置 | |
| JP2688292B2 (ja) | 座標検出装置 | |
| JPS648370B2 (ja) | ||
| JP3440577B2 (ja) | 座標入力装置 | |
| JP4879388B2 (ja) | タブレット装置 | |
| JPS58155487A (ja) | 図形入力装置 | |
| JPH0844479A (ja) | 座標入力装置 | |
| JPS62130420A (ja) | 座標検出装置 | |
| JPS63308630A (ja) | 位置検出装置 | |
| JPS58207187A (ja) | 座標位置検出装置 | |
| JPH11143622A (ja) | 位置入力装置 | |
| JPS62117025A (ja) | 座標検出装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20000307 |