JPH0618968U - 静電気除去装置付き自動分析装置 - Google Patents

静電気除去装置付き自動分析装置

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JPH0618968U
JPH0618968U JP314192U JP314192U JPH0618968U JP H0618968 U JPH0618968 U JP H0618968U JP 314192 U JP314192 U JP 314192U JP 314192 U JP314192 U JP 314192U JP H0618968 U JPH0618968 U JP H0618968U
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JP
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reaction container
reagent
sample
reaction
container
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JP314192U
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English (en)
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弘道 佐藤
嘉平 白石
英昭 大楽
満 池崎
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】試料及び試薬ピペットによって反応容器に分注
が行われる手前の移送経路に静電気除去装置を設置し、
既に反応容器に帯電している静電気を除電して信頼性の
高い分析を行う。 【構成】反応容器供給機構８０によって供給された反応
容器２０は反応容器移送機構２３によって試料ピペッテ
ィング機構３０の手前に設置された静電気除去装置１０
の下を通過し、除電エアシャワーをあびる。除電エアー
シャワーをあびた反応容器２０には試料ピペッティング
機構３０及び試薬ピペッテング機構４０で、検査試料と
各測定項目試薬の混合を行ない、光源７０と検出部７１
により光学測定が行われる。

Description

【考案の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
本考案は、検体試料及び試薬を分注する反応容器に帯電した静電気を除去し、 光学測定を行なう自動分析装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
一般に自動分析装置は、検体移送機構・反応容器移送機構・検体及び試薬分注 機構と光学測定装置で構成され、複数検体を順次検査するようになっている。最 近ではプラスチックによる反応容器が高精度かつ低コストで製造されているため 使い捨てタイプの反応容器も広く用いられ、特開昭62−276466号のように反応容 器廃棄機構を組み込んだディスポタイプの自動分析装置が広く知られていたり、 また実開平1−158966 号のような反応容器供給装置を考案するなどプラスチック の低コスト性が生かされている。
【０００３】
【考案が解決しようとする課題】
しかし、このようなプラスチックを用いた反応容器は製造後の梱包運搬などの 作業工程や、自動分析装置にセットされたあとでも供給及び移送の道すじで、静 電気を帯びやすいという性質をもっている。そのため帯電によって反応容器に塵 埃の付着がおき、光学測定のさまたげを引きおこすことがある。また一例として 血液凝固時間測定のように吐出ノズルを液面に浸すことなく中空で微量試薬を吐 出するような分析方法においては、反応容器内面の帯電によって液吐出方向が曲 げられたり、吐出終了直後におけるノズル先端の液玉が反応容器壁に引寄せられ 付着する危険性もあった。更に反応容器内の液面を検出する技術として、液内外 の静電容量差を利用する方法が用いられている自動分析装置もあり、この帯電荷 により誤動作の要因となるおそれがあった。
【０００４】 本考案の目的は静電気を帯びていない反応容器を用いて光学測定を可能にする 自動分析装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、検体試料、或は試薬のピペット機構での分注位置 手前の反応容器移送経路途中に静電気除去装置を設けた点にある。
【０００６】
【作用】
反応容器設置部におかれた静電気を帯びた反応容器は順次、移送経路上に設置 された静電気除去装置の中を通過することによって反応容器表面の帯電荷を電気 的に中和する。除電された反応容器は、反応容器移送機構により検体試料・或い は試薬分注位置へ移送され、液の吐出を受ける。非帯電となったために、液や塵 埃の静電気力による付着がなくなり且つ液面検出器の誤動作もおこらなくなる。
【０００７】
【実施例】
以下本考案の静電気除去装置付き自動分析装置について図面を用いて説明する 。図１において、測定しようとする検査試料５０は検体移送機構５２で回転する 検体収納部５１に配列設置され、また各項目反応に用いる試薬容器６０は試薬移 送機構６２で回転する試薬収納部６１の所定位置に設置されている。２０は反応 容器であり、２１は反応容器設置部、２３は反応容器移送機構であり、光学測定 の光源７０と検出部７１が反応容器に近接して設置され、検出部７１と変換器 ７２とは信号接続している。反応容器設置部２１と検体収納部５１との間には検 査試料を分注するための試料ピペット機構３０が、反応容器設置部２１と試薬収 納部６１との間には試薬を分注するための試薬ピペット機構４０が組み込まれて おり、これらピペット機構にとりつけられた試料ノズル３１、及び試薬ノズル ４１は試料ポンプ３２、及び試薬ポンプ４２とそれぞれ配管接続している。本実 施例では多試料多項目測定を連続的に行なうために空の反応容器２０を供給する 反応容器供給機構８０と、測定済みの反応容器を廃棄する反応容器廃棄機構８１ ，廃棄箱８２とを設置しており、更に反応容器供給機構８０と試料ピペット機構 ３０との間の位置には静電気除去装置１０を設置し、供給された反応容器２０が その下を通過していく構造となっている。自動分析装置ではこれらの分析作業に かかわる装置の他に、表示ディスプレイ９０，印字表示器９１，操作パネル９２ が装着され、インターフェース９３を介しマイクロコンピュータ９４で演算制御 されている。図１では反応容器供給機構８０から反応容器収納部２１へ供給され た反応容器２０は静電気除去装置１０の下を通り、静電気除去装置１０から発生 された除電エアーシャワーをあび、その後試料ピペット機構３０により検査試料 を分注され、更に先へ送られ試薬ピペット機構４０により試薬を分注混合され、 ７００の位置にて光学測定が実施され、最後に廃棄機構８１により廃棄されるま での状態を示している。図２では静電気除去装置１０の詳細構造と反応容器２０ が通って行く状態を示している。図２の静電気除去装置１０は陰イオンを発生す る電極１０１と、電極１０１に高圧電流をかけるための電源・制御部１０２と、 電極１０１で発生した陰イオンを空気と共に送るためのファン１０３と、防塵フ ィルタ１０４で構成され、エアーシャワーが反応容器移送機構２３によって順次 送られてくる反応容器２０に吹きかかる。尚、図３は静電気除去装置１０の中に 、反応容器２０の帯電量検出機構を組み込んだ構造を示す。１０５は検出電極で あり、電極ＵＰ／ＤＯＷＮ機構１０９で反応容器２０に接近する。検出電極105 の帯電量は高インピーダンスの増幅器１０６により増幅され、Ａ／Ｄ変換器107 を経た後マイクロコンピュータ９４で演算処理される。この処理結果にもとづき 反応容器の帯電を除電するのに最適な電極１０１の電位、及びファン１０３の送 風量，除電時間が決定され電源・制御部１０２や反応容器移送機構２３を制御す るようになっている。
【０００８】 図１に示す自動分析装置では反応容器供給機構８０内からプラスチック製容器 ２０が供給されるとき非常に帯電されやすい。しかし帯電していても静電除去装 置１０の下を通過してきた反応容器２０はもはや静電気を帯びていないため塵埃 が付着せず、静電気容量差を利用した液面センサの誤差作をひきおこしたり、図 ４の（ａ）のような試薬液吐出方向の曲がり及び図４の（ｂ）のような液玉の容 器壁付着がおこらなくなる。
【０００９】 図２のような装置以外でも、静電気は高湿雰囲気の下では放電されやすいこと が一般に知られており、図５に示したように加湿器１０１と吹出口１１１で高湿 空間をつくり、そこを反応容器２０を通過させる方法でも、除電効果はある。
【００１０】
【考案の効果】
以上詳述したように、本考案によれば反応容器に帯電した静電気を除去するこ とができ、静電気による悪影響、例えば塵埃付着，センサ誤動作，試薬液の吐出 不良などを防止して、信頼性の高い検査試料の光学測定が実施できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本考案の自動分析装置の構成図である。
【図２】静電除去装置の構成と一実施例の断面図であ
る。
【図３】本考案の除電効果制御系を備えた静電気除去装
置の構成図である。
【図４】帯電反応容器がかかえる問題点を説明する概略
図である。
【図５】他の実施例の断面図である。
【符号の説明】
１０…静電気除去装置、２０…反応容器、２１…反応容
器設置部、２３…反応容器移送機構、３０…試料ピペッ
ト機構、４０…試薬ピペット機構、８０…反応容器供給
機構、９３…インターフェース、９４…マイクロコンピ
ュータ、１０１…電極、１０２…電源・制御部、１０３
…ファン、１０５…検出電極、１０６…増幅器。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 大楽 英昭 茨城県勝田市市毛1040番地 株式会社日立 サイエンスシステムズ内 (72)考案者 池崎 満 茨城県勝田市市毛1040番地 株式会社日立 サイエンスシステムズ内

Claims (2)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項１】容器に入った複数の検査試料を収納する検
    体収納部及びその検体収納部を任意位置まで移動する検
    体移送機構と、これらの検査試料に添加し所定の反応を
    発生させる試薬の入った容器を収納する試薬収納部、及
    び試薬収納部を任意位置へ移動する試薬移送機構と、検
    査試料と試薬を混合し所定の反応をおこさせる反応容器
    とこれら容器を設置する反応容器設置部とこれを移動す
    るための反応容器移送機構が配置され、反応容器内に検
    査試料を分注するための試料ピペット機構及び試料ポン
    プと、試薬を分注するための試薬ピペット機構及び試薬
    ポンプを有し、反応容器移送機構により移送されてきた
    検査試料と試薬の混合反応容器に光を照射し反応液によ
    る透過・吸収・散乱等の光学測定する光度計を備えた自
    動分析装置において、前記試料ピペット又は試薬ピペッ
    トによって反応容器に分注が行なわれる手前移送経路位
    置に空の反応容器に帯電した静電気を除去する静電気除
    去装置を設けたことを特徴とする静電気除去装置付き自
    動分析装置。
  2. 【請求項２】個々の反応容器の帯電量を検出し除電効果
    制御系を具備してなる請求項１記載の静電気除去装置付
    き自動分析装置。
JP314192U 1992-01-31 1992-01-31 静電気除去装置付き自動分析装置 Pending JPH0618968U (ja)

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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005003744A1 (ja) * 2003-07-03 2005-01-13 Wako Pure Chemical Industries, Ltd. 分光測定による特定成分の測定方法
JP2007271442A (ja) * 2006-03-31 2007-10-18 Sysmex Corp ピペットチップ自動供給装置および検体分析装置
JP2009189257A (ja) * 2008-02-12 2009-08-27 Nikkyo Technos Kk セミインタクト細胞調製装置
JP2012523555A (ja) * 2009-04-08 2012-10-04 ビオ−ラド イノヴァシオン イオン化装置を含むゲルカード充填装置
WO2016009862A1 (ja) * 2014-07-18 2016-01-21 株式会社 日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
CN108882489A (zh) * 2018-07-17 2018-11-23 苏州东昊塑胶五金有限公司 一种自动化静电消除设备
JP2019100894A (ja) * 2017-12-05 2019-06-24 日本電子株式会社 自動分析装置および自動分析方法
CN115932291A (zh) * 2021-08-13 2023-04-07 佳能医疗系统株式会社 被检体检查装置以及被检体检查方法

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005003744A1 (ja) * 2003-07-03 2005-01-13 Wako Pure Chemical Industries, Ltd. 分光測定による特定成分の測定方法
JPWO2005003744A1 (ja) * 2003-07-03 2006-11-24 和光純薬工業株式会社 分光測定による特定成分の測定方法
JP4665761B2 (ja) * 2003-07-03 2011-04-06 和光純薬工業株式会社 分光測定による特定成分の測定方法
JP2007271442A (ja) * 2006-03-31 2007-10-18 Sysmex Corp ピペットチップ自動供給装置および検体分析装置
JP2009189257A (ja) * 2008-02-12 2009-08-27 Nikkyo Technos Kk セミインタクト細胞調製装置
JP2012523555A (ja) * 2009-04-08 2012-10-04 ビオ−ラド イノヴァシオン イオン化装置を含むゲルカード充填装置
JPWO2016009862A1 (ja) * 2014-07-18 2017-06-01 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
CN106471377A (zh) * 2014-07-18 2017-03-01 株式会社日立高新技术 自动分析装置
WO2016009862A1 (ja) * 2014-07-18 2016-01-21 株式会社 日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
EP3173795A4 (en) * 2014-07-18 2018-03-14 Hitachi High-Technologies Corporation Automatic analysis device
US10191074B2 (en) 2014-07-18 2019-01-29 Hitachi High-Technologies Corporation Automatic analyzing apparatus
JP2019100894A (ja) * 2017-12-05 2019-06-24 日本電子株式会社 自動分析装置および自動分析方法
US11009518B2 (en) * 2017-12-05 2021-05-18 Jeol Ltd. Apparatus and method for automated analysis
CN108882489A (zh) * 2018-07-17 2018-11-23 苏州东昊塑胶五金有限公司 一种自动化静电消除设备
CN108882489B (zh) * 2018-07-17 2024-05-14 苏州东昊精密制造有限公司 一种自动化静电消除设备
CN115932291A (zh) * 2021-08-13 2023-04-07 佳能医疗系统株式会社 被检体检查装置以及被检体检查方法

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