JPH0619323B2 - 絶縁物の劣化診断方法 - Google Patents
絶縁物の劣化診断方法Info
- Publication number
- JPH0619323B2 JPH0619323B2 JP59181823A JP18182384A JPH0619323B2 JP H0619323 B2 JPH0619323 B2 JP H0619323B2 JP 59181823 A JP59181823 A JP 59181823A JP 18182384 A JP18182384 A JP 18182384A JP H0619323 B2 JPH0619323 B2 JP H0619323B2
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- Japan
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- insulator
- deterioration
- color
- lightness
- insulation
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- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 [発明の技術分野] 本発明は絶縁物の劣化状態を絶縁物の色の変化を測定す
ることにより非破壊的に診断する絶縁物の劣化診断方法
に関する。
ることにより非破壊的に診断する絶縁物の劣化診断方法
に関する。
[発明の技術的背景] 電気機器の巻線等における絶縁物は、その機器の信頼性
を左右するものである。
を左右するものである。
絶縁物に要求される主な特性としては、電気的特性、機
械的特性、熱的特性、物理化学的特性があげられる。そ
して、これらの特性を診断する方法も種々のものがあ
る。
械的特性、熱的特性、物理化学的特性があげられる。そ
して、これらの特性を診断する方法も種々のものがあ
る。
すなわち、上述した絶縁診断には、電気的方法による試
験、モニタリング、物理化学的試験などがある。
験、モニタリング、物理化学的試験などがある。
また、上記電気的方法による試験には、更に詳細に分類
すると、耐電圧試験、非破壊絶縁特性試験等がある。こ
こで、耐電圧試験として交流電圧試験は、印加交流電圧
と時間特性から絶縁物の余寿命を推定するものである。
また、非破壊絶縁特性試験として誘電正接試験は、電圧
−tanδ及び温度−tanδ特性から吸湿、乾燥、ボイドの
状態、劣化の程度を推定するものである。
すると、耐電圧試験、非破壊絶縁特性試験等がある。こ
こで、耐電圧試験として交流電圧試験は、印加交流電圧
と時間特性から絶縁物の余寿命を推定するものである。
また、非破壊絶縁特性試験として誘電正接試験は、電圧
−tanδ及び温度−tanδ特性から吸湿、乾燥、ボイドの
状態、劣化の程度を推定するものである。
モニタリングは、分解ガス検知により温度上昇監視等を
行うものである。
行うものである。
物理化学的試験は、赤外線分析、元素分析、熱分析等に
より状態診断を行うものである。
より状態診断を行うものである。
[背景技術の問題点] 上記において電気的方法による試験は、高価で大がかり
な電源装置、測定装置等を必要とし、またその測定とデ
ータの解析には熟達した技術を必要とするため、絶縁診
断を行う機会を制限させていた。
な電源装置、測定装置等を必要とし、またその測定とデ
ータの解析には熟達した技術を必要とするため、絶縁診
断を行う機会を制限させていた。
また、モニタリングの場合には、高価で大がかりな分解
ガス検知装置等を被診断電気機器に付属させなければな
らないため、絶縁診断を行う対象機器は制限させてい
た。
ガス検知装置等を被診断電気機器に付属させなければな
らないため、絶縁診断を行う対象機器は制限させてい
た。
更に、物理化学的試験は、被診断絶縁物から試料を削り
取って分析する方法が多いため、絶縁物によっては不可
能な場合があるばかりか、そのデータの解析にも熟達し
た技術を必要とする等の不具合があった。
取って分析する方法が多いため、絶縁物によっては不可
能な場合があるばかりか、そのデータの解析にも熟達し
た技術を必要とする等の不具合があった。
この他に、光電変換装置を用い、反射光の強さによって
絶縁材の残存寿命を測定する方法(特開昭49−829
6号公報)も知られているが、この方法では、単に反射
光の強さの強弱だけで絶縁診断を行っているため、精度
の高い診断を行うことができなかった。
絶縁材の残存寿命を測定する方法(特開昭49−829
6号公報)も知られているが、この方法では、単に反射
光の強さの強弱だけで絶縁診断を行っているため、精度
の高い診断を行うことができなかった。
[発明の目的] 本発明は上記事情に基いてなされたもので、その目的と
するところは、容易かつ非破壊的に絶縁物の劣化状態を
診断することが可能な絶縁物の劣化診断方法を提供する
ことにある。
するところは、容易かつ非破壊的に絶縁物の劣化状態を
診断することが可能な絶縁物の劣化診断方法を提供する
ことにある。
[発明の概要] 本発明による絶縁物の劣化診断方法は、予め絶縁劣化判
定基準となる絶縁物の絶縁特性の変化と当該絶縁特性の
変化に対応する前記絶縁物の色相,明度,彩度の変化と
を数値による相対関係として整理し、基準となる絶縁特
性が劣化したと判定される値に対応した絶縁物の明度
(L*),色度(a*,b*)についての劣化判定基準
値を定め、劣化診断に際しては前記絶縁物からなる診断
対象物の色を、色相,明度,彩度の組合せによる測定デ
ータとして測定し、当該測定データと前記劣化判定基準
値とを照合し、L*,a*,b*のいずれかの値が劣化
判定基準値を越えたとき劣化したと判定することを特徴
としたものである。
定基準となる絶縁物の絶縁特性の変化と当該絶縁特性の
変化に対応する前記絶縁物の色相,明度,彩度の変化と
を数値による相対関係として整理し、基準となる絶縁特
性が劣化したと判定される値に対応した絶縁物の明度
(L*),色度(a*,b*)についての劣化判定基準
値を定め、劣化診断に際しては前記絶縁物からなる診断
対象物の色を、色相,明度,彩度の組合せによる測定デ
ータとして測定し、当該測定データと前記劣化判定基準
値とを照合し、L*,a*,b*のいずれかの値が劣化
判定基準値を越えたとき劣化したと判定することを特徴
としたものである。
[発明の実施例] まず、本発明の実施例の説明に先立ち本発明の原理につ
いて説明する。
いて説明する。
すなわち、色は、色み,明るさ,鮮やかさの3要素で成
り立っており、また、色は、色相,明度,彩度の3属性
で表すことができる。従来から、上記3属性を区分した
ものとして、色の夫々の段階に記号と番号とを付したMu
nsell色票系、JIS標準色票がある。また、近時、色を数
値で表すことのできる色彩色差計(例えば、ミノルタカ
メラ株式会社製CR=100,CR=110等)が開発され、だれ
でも、共通の表現で色を伝えあえるようになった。な
お、上記色彩色差計により数値で表される色は、上記Mu
nsell色票系に置き換えることができる。
り立っており、また、色は、色相,明度,彩度の3属性
で表すことができる。従来から、上記3属性を区分した
ものとして、色の夫々の段階に記号と番号とを付したMu
nsell色票系、JIS標準色票がある。また、近時、色を数
値で表すことのできる色彩色差計(例えば、ミノルタカ
メラ株式会社製CR=100,CR=110等)が開発され、だれ
でも、共通の表現で色を伝えあえるようになった。な
お、上記色彩色差計により数値で表される色は、上記Mu
nsell色票系に置き換えることができる。
そこで、本発明は、事前に基準となる絶縁物を強制劣化
させ、この絶縁物に必要な特性(例えば、破壊電圧、引
張り強さなど)と、その絶縁物の色相、明度、彩度との
関係と、絶縁物としての機能を果たし得なくなる限界特
性に対応した色の限界基準値とを調べておく。
させ、この絶縁物に必要な特性(例えば、破壊電圧、引
張り強さなど)と、その絶縁物の色相、明度、彩度との
関係と、絶縁物としての機能を果たし得なくなる限界特
性に対応した色の限界基準値とを調べておく。
そして、診断される絶縁物の色を経時的に測定し、この
絶縁物の色が上記限界値に達したときをもってこの絶縁
物の寿命がきたと診断するものである。
絶縁物の色が上記限界値に達したときをもってこの絶縁
物の寿命がきたと診断するものである。
上記診断方法は、絶縁物の色を明度および色度(色相お
よび彩度)により数値化すると、この数値と上記絶縁物
の絶縁特性とが、加熱温度および加熱時間によらずに一
本の曲線、または直線で表せるということを見出だした
ことに基いている。
よび彩度)により数値化すると、この数値と上記絶縁物
の絶縁特性とが、加熱温度および加熱時間によらずに一
本の曲線、または直線で表せるということを見出だした
ことに基いている。
次に、本発明の一実施例として、回転電機のスペーサに
用いられているポリエステル積層板の絶縁劣化診断につ
いて説明する。
用いられているポリエステル積層板の絶縁劣化診断につ
いて説明する。
すなわち、まず、上記ポリエステル積層板の複数(複数
の試料)を強制的に加熱劣化させる。その際に、色を色
彩色差計CR−110により測定し、明度L*、色相および
彩度を表す色度a*,b*(a*,b*はそれぞれの色
の方向を示しており、a*は赤−緑方向を、b*は黄−
青方向を表している。彩度c*はc*=[a*2+b
*2]1/2の関係がある。)を求める。また、各試料の
重量減少率、破壊電圧、引張り強さを別に求める。
の試料)を強制的に加熱劣化させる。その際に、色を色
彩色差計CR−110により測定し、明度L*、色相および
彩度を表す色度a*,b*(a*,b*はそれぞれの色
の方向を示しており、a*は赤−緑方向を、b*は黄−
青方向を表している。彩度c*はc*=[a*2+b
*2]1/2の関係がある。)を求める。また、各試料の
重量減少率、破壊電圧、引張り強さを別に求める。
これらの結果として、第1図に加熱時間と明度L*との
関係を示す。ここで、第1図〜第6図において△印は初
期値を示し、〇印は220℃における劣化を示し、●印
は200℃における劣化を示し、◎は180℃における
劣化を示している。第1図によれば加熱劣化に伴って明
度L*が小さくなることがわかる。
関係を示す。ここで、第1図〜第6図において△印は初
期値を示し、〇印は220℃における劣化を示し、●印
は200℃における劣化を示し、◎は180℃における
劣化を示している。第1図によれば加熱劣化に伴って明
度L*が小さくなることがわかる。
また、第2図に加熱による色度a*,b*の関係を示
す。この第2図によれば劣化温度が異なってもほぼ同じ
ように、劣化が進むにつれて(a*,b*)座標軸上を
図中矢印で示すように右回りの弧を描くことがわかる。
す。この第2図によれば劣化温度が異なってもほぼ同じ
ように、劣化が進むにつれて(a*,b*)座標軸上を
図中矢印で示すように右回りの弧を描くことがわかる。
さらに、第3図に明度L*と重量減少率との関係を示
し、第4図に明度L*と破壊電圧との関係を示す。第5
図に明度L*と引張り強さとの関係を示す。これら第3
図ないし第5図によれば、明度L*と重量減少率、破壊
電圧、引張り強さ夫々とは十分に相関性があることがわ
かる。
し、第4図に明度L*と破壊電圧との関係を示す。第5
図に明度L*と引張り強さとの関係を示す。これら第3
図ないし第5図によれば、明度L*と重量減少率、破壊
電圧、引張り強さ夫々とは十分に相関性があることがわ
かる。
上記において、破壊電圧が絶縁物における重要な特性で
あり、破壊電圧が初期値の75%に到達したところで、
この絶縁物が寿命に至ったと判定する。すると、第4図
から破壊電圧が75%のときの明度L*は60であり、
また、第1図から寿命点は220℃で54時間であり、
200℃では140時間であり、180℃では340時
間であると読み取ることができる。
あり、破壊電圧が初期値の75%に到達したところで、
この絶縁物が寿命に至ったと判定する。すると、第4図
から破壊電圧が75%のときの明度L*は60であり、
また、第1図から寿命点は220℃で54時間であり、
200℃では140時間であり、180℃では340時
間であると読み取ることができる。
また、第2図から(a*,b*)座標がA点(11,3
7)を越えた弧上に位置すると、その時の破壊電圧は初
期値の75%以下に低下することがわかる。
7)を越えた弧上に位置すると、その時の破壊電圧は初
期値の75%以下に低下することがわかる。
そこで、この絶縁物の場合、明度L*≦60または、
(a*,b*)座標が(11,37)を越えた弧上に位
置するかの、どちらかの条件を満たした場合には寿命に
至ったと判断し、その絶縁物を廃棄し、新しい絶縁物と
交換する。この交換点は、Munsell記号で表すと、7.5YR
6/6となり、この時に絶縁物が寿命に至ったと判断する
ものである。
(a*,b*)座標が(11,37)を越えた弧上に位
置するかの、どちらかの条件を満たした場合には寿命に
至ったと判断し、その絶縁物を廃棄し、新しい絶縁物と
交換する。この交換点は、Munsell記号で表すと、7.5YR
6/6となり、この時に絶縁物が寿命に至ったと判断する
ものである。
上記実施例は絶縁物として回転電機のスペーサに用いら
れているポリエステル積層板について述べているが、高
電圧回転電機のコイルに用いられているエポキシマイカ
絶縁物においても同様なことが言える。すなわち、第6
図は上記エポキシマイカ絶縁物における明度L*と破壊
電圧との関係を示している。このエポキシマイカ絶縁物
においても劣化温度が異なっても明度L*と破壊電圧と
の関係は十分な相関関係が見られる。なお、この場合、
第4図とは異なり明度L*が高くなるにつれて破壊電圧
が低下しているが、これは、劣化が進むにつれて黒色化
した樹脂分が消失し、白色のガラス、マイカ等が露出す
るようになったために生じたことによっている。
れているポリエステル積層板について述べているが、高
電圧回転電機のコイルに用いられているエポキシマイカ
絶縁物においても同様なことが言える。すなわち、第6
図は上記エポキシマイカ絶縁物における明度L*と破壊
電圧との関係を示している。このエポキシマイカ絶縁物
においても劣化温度が異なっても明度L*と破壊電圧と
の関係は十分な相関関係が見られる。なお、この場合、
第4図とは異なり明度L*が高くなるにつれて破壊電圧
が低下しているが、これは、劣化が進むにつれて黒色化
した樹脂分が消失し、白色のガラス、マイカ等が露出す
るようになったために生じたことによっている。
なお、L*、a*、b*にかえて、出荷時の標準的な絶
縁物の色(初期値)L* o、a* o、b* oと劣化した
後の絶縁物の色L* s、a* s、b* sとの差である色
差ΔL*、Δa*、Δb*(すなわち、ΔL*=L* s
−L* o、Δa*=a* s−a* o、Δb*=b* s−
b* o)と絶縁特性の関係を、予め調べておき、色差Δ
L*、Δa*、Δb*が所定の劣化を表す値になった
ら、絶縁更新することもできる。また、(L*、a*、
b*)空間における初期値と使用後の色の間の直線距離
を表す色差ΔE*ab、すなわちΔE*ab=[(ΔL*)
2+(Δa*)2+(Δb*)2]1/2と絶縁特性の関
係を予め調べておき、ΔE*abが所定の劣化を表す値に
なったら絶縁更新することもできる。
縁物の色(初期値)L* o、a* o、b* oと劣化した
後の絶縁物の色L* s、a* s、b* sとの差である色
差ΔL*、Δa*、Δb*(すなわち、ΔL*=L* s
−L* o、Δa*=a* s−a* o、Δb*=b* s−
b* o)と絶縁特性の関係を、予め調べておき、色差Δ
L*、Δa*、Δb*が所定の劣化を表す値になった
ら、絶縁更新することもできる。また、(L*、a*、
b*)空間における初期値と使用後の色の間の直線距離
を表す色差ΔE*ab、すなわちΔE*ab=[(ΔL*)
2+(Δa*)2+(Δb*)2]1/2と絶縁特性の関
係を予め調べておき、ΔE*abが所定の劣化を表す値に
なったら絶縁更新することもできる。
上記においては、色を数値化するのに、CIE(国際照
明委員会)1976のL*a*b*表色系であるL*a*b
*系を用いたが、CIE1931によるXYZ表色系でも上
記と同様に、明度および色度(この色度により色相と彩
度とが知り得る)と絶縁特性とは十分な相関性が見ら
れ、絶縁物の劣化を非破壊的に診断することができる。
明委員会)1976のL*a*b*表色系であるL*a*b
*系を用いたが、CIE1931によるXYZ表色系でも上
記と同様に、明度および色度(この色度により色相と彩
度とが知り得る)と絶縁特性とは十分な相関性が見ら
れ、絶縁物の劣化を非破壊的に診断することができる。
また、色の定量化を高精度におこなうには高精度分光計
でも可能であり、この場合には、試料を絶縁物より採取
して測定を行うものであり、現地の絶縁物を直接測定す
る必要がない場合に適用できるものである。
でも可能であり、この場合には、試料を絶縁物より採取
して測定を行うものであり、現地の絶縁物を直接測定す
る必要がない場合に適用できるものである。
さらに、本発明の応用例として、本発明の方法を用いて
電気機器の履歴を推定することができる。すなわち、現
地で運転されている電気機器の絶縁物の色を上述した各
種条件にて強制劣化し、その際の色の変化を上記測定し
た結果と対比することにより、上記絶縁物の劣化診断か
らこの絶縁物が用いられている電気機器の履歴を推定す
ることが可能となる。
電気機器の履歴を推定することができる。すなわち、現
地で運転されている電気機器の絶縁物の色を上述した各
種条件にて強制劣化し、その際の色の変化を上記測定し
た結果と対比することにより、上記絶縁物の劣化診断か
らこの絶縁物が用いられている電気機器の履歴を推定す
ることが可能となる。
本発明は上記実施例に限定されるものではなく、診断さ
れる絶縁物は固体のみでなく、液体も含めて各種適用可
能であり、色を定量化する手段も上記色彩色差計、分光
計に限定される物ではなく、この他にも本発明の要旨を
逸脱しない範囲で種々変形して実施できる。
れる絶縁物は固体のみでなく、液体も含めて各種適用可
能であり、色を定量化する手段も上記色彩色差計、分光
計に限定される物ではなく、この他にも本発明の要旨を
逸脱しない範囲で種々変形して実施できる。
[発明の効果] 以上述べたように、本発明によれば、予め絶縁劣化判定
基準となる絶縁物の絶縁特性の変化と当該絶縁特性の変
化に対応する前記絶縁物の色相,明度,彩度の変化とを
数値による相対関係として整理し、基準となる絶縁特性
が劣化したと判定される値に対応した絶縁物の明度(L
*),色度(a*,b*)についての劣化判定基準値を
定め、劣化診断に際しては前記絶縁物からなる診断対象
物の色を、色相,明度,彩度の組合せによる測定データ
として測定し、当該測定データと前記劣化判定基準値と
を照合し、L*,a*,b*,のいずれかの値が劣化判
定基準値を越えたとき劣化したと判定するようにして、
絶縁物の劣化状態を診断するようにしたので、電気機器
の使用温度、使用時間に関係なく光を診断情報とした光
学的な測定のみで有機物を含む絶縁物の劣化を、その絶
縁物を傷付けることなく非破壊的かつ誰にでも容易に、
絶縁物の劣化状態を診断することを可能とした絶縁物の
劣化診断方法を提供することができる。
基準となる絶縁物の絶縁特性の変化と当該絶縁特性の変
化に対応する前記絶縁物の色相,明度,彩度の変化とを
数値による相対関係として整理し、基準となる絶縁特性
が劣化したと判定される値に対応した絶縁物の明度(L
*),色度(a*,b*)についての劣化判定基準値を
定め、劣化診断に際しては前記絶縁物からなる診断対象
物の色を、色相,明度,彩度の組合せによる測定データ
として測定し、当該測定データと前記劣化判定基準値と
を照合し、L*,a*,b*,のいずれかの値が劣化判
定基準値を越えたとき劣化したと判定するようにして、
絶縁物の劣化状態を診断するようにしたので、電気機器
の使用温度、使用時間に関係なく光を診断情報とした光
学的な測定のみで有機物を含む絶縁物の劣化を、その絶
縁物を傷付けることなく非破壊的かつ誰にでも容易に、
絶縁物の劣化状態を診断することを可能とした絶縁物の
劣化診断方法を提供することができる。
第1図はポリエステルガラス積層板を強制劣化させた際
の加熱時間と明度L*との関係を示す特性図、第2図は
同ポリエステルガラス積層板を強制劣化させた際の加熱
による色度a*,b*の関係を示す特性図、第3図は同
ポリエステルガラス積層板を強制劣化させた際の明度L
*と重量減少率との関係を示す特性図、第4図は同ポリ
エステルガラス積層板を強制劣化させた際の明度L*と
破壊電圧との関係を示す特性図、第5図は同ポリエステ
ルガラス積層板を強制劣化させた際の明度L*と引張り
強さとの関係を示す特性図、第6図はエポキシマイカ絶
縁物を強制劣化させた際の明度L*と破壊電圧との関係
を示す特性図である。
の加熱時間と明度L*との関係を示す特性図、第2図は
同ポリエステルガラス積層板を強制劣化させた際の加熱
による色度a*,b*の関係を示す特性図、第3図は同
ポリエステルガラス積層板を強制劣化させた際の明度L
*と重量減少率との関係を示す特性図、第4図は同ポリ
エステルガラス積層板を強制劣化させた際の明度L*と
破壊電圧との関係を示す特性図、第5図は同ポリエステ
ルガラス積層板を強制劣化させた際の明度L*と引張り
強さとの関係を示す特性図、第6図はエポキシマイカ絶
縁物を強制劣化させた際の明度L*と破壊電圧との関係
を示す特性図である。
Claims (1)
- 【請求項1】予め絶縁劣化判定基準となる絶縁物の絶縁
特性の変化と当該絶縁特性の変化に対応する前記絶縁物
の色相,明度,彩度の変化とを数値による相対関係とし
て整理し、基準となる絶縁特性が劣化したと判定される
値に対応した絶縁物の明度(L*),色度(a*,
b*)についての劣化判定基準値を定め、劣化診断に際
しては前記絶縁物からなる診断対象物の色を、色相,明
度,彩度の組合わせによる測定データとして測定し、当
該測定データと前記劣化判定基準値とを照合し、L*,
a*,b*のいずれかの値が劣化判定基準値を越えたと
き劣化したと判定することを特徴とする絶縁物の劣化診
断方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59181823A JPH0619323B2 (ja) | 1984-08-31 | 1984-08-31 | 絶縁物の劣化診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59181823A JPH0619323B2 (ja) | 1984-08-31 | 1984-08-31 | 絶縁物の劣化診断方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6159242A JPS6159242A (ja) | 1986-03-26 |
| JPH0619323B2 true JPH0619323B2 (ja) | 1994-03-16 |
Family
ID=16107438
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59181823A Expired - Lifetime JPH0619323B2 (ja) | 1984-08-31 | 1984-08-31 | 絶縁物の劣化診断方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0619323B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017049242A (ja) * | 2015-09-02 | 2017-03-09 | 旭有機材株式会社 | 配管部材劣化診断方法及び装置 |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01265139A (ja) * | 1988-04-18 | 1989-10-23 | Mitsubishi Cable Ind Ltd | カラー心線被覆材の劣化検出方法 |
| JP2002025839A (ja) * | 2000-07-04 | 2002-01-25 | Fuji Electric Co Ltd | 油入電器の劣化診断装置 |
| JP5288705B2 (ja) * | 2005-12-28 | 2013-09-11 | メタウォーター株式会社 | 絶縁構造体の絶縁性評価方法及びその装置 |
| JP4710701B2 (ja) * | 2006-04-18 | 2011-06-29 | 富士電機システムズ株式会社 | 高分子材料の劣化診断方法および装置 |
| JP2008180607A (ja) * | 2007-01-25 | 2008-08-07 | Railway Technical Res Inst | 高分子材料からなる物品の劣化評価システム |
| JP6369228B2 (ja) | 2014-08-29 | 2018-08-08 | 富士電機株式会社 | 半導体装置 |
| FR3063809B1 (fr) | 2017-03-08 | 2019-03-22 | Safran Aircraft Engines | Procede de controle non destructif d'un carter par colorimetrie |
| FR3063810B1 (fr) | 2017-03-08 | 2019-03-22 | Safran Aircraft Engines | Procede d'inspection d'un carter par colorimetrie |
| US12492069B2 (en) | 2020-08-27 | 2025-12-09 | Akimoto Seisakusyo Co., Ltd. | Container |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS498296A (ja) * | 1972-05-11 | 1974-01-24 |
-
1984
- 1984-08-31 JP JP59181823A patent/JPH0619323B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017049242A (ja) * | 2015-09-02 | 2017-03-09 | 旭有機材株式会社 | 配管部材劣化診断方法及び装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6159242A (ja) | 1986-03-26 |
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