JPH06201302A - 寸法測定装置 - Google Patents
寸法測定装置Info
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- JPH06201302A JPH06201302A JP24768792A JP24768792A JPH06201302A JP H06201302 A JPH06201302 A JP H06201302A JP 24768792 A JP24768792 A JP 24768792A JP 24768792 A JP24768792 A JP 24768792A JP H06201302 A JPH06201302 A JP H06201302A
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- Japan
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- dimension measuring
- measuring device
- concentric circle
- moved
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- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 短時間の測定が可能で、かつ、広範囲の孔径
やシャフト径を高精度に測定することができる。 【構成】 4個の測子36をベース41に板バネ42
A、42Bを介して設け、さらに、4個の測子36をベ
ース41の軸心10Aを中心とする同心円上に等間隔に
配置した。移動手段32は4個の測子36を、ベース4
1の軸心10Aを中心とする同心円の半径方向に移動す
る。また、4個の測子36の半径方向の移動量は検出器
38によって検出される。計測処理手段39は、検出器
38が検出した4個の測子36の半径方向の移動量に基
づいて、被測定物26の孔径やシャフト外径等の計測処
理を行う。このように、寸法測定装置10は移動手段3
2で4個の測子36を、ベース41の軸心10Aを中心
とする同心円の半径方向に移動することができる。従っ
て、被測定物26の孔径の内周やシャフトの外径を同時
に4箇所測定することができ、さらに、被測定物26の
孔径寸法やシャフトの外径寸法が大きく変化した場合で
も、寸法測定装置10を使用することができる。
やシャフト径を高精度に測定することができる。 【構成】 4個の測子36をベース41に板バネ42
A、42Bを介して設け、さらに、4個の測子36をベ
ース41の軸心10Aを中心とする同心円上に等間隔に
配置した。移動手段32は4個の測子36を、ベース4
1の軸心10Aを中心とする同心円の半径方向に移動す
る。また、4個の測子36の半径方向の移動量は検出器
38によって検出される。計測処理手段39は、検出器
38が検出した4個の測子36の半径方向の移動量に基
づいて、被測定物26の孔径やシャフト外径等の計測処
理を行う。このように、寸法測定装置10は移動手段3
2で4個の測子36を、ベース41の軸心10Aを中心
とする同心円の半径方向に移動することができる。従っ
て、被測定物26の孔径の内周やシャフトの外径を同時
に4箇所測定することができ、さらに、被測定物26の
孔径寸法やシャフトの外径寸法が大きく変化した場合で
も、寸法測定装置10を使用することができる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は寸法測定装置に係り、
特に被測定物に形成された孔の内径やシャフトの外径等
の寸法を測定する寸法測定装置に関する。
特に被測定物に形成された孔の内径やシャフトの外径等
の寸法を測定する寸法測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、被測定物に形成された孔の内径や
シャフトの外径等の寸法を測定する場合、以下の2つの
方法が一般に知られている。第1の方法は3次元座標測
定機のタッチプローブをX、Y、Z軸方向に移動して、
孔の内周やシャフトの外周等の3点以上を測定する。従
って、タッチプローブで孔の内周やシャフトの外周等の
3点以上を測定すると、孔の内径やシャフトの外径等が
測定される。
シャフトの外径等の寸法を測定する場合、以下の2つの
方法が一般に知られている。第1の方法は3次元座標測
定機のタッチプローブをX、Y、Z軸方向に移動して、
孔の内周やシャフトの外周等の3点以上を測定する。従
って、タッチプローブで孔の内周やシャフトの外周等の
3点以上を測定すると、孔の内径やシャフトの外径等が
測定される。
【0003】また、第2の方法は挿入ガイドを介して内
径測定ヘッド又は外径測定ヘッドを孔の内周やシャフト
の外周に挿入させて、孔の内周やシャフトの外周を測定
する。この方法の具体例として特公昭58−24722
号公報がある。
径測定ヘッド又は外径測定ヘッドを孔の内周やシャフト
の外周に挿入させて、孔の内周やシャフトの外周を測定
する。この方法の具体例として特公昭58−24722
号公報がある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、第1の
方法は個々に3点以上を測定するので短時間の測定が困
難であるという問題がある。また、第2の方法は挿入ガ
イドを使用するので被測定物の孔の内径やシャフトの外
径の測定範囲が限定される。従って、例えば測定範囲を
越えた孔径やシャフト径を測定する場合、挿入ガイドと
孔内周やシャフト外周間にガタが生じるので、ガタによ
り測定ポイントがズレるので高精度測定が困難である。
これにより、第2の方法では広範囲の孔径やシャフト径
を高精度に測定することが困難であるという問題があ
る。
方法は個々に3点以上を測定するので短時間の測定が困
難であるという問題がある。また、第2の方法は挿入ガ
イドを使用するので被測定物の孔の内径やシャフトの外
径の測定範囲が限定される。従って、例えば測定範囲を
越えた孔径やシャフト径を測定する場合、挿入ガイドと
孔内周やシャフト外周間にガタが生じるので、ガタによ
り測定ポイントがズレるので高精度測定が困難である。
これにより、第2の方法では広範囲の孔径やシャフト径
を高精度に測定することが困難であるという問題があ
る。
【0005】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
もので、短時間の測定が可能で、かつ、広範囲の孔径や
シャフト径を高精度に測定することが可能な寸法測定装
置を提供することを目的とする。
もので、短時間の測定が可能で、かつ、広範囲の孔径や
シャフト径を高精度に測定することが可能な寸法測定装
置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、前記目的を達
成する為に、寸法測定装置本体と、前記寸法測定装置本
体の軸心を中心とする同心円上に等間隔に配置されると
共に、前記寸法測定装置本体に前記同心円の半径方向に
移動自在に配設された4個の測子と、該4個の測子を前
記同心円の半径方向に移動する移動手段と、前記4個の
測子の半径方向の移動量を検出する検出器と、該検出器
が検出した前記4個の測子の半径方向の移動量に基づい
て、被測定物の孔径やシャフト外径等の計測処理を行う
計測処理手段と、を備えたことを特徴とする。
成する為に、寸法測定装置本体と、前記寸法測定装置本
体の軸心を中心とする同心円上に等間隔に配置されると
共に、前記寸法測定装置本体に前記同心円の半径方向に
移動自在に配設された4個の測子と、該4個の測子を前
記同心円の半径方向に移動する移動手段と、前記4個の
測子の半径方向の移動量を検出する検出器と、該検出器
が検出した前記4個の測子の半径方向の移動量に基づい
て、被測定物の孔径やシャフト外径等の計測処理を行う
計測処理手段と、を備えたことを特徴とする。
【0007】また、本発明は、前記目的を達成する為
に、前記4個の測子は、前記4個の測子の位置を調整可
能な手段を介して前記寸法測定装置本体に連結されたこ
とを特徴とする。
に、前記4個の測子は、前記4個の測子の位置を調整可
能な手段を介して前記寸法測定装置本体に連結されたこ
とを特徴とする。
【0008】
【作用】本発明によれば、4個の測子を寸法測定装置本
体の軸心を中心とする同心円上に等間隔に配置すると共
に、同心円の半径方向に移動自在に支持した。移動手段
は4個の測子を、寸法測定装置本体の軸心を中心とする
同心円の半径方向に移動する。また、4個の測子の半径
方向の移動量は検出器によって検出される。計測処理手
段は、検出器が検出した4個の測子の半径方向の移動量
に基づいて、被測定物の孔径やシャフト外径等の計測処
理を行う。
体の軸心を中心とする同心円上に等間隔に配置すると共
に、同心円の半径方向に移動自在に支持した。移動手段
は4個の測子を、寸法測定装置本体の軸心を中心とする
同心円の半径方向に移動する。また、4個の測子の半径
方向の移動量は検出器によって検出される。計測処理手
段は、検出器が検出した4個の測子の半径方向の移動量
に基づいて、被測定物の孔径やシャフト外径等の計測処
理を行う。
【0009】このように、寸法測定装置は移動手段で4
個の測子を、寸法測定装置本体の軸心を中心とする同心
円の半径方向に移動することができる。従って、被測定
物の孔径の内周やシャフトの外径を同時に4箇所測定す
ることができ、さらに、被測定物の孔径寸法やシャフト
の外径寸法が大きく変化した場合でも、使用することが
できる。
個の測子を、寸法測定装置本体の軸心を中心とする同心
円の半径方向に移動することができる。従って、被測定
物の孔径の内周やシャフトの外径を同時に4箇所測定す
ることができ、さらに、被測定物の孔径寸法やシャフト
の外径寸法が大きく変化した場合でも、使用することが
できる。
【0010】また、本発明によれば、4個の測子は、4
個の測子の位置を調整可能な手段を介して寸法測定装置
本体に連結されていて、この調整手段は4個の測子の相
対位置関係を調整する。従って、寸法測定装置が設けら
れた3次元座標測定機の測定精度にたよらずに高精度の
測定が可能である。
個の測子の位置を調整可能な手段を介して寸法測定装置
本体に連結されていて、この調整手段は4個の測子の相
対位置関係を調整する。従って、寸法測定装置が設けら
れた3次元座標測定機の測定精度にたよらずに高精度の
測定が可能である。
【0011】
【実施例】以下添付図面に従って本発明に係る寸法測定
装置について詳説する。図1は本発明に係る寸法測定装
置10が使用されているインライン計測機11の斜視図
である。同図に示すようにインライン計測機11は3次
元駆動機構12を備えていて、3次元駆動機構12は移
動ポスト14は架台16の側部に沿ってX軸方向に移動
自在に支持されている。移動ポスト14にはキャリア1
6がZ軸方向に移動自在に支持されていて、キャリア1
6にはアーム18がY軸方向に移動自在に支持されてい
る。そして、アーム18の先端部には寸法測定装置10
が設けられている。従って、寸法測定装置10はX、
Y、Z軸の3軸方向に移動される。
装置について詳説する。図1は本発明に係る寸法測定装
置10が使用されているインライン計測機11の斜視図
である。同図に示すようにインライン計測機11は3次
元駆動機構12を備えていて、3次元駆動機構12は移
動ポスト14は架台16の側部に沿ってX軸方向に移動
自在に支持されている。移動ポスト14にはキャリア1
6がZ軸方向に移動自在に支持されていて、キャリア1
6にはアーム18がY軸方向に移動自在に支持されてい
る。そして、アーム18の先端部には寸法測定装置10
が設けられている。従って、寸法測定装置10はX、
Y、Z軸の3軸方向に移動される。
【0012】また、架台16にはロータリテーブル2
0、搬入ローラ22及び搬出ローラ24が設けられてい
る。ワーク26は搬入ローラ22を介してロータリテー
ブル20に搬送され、測定完了後、搬出ローラ24でロ
ータリテーブル20から搬出される。そして、ワーク2
6がロータリテーブル20に配置されている時、ワーク
26に形成されている孔径やシャフト外径等が寸法測定
装置10で測定される。
0、搬入ローラ22及び搬出ローラ24が設けられてい
る。ワーク26は搬入ローラ22を介してロータリテー
ブル20に搬送され、測定完了後、搬出ローラ24でロ
ータリテーブル20から搬出される。そして、ワーク2
6がロータリテーブル20に配置されている時、ワーク
26に形成されている孔径やシャフト外径等が寸法測定
装置10で測定される。
【0013】図2には寸法測定装置10の正面図が示さ
れていて、図3には図2のA−A矢視図が示されてい
る。寸法測定装置10は連結手段30、移動手段32、
調整手段34、測子36、検出器38及び計測処理手段
39を備えている。連結手段30は4個の固定ブロック
40を有していて、固定ブロック40、40…はベース
41の軸心が中心となる同心円上に90°の間隔をおい
て配設されている。固定ブロック40の両端部には一対
の板ばね42A、42Bの上端部が固着されている。ま
た、一対の板ばね42A、42Bの下端部は移動ブロッ
ク44に固着されている。一対の板ばね42A、42B
は互いに対向して配置されていて、板ばね42A、42
Bの平面はベース41の軸心を中心にした同心円の半径
方向に対して直交する方向に延長されている。
れていて、図3には図2のA−A矢視図が示されてい
る。寸法測定装置10は連結手段30、移動手段32、
調整手段34、測子36、検出器38及び計測処理手段
39を備えている。連結手段30は4個の固定ブロック
40を有していて、固定ブロック40、40…はベース
41の軸心が中心となる同心円上に90°の間隔をおい
て配設されている。固定ブロック40の両端部には一対
の板ばね42A、42Bの上端部が固着されている。ま
た、一対の板ばね42A、42Bの下端部は移動ブロッ
ク44に固着されている。一対の板ばね42A、42B
は互いに対向して配置されていて、板ばね42A、42
Bの平面はベース41の軸心を中心にした同心円の半径
方向に対して直交する方向に延長されている。
【0014】連結手段30は移動手段32に連結されて
いる。移動手段32は4個のシリンダ46を有してい
て、シリンダ46、46…はそれぞれ4個の固定プレー
ト41Aに取り付けられている。固定プレート41A、
41A…はベース41の軸心を中心にした同心円上に9
0°の間隔をおいて、板ばね42B、42B…と対向す
る位置に配設されている。
いる。移動手段32は4個のシリンダ46を有してい
て、シリンダ46、46…はそれぞれ4個の固定プレー
ト41Aに取り付けられている。固定プレート41A、
41A…はベース41の軸心を中心にした同心円上に9
0°の間隔をおいて、板ばね42B、42B…と対向す
る位置に配設されている。
【0015】そして、板ばね42A、42Bは中央部に
開口孔42Cが形成されている。板ばね42A、42B
の開口孔42Cには、シリンダ46のロッド47が挿通
されている。また、ロッド47にはフランジ47A、4
7Bが形成されていて、42A、42Bの開口孔42C
の内径はフランジ47A、47Bの外径より大きく設定
されている。
開口孔42Cが形成されている。板ばね42A、42B
の開口孔42Cには、シリンダ46のロッド47が挿通
されている。また、ロッド47にはフランジ47A、4
7Bが形成されていて、42A、42Bの開口孔42C
の内径はフランジ47A、47Bの外径より大きく設定
されている。
【0016】シリンダ46のロッド47には突片44A
が嵌入されていて、突片44Aは移動ブロック44に固
着されている。突片44Aとフランジ47A間にはコイ
ル状のばね48Aが配設されていて、突片44Aとフラ
ンジ47B間にはコイル状のばね48Bが配設されて
る。従って、シリンダ46のロッド47が伸長すると、
コイル状のばね48Bの付勢力で突片44Aが半径方向
内側に移動するので、移動ブロック44が半径方向内側
に移動する。また、シリンダ46のロッド47が収縮す
ると、コイル状のばね48Aの付勢力で突片44Aが半
径方向外側に移動するので、移動ブロック44が半径方
向外側に移動する。これにより、後述する先端子60を
半径方向内側及び外側に移動することができる。
が嵌入されていて、突片44Aは移動ブロック44に固
着されている。突片44Aとフランジ47A間にはコイ
ル状のばね48Aが配設されていて、突片44Aとフラ
ンジ47B間にはコイル状のばね48Bが配設されて
る。従って、シリンダ46のロッド47が伸長すると、
コイル状のばね48Bの付勢力で突片44Aが半径方向
内側に移動するので、移動ブロック44が半径方向内側
に移動する。また、シリンダ46のロッド47が収縮す
ると、コイル状のばね48Aの付勢力で突片44Aが半
径方向外側に移動するので、移動ブロック44が半径方
向外側に移動する。これにより、後述する先端子60を
半径方向内側及び外側に移動することができる。
【0017】また、連結手段30の移動ブロック44に
は調整手段34が設けられている。調整手段34は板ば
ね50を有していて、板ばね50の上端部は移動ブロッ
ク44の下端部に固着されている。板ばね50の下端部
は調整プレート52の上端部に固着されている。板ばね
50の平面は同心円の半径方向に伸長されて配置されて
いる。板ばね50の両側の調整プレート52にはボルト
54A、54Bがねじ結合されていて、ボルト54A、
54Bの上端部は移動ブロック44の下端部に当接され
ている。
は調整手段34が設けられている。調整手段34は板ば
ね50を有していて、板ばね50の上端部は移動ブロッ
ク44の下端部に固着されている。板ばね50の下端部
は調整プレート52の上端部に固着されている。板ばね
50の平面は同心円の半径方向に伸長されて配置されて
いる。板ばね50の両側の調整プレート52にはボルト
54A、54Bがねじ結合されていて、ボルト54A、
54Bの上端部は移動ブロック44の下端部に当接され
ている。
【0018】調整手段34の調整プレート52には測子
36が固定されている。すなわち、測子36はアーム5
8を有していて、アーム58の上端部が調整プレート5
2に固定されている。アーム58の下端部には先端子6
0が設けられている。これにより、先端子60はアーム
58を介して調整プレート52に連結されている。従っ
て、調整手段34のボルト54Aの上端部を下降させて
ボルト54Bの上端部を上昇させると、板ばね50を軸
にして調整プレート52の右端部が下降してその左端部
が上昇するので、先端子60は左方向に移動する。
36が固定されている。すなわち、測子36はアーム5
8を有していて、アーム58の上端部が調整プレート5
2に固定されている。アーム58の下端部には先端子6
0が設けられている。これにより、先端子60はアーム
58を介して調整プレート52に連結されている。従っ
て、調整手段34のボルト54Aの上端部を下降させて
ボルト54Bの上端部を上昇させると、板ばね50を軸
にして調整プレート52の右端部が下降してその左端部
が上昇するので、先端子60は左方向に移動する。
【0019】調整手段34の調整プレート52には検出
器38の先端が当接している。すなわち、4個の検出器
38はそれぞれ固定プレート41A、41A…の下端部
に取り付けられていて、検出器38、38…はそれぞれ
調整プレート52に対向して配置されている。そして、
検出器38のロッド38Aは伸縮自在に支持されてい
て、かつ、伸長する方向に付勢されているので、ロッド
38Aの先端が調整プレート52に当接した状態に維持
される。従って、検出器38は先端子60が半径方向内
側及び外側に移動した場合に、先端子60の移動量を検
出することができる。尚、検出器38にはモアレスケー
ル等が使用されている。
器38の先端が当接している。すなわち、4個の検出器
38はそれぞれ固定プレート41A、41A…の下端部
に取り付けられていて、検出器38、38…はそれぞれ
調整プレート52に対向して配置されている。そして、
検出器38のロッド38Aは伸縮自在に支持されてい
て、かつ、伸長する方向に付勢されているので、ロッド
38Aの先端が調整プレート52に当接した状態に維持
される。従って、検出器38は先端子60が半径方向内
側及び外側に移動した場合に、先端子60の移動量を検
出することができる。尚、検出器38にはモアレスケー
ル等が使用されている。
【0020】4個の検出器38は計測処理手段39に電
気的に接続されている。計測処理手段39は、4個の検
出器38が検出した先端子60の移動量に基づいて、4
個の先端子60の芯ズレチェックや、ワーク26の孔径
やシャフト外径の算出を行う。さらに、計測処理手段3
9は、ワーク26の孔等の芯間距離の算出、長さ測定、
及び段差測定等の計測処理を行う。
気的に接続されている。計測処理手段39は、4個の検
出器38が検出した先端子60の移動量に基づいて、4
個の先端子60の芯ズレチェックや、ワーク26の孔径
やシャフト外径の算出を行う。さらに、計測処理手段3
9は、ワーク26の孔等の芯間距離の算出、長さ測定、
及び段差測定等の計測処理を行う。
【0021】前記の如く構成された本願発明に係る寸法
測定装置の作用について説明する。最初に、図4乃至図
7に基づいて4個の先端子60A、60B、60C、6
0Dの芯ズレをチェックする方法について説明する。先
ず、先端子60A、60Cの芯ズレのチェックを行う。
この場合、シリンダ46のロッド47を伸長させて、コ
イル状のばね48Bの付勢力で先端子60を半径方向内
側に移動する。次に、インライン計測機11の寸法測定
装置10をX、Y、Z軸の3軸方向に移動して、寸法測
定装置10をマスターリング66内に挿入する。挿入完
了後、シリンダ46のロッド47を収縮させて、コイル
状のばね48Aの付勢力で先端子60A、60B、60
C、60Dを半径方向外側に移動する。これにより、4
個の先端子60A、60B、60C、60Dがマスター
リング66の内周に接触する。
測定装置の作用について説明する。最初に、図4乃至図
7に基づいて4個の先端子60A、60B、60C、6
0Dの芯ズレをチェックする方法について説明する。先
ず、先端子60A、60Cの芯ズレのチェックを行う。
この場合、シリンダ46のロッド47を伸長させて、コ
イル状のばね48Bの付勢力で先端子60を半径方向内
側に移動する。次に、インライン計測機11の寸法測定
装置10をX、Y、Z軸の3軸方向に移動して、寸法測
定装置10をマスターリング66内に挿入する。挿入完
了後、シリンダ46のロッド47を収縮させて、コイル
状のばね48Aの付勢力で先端子60A、60B、60
C、60Dを半径方向外側に移動する。これにより、4
個の先端子60A、60B、60C、60Dがマスター
リング66の内周に接触する。
【0022】この状態で、寸法測定装置10の軸心10
A(軸心10Aはインライン計測機のX、Y、Z軸方向
への移動で制御される。)をY軸の正の方向に移動する
(図4参照)。この時、4個の検出器38はそれぞれ先
端子60A、60B、60C、60Dの半径方向の移動
量を検出する。そして、X1 の値が X1 =(XMAX −k) (但し、k:作業基準により
決められた数値) となったときのDX1 を測定する。次いで、寸法測定装
置10の軸心10AをY軸の負の方向に移動する(図5
参照)。そして、X2 の値が X2 =(XMAX −k) となったときのDX2 を測定する。次いで、DX1 −D
X2 の演算を行い、 |DX1 −DX2 |≦Δk (Δk=許容値) の場合には先端子60A、60Cの芯ズレが許容公差内
であると判断する。
A(軸心10Aはインライン計測機のX、Y、Z軸方向
への移動で制御される。)をY軸の正の方向に移動する
(図4参照)。この時、4個の検出器38はそれぞれ先
端子60A、60B、60C、60Dの半径方向の移動
量を検出する。そして、X1 の値が X1 =(XMAX −k) (但し、k:作業基準により
決められた数値) となったときのDX1 を測定する。次いで、寸法測定装
置10の軸心10AをY軸の負の方向に移動する(図5
参照)。そして、X2 の値が X2 =(XMAX −k) となったときのDX2 を測定する。次いで、DX1 −D
X2 の演算を行い、 |DX1 −DX2 |≦Δk (Δk=許容値) の場合には先端子60A、60Cの芯ズレが許容公差内
であると判断する。
【0023】一方、 |DX1 −DX2 |>Δk の場合には、先端子60A、60Cの芯ズレが許容公差
を越えていると判断する。そして、調整手段34のボル
ト54A、54Bを操作して先端子60A、60Cの芯
ズレを調整する。これにより、先端子60A、60Cの
芯ズレのチェックが完了する。
を越えていると判断する。そして、調整手段34のボル
ト54A、54Bを操作して先端子60A、60Cの芯
ズレを調整する。これにより、先端子60A、60Cの
芯ズレのチェックが完了する。
【0024】測子芯ずれOKの場合は、y方向移動量の
中点(a+a′)/2の位置へ戻すことによりマスター
リングのX軸中心と寸法計測装置のX軸中心が合わせら
れる。続いて、先端子60B、60Dの芯ズレのチェッ
クを行う。この場合、寸法測定装置10の軸心10Aを
X軸の正の方向に移動する(図6参照)。そして、Y 1
の値が Y1 =(YMAX −k) となったときのDY1 を測定する。次いで、寸法測定装
置10の軸心10AをX軸の負の方向に移動する(図7
参照)。そして、Y2 の値が Y2 =(YMAX −k) となったときのDY2 を測定する。次いで、DY1 −D
Y2 の演算を行い、 |DY1 −DY2 |≦Δk の場合には先端子60B、60Dの芯ズレが許容公差内
であると判断する。
中点(a+a′)/2の位置へ戻すことによりマスター
リングのX軸中心と寸法計測装置のX軸中心が合わせら
れる。続いて、先端子60B、60Dの芯ズレのチェッ
クを行う。この場合、寸法測定装置10の軸心10Aを
X軸の正の方向に移動する(図6参照)。そして、Y 1
の値が Y1 =(YMAX −k) となったときのDY1 を測定する。次いで、寸法測定装
置10の軸心10AをX軸の負の方向に移動する(図7
参照)。そして、Y2 の値が Y2 =(YMAX −k) となったときのDY2 を測定する。次いで、DY1 −D
Y2 の演算を行い、 |DY1 −DY2 |≦Δk の場合には先端子60B、60Dの芯ズレが許容公差内
であると判断する。
【0025】一方、 |DY1 −DY2 |>Δk の場合には、先端子60B、60Dの芯ズレが許容公差
を越えていると判断する。そして、調整手段34のボル
ト54A、54Bを操作して先端子60B、60Dの芯
ズレを調整する。これにより、先端子60B、60Dの
芯ズレのチェックが完了する。
を越えていると判断する。そして、調整手段34のボル
ト54A、54Bを操作して先端子60B、60Dの芯
ズレを調整する。これにより、先端子60B、60Dの
芯ズレのチェックが完了する。
【0026】測子芯ずれOKの場合はX方向移動量の中
点(b+b′)/2の位置へ戻すことによりマスターリ
ングのY軸中心と寸法計測装置のY軸中心が合わせら
れ、マスターリングの中心と寸法計測の中心が合ったこ
とになる。この状態でマスターリングのデーターを計測
装置にプリセットする事によりマスタ合わせが完了す
る。
点(b+b′)/2の位置へ戻すことによりマスターリ
ングのY軸中心と寸法計測装置のY軸中心が合わせら
れ、マスターリングの中心と寸法計測の中心が合ったこ
とになる。この状態でマスターリングのデーターを計測
装置にプリセットする事によりマスタ合わせが完了す
る。
【0027】次に、図8に基づいて寸法測定装置10で
ワーク26の孔26Aの内径を測定する場合について説
明する。先ず、シリンダ46のロッド47を伸長させ
て、コイル状のばね48Bの付勢力で先端子60を半径
方向内側に移動する。次に、インライン計測機11の寸
法測定装置10をX、Y、Z軸の3軸方向に移動して、
寸法測定装置10をワーク26の孔26A内に挿入す
る。挿入完了後、シリンダ46のロッド47を収縮させ
て、コイル状のばね48Aの付勢力で先端子60A、6
0B、60C、60Dを半径方向外側に移動する。これ
により、4個の先端子60A、60B、60C、60D
がワーク26の孔26Aの内周に接触する(図8参
照)。
ワーク26の孔26Aの内径を測定する場合について説
明する。先ず、シリンダ46のロッド47を伸長させ
て、コイル状のばね48Bの付勢力で先端子60を半径
方向内側に移動する。次に、インライン計測機11の寸
法測定装置10をX、Y、Z軸の3軸方向に移動して、
寸法測定装置10をワーク26の孔26A内に挿入す
る。挿入完了後、シリンダ46のロッド47を収縮させ
て、コイル状のばね48Aの付勢力で先端子60A、6
0B、60C、60Dを半径方向外側に移動する。これ
により、4個の先端子60A、60B、60C、60D
がワーク26の孔26Aの内周に接触する(図8参
照)。
【0028】この時、4個の検出器38はそれぞれ先端
子60A、60B、60C、60Dの半径方向の移動量
を検出する。4個の検出器38の検出結果に基づいて、
図8上に示すX3 、X4 、Y3 、Y4 を求める。求めら
れたX3 、X4 、Y3 、Y4に基づいて、X方向の位置
ズレ△X、及びY方向の位置ズレ△Yを以下の式(1)、
(2) から算出する。
子60A、60B、60C、60Dの半径方向の移動量
を検出する。4個の検出器38の検出結果に基づいて、
図8上に示すX3 、X4 、Y3 、Y4 を求める。求めら
れたX3 、X4 、Y3 、Y4に基づいて、X方向の位置
ズレ△X、及びY方向の位置ズレ△Yを以下の式(1)、
(2) から算出する。
【0029】△X=(X3 −X4 )/2 …(1) △Y=(Y3 −Y4 )/2 …(2) 従って、X方向のワーク径φDX 、及びY方向のワーク
径φDY は以下の式(3) 、(4) から算出される。 φDX = √((X3 −d/2+△X)2+( △Y)2) ×2+d …(3) φDY = √((Y3 −d/2+△Y)2+( △X)2) ×2+d …(4) 図8ではワーク26に形成された孔26Aの内径を測定
する場合について説明したが、図9、図10に示すよう
に、ワーク26に形成されたシャフト26Bの外径を測
定することができる。この場合は、シリンダ46のロッ
ド47を収縮させて、コイル状のばね48Aの付勢力で
先端子60A、60B、60C、60Dを半径方向外側
に移動する。次に、インライン計測機11の寸法測定装
置10をX、Y、Z軸の3軸方向に移動して、寸法測定
装置10をワーク26のシャフト26Bに嵌入させる。
次に、シリンダ46のロッド47を伸長させて、コイル
状のばね48Bの付勢力で先端子60A、60B、60
C、60Dを半径方向内側に移動する。これにより、4
個の先端子60A、60B、60C、60Dがワーク2
6のシャフト26Bの外周に接触する(図9、図10参
照)。以下図8と同様の工程でワーク26のシャフト2
6Bの外径が測定される。
径φDY は以下の式(3) 、(4) から算出される。 φDX = √((X3 −d/2+△X)2+( △Y)2) ×2+d …(3) φDY = √((Y3 −d/2+△Y)2+( △X)2) ×2+d …(4) 図8ではワーク26に形成された孔26Aの内径を測定
する場合について説明したが、図9、図10に示すよう
に、ワーク26に形成されたシャフト26Bの外径を測
定することができる。この場合は、シリンダ46のロッ
ド47を収縮させて、コイル状のばね48Aの付勢力で
先端子60A、60B、60C、60Dを半径方向外側
に移動する。次に、インライン計測機11の寸法測定装
置10をX、Y、Z軸の3軸方向に移動して、寸法測定
装置10をワーク26のシャフト26Bに嵌入させる。
次に、シリンダ46のロッド47を伸長させて、コイル
状のばね48Bの付勢力で先端子60A、60B、60
C、60Dを半径方向内側に移動する。これにより、4
個の先端子60A、60B、60C、60Dがワーク2
6のシャフト26Bの外周に接触する(図9、図10参
照)。以下図8と同様の工程でワーク26のシャフト2
6Bの外径が測定される。
【0030】また、寸法測定装置10は式(1) 、(2) に
示すように、X方向の位置ズレ△X、及びY方向の位置
ズレ△Yを求めることができるので、ワーク26に複数
の孔やシャフト等が形成されている場合、それぞれの芯
間距離を測定することができる。さらに、寸法測定装置
10は図11、図12に示すように長さ測定や、段差測
定を行うことができる。
示すように、X方向の位置ズレ△X、及びY方向の位置
ズレ△Yを求めることができるので、ワーク26に複数
の孔やシャフト等が形成されている場合、それぞれの芯
間距離を測定することができる。さらに、寸法測定装置
10は図11、図12に示すように長さ測定や、段差測
定を行うことができる。
【0031】前記実施例では一対の板ばね42A、42
Bを使用して寸法装置10のベース41に先端子60を
支持したが、これに限らず、寸法測定装置本体の軸芯を
中心とする同心円の半径方向に先端子60を移動可能な
ボールスライド機構等を使用してもよい。
Bを使用して寸法装置10のベース41に先端子60を
支持したが、これに限らず、寸法測定装置本体の軸芯を
中心とする同心円の半径方向に先端子60を移動可能な
ボールスライド機構等を使用してもよい。
【0032】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係る寸法測
定装置によれば、移動手段で4個の測子を、寸法測定装
置本体の軸心を中心とする同心円の半径方向に移動する
ことができる。従って、被測定物の孔径の内周やシャフ
トの外径を同時に4箇所測定することができ、さらに、
被測定物の孔径寸法やシャフトの外径寸法が大きく変化
した場合でも、使用することができる。
定装置によれば、移動手段で4個の測子を、寸法測定装
置本体の軸心を中心とする同心円の半径方向に移動する
ことができる。従って、被測定物の孔径の内周やシャフ
トの外径を同時に4箇所測定することができ、さらに、
被測定物の孔径寸法やシャフトの外径寸法が大きく変化
した場合でも、使用することができる。
【0033】また、本発明によれば、4個の測子は、4
個の測子の位置を調整可能な手段を介して弾性部材に連
結されていて、この調整手段は4個の測子の相対位置関
係を調整する。従って、寸法測定装置が設けられた3次
元座標測定機の測定精度にたよらずに高精度の測定が可
能である。これにより、短時間の測定が可能で、かつ、
広範囲の孔径やシャフト径を高精度に測定することがで
きる。
個の測子の位置を調整可能な手段を介して弾性部材に連
結されていて、この調整手段は4個の測子の相対位置関
係を調整する。従って、寸法測定装置が設けられた3次
元座標測定機の測定精度にたよらずに高精度の測定が可
能である。これにより、短時間の測定が可能で、かつ、
広範囲の孔径やシャフト径を高精度に測定することがで
きる。
【図1】本発明に係る寸法測定装置が使用されているイ
ンライン計測機の斜視図
ンライン計測機の斜視図
【図2】本発明に係る寸法測定装置の要部拡大図
【図3】図2のA−A矢視図
【図4】本発明に係る寸法測定装置の測子の芯ズレのチ
ェック方法を説明した図
ェック方法を説明した図
【図5】本発明に係る寸法測定装置の測子の芯ズレのチ
ェック方法を説明した図
ェック方法を説明した図
【図6】本発明に係る寸法測定装置の測子の芯ズレのチ
ェック方法を説明した図
ェック方法を説明した図
【図7】本発明に係る寸法測定装置の測子の芯ズレのチ
ェック方法を説明した図
ェック方法を説明した図
【図8】本発明に係る寸法測定装置でワークの孔径を測
定する場合について説明した図
定する場合について説明した図
【図9】本発明に係る寸法測定装置でワークのシャフト
径を測定する場合について説明した図
径を測定する場合について説明した図
【図10】本発明に係る寸法測定装置でワークのシャフ
ト径を測定する場合について説明した図
ト径を測定する場合について説明した図
【図11】本発明に係る寸法測定装置で長さ測定を行う
場合について説明した図
場合について説明した図
【図12】本発明に係る寸法測定装置で段差測定を行う
場合について説明した図
場合について説明した図
10…寸法測定装置 10A…軸心 11…インライン計測機(3次元座標測定機) 26…被測定物 32…移動手段 34…調整手段 36…測子 38…検出器 39…計測処理手段 41…ベース(寸法測定装置本体) 42A、42B…板バネ(弾性部材)
Claims (3)
- 【請求項1】 寸法測定装置本体と、 前記寸法測定装置本体の軸心を中心とする同心円上に等
間隔に配置されると共に、前記寸法測定装置本体に前記
同心円の半径方向に移動自在に配設された4個の測子
と、 該4個の測子を前記同心円の半径方向に移動する移動手
段と、 前記4個の測子の半径方向の移動量を検出する検出器
と、 該検出器が検出した前記4個の測子の半径方向の移動量
に基づいて、被測定物の孔径やシャフト外径等の計測処
理を行う計測処理手段と、 を備えたことを特徴とする寸法測定装置。 - 【請求項2】 前記4個の測子は、前記4個の測子の位
置を調整可能な手段を介して前記寸法測定装置本体に連
結されたことを特徴とする請求項1の寸法測定装置。 - 【請求項3】 前記寸法測定装置は、X、Y、Z軸方向
に移動可能な3次元座標測定機に取り付けられたことを
特徴とする請求項1の寸法測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24768792A JPH06201302A (ja) | 1992-09-17 | 1992-09-17 | 寸法測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24768792A JPH06201302A (ja) | 1992-09-17 | 1992-09-17 | 寸法測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06201302A true JPH06201302A (ja) | 1994-07-19 |
Family
ID=17167154
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24768792A Pending JPH06201302A (ja) | 1992-09-17 | 1992-09-17 | 寸法測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06201302A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001116503A (ja) * | 1999-10-20 | 2001-04-27 | Nippon Kinzoku Kagaku Kk | 内径測定装置 |
| JP2002231660A (ja) * | 2001-12-17 | 2002-08-16 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | ダイシング装置のスピンドル移動機構 |
| JP2012145494A (ja) * | 2011-01-13 | 2012-08-02 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 真円度測定装置及びその心ずれ量補正方法 |
| JP2012154942A (ja) * | 2012-04-06 | 2012-08-16 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 真円度測定装置における心ずれ量算出方法 |
| CN102967226A (zh) * | 2012-11-14 | 2013-03-13 | 无锡麦铁精密机械制造有限公司 | 一种沟槽直径检具 |
| JP2014130154A (ja) * | 2014-02-18 | 2014-07-10 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 真円度測定装置における心ずれ量算出方法 |
| CN104897101A (zh) * | 2015-06-23 | 2015-09-09 | 南车戚墅堰机车有限公司 | 电机定子内径定位仪 |
| JP2019152504A (ja) * | 2018-03-02 | 2019-09-12 | 株式会社東京精密 | 接触式の外径測定装置及び外径測定方法 |
| CN112710271A (zh) * | 2020-12-29 | 2021-04-27 | 苏州泰科贝尔直驱电机有限公司 | 一种高精度三轴联动旋转平台 |
-
1992
- 1992-09-17 JP JP24768792A patent/JPH06201302A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001116503A (ja) * | 1999-10-20 | 2001-04-27 | Nippon Kinzoku Kagaku Kk | 内径測定装置 |
| JP2002231660A (ja) * | 2001-12-17 | 2002-08-16 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | ダイシング装置のスピンドル移動機構 |
| JP2012145494A (ja) * | 2011-01-13 | 2012-08-02 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 真円度測定装置及びその心ずれ量補正方法 |
| JP2012154942A (ja) * | 2012-04-06 | 2012-08-16 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 真円度測定装置における心ずれ量算出方法 |
| CN102967226A (zh) * | 2012-11-14 | 2013-03-13 | 无锡麦铁精密机械制造有限公司 | 一种沟槽直径检具 |
| JP2014130154A (ja) * | 2014-02-18 | 2014-07-10 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 真円度測定装置における心ずれ量算出方法 |
| CN104897101A (zh) * | 2015-06-23 | 2015-09-09 | 南车戚墅堰机车有限公司 | 电机定子内径定位仪 |
| JP2019152504A (ja) * | 2018-03-02 | 2019-09-12 | 株式会社東京精密 | 接触式の外径測定装置及び外径測定方法 |
| CN112710271A (zh) * | 2020-12-29 | 2021-04-27 | 苏州泰科贝尔直驱电机有限公司 | 一种高精度三轴联动旋转平台 |
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