JPH06201320A - 測定部によつて相互に分離された組込ユニツトおよび反射ユニツトを有する干渉計 - Google Patents
測定部によつて相互に分離された組込ユニツトおよび反射ユニツトを有する干渉計Info
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- JPH06201320A JPH06201320A JP5272991A JP27299193A JPH06201320A JP H06201320 A JPH06201320 A JP H06201320A JP 5272991 A JP5272991 A JP 5272991A JP 27299193 A JP27299193 A JP 27299193A JP H06201320 A JPH06201320 A JP H06201320A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
- G01N21/45—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length using interferometric methods; using Schlieren methods
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 温度変化などに影響されない干渉計を提供す
る。 【構成】 組込ユニツト(52)と、測定部(56)に
よつて組込ユニツトから分離された測定ミラー(44)
とを含む干渉計。この干渉計は、上記組込ユニツトに、
光学距離等化手段(82)と、測定光束(68)と、基
準光束(70)とを含むことを特徴とする。
る。 【構成】 組込ユニツト(52)と、測定部(56)に
よつて組込ユニツトから分離された測定ミラー(44)
とを含む干渉計。この干渉計は、上記組込ユニツトに、
光学距離等化手段(82)と、測定光束(68)と、基
準光束(70)とを含むことを特徴とする。
Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、組込ユニツトと、少な
くとも1つの測定部によつて上記組込ユニツトから分離
された反射ユニツトとを含む干渉計に関する。この種の
干渉計は、測定部に充填された媒体の屈折率の変化を測
定するのに使用する。更に、上記干渉計は、例えば、レ
ーザダイオードから得られた光束の波長を媒体中で安定
化するのに使用される。
くとも1つの測定部によつて上記組込ユニツトから分離
された反射ユニツトとを含む干渉計に関する。この種の
干渉計は、測定部に充填された媒体の屈折率の変化を測
定するのに使用する。更に、上記干渉計は、例えば、レ
ーザダイオードから得られた光束の波長を媒体中で安定
化するのに使用される。
【0002】
【従来の技術】図1に示した、本出願人の研究所で最近
開発した干渉計は、本発明の目的の開示に利用できる。
この図1に、組込ユニツト2と、測定部6によつて組込
ユニツト2から分離された測定ミラー4とを含む。ここ
で、組込ユニツトとは、相互に動作するように結合さ
れ、1つのモジユールとして支持された各種要素を統合
するユニツトを意味する。この図1に示した干渉計は、
マッハ−ツェンダ型である。組込ユニツト2は、光学的
入力ガイド10を表面に被覆した基板8と、第1分岐1
2aおよび第2分岐12bを含む光学的測定ガイドと、
第1分岐14aおよび第2分岐14bを含む光学的基準
ガイドとから形式される。この組込ユニツト2は、更
に、位相復調器16を含む。この復調器16の出力に
は、それぞれ、別個に4つの出力ガイド18a〜18d
を介して検知器(図示してない)に伝達される4つの別
個の光学信号が得られる。
開発した干渉計は、本発明の目的の開示に利用できる。
この図1に、組込ユニツト2と、測定部6によつて組込
ユニツト2から分離された測定ミラー4とを含む。ここ
で、組込ユニツトとは、相互に動作するように結合さ
れ、1つのモジユールとして支持された各種要素を統合
するユニツトを意味する。この図1に示した干渉計は、
マッハ−ツェンダ型である。組込ユニツト2は、光学的
入力ガイド10を表面に被覆した基板8と、第1分岐1
2aおよび第2分岐12bを含む光学的測定ガイドと、
第1分岐14aおよび第2分岐14bを含む光学的基準
ガイドとから形式される。この組込ユニツト2は、更
に、位相復調器16を含む。この復調器16の出力に
は、それぞれ、別個に4つの出力ガイド18a〜18d
を介して検知器(図示してない)に伝達される4つの別
個の光学信号が得られる。
【0003】この場合、光学的測定ガイドの波長は、実
質的に、光学的基準ガイドの波長に等しい。基板8の1
つの側面20に伝達レンズ22および24が設けてあ
る。これらのレンズ22および24は、光学的測定ガイ
ド26に連結されている。第1レンズ22は、光学的測
定ガイド内を伝播できる測定光束28のコリメーシヨン
(平行化)に役立つ。第2レンズは、光束28が測定ミ
ラー4で反射された後、光学的測定ガイドの分岐12b
に上記測定光束28をフオーカシング(焦点合わせ)す
るのに役立つ。この場合、測定ミラー4は、中空立方体
のコーナの形の後方反射鏡から形成され、伝達レンズ2
2および24は、屈折率勾配を有するオートフオーカシ
ングレンズGRINから形成される。
質的に、光学的基準ガイドの波長に等しい。基板8の1
つの側面20に伝達レンズ22および24が設けてあ
る。これらのレンズ22および24は、光学的測定ガイ
ド26に連結されている。第1レンズ22は、光学的測
定ガイド内を伝播できる測定光束28のコリメーシヨン
(平行化)に役立つ。第2レンズは、光束28が測定ミ
ラー4で反射された後、光学的測定ガイドの分岐12b
に上記測定光束28をフオーカシング(焦点合わせ)す
るのに役立つ。この場合、測定ミラー4は、中空立方体
のコーナの形の後方反射鏡から形成され、伝達レンズ2
2および24は、屈折率勾配を有するオートフオーカシ
ングレンズGRINから形成される。
【0004】光学的基準ガイドの2つの分岐14a、1
4bは、基板8の側面20によつて決定される平面で再
統合される。この範囲には、基準ミラー30が設けてあ
る。この場合、光学的基準ガイドの分岐14aおよび1
4bは、基準ミラー30とともに、基準ガイド14(1
4a、14b)内を伝播できる基準光束34のための基
準光路32を形成する。測定ガイド12(12a、12
b)および基準ガイド14は、入力ガイド10の一端を
形成する同一原点36から生ずる2つのガイドである。
4bは、基板8の側面20によつて決定される平面で再
統合される。この範囲には、基準ミラー30が設けてあ
る。この場合、光学的基準ガイドの分岐14aおよび1
4bは、基準ミラー30とともに、基準ガイド14(1
4a、14b)内を伝播できる基準光束34のための基
準光路32を形成する。測定ガイド12(12a、12
b)および基準ガイド14は、入力ガイド10の一端を
形成する同一原点36から生ずる2つのガイドである。
【0005】測定光路および基準光路は、それぞれ、測
定光学距離および基準光学距離を決定する。光学距離
は、光路の屈折率の数学的積分によつて定められる。こ
の場合、測定部に充填された媒体の屈折率を求めるため
のまたは上記媒体内でレーザ源の波長を安定化するため
の干渉計式測定値は、測定光学距離と基準光学距離との
間の光学距離差の関数である。従って、測定部に充填さ
れた媒体の特性の正確な測定値を得るには、第1に、測
定部における測定光路と基準光路との間の長さの差を一
定に保持しなければならず、第2に、上記測定部外にお
いては測定光学距離を基準光学距離と常に等しくしなけ
ればならない。
定光学距離および基準光学距離を決定する。光学距離
は、光路の屈折率の数学的積分によつて定められる。こ
の場合、測定部に充填された媒体の屈折率を求めるため
のまたは上記媒体内でレーザ源の波長を安定化するため
の干渉計式測定値は、測定光学距離と基準光学距離との
間の光学距離差の関数である。従って、測定部に充填さ
れた媒体の特性の正確な測定値を得るには、第1に、測
定部における測定光路と基準光路との間の長さの差を一
定に保持しなければならず、第2に、上記測定部外にお
いては測定光学距離を基準光学距離と常に等しくしなけ
ればならない。
【0006】これに関連して、図1の装置には、多くの
欠点がある。第1に、測定ミラーは、組込ユニツトと一
体ではなく、測定光路と基準光路との間の長さの上記差
は、組込ユニツトに対する測定ミラーの僅かな変位にも
とづき、変化する。第2に、伝達レンズ22、24が組
込ユニツト内に設けてあるので、測定光路と基準光路と
の間で、光学距離の差が、測定媒体の屈折率変化に関係
なく、例えば、組込ユニツトの温度変化にもとづいて生
ずる。
欠点がある。第1に、測定ミラーは、組込ユニツトと一
体ではなく、測定光路と基準光路との間の長さの上記差
は、組込ユニツトに対する測定ミラーの僅かな変位にも
とづき、変化する。第2に、伝達レンズ22、24が組
込ユニツト内に設けてあるので、測定光路と基準光路と
の間で、光学距離の差が、測定媒体の屈折率変化に関係
なく、例えば、組込ユニツトの温度変化にもとづいて生
ずる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、上記
欠点を排除することにある。
欠点を排除することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】従って、本発明は、組込
ユニツトと、その組込ユニツトに対して所定方向に配列
された測定ミラーとを含む干渉計であつて、測定ミラー
が、測定部に隣接し、その測定部は、上記組込ユニツト
と上記測定ミラーとの間に設けてある。上記組込ユニツ
トは、基準ミラーに結合される基準光路を部分的に形成
する基準ガイドと、上記測定ミラーと結合される測定光
路を部分的に形成する測定ガイドとを有する。基準光束
および測定光束は、それぞれ、上記基準ガイドおよび上
記測定ガイド内を伝播できる。上記組込ユニツトは、上
記測定光路に設けてあつて上記測定ガイドから上記測定
光束を放射させ得る第1伝達手段を含む。この第1伝達
手段によつて、上記測定光束が、上記測定部に入って、
その中を伝播し、上記測定ガイドに少なくとも部分的に
再び入射させることができる。本干渉計は、上記測定ミ
ラーおよび上記基準ミラーが、上記基準光束および上記
測定光束の唯一の反射手段を形成することを特徴とす
る。
ユニツトと、その組込ユニツトに対して所定方向に配列
された測定ミラーとを含む干渉計であつて、測定ミラー
が、測定部に隣接し、その測定部は、上記組込ユニツト
と上記測定ミラーとの間に設けてある。上記組込ユニツ
トは、基準ミラーに結合される基準光路を部分的に形成
する基準ガイドと、上記測定ミラーと結合される測定光
路を部分的に形成する測定ガイドとを有する。基準光束
および測定光束は、それぞれ、上記基準ガイドおよび上
記測定ガイド内を伝播できる。上記組込ユニツトは、上
記測定光路に設けてあつて上記測定ガイドから上記測定
光束を放射させ得る第1伝達手段を含む。この第1伝達
手段によつて、上記測定光束が、上記測定部に入って、
その中を伝播し、上記測定ガイドに少なくとも部分的に
再び入射させることができる。本干渉計は、上記測定ミ
ラーおよび上記基準ミラーが、上記基準光束および上記
測定光束の唯一の反射手段を形成することを特徴とす
る。
【0009】上記特徴によれば、反射ユニツトが組込ユ
ニツトに対して僅かに変位されても、測定光路と基準光
路と間の長さの差は一定に保持され、測定光路と基準光
路と間の長さの上記差は、反射ユニツトのジオメトリの
みに依存する。反射ユニツトについて適切な、特に、温
度変化に対して敏感でない材料を選択すれば、上記測定
光路と基準光路との間の長さの上記を経時的に確実に一
定に保持できる。
ニツトに対して僅かに変位されても、測定光路と基準光
路と間の長さの差は一定に保持され、測定光路と基準光
路と間の長さの上記差は、反射ユニツトのジオメトリの
みに依存する。反射ユニツトについて適切な、特に、温
度変化に対して敏感でない材料を選択すれば、上記測定
光路と基準光路との間の長さの上記を経時的に確実に一
定に保持できる。
【0010】本発明の別の特徴では、干渉計の上記組込
ユニツトは、上記測定ガイドおよび上記基準ガイドと接
する入力位相復調器を含み、これら2つのガイドが、実
質的に同一の物理的性質および長さを有し、上記組込ユ
ニツトが、基準光路に設置された第2伝達手段を含み、
上記第2伝達手段が、上記基準ガイドから上記基準光束
を放射させることができ、かくして、上記基準光束は、
上記測定部内を伝播でき、上記第2伝達手段によつて上
記基準ガイドに少なくとも部分的に再び入射させること
ができ、上記第2伝達手段が、上記基準光束のために、
上記測定光束のために上記第1伝達手段によつて形成さ
れた光学距離と実質的に同一の光学距離を形成する。こ
の特徴によって、基準光学距離は、上記組込ユニツトに
おいて、測定光学距離に実質的に等しいくなる。従っ
て、測定部において実施した測定が、例えば、組込ユニ
ツトの温度変化によつて擾乱されることはない。
ユニツトは、上記測定ガイドおよび上記基準ガイドと接
する入力位相復調器を含み、これら2つのガイドが、実
質的に同一の物理的性質および長さを有し、上記組込ユ
ニツトが、基準光路に設置された第2伝達手段を含み、
上記第2伝達手段が、上記基準ガイドから上記基準光束
を放射させることができ、かくして、上記基準光束は、
上記測定部内を伝播でき、上記第2伝達手段によつて上
記基準ガイドに少なくとも部分的に再び入射させること
ができ、上記第2伝達手段が、上記基準光束のために、
上記測定光束のために上記第1伝達手段によつて形成さ
れた光学距離と実質的に同一の光学距離を形成する。こ
の特徴によって、基準光学距離は、上記組込ユニツトに
おいて、測定光学距離に実質的に等しいくなる。従っ
て、測定部において実施した測定が、例えば、組込ユニ
ツトの温度変化によつて擾乱されることはない。
【0011】本発明の特別な実施例では、第1、第2伝
達手段は、それぞれ、第1、第2レンズによつて形成さ
れる。本発明の別の利点は、実施例を示す添付の図面を
参照した下記の説明から明らかであろう。
達手段は、それぞれ、第1、第2レンズによつて形成さ
れる。本発明の別の利点は、実施例を示す添付の図面を
参照した下記の説明から明らかであろう。
【0012】
【実施例】図2および3を参照して、干渉計の第1実施
例について説明する。この干渉計は、マッハ−ツェンダ
型である。図2に示した如く、干渉計は、組込ユニツト
42と、組込ユニツト42に対して所定方向へ配列した
反射ユニツト44とを有し、反射ユニツトは、測定部4
6に接し、上記測定部は、反射ユニツト44と組込ユニ
ツト42との間に設けてある。この組込ユニツト42
は、光学的入力ガイドを表面に被覆した基板8と、第
1、第2分岐12a、12bを含む光学的測定ガイド1
2と、第1、第2分岐14a、14bを含む光学的基準
ガイド14とから形成される。測定ガイド12および基
準ガイド14は、位相復調器16に接続され、上記復調
器において、それぞれ、測定ガイド12の分岐12bお
よび基準ガイド14の分岐14b内を伝播してくる測定
光束48と基準光束50との間に干渉が生ずる。
例について説明する。この干渉計は、マッハ−ツェンダ
型である。図2に示した如く、干渉計は、組込ユニツト
42と、組込ユニツト42に対して所定方向へ配列した
反射ユニツト44とを有し、反射ユニツトは、測定部4
6に接し、上記測定部は、反射ユニツト44と組込ユニ
ツト42との間に設けてある。この組込ユニツト42
は、光学的入力ガイドを表面に被覆した基板8と、第
1、第2分岐12a、12bを含む光学的測定ガイド1
2と、第1、第2分岐14a、14bを含む光学的基準
ガイド14とから形成される。測定ガイド12および基
準ガイド14は、位相復調器16に接続され、上記復調
器において、それぞれ、測定ガイド12の分岐12bお
よび基準ガイド14の分岐14b内を伝播してくる測定
光束48と基準光束50との間に干渉が生ずる。
【0013】組込ユニツト42の基板8の側面20に
は、実質的に等しい3つの伝達レンズが設けてある。2
つの第1レンズ22および24は、光学的測定ガイド5
2に設けてあり、この測定ガイドは、上記測定ガイド1
2、レンズ22、24および反射ユニツト44によつて
形成され、測定光束48を伝播させることができる。第
3レンズ54は、基準光路56に設けてあり、上記基準
ガイド14、レンズ54および反射ユニツト44によつ
て形成され、基準光束50を伝播させることができる。
は、実質的に等しい3つの伝達レンズが設けてある。2
つの第1レンズ22および24は、光学的測定ガイド5
2に設けてあり、この測定ガイドは、上記測定ガイド1
2、レンズ22、24および反射ユニツト44によつて
形成され、測定光束48を伝播させることができる。第
3レンズ54は、基準光路56に設けてあり、上記基準
ガイド14、レンズ54および反射ユニツト44によつ
て形成され、基準光束50を伝播させることができる。
【0014】各レンズは、組込ユニツト42と測定部4
6との間の外部ジオプトリーを定める。特に、外部ジオ
プトリー23および外部ジオプトリー55は、それぞ
れ、レンズ22および54によつて形成される。従っ
て、レンズ54の光軸(図面の簡略化のため図示してな
い)が、組込ユニツト42および反射ユニツト44の上
記配列方向を定める。
6との間の外部ジオプトリーを定める。特に、外部ジオ
プトリー23および外部ジオプトリー55は、それぞ
れ、レンズ22および54によつて形成される。従っ
て、レンズ54の光軸(図面の簡略化のため図示してな
い)が、組込ユニツト42および反射ユニツト44の上
記配列方向を定める。
【0015】基準ガイド14の分岐14a、14bおよ
びレンズ54は、分岐14aから出た光束が、反射ユニ
ツトで反射された後、再び分岐14bに導入されるよう
に設計しなければならない。実際には、このため、分岐
14a、14bの端部をレンズ54の光軸に関して角度
的に僅かにずらす。
びレンズ54は、分岐14aから出た光束が、反射ユニ
ツトで反射された後、再び分岐14bに導入されるよう
に設計しなければならない。実際には、このため、分岐
14a、14bの端部をレンズ54の光軸に関して角度
的に僅かにずらす。
【0016】3つのレンズ22、24、54は、例え
ば、測定ガイド12および基準ガイド14の分岐12a
および14aから出た測定光束48および基準光束50
を平行にすることができ、更に、反射ユニツト44によ
つて上記測定ガイド12および基準ガイド14内に反射
された測定光束48および基準光束50を焦点合わせを
行うことができる、屈折率勾配を有する、GRIN型の
オートフオーカシングレンズである。
ば、測定ガイド12および基準ガイド14の分岐12a
および14aから出た測定光束48および基準光束50
を平行にすることができ、更に、反射ユニツト44によ
つて上記測定ガイド12および基準ガイド14内に反射
された測定光束48および基準光束50を焦点合わせを
行うことができる、屈折率勾配を有する、GRIN型の
オートフオーカシングレンズである。
【0017】更に、別の実施例(図示してない)によれ
ば基板8の測定ガイドおよび基準ガイドの延長部分に直
接にレンズを形成できる。この場合、用語「レンズ」と
は、光束がランダムに且つ相反的に伝播する媒体へ光学
的ガイドから光束を通過させることができる伝達手段の
ための一般的用語である。更に、別の実施例では、伝達
手段は、コリメーシヨン(平行化)機能を有する回折格
子から形成できる。
ば基板8の測定ガイドおよび基準ガイドの延長部分に直
接にレンズを形成できる。この場合、用語「レンズ」と
は、光束がランダムに且つ相反的に伝播する媒体へ光学
的ガイドから光束を通過させることができる伝達手段の
ための一般的用語である。更に、別の実施例では、伝達
手段は、コリメーシヨン(平行化)機能を有する回折格
子から形成できる。
【0018】測定光束48は、組込ユニツト42から出
るときレンズ22を通り、反射ユニツト44によつて反
射された後に上記組込ユニツト42に再び入るときにレ
ンズ24を通る。基準光束50に関して云えば、反射ユ
ニツトの方向へ出る光束および反射ユニツト44で反射
された後に組込ユニツトに入る光束とも、組込ユニツト
42と測定部46との間の通過は、レンズ54によつて
行われる。
るときレンズ22を通り、反射ユニツト44によつて反
射された後に上記組込ユニツト42に再び入るときにレ
ンズ24を通る。基準光束50に関して云えば、反射ユ
ニツトの方向へ出る光束および反射ユニツト44で反射
された後に組込ユニツトに入る光束とも、組込ユニツト
42と測定部46との間の通過は、レンズ54によつて
行われる。
【0019】光学的測定ガイド12および基準ガイド1
4の形状は、1つのガイドの長さが、実質的に、別のガ
イドの長さと等しくなるよう定めてある。結合レンズ2
2、24および54は同一であるので、組込ユニツトの
基準光学距離と上記組込ユニツトの測定光学距離とは、
実質的に等しく、組込ユニツト12の基板8の表面のガ
イドの物理的性質は類似している。
4の形状は、1つのガイドの長さが、実質的に、別のガ
イドの長さと等しくなるよう定めてある。結合レンズ2
2、24および54は同一であるので、組込ユニツトの
基準光学距離と上記組込ユニツトの測定光学距離とは、
実質的に等しく、組込ユニツト12の基板8の表面のガ
イドの物理的性質は類似している。
【0020】好ましくはモノブロツク構造を有するユニ
ツト44は、測定光束48を反射するための第1、第2
反射側面60、62を含み、これらの2つの面は、測定
ミラーを構成し、上記光学的測定ガイド12およびレン
ズ22、24とともに測定光路52を形成するのに役立
つ。上記第1、第2面60、62は、それぞれ、第1平
面64と第2平面66を定め、上記平面は、90°の交
差角を有し、交差線68を形成する。
ツト44は、測定光束48を反射するための第1、第2
反射側面60、62を含み、これらの2つの面は、測定
ミラーを構成し、上記光学的測定ガイド12およびレン
ズ22、24とともに測定光路52を形成するのに役立
つ。上記第1、第2面60、62は、それぞれ、第1平
面64と第2平面66を定め、上記平面は、90°の交
差角を有し、交差線68を形成する。
【0021】反射ユニツト44は、更に、基準光束50
を反射し基準ミラーを形成する第3反射側面70を含
む。この第3面70は、上記各平面60、62と45°
の交差角をなす平面72を形成する。反射ユニツト44
は、レンズ54の光軸が平面72に対して90°の角度
をなすように配置する。
を反射し基準ミラーを形成する第3反射側面70を含
む。この第3面70は、上記各平面60、62と45°
の交差角をなす平面72を形成する。反射ユニツト44
は、レンズ54の光軸が平面72に対して90°の角度
をなすように配置する。
【0022】図2に示した第1実施例の反射ユニツト4
4は、図3には、斜視図として示した。更に、第3面7
0は、平面72に平行であり交差線68を含む平面74
に対して2つの面60、62の側にある。
4は、図3には、斜視図として示した。更に、第3面7
0は、平面72に平行であり交差線68を含む平面74
に対して2つの面60、62の側にある。
【0023】測定光学距離と基準光学距離との間の光学
距離の差は、測定部46の媒体の屈折率の2倍と、平面
72、74の間の距離に対応する距離Dとの積によつて
与えられる。従って、位相復調器16における干渉結果
は、反射ユニツト44のジオメトリおよび測定部46に
充填された測定媒体の屈折率によつて与えられる距離D
のみに依存する。
距離の差は、測定部46の媒体の屈折率の2倍と、平面
72、74の間の距離に対応する距離Dとの積によつて
与えられる。従って、位相復調器16における干渉結果
は、反射ユニツト44のジオメトリおよび測定部46に
充填された測定媒体の屈折率によつて与えられる距離D
のみに依存する。
【0024】本発明の第1実施例の変更例を示す図4
(反射ユニツトのみを示した)を参照する。この場合、
反射ユニツト78は、図2、3に示した反射ユニツト4
4とは異なる幾何学的形状を有する。図4に示した如
く、第3反射面71は、上記平面74に常に平行な平面
80を形成し、この平面74に対して面60、62の別
の側にある。
(反射ユニツトのみを示した)を参照する。この場合、
反射ユニツト78は、図2、3に示した反射ユニツト4
4とは異なる幾何学的形状を有する。図4に示した如
く、第3反射面71は、上記平面74に常に平行な平面
80を形成し、この平面74に対して面60、62の別
の側にある。
【0025】本発明に係る反射ユニツトのこの特殊な実
施例には、深さを除いた反射ユニツト78の他の寸法と
は無関係に距離Dを選択できるという利点がある。従っ
て、例えば、測定光学距離と基準光学距離との差は、図
3の実施例の場合の差よりも大きくなる。従って、被測
媒体の屈折率の測定精度が向上されるという利点が得ら
れる。
施例には、深さを除いた反射ユニツト78の他の寸法と
は無関係に距離Dを選択できるという利点がある。従っ
て、例えば、測定光学距離と基準光学距離との差は、図
3の実施例の場合の差よりも大きくなる。従って、被測
媒体の屈折率の測定精度が向上されるという利点が得ら
れる。
【0026】以下では、本発明に係る干渉計の第2実施
例を示す図5を参照する。図5において、既述の部材に
ついては、あらためて説明しない。本発明に係る第1実
施例に対するこの第2実施例の利点は、光学的測定ガイ
ド12の2つの分岐12a、12bと光学的基準ガイド
14の2つの分岐14a、14bとがそれぞれ完全に対
称であるという点にある。特に、光学的基準ガイド14
の分岐14a、14bの端部は完全に平行である。この
構造を得るため、基準光路90に2つのレンズ86、8
8を設ける。レンズ86は、組込ユニツト94から出る
基準光束92のコリメーシヨンに役立つ。このレンズ8
6は、上記組込ユニツトと測定部46との間の外部ジオ
メトリ87を定める。レンズ88は、反射ユニツト96
で反射された後に組込ユニツト94に入る光束92を基
準ガイドにおいてフオーカシングするのに役立つ。反射
ユニツト96は、第1実施例の場合と同様に、測定光束
48を反射し測定ミラーを形成する2つの面60、62
を含む。更に、基準光束92を反射し基準ミラーを形成
する2つの別の反射側面100、102が設けてある。
これらの面100、102は、交差線104に沿つて交
差し、90°の交差角をなす。面100、102は、そ
れぞれ、面60、62に平行である。
例を示す図5を参照する。図5において、既述の部材に
ついては、あらためて説明しない。本発明に係る第1実
施例に対するこの第2実施例の利点は、光学的測定ガイ
ド12の2つの分岐12a、12bと光学的基準ガイド
14の2つの分岐14a、14bとがそれぞれ完全に対
称であるという点にある。特に、光学的基準ガイド14
の分岐14a、14bの端部は完全に平行である。この
構造を得るため、基準光路90に2つのレンズ86、8
8を設ける。レンズ86は、組込ユニツト94から出る
基準光束92のコリメーシヨンに役立つ。このレンズ8
6は、上記組込ユニツトと測定部46との間の外部ジオ
メトリ87を定める。レンズ88は、反射ユニツト96
で反射された後に組込ユニツト94に入る光束92を基
準ガイドにおいてフオーカシングするのに役立つ。反射
ユニツト96は、第1実施例の場合と同様に、測定光束
48を反射し測定ミラーを形成する2つの面60、62
を含む。更に、基準光束92を反射し基準ミラーを形成
する2つの別の反射側面100、102が設けてある。
これらの面100、102は、交差線104に沿つて交
差し、90°の交差角をなす。面100、102は、そ
れぞれ、面60、62に平行である。
【0027】交差線68と交差線104と間の距離D
は、測定光路52と基準光路90との間の長さ差の1/
2に対応する。距離Dの数値は、反射ユニツト96の構
造のみに依存する。従って、この第2実施例の干渉計の
ために選択した用途に最適に適合する所定の距離Dを選
択できる。
は、測定光路52と基準光路90との間の長さ差の1/
2に対応する。距離Dの数値は、反射ユニツト96の構
造のみに依存する。従って、この第2実施例の干渉計の
ために選択した用途に最適に適合する所定の距離Dを選
択できる。
【0028】この第2実施例には、上述の第1実施例に
比して別の利点がある。なぜならば、測定光束48およ
び基準光束92が、組込ユニツト94と反射ユニツト9
6との間を平行に伝播するからである。かくして、測定
精度を低下することなく、組込ユニツト94に対して反
射ユニツト96を移動できる。更に、組込ユニツト94
から出る基準光束と組込ユニツトに入る基準光束とが、
平行で重なり合わず、組込ユニツト94と測定部46と
の間の放射基準光束の伝達手段が、反射ユニツト96で
反射された後に組込ユニツト94に入射する基準光束の
伝達手段とは異なるので、位相復調器16に達する基準
光束は、上記位相復調器16に入る測定光束の振幅と実
質的に等しい振幅を有し、従って、干渉結果の検知に有
利である。更に、特に、上記実施例の変更例(図示して
ない)にもとづき、測定ミラーおよび基準ミラーが、そ
れぞれ、中空立方体のコーナの形の第1、第2後方反射
鏡を形成でき、第1後方反射鏡は、第2後方反射鏡に基
準光束を送るための開口を有することができる。
比して別の利点がある。なぜならば、測定光束48およ
び基準光束92が、組込ユニツト94と反射ユニツト9
6との間を平行に伝播するからである。かくして、測定
精度を低下することなく、組込ユニツト94に対して反
射ユニツト96を移動できる。更に、組込ユニツト94
から出る基準光束と組込ユニツトに入る基準光束とが、
平行で重なり合わず、組込ユニツト94と測定部46と
の間の放射基準光束の伝達手段が、反射ユニツト96で
反射された後に組込ユニツト94に入射する基準光束の
伝達手段とは異なるので、位相復調器16に達する基準
光束は、上記位相復調器16に入る測定光束の振幅と実
質的に等しい振幅を有し、従って、干渉結果の検知に有
利である。更に、特に、上記実施例の変更例(図示して
ない)にもとづき、測定ミラーおよび基準ミラーが、そ
れぞれ、中空立方体のコーナの形の第1、第2後方反射
鏡を形成でき、第1後方反射鏡は、第2後方反射鏡に基
準光束を送るための開口を有することができる。
【0029】更に、図5の場合、4つの検知器からなる
ユニツト110が、組込ユニツト94の基板8の1つの
側面に設けてある。更に、レーザダイオード112が、
上記側面に設けてある。上記検知器に達する信号が位相
の積分である場合は、2つの検知器で、干渉結果を十分
に解析できる。
ユニツト110が、組込ユニツト94の基板8の1つの
側面に設けてある。更に、レーザダイオード112が、
上記側面に設けてある。上記検知器に達する信号が位相
の積分である場合は、2つの検知器で、干渉結果を十分
に解析できる。
【0030】以下に、図6、7を参照して、位相復調器
16を更に詳細に説明する。ここで、注意するが、光学
干渉素子について選択した実施例は、全く、限定的では
ない。別の例は、「Technisches Mess
en」誌 58(1991)4、p152〜157の論
文「Integriert optisches Mic
helson-In-terferometer mit
Quadraturdemodulatin im G
las zur Messung vonVerschi
ebewegen」に記載されている。この論文には、
上述の組込ユニツトの製造技術および先行技術のマイケ
ルソン干渉計が記載されている。
16を更に詳細に説明する。ここで、注意するが、光学
干渉素子について選択した実施例は、全く、限定的では
ない。別の例は、「Technisches Mess
en」誌 58(1991)4、p152〜157の論
文「Integriert optisches Mic
helson-In-terferometer mit
Quadraturdemodulatin im G
las zur Messung vonVerschi
ebewegen」に記載されている。この論文には、
上述の組込ユニツトの製造技術および先行技術のマイケ
ルソン干渉計が記載されている。
【0031】図6に示した如く、位相復調器16は、巾
Wおよび長さLを有する、実質的に長方形の平面波ガイ
ドからなる。この平面波ガイドは、入射光分布から多重
像を形成する性質を有するマルチモードガイドである。
Wおよび長さLを有する、実質的に長方形の平面波ガイ
ドからなる。この平面波ガイドは、入射光分布から多重
像を形成する性質を有するマルチモードガイドである。
【0032】図6、7に示した実施例の場合、基準ガイ
ド14の分岐14bを伝播する光束は、位相復調器の入
力において、光度分布I1を有し、一方、測定ガイド1
2の分岐12bを伝播する光束は、上記復調器16の入
力116において、光分布I2を有する。測定ガイド1
2および基準ガイド14を伝播する上記光束は、各光度
分布I1、I2が、距離Lにおいて、低光度ISの4つ
の像を形成するよう、復調器16の入力116の特殊な
箇所に入射される。距離Lは、巾 W、復調器16を形
成する媒体の屈折率Nおよびこの復調器を伝播する光束
の波長λによつて定められる。これらの各パラメータに
長さLを関係づける数学的関係は、L=NW2 /λで与
えられる。距離Lにおいて、2つの入射光束I1、I2
は、それぞれ、別の4つの像に重畳する4つの像を形成
し、かくして、2つの入射光束の間の移相度ψの関数で
ある強度を有する4つの特殊な干渉IF1、IF2、I
F3、IF4が形成される。
ド14の分岐14bを伝播する光束は、位相復調器の入
力において、光度分布I1を有し、一方、測定ガイド1
2の分岐12bを伝播する光束は、上記復調器16の入
力116において、光分布I2を有する。測定ガイド1
2および基準ガイド14を伝播する上記光束は、各光度
分布I1、I2が、距離Lにおいて、低光度ISの4つ
の像を形成するよう、復調器16の入力116の特殊な
箇所に入射される。距離Lは、巾 W、復調器16を形
成する媒体の屈折率Nおよびこの復調器を伝播する光束
の波長λによつて定められる。これらの各パラメータに
長さLを関係づける数学的関係は、L=NW2 /λで与
えられる。距離Lにおいて、2つの入射光束I1、I2
は、それぞれ、別の4つの像に重畳する4つの像を形成
し、かくして、2つの入射光束の間の移相度ψの関数で
ある強度を有する4つの特殊な干渉IF1、IF2、I
F3、IF4が形成される。
【0033】図7において、復調器出力には、実際の干
渉像ではなく、各入力信号I1、I2の強度に対する寄
与を示した。実際、各寄与は、所与の位相則によつて、
べクトル的に組合わされ、かくして、4つの出力には、
入力信号の位相関係を表す干渉像が与えられる。
渉像ではなく、各入力信号I1、I2の強度に対する寄
与を示した。実際、各寄与は、所与の位相則によつて、
べクトル的に組合わされ、かくして、4つの出力には、
入力信号の位相関係を表す干渉像が与えられる。
【0034】図7には、更に、復調器16内の伝播時に
誘起される2つの光度分布I1、I2の位相差DFが示
してある。復調器16によつて誘起されるこの位相差D
Fは、90°の倍数である。45°回転して、三角法の
通常の基準軸を変更すれば、干渉IF1は、( 1+c
osψ)(式中、ψは、2つの入射光束の間の移相度を
表す)にもとづき変化する光度を与え、一方、干渉IF
2、IF3、IF4は、それぞれ、(1−sinψ)、
(1+sinψ)および(1−cosψ)にもとづき変
化する光度を与える。干渉IF1および干渉IF2の強
度測定は、干渉縞の移動の追跡および方向の決定に十分
である。しかしながら、4つの重畳像を利用することに
よつて、干渉結果のコントラストを増大でき、ゼロに等
しい平均値で処理した結果が得られる。
誘起される2つの光度分布I1、I2の位相差DFが示
してある。復調器16によつて誘起されるこの位相差D
Fは、90°の倍数である。45°回転して、三角法の
通常の基準軸を変更すれば、干渉IF1は、( 1+c
osψ)(式中、ψは、2つの入射光束の間の移相度を
表す)にもとづき変化する光度を与え、一方、干渉IF
2、IF3、IF4は、それぞれ、(1−sinψ)、
(1+sinψ)および(1−cosψ)にもとづき変
化する光度を与える。干渉IF1および干渉IF2の強
度測定は、干渉縞の移動の追跡および方向の決定に十分
である。しかしながら、4つの重畳像を利用することに
よつて、干渉結果のコントラストを増大でき、ゼロに等
しい平均値で処理した結果が得られる。
【0035】以下に、図8を参照して、本発明に係る干
渉計の用途について説明する。図8において、本発明に
係る干渉計の第1実施例について行つた説明は、再録し
ない。この場合、入力光束120は、レーザ源122か
ら放射され、次いで、2つの光束に分割され、この場
合、上記光束の第1光束は、作用光束124を形成し、
上記光束の第2光束は、本発明の第1実施例の上記光学
的ガイドを伝播するコントロール光束を形成する。
渉計の用途について説明する。図8において、本発明に
係る干渉計の第1実施例について行つた説明は、再録し
ない。この場合、入力光束120は、レーザ源122か
ら放射され、次いで、2つの光束に分割され、この場
合、上記光束の第1光束は、作用光束124を形成し、
上記光束の第2光束は、本発明の第1実施例の上記光学
的ガイドを伝播するコントロール光束を形成する。
【0036】本発明に係る干渉計は、測定部46に充填
された媒体内の波長を安定化するのに使用される。この
ため、位相復調器16内で干渉する測定光束48および
基準光束50の間の干渉結果は、光学的出力ガイド18
a、18b、18c、18dを介して検知手段128に
伝達される。
された媒体内の波長を安定化するのに使用される。この
ため、位相復調器16内で干渉する測定光束48および
基準光束50の間の干渉結果は、光学的出力ガイド18
a、18b、18c、18dを介して検知手段128に
伝達される。
【0037】検知手段128によつて検知された干渉結
果は、次いで、干渉結果を表す信号を処理する電子装置
130に伝達される。電子装置130は、少なくとも2
つの信号を発生し、第1信号は、レーザ122に供給さ
れる電流強度を調節するユニツト138に伝達され、第
2信号は、レーザの温度を、例えば、ペルチエ手段によ
つて、調節するユニツト140に供給される。上記用途
において、使用するレーザユニツト122は、レーザダ
イオードから形成され、このレーザダイオードの供給電
流および温度に依存して可変の周波数で光束を発生す
る。
果は、次いで、干渉結果を表す信号を処理する電子装置
130に伝達される。電子装置130は、少なくとも2
つの信号を発生し、第1信号は、レーザ122に供給さ
れる電流強度を調節するユニツト138に伝達され、第
2信号は、レーザの温度を、例えば、ペルチエ手段によ
つて、調節するユニツト140に供給される。上記用途
において、使用するレーザユニツト122は、レーザダ
イオードから形成され、このレーザダイオードの供給電
流および温度に依存して可変の周波数で光束を発生す
る。
【0038】復調器16の干渉結果を表す信号の処理ユ
ニツト130は、このユニツトからそれぞれユニツト1
38、140に供給される信号134、136が復調器
16内で干渉する光束48、50の間の移相度を一定に
保持するのに寄与するように構成されている。上記用途
に使用した本発明に係る干渉計の場合、移相度は、測定
光学距離と基準光学距離との間の光学距離の差のみに依
存し、この差は、反射ユニツトのジオメトリおよび測定
部46に充填される媒体の屈折率のみによつて定められ
るので、所与の余弦値に対する2つの光束の間の移相度
の依存性は、上記余弦値に対する測定部46の充填媒体
の屈折率の依存性に対応する。従って、上記系によつ
て、測定部46の充填媒体と類似の媒体内で、媒体の屈
折率が変化しても、経時的に一定の波長を有する作用光
束124を供給できる。
ニツト130は、このユニツトからそれぞれユニツト1
38、140に供給される信号134、136が復調器
16内で干渉する光束48、50の間の移相度を一定に
保持するのに寄与するように構成されている。上記用途
に使用した本発明に係る干渉計の場合、移相度は、測定
光学距離と基準光学距離との間の光学距離の差のみに依
存し、この差は、反射ユニツトのジオメトリおよび測定
部46に充填される媒体の屈折率のみによつて定められ
るので、所与の余弦値に対する2つの光束の間の移相度
の依存性は、上記余弦値に対する測定部46の充填媒体
の屈折率の依存性に対応する。従って、上記系によつ
て、測定部46の充填媒体と類似の媒体内で、媒体の屈
折率が変化しても、経時的に一定の波長を有する作用光
束124を供給できる。
【図1】本出願人の先願の干渉計の図面である。
【図2】本発明に係る干渉計の第1実施例の略図であ
る。
る。
【図3】本発明の第1実施例に設ける如き反射ユニツト
の斜視図である。
の斜視図である。
【図4】本発明の第1実施例の変更例に設ける如き反射
ユニツトの下面図である。
ユニツトの下面図である。
【図5】本発明に係る干渉計の第2実施例の略図であ
る。
る。
【図6】本発明の第1、第2実施例に設ける如き位相復
調器の構造を示す略図である。
調器の構造を示す略図である。
【図7】第6図の位相復調器の機能を示すグラフであ
る。
る。
【図8】レーザダイオードから来る作用光束の波長を測
定部において安定化した、本発明に係る干渉計の使用状
態を示す図面である。
定部において安定化した、本発明に係る干渉計の使用状
態を示す図面である。
12・・・測定ガイド 14・・・基準ガイド 22;24・・・第1伝達手段 42・・・組込ユニツト 44・・・反射ユニツト 46・・・測定部 48・・・測定光束 50・・・基準光束 52・・・測定光路 56・・・基準光路 60・・・測定ミラー 70・・・基準ミラー
フロントページの続き (72)発明者 ルシアン・ファルコ スイス国 シイエイチ−2088 クレッシ・ ルドブラン・15
Claims (9)
- 【請求項1】 組込ユニツト(42;94)と、組込ユ
ニツトに対して所定方向に配列された測定ミラー(6
0;62)とを含み、測定ミラーが、測定部(46)に
隣接し、上記測定部は、上記組込ユニツトと上記測定ミ
ラーとの間に設けてあり、上記組込ユニツトは、基準ミ
ラー(70;71;100、102)に結合される基準
光路(56;90)を部分的に形成する基準ガイド(1
4)と、上記測定ミラーと結合される測定光路(52)
を部分的に形成する測定ガイド(12)とを含み、基準
光束(50; 92)および測定光束(48)がそれぞ
れ上記基準ガイドおよび上記測定ガイド内を伝播し、上
記組込ユニツトに、上記測定光路中に上記測定ガイドか
ら上記測定光束を放射させように設けられる第1伝達手
段(22;24)を備て、上記測定光束が上記測定部内
を伝播できるようにし、上記第1伝達手段によつて上記
測定ガイドに少なくとも部分的に再び入射させることが
できる干渉計であって、上記測定ミラー(60; 6
2)および上記基準ミラー(70;71;100、10
2)が、上記基準光束(50;92)および上記測定光
束(48)の一体とされた反射手段(44;78;9
6)を形成することを特徴とする干渉計。 - 【請求項2】 上記組込ユニツト(42;94)が、上
記測定ガイド(12)および上記基準ガイド(14)と
結合された入力位相復調器(16)を含み、これら2つ
のガイドが、実質的に同一の物理的性質および長さを有
するとともに、上記組込ユニツトが、基準光路(56;
90)に設置された第2伝達手段(54;86;88)
を含み、その第2伝達手段で上記基準ガイド(14)か
ら上記基準光束(50;92)を放射させてその基準光
束を上記測定部(46)内を伝播させるようにし、かつ
上記第2伝達手段によつて上記基準ガイドに少なくとも
部分的に再び入射させることができるようにする一方、
上記測定光束(48)のために上記第1伝達手段(2
2、24)によつて形成された光学距離と上記基準光束
(50;92)のために上記第2伝達手段によって形成
された光学距離とが実質的に同一であことを特徴とする
請求項1の干渉計。 - 【請求項3】 上記反射ユニツト(44;78;96)
が、上記測定光束(48)を反射するための第1、第2
反射側面(60、62)を含む一つのブロツクから形成
され、上記第1、第2面が、実質的に90°に等しい交
差角を有し第1交差線(68)を形成する第1、第2平
面を限定し、上記第1伝達手段が、上記測定光路(5
2)に設置された実質的に同一の第1、第2レンズ(2
2および24)によつて形成され、上記第1レンズが、
上記組込ユニツト(42;94)から出た測定光束(4
8)を平行にする一方、上記第2レンズが、上記反射ユ
ニツト(44;78;96)で反射された後に上記組込
ユニツトに入射する測定光束の焦点合わせに役立つこと
を特徴とする請求項2の干渉計。 - 【請求項4】 上記第2伝達手段が第3レンズ(54)
によつて形成され、上記反射ユニツト(44;78)が
第3平面となり上記基準光束(50)を反射する第3反
射側面(70;71)を有し、上記第3平面が、実質的
に上記第1、第2平面(64、66)の各々と45°交
差して上記第3レンズの光軸と90°の角度となるよう
に配列方向を定めることを特徴とする請求項3の干渉
計。 - 【請求項5】 上記第3面(70)が、上記第3平面に
平行であり上記第1交差線(68)を含む第4平面(7
4)に対して上記第1、第2面(60、62)と同じ側
にあることを特徴とする請求項4の干渉計。 - 【請求項6】 上記第3面(71)が、上記第3平面
(80)に平行であり上記第1交差線(68)を含む第
4平面(74)に対して上記第1、第2面(60、6
2)とは逆の側にあることを特徴とする請求項4の干渉
計。 - 【請求項7】 上記反射ユニツト(96)が、90°で
交差して第2交差線(104)を形成する第3、第4反
射側面(100)を含み、上記第3、第4面が、それぞ
れ、上記反射ユニツト(96)の上記第1、第2面(6
0、62)に平行であり、上記第2交差線が、上記第1
交差線(68)から離れており、上記第2伝達手段が、
上記基準光路(90)に配置され実質的に上記第1レン
ズ(22)と同一の第3、第4レンズ(86、88)に
よつて形成され、上記第3レンズ(86)が、上記組込
ユニツト(94)から出た上記基準光束(92)の平行
化に役立ち、一方、上記第4レンズ(88)が、上記反
射ユニツト(96)から反射された後に組込ユニツトに
入射する際に上記光束の焦点合わせに役立つことを特徴
とする請求項3の干渉計。 - 【請求項8】 請求項1〜6の1つに記載の干渉計であ
つて、上記測定部(46)に充填した媒体中の作用光束
(124)の波長の安定化に役立つものにおいて、上記
測定光束(48)および基準光束(50)が、制御光束
(126)から得られ、この制御光束および上記作用光
束が、上記干渉計に配した同じ光源(122)からえら
れる干渉計において、その干渉計が、更に、上記測定部
(46)に充填された上記媒体の屈折率の変化に依存し
て上記光源の放射周波数を調節する安定化手段(12
8、130、138、140)に結合されていることを
特徴とする干渉計。 - 【請求項9】 上記光源(122)が、レーザタイオー
ドであり、上記安定化手段(128、130、138、
140)が、上記媒体中で上記波長の数値を経時的に一
定に保持するため上記レーザダイオード(122)の供
給電流および温度を調節する手段(130)を含むこと
を特徴とする請求項8の干渉計。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR9212121 | 1992-10-06 | ||
| FR9212121A FR2696545B1 (fr) | 1992-10-06 | 1992-10-06 | Interféromètre comprenant un ensemble intégré et une unité réfléchissante séparés l'un de l'autre par une région de mesure. |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06201320A true JPH06201320A (ja) | 1994-07-19 |
Family
ID=9434399
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5272991A Pending JPH06201320A (ja) | 1992-10-06 | 1993-10-06 | 測定部によつて相互に分離された組込ユニツトおよび反射ユニツトを有する干渉計 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0591911B1 (ja) |
| JP (1) | JPH06201320A (ja) |
| AT (1) | ATE152237T1 (ja) |
| DE (1) | DE69310071T2 (ja) |
| FR (1) | FR2696545B1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2642124C2 (ru) * | 2013-01-18 | 2018-01-24 | Зе Боинг Компани | Волоконная стабилизация разности оптических длин пути в широком частотном диапазоне в течение длительных периодов времени |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB9320500D0 (en) * | 1993-10-05 | 1993-11-24 | Rensihaw Plc | Interferometric distance measuring apparatus |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3820902A (en) * | 1972-04-11 | 1974-06-28 | Asahi Optical Co Ltd | Measuring method and apparatus which compensate for abbe s error |
| DE3837593A1 (de) * | 1988-11-05 | 1990-05-10 | Kerner Anna | Wellenlaengenstabilisierung |
| DE3901592A1 (de) * | 1989-01-20 | 1990-07-26 | Kerner Anna | Interferenz-refraktometer |
| AT392537B (de) * | 1989-03-21 | 1991-04-25 | Tabarelli Werner | Interferometeranordnung, insbesondere zur entfernungs- bzw. verschiebewegbestimmung eines beweglichen bauteiles |
| DE8907250U1 (de) * | 1989-06-14 | 1989-08-10 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Laserinterferometer - Refraktometer |
-
1992
- 1992-10-06 FR FR9212121A patent/FR2696545B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
1993
- 1993-10-05 AT AT93116051T patent/ATE152237T1/de not_active IP Right Cessation
- 1993-10-05 EP EP93116051A patent/EP0591911B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 1993-10-05 DE DE69310071T patent/DE69310071T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1993-10-06 JP JP5272991A patent/JPH06201320A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2642124C2 (ru) * | 2013-01-18 | 2018-01-24 | Зе Боинг Компани | Волоконная стабилизация разности оптических длин пути в широком частотном диапазоне в течение длительных периодов времени |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2696545A1 (fr) | 1994-04-08 |
| EP0591911A2 (fr) | 1994-04-13 |
| FR2696545B1 (fr) | 1994-12-30 |
| DE69310071T2 (de) | 1997-11-20 |
| EP0591911A3 (ja) | 1994-04-27 |
| EP0591911B1 (fr) | 1997-04-23 |
| DE69310071D1 (de) | 1997-05-28 |
| ATE152237T1 (de) | 1997-05-15 |
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