JPH06174844A

JPH06174844A - レーザ測距装置

Info

Publication number: JPH06174844A
Application number: JP4325807A
Authority: JP
Inventors: Tatsuya Morioka; 達也森岡; Atsushi Shimonaka; 淳下中; Mototaka Tanetani; 元隆種谷; Haruhisa Takiguchi; 治久瀧口
Original assignee: Sharp Corp
Current assignee: Sharp Corp
Priority date: 1992-12-04
Filing date: 1992-12-04
Publication date: 1994-06-24
Anticipated expiration: 2014-05-24
Also published as: JP2895693B2

Abstract

(57)【要約】（修正有）【目的】環境温度変化による測定誤差を防ぐことがで
き、光学部品の削減ができ、一体化・小型化でき、光学
調整が容易で、測定精度の高いレーザ測距装置を提供す
る。【構成】周波数が周期的に変調されているレーザ１０
１からの出射光を光分割合成手段１０３によって参照光
１及び２、測定光３及び４とに分割する。そして、測定
光４を測定対象物１０８に照射して反射させ、参照光１
を反射体１０４によって反射させて、両者からビート信
号を得る。また、測定光３を反射体１０５（光学的距離
既知）によって反射させ、参照光２を反射体１０４によ
って反射させて、各光の光路差によりビート信号を得
る。各組の光は再度ビームスプリッター１０３を通って
合成され、光検出器１０６に入射される。基準光学系に
より周波数変調量の変化によって生じる誤差を防ぐ。光
学部品の共通使用により小型化および部品点数の削減が
可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明はＦＡ（ファクトリーオー
トメーション）などに用いられるレーザ測距装置に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】従来、レーザ測距方法として、周波数を
周期的に変調したレーザ光を測定光と参照光とに分割
し、各々の光を測定対象物と光学的距離が既知であるよ
うに置かれた反射体とに照射して、得られる反射光をコ
ヒーレントヘテロダイン検波して測定対象物までの距離
を測定する方法が知られている。上記のようなレーザ測
距方法においては、測定対象物に照射される測定光と上
記反射体に照射される参照光との光路差によって生じる
周波数差からビート信号が得られ、このビート信号から
測定対象物までの離隔距離を算出することができる。

【０００３】上記のようなレーザ測距方法に用いられる
レーザ測距装置の基本的構成と原理とを図９に示す。こ
のレーザ測距装置においては、レーザ光の周波数を周期
的に三角波状または鋸波状にＦＭ変調させて出射させる
レーザ９０１が設けられている。このように周波数を変
調させる方法としては、例えば、半導体レーザへの電流
注入量を変化させることにより、生じる発振波長を変化
させる方法などが用いられる。このレーザ９０１から出
射される、周波数が周期的に変調されたレーザ光は、コ
リメータレンズ９０２を通して平行光とされ、ビームス
プリッタ９０３を介して分割される。一方は参照光とし
て光学的距離が既知であるように置かれた反射体９０４
によって反射され、他方は測定光として測定対象物９０
７に照射されて反射または散乱される。各々の光は、再
びビームスプリッター９０３により合成されて光検出器
９０５上に入射されて、コヒーレントヘテロダイン検波
される。この時、光検出器９０５には干渉縞が生じ、測
定光と参照光との光路差による周波数差に応じて干渉縞
は時間変動する。そして、光検出器９０５の出力として
ビート信号が出力される。このビート信号はカウンター
９０６により計測される。

【０００４】上記ビート信号の周波数は下記式（１）で
与えられる。

【０００５】

【数１】

【０００６】ここで、ｆｂはビート信号周波数、τは測
定光と参照光との時間遅れ、ｆｍは変調周波数、Δν
（ＧＨｚ／ｍＡ）はレーザの周波数変調量、Ｒは参照光
の光路長、Ｌは測定対象物までの離隔距離、ｃは光速で
ある。

【０００７】また、レーザの周波数掃引の時間間隔Ｔ
（＝１／ｆｍ）中に生じるビート信号の位相変位（積分
値）は下記式（２）で与えられる。

【０００８】

【数２】

【０００９】ここで、ビート信号の波数Ｎ＝（φ／２
π）とおくことができるので、下記式（３）が得られ
る。

【００１０】

【数３】

【００１１】よって、ビート信号の波数および波数の位
相変化量を測定することにより、測距情報が得られる。

【００１２】上記のレーザ測距方法においては、測定の
ダイナミックレンジが広く、測定精度が高いという利点
がある。

【００１３】上記のレーザ測距方法において、図９に示
すようなレーザ測距装置を用いた場合には、測距精度を
高めるためにレーザの周波数変調量Δνが一定となるよ
うに高精度に制御する必要がある。しかし、実際には、
レーザの周波数変調量Δνは周囲の温度変化などにより
変化するため、測定誤差の原因となっていた。

【００１４】この周波数変調量による測定誤差を防ぐた
めに、特開昭６１−２２３５７７号公報（レーザ光線を
利用した測距方法小林喬郎）および電子情報通信学会
技術研究報告会（ＯＱＥ８７−１５３，半導体レーザ
によるＦＭヘテロダイン測長器小林喬郎他）におい
て、図１０に示すようなレーザ測距装置が提案されてい
る。

【００１５】このレーザ測距装置において、レーザ１０
０１から出射されるレーザ光は、コリメータレンズ１０
０２を通して平行光にされ、ビームスプリッタ１００３
を介して分割される。一方は基準光として安定な基準と
なる光路差を有する基準光学系に入射される。この基準
光学系には、入射光を参照光と測定光とに分割するビー
ムスプリッター１００７が設けられており、各々の光は
光学距離が既知であるように置かれた反射体１００８、
１００９で反射される。そして、各々の光は、再びビー
ムスプリッター１００７で合成され光検出器１０１０上
に入射されて、ビート信号が得られる。ビームスプリッ
ター１００３で分割された他方の光は、測距光学系に入
射される。測距光学系も基準光学系と同様の構成となっ
ている。入射光はビームスプリッター１００４によって
分割され、参照光は光学距離が既知であるように置かれ
た反射体１００５に反射され、測定光は測定対象物１０
０６によって反射または散乱される。そして、各々の光
は再びビームスプリッター１００４によって合成され、
光検出器１０１１上に入射されて、ビート信号が得られ
る。各々の光検出器１０１０、１０１１から得られるビ
ート信号はアンプ１０１２で増幅され、カウンター１０
１３で計測されて、コンピューター１０１４により測定
対象物までの距離が計算される。

【００１６】上記のようなレーザ測距装置を用いたレー
ザ測距方法においては、測定対象物までの距離Ｌは、下
記式（４）で与えられる。

【００１７】

【数４】

【００１８】ここで、Ｎｓは測距光学系で得られたビー
ト信号の波数、Ｎｒは基準光学系で得られたビート信号
の波数、Ｒｒは基準光学系の参照光の光路長、Ｌｒは基
準光学系の測定光の光路長である。

【００１９】上記式（４）から理解されるように、上記
のような基準光学系を設けたレーザ測距装置において
は、測定対象物までの距離Ｌの計算値はレーザの周波数
変調量Δνにより影響されることはない。よって、周波
数変調量による誤差が生じない測定精度の高いレーザ測
距装置が得られる。

【００２０】

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記のような
レーザ測距装置においては、測距光学系に加えて基準光
学系を設けているために、従来のレーザ測距装置に比べ
て装置の大きさが２倍になってしまい、小型化が困難で
ある。また、ビームスプリッター、反射体などの部品点
数が増えるためにコストアップし、また光学部品におけ
る光学調整の必要も増大して調整が困難になるという問
題点が生じていた。

【００２１】本発明は上記問題点を解決するためになさ
れたものであり、その目的は、光学部品の削減ができ、
一体化・小型化でき、光学調整が容易で、測定精度の高
いレーザ測距装置を提供することである。

【００２２】

【課題を解決するための手段】本発明のレーザ測距装置
は、周波数を周期的に変調したレーザ光を出射する光源
と、該光源から出射されたレーザ光を基準光学系用測定
光および参照光と測距光学系用測定光および参照光とに
分割し、測距光学系用測定光を測定対象物に向けて出射
し、再び戻ってきた測距光学系用測定光と参照光とを合
成する光分割合成手段と、該光分割合成手段から出射さ
れた基準光学系用測定光の光路上に、該光分割合成手段
からの光学的距離を既知に設けた１または２以上の基準
光学系用反射体と、該光分割合成手段から出射された測
距光学系用参照光および基準光学系用参照光の光路上
に、外光分割合成手段からの光学的距離を既知に設けた
１または２以上の参照光用反射体と、該光分割手段によ
り合成された光を受光し、受光した光に基づいて該測定
対象物までの離隔距離を検出する検出器と、を有し、そ
のことにより上記目的が達成される。

【００２３】前記基準光学系用反射体が、前記光分割合
成手段に対して光学的距離を各々異ならせ、かつ、間に
光学媒体を介して複数設けられ、各光学媒体がその熱膨
張率を異ならせたものからなっていてもよい。

【００２４】前記基準光学系用反射体および参照光用反
射体の内の一部または全部が、前記光分割合成手段の外
表面に直接または間に光学媒体を介して貼着されていて
もよい。

【００２５】

【作用】本発明のレーザ測距装置には、基準光学系用反
射体が基準光学系用測定光の光路上に設けられている。
基準光学系が設けられているので、周波数変調量の変化
によって生じる誤差を防ぐことができる。そして、基準
光学系と測距光学系とにおいて光学部品を共有し、また
は、同一光学部品の各部分を使用している。このため、
装置の小型化および部品点数の削減が可能となる。ま
た、光分割合成手段に各反射体を一体化させることもで
き、光学部品の調整が容易となる。さらに、複数の基準
光学系用反射体を設けて、各々の基準光学系用反射体か
ら光分割合成手段までの光学的距離および光学媒体の熱
膨張量を異なるものとすることができる。よって、各光
学部品の熱膨張量を補正して、さらに測定精度の高いレ
ーザ測距装置とすることができる。

【００２６】

【実施例】以下に、本発明の実施例について図面を参照
しながら説明する。

【００２７】（実施例１）図１（ａ）に、本発明のレー
ザ測距装置の一実施例を示す。

【００２８】このレーザ測距装置は、レーザ１０１の注
入電流を三角波状または鋸波状に駆動することにより、
レーザ光の周波数を三角波状または鋸波状に変調させて
いる。このレーザ光をコリメータレンズ１０２を通して
平行光とし、マイケルソン干渉系の光学系に導く。そし
て、このレーザ光はビームスプリッタ１０３により測距
光学系用測定光および参照光と、基準光学系用測定光お
よび参照光とに分割される。

【００２９】測距光学系用測定光（光線４）は、測定対
象物１０８に照射されて反射または散乱され、測距光学
系用参照光（光線１）は、光学的距離が既知であるよう
に置かれた反射体１０４に反射されて、各光は再度ビー
ムスプリッター１０３を通って合成され、光検出器１０
６上に入射される。

【００３０】基準光学系用測定光（光線３）は、光学的
距離が既知であるように置かれた反射体１０５に反射さ
れ、基準光学系用参照光（光線２）は、光学的距離が既
知であるように置かれた反射体１０４に反射されて、各
光は再度ビームスプリッター１０３を通って合成され、
光検出器１０６によって受光される。

【００３１】光検出器１０６では、光線４と光線１との
光路差から周波数差が生じて図１（ｂ）に示すようなビ
ート信号（ｆ２）が検出され、光線２と光線３との光路
差から周波数差が生じてビート信号（ｆ１）が検出され
る。この２つのビート信号から、上記式（４）を用いて
測定対象物までの離隔距離を算出する。

【００３２】この実施例においては、基準光学系と測距
光学系とが設けられているので、周波数変調量の変化に
よって生じる誤差を防ぐことができる。また、基準光学
系用反射体と測距光学系用反射体として反射体１０４を
共有し、光分割合成手段としてビームスプリッター１０
３の各部分を使用しているので、小型化および部品点数
の削減が可能である。

【００３３】（実施例２）図２に、本発明のレーザ測距
装置の他の実施例を示す。

【００３４】このレーザ測距装置には、ビームスプリッ
ター２０３の端面に測距光学系用参照光（光線１）およ
び基準光学系用参照光（光線２）を反射させる反射体と
なる反射鏡２０４が設けられている。また、ビームスプ
リッター２０３の他の端面には、基準光学系用測定光
（光線３）を反射させる反射鏡２０５を備えた光学媒体
２０６が張り合わせられ、または一体化されている。そ
の他の構成は実施例１と同様なものとすることができ
る。

【００３５】本実施例においては、光分割合成手段であ
るビームスプリッターに各反射体を一体化させているの
で、光学部品の調整が容易である。

【００３６】上記反射体としては、反射鏡２０４、２０
５に限られず、コーナキューブ鏡や三角プリズムなどを
用いてもよい。その場合には、反射鏡に要求される微妙
な角度調整が不要であるため、さらに光学部品の調整が
容易となる。

【００３７】（実施例３）図３に、本発明のレーザ測距
装置の他の実施例を示す。

【００３８】このレーザ測距装置においては、ビームス
プリッター３０３の端面に測距光学系用参照光（光線
１）および基準光学系用参照光（光線２）を反射させる
反射体３０４、３０４を備えた光学媒体３０６が張り合
わせられ、または一体化されている。反射体３０４、３
０４は、基準光学系および測距光学系に光路差が生じる
ように、位置を異ならせて設けられている。また、ビー
ムスプリッター３０３の他の端面には、基準光学系用測
定光（光線３）を反射させる反射体３０５が設けられて
いる。その他の構成は実施例１と同様なものとすること
ができる。

【００３９】本実施例においては、実施例２と同様に、
光分割合成手段であるビームスプリッターに各反射体を
一体化させているので、光学部品の調整が容易となる。

【００４０】（実施例４）図４に、本発明のレーザ測距
装置の他の実施例を示す。

【００４１】このレーザ測距装置においては、光分割合
成手段として三角プリズム４０３が設けられている。こ
の三角プリズム４０３には、斜面に入射光を任意の分割
比で分割するような単層膜または多層膜４０７が形成さ
れている。そして、三角プリズム４０３の端面に測距光
学系用参照光（光線１）および基準光学系用参照光（光
線２）を反射させる反射体４０４が設けられている。ま
た、三角プリズム４０３の斜面には、基準光学系用測定
光を反射させる反射体４０５を備えた光学媒体４０６が
張り合わせられ、または一体化されている。その他の構
成は実施例１と同様なものとすることができる。

【００４２】本実施例においては、光分割合成手段とし
て三角プリズムを用いているので、立方体のビームスプ
リッターを用いた時に生じるような、ビームスプリッタ
ーの平行な２組の端面による内部多重反射が生じない。
よって、多重ビート信号による測定誤差が生じず、さら
に測定精度を高めることができる。

【００４３】（実施例５）図５に、本発明のレーザ測距
装置の他の実施例を示す。

【００４４】このレーザ測距装置においては、光分割合
成手段として偏光ビームスプリッター５０３が設けられ
ている。この偏光ビームスプリッター５０３には、端面
にλ／４偏光板５０４、５０５が設けられている。そし
て、偏光ビームスプリッター５０３によって適切な分割
比で分割されるようにレーザ光の偏光面が調節されて、
偏光ビームスプリッター５０３に入射される。

【００４５】偏光ビームスプリッター５０３によって反
射された測距光学系用参照光（光線１）および基準光学
系用参照光（光線２）はＰ波に偏光されている。Ｐ波に
偏光された各光はλ／４偏光板５０４を透過して円偏光
となり、反射体５０６によって反射される。反射された
各光はλ／４偏光板５０４を再び透過してＳ波に偏光さ
れ、ビームスプリッター５０３を透過する。

【００４６】偏光ビームスプリッター５０３を透過した
測距光学系用測定光（光線４）および基準光学系用測定
光（光線３）はＳ波に偏光されており、λ／４偏光板５
０５を透過して円偏光となる。光線４は測定対象物５１
２によって反射され、光線３は反射体５０７によって反
射される。反射された各光はλ／４偏光板５０５を再び
透過してＰ波に偏光され、ビームスプリッター５０３に
よって反射される。

【００４７】各々の光をλ／４偏光板５０９によって円
偏光とし、光検出器５１０によって受光される。光検出
器５１０では、光線４と光線１との光路差から周波数差
が生じてビート信号が検出され、光線２と光線３との光
路差から周波数差が生じてビート信号が検出される。こ
の２つのビート信号から、上記式（４）を用いて測定対
象物までの離隔距離を算出する。

【００４８】この実施例においては、光分割合成手段と
して偏光ビームスプリッターを用いているので、無偏光
ビームスプリッターを用いた時のように、測定光の反射
光がビームスプリッターにより９０度反射される時に透
過光として損失されることがない。また、参照光の反射
光がビームスプリッターを透過する時に９０度反射光と
して損失されることがない。このため、レーザ光の強度
の有効利用を図ることができる。

【００４９】（実施例６）図６（ａ）に、本発明のレー
ザ測距装置の他の実施例を示す。

【００５０】このレーザ測距装置においては、ビームス
プリッター６０３の端面に測距光学系用参照光（光線
１）および基準光学系用参照光（光線２）を反射させる
反射体となる反射鏡６０４が設けられている。また、ビ
ームスプリッター６０３の他の端面には、基準光学系用
測定光（光線３）を反射させる反射鏡６０５を備えた光
学媒体６０６が張り合わせられ、または一体化されてい
る。その他の構成は実施例１と同様なものとすることが
できる。

【００５１】半導体レーザの遠視野像は、通常、楕円の
光強度分布を有しており、Ｎ．Ａ（Numerical Aperture
開口数）の大きいコリメーターレンズを用いて平行光
にすると、図６（ｂ）に示すような光強度分布となる。
通常は、この楕円上の光強度の強い部分をプリズムレン
ズなどによりビーム整形して、一様な光強度の平行光を
得ている。この実施例においては、図６（ｂ）に示す光
強度の弱い部分を基準光学系用に使用できるように、図
６（ｃ）に示すような反射体６０５を設けている。この
ことにより、光の有効利用が図れ、プリズムレンズなど
の部品点数の削減が可能となる。この方法においては基
準光学系用として光強度の弱い部分を用いているので、
光強度が弱いという問題点が考えられる。しかし、この
実施例においては、光学媒体６０６までの光学的距離を
短くし、さらに、反射体６０５として全反射体を用いて
散乱による損失を防いでいる。このため、ビート信号を
得るのに充分な光量を得ることができる。

【００５２】（実施例７）図７（ａ）に、本発明のレー
ザ測距装置の他の実施例を示す。

【００５３】このレーザ測距装置においては、ビームス
プリッター７０３の端面に測距光学系用参照光（光線
２）および２つの基準光学系用参照光（光線１および光
線３）を反射させる反射体となる反射鏡７０４が設けら
れている。また、ビームスプリッター７０３の他の端面
には、１つの基準光学系用測定光（光線４）を反射させ
る反射鏡７０５ａを備えた光学媒体７０６と、他の基準
光学系用測定光（光線６）を反射させる反射鏡７０５ｂ
を備えた光学媒体７０７とが張り合わせられ、または一
体化されている。光学媒体７０６と７０７とは、それぞ
れ、熱膨張率が異なるものを用いている。また、反射鏡
７０５ａ、７０５ｂまでの光学的距離は異なるようにさ
れている。その他の構成は、実施例１と同様なものとす
ることができる。

【００５４】光検出器７０８では、光線５と光線２との
光路差から周波数差が生じて図７（ｂ）に示すようなビ
ート信号（ｆ３）が検出され、光線３と光線４との光路
差から周波数差が生じてビート信号（ｆ１）が検出さ
れ、光線１と光線６との周波数差からビート信号（ｆ
２）が検出される。この２つのビート信号の周波数の比
ｆ１／ｆ２は、２つの基準光学系の光学的距離によって
決まり、レーザの周波数変調量Δνには影響されない。

【００５５】この実施例においては、光学媒体７０６、
７０７として熱膨張率の異なるものを用いている。よっ
て、レーザ測距装置の環境温度が変化して光学部品が熱
膨張した場合に、ビート信号周波数比ｆ１／ｆ２は、図
６（ｃ）に示すように変化する。このビート信号周波数
比ｆ１／ｆ２から各光学媒体７０６、７０７の熱膨張量
を算出して、熱膨張量を補正することができる。このた
め、レーザ測距装置の環境温度に影響されることがな
く、さらに測定精度の高いレーザ測距装置とすることが
できる。

【００５６】（実施例８）図８に、本発明のレーザ測距
装置の他の実施例を示す。

【００５７】このレーザ測距装置においては、測距光学
系用測定光（光線４）および参照光（光線１）をコヒー
レントヘテロダイン検波する光検出器８０８およびカウ
ンター８１１と、基準光学系用測定光（光線３）および
参照光（光線２）をコヒーレントヘテロダイン検波する
光検出器８０９およびカウンター８１２とが別に設けら
れている。その他の構成は実施例４と同様なものとする
ことができる。

【００５８】この実施例においては、２つの光検出器で
各々のビート信号を検出し、２つのカウンターで各々の
ビート信号の周波数を検出することができるので、高価
な周波数測定器を用いる必要がなく、装置の低価格化を
図ることができる。

【００５９】

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
のレーザ測距装置においては、基準光学系が設けられて
いるので、レーザ測距装置の環境温度の変化などによる
周波数変調量Δνの変化量による誤差を防ぐことができ
る。基準光学系と測距光学系とにおいて反射体や光分割
合成手段などの光学部品を共有し、同一光学部品の各部
分を使用することにより、小型化および部品点数の削減
が可能となり、光学部品の調整も容易となる。また、従
来のレーザ測距装置では、基準光学系および測距光学系
に光を分割しているために光分割合成手段による光の損
失が大きかったが、その損失を防ぐこともできる。本発
明のレーザ測距装置においては、測距光学系用測定光と
基準光学系用測定光との比を任意のビーム面積で調整す
ることができるので、基準光学系に比べて測距光学系の
測定光出力を大きくして、測定可能な距離および測定精
度を向上させることができる。さらに、複数の基準光学
系を設け、各々の基準光学系における光学的距離および
光学媒体の熱膨張量を異なるものとすることにより、各
光学部品の熱膨張量を補正することができ、さらに測定
精度の高いレーザ測距装置が得ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明のレーザ測距装置の一実施例を示す図で
ある。

【図２】本発明のレーザ測距装置の他の実施例を示す図
である。

【図３】本発明のレーザ測距装置の他の実施例を示す図
である。

【図４】本発明のレーザ測距装置の他の実施例を示す図
である。

【図５】本発明のレーザ測距装置の他の実施例を示す図
である。

【図６】本発明のレーザ測距装置の他の実施例を示す図
である。

【図７】本発明のレーザ測距装置の他の実施例を示す図
である。

【図８】本発明のレーザ測距装置の他の実施例を示す図
である。

【図９】レーザ測距装置の基本構成を示す図である。

【図１０】従来のレーザ測距装置を示す図である。

【符号の説明】

１０１、２０１、３０１、４０１、５０１、６０１、７
０１、８０１レーザ１０２、２０２、３０２、４０２、５０２、６０２、７
０２、８０２コリメーターレンズ１０３、２０３、３０３、４０３、５０３、６０３、７
０３、８０３光学分割合成手段１０４、１０５、２０４、２０５、３０４、３０５、４
０４、４０５、５０６、５０７、６０４、６０５、７０
４、７０５、８０４、８０５反射体１０６、２０７、３０７、４０８、５１０、６０７、７
０８、８０８、８０９光検出器１０７、２０８、３０８、４０９、５１１、６０８、７
０９、８１１、８１２カウンター１０８、２０９、３０９、４１０、５１２、６０９、７
１０、８１０測定対象物２０６、３０６、４０６、５０８、６０６、７０６、７
０７、８０６光学媒体４０７、８０７多層膜（単層膜）５０４、５０５、５０９ λ／４偏光板

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者瀧口治久大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号シャープ株式会社内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】周波数を周期的に変調したレーザ光を出
射する光源と、該光源から出射されたレーザ光を基準光学系用測定光お
よび参照光と測距光学系用測定光および参照光とに分割
し、測距光学系用測定光を測定対象物に向けて出射し、
再び戻ってきた測距光学系用測定光と参照光とを合成す
る光分割合成手段と、該光分割合成手段から出射された基準光学系用測定光の
光路上に、該光分割合成手段からの光学的距離を既知に
設けた、１または２以上の基準光学系用反射体と、該光分割合成手段から出射された測距光学系用参照光お
よび基準光学系用参照光の光路上に、外光分割合成手段
からの光学的距離を既知に設けた１または２以上の参照
光用反射体と、該光分割手段により合成された光を受光し、受光した光
に基づいて該測定対象物までの離隔距離を検出する検出
器と、を有するレーザ測距装置。
【請求項２】前記基準光学系用反射体が前記光分割合
成手段に対して光学的距離を各々異ならせ、かつ、間に
光学媒体を介して複数設けられ、各光学媒体がその熱膨
張率を異ならせたものからなる請求項１に記載のレーザ
測距装置。
【請求項３】前記基準光学系用反射体および参照光用
反射体の内の一部または全部が、前記光分割合成手段の
外表面に直接または間に光学媒体を介して貼着されてい
る請求項１に記載のレーザ測距装置。