JPH0620194B2 - 交信試験装置の擬似伝送遅延信号発生回路 - Google Patents

交信試験装置の擬似伝送遅延信号発生回路

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JPH0620194B2
JPH0620194B2 JP59100513A JP10051384A JPH0620194B2 JP H0620194 B2 JPH0620194 B2 JP H0620194B2 JP 59100513 A JP59100513 A JP 59100513A JP 10051384 A JP10051384 A JP 10051384A JP H0620194 B2 JPH0620194 B2 JP H0620194B2
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JP
Japan
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signal
circuit
echo
communication
delay
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JP59100513A
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Inventor
昭雄 多々良
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L1/00Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
    • H04L1/24Testing correct operation
    • H04L1/242Testing correct operation by comparing a transmitted test signal with a locally generated replica
    • H04L1/243Testing correct operation by comparing a transmitted test signal with a locally generated replica at the transmitter, using a loop-back

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Facsimiles In General (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明はファクシミリ装置等の通信装置の交信試験装置
における交信特許評価用の交信擬似信号発生回路に係
り,特に伝送路による信号の遅延および減衰をともなう
エコー信号を擬似的に発生させるに好適な交信試験装置
の擬似伝送遅延信号発生回路に関する。
〔発明の背景〕
従来からファクシミリ装置等の通信装置において,伝送
路の伝送特性により主信号に対する時間遅れ信号(エコ
ー信号と称する)が発生し,交信品質に影響を与えて交
信不良等をまねくことが知られている。このため通信装
置の交信機能を評価する交信試験装置において,ある装
置のエコー信号に対する動作試験を行なう場合,エコー
信号を発生させるのに十分に長い伝送路を必要としてい
た。
しかしながら,このような従来技術には,1つは主信号
に対するエコー信号の遅延時間および減衰量が伝送路固
有の不確定要因により正確に設定できず,2つは十分に
長い伝送路を準備し調整するのに多大の時間と費用を必
要とするなどの欠点があった。
〔発明の目的〕
本発明の目的は上記した従来技術の欠点をなくし,主信
号に対する正確な遅延時間および減衰量をもつエコー信
号を安価に発生できる交信試験装置の擬似伝送遅延信号
発生回路を提供するにある。
〔発明の概要〕
本発明は,モデム制御回路とモデムからなる交信回路を
中央演算処理部に接続して構成する交信擬似信号発生回
路において,上記交信回路を2系列用意し,該2系列の
交信回路を並列同等に中央演算処理部に接続するととも
に,上記1系列の交信回路の出力から信号遅延回路と信
号減衰回路を通してエコー信号を発生し,上記他系列の
交信回路の出力の主信号と上記エコー信号を信号合成回
路を通して擬似伝送遅延信号を正確かつ安価に発生可能
にした交信試験装置の擬似伝送遅延信号発生回路であ
る。
〔発明の実施例〕
以下に本発明の一実施例を第1図ないし第5図により説
明する。
第1図は本発明による交信試験装置の擬似伝送遅延信号
発生回路の一実施例を示す全体構成ブロック図である。
第1図において,制御プログラム記憶部2を有する中央
演算処理部1に,それぞれ同等のモデム制御回路3a,
3bとモデム4a,4bで構成される2系列のメイン用
交信回路7とエコー用交信回路8が並列同等に接続さ
れ,中央演算処理部1により設定される変調条件に従っ
て機能可能である。1系列のエコー用交信回路8の出力
には,信号遅延回路5と信号減衰回路6が直列に接続さ
れ,これらによりエコー発生回路10が構成され,信号
遅延回路5と信号減衰回路6は中央演算処理部1により
それぞれ設定される遅延時間と減衰量に応じて機能す
る。他系列のメイン用交信回路7の出力とエコー発生回
路10の出力は,2入力の信号合成回路9に接続され,
これによりメイン用交信回路7の出力信号の主信号とエ
コー発生回路10の出力信号のエコー信号が重ね合され
て1つの擬似伝送遅延信号が出力される。
次に第2図は第1図の中央演算処理部1による初期設定
フロー図,第3図ないし第5図は第1図のそれぞれ信号
遅延回路5,信号減衰回路6,信号合成回路9の入出力
信号波系図である。これらにより上記構成の第1図の動
作を説明する。まず制御プログラム記憶部2に記載され
た制御プログラムに従い,第2図に示すように,中央演
算処理部1により信号遅延回路5に信号遅延時間tを設
定し,その内容を次のデータ設定まで保持させ,ついで
中央演算処理部1により信号減衰回路6に信号減衰量を
設定して,その内容を次のデータ設定まで保持させ,つ
いで中央演算処理部1により2系列のメイン用交信回路
7とエコー用交信回路8にそれぞれモデム制御回路3
a,3bを通してモデム4a,4bの必要パラメータの
変調速度と変調方式の変調条件が並列同等に設定する。
その後に中央演算処理部1より送出される例えば8ビッ
ト並列データ列のアドレス信号がそれぞれのモデム制御
回路3a,3bを介してデコードされてモデム4a,4
bに与えられ,これによりモデム4a,4bにおいて初
期に中央演算処理部1により設定された変調条件に従い
並列同等の搬送波が変調される結果,2系列のメイン用
交信回路7とエコー用交信回路8からそれぞれ第5図,
第3図に実線で示すような並列同等の変調されたアログ
信号(主信号)7B,8Bが出力される。ついで1系列
のエコー用交信回路8からのアナログ信号8Bは信号遅
延回路5に入力され,ここにおいて初期に中央演算処理
部1により設定された遅延時間tだけ遅延される結果,
第3図に破線で示すような遅延されたアナログ信号5B
が出力される。ついで信号遅延回路5からのアナログ信
号5Bは次段の信号減衰回路6に入力され,ここにおい
て初期に中央演算処理部1により設定された減衰量(減
衰率α)だけ減衰される結果,エコー発生回路10から
第4図に1点鎖線で示すような減衰されたアナログ信号
(エコー信号)10Bが出力される。ついで他系列のメ
イン用交信回路7からのアナログ信号(主信号)7Bと
エコー発生回路10からのアナログ信号(エコー信号)1
0Bの2信号が信号合成回路9に入力され,ここにおい
て2信号が重ね合されて第5図に破線で示すような擬似
伝送遅延信号9Bが出力される。このようにしてアナロ
グ信号(主信号)7Bに対し初期設定された遅延時間t
と減衰量(減衰率α)をもつアナログ信号(エコー信
号)10Bが重ね合され,通信装置の伝送路において遅
延し減衰されるエコー信号を重ね合せた信号と同等の擬
似伝送遅延信号9Bが送出される。
以上のように本実施例によれば,中央演算処理部にモデ
ム制御回路とモデムからなる2系列の交信回路を接続
し,1系列の交信回路の出力を信号遅延回路と信号減衰
回路を通してエコー信号を発生させ,他系列の交信回路
の出力の主信号と信号合成回路を通して重ね合せること
により,主信号に対して正確な遅延時間と減衰量をもつ
エコー信号を含む擬似伝送遅延信号が送出され,かつ2
系列の交信回路を用意しているため1つの主信号を等レ
ベルに2分岐する回路や分岐レベル等の影響を除去する
複雑な補助回路などを必要とせず,正確で安定な擬似伝
送遅延信号が安価に確保されるうえ,初期設定により任
意の信号遅延時間と減衰量がえられる。
〔発明の効果〕
以上の説明のように本発明によれば,エコー信号を発生
させるのに十分に長い伝送路を必要とせず,主信号に対
するエコー信号の遅延時間と減衰量を正確かつ任意に設
定した擬似伝送遅延信号が安定かつ安価にえられ,各種
通信装置の交信試験に広く有効利用できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による交信試験装置の擬似伝送遅延信号
発生回路の一実施例を示す全体構成ブロック図,第2図
は第1図の中央演算処理部の初期設定ブロック図,第3
図は信号遅延回路の入出力波形図,第4図は信号減衰回
路の入出力波形図,第5図は信号合成回路の入出力波形
図である。 1……中央演算処理部,2……制御プログラム記憶部,
3a,3b……モデム制御回路,4a,4b……モデム,5……信
号遅延回路,6……信号減衰回路,7……メイン用交信
回路,8……エコー用交信回路,9……信号合成回路,
10……エコー発生回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】変調条件と遅延時間と減衰量をそれぞれ設
    定する中央演算処理部と,該中央演算処理部に並列同等
    に接続し上記変調条件に従い搬送波を変調して同等の主
    信号を発生するモデム制御回路とモデムからなる2系列
    の交信回路と,上記1系列の交信回路からの主信号を上
    記遅延時間と減衰量だけそれぞれ遅延と減衰してエコー
    信号を発生する信号遅延回路と信号減衰回路からなるエ
    コー発生回路と,上記他系列の交信回路からの主信号と
    上記エコー発生回路からのエコー信号を合成して擬似伝
    送遅延信号を発生する信号合成回路とからなる交信試験
    装置の擬似伝送遅延信号発生回路。
JP59100513A 1984-05-21 1984-05-21 交信試験装置の擬似伝送遅延信号発生回路 Expired - Lifetime JPH0620194B2 (ja)

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JP59100513A JPH0620194B2 (ja) 1984-05-21 1984-05-21 交信試験装置の擬似伝送遅延信号発生回路

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Publication Number Publication Date
JPS60245326A JPS60245326A (ja) 1985-12-05
JPH0620194B2 true JPH0620194B2 (ja) 1994-03-16

Family

ID=14276028

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JP59100513A Expired - Lifetime JPH0620194B2 (ja) 1984-05-21 1984-05-21 交信試験装置の擬似伝送遅延信号発生回路

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5868340A (ja) * 1981-10-19 1983-04-23 Nec Corp フエ−ジング発生器

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JPS60245326A (ja) 1985-12-05

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