JPS5868340A - フエ−ジング発生器 - Google Patents
フエ−ジング発生器Info
- Publication number
- JPS5868340A JPS5868340A JP56165658A JP16565881A JPS5868340A JP S5868340 A JPS5868340 A JP S5868340A JP 56165658 A JP56165658 A JP 56165658A JP 16565881 A JP16565881 A JP 16565881A JP S5868340 A JPS5868340 A JP S5868340A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- fading
- delay
- path
- equalizer
- paths
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B17/00—Monitoring; Testing
- H04B17/30—Monitoring; Testing of propagation channels
- H04B17/391—Modelling the propagation channel
- H04B17/3911—Fading models or fading generators
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
- Radio Transmission System (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は２波干渉モデルにもとづくフェージング特性を
発生させるフェージング発生器に関する。
発生させるフェージング発生器に関する。
フェージング発生器は２例えば無線伝送で生ずる選択性
フェージングを等化するだめのフェージング等化器の評
価を行なう場合、あるいは伝送路自体の選択性フェージ
ングに対する評価を行なう場合等に使用されるものであ
って、入力信号を２分して２つの径路に分け、１方の径
路で可変移相器を用いて適当な量の移相を与えたあと、
２径路を合成して所望のフェージング特性を得るように
したものである。
フェージングを等化するだめのフェージング等化器の評
価を行なう場合、あるいは伝送路自体の選択性フェージ
ングに対する評価を行なう場合等に使用されるものであ
って、入力信号を２分して２つの径路に分け、１方の径
路で可変移相器を用いて適当な量の移相を与えたあと、
２径路を合成して所望のフェージング特性を得るように
したものである。
ところで上記のようなフェージング発生器を実現する場
合、理想的なフェージングモデルを充分擬似できること
が要求されるが、従来のフェージング発生器においては
この要件は必ずしも満たされていなかった。すなわち、
フェージング特性のディップを広帯域且つ連続的に出現
しようとすると２発生したフェージング特性がディップ
周波数を中心として前後に非対称となり、フェージング
のモデルと一致しなくなる欠点があったのである。
合、理想的なフェージングモデルを充分擬似できること
が要求されるが、従来のフェージング発生器においては
この要件は必ずしも満たされていなかった。すなわち、
フェージング特性のディップを広帯域且つ連続的に出現
しようとすると２発生したフェージング特性がディップ
周波数を中心として前後に非対称となり、フェージング
のモデルと一致しなくなる欠点があったのである。
したがって本発明の目的は、フェノングディッゾの周波
数に対して対称性が良好で２波干渉によるフェージング
モデルと一致するフェージング発生器を提供することに
ある。
数に対して対称性が良好で２波干渉によるフェージング
モデルと一致するフェージング発生器を提供することに
ある。
本発明によるフェージング発生器は、前述のフェージン
グ特性のディップ周波数を中心として前後に非対称にな
る原因が、主として一方の径路に配置する可変移相器が
一般的に狭帯域であって遅延歪を発生することにあると
考えられるところから、この遅延歪を発生する径路にそ
の遅延歪を等化する遅延等化器を設けたことを特徴とす
るものである。
グ特性のディップ周波数を中心として前後に非対称にな
る原因が、主として一方の径路に配置する可変移相器が
一般的に狭帯域であって遅延歪を発生することにあると
考えられるところから、この遅延歪を発生する径路にそ
の遅延歪を等化する遅延等化器を設けたことを特徴とす
るものである。
以下９図面を参照してより詳しく説明する。
第１図は従来のフェージング発生器の構成図である。図
において入力端子１からの入力信号は分配器２により２
分され、遅延線路３からなる径路（以後直接径路と称す
る。）と、可変移相器４゜可変減衰器５及び遅延線路６
よりなる径路（以後反射径路と称する。）とに分かれる
。この直接径路と反射径路を合成器７により合成するこ
とにより、２波干渉モデルにもとづく選択性フェージン
グ特性を得て出力端子８よ多出力している。そして所望
のフェージング特性を得るために、可変移相器４の移相
量、可変減衰器５の減衰量及び遅延線路の電気長の調整
がなされている。
において入力端子１からの入力信号は分配器２により２
分され、遅延線路３からなる径路（以後直接径路と称す
る。）と、可変移相器４゜可変減衰器５及び遅延線路６
よりなる径路（以後反射径路と称する。）とに分かれる
。この直接径路と反射径路を合成器７により合成するこ
とにより、２波干渉モデルにもとづく選択性フェージン
グ特性を得て出力端子８よ多出力している。そして所望
のフェージング特性を得るために、可変移相器４の移相
量、可変減衰器５の減衰量及び遅延線路の電気長の調整
がなされている。
上記の第１図の構成のフェージング発生器においては、
先に簡単に説明したが、フェー・ソング特性のディツノ
が広帯域かつ連続的に出現できるよう実現した場合、直
接径路および反射径路の振幅特性が各々平坦でもあるに
もかかわらず２発生したフェージング特性がディツノ周
波数を中心として前後で非対称となり、フェージングの
モデルと一致しなくなり、理想的なフェージングの評価
に即さないという欠点が生じたのである。そこではじめ
に選択性フェージング発生の原理を説明した上で、上記
の欠点の原因となっている主として可変移相器の発す２
遅延歪によるフェージング特性の非対称との関連につい
て説明する。なお上記のフェージング特性の具体的な一
例は、あとに説明するｆ本発明により得られるフェージ
ング特性と並べて図示しである。
先に簡単に説明したが、フェー・ソング特性のディツノ
が広帯域かつ連続的に出現できるよう実現した場合、直
接径路および反射径路の振幅特性が各々平坦でもあるに
もかかわらず２発生したフェージング特性がディツノ周
波数を中心として前後で非対称となり、フェージングの
モデルと一致しなくなり、理想的なフェージングの評価
に即さないという欠点が生じたのである。そこではじめ
に選択性フェージング発生の原理を説明した上で、上記
の欠点の原因となっている主として可変移相器の発す２
遅延歪によるフェージング特性の非対称との関連につい
て説明する。なお上記のフェージング特性の具体的な一
例は、あとに説明するｆ本発明により得られるフェージ
ング特性と並べて図示しである。
第２図は２波干渉による選択性フェージング発生の原理
を示す図である。フェージングは直接波（Ａ−Ｂ）と０
点によって反射された反射波（Ａ〜Ｃ−Ｂ）との合成に
より発生し、その振幅特性Ｘ←）は、直接波の振幅を１
とすると。
を示す図である。フェージングは直接波（Ａ−Ｂ）と０
点によって反射された反射波（Ａ〜Ｃ−Ｂ）との合成に
より発生し、その振幅特性Ｘ←）は、直接波の振幅を１
とすると。
Ｘ（Ｐ）＝［：１＋ｒ２＋２ｒｏｍ（Δτω十θ）〕２
−〔１＋ｒ２＋２ｒ部（Δτ（ω−ω０）＋π）〕２・
・・（１）で表される。ここにｒは反射波の振幅、Δτ
は直接波と反射波の到達時間差、θは直接波と反射波の
位相差、ω０はディ、プの生ずる角周波数をそれぞれ表
している。
−〔１＋ｒ２＋２ｒ部（Δτ（ω−ω０）＋π）〕２・
・・（１）で表される。ここにｒは反射波の振幅、Δτ
は直接波と反射波の到達時間差、θは直接波と反射波の
位相差、ω０はディ、プの生ずる角周波数をそれぞれ表
している。
（１）式はディツノの角周波数ω０に関して偶関数であ
るから、振幅特性はωＧに対してその前後で対称である
。ところで第１図の構成に含まれる可変移相器４は一般
にインダクタンスＬと容量Ｃで構成されており、広帯域
でみると必ず遅延歪が発生する。結果として従来のフェ
ージング発生器では、（１）式のΔτがωの高次関数と
なり、それが奇数次の場合はＸ←）のω０に関する偶対
称がくずれてソング特性が（１）式のモデルと一致しな
くなる〇第３図は上記欠点を除去した本発明によるフェ
ージング発生器の一実施例を示す構成図である。
るから、振幅特性はωＧに対してその前後で対称である
。ところで第１図の構成に含まれる可変移相器４は一般
にインダクタンスＬと容量Ｃで構成されており、広帯域
でみると必ず遅延歪が発生する。結果として従来のフェ
ージング発生器では、（１）式のΔτがωの高次関数と
なり、それが奇数次の場合はＸ←）のω０に関する偶対
称がくずれてソング特性が（１）式のモデルと一致しな
くなる〇第３図は上記欠点を除去した本発明によるフェ
ージング発生器の一実施例を示す構成図である。
図において２反射径路にはこの径路で発生する遅延歪（
主として可変移相器により発生する。）を等化する遅延
等化器９が設けられており、他の第１図と同符号の回路
は第１図と同じである。
主として可変移相器により発生する。）を等化する遅延
等化器９が設けられており、他の第１図と同符号の回路
は第１図と同じである。
ここで遅延等化器９の効果を明らかにするために２反射
径路で発生する遅延歪について考える。
径路で発生する遅延歪について考える。
このときの遅延特性τ←）を次式で表わしたとする。
一方直接径路では遅延歪が無いとすると、即ち直接径路
の遅延時間τ←）が周波数に関係なく一定とすると２反
射径路が（２）式の遅延特性を有するときのフェージン
グの振幅特性は次式となる。
の遅延時間τ←）が周波数に関係なく一定とすると２反
射径路が（２）式の遅延特性を有するときのフェージン
グの振幅特性は次式となる。
Ｘ←）＝ （１＋ｒ２＋２−Δτ（ω−０５６）＋π９
（ω−ωｏ）２＋？（ω−ωｏ）’＋−））”・・・（
３） 次に、第３図のように（２）式と逆特性、即ちＱｌ１９
２の符号が（２）式と逆となるような遅延等化器を挿入
した場合を考える。この場合はτ←）＝ｃｏｎｓｔとな
り、フェージング特性は（１）式に帰着し、理想的なフ
エージング特性が得られる。以上が本発明によるフェー
ジング発生器の原理である。
（ω−ωｏ）２＋？（ω−ωｏ）’＋−））”・・・（
３） 次に、第３図のように（２）式と逆特性、即ちＱｌ１９
２の符号が（２）式と逆となるような遅延等化器を挿入
した場合を考える。この場合はτ←）＝ｃｏｎｓｔとな
り、フェージング特性は（１）式に帰着し、理想的なフ
エージング特性が得られる。以上が本発明によるフェー
ジング発生器の原理である。
第４図は第３図の本発明によるフェージング発生器の振
幅特性を、フェージングディッゾ周波数ｆ６− 丁−１
４０ＭＨｚ 、 ｒ＝０．９７ ｅΔＴ ＝ １．６７
ｎ５ｅｃのときの一例と、先に第１図で説明した従来
のフェージング発生器の振幅特性の一例を併せ示した図
である。図において、破ｐ、Ｉｎｔｏは従来のフェージ
ング発生器の特性例で１反射径路に１ｎｓｅｃ／４０Ｍ
１（ｚの１次の遅延歪が生じている場合を示している。
幅特性を、フェージングディッゾ周波数ｆ６− 丁−１
４０ＭＨｚ 、 ｒ＝０．９７ ｅΔＴ ＝ １．６７
ｎ５ｅｃのときの一例と、先に第１図で説明した従来
のフェージング発生器の振幅特性の一例を併せ示した図
である。図において、破ｐ、Ｉｎｔｏは従来のフェージ
ング発生器の特性例で１反射径路に１ｎｓｅｃ／４０Ｍ
１（ｚの１次の遅延歪が生じている場合を示している。
これに対し実線１１が本発明によるフェージング発生器
の特性例で、遅延等化器により １ｎｓｅｅ／４０ＭＨ
ｚの１次の遅延歪を等化するようにした場合である。こ
の図から分るように、従来のフェージング３生器では１
４０ ＭＨｚ±２５ ＭＨｚ離れた点における非対称性
が約１．５ ｄＢであったのに対して。
の特性例で、遅延等化器により １ｎｓｅｅ／４０ＭＨ
ｚの１次の遅延歪を等化するようにした場合である。こ
の図から分るように、従来のフェージング３生器では１
４０ ＭＨｚ±２５ ＭＨｚ離れた点における非対称性
が約１．５ ｄＢであったのに対して。
本発明によるフェージング発生器では非対称が生じてい
ない。なお具体例で示した反射径路の１次の遅延歪１
ｎ５ｅｃ／４０ＭＨｚの数値は−１４０ＭＨｚ帯で可変
移相器を実現した場合、ごくふつうに発生する量である
。
ない。なお具体例で示した反射径路の１次の遅延歪１
ｎ５ｅｃ／４０ＭＨｚの数値は−１４０ＭＨｚ帯で可変
移相器を実現した場合、ごくふつうに発生する量である
。
以上説明したように１本発明によれば対称性の良好なフ
ェージング等化器が提供できるので、フェージング等化
器の等化特性の評価等に際してより正確な評価が可能と
なる。また、遅延等（Ｌ器として連続可変形のものを使
用して、実際に起きたフェージングの形を本発明による
フェージング発生器により実現すれば、フェージング発
生区間における遅延歪の量を推定することもできる。
ェージング等化器が提供できるので、フェージング等化
器の等化特性の評価等に際してより正確な評価が可能と
なる。また、遅延等（Ｌ器として連続可変形のものを使
用して、実際に起きたフェージングの形を本発明による
フェージング発生器により実現すれば、フェージング発
生区間における遅延歪の量を推定することもできる。
第１図は従来のフェージング発生器の構成図。
第２図はフェージング発生の原理図、第３図は本発明の
一実施例の構成図、第４図は従来のフェージング発生器
と本発明によるフェージング発生器の特性を比較して示
した図であるＯ 記号の説明＝１は入力端子、２は分配器、３は遅延線路
、４は可変移相器、５は可変減衰器、６は遅延線路、７
は合成器、８は出力端子、９は遅延等化器をそれぞれあ
られしている。
一実施例の構成図、第４図は従来のフェージング発生器
と本発明によるフェージング発生器の特性を比較して示
した図であるＯ 記号の説明＝１は入力端子、２は分配器、３は遅延線路
、４は可変移相器、５は可変減衰器、６は遅延線路、７
は合成器、８は出力端子、９は遅延等化器をそれぞれあ
られしている。
Claims (1)
- １）２波干渉モデルに基づいて構成され、入力信号を一
方に可変移相器を含む２つの径路に分配したあと合成し
てフェージングを生じるようにしたフェージング発生器
において、前記一方の径路に遅延等化器を設けて成るこ
とを特徴とするフェージング発生器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56165658A JPS5868340A (ja) | 1981-10-19 | 1981-10-19 | フエ−ジング発生器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56165658A JPS5868340A (ja) | 1981-10-19 | 1981-10-19 | フエ−ジング発生器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5868340A true JPS5868340A (ja) | 1983-04-23 |
| JPS6328373B2 JPS6328373B2 (ja) | 1988-06-08 |
Family
ID=15816542
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56165658A Granted JPS5868340A (ja) | 1981-10-19 | 1981-10-19 | フエ−ジング発生器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5868340A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60245326A (ja) * | 1984-05-21 | 1985-12-05 | Hitachi Ltd | 交信試験装置の擬似伝送遅延信号発生回路 |
| US4679248A (en) * | 1984-04-04 | 1987-07-07 | British Telecommunications Public Limited Company | Test equipment for simulating multipath interference |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5714228A (en) * | 1980-06-30 | 1982-01-25 | Fujitsu Ltd | Simulator for phasing state |
-
1981
- 1981-10-19 JP JP56165658A patent/JPS5868340A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5714228A (en) * | 1980-06-30 | 1982-01-25 | Fujitsu Ltd | Simulator for phasing state |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4679248A (en) * | 1984-04-04 | 1987-07-07 | British Telecommunications Public Limited Company | Test equipment for simulating multipath interference |
| JPS60245326A (ja) * | 1984-05-21 | 1985-12-05 | Hitachi Ltd | 交信試験装置の擬似伝送遅延信号発生回路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6328373B2 (ja) | 1988-06-08 |
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