JPH06205338A - 液晶表示コントローラ・ドライバ - Google Patents
液晶表示コントローラ・ドライバInfo
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- JPH06205338A JPH06205338A JP34842392A JP34842392A JPH06205338A JP H06205338 A JPH06205338 A JP H06205338A JP 34842392 A JP34842392 A JP 34842392A JP 34842392 A JP34842392 A JP 34842392A JP H06205338 A JPH06205338 A JP H06205338A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 液晶表示コントローラの試験または内蔵され
ている液晶表示ドライバの試験を高速に実現する機能を
有する液晶表示コントローラ・ドライバを提供する。 【構成】 液晶表示コントローラを試験する場合は、液
晶表示ドライバより高速で試験機を駆動する試験ドライ
バが、試験機を駆動するよう構成する。また内蔵されて
いる液晶表示ドライバを試験する場合は、試験に必要な
電圧を任意に生成することができるよう構成する。
ている液晶表示ドライバの試験を高速に実現する機能を
有する液晶表示コントローラ・ドライバを提供する。 【構成】 液晶表示コントローラを試験する場合は、液
晶表示ドライバより高速で試験機を駆動する試験ドライ
バが、試験機を駆動するよう構成する。また内蔵されて
いる液晶表示ドライバを試験する場合は、試験に必要な
電圧を任意に生成することができるよう構成する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、液晶表示装置又は液晶
表示ドライバを試験する回路を備えた液晶表示コントロ
ーラ・ドライバに関する。
表示ドライバを試験する回路を備えた液晶表示コントロ
ーラ・ドライバに関する。
【0002】
【従来の技術】図6は、従来の液晶表示コントローラ・
ドライバの要部ブロック図であり、液晶表示装置のセグ
メント1個を駆動するセグメントドライバ1個及び液晶
表示コントローラを示している。液晶表示データメモリ
1のセグメントデータは、データ線2を介してセグメン
ト制御電圧変換回路3へ入力され、セグメントドライバ
5を制御し得る電圧に変換され、制御線4を介してセグ
メントドライバ5へ入力される。
ドライバの要部ブロック図であり、液晶表示装置のセグ
メント1個を駆動するセグメントドライバ1個及び液晶
表示コントローラを示している。液晶表示データメモリ
1のセグメントデータは、データ線2を介してセグメン
ト制御電圧変換回路3へ入力され、セグメントドライバ
5を制御し得る電圧に変換され、制御線4を介してセグ
メントドライバ5へ入力される。
【0003】セグメントドライバ5はPチャネルトラン
ジスタ6及びNチャネルトランジスタ7よりなる。両ト
ランジスタ6,7のゲートは接続され、入力端として制
御線4に接続されている。両トランジスタ6,7のドレ
インは接続され、出力端として外部リード8を介して図
示しない液晶表示装置のセグメントに接続されている。
両トランジスタ6,7のソースはいずれも液晶表示バイ
アス制御回路9から動作電圧を供給されている。
ジスタ6及びNチャネルトランジスタ7よりなる。両ト
ランジスタ6,7のゲートは接続され、入力端として制
御線4に接続されている。両トランジスタ6,7のドレ
インは接続され、出力端として外部リード8を介して図
示しない液晶表示装置のセグメントに接続されている。
両トランジスタ6,7のソースはいずれも液晶表示バイ
アス制御回路9から動作電圧を供給されている。
【0004】液晶表示バイアス制御回路9は、外部より
4種の液晶表示用電圧VL3,VL2,VL1,VSS(VL3>
VL2>VL1>VSS)を供給され、この4種の電圧から2
種の電圧を選択する。この電圧選択は、電圧V
L3(VSS)と電圧VL2(VL1)とを図示しないクロック
信号のタイミングに基づいて交互に切換えて選択してい
る。選択された電圧VL3(VL2)は電圧VSHとしてトラ
ンジスタ6のソースに供給され、選択された電圧V
SS(VL1)は電圧VSLとしてトランジスタ7のソースに
供給される。トランジスタ6(7)に電圧VL3(VSS)
が供給される場合を表示モードといい、電圧V
L2(VL1)が供給される場合を非表示モードという。表
示モードと非表示モードとは、クロック信号に基づいて
交互に繰返されるよう構成されている。
4種の液晶表示用電圧VL3,VL2,VL1,VSS(VL3>
VL2>VL1>VSS)を供給され、この4種の電圧から2
種の電圧を選択する。この電圧選択は、電圧V
L3(VSS)と電圧VL2(VL1)とを図示しないクロック
信号のタイミングに基づいて交互に切換えて選択してい
る。選択された電圧VL3(VL2)は電圧VSHとしてトラ
ンジスタ6のソースに供給され、選択された電圧V
SS(VL1)は電圧VSLとしてトランジスタ7のソースに
供給される。トランジスタ6(7)に電圧VL3(VSS)
が供給される場合を表示モードといい、電圧V
L2(VL1)が供給される場合を非表示モードという。表
示モードと非表示モードとは、クロック信号に基づいて
交互に繰返されるよう構成されている。
【0005】次に動作について説明する。液晶非データ
メモリ1のセグメントデータに応じてセグメント制御電
圧変換回路3はセグメントドライバ5を制御する電圧を
出力し、その制御電圧によりトランジスタ6,7のいず
れか一方がオン状態となり他方がオフ状態となる。セグ
メントデータが ■H" の場合はトランジスタ6がオン
状態となる。この場合において表示モードのときは電圧
VL3が出力され、液晶表示装置のセグメントは点灯し、
非表示モードのときは電圧VL2が出力され、液晶表示装
置のセグメントは消灯する。セグメントデータが ■L"
の場合は、トランジスタ7がオン状態となる。この場
合において表示モードのときは電圧VSSが出力され、非
表示モードのときは電圧VL1が出力され、いずれのとき
においても液晶表示装置のセグメントは消灯する。
メモリ1のセグメントデータに応じてセグメント制御電
圧変換回路3はセグメントドライバ5を制御する電圧を
出力し、その制御電圧によりトランジスタ6,7のいず
れか一方がオン状態となり他方がオフ状態となる。セグ
メントデータが ■H" の場合はトランジスタ6がオン
状態となる。この場合において表示モードのときは電圧
VL3が出力され、液晶表示装置のセグメントは点灯し、
非表示モードのときは電圧VL2が出力され、液晶表示装
置のセグメントは消灯する。セグメントデータが ■L"
の場合は、トランジスタ7がオン状態となる。この場
合において表示モードのときは電圧VSSが出力され、非
表示モードのときは電圧VL1が出力され、いずれのとき
においても液晶表示装置のセグメントは消灯する。
【0006】液晶表示データメモリ1のセグメントデー
タは、図示しないクロック信号により順次読み出されて
セグメントドライバを駆動し、セグメントデータに応じ
た画面が液晶表示装置に表示される。液晶表示装置のセ
グメントが連続点灯しているように見える場合でも、表
示モードと非表示モードとは交互に繰返えされており、
そのセグメントは点灯と消灯とを繰返えしている。
タは、図示しないクロック信号により順次読み出されて
セグメントドライバを駆動し、セグメントデータに応じ
た画面が液晶表示装置に表示される。液晶表示装置のセ
グメントが連続点灯しているように見える場合でも、表
示モードと非表示モードとは交互に繰返えされており、
そのセグメントは点灯と消灯とを繰返えしている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従来の液晶表示コント
ローラ・ドライバは、液晶表示装置を駆動するセグメン
トドライバを流れる電流を抑えるためセグメントドライ
バの駆動能力を極端に低く設定している。そのため、伝
播遅延が発生するので比較的低速のクロック信号を使用
している。この液晶表示コントローラ・ドライバを使用
して液晶表示装置を試験することがあるが、その場合に
この低速クロック信号を使用せざるを得ないから試験に
長時間を必要とすることになる。
ローラ・ドライバは、液晶表示装置を駆動するセグメン
トドライバを流れる電流を抑えるためセグメントドライ
バの駆動能力を極端に低く設定している。そのため、伝
播遅延が発生するので比較的低速のクロック信号を使用
している。この液晶表示コントローラ・ドライバを使用
して液晶表示装置を試験することがあるが、その場合に
この低速クロック信号を使用せざるを得ないから試験に
長時間を必要とすることになる。
【0008】さらにこの液晶表示コントローラ・ドライ
バに内蔵されているセグメントドライバを試験する場合
に試験に必要とする特定の電圧を、試験に必要な期間の
間、セグメントドライバを構成する2個のトランジスタ
のソースに供給しなければならない。そのために液晶表
示バイアス制御回路の機能を制御して所要の電圧を所要
の期間生成していた。従って液晶表示ドライバの試験時
間に液晶表示バイアス制御回路の機能を制御する時間を
さらに必要とするので綜合した試験時間も長時間となる
という問題点があった。
バに内蔵されているセグメントドライバを試験する場合
に試験に必要とする特定の電圧を、試験に必要な期間の
間、セグメントドライバを構成する2個のトランジスタ
のソースに供給しなければならない。そのために液晶表
示バイアス制御回路の機能を制御して所要の電圧を所要
の期間生成していた。従って液晶表示ドライバの試験時
間に液晶表示バイアス制御回路の機能を制御する時間を
さらに必要とするので綜合した試験時間も長時間となる
という問題点があった。
【0009】このように従来の液晶表示コントローラ・
ドライバを使用して液晶表示装置又は液晶表示ドライバ
を試験する場合に長時間を必要とすることが液晶表示装
置又は液晶表示コントローラ・ドライバの生産コストの
増加を招いている。このため現在これらの試験を高速に
実現する技術の開発が求められている。本発明はこのよ
うな問題点を解消するためになされたものであり、高速
で動作する試験ドライバ又は任意の試験電圧を生成する
液晶表示コントローラ・ドライバを使用することにより
試験を高速に実現する液晶表示コントローラ・ドライバ
を提供することを目的とする。
ドライバを使用して液晶表示装置又は液晶表示ドライバ
を試験する場合に長時間を必要とすることが液晶表示装
置又は液晶表示コントローラ・ドライバの生産コストの
増加を招いている。このため現在これらの試験を高速に
実現する技術の開発が求められている。本発明はこのよ
うな問題点を解消するためになされたものであり、高速
で動作する試験ドライバ又は任意の試験電圧を生成する
液晶表示コントローラ・ドライバを使用することにより
試験を高速に実現する液晶表示コントローラ・ドライバ
を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本願の第1発明の液晶表
示コントローラ・ドライバは、液晶表示ドライバより高
速で液晶表示装置を駆動する試験ドライバ及びその試験
ドライバを制御する出力制御回路を備え、試験ドライバ
の出力と液晶表示ドライバの出力とは同一出力路より出
力することを特徴としている。本願の第2発明の液晶表
示コントローラ・ドライバは、液晶表示装置を試験する
場合に試験ドライバと液晶表示ドライバを並列駆動する
手段をさらに備えたことを特徴としている。
示コントローラ・ドライバは、液晶表示ドライバより高
速で液晶表示装置を駆動する試験ドライバ及びその試験
ドライバを制御する出力制御回路を備え、試験ドライバ
の出力と液晶表示ドライバの出力とは同一出力路より出
力することを特徴としている。本願の第2発明の液晶表
示コントローラ・ドライバは、液晶表示装置を試験する
場合に試験ドライバと液晶表示ドライバを並列駆動する
手段をさらに備えたことを特徴としている。
【0011】本願の第3発明の液晶表示コントローラ・
ドライバは、液晶表示ドライバを試験する場合に、試験
するための電圧を複数の電圧から選択するテスト制御信
号と、表示モードの電圧と非表示モードの電圧とを交互
に現出するためのクロック信号とを切り換える切換手段
と、液晶表示ドライバを構成する両トランジスタのいず
れを試験するかを定めるテスト用データとセグメントデ
ータとを切り換える切換手段とを備えたことを特徴とし
ている。
ドライバは、液晶表示ドライバを試験する場合に、試験
するための電圧を複数の電圧から選択するテスト制御信
号と、表示モードの電圧と非表示モードの電圧とを交互
に現出するためのクロック信号とを切り換える切換手段
と、液晶表示ドライバを構成する両トランジスタのいず
れを試験するかを定めるテスト用データとセグメントデ
ータとを切り換える切換手段とを備えたことを特徴とし
ている。
【0012】
【作用】第1発明では、液晶表示装置を試験する場合、
出力制御回路は試験ドライバを動作させ、液晶表示ドラ
イバの動作を停止させる。試験ドライバは液晶表示デー
タに従って液晶表示装置を高速で駆動するので、液晶表
示装置の入力部に付随する容量が大きい場合でも出力伝
播遅延は少なく、試験を高速に実行できる。第2発明で
は、液晶表示装置を試験する場合、出力制御回路は試験
ドライバ及び液晶表示ドライバを共に駆動するので、試
験ドライバのみで試験する場合よりも大きい出力で液晶
表示装置の試験を実行できる。
出力制御回路は試験ドライバを動作させ、液晶表示ドラ
イバの動作を停止させる。試験ドライバは液晶表示デー
タに従って液晶表示装置を高速で駆動するので、液晶表
示装置の入力部に付随する容量が大きい場合でも出力伝
播遅延は少なく、試験を高速に実行できる。第2発明で
は、液晶表示装置を試験する場合、出力制御回路は試験
ドライバ及び液晶表示ドライバを共に駆動するので、試
験ドライバのみで試験する場合よりも大きい出力で液晶
表示装置の試験を実行できる。
【0013】第3発明では、内蔵されている液晶表示ド
ライバを試験する場合、テスト制御信号により試験する
モードと試験時間を任意に選択可能となり、テスト用デ
ータにより試験するトランジスタを任意に選択可能とな
るので、試験に必要な電圧を任意に選択可能となる。
ライバを試験する場合、テスト制御信号により試験する
モードと試験時間を任意に選択可能となり、テスト用デ
ータにより試験するトランジスタを任意に選択可能とな
るので、試験に必要な電圧を任意に選択可能となる。
【0014】
【実施例】以下本発明をその実施例を示す図面により詳
述する。図1は本願の第1発明に係る液晶表示コントロ
ーラ・ドライバの第1の実施例の要部ブロック図であ
り、液晶表示装置のセグメント1個を駆動する液晶表示
ドライバ5及び試験対象としての液晶表示装置のセグメ
ント1個を高速で駆動する試験ドライバ14各1個並びに
液晶表示コントローラを示している。
述する。図1は本願の第1発明に係る液晶表示コントロ
ーラ・ドライバの第1の実施例の要部ブロック図であ
り、液晶表示装置のセグメント1個を駆動する液晶表示
ドライバ5及び試験対象としての液晶表示装置のセグメ
ント1個を高速で駆動する試験ドライバ14各1個並びに
液晶表示コントローラを示している。
【0015】この液晶表示コントローラ・ドライバは、
通常の液晶表示装置を駆動する場合は図示しないクロッ
ク源の低速クロック信号に基づいて、液晶表示装置を試
験する場合は高速クロック信号に基づいて動作が進行す
る。試験動作を実行するためのテスト信号TESTが入力さ
れると、出力制御回路10は、液晶表示データメモリ1か
らデータ線2を介して入力されるセグメントデータに応
じて第1,第2出力により制御線12,13 を介して試験ド
ライバ14を高速で制御し、第3出力により制御線15を介
してセグメント制御電圧変換回路3の動作を停止させる
ようになしてある。
通常の液晶表示装置を駆動する場合は図示しないクロッ
ク源の低速クロック信号に基づいて、液晶表示装置を試
験する場合は高速クロック信号に基づいて動作が進行す
る。試験動作を実行するためのテスト信号TESTが入力さ
れると、出力制御回路10は、液晶表示データメモリ1か
らデータ線2を介して入力されるセグメントデータに応
じて第1,第2出力により制御線12,13 を介して試験ド
ライバ14を高速で制御し、第3出力により制御線15を介
してセグメント制御電圧変換回路3の動作を停止させる
ようになしてある。
【0016】通常の液晶表示装置を駆動する場合は、テ
スト信号TESTは入力されず、液晶表示データメモリ1か
らデータ線2を介して入力されるセグメントデータに応
じてセグメント制御電圧変換回路3は液晶表示ドライバ
5を低速で制御する。その第1出力及び第2出力は、そ
れぞれ制御線16及び制御線17を介して液晶表示ドライバ
5のトランジスタ6及びトランジスタ7のゲートにそれ
ぞれ入力されるようになしてある。
スト信号TESTは入力されず、液晶表示データメモリ1か
らデータ線2を介して入力されるセグメントデータに応
じてセグメント制御電圧変換回路3は液晶表示ドライバ
5を低速で制御する。その第1出力及び第2出力は、そ
れぞれ制御線16及び制御線17を介して液晶表示ドライバ
5のトランジスタ6及びトランジスタ7のゲートにそれ
ぞれ入力されるようになしてある。
【0017】液晶ドライバ5はPチャネルトランジスタ
6及びNチャネルトランジスタ7よりなり、両トランジ
スタ6,7のドレインは、接続され液晶表示ドライバ5
の出力部として試験ドライバ14の出力部及び外部リード
8に接続されている。また両トランジスタ6,7のソー
スは、液晶表示バイアス制御回路9にそれぞれ接続され
ている。
6及びNチャネルトランジスタ7よりなり、両トランジ
スタ6,7のドレインは、接続され液晶表示ドライバ5
の出力部として試験ドライバ14の出力部及び外部リード
8に接続されている。また両トランジスタ6,7のソー
スは、液晶表示バイアス制御回路9にそれぞれ接続され
ている。
【0018】液晶表示バイアス制御回路9は、外部より
4種の液晶表示用電圧VL3,VL2,VL1,VSS(VL3>
VL2>VL1>VSS)を供給され、その4種の中から2種
の電圧VSH(VL3又はVL2),VSL(VL1又はVSS)を
出力する。また液晶表示バイアス制御回路9は、液晶表
示装置を表示する表示モード及び表示しない非表示モー
ドの2モードを有している。表示モードの場合は、電圧
VSHとして電圧VL3が供給され、電圧VSLとして電圧V
SSが供給される。非表示モードの場合は、電圧VSHとし
て電圧VL2が供給され、電圧VSLとして電圧VL1が供給
される。この表示モードと非表示モードとはクロック信
号に従って交互に繰返される。電圧VSHはトランジスタ
6のソースに供給され、電圧VSLはトランジスタ7のソ
ースに供給される。
4種の液晶表示用電圧VL3,VL2,VL1,VSS(VL3>
VL2>VL1>VSS)を供給され、その4種の中から2種
の電圧VSH(VL3又はVL2),VSL(VL1又はVSS)を
出力する。また液晶表示バイアス制御回路9は、液晶表
示装置を表示する表示モード及び表示しない非表示モー
ドの2モードを有している。表示モードの場合は、電圧
VSHとして電圧VL3が供給され、電圧VSLとして電圧V
SSが供給される。非表示モードの場合は、電圧VSHとし
て電圧VL2が供給され、電圧VSLとして電圧VL1が供給
される。この表示モードと非表示モードとはクロック信
号に従って交互に繰返される。電圧VSHはトランジスタ
6のソースに供給され、電圧VSLはトランジスタ7のソ
ースに供給される。
【0019】そして両トランジスタ6,7のスイッチン
グにより電圧VSH,VSLのいずれか一方の電圧が外部リ
ード8に出力され、液晶表示装置のセグメントに供給さ
れるようになしてある。試験ドライバ14は、液晶表示ド
ライバより高速で液晶表示装置を駆動するドライバであ
って、その駆動能力が液晶表示ドライバの数倍以上とな
してあるPチャネルトランジスタ18及びNチャネルトラ
ンジスタ19よりなる。両トランジスタ18,19 のドレイン
は接続され、試験ドライバ14の出力部として外部リード
8に接続され、両トランジスタ18,19 のソースは回路全
体の動作電源(電圧VDD及び電圧VSS)に直接接続され
ている。
グにより電圧VSH,VSLのいずれか一方の電圧が外部リ
ード8に出力され、液晶表示装置のセグメントに供給さ
れるようになしてある。試験ドライバ14は、液晶表示ド
ライバより高速で液晶表示装置を駆動するドライバであ
って、その駆動能力が液晶表示ドライバの数倍以上とな
してあるPチャネルトランジスタ18及びNチャネルトラ
ンジスタ19よりなる。両トランジスタ18,19 のドレイン
は接続され、試験ドライバ14の出力部として外部リード
8に接続され、両トランジスタ18,19 のソースは回路全
体の動作電源(電圧VDD及び電圧VSS)に直接接続され
ている。
【0020】次に動作について説明する。この液晶表示
コントローラ・ドライバは試験対象としての液晶表示装
置を試験するために高速クロックで読み出されたセグメ
ントデータで試験ドライバを制御する試験モードと、通
常の液晶表示装置を駆動するために低速クロックで読み
出されたセグメントデータで液晶表示ドライバを制御す
るセグメント出力モードとの2モードを有しており、試
験モードを実行させるのが信号TESTである。
コントローラ・ドライバは試験対象としての液晶表示装
置を試験するために高速クロックで読み出されたセグメ
ントデータで試験ドライバを制御する試験モードと、通
常の液晶表示装置を駆動するために低速クロックで読み
出されたセグメントデータで液晶表示ドライバを制御す
るセグメント出力モードとの2モードを有しており、試
験モードを実行させるのが信号TESTである。
【0021】(セグメント出力モードにおける動作)信
号TESTを入力しないので、セグメント制御電圧変換回路
3は、その第1,第2出力によりセグメントデータに応
じて両制御線16,17 を介して液晶表示ドライバ5を制御
する。この制御によりセグメントデータが ■H" の場
合は、トランジスタ7がオフ状態でトランジスタ6がオ
ン状態となり、電圧VSHが外部リード8に出力される。
電圧VSHには電圧VL3と電圧VL2が交互に現出してお
り、液晶表示装置のセグメントは点灯,消灯を繰返す。
セグメントデータが ■L" の場合は、トランジスタ6
がオフ状態でトランジスタ7がオン状態となり、電圧V
SLが外部リード8に出力される。電圧VSLには電圧VL1
と電圧VSSが交互に現出しており、そのいずれにおいて
も液晶表示装置のセグメントは消灯している。液晶表示
データメモリ1及び液晶表示バイアス制御回路9は低速
クロックで駆動され、セグメントデータが液晶表示デー
タメモリ1から順次読み出され、液晶表示装置が読み出
されたデータに応じた画面を表示する。
号TESTを入力しないので、セグメント制御電圧変換回路
3は、その第1,第2出力によりセグメントデータに応
じて両制御線16,17 を介して液晶表示ドライバ5を制御
する。この制御によりセグメントデータが ■H" の場
合は、トランジスタ7がオフ状態でトランジスタ6がオ
ン状態となり、電圧VSHが外部リード8に出力される。
電圧VSHには電圧VL3と電圧VL2が交互に現出してお
り、液晶表示装置のセグメントは点灯,消灯を繰返す。
セグメントデータが ■L" の場合は、トランジスタ6
がオフ状態でトランジスタ7がオン状態となり、電圧V
SLが外部リード8に出力される。電圧VSLには電圧VL1
と電圧VSSが交互に現出しており、そのいずれにおいて
も液晶表示装置のセグメントは消灯している。液晶表示
データメモリ1及び液晶表示バイアス制御回路9は低速
クロックで駆動され、セグメントデータが液晶表示デー
タメモリ1から順次読み出され、液晶表示装置が読み出
されたデータに応じた画面を表示する。
【0022】(試験モードにおける動作)信号TESTを入
力すると、出力制御回路10は第1, 第2出力により試験
ドライバ14を制御する。この制御によりセグメントデー
タが ■H" の場合は、トランジスタ19はオフ状態でト
ランジスタ18がオン状態となり、電圧VDDが外部リード
8に出力され液晶表示装置のセグメントは点灯する。そ
してセグメントデータが■L" の場合は、トランジスタ
18はオフ状態でトランジスタ19がオン状態となり、電圧
VSSが外部リード8に出力され液晶表示装置のセグメン
トは消灯する。
力すると、出力制御回路10は第1, 第2出力により試験
ドライバ14を制御する。この制御によりセグメントデー
タが ■H" の場合は、トランジスタ19はオフ状態でト
ランジスタ18がオン状態となり、電圧VDDが外部リード
8に出力され液晶表示装置のセグメントは点灯する。そ
してセグメントデータが■L" の場合は、トランジスタ
18はオフ状態でトランジスタ19がオン状態となり、電圧
VSSが外部リード8に出力され液晶表示装置のセグメン
トは消灯する。
【0023】出力制御回路10の第3出力はセグメント制
御電圧変換回路3の動作を停止させる。液晶表示データ
メモリ1及び液晶表示バイアス制御回路9は、高速クロ
ックで駆動され、セグメントデータが順次読み出され、
液晶表示装置の試験が実行される。また液晶表示装置を
試験中に画面が通常の表示とは異なる表示をした場合、
その液晶表示装置の良,不良を判定する前に液晶表示コ
ントローラ・ドライバのセグメントデータの内容をモニ
タする必要がある。しかし液晶表示ドライバは液晶表示
装置のセグメントを駆動する能力はあるが、モニタする
ためセグメントデータの出力電圧をチェックする試験装
置を駆動する能力はない。このような場合、試験ドライ
バによりセグメントデータの内容をモニタすることがで
きる。
御電圧変換回路3の動作を停止させる。液晶表示データ
メモリ1及び液晶表示バイアス制御回路9は、高速クロ
ックで駆動され、セグメントデータが順次読み出され、
液晶表示装置の試験が実行される。また液晶表示装置を
試験中に画面が通常の表示とは異なる表示をした場合、
その液晶表示装置の良,不良を判定する前に液晶表示コ
ントローラ・ドライバのセグメントデータの内容をモニ
タする必要がある。しかし液晶表示ドライバは液晶表示
装置のセグメントを駆動する能力はあるが、モニタする
ためセグメントデータの出力電圧をチェックする試験装
置を駆動する能力はない。このような場合、試験ドライ
バによりセグメントデータの内容をモニタすることがで
きる。
【0024】図2は本願の第1発明に係る第2の実施例
の要部ブロック図であり、液晶表示装置のセグメント1
個を駆動する液晶表示ドライバ5及び試験対象としての
液晶表示装置のセグメント1個を高速で駆動する試験ド
ライバ14各1個並びに液晶表示コントローラを示してい
る。本実施例に示す液晶表示コントローラ・ドライバ
は、試験モード及びセグメント出力モードのほか、各種
のデータを入出力する汎用モードに活用するため外部デ
ータの取り込み、取り込んだデータの出力、及び外部リ
ード8に接続されている外部装置からのデータの受け入
れの3動作ができるよう構成されている。
の要部ブロック図であり、液晶表示装置のセグメント1
個を駆動する液晶表示ドライバ5及び試験対象としての
液晶表示装置のセグメント1個を高速で駆動する試験ド
ライバ14各1個並びに液晶表示コントローラを示してい
る。本実施例に示す液晶表示コントローラ・ドライバ
は、試験モード及びセグメント出力モードのほか、各種
のデータを入出力する汎用モードに活用するため外部デ
ータの取り込み、取り込んだデータの出力、及び外部リ
ード8に接続されている外部装置からのデータの受け入
れの3動作ができるよう構成されている。
【0025】外部から入力される汎用出力用データがデ
ータ線21を介して汎用出力用データ保持回路20に入力さ
れ、その入力データをラッチするため信号線22上のライ
ト信号WRが汎用出力用データ保持回路20に与えられる。
汎用出力用データ保持回路20は信号WRのタイミングによ
りデータ線21上の汎用出力用データを取り込んで保持す
る。その保持されたデータは、データ線23を介して出力
制御回路10へ出力される。そして汎用モードを実行する
ための信号PORTは、信号線24を介して出力制御回路10に
入力される。
ータ線21を介して汎用出力用データ保持回路20に入力さ
れ、その入力データをラッチするため信号線22上のライ
ト信号WRが汎用出力用データ保持回路20に与えられる。
汎用出力用データ保持回路20は信号WRのタイミングによ
りデータ線21上の汎用出力用データを取り込んで保持す
る。その保持されたデータは、データ線23を介して出力
制御回路10へ出力される。そして汎用モードを実行する
ための信号PORTは、信号線24を介して出力制御回路10に
入力される。
【0026】信号PORTが入力されると、出力制御回路10
は、液晶表示データメモリ1のセグメントデータではな
く、汎用出力データ保持回路からデータ線23を介して入
力される汎用出力用データを選択し、その選択したデー
タに応じて第1, 第2出力により試験ドライバを高速で
制御し、第3出力によりセグメント制御電圧変換回路3
の動作を停止させるようなしてある。外部リード8に接
続されている外部装置からのデータを受け入れるため、
外部リード8は汎用入力回路25及びデータ線21を介して
図示しない回路に接続されている。汎用入力回路25に信
号線26によりリード信号RDが与えられると、外部装置か
らのデータが読み込まれるようなしてある。その他の構
成については図2と同様であるので説明を省略する。
は、液晶表示データメモリ1のセグメントデータではな
く、汎用出力データ保持回路からデータ線23を介して入
力される汎用出力用データを選択し、その選択したデー
タに応じて第1, 第2出力により試験ドライバを高速で
制御し、第3出力によりセグメント制御電圧変換回路3
の動作を停止させるようなしてある。外部リード8に接
続されている外部装置からのデータを受け入れるため、
外部リード8は汎用入力回路25及びデータ線21を介して
図示しない回路に接続されている。汎用入力回路25に信
号線26によりリード信号RDが与えられると、外部装置か
らのデータが読み込まれるようなしてある。その他の構
成については図2と同様であるので説明を省略する。
【0027】次に動作について説明する。 (汎用モードにおける動作)外部のデータは、信号WRを
入力することにより汎用出力用データ保持回路20に保持
される。信号PORTを入力すると、出力制御回路10は第
1, 第2出力により試験ドライバ14を制御する。この制
御により汎用出力用データが ■H" の場合は、トラン
ジスタ19はオフ状態でトランジスタ18はオン状態となり
電圧VDDが外部リード8に出力される。そして汎用出力
用データが ■L" の場合は、トランジスタ18がオフ状
態でトランジスタ19がオン状態となり電圧VSSが外部リ
ード8に出力される。さらに出力制御回路10は第3出力
によりセグメント制御電圧変換回路3の動作を停止す
る。
入力することにより汎用出力用データ保持回路20に保持
される。信号PORTを入力すると、出力制御回路10は第
1, 第2出力により試験ドライバ14を制御する。この制
御により汎用出力用データが ■H" の場合は、トラン
ジスタ19はオフ状態でトランジスタ18はオン状態となり
電圧VDDが外部リード8に出力される。そして汎用出力
用データが ■L" の場合は、トランジスタ18がオフ状
態でトランジスタ19がオン状態となり電圧VSSが外部リ
ード8に出力される。さらに出力制御回路10は第3出力
によりセグメント制御電圧変換回路3の動作を停止す
る。
【0028】汎用出力用データ保持回路20は高速クロッ
クで駆動され、汎用出力用データ保持回路20のデータが
順次読み出され、外部リード8を介して接続される外部
装置に出力され、汎用の各種用途に供せられる。外部の
対向する装置から伝送されるデータは、信号RDを入力す
ることにより外部リード8から汎用入力回路25及びデー
タ線21を介して読み込まれる。
クで駆動され、汎用出力用データ保持回路20のデータが
順次読み出され、外部リード8を介して接続される外部
装置に出力され、汎用の各種用途に供せられる。外部の
対向する装置から伝送されるデータは、信号RDを入力す
ることにより外部リード8から汎用入力回路25及びデー
タ線21を介して読み込まれる。
【0029】図3は本願の第2発明に係る液晶表示コン
トローラ・ドライバの第1の実施例の要部ブロック図で
あり、液晶表示ドライバ5及び試験ドライバ14各1個並
びに液晶表示コントローラを示しており、試験モードに
おいて液晶表示ドライバ5と試験ドライバ14とが並行駆
動されるよう構成されている。液晶表示ドライバ5 には
電圧VDD,VSSが供給され、電圧VSH,VSLと切換使用
ができるよう電源切換スイッチ27,28 が設けられてい
る。即ち電源切換スイッチ27(28)の一方の端子には電圧
VSH(VSL)が与えられ、他方の端子には電圧VDD(V
SS)が与えられ、そしてコモン端子はトランジスタ6
(7)のソースに接続されている。さらに信号TESTが信
号線11を介して電源切換スイッチ27(28)に与えられた場
合は、トランジスタ6(7)のソースには電圧VDD(V
SS)が供給され、信号TESTが与えられない場合がノーマ
ルな状態であって、電圧VSH(VSL)が供給されるよう
なしてある。両電源切換スイッチ27,28 はトランジスタ
により構成されている。
トローラ・ドライバの第1の実施例の要部ブロック図で
あり、液晶表示ドライバ5及び試験ドライバ14各1個並
びに液晶表示コントローラを示しており、試験モードに
おいて液晶表示ドライバ5と試験ドライバ14とが並行駆
動されるよう構成されている。液晶表示ドライバ5 には
電圧VDD,VSSが供給され、電圧VSH,VSLと切換使用
ができるよう電源切換スイッチ27,28 が設けられてい
る。即ち電源切換スイッチ27(28)の一方の端子には電圧
VSH(VSL)が与えられ、他方の端子には電圧VDD(V
SS)が与えられ、そしてコモン端子はトランジスタ6
(7)のソースに接続されている。さらに信号TESTが信
号線11を介して電源切換スイッチ27(28)に与えられた場
合は、トランジスタ6(7)のソースには電圧VDD(V
SS)が供給され、信号TESTが与えられない場合がノーマ
ルな状態であって、電圧VSH(VSL)が供給されるよう
なしてある。両電源切換スイッチ27,28 はトランジスタ
により構成されている。
【0030】出力制御回路10は、液晶表示データメモリ
1からのセグメントデータに応じて試験ドライバ14を制
御し、セグメント制御電圧変換回路3の動作には関与し
ない。セグメント制御電圧変換回路3は出力制御回路10
とは無関係に液晶表示データメモリ1からのセグメント
データを液晶表示ドライバ5が制御される電圧まで変換
し、制御線4を介して液晶表示ドライバ5の両トランジ
スタ6,7のゲートに出力するようなしてある。その他
の構成については図2と同様であるので説明を省略す
る。
1からのセグメントデータに応じて試験ドライバ14を制
御し、セグメント制御電圧変換回路3の動作には関与し
ない。セグメント制御電圧変換回路3は出力制御回路10
とは無関係に液晶表示データメモリ1からのセグメント
データを液晶表示ドライバ5が制御される電圧まで変換
し、制御線4を介して液晶表示ドライバ5の両トランジ
スタ6,7のゲートに出力するようなしてある。その他
の構成については図2と同様であるので説明を省略す
る。
【0031】次に動作について説明する。 (試験モードにおける動作)信号TESTを入力すると、電
源切換スイッチ27(28)はトランジスタ6(7)のソース
電圧が電圧VDD(VSS)となるよう切り換わる。そして
出力制御回路10は試験ドライバ14を、セグメント制御電
圧変換回路3は液晶表示ドライバを、いずれもセグメン
トデータに応じて制御する。この制御によりセグメント
データが ■H" の場合は、外部リード8に電圧VDDが
出力され、 ■L" の場合は電圧VSSが出力される。こ
のようにして試験ドライバ14のみで試験する場合よりも
大きい出力で液晶表示装置の試験が実行される。
源切換スイッチ27(28)はトランジスタ6(7)のソース
電圧が電圧VDD(VSS)となるよう切り換わる。そして
出力制御回路10は試験ドライバ14を、セグメント制御電
圧変換回路3は液晶表示ドライバを、いずれもセグメン
トデータに応じて制御する。この制御によりセグメント
データが ■H" の場合は、外部リード8に電圧VDDが
出力され、 ■L" の場合は電圧VSSが出力される。こ
のようにして試験ドライバ14のみで試験する場合よりも
大きい出力で液晶表示装置の試験が実行される。
【0032】(セグメント出力モードにおける動作)信
号TESTを入力しないので電源切換スイッチ27(28)はノー
マルの状態を継続し、トランジスタ6(7)のソースに
は電圧VSH(VSL)が供給される。そして出力制御回路
10は動作せず、セグメント制御電圧変換回路3はセグメ
ントデータに応じて液晶表示ドライバ5を制御する。こ
の制御によりセグメントデータが ■H" の場合は外部
リード8に電圧VSHが出力され、 ■L" の場合は電圧
VSLが出力されることにより、液晶表示装置のセグメン
トが駆動される。このようにしてセグメントデータに応
じた画面が液晶表示装置に表示される。
号TESTを入力しないので電源切換スイッチ27(28)はノー
マルの状態を継続し、トランジスタ6(7)のソースに
は電圧VSH(VSL)が供給される。そして出力制御回路
10は動作せず、セグメント制御電圧変換回路3はセグメ
ントデータに応じて液晶表示ドライバ5を制御する。こ
の制御によりセグメントデータが ■H" の場合は外部
リード8に電圧VSHが出力され、 ■L" の場合は電圧
VSLが出力されることにより、液晶表示装置のセグメン
トが駆動される。このようにしてセグメントデータに応
じた画面が液晶表示装置に表示される。
【0033】図4は本願の第2発明に係る第2の実施例
の要部ブロック図であり、液晶表示ドライバ5及び試験
ドライバ14各1個並びに液晶表示コントローラを示して
いる。本実施例における液晶表示コントローラ・ドライ
バは試験モードにおいて液晶表示ドライバ5と試験ドラ
イバ14が並行駆動されるほか、さらに汎用モードにおい
ても並行駆動されるよう構成されている。
の要部ブロック図であり、液晶表示ドライバ5及び試験
ドライバ14各1個並びに液晶表示コントローラを示して
いる。本実施例における液晶表示コントローラ・ドライ
バは試験モードにおいて液晶表示ドライバ5と試験ドラ
イバ14が並行駆動されるほか、さらに汎用モードにおい
ても並行駆動されるよう構成されている。
【0034】外部から入力される汎用出力用データが、
データ線21を介して汎用出力用データ保持回路20に入力
され、その入力データをラッチするための信号線22上の
ライト信号WRが、汎用出力用データ保持回路20に与えら
れる。汎用出力用データ保持回路20は、信号WRのタイミ
ングにより、データ線21上の汎用出力用データを取り込
んで保持する。その保持されたデータは、データ線23を
介して出力制御回路10へ出力される。
データ線21を介して汎用出力用データ保持回路20に入力
され、その入力データをラッチするための信号線22上の
ライト信号WRが、汎用出力用データ保持回路20に与えら
れる。汎用出力用データ保持回路20は、信号WRのタイミ
ングにより、データ線21上の汎用出力用データを取り込
んで保持する。その保持されたデータは、データ線23を
介して出力制御回路10へ出力される。
【0035】汎用モードを実行するための信号PORTが、
信号線24を介して出力制御回路10に入力されると、出力
制御回路10はセグメントデータではなく、汎用出力用デ
ータを選択して取り込み、そのデータに応じて第1, 第
2出力により試験ドライバ14を高速で制御し、かつその
データをデータ線35を介してセグメント制御電圧変換回
路3に伝送する。セグメント制御電圧変換回路3は、セ
グメントデータではなく、データ線35上の汎用出力用デ
ータを取り込み、そのデータに応じて液晶表示ドライバ
5を高速で駆動する。信号PORTは信号線24を介して、か
つ信号TESTは信号線11を介していずれも電源切換スイッ
チ制御回路29に与えられ、さらに制御線30を介して両電
源切換スイッチ27,28 を制御するようなしてある。
信号線24を介して出力制御回路10に入力されると、出力
制御回路10はセグメントデータではなく、汎用出力用デ
ータを選択して取り込み、そのデータに応じて第1, 第
2出力により試験ドライバ14を高速で制御し、かつその
データをデータ線35を介してセグメント制御電圧変換回
路3に伝送する。セグメント制御電圧変換回路3は、セ
グメントデータではなく、データ線35上の汎用出力用デ
ータを取り込み、そのデータに応じて液晶表示ドライバ
5を高速で駆動する。信号PORTは信号線24を介して、か
つ信号TESTは信号線11を介していずれも電源切換スイッ
チ制御回路29に与えられ、さらに制御線30を介して両電
源切換スイッチ27,28 を制御するようなしてある。
【0036】汎用モードにおいては、外部リード8に接
続されている外部装置からデータを受け入れることも可
能であって、外部リード8は汎用入力回路25及びデータ
線21を介して図示しない回路に接続されていて、汎用入
力回路25に信号線26によりリード信号RDが与えられる
と、外部装置からのデータが読み込まれるようなしてあ
る。その他の構成については図4と同様であるので説明
を省略する。
続されている外部装置からデータを受け入れることも可
能であって、外部リード8は汎用入力回路25及びデータ
線21を介して図示しない回路に接続されていて、汎用入
力回路25に信号線26によりリード信号RDが与えられる
と、外部装置からのデータが読み込まれるようなしてあ
る。その他の構成については図4と同様であるので説明
を省略する。
【0037】次に動作について説明する。 (セグメント出力モードにおける動作)信号TEST及び信
号PORTはいずれも入力されないので、電源切換スイッチ
27,28はノーマルの状態を継続し、トランジスタ6
(7)のソースには電圧VSH(VSL)が供給される。液
晶表示バイアス制御回路9は、低速クロックで駆動さ
れ、電圧VL3(VSS)と電圧VL2(VL1)とが交互に選
択されて電圧VSH(VSL)として液晶表示ドライバ5に
供給される。そして液晶表示データメモリ1のセグメン
トデータは、低速クロックで読み出され、セグメント制
御電圧変換回路3を介して液晶表示ドライバ5を駆動
し、セグメントデータに応じた電圧VSH(VSL)が、外
部リード8を介して液晶表示装置のセグメントに出力さ
れる。このようにしてセグメントデータに応じて画面が
液晶表示装置に表示される。
号PORTはいずれも入力されないので、電源切換スイッチ
27,28はノーマルの状態を継続し、トランジスタ6
(7)のソースには電圧VSH(VSL)が供給される。液
晶表示バイアス制御回路9は、低速クロックで駆動さ
れ、電圧VL3(VSS)と電圧VL2(VL1)とが交互に選
択されて電圧VSH(VSL)として液晶表示ドライバ5に
供給される。そして液晶表示データメモリ1のセグメン
トデータは、低速クロックで読み出され、セグメント制
御電圧変換回路3を介して液晶表示ドライバ5を駆動
し、セグメントデータに応じた電圧VSH(VSL)が、外
部リード8を介して液晶表示装置のセグメントに出力さ
れる。このようにしてセグメントデータに応じて画面が
液晶表示装置に表示される。
【0038】(試験モードにおける動作)信号TESTが入
力されると、電圧切換スイッチ27,28 が切り換わり、電
圧VDD(VSS)が液晶表示ドライバ5及び試験ドライバ
14に供給される。そして液晶表示データメモリ1のセグ
メントデータは、高速クロックで読み出され、出力制御
回路10を介して試験ドライバ14を駆動し、セグメント制
御電圧変換回路3を介して液晶表示ドライバ5を駆動す
る。セグメントデータにより並行駆動された試験ドライ
バ14及び液晶表示ドライバ5によりセグメントデータに
応じて電圧VDD(VSS)が外部リード8を介して試験す
べき液晶表示装置に出力される。このようにして試験ド
ライバ14のみで試験するよりも大きい出力で、液晶非装
置の試験が実行される。
力されると、電圧切換スイッチ27,28 が切り換わり、電
圧VDD(VSS)が液晶表示ドライバ5及び試験ドライバ
14に供給される。そして液晶表示データメモリ1のセグ
メントデータは、高速クロックで読み出され、出力制御
回路10を介して試験ドライバ14を駆動し、セグメント制
御電圧変換回路3を介して液晶表示ドライバ5を駆動す
る。セグメントデータにより並行駆動された試験ドライ
バ14及び液晶表示ドライバ5によりセグメントデータに
応じて電圧VDD(VSS)が外部リード8を介して試験す
べき液晶表示装置に出力される。このようにして試験ド
ライバ14のみで試験するよりも大きい出力で、液晶非装
置の試験が実行される。
【0039】(汎用モードにおける動作)信号PORTが入
力されると、電源切換スイッチ27,28 が切り換わり電圧
VDD(VSS)が、液晶表示ドライバ5に供給される。そ
して汎用出力用データ保持回路20の汎用出力用データ
は、高速クロックで読み出され、出力制御回路10及びセ
グメント制御電圧変換回路3を介して試験ドライバ14及
び液晶表示ドライバ5を並行駆動し、汎用出力用データ
に応じた電圧VSH(VSL)が、外部リード8を介して外
部装置に出力される。このようにして試験ドライバ14の
みで出力するよりも大きい出力が、汎用の各種用途に供
せられる。
力されると、電源切換スイッチ27,28 が切り換わり電圧
VDD(VSS)が、液晶表示ドライバ5に供給される。そ
して汎用出力用データ保持回路20の汎用出力用データ
は、高速クロックで読み出され、出力制御回路10及びセ
グメント制御電圧変換回路3を介して試験ドライバ14及
び液晶表示ドライバ5を並行駆動し、汎用出力用データ
に応じた電圧VSH(VSL)が、外部リード8を介して外
部装置に出力される。このようにして試験ドライバ14の
みで出力するよりも大きい出力が、汎用の各種用途に供
せられる。
【0040】図5は本願の第3発明に係る液晶表示コン
トローラ・ドライバの要部ブロック図であり、1個の液
晶表示ドライバ5及び液晶表示コントローラを示してい
る。この液晶表示コントローラ・ドライバは通常の液晶
表示装置を駆動するセグメント出力モードの場合は、低
速クロックCLK に基づいて動作が進行し、内蔵されてい
る液晶表示ドライバを試験する試験モードの場合は、外
部から入力されるテスト制御信号及びテスト用データに
基づいて動作が進行する。
トローラ・ドライバの要部ブロック図であり、1個の液
晶表示ドライバ5及び液晶表示コントローラを示してい
る。この液晶表示コントローラ・ドライバは通常の液晶
表示装置を駆動するセグメント出力モードの場合は、低
速クロックCLK に基づいて動作が進行し、内蔵されてい
る液晶表示ドライバを試験する試験モードの場合は、外
部から入力されるテスト制御信号及びテスト用データに
基づいて動作が進行する。
【0041】液晶表示データメモリ1のセグメントデー
タは、低速クロックCLK で読み出され、データ線2を介
して入力選択切換回路32に入力される。テスト用データ
は電圧VSHと電圧VSLとから試験に必要な電圧を選択す
るデータであって、データ線33を介して同じく入力選択
切換回路32に入力される。信号TESTは信号線11を介し
て、かつ信号TESTの反転した信号TESTバーは信号線34を
介していずれも入力選択切換回路32に与えられる。入力
選択切換回路32は、信号TESTバーによりセグメントデー
タを選択し、信号TESTによりテスト用データを選択し、
選択したデータをセグメント制御電圧変換回路3へ出力
する。セグメント制御電圧変換回路3は入力されたセグ
メントデータ又はテスト用データを、変換して液晶表示
ドライバ5を制御できる電圧となして制御線4を介して
液晶表示ドライバ5へ出力する。
タは、低速クロックCLK で読み出され、データ線2を介
して入力選択切換回路32に入力される。テスト用データ
は電圧VSHと電圧VSLとから試験に必要な電圧を選択す
るデータであって、データ線33を介して同じく入力選択
切換回路32に入力される。信号TESTは信号線11を介し
て、かつ信号TESTの反転した信号TESTバーは信号線34を
介していずれも入力選択切換回路32に与えられる。入力
選択切換回路32は、信号TESTバーによりセグメントデー
タを選択し、信号TESTによりテスト用データを選択し、
選択したデータをセグメント制御電圧変換回路3へ出力
する。セグメント制御電圧変換回路3は入力されたセグ
メントデータ又はテスト用データを、変換して液晶表示
ドライバ5を制御できる電圧となして制御線4を介して
液晶表示ドライバ5へ出力する。
【0042】液晶表示ドライバ5はPチャネルトランジ
スタ6及びNチャネルトランジスタ7よりなる。両トラ
ンジスタ6,7のゲートは接続されて入力端として信号
線4に接続され、両トランジスタ6,7のドレインは接
続されて出力端として外部リード8に接続される。外部
リード8はセグメント出力モードの場合は、液晶表示装
置に接続され、試験モードの場合は、半導体集積回路を
試験する試験機(以下テスタという)に接続される。両
トランジスタ6,7のソースは液晶表示バイアス制御回
路9が生成する電圧VSH,VSLをそれぞれ供給される。
スタ6及びNチャネルトランジスタ7よりなる。両トラ
ンジスタ6,7のゲートは接続されて入力端として信号
線4に接続され、両トランジスタ6,7のドレインは接
続されて出力端として外部リード8に接続される。外部
リード8はセグメント出力モードの場合は、液晶表示装
置に接続され、試験モードの場合は、半導体集積回路を
試験する試験機(以下テスタという)に接続される。両
トランジスタ6,7のソースは液晶表示バイアス制御回
路9が生成する電圧VSH,VSLをそれぞれ供給される。
【0043】テスト制御信号TEST CONT は ■H" と ■
L" とが交互に交替する信号ではなく、 ■H" が一定
期間継続し、次いで ■L" が一定期間継続する信号で
あって、その継続期間は前もって決められているが、試
験の進行状況に応じて制御することが可能である。この
信号TEST CONT 及び低速クロックCLK が制御信号切換回
路36に入力され、かつ信号TESTが同じく制御信号切換回
路36に与えられるようになしてある。制御信号切換回路
36は信号TESTが与えられた場合は信号TEST CONTを選択
し、信号TESTが与えられない場合は低速クロックCLK を
選択し、選択した信号を液晶表示バイアス制御回路9へ
出力する。液晶表示バイアス制御回路9は外部より4種
の電圧VL3,VL2,VL1,VSS(VL3>VL2>VL1>V
SS)を供給されており、低速クロックCLK が入力されて
いる場合は、電圧VL3(VSS)と電圧VL2(VL1)とを
低速クロックに応じて交互に選択し、信号TEST CONT が
入力されている場合は、信号TEST CONT に応じて選択
し、いずれの場合においても2種の電圧VSH及びVSLと
して液晶表示ドライバ5に供給するようなしてある。
L" とが交互に交替する信号ではなく、 ■H" が一定
期間継続し、次いで ■L" が一定期間継続する信号で
あって、その継続期間は前もって決められているが、試
験の進行状況に応じて制御することが可能である。この
信号TEST CONT 及び低速クロックCLK が制御信号切換回
路36に入力され、かつ信号TESTが同じく制御信号切換回
路36に与えられるようになしてある。制御信号切換回路
36は信号TESTが与えられた場合は信号TEST CONTを選択
し、信号TESTが与えられない場合は低速クロックCLK を
選択し、選択した信号を液晶表示バイアス制御回路9へ
出力する。液晶表示バイアス制御回路9は外部より4種
の電圧VL3,VL2,VL1,VSS(VL3>VL2>VL1>V
SS)を供給されており、低速クロックCLK が入力されて
いる場合は、電圧VL3(VSS)と電圧VL2(VL1)とを
低速クロックに応じて交互に選択し、信号TEST CONT が
入力されている場合は、信号TEST CONT に応じて選択
し、いずれの場合においても2種の電圧VSH及びVSLと
して液晶表示ドライバ5に供給するようなしてある。
【0044】次に動作について説明する。 (セグメント出力モードにおける動作)信号TEST及び信
号TEST CONT は入力しない。制御信号切換回路36は低速
クロックCLK を選択して出力するので、液晶表示バイア
ス制御回路9は表示モードの電圧VL3(VSS)と非表示
モードの電圧VL2(VL1)とから低速クロックに基づい
て交互にいずれか一つのモードを選択し、電圧VSH及び
電圧VSLとして液晶表示ドライバ5のトランジスタ6
(7)に供給する。さらに信号TESTバーにより入力選択
切換回路32はテスト用データでなくセグメントデータを
選択する。セグメントデータは、セグメント制御電圧変
換回路3を介して液晶表示ドライバ5を低速で駆動し、
電圧VSH(VSL)を外部リード8に出力して液晶表示装
置のセグメントを点灯(消灯)する。
号TEST CONT は入力しない。制御信号切換回路36は低速
クロックCLK を選択して出力するので、液晶表示バイア
ス制御回路9は表示モードの電圧VL3(VSS)と非表示
モードの電圧VL2(VL1)とから低速クロックに基づい
て交互にいずれか一つのモードを選択し、電圧VSH及び
電圧VSLとして液晶表示ドライバ5のトランジスタ6
(7)に供給する。さらに信号TESTバーにより入力選択
切換回路32はテスト用データでなくセグメントデータを
選択する。セグメントデータは、セグメント制御電圧変
換回路3を介して液晶表示ドライバ5を低速で駆動し、
電圧VSH(VSL)を外部リード8に出力して液晶表示装
置のセグメントを点灯(消灯)する。
【0045】(試験モードにおける動作)信号TEST及び
信号TEST CONT を入力すると、制御信号切換回路36は信
号TEST CONT を選択して出力する。液晶表示バイアス制
御回路9は表示モードの電圧VL3(VSS)と非表示モー
ドの電圧VL2(VL1)とから信号TEST CONT に応じた一
つのモードを選択して電圧VSH及び電圧VSLとして液晶
表示ドライバ5の両トランジスタ6,7に供給する。さ
らに信号TESTにより入力選択切換回路32はセグメントデ
ータでなくテスト用データを選択してセグメント制御電
圧変換回路3に出力する。テスト用データはセグメント
制御電圧変換回路3で変換されて液晶表示ドライバ5を
制御する。この制御によりテスト用データが ■H" (
■L" )の場合はトランジスタ7(6)はオフ状態でト
ランジスタ6(7)はオン状態となり、外部リード8に
電圧VSH(VSL)が出力される。結局4種の電圧
(VL3,VL2,VL1,VSS)のいずれか一の電圧が、テ
スト用データ及び信号TEST CONT に応じて選択し出力さ
れ外部リード8を介してテスタにより試験される。この
ように4種の電圧が信号TEST CONT に応じて表示モード
か非表示モードかが選択され、その選択されたモードの
2種の電圧が液晶表示ドライバに供給される。そしてテ
スト用データが順次入力されることにより液晶表示ドラ
イバが順次駆動され、その出力電流がテスタの抵抗を流
れる。この抵抗の電圧をチェックすることにより液晶表
示ドライバの試験が進行して行く。
信号TEST CONT を入力すると、制御信号切換回路36は信
号TEST CONT を選択して出力する。液晶表示バイアス制
御回路9は表示モードの電圧VL3(VSS)と非表示モー
ドの電圧VL2(VL1)とから信号TEST CONT に応じた一
つのモードを選択して電圧VSH及び電圧VSLとして液晶
表示ドライバ5の両トランジスタ6,7に供給する。さ
らに信号TESTにより入力選択切換回路32はセグメントデ
ータでなくテスト用データを選択してセグメント制御電
圧変換回路3に出力する。テスト用データはセグメント
制御電圧変換回路3で変換されて液晶表示ドライバ5を
制御する。この制御によりテスト用データが ■H" (
■L" )の場合はトランジスタ7(6)はオフ状態でト
ランジスタ6(7)はオン状態となり、外部リード8に
電圧VSH(VSL)が出力される。結局4種の電圧
(VL3,VL2,VL1,VSS)のいずれか一の電圧が、テ
スト用データ及び信号TEST CONT に応じて選択し出力さ
れ外部リード8を介してテスタにより試験される。この
ように4種の電圧が信号TEST CONT に応じて表示モード
か非表示モードかが選択され、その選択されたモードの
2種の電圧が液晶表示ドライバに供給される。そしてテ
スト用データが順次入力されることにより液晶表示ドラ
イバが順次駆動され、その出力電流がテスタの抵抗を流
れる。この抵抗の電圧をチェックすることにより液晶表
示ドライバの試験が進行して行く。
【0046】
【発明の効果】以上詳述したように本願の第1発明及び
第2発明に係る液晶表示コントローラ・ドライバは、液
晶表示ドライバより高速で液晶表示装置を駆動する試験
ドライバを使用することにより、液晶表示装置の試験を
高速に実行できる効果を奏する。本願の第3発明に係る
液晶表示コントローラ・ドライバは、内蔵されている液
晶表示ドライバを試験するために必要な電圧を任意に生
成することができるので、液晶表示ドライバの試験を迅
速に実行できる効果を奏する。
第2発明に係る液晶表示コントローラ・ドライバは、液
晶表示ドライバより高速で液晶表示装置を駆動する試験
ドライバを使用することにより、液晶表示装置の試験を
高速に実行できる効果を奏する。本願の第3発明に係る
液晶表示コントローラ・ドライバは、内蔵されている液
晶表示ドライバを試験するために必要な電圧を任意に生
成することができるので、液晶表示ドライバの試験を迅
速に実行できる効果を奏する。
【図1】本願の第1の発明に係る液晶表示コントローラ
・ドライバのブロック図である。
・ドライバのブロック図である。
【図2】本願の第1の発明に係る他の液晶表示コントロ
ーラ・ドライバのブロック図である。
ーラ・ドライバのブロック図である。
【図3】本願の第2の発明に係る液晶表示コントローラ
・ドライバのブロック図である。
・ドライバのブロック図である。
【図4】本願の第2の発明に係る他の液晶表示コントロ
ーラ・ドライバのブロック図である。
ーラ・ドライバのブロック図である。
【図5】本願の第3の発明に係る液晶表示コントローラ
・ドライバのブロック図である。
・ドライバのブロック図である。
【図6】従来の液晶表示コントローラ・ドライバのブロ
ック図である。
ック図である。
1 液晶表示データメモリ 3 セグメント制御電圧変換回路 5 液晶表示ドライバ 8 外部リード 9 液晶表示バイアス制御回路 10 出力制御回路 14 試験ドライバ 20 汎用出力用データ保持回路 27,28 電源切換スイッチ 29 電源切換スイッチ制御回路 32 入力選択切換回路 36 制御信号切換回路
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成5年5月31日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0001
【補正方法】変更
【補正内容】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、液晶表示コントローラ
又は液晶表示ドライバを試験する回路を備えた液晶表示
コントローラ・ドライバに関する。
又は液晶表示ドライバを試験する回路を備えた液晶表示
コントローラ・ドライバに関する。
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0026
【補正方法】変更
【補正内容】
【0026】信号PORTが入力されると、出力制御回路10
は、液晶表示データメモリ1のセグメントデータではな
く、汎用出力データ保持回路からデータ線23を介して入
力される汎用出力用データを選択し、その選択したデー
タに応じて第1, 第2出力により試験ドライバを高速で
制御し、第3出力によりセグメント制御電圧変換回路3
の動作を停止させるようなしてある。外部リード8に接
続されている外部装置からのデータを受け入れるため、
外部リード8は汎用入力回路25及びデータ線21を介して
図示しない回路に接続されている。汎用入力回路25に信
号線26によりリード信号RDが与えられると、外部装置か
らのデータが読み込まれるようなしてある。その他の構
成については図1と同様であるので説明を省略する。
は、液晶表示データメモリ1のセグメントデータではな
く、汎用出力データ保持回路からデータ線23を介して入
力される汎用出力用データを選択し、その選択したデー
タに応じて第1, 第2出力により試験ドライバを高速で
制御し、第3出力によりセグメント制御電圧変換回路3
の動作を停止させるようなしてある。外部リード8に接
続されている外部装置からのデータを受け入れるため、
外部リード8は汎用入力回路25及びデータ線21を介して
図示しない回路に接続されている。汎用入力回路25に信
号線26によりリード信号RDが与えられると、外部装置か
らのデータが読み込まれるようなしてある。その他の構
成については図1と同様であるので説明を省略する。
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0036
【補正方法】変更
【補正内容】
【0036】汎用モードにおいては、外部リード8に接
続されている外部装置からデータを受け入れることも可
能であって、外部リード8は汎用入力回路25及びデータ
線21を介して図示しない回路に接続されていて、汎用入
力回路25に信号線26によりリード信号RDが与えられる
と、外部装置からのデータが読み込まれるようなしてあ
る。その他の構成については図3と同様であるので説明
を省略する。
続されている外部装置からデータを受け入れることも可
能であって、外部リード8は汎用入力回路25及びデータ
線21を介して図示しない回路に接続されていて、汎用入
力回路25に信号線26によりリード信号RDが与えられる
と、外部装置からのデータが読み込まれるようなしてあ
る。その他の構成については図3と同様であるので説明
を省略する。
【手続補正4】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0038
【補正方法】変更
【補正内容】
【0038】(試験モードにおける動作)信号TESTが入
力されると、電圧切換スイッチ27,28 が切り換わり、電
圧VDD(VSS)が液晶表示ドライバ5及び試験ドライバ
14に供給される。そして液晶表示データメモリ1のセグ
メントデータは、高速クロックで読み出され、出力制御
回路10を介して試験ドライバ14を駆動し、セグメント制
御電圧変換回路3を介して液晶表示ドライバ5を駆動す
る。セグメントデータにより並行駆動された試験ドライ
バ14及び液晶表示ドライバ5によりセグメントデータに
応じて電圧VDD(VSS)が外部リード8を介して試験す
べき液晶表示装置に出力される。このようにして試験ド
ライバ14のみで試験するよりも大きい出力で、液晶表示
装置の試験が実行される。
力されると、電圧切換スイッチ27,28 が切り換わり、電
圧VDD(VSS)が液晶表示ドライバ5及び試験ドライバ
14に供給される。そして液晶表示データメモリ1のセグ
メントデータは、高速クロックで読み出され、出力制御
回路10を介して試験ドライバ14を駆動し、セグメント制
御電圧変換回路3を介して液晶表示ドライバ5を駆動す
る。セグメントデータにより並行駆動された試験ドライ
バ14及び液晶表示ドライバ5によりセグメントデータに
応じて電圧VDD(VSS)が外部リード8を介して試験す
べき液晶表示装置に出力される。このようにして試験ド
ライバ14のみで試験するよりも大きい出力で、液晶表示
装置の試験が実行される。
【手続補正5】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0044
【補正方法】変更
【補正内容】
【0044】次に動作について説明する。 (セグメント出力モードにおける動作)信号TEST及び信
号TEST CONT は入力しない。制御信号切換回路36は低速
クロックCLK を選択して出力するので、液晶表示バイア
ス制御回路9は表示モードの電圧VL3(VSS)と非表示
モードの電圧VL2(VL1)とから低速クロックに基づい
て交互に選択し、電圧VSH及び電圧VSLとして液晶表示
ドライバ5のトランジスタ6(7)に供給する。さらに
信号TESTバーにより入力選択切換回路32はテスト用デー
タでなくセグメントデータを選択する。セグメントデー
タは、セグメント制御電圧変換回路3を介して液晶表示
ドライバ5を低速で駆動し、電圧VSH(VSL)を外部リ
ード8に出力して液晶表示装置のセグメントを点灯(消
灯)する。
号TEST CONT は入力しない。制御信号切換回路36は低速
クロックCLK を選択して出力するので、液晶表示バイア
ス制御回路9は表示モードの電圧VL3(VSS)と非表示
モードの電圧VL2(VL1)とから低速クロックに基づい
て交互に選択し、電圧VSH及び電圧VSLとして液晶表示
ドライバ5のトランジスタ6(7)に供給する。さらに
信号TESTバーにより入力選択切換回路32はテスト用デー
タでなくセグメントデータを選択する。セグメントデー
タは、セグメント制御電圧変換回路3を介して液晶表示
ドライバ5を低速で駆動し、電圧VSH(VSL)を外部リ
ード8に出力して液晶表示装置のセグメントを点灯(消
灯)する。
【手続補正6】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図1
【補正方法】変更
【補正内容】
【図1】
Claims (3)
- 【請求項1】 液晶表示コントローラの制御により液晶
表示装置を駆動する液晶表示ドライバを備える液晶表示
コントローラ・ドライバにおいて、前記液晶表示ドライ
バより高速で液晶表示装置を駆動する試験ドライバと、
前記液晶表示ドライバと試験ドライバの出力を同一出力
路より出力する出力部と、試験ドライバ及び前記液晶表
示ドライバの出力・非出力を制御する制御手段とを備え
たことを特徴とする液晶表示コントローラ・ドライバ。 - 【請求項2】 試験ドライバと液晶表示ドライバとを並
列駆動する手段を備えた請求項1に記載の液晶表示コン
トローラ・ドライバ。 - 【請求項3】 複数の電圧から所要の電圧をクロック信
号に基づいて選択して液晶表示ドライバに供給し、また
液晶表示装置に表示するセグメントデータにより液晶表
示ドライバを駆動する液晶表示コントローラ・ドライバ
において、前記液晶表示ドライバを試験するための電圧
を前記複数の電圧から選択するテスト制御信号と前記ク
ロック信号とを切り換える切換手段と、前記液晶表示ド
ライバを試験するテストデータと前記セグメントデータ
とを切り換える切換手段とを備えたことを特徴とする液
晶表示コントローラ・ドライバ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34842392A JPH06205338A (ja) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | 液晶表示コントローラ・ドライバ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34842392A JPH06205338A (ja) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | 液晶表示コントローラ・ドライバ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06205338A true JPH06205338A (ja) | 1994-07-22 |
Family
ID=18396914
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP34842392A Pending JPH06205338A (ja) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | 液晶表示コントローラ・ドライバ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06205338A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR19990052412A (ko) * | 1997-12-22 | 1999-07-05 | 김영환 | 박막 트랜지스터 액정표시패널의 화상 테스트 장치 |
| KR20030032244A (ko) * | 2001-10-17 | 2003-04-26 | 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 | 타이밍 컨트롤러의 데이타 마스킹 및 테스트 패턴 발생회로 |
| KR100429393B1 (ko) * | 1997-06-25 | 2004-08-02 | 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 | 액정모듈용 인터페이스회로 |
| JP2005291972A (ja) * | 2004-03-31 | 2005-10-20 | Casio Comput Co Ltd | 検査回路 |
| KR100535355B1 (ko) * | 1998-10-29 | 2006-03-16 | 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 | 액정모듈용 인터페이스회로 |
-
1992
- 1992-12-28 JP JP34842392A patent/JPH06205338A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100429393B1 (ko) * | 1997-06-25 | 2004-08-02 | 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 | 액정모듈용 인터페이스회로 |
| KR19990052412A (ko) * | 1997-12-22 | 1999-07-05 | 김영환 | 박막 트랜지스터 액정표시패널의 화상 테스트 장치 |
| KR100535355B1 (ko) * | 1998-10-29 | 2006-03-16 | 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 | 액정모듈용 인터페이스회로 |
| KR20030032244A (ko) * | 2001-10-17 | 2003-04-26 | 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 | 타이밍 컨트롤러의 데이타 마스킹 및 테스트 패턴 발생회로 |
| JP2005291972A (ja) * | 2004-03-31 | 2005-10-20 | Casio Comput Co Ltd | 検査回路 |
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