JPH0621032A - Substrate plasma cleaning device - Google Patents

Substrate plasma cleaning device

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JPH0621032A
JPH0621032A JP17399092A JP17399092A JPH0621032A JP H0621032 A JPH0621032 A JP H0621032A JP 17399092 A JP17399092 A JP 17399092A JP 17399092 A JP17399092 A JP 17399092A JP H0621032 A JPH0621032 A JP H0621032A
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substrate
casing
conveyor
plasma cleaning
rod
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Isamu Morisako
勇 森迫
Tetsuhiro Iwai
哲博 岩井
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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  • Wire Bonding (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 基板のプラズマクリーニングを行うケーシン
グに、迅速に基板を出し入れできるプラズマクリーニン
グ装置。 【構成】 ワイヤボンディングを行うのに先立って基板
10のクリーニングを行うプラズマクリーニング装置に
おいて、基板10をコンベア41からプラズマクリーニ
ングを行うケーシング1に移送する動作と、プラズマク
リーニングが完了した基板10をケーシング1からコン
ベア41へ移送する動作を一動作で行える出し入れ手段
31〜34を設けることにより、出し入れに要する時間
を大巾に短縮する。
(57) [Abstract] [Purpose] A plasma cleaning device that allows a substrate to be quickly put in and taken out of a casing for plasma cleaning the substrate. In a plasma cleaning apparatus that cleans a substrate 10 prior to performing wire bonding, an operation of transferring the substrate 10 from a conveyor 41 to a casing 1 that performs plasma cleaning, and a substrate 10 that has undergone plasma cleaning are transferred to the casing 1. By providing the withdrawing / inserting means 31 to 34 that can perform the operation of transferring the sheet from the conveyor 41 to the conveyor 41 in one operation, the time required for the withdrawal and withdrawal can be greatly shortened.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は基板のプラズマクリーニ
ング装置に係り、詳しくは、半導体チップが搭載される
基板をプラズマクリーニング用ケーシングに作業性よく
出し入れできる基板のプラズマクリーニング装置に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a plasma cleaning apparatus for a substrate, and more particularly to a plasma cleaning apparatus for a substrate which allows a substrate on which a semiconductor chip is mounted to be taken in and out of a plasma cleaning casing with good workability.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体デバイスの製造工程において、基
板に搭載された半導体チップの電極と基板の電極とをワ
イヤで接続することが行われる。このようなワイヤボン
ディング工程において、チップや基板の電極に不純物が
付着していると、ワイヤを電極にしっかりボンディング
することはできない。この不純物としては、作業者が基
板を手で取り扱った場合に付着する手脂、空気中に浮遊
するガス化したオイル、電極表面に自然形成される酸化
膜、空気中の酸素やチッソなどのガス吸着膜等がある。
2. Description of the Related Art In a semiconductor device manufacturing process, electrodes of a semiconductor chip mounted on a substrate and electrodes of the substrate are connected by wires. In such a wire bonding process, if impurities adhere to the electrodes of the chip or the substrate, the wires cannot be firmly bonded to the electrodes. The impurities include hand grease adhered when an operator manually handles the substrate, gasified oil floating in the air, an oxide film that is naturally formed on the electrode surface, and gases such as oxygen and nitrogen in the air. There is an adsorption film etc.

【0003】このため本出願人は、ワイヤボンディング
に先立ってプラズマ手段により基板をクリーニングする
装置を先に提案した(特開平3−159143号公
報)。このものは特に同公報の第1図及び第2図に示さ
れるように、コンベヤ17(符号は同公報援用、以下
同)で搬送されてきた基板20を、受け渡し手段21に
より一枚づつ載置部10に移載しながら、この載置部1
0をケーシング1内にピッチ送りして収納し、蓋部材1
1で開口部2を遮蔽した後、ケーシング1内にプラズマ
を発生させて基板20の表面をクリーニングし、クリー
ニングが終了したならば、上述と逆動作を行って基板2
0を一枚づつコンベヤ18に受け渡して次工程へ送るよ
うになっていた。
Therefore, the applicant of the present invention has previously proposed an apparatus for cleaning a substrate by plasma means prior to wire bonding (Japanese Patent Laid-Open No. 3-159143). In particular, as shown in FIGS. 1 and 2 of the publication, the substrates 20 carried by a conveyor 17 (reference is made to the publication, hereinafter the same) are placed one by one by a transfer means 21. While transferring to the section 10, this mounting section 1
0 is pitch-fed and stored in the casing 1, and the lid member 1
After the opening 2 is shielded by 1, plasma is generated in the casing 1 to clean the surface of the substrate 20, and when the cleaning is completed, the reverse operation to the above is performed to perform the substrate 2
0 was delivered to the conveyor 18 one by one and sent to the next process.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
手段は、載置部10をケーシング1内へ前進させながら
受け渡し手段21によりコンベヤ17上の基板20を載
置部10に移載し、またプラズマクリーニングが終了し
たならば、載置部10をケーシング1から引出しながら
基板20を載置部10からコンベヤ18に移載するよう
になっていたため、基板20のケーシング1に対する出
し入れのために多大な時間を要し、作業能率があがらな
い問題点があった。
However, in the above-mentioned conventional means, the substrate 20 on the conveyor 17 is transferred to the mounting part 10 by the transfer means 21 while advancing the mounting part 10 into the casing 1, and the plasma cleaning is performed. When the process is completed, the substrate 20 is transferred from the placing unit 10 to the conveyor 18 while pulling out the placing unit 10 from the casing 1. Therefore, it takes a lot of time to take the substrate 20 in and out of the casing 1. That is, there was a problem that work efficiency did not increase.

【0005】そこで本発明は、基板をケーシングに出し
入れするのに要する時間を大巾に短縮できるプラズマク
リーニング装置を提供することを目的とする。
Therefore, an object of the present invention is to provide a plasma cleaning apparatus capable of greatly shortening the time required for taking a substrate in and out of a casing.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】このために本発明は、コ
ンベア上の基板のケーシングへの移送と、ケーシングか
らコンベアへの移送を一動作で同時に行える基板の出し
入れ手段を構成した。
To this end, the present invention comprises means for loading and unloading a substrate that can simultaneously transfer a substrate on a conveyor to a casing and transfer it from the casing to the conveyor in one operation.

【0007】[0007]

【作用】上記構成によれば、コンベア上の基板をケーシ
ングに移送する動作と、ケーシングからコンベアに移送
する動作を一動作で同時に行えるので、基板をケーシン
グに出し入れするのに要する時間を大巾に短縮できる。
According to the above structure, the operation of transferring the substrate on the conveyor to the casing and the operation of transferring the substrate from the casing to the conveyor can be performed at the same time in one operation. Therefore, the time required to take the substrate in and out of the casing can be greatly increased. Can be shortened.

【0008】[0008]

【実施例】次に、図面を参照しながら本発明の実施例を
説明する。
Embodiments of the present invention will now be described with reference to the drawings.

【0009】図1は基板のプラズマクリーニング装置の
全体斜視図、図2は側面図である。図1において、1は
箱形のケーシングであって、図2に示すようにその内部
にはプレート状の載置部2が配設されている。この載置
部2はシャフト3に支持されており、このシャフト3は
高電圧を発生する電源4に接続されている。またケーシ
ング1は導電材から成り、アース線7でアースされてい
る。またケーシング1にはパイプ8を通して放電ガス供
給部30からArガスなどのプラズマ放電用ガスが供給
される。9は開閉バルブである。
FIG. 1 is an overall perspective view of a plasma cleaning apparatus for substrates, and FIG. 2 is a side view. In FIG. 1, 1 is a box-shaped casing, and as shown in FIG. 2, a plate-shaped mounting portion 2 is arranged therein. The mounting portion 2 is supported by a shaft 3, and the shaft 3 is connected to a power source 4 that generates a high voltage. The casing 1 is made of a conductive material and is grounded by a ground wire 7. Gas for plasma discharge such as Ar gas is supplied to the casing 1 from the discharge gas supply unit 30 through the pipe 8. Reference numeral 9 is an opening / closing valve.

【0010】載置部2及びシャフト3は導電材から成っ
ており、高電圧を印加すると、ケーシング1内でプラズ
マが発生する。すなわち載置部2は放電用電極を兼務し
ている。シャフト3はシリンダ5のロッド6に支持され
ており、ロッド6を突没させると載置部2は昇降する。
11はケーシング1に連結された排気管、12は開閉バ
ルブであり、真空ポンプ19を駆動することによりケー
シング1内のガスを排気する。
The mounting portion 2 and the shaft 3 are made of a conductive material, and when a high voltage is applied, plasma is generated in the casing 1. That is, the mounting portion 2 also serves as a discharge electrode. The shaft 3 is supported by the rod 6 of the cylinder 5, and when the rod 6 is projected and retracted, the mounting portion 2 moves up and down.
Reference numeral 11 is an exhaust pipe connected to the casing 1, 12 is an opening / closing valve, and the vacuum pump 19 is driven to exhaust the gas in the casing 1.

【0011】図1及び図2において、ケーシング1の上
面は開口部13となっている。14はこの開口部13を
開閉するカバー体であって、開閉手段としてのシリンダ
15のロッド16に固着子17を介して結合されてい
る。18はシリンダ15の固定ブラケットである。した
がってシリンダ15のロッド16を突没させると、カバ
ー体14は開口部13に対してY方向に前進後退し、開
口部13を開閉する。勿論カバー体は回転動作等をして
開口部13を開閉するものでもよい。
1 and 2, the upper surface of the casing 1 has an opening 13. Reference numeral 14 denotes a cover body that opens and closes the opening portion 13, and is connected to a rod 16 of a cylinder 15 serving as an opening / closing means via a stator 17. Reference numeral 18 is a fixed bracket of the cylinder 15. Therefore, when the rod 16 of the cylinder 15 is projected and retracted, the cover body 14 moves forward and backward in the Y direction with respect to the opening 13 to open and close the opening 13. Needless to say, the cover body may be one that rotates and opens the opening 13.

【0012】図1において、21Aは第1のコンベアで
あって、コンベア22Aにより搬送されてきた基板10
をケーシング1の前部に設けられた第2のコンベア41
(41A,41B)へ搬送するものであり、フレーム2
3に無端回動ベルト24を配設して構成されている。フ
レーム23にはシリンダ27のロッド28が結合されて
おり、ロッド28が突没すると、コンベア21Aは基板
10の搬送方向Xと直交するY方向に水平移動する。2
5はベルト24の駆動用モータである。21Bは第1の
コンベア21Aと反対側に設けられた第3のコンベアで
あって、ケーシング1内でクリーニングされた基板10
をコンベア22Bへ搬出するものである。この第3のコ
ンベア21Bの構成は第1のコンベア21Aと同じであ
り、同一構成部品には同一符号を付すことによりその説
明を省略する。
In FIG. 1, reference numeral 21A denotes a first conveyor, which is the substrate 10 conveyed by the conveyor 22A.
The second conveyor 41 provided at the front of the casing 1.
(41A, 41B), the frame 2
3 is provided with an endless rotating belt 24. A rod 28 of a cylinder 27 is coupled to the frame 23, and when the rod 28 is projected and retracted, the conveyor 21A horizontally moves in the Y direction orthogonal to the transport direction X of the substrate 10. Two
5 is a motor for driving the belt 24. Reference numeral 21B denotes a third conveyor provided on the opposite side of the first conveyor 21A, which is the substrate 10 cleaned in the casing 1.
Is carried out to the conveyor 22B. The configuration of the third conveyor 21B is the same as that of the first conveyor 21A, and the same components are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted.

【0013】第2のコンベア41A,41Bは2個並設
されており、無端回動ベルト42とモータ43から成っ
ている。前記シリンダ27のロッド28が突出すると、
前記第1のコンベア21A及び第3のコンベア21Bは
一方のコンベア41Aと同一直線上に位置して、コンベ
ア21Aからコンベア41A、あるいはコンベア41A
からコンベア21Bへの基板10の搬送が可能となり
(図3実線参照)、またロッド28が引き込むと、コン
ベア21Aからコンベア41B及びコンベア41Bから
コンベア21Bへの基板10の搬送が可能となる(図3
鎖線参照)。
Two second conveyors 41A and 41B are arranged side by side and are composed of an endless rotating belt 42 and a motor 43. When the rod 28 of the cylinder 27 projects,
The first conveyor 21A and the third conveyor 21B are located on the same straight line as the one conveyor 41A, and the conveyor 21A to the conveyor 41A, or the conveyor 41A.
The substrate 10 can be transported from the conveyor 21B to the conveyor 21B (see the solid line in FIG. 3), and when the rod 28 is retracted, the substrate 10 can be transported from the conveyor 21A to the conveyor 41B and from the conveyor 41B to the conveyor 21B (see FIG. 3).
See the chain line).

【0014】次に、図1及び図2を参照しながら、基板
10をケーシング1内に収納し、またケーシング1から
取り出す出し入れ手段を説明する。31はくし歯形のプ
レートであって、基板10を真空吸着してピックアップ
するピックアップ手段としての吸着パッド32を複数個
備えており、本実施例では4枚の基板10を同時に真空
吸着する。なお吸着パッド32の真空吸引系は図が繁雑
になるので省略する。このプレート31の中央部はモー
タ33の回転軸34に固着されており、モータ33が駆
動するとプレート31は水平回転する。
Next, with reference to FIGS. 1 and 2, a description will be given of a means for putting the board 10 in the casing 1 and taking it out of the casing 1. Reference numeral 31 is a comb-shaped plate, and is provided with a plurality of suction pads 32 as a pickup means for picking up the substrate 10 by vacuum suction, and in this embodiment, four substrates 10 are vacuum-sucked at the same time. The vacuum suction system of the suction pad 32 is omitted because the drawing becomes complicated. The central portion of the plate 31 is fixed to the rotary shaft 34 of the motor 33, and when the motor 33 is driven, the plate 31 rotates horizontally.

【0015】モータ33は支持板35に固着されてお
り、支持板35は垂直なシリンダ36のロッド37に結
合されている。したがってロッド37が突没すると、モ
ータ33やプレート31は上下動する。シリンダ36は
ブラケット38に固着されている。したがって前記構成
部品31〜36は、基板10の出し入れ手段を構成して
いる。
The motor 33 is fixed to a support plate 35, and the support plate 35 is connected to a rod 37 of a vertical cylinder 36. Therefore, when the rod 37 is projected and retracted, the motor 33 and the plate 31 move up and down. The cylinder 36 is fixed to a bracket 38. Therefore, the component parts 31 to 36 constitute a means for taking in and out the substrate 10.

【0016】本装置は上記のような構成より成り、次に
図4及び図5を参照しながら動作を説明する。図4
(a)に示すように、第1のコンベア21Aにより第2
のコンベア41A,41B上に基板10が搬送されてく
ると、シリンダ36のロッド37が突出することによ
り、プレート31は下降して吸着パッド32によりコン
ベア41A,41B上の2枚の基板10を吸着し、次に
ロッド37が引き込むことにより、基板10はピックア
ップされる。
The present apparatus has the above-mentioned structure, and its operation will be described below with reference to FIGS. 4 and 5. Figure 4
As shown in (a), the first conveyor 21A
When the substrates 10 are conveyed onto the conveyors 41A and 41B, the plate 37 descends due to the rod 37 of the cylinder 36 protruding, and the suction pads 32 attract the two substrates 10 on the conveyors 41A and 41B. Then, the substrate 10 is picked up by pulling in the rod 37 next.

【0017】次に図4(b)に示すように、モータ33
が駆動してプレート31は180°θA方向に回転し、
基板10をケーシング1の直上へ移送する。またシリン
ダ5(図2参照)のロッド6が突出し、載置部2は上昇
する。そこでシリンダ36のロッド37が突出すること
により、基板10は載置部2上に着地し、そこで吸着パ
ッド32の真空吸着状態を解除する(図4(b)鎖線参
照)。このようにして基板10が載置部2に移載された
ならば、ロッド37が引き込んでプレート31は上昇位
置へ退去するとともに、シリンダ5のロッド6が引き込
んで載置部2は下降し、またシリンダ15のロッド16
が突出することにより、カバー体14は前進して開口部
13を遮蔽する(図4(c)参照)。
Next, as shown in FIG. 4B, the motor 33
Is driven to rotate the plate 31 in the 180 ° θA direction,
The substrate 10 is transferred directly above the casing 1. Further, the rod 6 of the cylinder 5 (see FIG. 2) projects and the mounting portion 2 rises. Then, the rod 37 of the cylinder 36 projects so that the substrate 10 lands on the mounting portion 2 and the vacuum suction state of the suction pad 32 is released there (see the chain line in FIG. 4B). When the substrate 10 is transferred to the mounting portion 2 in this way, the rod 37 retracts and the plate 31 retreats to the raised position, while the rod 6 of the cylinder 5 retracts and the mounting portion 2 descends. Also, the rod 16 of the cylinder 15
The protrusion causes the cover body 14 to move forward to block the opening 13 (see FIG. 4C).

【0018】以上のようにして2枚の基板10は同時に
ケーシング1内に収納される。次に図2において、ポン
プ19を駆動してケーシング1内の空気を排気した後、
パイプ8を通してArガスなどのプラズマ放電用ガスが
ケーシング1内に供給される。次に電源4が駆動して載
置部2に高電圧が印加されることにより、ケーシング1
内にプラズマが発生し、Arガス分子、Arイオン、マ
イナス電子などが基板10の表面に衝突してその表面が
クリーニングされる。
As described above, the two substrates 10 are simultaneously housed in the casing 1. Next, in FIG. 2, after driving the pump 19 to exhaust the air in the casing 1,
Gas for plasma discharge such as Ar gas is supplied into the casing 1 through the pipe 8. Next, the power source 4 is driven and a high voltage is applied to the mounting portion 2, so that the casing 1
Plasma is generated inside, and Ar gas molecules, Ar ions, negative electrons, etc. collide with the surface of the substrate 10 to clean the surface.

【0019】クリーニングが終了したならば、パイプ1
1を通してケーシング1内のガスを排気して常圧に戻す
とともに、シリンダ15のロッド16が引き込んでカバ
ー体14は開く。次に、図5(a)に示すように、シリ
ンダ5のロッド6が突出して載置部2は上昇する。そこ
でシリンダ36のロッド37が突出して右側の2個の吸
着パッド32は載置部2上の2枚の基板10をピックア
ップする。このとき、コンベア41A,41B上には次
の基板10がすでに搬送されており、左側の2個の吸着
パッド32はコンベア41A,41B上の基板10をピ
ックアップする。次にモータ33が駆動して、プレート
31は上記の場合と逆方向θBに180°回転し(図5
(b)参照)、次にシリンダ36のロッド37が突出し
てプレート31は下降し、左側の吸着パッド32はクリ
ーニング済の2枚の基板10をコンベア41A,41B
上に移載するとともに、右側の吸着パッド32は新たな
2枚の基板10を載置部2に移載する。次いで図4
(c)に示す場合と同様にカバー体14が前進してケー
シング1の開口部13を塞ぎ、上述の動作が繰り返され
る。またコンベア41A,41B上に移載されたクリー
ニング済の基板10は第3のコンベア21Bへ搬送さ
れ、更にコンベア22Bにより次の工程へ搬出される。
When the cleaning is completed, the pipe 1
The gas in the casing 1 is exhausted through 1 to return to normal pressure, and the rod 16 of the cylinder 15 is retracted to open the cover body 14. Next, as shown in FIG. 5A, the rod 6 of the cylinder 5 projects and the mounting portion 2 rises. Then, the rod 37 of the cylinder 36 projects and the two suction pads 32 on the right side pick up the two substrates 10 on the mounting portion 2. At this time, the next substrate 10 has already been conveyed on the conveyors 41A and 41B, and the two suction pads 32 on the left side pick up the substrate 10 on the conveyors 41A and 41B. Next, the motor 33 is driven to rotate the plate 31 by 180 ° in the opposite direction θB (see FIG. 5).
(See (b)) Next, the rod 37 of the cylinder 36 projects, the plate 31 descends, and the left suction pad 32 conveys the two cleaned substrates 10 to the conveyors 41A and 41B.
While being transferred to the upper side, the suction pad 32 on the right side transfers two new substrates 10 to the mounting unit 2. Then in FIG.
Similarly to the case shown in (c), the cover body 14 moves forward to close the opening 13 of the casing 1, and the above operation is repeated. The cleaned substrate 10 transferred onto the conveyors 41A and 41B is conveyed to the third conveyor 21B and further conveyed to the next step by the conveyor 22B.

【0020】このように本手段は、プレート31の18
0°の回転動作により、コンベア41A,41B上の基
板10をケーシング1上へ移送する動作と、ケーシング
1内のクリーニング済の基板10をコンベア41A,4
1B上へ移送する動作を一動作で同時に行うようにして
いるので、ケーシング1に対する基板10の出し入れに
要する時間を大巾に短縮できる。なお本実施例では、2
枚の基板10を同時に出し入れするものであるが、プレ
ート31に設けられる吸着パッド32の数を増やせば、
3枚以上の基板10を同時に出し入れすることも可能で
あり、このように吸着パッド32の数を増やすことによ
り、より多数枚の基板10を同時にケーシング1に出し
入れするようにして、出し入れに要する時間を更に短縮
することができる。また本実施例では、プレート31を
ターンテーブルとし、水平回転運動により基板10をケ
ーシング1に出し入れするようにしているが、直線運動
等により基板10を出し入れするようにしてもよく、要
は基板のケーシングに対する出し入れを一動作で同時に
できるようにすればよい。
As described above, the present means is provided with 18 of the plate 31.
The rotation operation of 0 ° transfers the substrate 10 on the conveyors 41A and 41B onto the casing 1, and the cleaned substrate 10 in the casing 1 is conveyed to the conveyors 41A and 4B.
Since the operation of transferring onto the 1B is performed at the same time in one operation, the time required for taking the substrate 10 in and out of the casing 1 can be greatly shortened. In this embodiment, 2
Although the substrates 10 are put in and taken out at the same time, if the number of suction pads 32 provided on the plate 31 is increased,
It is also possible to take out and put in three or more substrates 10 at the same time, and by increasing the number of suction pads 32 in this way, a larger number of substrates 10 can be put in and taken out of the casing 1 at the same time. Can be further shortened. In this embodiment, the plate 31 is a turntable, and the substrate 10 is moved in and out of the casing 1 by a horizontal rotation motion. However, the substrate 10 may be moved in and out by a linear motion or the like. It suffices that the casing can be put in and taken out at the same time by one operation.

【0021】[0021]

【発明の効果】本発明は,基板をコンベアからケーシン
グへ移送する動作と、ケーシングからコンベアへ移送す
る動作を一動作で行うようにしているので、ケーシング
に対する基板の出し入れに要する時間を大巾に短縮し、
多数枚の基板をプラズマクリーニング処理するのに要す
る全体時間を著しく短縮して、作業能率を向上すること
ができる。
According to the present invention, the operation of transferring the substrate from the conveyor to the casing and the operation of transferring the substrate from the casing to the conveyor are performed in one operation. Therefore, the time required for taking the substrate in and out of the casing is wide. Shorten,
It is possible to significantly reduce the total time required to perform the plasma cleaning processing on a large number of substrates and improve the work efficiency.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例に係るプラズマクリーニング
装置の斜視図
FIG. 1 is a perspective view of a plasma cleaning apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施例に係るプラズマクリーニング
装置の側面図
FIG. 2 is a side view of a plasma cleaning device according to an embodiment of the present invention.

【図3】本発明の一実施例に係るプラズマクリーニング
装置の基板の搬送コンベアの平面図
FIG. 3 is a plan view of a substrate transfer conveyor of a plasma cleaning apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図4】(a)本発明の一実施例に係るプラズマクリー
ニングの工程図 (b)本発明の一実施例に係るプラズマクリーニングの
工程図 (c)本発明の一実施例に係るプラズマクリーニングの
工程図
4A is a process diagram of plasma cleaning according to an embodiment of the present invention. FIG. 4B is a process diagram of plasma cleaning according to an embodiment of the present invention. FIG. 4C is a process diagram of plasma cleaning according to an embodiment of the present invention. Process chart

【図5】(a)本発明の一実施例に係るプラズマクリー
ニングの工程図 (b)本発明の一実施例に係るプラズマクリーニングの
工程図
5A is a process diagram of plasma cleaning according to an embodiment of the present invention. FIG. 5B is a process diagram of plasma cleaning according to an embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ケーシング 2 載置部(電極) 10 基板 13 開口部 14 カバー体 15 開閉手段 30 放電ガス供給部 31 出し入れ手段 32 出し入れ手段(吸着パッド) 33 出し入れ手段 34 出し入れ手段 41 コンベア DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Casing 2 Mounting part (electrode) 10 Substrate 13 Opening 14 Cover body 15 Opening / closing means 30 Discharge gas supply part 31 Injecting / removing means 32 Injecting / removing means (suction pad) 33 Injecting / removing means 34 Injecting / removing means 41 Conveyor

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】高電圧が印加される電極を備えたケーシン
グと、このケーシングにプラズマ放電ガスを供給する放
電ガス供給部と、このケーシングの開口部を開閉するカ
バー体と、このカバー体の開閉手段と、基板を搬送する
コンベアと、基板を真空吸着する吸着パッドを備えこの
コンベア上の基板を前記ケーシングに移送する動作とこ
のケーシングの基板を前記コンベア上へ移送する動作を
一動作で同時に行う基板の出し入れ手段とを備えたこと
を特徴とする基板のプラズマクリーニング装置。
1. A casing provided with an electrode to which a high voltage is applied, a discharge gas supply portion for supplying plasma discharge gas to the casing, a cover body for opening and closing an opening portion of the casing, and an opening and closing of the cover body. A means, a conveyor for conveying the substrate, and a suction pad for vacuum-adsorbing the substrate are provided, and the operation of transferring the substrate on the conveyor to the casing and the operation of transferring the substrate of the casing onto the conveyor are simultaneously performed in one operation. A substrate plasma cleaning apparatus comprising: a substrate loading / unloading means.
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6709522B1 (en) 2000-07-11 2004-03-23 Nordson Corporation Material handling system and methods for a multichamber plasma treatment system
US6808592B1 (en) 1994-12-05 2004-10-26 Nordson Corporation High throughput plasma treatment system
US6841033B2 (en) 2001-03-21 2005-01-11 Nordson Corporation Material handling system and method for a multi-workpiece plasma treatment system
US6972071B1 (en) 1999-07-13 2005-12-06 Nordson Corporation High-speed symmetrical plasma treatment system
JP2006093669A (en) * 2004-08-18 2006-04-06 Nanofilm Technologies Internatl Pte Ltd Method and apparatus for removing material from a substrate surface

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6808592B1 (en) 1994-12-05 2004-10-26 Nordson Corporation High throughput plasma treatment system
US7201823B2 (en) 1994-12-05 2007-04-10 Nordson Corporation High throughput plasma treatment system
US6972071B1 (en) 1999-07-13 2005-12-06 Nordson Corporation High-speed symmetrical plasma treatment system
US6709522B1 (en) 2000-07-11 2004-03-23 Nordson Corporation Material handling system and methods for a multichamber plasma treatment system
US6841033B2 (en) 2001-03-21 2005-01-11 Nordson Corporation Material handling system and method for a multi-workpiece plasma treatment system
JP2006093669A (en) * 2004-08-18 2006-04-06 Nanofilm Technologies Internatl Pte Ltd Method and apparatus for removing material from a substrate surface

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