JPH06213700A - 流量計器差試験装置 - Google Patents
流量計器差試験装置Info
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- JPH06213700A JPH06213700A JP5007947A JP794793A JPH06213700A JP H06213700 A JPH06213700 A JP H06213700A JP 5007947 A JP5007947 A JP 5007947A JP 794793 A JP794793 A JP 794793A JP H06213700 A JPH06213700 A JP H06213700A
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- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims description 10
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 abstract description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
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- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 6
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
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- Measuring Volume Flow (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は器差算出までの試験時間を短縮する
よう構成した流量計器差試験装置を提供することを目的
とする。 【構成】 流量計器差試験装置は、大略、被検流量計
1,基準流量計2,流量制御弁3が配設される管路4
と、被検流量計1,基準流量計2から出力された各流量
パルスを波形整形する波形整形回路5,6と、各流量パ
ルスの周期を計測して瞬時流量を算出し、この瞬時流量
に基づいて器差を算出する演算部7と、流量パルスの周
期を記憶する記憶部8と、流量制御弁3の弁開度を制御
する制御部9と、操作部10と、器差試験結果を出力す
る出力部11とよりなる。
よう構成した流量計器差試験装置を提供することを目的
とする。 【構成】 流量計器差試験装置は、大略、被検流量計
1,基準流量計2,流量制御弁3が配設される管路4
と、被検流量計1,基準流量計2から出力された各流量
パルスを波形整形する波形整形回路5,6と、各流量パ
ルスの周期を計測して瞬時流量を算出し、この瞬時流量
に基づいて器差を算出する演算部7と、流量パルスの周
期を記憶する記憶部8と、流量制御弁3の弁開度を制御
する制御部9と、操作部10と、器差試験結果を出力す
る出力部11とよりなる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は流量計器差試験装置に係
り、特に器差算出までの試験時間を短縮するよう構成し
た流量計器差試験装置に関する。
り、特に器差算出までの試験時間を短縮するよう構成し
た流量計器差試験装置に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば流量計を組み立てる工場等におい
ては、組立が完了した各流量計毎の器差を求めその器差
に基づいて流量計の計測値を補正する校正作業を実施し
ている。このような各流量計特有の器差を計測する装置
として流量計器差試験装置がある。従来の流量計器差試
験装置としては、例えば基準タンクを使用して被試験器
としての被検流量計の流量計測値と基準タンク内に流入
した実流量とを比較して被検流量計の器差を求める構成
の装置がある。
ては、組立が完了した各流量計毎の器差を求めその器差
に基づいて流量計の計測値を補正する校正作業を実施し
ている。このような各流量計特有の器差を計測する装置
として流量計器差試験装置がある。従来の流量計器差試
験装置としては、例えば基準タンクを使用して被試験器
としての被検流量計の流量計測値と基準タンク内に流入
した実流量とを比較して被検流量計の器差を求める構成
の装置がある。
【0003】このような流量計器差試験装置により器差
を測定する場合、被検流量計を基準タンクの上流側の管
路途中に配設し、ポンプにより圧送された流体が被検流
量計を通過して基準タンク内に流入する。基準タンクに
は所定流量に対応する高さ位置で液面を検知する液面検
知器が設けられており、所定の流量の流体が基準タンク
内に流入したとき液面検知器は液面を検知し、その信号
を出力する。従って、液面検知器からの検知信号があっ
たときの流量計の流量計測値が読み取られ、実流量値と
流量計測値とを比較して流量計の器差が求められる。そ
の後、この器差に基づいて被検流量計の流量指示部に設
けられた補正定数設定スイッチ等を操作し、被検流量計
の器差がゼロとなるよう流量計固有の定数を補正する。
を測定する場合、被検流量計を基準タンクの上流側の管
路途中に配設し、ポンプにより圧送された流体が被検流
量計を通過して基準タンク内に流入する。基準タンクに
は所定流量に対応する高さ位置で液面を検知する液面検
知器が設けられており、所定の流量の流体が基準タンク
内に流入したとき液面検知器は液面を検知し、その信号
を出力する。従って、液面検知器からの検知信号があっ
たときの流量計の流量計測値が読み取られ、実流量値と
流量計測値とを比較して流量計の器差が求められる。そ
の後、この器差に基づいて被検流量計の流量指示部に設
けられた補正定数設定スイッチ等を操作し、被検流量計
の器差がゼロとなるよう流量計固有の定数を補正する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記従来の
装置では、予め決められた所定量の流体を基準タンク内
に貯めてから被検流量計の器差を求める構成であるの
で、1個の流量計に対する試験時間がかなり長くかか
り、器差試験の作業能率が低いといった課題がある。さ
らに、従来の装置では、被検流量計が配設される管路の
他に基準タンク,液面検知器等が必要であるので、装置
全体が大掛かりとなり、かなりの設置スペースを要する
ばかりか制作費も高価になるといった課題もある。
装置では、予め決められた所定量の流体を基準タンク内
に貯めてから被検流量計の器差を求める構成であるの
で、1個の流量計に対する試験時間がかなり長くかか
り、器差試験の作業能率が低いといった課題がある。さ
らに、従来の装置では、被検流量計が配設される管路の
他に基準タンク,液面検知器等が必要であるので、装置
全体が大掛かりとなり、かなりの設置スペースを要する
ばかりか制作費も高価になるといった課題もある。
【0005】そこで、本発明は上記課題を解決した流量
計器差試験装置を提供することを目的とする。
計器差試験装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、被検流量計が
配設され、流体が給送される管路と、該管路に配設さ
れ、管路内を流れる流量を計測する基準流量計と、前記
被検流量計,基準流量計から出力された各流量パルスの
周期を計測するパルス周期計測手段と、該パルス周期計
測手段により計測された各周期に基づいて瞬時流量を算
出する瞬時流量算出手段と、該瞬時流量算出手段により
算出された前記被検流量計の瞬時流量と基準流量計の瞬
時流量とを比較して前記被検流量計の器差を算出する器
差算出手段と、よりなることを特徴とする。
配設され、流体が給送される管路と、該管路に配設さ
れ、管路内を流れる流量を計測する基準流量計と、前記
被検流量計,基準流量計から出力された各流量パルスの
周期を計測するパルス周期計測手段と、該パルス周期計
測手段により計測された各周期に基づいて瞬時流量を算
出する瞬時流量算出手段と、該瞬時流量算出手段により
算出された前記被検流量計の瞬時流量と基準流量計の瞬
時流量とを比較して前記被検流量計の器差を算出する器
差算出手段と、よりなることを特徴とする。
【0007】
【作用】本発明によれば、被検流量計,基準流量計から
出力された各流量パルスの周期を計測し、この各周期に
基づいて瞬時流量を算出することにより短時間で器差を
求めることができ、器差試験の作業能率を高めることが
可能になる。
出力された各流量パルスの周期を計測し、この各周期に
基づいて瞬時流量を算出することにより短時間で器差を
求めることができ、器差試験の作業能率を高めることが
可能になる。
【0008】
【実施例】図1及び図2に本発明になる流量計器差試験
装置の一実施例を示す。
装置の一実施例を示す。
【0009】両図中、流量計器差試験装置は、大略、被
検流量計1,基準流量計2,流量制御弁3が配設される
試験ラインの管路4と、被検流量計1,基準流量計2か
ら出力された流量パルスを波形整形する波形整形回路
5,6と、流量パルスの周期を計測して瞬時流量を算出
し、この瞬時流量に基づいて器差を算出する演算部7
と、流量パルスの周期を記憶する記憶部8と、流量制御
弁3の弁開度を制御する制御部9と、キーボード等より
なる操作部10と、器差試験結果を出力する出力部11
とよりなる。
検流量計1,基準流量計2,流量制御弁3が配設される
試験ラインの管路4と、被検流量計1,基準流量計2か
ら出力された流量パルスを波形整形する波形整形回路
5,6と、流量パルスの周期を計測して瞬時流量を算出
し、この瞬時流量に基づいて器差を算出する演算部7
と、流量パルスの周期を記憶する記憶部8と、流量制御
弁3の弁開度を制御する制御部9と、キーボード等より
なる操作部10と、器差試験結果を出力する出力部11
とよりなる。
【0010】上記被検流量計1は組立完了後、管路4に
接続されて器差を計測される。又、基準流量計2は被検
流量計1と同一構造の流量計であり、予め器差試験によ
り器差がゼロとなるように調整されている。
接続されて器差を計測される。又、基準流量計2は被検
流量計1と同一構造の流量計であり、予め器差試験によ
り器差がゼロとなるように調整されている。
【0011】出力部11は例えば器差試験結果を印字す
るプリンタ又は器差試験結果を画面上に表示するCRT
ディスプレイよりなる。又、制御回路12は上記演算部
7と制御部9とよりなり、後述するように器差計測処理
(図3、図4参照)を実行する。
るプリンタ又は器差試験結果を画面上に表示するCRT
ディスプレイよりなる。又、制御回路12は上記演算部
7と制御部9とよりなり、後述するように器差計測処理
(図3、図4参照)を実行する。
【0012】上記被検流量計1及び基準流量計2は、夫
々流量制御弁3が弁開して管路4に流体が流れると流量
に比例した各流量パルスを出力する。被検流量計1,基
準流量計2から出力された各流量パルスは、夫々波形整
形回路5,6により整形された後、演算部7で各流量パ
ルスの周期が計測される。この演算部7は、後述するよ
うに、被検流量計1,基準流量計2から出力された各流
量パルスの周期を計測するパルス周期計測手段7Aと、
パルス周期計測手段7Aにより計測された周期に基づい
て瞬時流量を算出する瞬時流量算出手段7Bと、瞬時流
量算出手段7Bにより算出された被検流量計1の瞬時流
量と基準流量計2の瞬時流量とを比較して被検流量計1
の器差を算出する器差算出手段7Cと、を有する。
々流量制御弁3が弁開して管路4に流体が流れると流量
に比例した各流量パルスを出力する。被検流量計1,基
準流量計2から出力された各流量パルスは、夫々波形整
形回路5,6により整形された後、演算部7で各流量パ
ルスの周期が計測される。この演算部7は、後述するよ
うに、被検流量計1,基準流量計2から出力された各流
量パルスの周期を計測するパルス周期計測手段7Aと、
パルス周期計測手段7Aにより計測された周期に基づい
て瞬時流量を算出する瞬時流量算出手段7Bと、瞬時流
量算出手段7Bにより算出された被検流量計1の瞬時流
量と基準流量計2の瞬時流量とを比較して被検流量計1
の器差を算出する器差算出手段7Cと、を有する。
【0013】即ち、演算部7にはマイクロコンピュータ
等のタイマカウンタが設けられており、演算部7は流量
パルス1周期間のクロックパルス数から流量パルスの周
期t M ,tT を求める。即ち、タイマカウンタの1クロ
ックの周期をu(s)とすると、(カウント値b−カウ
ント値a)・u(s)が被検流量計1の流量パルスの周
期tM となる。同様に、基準流量計2の流量パルスの周
期tT は(カウント値b’−カウント値a’)・u
(s)により求まる。
等のタイマカウンタが設けられており、演算部7は流量
パルス1周期間のクロックパルス数から流量パルスの周
期t M ,tT を求める。即ち、タイマカウンタの1クロ
ックの周期をu(s)とすると、(カウント値b−カウ
ント値a)・u(s)が被検流量計1の流量パルスの周
期tM となる。同様に、基準流量計2の流量パルスの周
期tT は(カウント値b’−カウント値a’)・u
(s)により求まる。
【0014】上記のようにして演算部7により計測され
た周期データは、記憶部8に記憶され、予め設定された
計測回数(m回)だけ計測を行った後、演算部7で次式
に示すような演算を行い、mパルス分の平均周期を求め
て再び記憶部8に記憶させる。尚、被検流量計1のm回
平均瞬時流量FM ,基準流量計2のm回平均瞬時流量F
T は次式により求まる。
た周期データは、記憶部8に記憶され、予め設定された
計測回数(m回)だけ計測を行った後、演算部7で次式
に示すような演算を行い、mパルス分の平均周期を求め
て再び記憶部8に記憶させる。尚、被検流量計1のm回
平均瞬時流量FM ,基準流量計2のm回平均瞬時流量F
T は次式により求まる。
【0015】 FM (1/s)=m・KM /ΣtM … (1) FT (1/s)=m・KT /ΣtT … (2) (但し、KM は被検流量計1のメータ定数、KT は基準
流量計2のメータ定数である。) 上記(1)(2)式から得られた両流量計1,2のm回
平均瞬時流量をもとに、演算部7において次式(3)よ
り被検流量計1の器差ε(%)を求める。
流量計2のメータ定数である。) 上記(1)(2)式から得られた両流量計1,2のm回
平均瞬時流量をもとに、演算部7において次式(3)よ
り被検流量計1の器差ε(%)を求める。
【0016】 ε(%)=(FM −FT )・100/FM … (3) この値はある流量値での器差であるので、次に流量を変
えて上記の演算を繰り返すことにより複数の流量値に対
する夫々の器差を得ることができる。
えて上記の演算を繰り返すことにより複数の流量値に対
する夫々の器差を得ることができる。
【0017】ここで、被検流量計1と基準流量計2との
間には、距離xの間隔があるとする。この場合、現在の
流量がQ(m3 /h)とすると、被検流量計1を通過し
た流体は時間y(s)後に基準流量計2に達することに
なり、上流側の被検流量計1が流量Qを計測した後、時
間y(s)経過したとき下流側の基準流量計2が流量Q
を計測することになる。
間には、距離xの間隔があるとする。この場合、現在の
流量がQ(m3 /h)とすると、被検流量計1を通過し
た流体は時間y(s)後に基準流量計2に達することに
なり、上流側の被検流量計1が流量Qを計測した後、時
間y(s)経過したとき下流側の基準流量計2が流量Q
を計測することになる。
【0018】管路4の内径が2r(m)とした場合、流
速はQ/3600πr2 (m/s)となることから、管
路4内を流れる流体が上流側の被検流量計1を通過して
から下流側の基準流量計2に至るまでの時間yは、y=
3600πr2 ・x/Q(s)で表せる。故に、被検流
量計1から得られた流量パルスの周期データと、その時
点から3600πr2 ・x/Q(s)経過後の基準流量
計2から得られた流量パルスの周期データとを比較する
ことにより、被検流量計1と基準流量計2との間の距離
xを理論上無視できる。即ち、演算部7において被検流
量計1から最初のデータを得た時点から3600πr2
・x/Q(s)後の基準流量計2のデータを読み取るよ
うにすれば良い。
速はQ/3600πr2 (m/s)となることから、管
路4内を流れる流体が上流側の被検流量計1を通過して
から下流側の基準流量計2に至るまでの時間yは、y=
3600πr2 ・x/Q(s)で表せる。故に、被検流
量計1から得られた流量パルスの周期データと、その時
点から3600πr2 ・x/Q(s)経過後の基準流量
計2から得られた流量パルスの周期データとを比較する
ことにより、被検流量計1と基準流量計2との間の距離
xを理論上無視できる。即ち、演算部7において被検流
量計1から最初のデータを得た時点から3600πr2
・x/Q(s)後の基準流量計2のデータを読み取るよ
うにすれば良い。
【0019】以上の動作は操作者が操作部10を操作す
ることにより、演算部7によって実行される。これとと
もに、制御部9によって試験ラインの管路4に設けられ
た流量制御弁3の弁開度の制御及び器差試験結果を出力
部11より出力するように制御して自動的に器差試験を
行うことができる。
ることにより、演算部7によって実行される。これとと
もに、制御部9によって試験ラインの管路4に設けられ
た流量制御弁3の弁開度の制御及び器差試験結果を出力
部11より出力するように制御して自動的に器差試験を
行うことができる。
【0020】次に上記構成になる流量計器差試験装置の
器差試験動作とともに制御回路12が実行する処理につ
き説明する。
器差試験動作とともに制御回路12が実行する処理につ
き説明する。
【0021】図3及び図4において、制御回路12はス
テップS1(以下「ステップ」を省略する)で試験を行
う流量が操作部10から入力され、複数の流量値が設定
される。さらに、器差計測精度を高めるため、複数の各
流量において器差を計測し、その平均値を求める。その
ために複数回計測する必要があり、S2では、その計測
回数を操作部10から入力される。
テップS1(以下「ステップ」を省略する)で試験を行
う流量が操作部10から入力され、複数の流量値が設定
される。さらに、器差計測精度を高めるため、複数の各
流量において器差を計測し、その平均値を求める。その
ために複数回計測する必要があり、S2では、その計測
回数を操作部10から入力される。
【0022】これで、器差試験の準備が完了したことに
なり、試験開始の操作、つまり操作部10の実行キーの
操作により器差試験が開始される。従って、実行キーの
操作により弁開度制御信号が流量制御弁3に出力され、
流量制御弁3を設定された流量となる弁開度に弁開する
(S3)。
なり、試験開始の操作、つまり操作部10の実行キーの
操作により器差試験が開始される。従って、実行キーの
操作により弁開度制御信号が流量制御弁3に出力され、
流量制御弁3を設定された流量となる弁開度に弁開する
(S3)。
【0023】次に流量が安定するのを待って被検流量計
1の周期計測及び記憶を行う(S4)。この周期計測及
び記憶の処理は、前述したように図2に示すように行う
が、具体的には被検流量計1からの流量パルスを取り込
み、そして割り込み処理を実行する。この割り込み処理
は流量パルスの立ち上がりで開始され、タイマカウンタ
のクロックをカウントし、次の割り込みでカウントした
値を記憶部8に記憶させ、カウンタをクリアする。
1の周期計測及び記憶を行う(S4)。この周期計測及
び記憶の処理は、前述したように図2に示すように行う
が、具体的には被検流量計1からの流量パルスを取り込
み、そして割り込み処理を実行する。この割り込み処理
は流量パルスの立ち上がりで開始され、タイマカウンタ
のクロックをカウントし、次の割り込みでカウントした
値を記憶部8に記憶させ、カウンタをクリアする。
【0024】次のS5では、前述した流体が距離xを通
過する間(3600πr2 ・x/Q(s))の待ち時間
が経過したかどうかをチェックしており、前記待ち時間
が経過した後、S6に進み上記S4と同様にして基準流
量計2からの流量パルスの周期を計測し、記憶部8に記
憶させる。
過する間(3600πr2 ・x/Q(s))の待ち時間
が経過したかどうかをチェックしており、前記待ち時間
が経過した後、S6に進み上記S4と同様にして基準流
量計2からの流量パルスの周期を計測し、記憶部8に記
憶させる。
【0025】上記のようにして被検流量計1及び基準流
量計2からの各流量パルスの周期を計測し、記憶させた
ならば、S2で設定された計測回数だけ同一の流量で計
測したことを確認する(S7)。従って、上記S4〜S
7までの処理がm回実行されると、S8に進み、一旦流
量制御弁3を閉じる。
量計2からの各流量パルスの周期を計測し、記憶させた
ならば、S2で設定された計測回数だけ同一の流量で計
測したことを確認する(S7)。従って、上記S4〜S
7までの処理がm回実行されると、S8に進み、一旦流
量制御弁3を閉じる。
【0026】続いて、S9において、前述した(1)
(2)式の演算を行い、被検流量計1のm回平均瞬時流
量FM ,基準流量計2のm回平均瞬時流量FT を算出す
る。そして、S10において前述した(3)式の演算を
行い、被検流量計1の器差ε(%)を算出する。
(2)式の演算を行い、被検流量計1のm回平均瞬時流
量FM ,基準流量計2のm回平均瞬時流量FT を算出す
る。そして、S10において前述した(3)式の演算を
行い、被検流量計1の器差ε(%)を算出する。
【0027】次のS11では、S1で設定された全ての
流量に対して器差計測を実施したかどうかをチェック
し、まだ器差計測を実施していない流量があるときは、
S13に進み、次の流量となる弁開度に流量制御弁3を
弁開させて前述したS3〜S11の処理を繰り返し実行
する。
流量に対して器差計測を実施したかどうかをチェック
し、まだ器差計測を実施していない流量があるときは、
S13に進み、次の流量となる弁開度に流量制御弁3を
弁開させて前述したS3〜S11の処理を繰り返し実行
する。
【0028】そして、上記S11において、予め設定さ
れた全ての流量に対しての器差計測が実施されたとき
は、S13に進み被検流量計1の器差計測結果を出力部
11から出力し、上記器差試験の結果を印字又はディス
プレイ上に表示する。作業者はこの器差計測結果を見て
被検流量計1の流量指示部(図示せず)に設けられた補
正定数設定スイッチ等を操作し、被検流量計1の器差が
ゼロとなるよう流量計固有の定数を補正する。
れた全ての流量に対しての器差計測が実施されたとき
は、S13に進み被検流量計1の器差計測結果を出力部
11から出力し、上記器差試験の結果を印字又はディス
プレイ上に表示する。作業者はこの器差計測結果を見て
被検流量計1の流量指示部(図示せず)に設けられた補
正定数設定スイッチ等を操作し、被検流量計1の器差が
ゼロとなるよう流量計固有の定数を補正する。
【0029】このように、被検流量計1の器差が流量パ
ルスの周期より算出されるため、従来のように基準タン
クを使用する構成に比べて基準タンクの容量分の流体が
流れるまで待つ必要がなく、その分器差試験時間をかな
り短縮することができる。そのため、1個の被検流量計
1を試験する際の作業能率をより一層高めることが可能
となる。又、上流側に位置する被検流量計1の流量パル
スの周期を下流側に位置する基準流量計2の計測遅れ時
間分遅延させることにより、被検流量計1と基準流量計
2との離間距離を無視することができるのでより正確な
器差試験結果が得られる。
ルスの周期より算出されるため、従来のように基準タン
クを使用する構成に比べて基準タンクの容量分の流体が
流れるまで待つ必要がなく、その分器差試験時間をかな
り短縮することができる。そのため、1個の被検流量計
1を試験する際の作業能率をより一層高めることが可能
となる。又、上流側に位置する被検流量計1の流量パル
スの周期を下流側に位置する基準流量計2の計測遅れ時
間分遅延させることにより、被検流量計1と基準流量計
2との離間距離を無視することができるのでより正確な
器差試験結果が得られる。
【0030】尚、上記実施例では、被検流量計1が基準
流量計2の上流側に配設されたが、これに限らず、上記
実施例と逆の配置としてもよい。その場合、基準流量計
2が上流側に位置するため、被検流量計1の計測遅れ分
基準流量計2からの流量パルスの周期を遅延させて器差
を演算することになる。
流量計2の上流側に配設されたが、これに限らず、上記
実施例と逆の配置としてもよい。その場合、基準流量計
2が上流側に位置するため、被検流量計1の計測遅れ分
基準流量計2からの流量パルスの周期を遅延させて器差
を演算することになる。
【0031】
【発明の効果】上述の如く、本発明になる流量計器差試
験装置によれば、被検流量計,基準流量計から出力され
た各流量パルスの周期を計測し、この各周期に基づいて
瞬時流量を算出するため、より短時間で器差を求めるこ
とができ、器差試験の作業能率を高めることができる等
の特長を有する。
験装置によれば、被検流量計,基準流量計から出力され
た各流量パルスの周期を計測し、この各周期に基づいて
瞬時流量を算出するため、より短時間で器差を求めるこ
とができ、器差試験の作業能率を高めることができる等
の特長を有する。
【図1】本発明になる流量計器差試験装置の一実施例の
ブロック図である。
ブロック図である。
【図2】流量パルスの周期計測方法を説明するための波
形図である。
形図である。
【図3】制御回路が実行する器差計測処理を説明するた
めのフローチャートである。
めのフローチャートである。
【図4】図3の処理に続いて制御回路が実行する器差計
測処理を説明するためのフローチャートである。
測処理を説明するためのフローチャートである。
1 被検流量計 2 基準流量計 3 流量制御弁 5,6 波形整形回路 7 演算部 8 記憶部 9 制御部 12 制御回路
Claims (1)
- 【請求項1】 被検流量計が配設され、流体が給送され
る管路と、 該管路に配設され、管路内を流れる流量を計測する基準
流量計と、 前記被検流量計,基準流量計から出力された各流量パル
スの周期を計測するパルス周期計測手段と、 該パルス周期計測手段により計測された各周期に基づい
て瞬時流量を算出する瞬時流量算出手段と、 該瞬時流量算出手段により算出された前記被検流量計の
瞬時流量と基準流量計の瞬時流量とを比較して前記被検
流量計の器差を算出する器差算出手段と、 とよりなることを特徴とする流量計器差試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5007947A JPH06213700A (ja) | 1993-01-20 | 1993-01-20 | 流量計器差試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5007947A JPH06213700A (ja) | 1993-01-20 | 1993-01-20 | 流量計器差試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06213700A true JPH06213700A (ja) | 1994-08-05 |
Family
ID=11679695
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5007947A Pending JPH06213700A (ja) | 1993-01-20 | 1993-01-20 | 流量計器差試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06213700A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08240473A (ja) * | 1995-03-06 | 1996-09-17 | Seibu Gas Kk | ガスメーター検査装置 |
| JP2003014520A (ja) * | 2001-07-04 | 2003-01-15 | Denso Corp | エアフロメータ組付け形エアクリーナの調整方法、およびエアフロメータ組付け形エアクリーナ |
| KR20030073618A (ko) * | 2002-03-12 | 2003-09-19 | (주)우진후로텍 | 대형 유량계 시험장치 |
| CN112729485A (zh) * | 2020-12-28 | 2021-04-30 | 南京应诺测控技术有限公司 | 一种输出脉冲的计数标定方法及电路 |
-
1993
- 1993-01-20 JP JP5007947A patent/JPH06213700A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08240473A (ja) * | 1995-03-06 | 1996-09-17 | Seibu Gas Kk | ガスメーター検査装置 |
| JP2003014520A (ja) * | 2001-07-04 | 2003-01-15 | Denso Corp | エアフロメータ組付け形エアクリーナの調整方法、およびエアフロメータ組付け形エアクリーナ |
| KR20030073618A (ko) * | 2002-03-12 | 2003-09-19 | (주)우진후로텍 | 대형 유량계 시험장치 |
| CN112729485A (zh) * | 2020-12-28 | 2021-04-30 | 南京应诺测控技术有限公司 | 一种输出脉冲的计数标定方法及电路 |
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