JPH06214035A - シンチレーション検出装置 - Google Patents
シンチレーション検出装置Info
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- JPH06214035A JPH06214035A JP584493A JP584493A JPH06214035A JP H06214035 A JPH06214035 A JP H06214035A JP 584493 A JP584493 A JP 584493A JP 584493 A JP584493 A JP 584493A JP H06214035 A JPH06214035 A JP H06214035A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/201—Measuring radiation intensity with scintillation detectors using scintillating fibres
-
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- G01T1/2008—Measuring radiation intensity with scintillation detectors using a combination of different types of scintillation detectors, e.g. phoswich
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、β線強度のみを測定できるシンチ
レーション検出装置を提供することを目的とする。 【構成】 プローブ部（１０）には発光波長の異なる２
つのシンチレーションファイバ（１１、１２）が備えら
れ、一方のシンチレーションファイバ（１２）はβ線遮
蔽物で被覆されている。プローブ部（１０）で発生した
光信号は、光ファイバ（２０）を伝送して、分光手段
（３１）によって分光される。そして、分光された光信
号の内の一方は第１の光検出手段（３２）に入射され、
入射光の光強度が検出される。また、分光された光信号
の内の他方は第２の光検出手段（３３）に入射され、入
射光の光強度が検出される。
レーション検出装置を提供することを目的とする。 【構成】 プローブ部（１０）には発光波長の異なる２
つのシンチレーションファイバ（１１、１２）が備えら
れ、一方のシンチレーションファイバ（１２）はβ線遮
蔽物で被覆されている。プローブ部（１０）で発生した
光信号は、光ファイバ（２０）を伝送して、分光手段
（３１）によって分光される。そして、分光された光信
号の内の一方は第１の光検出手段（３２）に入射され、
入射光の光強度が検出される。また、分光された光信号
の内の他方は第２の光検出手段（３３）に入射され、入
射光の光強度が検出される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、シンチレーションファ
イバを用いたシンチレーション検出装置に関する。
イバを用いたシンチレーション検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、このような分野の技術としては、
特開平２−２０６７８６号公報のものが知られている。
この文献には、図５（ａ）に示すように、シンチレーシ
ョンファイバ５１と光検出器５２を光ファイバ５３で結
合して構成されたシンチレーション検出装置５０が開示
されている。
特開平２−２０６７８６号公報のものが知られている。
この文献には、図５（ａ）に示すように、シンチレーシ
ョンファイバ５１と光検出器５２を光ファイバ５３で結
合して構成されたシンチレーション検出装置５０が開示
されている。
【０００３】さらに、この文献には、図５（ｂ）に示す
ように、シンチレーションファイバ６１にβ線遮蔽物
（鉄、鉛、タングステン等）６４を被覆して、γ線の強
度のみを光検出器６２で測定するシンチレーション検出
装置６０が開示されている。
ように、シンチレーションファイバ６１にβ線遮蔽物
（鉄、鉛、タングステン等）６４を被覆して、γ線の強
度のみを光検出器６２で測定するシンチレーション検出
装置６０が開示されている。
【０００４】シンチレーション検出装置５０、６０を用
いて、シンチレーションファイバ５１あるいはシンチレ
ーションファイバ６１をプローブとして計測部位に埋め
込めば、その周囲の放射能濃度を測定することができ
る。
いて、シンチレーションファイバ５１あるいはシンチレ
ーションファイバ６１をプローブとして計測部位に埋め
込めば、その周囲の放射能濃度を測定することができ
る。
【０００５】プローブ周囲の情報を得るには、β線のみ
の強度を測定すればよいので、原則としてシンチレーシ
ョン検出装置５０のみを用いて測定すれば足りる。しか
しながら、シンチレーション検出装置５０では現実には
遠方から放射されたγ線の強度も信号として測定してし
まい、この信号がバックグラウンドの雑音となってβ線
の測定精度を低下させる。
の強度を測定すればよいので、原則としてシンチレーシ
ョン検出装置５０のみを用いて測定すれば足りる。しか
しながら、シンチレーション検出装置５０では現実には
遠方から放射されたγ線の強度も信号として測定してし
まい、この信号がバックグラウンドの雑音となってβ線
の測定精度を低下させる。
【０００６】そこで、シンチレーション検出装置５０
と、γ線のみの強度を測定するシンチレーション検出装
置６０の両者を用いて、測定用プローブ（シンチレーシ
ョンファイバ５１）と校正用プローブ（シンチレーショ
ンファイバ６１）を計測部位に埋め込んで測定し、測定
用プローブの測定結果から校正用プローブの測定結果を
差し引くことにより、β線のみの強度を測定する方法が
従来より行われている。
と、γ線のみの強度を測定するシンチレーション検出装
置６０の両者を用いて、測定用プローブ（シンチレーシ
ョンファイバ５１）と校正用プローブ（シンチレーショ
ンファイバ６１）を計測部位に埋め込んで測定し、測定
用プローブの測定結果から校正用プローブの測定結果を
差し引くことにより、β線のみの強度を測定する方法が
従来より行われている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来技術で
は、β線強度のみを測定するために、測定用プローブ
（シンチレーションファイバ５１）と校正用プローブ
（シンチレーションファイバ６１）の２本のプローブに
よる測定が必要であった。
は、β線強度のみを測定するために、測定用プローブ
（シンチレーションファイバ５１）と校正用プローブ
（シンチレーションファイバ６１）の２本のプローブに
よる測定が必要であった。
【０００８】ところが、微小部位の測定を行う場合に
は、２本のプローブを有効に挿入することは困難であっ
た。また、たとえ２本のプローブを挿入できたとして
も、微妙に挿入部位が異なるため、測定精度が低下する
といった問題が生じた。
は、２本のプローブを有効に挿入することは困難であっ
た。また、たとえ２本のプローブを挿入できたとして
も、微妙に挿入部位が異なるため、測定精度が低下する
といった問題が生じた。
【０００９】従来技術は、一様な放射能濃度溶液中に２
本のプローブを浸漬するような場合には測定精度が低下
することはないが、生体内などの一様でない濃度分布を
持ったものを測定する場合に、測定精度の低下を招き問
題であった。
本のプローブを浸漬するような場合には測定精度が低下
することはないが、生体内などの一様でない濃度分布を
持ったものを測定する場合に、測定精度の低下を招き問
題であった。
【００１０】本発明は、このような問題を解決すること
を目的とする。
を目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明のシンチレーション検出装置は、発光波長の
異なる２つのシンチレーションファイバを光学的に結合
して、一方のシンチレーションファイバをβ線遮蔽物で
被覆したプローブ部と、プローブ部の一方の端面と光学
的に結合して、プローブ部で発生した光信号を伝送する
光ファイバと、光ファイバから出射した光信号を波長ご
とに分光する分光手段と、分光手段で分光された光信号
の内、β線遮蔽物で被覆されたシンチレーションファイ
バからの光信号を検出する第１の光検出手段と、分光手
段で分光された光信号の内、β線遮蔽物で被覆されてい
ないシンチレーションファイバからの光信号を検出する
第２の光検出手段とを備える。
に、本発明のシンチレーション検出装置は、発光波長の
異なる２つのシンチレーションファイバを光学的に結合
して、一方のシンチレーションファイバをβ線遮蔽物で
被覆したプローブ部と、プローブ部の一方の端面と光学
的に結合して、プローブ部で発生した光信号を伝送する
光ファイバと、光ファイバから出射した光信号を波長ご
とに分光する分光手段と、分光手段で分光された光信号
の内、β線遮蔽物で被覆されたシンチレーションファイ
バからの光信号を検出する第１の光検出手段と、分光手
段で分光された光信号の内、β線遮蔽物で被覆されてい
ないシンチレーションファイバからの光信号を検出する
第２の光検出手段とを備える。
【００１２】
【作用】本発明のシンチレーション検出装置によれば、
プローブ部には発光波長の異なる２つのシンチレーショ
ンファイバが備えられ、一方のシンチレーションファイ
バはβ線遮蔽物で被覆されている。
プローブ部には発光波長の異なる２つのシンチレーショ
ンファイバが備えられ、一方のシンチレーションファイ
バはβ線遮蔽物で被覆されている。
【００１３】β線遮蔽物で被覆されたシンチレーション
ファイバは、β線に対する感度が著しく低下するため、
このシンチレーションファイバで発生する光信号のほと
んどはγ線のみの信号である。この光信号は光ファイバ
を伝送して、分光手段で第１の光検出手段に向けて分光
される。そして、分光された光信号は第１の光検出手段
に入射され、この光信号の強度が検出される。
ファイバは、β線に対する感度が著しく低下するため、
このシンチレーションファイバで発生する光信号のほと
んどはγ線のみの信号である。この光信号は光ファイバ
を伝送して、分光手段で第１の光検出手段に向けて分光
される。そして、分光された光信号は第１の光検出手段
に入射され、この光信号の強度が検出される。
【００１４】β線遮蔽物で被覆されていないシンチレー
ションファイバで発生する光信号は、β線とγ線の混在
した信号である。この光信号は光ファイバを伝送して、
分光手段で第２の光検出手段に向けて分光される。そし
て、分光された光信号は第２の光検出手段に入射され、
この光信号の強度が検出される。
ションファイバで発生する光信号は、β線とγ線の混在
した信号である。この光信号は光ファイバを伝送して、
分光手段で第２の光検出手段に向けて分光される。そし
て、分光された光信号は第２の光検出手段に入射され、
この光信号の強度が検出される。
【００１５】したがって、第２の光検出手段で検出され
たβ線とγ線の混在した光信号の強度から、第１の光検
出手段で検出されたγ線のみの光信号の強度を減算する
ことにより、β線の強度のみを検出することができる。
たβ線とγ線の混在した光信号の強度から、第１の光検
出手段で検出されたγ線のみの光信号の強度を減算する
ことにより、β線の強度のみを検出することができる。
【００１６】
【実施例】以下、本発明の一実施例について、添付図面
を参照して説明する。
を参照して説明する。
【００１７】図１は、本実施例に係るシンチレーション
検出装置の構成を示す斜視図である。本実施例のシンチ
レーション検出装置は、被測定物の測定部位に挿入する
プローブ部１０と、プローブ部１０で発生した光信号を
伝送する光ファイバ２０と、光ファイバ２０から出射し
た光信号の強度を検出する検出部３０とを備えている。
検出装置の構成を示す斜視図である。本実施例のシンチ
レーション検出装置は、被測定物の測定部位に挿入する
プローブ部１０と、プローブ部１０で発生した光信号を
伝送する光ファイバ２０と、光ファイバ２０から出射し
た光信号の強度を検出する検出部３０とを備えている。
【００１８】プローブ部１０には、発光波長λ1 のシン
チレーションファイバ１１と、λ1より波長の短い発光
波長λ2 のシンチレーションファイバ１２が設けられ、
光学的に結合されている。シンチレーションファイバ１
２の回りには、β線遮蔽材（鉄、鉛、タングステンな
ど）１３の被覆が施されている。シンチレーションファ
イバ１１には側面よりβ線とγ線が入射され、これらの
放射線の入射によって発光するため、β線とγ線とが光
信号として測定される。これに対して、シンチレーショ
ンファイバ１２には、β線がβ線遮蔽材１３によって遮
断されるため、側面よりγ線のみが入射され、この入射
によって発光する。このため、γ線が光信号として測定
される。シンチレーションファイバ１１、１２には、例
えばポリスチレンのコア層に、ポリメタクリン酸メチル
（ＰＭＭＡ）のクラッド層からなるプラスチック系のフ
ァイバが用いられる。
チレーションファイバ１１と、λ1より波長の短い発光
波長λ2 のシンチレーションファイバ１２が設けられ、
光学的に結合されている。シンチレーションファイバ１
２の回りには、β線遮蔽材（鉄、鉛、タングステンな
ど）１３の被覆が施されている。シンチレーションファ
イバ１１には側面よりβ線とγ線が入射され、これらの
放射線の入射によって発光するため、β線とγ線とが光
信号として測定される。これに対して、シンチレーショ
ンファイバ１２には、β線がβ線遮蔽材１３によって遮
断されるため、側面よりγ線のみが入射され、この入射
によって発光する。このため、γ線が光信号として測定
される。シンチレーションファイバ１１、１２には、例
えばポリスチレンのコア層に、ポリメタクリン酸メチル
（ＰＭＭＡ）のクラッド層からなるプラスチック系のフ
ァイバが用いられる。
【００１９】また、検出部３０には、光ファイバ２０か
ら出射した光信号を分光するダイクロイックミラー３１
と、分光した２つの光信号をそれぞれ入射して光強度を
検出する光検出器３２、３３と、光検出器３２、３３で
検出した光強度を減算する演算器３４とが設けられてい
る。
ら出射した光信号を分光するダイクロイックミラー３１
と、分光した２つの光信号をそれぞれ入射して光強度を
検出する光検出器３２、３３と、光検出器３２、３３で
検出した光強度を減算する演算器３４とが設けられてい
る。
【００２０】シンチレーションファイバ１１の発光波長
をλ1 、シンチレーションファイバ１２の発光波長をλ
2 とすると、β線とγ線の混在した光信号はλ1 の波
長、γ線のみの光信号はλ2 の波長の信号として、光フ
ァイバ２０内を伝送する。光ファイバ２０から出射した
光信号はダイクロイックミラー３１を通過して、λ1 の
波長の光信号とλ2 の波長の光信号とに光路が分岐す
る。図２に示すように、ダイクロイックミラー３１は、
波長λ1 の光信号はほぼ１００％透過し、波長λ2の光
信号はほぼ１００％反射する。このため、入射光の光路
に対して傾けて設置されたダイクロイックミラー３１に
よって、入射光は波長λ1 の光信号の光路と波長λ2 の
光信号の光路とに分岐されるのである。
をλ1 、シンチレーションファイバ１２の発光波長をλ
2 とすると、β線とγ線の混在した光信号はλ1 の波
長、γ線のみの光信号はλ2 の波長の信号として、光フ
ァイバ２０内を伝送する。光ファイバ２０から出射した
光信号はダイクロイックミラー３１を通過して、λ1 の
波長の光信号とλ2 の波長の光信号とに光路が分岐す
る。図２に示すように、ダイクロイックミラー３１は、
波長λ1 の光信号はほぼ１００％透過し、波長λ2の光
信号はほぼ１００％反射する。このため、入射光の光路
に対して傾けて設置されたダイクロイックミラー３１に
よって、入射光は波長λ1 の光信号の光路と波長λ2 の
光信号の光路とに分岐されるのである。
【００２１】このように分岐したλ1 の波長の光信号は
光検出器３２に、λ2 の波長の光信号は光検出器３３に
それぞれ入射され、各光信号の強度が検出される。光検
出器３２、３３で検出された光信号の強度データは、そ
れぞれ演算器３４に送られ、光検出器３２で検出された
光信号の強度データから光検出器３３で検出された光信
号の強度データの差が取られる。つまり、光検出器３２
で検出されたβ線とγ線との混在した強度データから、
光検出器３３で検出されたγ線のみの強度データの差を
取ることにより、β線のみの強度データが検出できるの
である。
光検出器３２に、λ2 の波長の光信号は光検出器３３に
それぞれ入射され、各光信号の強度が検出される。光検
出器３２、３３で検出された光信号の強度データは、そ
れぞれ演算器３４に送られ、光検出器３２で検出された
光信号の強度データから光検出器３３で検出された光信
号の強度データの差が取られる。つまり、光検出器３２
で検出されたβ線とγ線との混在した強度データから、
光検出器３３で検出されたγ線のみの強度データの差を
取ることにより、β線のみの強度データが検出できるの
である。
【００２２】図３は、プローブ部１０周辺の構造を示す
断面図である。図３（ａ）より、プローブ部１０には発
光波長λ1 のシンチレーションファイバ１１と発光波長
λ2のシンチレーションファイバ１２とが備えられ、こ
れらの光軸を合わせて接着剤などで光学的に結合されて
いる。シンチレーションファイバ１１、１２の長さはそ
れぞれ約３mmで、外径は約０．５mmである。さらに、シ
ンチレーションファイバ１２と光ファイバ２０とが光軸
を合わせて接着剤などで光学的に結合されている。シン
チレーションファイバ１２の回りにはβ線遮蔽材１３が
最適な厚さで被覆されており、シンチレーションファイ
バ１１、β線遮蔽材１３および光ファイバ２０は光シー
ルドパイプ１４で被覆されている。また、β線遮蔽材１
３は図６（ａ），（ｂ），（ｃ）の様に光シールドパイ
プ１４と一体又は光シールドパイプ１４の外側に配置さ
れていても良い。さらに、光シールドパイプ１４の光フ
ァイバ２０の部分は、例えば直径１．０mmのステンレス
製の補強パイプ１５で被覆されている。
断面図である。図３（ａ）より、プローブ部１０には発
光波長λ1 のシンチレーションファイバ１１と発光波長
λ2のシンチレーションファイバ１２とが備えられ、こ
れらの光軸を合わせて接着剤などで光学的に結合されて
いる。シンチレーションファイバ１１、１２の長さはそ
れぞれ約３mmで、外径は約０．５mmである。さらに、シ
ンチレーションファイバ１２と光ファイバ２０とが光軸
を合わせて接着剤などで光学的に結合されている。シン
チレーションファイバ１２の回りにはβ線遮蔽材１３が
最適な厚さで被覆されており、シンチレーションファイ
バ１１、β線遮蔽材１３および光ファイバ２０は光シー
ルドパイプ１４で被覆されている。また、β線遮蔽材１
３は図６（ａ），（ｂ），（ｃ）の様に光シールドパイ
プ１４と一体又は光シールドパイプ１４の外側に配置さ
れていても良い。さらに、光シールドパイプ１４の光フ
ァイバ２０の部分は、例えば直径１．０mmのステンレス
製の補強パイプ１５で被覆されている。
【００２３】シンチレーションファイバ１１の端面に
は、例えばＡｌ（アルミニウム）の反射膜１６が付加さ
れており、シンチレーションファイバ１１、１２で発生
した光信号を光ファイバ２０方向に反射させる。この反
射膜１６によって、シンチレーションファイバ１１、１
２で発生した光信号は、光ファイバ２０を通して、効率
的に光検出器３２、３３に与えられる。
は、例えばＡｌ（アルミニウム）の反射膜１６が付加さ
れており、シンチレーションファイバ１１、１２で発生
した光信号を光ファイバ２０方向に反射させる。この反
射膜１６によって、シンチレーションファイバ１１、１
２で発生した光信号は、光ファイバ２０を通して、効率
的に光検出器３２、３３に与えられる。
【００２４】図３（ｂ）は、シンチレーションファイバ
１１の先端を鋭利に加工して、先端部分に反射膜１６を
付加したものである。この加工によって、シンチレーシ
ョンファイバ１１、１２で発生した光は、各ファイバの
コア内を進行し、シンチレーションファイバ１１の端面
で２度反射して光ファイバ２０方向に向きを変える。
１１の先端を鋭利に加工して、先端部分に反射膜１６を
付加したものである。この加工によって、シンチレーシ
ョンファイバ１１、１２で発生した光は、各ファイバの
コア内を進行し、シンチレーションファイバ１１の端面
で２度反射して光ファイバ２０方向に向きを変える。
【００２５】図４は、検出部３０の具体的な例を示すブ
ロック図である。光ファイバ２０から出射された光信号
はダイクロイックミラー３１に与えられ、波長λ1 の光
信号がダイクロイックミラー３１で反射して光検出器３
２に与えられる。また、波長λ2 の光信号がダイクロイ
ックミラー３１を透過して光検出器３３に与えられる。
ロック図である。光ファイバ２０から出射された光信号
はダイクロイックミラー３１に与えられ、波長λ1 の光
信号がダイクロイックミラー３１で反射して光検出器３
２に与えられる。また、波長λ2 の光信号がダイクロイ
ックミラー３１を透過して光検出器３３に与えられる。
【００２６】光検出器３２には例えばマルチアルカリ光
電面を有するＰＭＴが用いられており、光検出器３３に
は例えばバイアルカリ光電面を有するＰＭＴが用いられ
ている。また、光検出器３２で検出された光強度信号は
演算器３４のホトンカウンタ３４ａに与えられ、光強度
信号の計数が行われる。同様に、光検出器３３で検出さ
れた光強度信号は演算器３４のホトンカウンタ３４ｂに
与えられ、光強度信号の計数が行われる。各カウンタの
計数値は減算部３４ｃで差が取られ、β線のみの強度デ
ータとして出力される。
電面を有するＰＭＴが用いられており、光検出器３３に
は例えばバイアルカリ光電面を有するＰＭＴが用いられ
ている。また、光検出器３２で検出された光強度信号は
演算器３４のホトンカウンタ３４ａに与えられ、光強度
信号の計数が行われる。同様に、光検出器３３で検出さ
れた光強度信号は演算器３４のホトンカウンタ３４ｂに
与えられ、光強度信号の計数が行われる。各カウンタの
計数値は減算部３４ｃで差が取られ、β線のみの強度デ
ータとして出力される。
【００２７】なお、本実施例では、シンチレーションフ
ァイバ１２の回りをβ線遮蔽材で被覆しているが、シン
チレーションファイバ１１の回りを被覆して、シンチレ
ーションファイバ１１でγ線を測定してもよい。
ァイバ１２の回りをβ線遮蔽材で被覆しているが、シン
チレーションファイバ１１の回りを被覆して、シンチレ
ーションファイバ１１でγ線を測定してもよい。
【００２８】また、本実施例では、分光手段としてダイ
クロイックミラー３１を用いているが、これ以外の波長
選択素子を用いてもよい。
クロイックミラー３１を用いているが、これ以外の波長
選択素子を用いてもよい。
【００２９】
【発明の効果】本発明のシンチレーション検出装置のプ
ローブ部には、γ線のみの強度を検出するシンチレーシ
ョンファイバと、γ線およびβ線の強度を検出するシン
チレーションファイバとが備えられている。そして、両
者の検出値を減算することによって、β線の強度のみを
検出することができる。
ローブ部には、γ線のみの強度を検出するシンチレーシ
ョンファイバと、γ線およびβ線の強度を検出するシン
チレーションファイバとが備えられている。そして、両
者の検出値を減算することによって、β線の強度のみを
検出することができる。
【００３０】このように本発明のシンチレーション検出
装置であれば、１本のプローブ部でβ線の強度のみを検
出することが可能である。
装置であれば、１本のプローブ部でβ線の強度のみを検
出することが可能である。
【００３１】また、プローブ部は１本なので測定部位に
対する方向性がなくなり、２つのシンチレーションファ
イバおよび測定部位の位置関係が常に一定となるため、
測定精度が向上する。
対する方向性がなくなり、２つのシンチレーションファ
イバおよび測定部位の位置関係が常に一定となるため、
測定精度が向上する。
【００３２】さらに、生体内にプローブ部を挿入する場
合の生体に与えるダメージも、２本のプローブ部を挿入
する従来例に比べて改善される。
合の生体に与えるダメージも、２本のプローブ部を挿入
する従来例に比べて改善される。
【図１】本実施例に係るシンチレーション検出装置の構
成を示す斜視図である。
成を示す斜視図である。
【図２】ダイクロイックミラーの分光特性を示す図であ
る。
る。
【図３】プローブ部周辺の構造を示す断面図である。
【図４】検出部の具体例を示すブロック図である。
【図５】従来のシンチレーション検出装置の構成を示す
斜視図である。
斜視図である。
【図６】プローブ部周辺の構造を示す断面図である。
１０…プローブ部、１１、１２…シンチレーションファ
イバ、１３…β線遮蔽材、２０…光ファイバ、３０…検
出部、３１…ダイクロイックミラー、３２、３３…光検
出器、３４…演算器。
イバ、１３…β線遮蔽材、２０…光ファイバ、３０…検
出部、３１…ダイクロイックミラー、３２、３３…光検
出器、３４…演算器。
Claims (1)
- 【請求項１】 発光波長の異なる２つのシンチレーショ
ンファイバを光学的に結合して、一方のシンチレーショ
ンファイバをβ線遮蔽物で被覆したプローブ部と、 前記プローブ部の一方の端面と光学的に結合して、前記
プローブ部で発生した光信号を伝送する光ファイバと、 前記光ファイバから出射した光信号を波長ごとに分光す
る分光手段と、 前記分光手段で分光された光信号の内、β線遮蔽物で被
覆されたシンチレーションファイバからの光信号を検出
する第１の光検出手段と、 前記分光手段で分光された光信号の内、β線遮蔽物で被
覆されていないシンチレーションファイバからの光信号
を検出する第２の光検出手段とを備えることを特徴とす
るシンチレーション検出装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP584493A JPH06214035A (ja) | 1993-01-18 | 1993-01-18 | シンチレーション検出装置 |
| US08/184,198 US5424546A (en) | 1993-01-18 | 1994-01-18 | Scintillation counter having two scintillation fibers provided in series and which emit at different wavelengths |
| EP94300337A EP0608101B1 (en) | 1993-01-18 | 1994-01-18 | Scintillation counter |
| DE69414429T DE69414429T2 (de) | 1993-01-18 | 1994-01-18 | Szintillationszähler |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP584493A JPH06214035A (ja) | 1993-01-18 | 1993-01-18 | シンチレーション検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06214035A true JPH06214035A (ja) | 1994-08-05 |
Family
ID=11622328
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP584493A Pending JPH06214035A (ja) | 1993-01-18 | 1993-01-18 | シンチレーション検出装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5424546A (ja) |
| EP (1) | EP0608101B1 (ja) |
| JP (1) | JPH06214035A (ja) |
| DE (1) | DE69414429T2 (ja) |
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| WO2005008287A1 (ja) * | 2003-07-18 | 2005-01-27 | Toudai Tlo, Ltd. | 熱中性子束モニタ |
| JP2007192548A (ja) * | 2006-01-17 | 2007-08-02 | Mitsubishi Electric Corp | 放射線測定システム |
| JP2007327967A (ja) * | 2007-07-30 | 2007-12-20 | Toshiba Corp | 放射線弁別測定装置 |
| WO2019092955A1 (ja) * | 2017-11-10 | 2019-05-16 | 株式会社日立製作所 | 放射線モニタ、及び放射線の測定方法 |
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| DE19503647C2 (de) * | 1995-02-06 | 1999-12-16 | Forschungszentrum Juelich Gmbh | Meßvorrichtung zur in-vivo und on-line-Bestimmung der gewebeäquivalenten Dosis bei der Strahlentherapie |
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| US6510336B1 (en) | 2000-03-03 | 2003-01-21 | Intra Medical Imaging, Llc | Methods and devices to expand applications of intraoperative radiation probes |
| US7373197B2 (en) * | 2000-03-03 | 2008-05-13 | Intramedical Imaging, Llc | Methods and devices to expand applications of intraoperative radiation probes |
| RU2190240C2 (ru) * | 2000-11-13 | 2002-09-27 | Уральский государственный технический университет (Уральский политехнический институт) | Сцинтилляционный детектор |
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| CN111812700B (zh) * | 2020-07-23 | 2025-04-11 | 中核武汉核电运行技术股份有限公司 | γ-β复合探测装置 |
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1993
- 1993-01-18 JP JP584493A patent/JPH06214035A/ja active Pending
-
1994
- 1994-01-18 EP EP94300337A patent/EP0608101B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1994-01-18 US US08/184,198 patent/US5424546A/en not_active Expired - Lifetime
- 1994-01-18 DE DE69414429T patent/DE69414429T2/de not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
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|---|---|
| US5424546A (en) | 1995-06-13 |
| EP0608101A2 (en) | 1994-07-27 |
| EP0608101B1 (en) | 1998-11-11 |
| EP0608101A3 (en) | 1995-07-05 |
| DE69414429D1 (de) | 1998-12-17 |
| DE69414429T2 (de) | 1999-04-08 |
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