JPH0621799A - Level conversion circuit - Google Patents

Level conversion circuit

Info

Publication number
JPH0621799A
JPH0621799A JP4174267A JP17426792A JPH0621799A JP H0621799 A JPH0621799 A JP H0621799A JP 4174267 A JP4174267 A JP 4174267A JP 17426792 A JP17426792 A JP 17426792A JP H0621799 A JPH0621799 A JP H0621799A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
diode
transistor
level conversion
conversion circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP4174267A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shinzo Sato
信三 佐藤
Koichi Honda
孝一 本田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP4174267A priority Critical patent/JPH0621799A/en
Publication of JPH0621799A publication Critical patent/JPH0621799A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 レベル変換回路を最小限の数の素子で構成す
る事により、高集積化、高速化を容易に実現出来、然か
も低消費電力で且つ安定したECLレベルを出力しえる
レベル変換回路を提供する。 【構成】 CMOS回路1とECL回路2が混在された
半導体集積回路に使用されるレベル変換回路3で、カソ
ードが入力端IN1に接続され、アノードが出力端OU
T1に接続されている第1のダイオードD1、第1のダ
イオードD1のアノードと電源Vccとの間に設けられ
た、コレクタが電源Vccと接続されているトランジス
タQ8及びトランジスタQ8のエミッタにそのアノード
が接続され、且つそのカソードが第1のダイオードD1
のアノードに接続している第2のダイオードD2で構成
されたものであり、更にトランジスタQ8のベースが第
1のダイオードD1のカソードに接続せしめられている
レベル変換回路。
(57) [Summary] (Modified) [Purpose] High-integration and high-speed operation can be easily realized by configuring the level conversion circuit with the minimum number of elements, and low power consumption and stable operation are possible. A level conversion circuit capable of outputting an ECL level is provided. In a level conversion circuit 3 used in a semiconductor integrated circuit in which a CMOS circuit 1 and an ECL circuit 2 are mixed, a cathode is connected to an input terminal IN1 and an anode is an output terminal OU.
A first diode D1 connected to T1, a transistor Q8 provided between the anode of the first diode D1 and the power supply Vcc and having a collector connected to the power supply Vcc, and an emitter of the transistor Q8 have their anodes. Connected and whose cathode is the first diode D1
Of the second diode D2 connected to the anode of the transistor Q8, and the base of the transistor Q8 is connected to the cathode of the first diode D1.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、レベル変換回路に関す
るものであり、特に詳しくは、CMOS回路とECL回
路が混在された半導体集積回路に於いて、該CMOS回
路の出力を該ECL回路に入力するに際に使用される信
号レベルのレベル変換回路に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a level conversion circuit, and more particularly, in a semiconductor integrated circuit in which a CMOS circuit and an ECL circuit are mixed, the output of the CMOS circuit is input to the ECL circuit. The present invention relates to a level conversion circuit for a signal level used for the operation.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、コンピュータシステム等と高速
化、高集積化に伴い、高速動作可能なECL回路と高集
積、低消費電力を特徴とするCMOS回路とを混在さ
せ、各種の論理回路を構成するケースが多くなって来て
いる。係る従来の半導体装置に於いては、CMOS回路
に於ける信号レベルの振幅が該ECL回路に於ける信号
レベルの振幅よりも大きすぎる為、直接該CMOS回路
1から該ECL回路2に当該信号を送って該ECL回路
2を作動させようとした場合に、該ECL回路に於ける
入力段のトランジスタが飽和してしまい、遅延時間が長
くなったり、該入力段のトランジスタにおけるベース・
エミッタ間に逆耐圧が印加され該ECL回路の信頼性が
低下すると言う問題が発生している。
2. Description of the Related Art In recent years, with the increase in speed and integration of computer systems and the like, various logic circuits have been constructed by mixing ECL circuits capable of high-speed operation and CMOS circuits featuring high integration and low power consumption. The number of cases is increasing. In such a conventional semiconductor device, since the amplitude of the signal level in the CMOS circuit is too larger than the amplitude of the signal level in the ECL circuit, the signal is directly transmitted from the CMOS circuit 1 to the ECL circuit 2. When the ECL circuit 2 is sent to operate, the transistor of the input stage in the ECL circuit is saturated, the delay time becomes long, and the base of the transistor of the input stage is delayed.
There is a problem that the reverse withstand voltage is applied between the emitters and the reliability of the ECL circuit decreases.

【0003】その為、信号レベルにおけるCMOSレベ
ルをECLレベルに変換する事が必要となりその場合
に、該CMOSレベルの信号レベルの振幅を該ECLレ
ベルに合わせる為に小さくする必要があり、その為に従
来では、例えば、図2、或いは図3に示される様なレベ
ル変換回路が採用されて来ている。即ち、図2の回路例
に付いて見れば、CMOS回路1とECL回路2との間
に設けられるレベル変換回路3は、例えば、高電位電源
Vcc(GND)と低電位電源Veeとの間にPチャネ
ル型MOSトランジスタMP1、Nチャネル型MOSト
ランジスタMN1、MN2、バイポーラトランジスタQ
6、Q7、抵抗R5、R4及びダイオードQ8とが、図
示される様な回路構成を形成しているものであり、該回
路構成そのものは公知のレベル変換回路を構成している
ものであるが、更に、該レベル変換回路3の出力端OU
Tと高電位電源Vcc(GND)との間に、複数個のダ
イオードQ8、Q9及びスレッシュホールドダイオード
SD1とが直列に接続されて、クランプ回路4を構成す
る構造のレベル変換回路が使用されている。
Therefore, it is necessary to convert the CMOS level in the signal level into the ECL level, and in that case, it is necessary to reduce the amplitude of the signal level of the CMOS level to match the ECL level. Conventionally, for example, a level conversion circuit as shown in FIG. 2 or FIG. 3 has been adopted. That is, referring to the circuit example of FIG. 2, the level conversion circuit 3 provided between the CMOS circuit 1 and the ECL circuit 2 is, for example, between the high potential power supply Vcc (GND) and the low potential power supply Vee. P-channel type MOS transistor MP1, N-channel type MOS transistors MN1 and MN2, bipolar transistor Q
6, Q7, resistors R5, R4, and diode Q8 form a circuit configuration as shown in the drawing, and the circuit configuration itself constitutes a known level conversion circuit. Further, the output terminal OU of the level conversion circuit 3
A level conversion circuit having a structure in which a plurality of diodes Q8, Q9 and a threshold diode SD1 are connected in series between T and the high potential power supply Vcc (GND) to form a clamp circuit 4 is used. .

【0004】尚、従来に於けるECL回路2の回路構成
の例が、図2に示されており、一対のトランジスタQ1
とQ2及び一対の抵抗R1とR2で構成された差動増幅
回路5と該差動増幅回路5の共通エミッタに接続されて
いるトランジスタQ3から構成されている定電流源6、
該差動増幅回路5に於ける基準入力VBBが入力される
トランジスタQ2のコレクタに接続され、且つ出力部O
UTを構成するエミッタフォロワトランジスタQ4と該
出力部OUTと高電位電源Vcc(GND)との間に配
置されたダイオードQ5が、図示された様に配線されて
構成されたものであり、係るECL回路の例は、公知の
ものであり、係るECL回路は、図2に示される様な回
路構成に限定されるものではなく、公知の如何なるEC
L回路でも当然使用しえるものである。
An example of the circuit configuration of the conventional ECL circuit 2 is shown in FIG. 2, in which a pair of transistors Q1 is used.
, Q2 and a constant current source 6 composed of a differential amplifier circuit 5 composed of a pair of resistors R1 and R2 and a transistor Q3 connected to the common emitter of the differential amplifier circuit 5,
The reference input VBB in the differential amplifier circuit 5 is connected to the collector of the transistor Q2, and the output O
The emitter follower transistor Q4 forming the UT, the diode Q5 arranged between the output OUT and the high potential power supply Vcc (GND) are wired as shown in the drawing, and the ECL circuit is concerned. Is an example of a known ECL circuit, and the ECL circuit is not limited to the circuit configuration shown in FIG.
Of course, the L circuit can also be used.

【0005】そして、上記した様に、該ECL回路2に
おける入力段を構成する該トランジスタQ1が、レベル
変換回路が適性でない場合には、飽和したり遅延を増大
させる原因となっているものである。従って、例えば、
CMOS回路1に於ける最大の信号レベルの振幅を0V
〜−5.2Vに設定してあるとし、又、該ECL回路2
に於ける信号レベルの振幅を−1.3Vを中心として、
−0.8V〜−2.0Vの範囲変動させる様に設計され
ている場合には、当該クランプ回路4を構成する各ダイ
オードの数或いはダイオードのサイズ等を調整する事に
よって、該CMOS回路1の出力に於ける信号レベルを
上記のECL回路の信号レベルの振幅の範囲内に収める
事が可能となる。
As described above, the transistor Q1 forming the input stage of the ECL circuit 2 causes saturation or increase in delay when the level conversion circuit is not suitable. . So, for example,
The maximum signal level amplitude in the CMOS circuit 1 is 0V.
~ -5.2V is set, and the ECL circuit 2
The amplitude of the signal level at -1.3V
When the CMOS circuit 1 is designed to vary in the range of −0.8 V to −2.0 V, the number of diodes constituting the clamp circuit 4 or the size of the diodes is adjusted to adjust the CMOS circuit 1. It is possible to keep the signal level at the output within the amplitude range of the signal level of the ECL circuit.

【0006】然しながら、図2に示されるレベル変換回
路では、確かにECL回路2に適切な信号レベルの変換
を行う事が可能となるが、該レベル変換回路3に於ける
該Nチャネル型MOSトランジスタMN2がONとなる
時期には、該クランプ回路4、抵抗R5、トランジスタ
Q7を介して大量の電流が流れる事になるので、該レベ
ル変換回路に於いて不必要な電流を消費する事になるの
で、問題で有った。
However, the level conversion circuit shown in FIG. 2 can certainly convert the ECL circuit 2 to an appropriate signal level. However, the N channel type MOS transistor in the level conversion circuit 3 is converted. Since a large amount of current flows through the clamp circuit 4, the resistor R5, and the transistor Q7 when the MN2 is turned ON, unnecessary current is consumed in the level conversion circuit. , There was a problem.

【0007】一方、係る消費電力を改善する為に、図3
に示される様な回路構成を有したレベル変換回路3が提
案されている。図3のレベル変換回路3は、図示の様
に、例えば、高電位電源Vcc(GND)と低電位電源
Veeとの間にPチャネル型MOSトランジスタMP
1、Nチャネル型MOSトランジスタMN1、MN2、
MN3、バイポーラトランジスタQ6、Q7、及びダイ
オードQ8とが、図示される様な回路構成を形成してい
るものであり、図2のレベル変換回路との相違は、該ク
ランプ回路4を削除して、該バイポーラトランジスタQ
6のエミッタと出力部outとの間にダイオードQ8を
挿入したものである。
On the other hand, in order to improve the power consumption, FIG.
There has been proposed a level conversion circuit 3 having a circuit configuration as shown in FIG. As shown in the figure, the level conversion circuit 3 of FIG. 3 includes, for example, a P-channel MOS transistor MP between a high potential power source Vcc (GND) and a low potential power source Vee.
1, N-channel type MOS transistors MN1 and MN2,
The MN3, the bipolar transistors Q6 and Q7, and the diode Q8 form a circuit configuration as shown in the figure. The difference from the level conversion circuit of FIG. 2 is that the clamp circuit 4 is deleted, The bipolar transistor Q
A diode Q8 is inserted between the emitter of 6 and the output section out.

【0008】尚、図3に於けるECL回路2の回路構成
は、図2におけるECL回路の回路構成と同一である
が、該ECL回路2に於ける信号レベルの振幅を−2.
9Vを中心として、−1.6V〜−4.6Vの範囲で変
動させる様に設計されている場合を示しており、従っ
て、該CMOS回路1の信号レベルの最大振幅範囲を、
−1.6V〜−4.6Vの範囲となる様に該ダイオード
Q8のサイズ、個数等を調整して変換するものである。
The circuit configuration of the ECL circuit 2 in FIG. 3 is the same as the circuit configuration of the ECL circuit in FIG. 2, but the amplitude of the signal level in the ECL circuit 2 is -2.
It shows a case where it is designed to be varied in the range of -1.6V to -4.6V with 9V as the center. Therefore, the maximum amplitude range of the signal level of the CMOS circuit 1 is shown as follows.
The size and the number of the diodes Q8 are adjusted and converted so as to be in the range of -1.6V to -4.6V.

【0009】尚、図2及び図3に於いては、共に低電位
電源は、−5.2Vに設定されており、又該ECL回路
2の出力端に印加される負荷は例えば50Ωとなる事を
想定している。図3のレベル変換回路3に於いては、図
2の様な消費電力の増大を防止しえる効果を有してはい
るが、該レベル変換回路3を構成している素子等の数が
多い為、製造工程が煩雑となる他、製造コストが高くつ
き、更には、各素子類の数が多い為、配置面積を必要と
するので、高速化及び高集積化をする場合には、障害と
なっている。
2 and 3, the low-potential power source is set to -5.2 V, and the load applied to the output terminal of the ECL circuit 2 is, for example, 50 Ω. Is assumed. The level conversion circuit 3 shown in FIG. 3 has the effect of preventing an increase in power consumption as shown in FIG. 2, but has a large number of elements and the like that compose the level conversion circuit 3. Therefore, the manufacturing process is complicated, the manufacturing cost is high, and further, since the number of each element is large, a layout area is required, which is an obstacle to high speed and high integration. Has become.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、上記
した従来技術の欠点を改良し、レベル変換回路を最小限
の数の素子で構成する事により、高集積化、高速化を容
易に実現出来、然かも低消費電力で且つ安定したECL
レベルを出力しえるレベル変換回路を提供するものであ
る。
SUMMARY OF THE INVENTION The object of the present invention is to improve the drawbacks of the prior art described above, and to configure a level conversion circuit with a minimum number of elements to facilitate high integration and high speed. Achievable, low power consumption and stable ECL
A level conversion circuit capable of outputting a level is provided.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明は上記した目的を
達成するため、以下に記載されたような技術構成を採用
するものである。即ち、CMOS回路とECL回路が混
在された半導体集積回路に於いて、該CMOS回路の出
力を該ECL回路に入力するに際に使用されるレベル変
換回路で有って、該CMOS回路の出力を受ける入力
端、該ECL回路の入力部に接続されている出力端、該
入力端と該出力端との間に設けられ、そのカソードが該
入力端に接続され、そのアノードが該出力端に接続され
ている第1のダイオード、該第1のダイオードのアノー
ドと電源との間に設けられた、コレクタが該電源と接続
されているトランジスタ及び該トランジスタのエミッタ
にそのアノードが接続され、且つそのカソードが該第1
のダイオードのアノードに接続している第2のダイオー
ドで若しくは該トランジスタのエミッタと該第1のダイ
オードのアノードに接続している抵抗で構成されたもの
であり、更に該トランジスタのベースが該第1のダイオ
ードのカソードに接続せしめられているレベル変換回路
である。
In order to achieve the above-mentioned object, the present invention adopts the technical constitution as described below. That is, in a semiconductor integrated circuit in which a CMOS circuit and an ECL circuit are mixed, it is a level conversion circuit used when inputting the output of the CMOS circuit to the ECL circuit, and outputs the output of the CMOS circuit. An input terminal for receiving, an output terminal connected to an input section of the ECL circuit, provided between the input terminal and the output terminal, a cathode thereof is connected to the input terminal, and an anode thereof is connected to the output terminal. A first diode, a transistor provided between the anode of the first diode and the power supply, the collector of which is connected to the power supply, and the emitter of the transistor, the anode of which is connected to the cathode of the transistor. Is the first
A second diode connected to the anode of the diode or a resistor connected to the emitter of the transistor and the anode of the first diode, and the base of the transistor is the first diode. It is a level conversion circuit connected to the cathode of the diode.

【0012】[0012]

【作用】本発明に係るレベル変換回路は、上記した様な
技術構成を採用しているので、該レベル変換回路の回路
構成が非常に簡略化され、従って使用される素子等の数
も著しく低減しえるので、該レベル変換回路の高集積化
が容易に実現しえると同時に、各素子が少ない事から該
レベル変換回路における変換時間の遅延時間が少なくな
り、その為レベル変換回路に於ける変換処理速度が向上
して、高速化を実現する事も出来る。
Since the level conversion circuit according to the present invention employs the technical configuration as described above, the circuit configuration of the level conversion circuit is greatly simplified, and therefore the number of elements and the like used is remarkably reduced. Therefore, the high integration of the level conversion circuit can be easily realized, and at the same time, the delay time of the conversion time in the level conversion circuit is reduced due to the small number of elements, so that the conversion in the level conversion circuit is reduced. The processing speed is improved and the speed can be increased.

【0013】一方、本発明に係るレベル変換回路の回路
構成により、該ダイオードのサイズ、或いはそれらの個
数を変更、調整する事により、簡単に信号レベルの変換
時に於ける変換レベルを、容易に変更する事が可能とな
り、より適切な信号レベルのレベル変換を容易かつ迅速
に設定する事が出来る。
On the other hand, by the circuit configuration of the level conversion circuit according to the present invention, the size of the diodes or the number thereof are changed and adjusted, whereby the conversion level at the time of signal level conversion can be easily changed. It is possible to set the level conversion of a more appropriate signal level easily and quickly.

【0014】[0014]

【実施例】以下に、本発明に係るレベル変換回路の具体
例を図面を参照しながら詳細に説明する。即ち、図1
は、本発明に係るレベル変換回路の一具体例の構成を説
明したブロックダイアグラムであり、図1に於いては、
CMOS回路1とECL回路2が混在された半導体集積
回路に於いて、該CMOS回路1の出力を該ECL回路
2に入力するに際に使用されるレベル変換回路3で有っ
て、該CMOS回路1の出力を受ける入力端IN1、該
ECL回路2の入力部IN2に接続されている出力端O
UT1、該入力端IN1と該出力端OUT1との間に設
けられ、そのカソードが該入力端IN1に接続され、そ
のアノードが該出力端OUT1に接続されている第1の
ダイオードD1、該第1のダイオードD1のアノードと
電源Vccとの間に設けられた、コレクタが該電源と接
続されているトランジスタQ8及び該トランジスタQ8
のエミッタにそのアノードが接続され、且つそのカソー
ドが該第1のダイオードD1のアノードに接続している
第2のダイオードD2若しくは該トランジスタQ8のエ
ミッタと該第1のダイオードD1のアノードに接続して
いる抵抗で構成されたものであり、更に該トランジスタ
Q8のベースが該第1のダイオードD1のカソードに接
続せしめられているレベル変換回路が示されている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Specific examples of the level conversion circuit according to the present invention will be described in detail below with reference to the drawings. That is, FIG.
1 is a block diagram illustrating the configuration of a specific example of a level conversion circuit according to the present invention. In FIG.
In the semiconductor integrated circuit in which the CMOS circuit 1 and the ECL circuit 2 are mixed, the level conversion circuit 3 used when the output of the CMOS circuit 1 is input to the ECL circuit 2, Input terminal IN1 for receiving the output of 1 and output terminal O connected to the input portion IN2 of the ECL circuit 2
UT1, a first diode D1 provided between the input terminal IN1 and the output terminal OUT1 and having a cathode connected to the input terminal IN1 and an anode connected to the output terminal OUT1; And a transistor Q8 provided between the anode of the diode D1 and the power supply Vcc and having a collector connected to the power supply and the transistor Q8.
Of the second diode D2 whose cathode is connected to the anode of the first diode D1 or the emitter of the transistor Q8 and the anode of the first diode D1. A level conversion circuit is shown in which the base of the transistor Q8 is connected to the cathode of the first diode D1.

【0015】つまり、本発明にかかるレベル変換回路3
に於いては、バイポーラトランジスタとダイオードのみ
で構成されており、その回路構成も簡単に設計されてい
るので、該レベル変換回路に使用される素子、即ち、バ
イポーラトランジスタとダイオードの数を従来のレベル
変換回路に比べて著しく低減する事が可能となり、従っ
て、該レベル変換回路3そのもののサイズも小さくでき
るので、高集積化と高速化が同時に実現する事が出来る
のである。
That is, the level conversion circuit 3 according to the present invention.
In this case, since it is composed of only bipolar transistors and diodes, and its circuit configuration is also designed simply, the number of elements used in the level conversion circuit, that is, the number of bipolar transistors and diodes, is reduced to the conventional level. The level can be significantly reduced as compared with the conversion circuit, and therefore the size of the level conversion circuit 3 itself can be reduced, so that high integration and high speed can be realized at the same time.

【0016】更に、本発明に係るレベル変換回路に於い
ては、定常的な電流は、殆ど0となり、信号レベルの変
化する中間時点のみ必要な電流を流す事が可能となる。
本発明に係る該レベル変換回路に於いて使用されるトラ
ンジスタQ8は、NPN型バイポーラトランジスタであ
る事が好ましく、そのコレクタが、高電位電源に又その
エミッタが第2のダイオードD2のアノード側にそれぞ
れ接続される様に配置するものである。
Further, in the level conversion circuit according to the present invention, the steady-state current becomes almost 0, and it becomes possible to flow the required current only at the intermediate point when the signal level changes.
The transistor Q8 used in the level conversion circuit according to the present invention is preferably an NPN type bipolar transistor, the collector of which is the high potential power source and the emitter of which is the anode side of the second diode D2. It is arranged so as to be connected.

【0017】又、該トランジスタQ8のベースは、第1
のダイオードD1のカソード側に接続される様に配線さ
れているものである。又本発明に係る該レベル変換回路
3に於ける該第1のダイオードD1と第2のダイオード
D2とは、互いに異なる特性を有している事が好まし
く、又本発明に於いて使用される各ダイオードの数は、
任意であり、CMOS回路1とECL回路2の各信号レ
ベルを勘案して適宜に選択し、決定する事が出来る。
The base of the transistor Q8 is the first
The diode D1 is wired so as to be connected to the cathode side. Further, it is preferable that the first diode D1 and the second diode D2 in the level conversion circuit 3 according to the present invention have different characteristics from each other. The number of diodes is
It is arbitrary and can be appropriately selected and determined in consideration of the signal levels of the CMOS circuit 1 and the ECL circuit 2.

【0018】又、本発明に係るレベル変換回路に於いて
は、該第1のダイオードD1のアノードと該トランジス
タQ8のエミッタとの間に配置される第2のダイオード
D2若しくは抵抗Rは、変換レベルの程度を決定するも
のであり、その程度に従って何れかを選択する事が出来
る。本発明に於ける該レベル変換回路3に於いては、場
合によっては、該第2のダイオードD2若しくは抵抗R
は使用しないでも良い場合もある。
Further, in the level conversion circuit according to the present invention, the second diode D2 or the resistor R arranged between the anode of the first diode D1 and the emitter of the transistor Q8 has the conversion level. Is determined, and any one can be selected according to the degree. In the level conversion circuit 3 of the present invention, the second diode D2 or the resistor R may be used depending on the case.
May not be used in some cases.

【0019】本発明に係るレベル変換回路3の動作を説
明すると、今、ECL回路2を図3に示されたと同様の
構成の回路を使用し、高電位電源Vccの電圧を0V、
又低電位電源Veeの電圧を−5.2Vに設定した場合
に、CMOS回路1の出力側から、該レベル変換回路3
の入力端IN1に“L”レベル(≒−5.2V)が入力
された場合、第1のダイオードD1がONとなるが、ト
ランジスタQ8及び第2のダイオードD2はOFFとな
るので、電流は該ECL回路2の入力端IN2即ち、該
トランジスタQ1のベースから該第1のダイオードD1
を介してCMOS回路1の低電位電源に流れる事にな
る。
The operation of the level conversion circuit 3 according to the present invention will be described. Now, as the ECL circuit 2, a circuit having the same configuration as that shown in FIG. 3 is used, and the voltage of the high potential power supply Vcc is 0V.
Further, when the voltage of the low-potential power supply Vee is set to -5.2 V, the level conversion circuit 3 from the output side of the CMOS circuit 1
When the “L” level (≈−5.2 V) is input to the input terminal IN1 of the first diode D1, the first diode D1 is turned on, but the transistor Q8 and the second diode D2 are turned off. The input terminal IN2 of the ECL circuit 2, that is, the base of the transistor Q1 to the first diode D1.
Through the low potential power source of the CMOS circuit 1.

【0020】この場合、該ECL回路2の該トランジス
タQ1のベースは、Veeより該トランジスタQ1のV
BE1段上がった電位レベルである約−4.6V付近に変
換される。この場合、該トランジスタQ1はOFFとな
る為該トランジスタQ4がONとなるので、該ECL回
路2の出力端OUTには、約−0.9Vの電圧が出力さ
れ“H”レベルとなる。
In this case, the base of the transistor Q1 of the ECL circuit 2 is Vee of the transistor Q1 rather than Vee.
BE Converted to a potential level of about -4.6V, which is one step higher. In this case, since the transistor Q1 is turned off and the transistor Q4 is turned on, a voltage of about -0.9 V is output to the output terminal OUT of the ECL circuit 2 and becomes "H" level.

【0021】一方、CMOS回路1の出力側から、該レ
ベル変換回路3の入力端IN1に“H”レベル(≒−
0.0V)が入力された場合、トランジスタQ8及び第
2のダイオードD2はONとなり、該第1のダイオード
D1はOFFとなるので、電流は、高電位電源Vccか
ら該トランジスタQ8及び第2のダイオードD2を介し
て該該ECL回路2の入力端IN2即ち、該トランジス
タQ1のベースに流れる事になる。
On the other hand, from the output side of the CMOS circuit 1 to the input terminal IN1 of the level conversion circuit 3, an "H" level (≈-
0.0V) is input, the transistor Q8 and the second diode D2 are turned on, and the first diode D1 is turned off, so that the current flows from the high potential power supply Vcc to the transistor Q8 and the second diode. It will flow to the input terminal IN2 of the ECL circuit 2, that is, the base of the transistor Q1 via D2.

【0022】その為、該トランジスタQ1のベース電位
は、高電位電源Vccから該トランジスタQ8と該第2
のダイオードD2による電圧降下分下がったレベル、即
ち約−1.6Vに設定される事になる。この場合、該E
CL回路2に於ける該トランジスタQ1がONとなり、
該ECL回路2の出力端OUTには、約−1.8Vの電
圧が出力され“L”レベルとなる。
Therefore, the base potential of the transistor Q1 is from the high potential power source Vcc to the transistor Q8 and the second potential.
The voltage is lowered by the voltage drop due to the diode D2, that is, about -1.6V. In this case, the E
The transistor Q1 in the CL circuit 2 is turned on,
A voltage of about -1.8 V is output to the output terminal OUT of the ECL circuit 2 and becomes "L" level.

【0023】[0023]

【発明の効果】本発明は、上記した様な構成を有してい
るので、高速かつ高集積可能でしかも低消費電力である
CMOSレベルからECLレベルへのレベル変換回路を
容易に構成出来、その結果、コンピュ−タ−システム等
に於ける性能向上に大きく寄与する事が出来る。
Since the present invention has the above-mentioned structure, a level conversion circuit from the CMOS level to the ECL level which can be integrated at high speed and has low power consumption can be easily formed. As a result, it can greatly contribute to the performance improvement in a computer system or the like.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】図1は、本発明に係るレベル変換回路の一具体
例の構成を示すブロックダイアグラムである。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a specific example of a level conversion circuit according to the present invention.

【図2】図2は、従来におけるレベル変換回路の一例を
示すブロックダイアグラムである。
FIG. 2 is a block diagram showing an example of a conventional level conversion circuit.

【図3】図3は、従来におけるレベル変換回路の他の例
を示すブロックダイアグラムである。
FIG. 3 is a block diagram showing another example of a conventional level conversion circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…CMOS回路 2…ECL回路 3…レベル変換回路 Q8…バイポーラトランジスタ D1…第1のダイオード D2…第2のダイオード DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... CMOS circuit 2 ... ECL circuit 3 ... Level conversion circuit Q8 ... Bipolar transistor D1 ... 1st diode D2 ... 2nd diode

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 CMOS回路とECL回路が混在された
半導体集積回路に於いて、該CMOS回路の出力を該E
CL回路に入力するに際に使用されるレベル変換回路で
有って、該CMOS回路の出力を受ける入力端、該EC
L回路の入力部に接続されている出力端、該入力端と該
出力端との間に設けられ、そのカソードが該入力端に接
続され、そのアノードが該出力端に接続されている第1
のダイオード、該第1のダイオードのアノードと電源と
の間に設けられた、コレクタが該電源と接続されている
トランジスタ及び該トランジスタのエミッタにそのアノ
ードが接続され、且つそのカソードが該第1のダイオー
ドのアノードに接続している第2のダイオード若しくは
該トランジスタのエミッタと該第1のダイオードのアノ
ードに接続している抵抗で構成されたものであり、更に
該トランジスタのベースが該第1のダイオードのカソー
ドに接続せしめられている事を特徴とするレベル変換回
路。
1. In a semiconductor integrated circuit in which a CMOS circuit and an ECL circuit are mixed, the output of the CMOS circuit is the E
A level conversion circuit used when inputting to a CL circuit, the input terminal receiving the output of the CMOS circuit, the EC
An output terminal connected to the input section of the L circuit, provided between the input terminal and the output terminal, the cathode thereof is connected to the input terminal, and the anode thereof is connected to the output terminal.
, A transistor provided between the anode of the first diode and the power supply, the collector of which is connected to the power supply, and the emitter of the transistor whose anode is connected to the cathode of the first diode. A second diode connected to the anode of the diode or the emitter of the transistor and a resistor connected to the anode of the first diode, and the base of the transistor is the first diode. Level conversion circuit characterized by being connected to the cathode of.
【請求項2】 該トランジスタは、NPN型バイポーラ
トランジスタである事を特徴とする請求項1記載のレベ
ル変換回路。
2. The level conversion circuit according to claim 1, wherein the transistor is an NPN bipolar transistor.
【請求項3】 該電源は、該ECL回路と共通の高電位
電源である事を特徴とする請求項1記載のレベル変換回
路。
3. The level conversion circuit according to claim 1, wherein the power supply is a high-potential power supply common to the ECL circuit.
【請求項4】 該第1のダイオードと第2のダイオード
とは、互いに異なる特性を有している事を特徴とする請
求項1記載のレベル変換回路。
4. The level conversion circuit according to claim 1, wherein the first diode and the second diode have characteristics different from each other.
JP4174267A 1992-07-01 1992-07-01 Level conversion circuit Withdrawn JPH0621799A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4174267A JPH0621799A (en) 1992-07-01 1992-07-01 Level conversion circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4174267A JPH0621799A (en) 1992-07-01 1992-07-01 Level conversion circuit

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0621799A true JPH0621799A (en) 1994-01-28

Family

ID=15975664

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4174267A Withdrawn JPH0621799A (en) 1992-07-01 1992-07-01 Level conversion circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0621799A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109117401A (en) * 2018-09-04 2019-01-01 黔东南民族职业技术学院 A kind of serial port level changer

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109117401A (en) * 2018-09-04 2019-01-01 黔东南民族职业技术学院 A kind of serial port level changer

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0231062A1 (en) Level conversion circuit
US5635859A (en) Level converting circuit
US5656952A (en) All-MOS differential high speed output driver for providing positive-ECL levels into a variable load impedance
US5371421A (en) Low power BiMOS amplifier and ECL-CMOS level converter
US6114874A (en) Complementary MOS level translating apparatus and method
JPH0613878A (en) Level conversion circuit
US6646486B2 (en) Semiconductor integrated circuit
JPH0573292B2 (en)
JPH077407A (en) Semiconductor integrated circuit device
US5352941A (en) CMOS/ECL level converting circuit
JPH09200004A (en) Level conversion circuit
JP2549729B2 (en) Semiconductor integrated circuit
JP3060621B2 (en) Semiconductor level conversion circuit
US5869994A (en) Level converter circuit converting input level into ECL-level against variation in power supply voltage
US4954738A (en) Current source technology
JP3583359B2 (en) Logic level conversion circuit
JPH058584B2 (en)
US5656955A (en) Low power output buffer circuit
EP0399126B1 (en) Current source technology
JPH11355119A (en) ECL-CMOS level conversion circuit and control signal generation circuit
JP3076101B2 (en) Semiconductor integrated circuit device
JPS60233930A (en) Semiconductor integrated circuit device
KR940007955B1 (en) BICMOS driving circuit
JP2811658B2 (en) Logic circuit
JP3337770B2 (en) ECL gate circuit

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 19991005