JPH0621888A - 試験監視用ポート付き光分岐装置 - Google Patents
試験監視用ポート付き光分岐装置Info
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- JPH0621888A JPH0621888A JP4177313A JP17731392A JPH0621888A JP H0621888 A JPH0621888 A JP H0621888A JP 4177313 A JP4177313 A JP 4177313A JP 17731392 A JP17731392 A JP 17731392A JP H0621888 A JPH0621888 A JP H0621888A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 スター部光ファイバを個別にもしくは少心毎
に試験監視を行い、分配数Ｎに依存しない実用的なスタ
ー部光ファイバの試験監視技術を提供する。 【構成】 入射側信号用ポートより入射した信号光をＮ
（Ｎ＞１）分配して出射側信号用ポートに出射する１対
Ｎ光分岐装置において、該光分岐装置の各出射側信号用
ポートは波長無依存結合器を具備し、該結合器の２ポー
トを信号用ポート、他の少なくとも１ポートを試験監視
用ポートに割り当てる。そして、信号光と波長の異なる
試験監視波長を各出射側信号用ポートに個別に合分波す
る波長多重手段を前記試験監視用ポートに具備する。
に試験監視を行い、分配数Ｎに依存しない実用的なスタ
ー部光ファイバの試験監視技術を提供する。 【構成】 入射側信号用ポートより入射した信号光をＮ
（Ｎ＞１）分配して出射側信号用ポートに出射する１対
Ｎ光分岐装置において、該光分岐装置の各出射側信号用
ポートは波長無依存結合器を具備し、該結合器の２ポー
トを信号用ポート、他の少なくとも１ポートを試験監視
用ポートに割り当てる。そして、信号光と波長の異なる
試験監視波長を各出射側信号用ポートに個別に合分波す
る波長多重手段を前記試験監視用ポートに具備する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光通信分野に利用され
る光分岐装置に関し、特に、光ファイバを用いた１対Ｎ
（Ｎ＞１）の光分配形線路の試験監視技術に関するもの
である。
る光分岐装置に関し、特に、光ファイバを用いた１対Ｎ
（Ｎ＞１）の光分配形線路の試験監視技術に関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】図６は、従来の１対Ｎ光分配形線路の構
成を説明するための模式構成図であり、図６において、
１は信号光送信部、２は信号光受信部、３はバス部光フ
ァイバ、４はスター部光ファイバ、５は１対Ｎの光分配
部である。この構成において、信号光送信部１からの信
号光（波長λｓ）は、バス部光ファイバ３を透過後、１
対Ｎの光分配部５でＮ分配され、それぞれＮ本のスター
部光ファイバ４を経て信号光受信部２に伝搬する。この
ような１対Ｎの光分配形線路は、ＣＡＴＶといった映像
分配サービスに適した線路構成であり、広く検討が進め
られている。
成を説明するための模式構成図であり、図６において、
１は信号光送信部、２は信号光受信部、３はバス部光フ
ァイバ、４はスター部光ファイバ、５は１対Ｎの光分配
部である。この構成において、信号光送信部１からの信
号光（波長λｓ）は、バス部光ファイバ３を透過後、１
対Ｎの光分配部５でＮ分配され、それぞれＮ本のスター
部光ファイバ４を経て信号光受信部２に伝搬する。この
ような１対Ｎの光分配形線路は、ＣＡＴＶといった映像
分配サービスに適した線路構成であり、広く検討が進め
られている。
【０００３】ところで、（１）この１対Ｎの光分配形線
路に故障が発生した場合、この発生箇所や故障程度を把
握するための試験や、（２）通常の１対Ｎの光分配形線
路の監視を、従来技術である信号光送信部１の近傍から
の光パルス試験で行うときの問題点について説明する。
路に故障が発生した場合、この発生箇所や故障程度を把
握するための試験や、（２）通常の１対Ｎの光分配形線
路の監視を、従来技術である信号光送信部１の近傍から
の光パルス試験で行うときの問題点について説明する。
【０００４】図７は、前記従来の信号光送信部１の近傍
からの光パルス試験で行う技術を説明するための模式図
であり、１１は光カプラ、１２は光パルス試験器であ
る。
からの光パルス試験で行う技術を説明するための模式図
であり、１１は光カプラ、１２は光パルス試験器であ
る。
【０００５】図７において、光パルス試験器１２からの
試験監視光（波長λｔ）は、光カプラ１１によりバス部
光ファイバ３に入射される。バス部光ファイバ３及びス
ター部光ファイバ４からの後方散乱光は、光カプラ１１
を経て光パルス試験器１２で受光される。この場合、ス
ター部光ファイバ４の後方散乱光は、Ｎ本の合計として
光パルス試験器１２に受光され、後方散乱波形として表
示される。
試験監視光（波長λｔ）は、光カプラ１１によりバス部
光ファイバ３に入射される。バス部光ファイバ３及びス
ター部光ファイバ４からの後方散乱光は、光カプラ１１
を経て光パルス試験器１２で受光される。この場合、ス
ター部光ファイバ４の後方散乱光は、Ｎ本の合計として
光パルス試験器１２に受光され、後方散乱波形として表
示される。
【０００６】このような従来の試験監視方式において、
Ｎ本の内１本のスター部光ファイバ４にα（ｄＢ）損失
が生じるような故障が発生した場合を考える。この時、
光パルス試験器１２によって故障点を探索した場合、故
障点と光パルス試験器１２との距離を判定することはで
きるが、しかし、故障が生じたスター部光ファイバ４
は、Ｎ本の内のどれかを特定することはできない。
Ｎ本の内１本のスター部光ファイバ４にα（ｄＢ）損失
が生じるような故障が発生した場合を考える。この時、
光パルス試験器１２によって故障点を探索した場合、故
障点と光パルス試験器１２との距離を判定することはで
きるが、しかし、故障が生じたスター部光ファイバ４
は、Ｎ本の内のどれかを特定することはできない。
【０００７】しかも、光パルス試験器１２と故障点との
距離が判定できるとはいえ、それはこの光分配形線路が
１対２もしくは１対４光分配形線路のように、分配され
る光ファイバの本数が少ない場合であり、例えば、１対
１６光分配形線路のように分配数が多くなると、断線
（α＝∞）でも、故障発生前後に、光パルス試験器１２
で観測される後方散乱波形上の段差β（ｄＢ）は、たか
だか０.２８（ｄＢ）しか現われない。この程度の後方
散乱波形の段差は、光パルス試験器１２の雑音による波
形広がりと同程度となる可能性があり、光パルス試験器
１２と故障点との距離を判定することは困難になる。
距離が判定できるとはいえ、それはこの光分配形線路が
１対２もしくは１対４光分配形線路のように、分配され
る光ファイバの本数が少ない場合であり、例えば、１対
１６光分配形線路のように分配数が多くなると、断線
（α＝∞）でも、故障発生前後に、光パルス試験器１２
で観測される後方散乱波形上の段差β（ｄＢ）は、たか
だか０.２８（ｄＢ）しか現われない。この程度の後方
散乱波形の段差は、光パルス試験器１２の雑音による波
形広がりと同程度となる可能性があり、光パルス試験器
１２と故障点との距離を判定することは困難になる。
【０００８】このため、各出射側信号用ポートに、誘電
帯多層膜フィルタを有し、かつ少なくとも２つの通過波
長域を有することを特徴とするフィルタ付き分岐結合器
（H.Yanagawa et al.,“１×Ｎ tree-splitter with a
commonfilter for branch identification,” OFC '92,
pp263, 1992）を１対Ｎ光分配部に用いる方法が提案さ
れており、その構成図を図８に示す。
帯多層膜フィルタを有し、かつ少なくとも２つの通過波
長域を有することを特徴とするフィルタ付き分岐結合器
（H.Yanagawa et al.,“１×Ｎ tree-splitter with a
commonfilter for branch identification,” OFC '92,
pp263, 1992）を１対Ｎ光分配部に用いる方法が提案さ
れており、その構成図を図８に示す。
【０００９】図８において、８は誘電帯多層膜フィルタ
である。この方法を用いた場合、該フィルタ８は信号光
を透過するとともに、スター部光ファイバ４個別もしく
は少心毎に波長の異なる試験監視光を透過する必要があ
る。しかし、このようなフィルタは、製造面や損失特性
面から実現が極めて困難である。
である。この方法を用いた場合、該フィルタ８は信号光
を透過するとともに、スター部光ファイバ４個別もしく
は少心毎に波長の異なる試験監視光を透過する必要があ
る。しかし、このようなフィルタは、製造面や損失特性
面から実現が極めて困難である。
【００１０】以上、説明したように、従来、仮にＮ本の
内１本のスター部光ファイバ４が断線しても、その試験
監視に有力な手段がなかった。
内１本のスター部光ファイバ４が断線しても、その試験
監視に有力な手段がなかった。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】以上述べたように、従
来の技術をそのまま１対Ｎ光分配形線路に適用する場合
は、スター部光ファイバ４全ての後方散乱光が光パルス
試験器１２に表示されるため、故障発生前後の光パルス
試験器１２が観測する後方散乱波形上の段差βの分配数
Ｎに対する依存性により、各スター部光ファイバ４を効
果的に試験監視できないという問題があった。また、１
対Ｎの光分配部５に誘電帯多層膜フィルタ８を有したフ
ィルタ付き分岐結合器を用いる場合も、該フィルタ８の
実現が極めて難しいという問題があった。
来の技術をそのまま１対Ｎ光分配形線路に適用する場合
は、スター部光ファイバ４全ての後方散乱光が光パルス
試験器１２に表示されるため、故障発生前後の光パルス
試験器１２が観測する後方散乱波形上の段差βの分配数
Ｎに対する依存性により、各スター部光ファイバ４を効
果的に試験監視できないという問題があった。また、１
対Ｎの光分配部５に誘電帯多層膜フィルタ８を有したフ
ィルタ付き分岐結合器を用いる場合も、該フィルタ８の
実現が極めて難しいという問題があった。
【００１２】本発明は、前記問題点を解決するためにな
されたものであり、本発明の目的は、１対Ｎ光分配部５
の各出射側信号用ポートに波長無依存結合器を具備し、
該結合器の２ポートを信号用ポートに、他の少なくとも
１ポートを試験監視のための入射・出射に用いて、かつ
該試験監視ポート毎に固有の試験監視波長を割り当てる
ことにより、スター部光ファイバ４を個別にもしくは少
心毎に試験監視を行い、分配数Ｎに依存しない実用的な
スター部光ファイバ４の試験監視技術を提供することに
ある。
されたものであり、本発明の目的は、１対Ｎ光分配部５
の各出射側信号用ポートに波長無依存結合器を具備し、
該結合器の２ポートを信号用ポートに、他の少なくとも
１ポートを試験監視のための入射・出射に用いて、かつ
該試験監視ポート毎に固有の試験監視波長を割り当てる
ことにより、スター部光ファイバ４を個別にもしくは少
心毎に試験監視を行い、分配数Ｎに依存しない実用的な
スター部光ファイバ４の試験監視技術を提供することに
ある。
【００１３】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述及び添付図面によって明らか
にする。
な特徴は、本明細書の記述及び添付図面によって明らか
にする。
【００１４】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明の（１）の手段は、入射側信号用ポートより
入射した信号光をＮ（Ｎ＞１）分配して出射側信号用ポ
ートに出射する１対Ｎ光分岐装置において、該光分岐装
置の各出射側信号用ポートは波長無依存結合器を具備
し、該結合器の２ポートを信号用ポート、他の少なくと
も１ポートを試験監視用ポートに割り当てることを特徴
する。
に、本発明の（１）の手段は、入射側信号用ポートより
入射した信号光をＮ（Ｎ＞１）分配して出射側信号用ポ
ートに出射する１対Ｎ光分岐装置において、該光分岐装
置の各出射側信号用ポートは波長無依存結合器を具備
し、該結合器の２ポートを信号用ポート、他の少なくと
も１ポートを試験監視用ポートに割り当てることを特徴
する。
【００１５】本発明の（２）の手段は、前記（１）の手
段の試験監視用ポート付き光分岐装置において、信号光
と波長の異なる試験監視波長を各出射側信号用ポートに
個別に合分波する波長多重手段を前記試験監視用ポート
に具備することを特徴とする。
段の試験監視用ポート付き光分岐装置において、信号光
と波長の異なる試験監視波長を各出射側信号用ポートに
個別に合分波する波長多重手段を前記試験監視用ポート
に具備することを特徴とする。
【００１６】
【作用】上述した手段によれば、１対Ｎ光分配部の各出
射側信号用ポートに波長無依存結合器を具備し、該結合
器の２ポートを信号用ポート、他の少なくとも１ポート
を試験監視用ポートに割り当てることにより、信号光と
波長の異なる試験監視光を分配数Ｎに依存せず入射・出
射することにより、分配数Ｎに依存せずにスター部光フ
ァイバを個別にもしくは少心毎に試験監視することが可
能となる。
射側信号用ポートに波長無依存結合器を具備し、該結合
器の２ポートを信号用ポート、他の少なくとも１ポート
を試験監視用ポートに割り当てることにより、信号光と
波長の異なる試験監視光を分配数Ｎに依存せず入射・出
射することにより、分配数Ｎに依存せずにスター部光フ
ァイバを個別にもしくは少心毎に試験監視することが可
能となる。
【００１７】そして、前記試験監視用ポートに試験監視
光を入射・出射するためには、試験監視専用の光ファイ
バを設けるか、もしくはバス部光ファイバ内に信号光の
波長と試験監視光の波長を合分波する光合分波部品を挿
入し、この光合分波部品の試験監視用ポートと、１対Ｎ
光分配部の各出射側信号用ポートに具備された波長無依
存結合器の試験監視用ポートとの間に、それぞれの結合
器に固有の試験監視光波長を与える波長多重部品を挿入
することにより実施することができる。
光を入射・出射するためには、試験監視専用の光ファイ
バを設けるか、もしくはバス部光ファイバ内に信号光の
波長と試験監視光の波長を合分波する光合分波部品を挿
入し、この光合分波部品の試験監視用ポートと、１対Ｎ
光分配部の各出射側信号用ポートに具備された波長無依
存結合器の試験監視用ポートとの間に、それぞれの結合
器に固有の試験監視光波長を与える波長多重部品を挿入
することにより実施することができる。
【００１８】
【実施例】以下、図面を参照して、本発明の実施例を詳
細に説明する。
細に説明する。
【００１９】なお、全図において、同一機能を有するも
のは同一符号を付け、その繰り返しの説明は省略する。
のは同一符号を付け、その繰り返しの説明は省略する。
【００２０】図１は、本発明の試験監視用ポート付き光
分岐装置の実施例の基本的な構成を説明するための模式
構成図であり、６は波長無依存結合器、２１は信号光の
伝搬に寄与していない波長無依存結合器６のポートであ
り、本発明の主眼である試験監視光の入射・出射に用い
る試験監視用ポートである。３２は各試験監視用ポート
毎に固有の試験監視波長を割り当てる波長多重装置であ
る。
分岐装置の実施例の基本的な構成を説明するための模式
構成図であり、６は波長無依存結合器、２１は信号光の
伝搬に寄与していない波長無依存結合器６のポートであ
り、本発明の主眼である試験監視光の入射・出射に用い
る試験監視用ポートである。３２は各試験監視用ポート
毎に固有の試験監視波長を割り当てる波長多重装置であ
る。
【００２１】本実施例の試験監視用ポート付き光分岐装
置は、図１に示すように、一般に４本のポートを有する
波長無依存結合器６の２本のポートを信号用ポート、他
の少なくとも１本のポート２１を試験監視用ポートに割
り当てる。光パルス試験器１２からの試験監視光のう
ち、各々に割り当てられた試験監視光波長のみが波長無
依存結合器６のポート２１に入射し、該結合器６に接続
しているスター部光ファイバ４で発生した後方散乱光
は、ポート２１から出射して光パルス試験器１２に受光
される。従って、従来のように全てのスター部光ファイ
バ４からの後方散乱光を受光するのではなく、各波長無
依存結合器６に接続しているスター部光ファイバ４を別
々に受光し試験監視することが可能となる。
置は、図１に示すように、一般に４本のポートを有する
波長無依存結合器６の２本のポートを信号用ポート、他
の少なくとも１本のポート２１を試験監視用ポートに割
り当てる。光パルス試験器１２からの試験監視光のう
ち、各々に割り当てられた試験監視光波長のみが波長無
依存結合器６のポート２１に入射し、該結合器６に接続
しているスター部光ファイバ４で発生した後方散乱光
は、ポート２１から出射して光パルス試験器１２に受光
される。従って、従来のように全てのスター部光ファイ
バ４からの後方散乱光を受光するのではなく、各波長無
依存結合器６に接続しているスター部光ファイバ４を別
々に受光し試験監視することが可能となる。
【００２２】光パルス試験器１２から１対Ｎ光分配部ま
での試験監視光伝搬には、バス光ファイバ３を用いて
も、別の試験監視専用の光ファイバを用いても可能であ
る。試験監視光が、信号光と同じようにバス部光ファイ
バ３を伝搬する場合は、信号光と試験監視光とを分波・
合波するための光合分波部品をバス部光ファイバ３に挿
入すればよい。
での試験監視光伝搬には、バス光ファイバ３を用いて
も、別の試験監視専用の光ファイバを用いても可能であ
る。試験監視光が、信号光と同じようにバス部光ファイ
バ３を伝搬する場合は、信号光と試験監視光とを分波・
合波するための光合分波部品をバス部光ファイバ３に挿
入すればよい。
【００２３】このように、従来不可能であった１対１６
もしくはそれ以上の１対Ｎ光分配形線路を容易に試験監
視することが可能となる。
もしくはそれ以上の１対Ｎ光分配形線路を容易に試験監
視することが可能となる。
【００２４】（実施例１）図２は、本発明の試験監視用
ポート付き光分岐装置の実施例１の構成を説明するため
の模式構成図あり、７は試験監視用光ファイバである。
ポート付き光分岐装置の実施例１の構成を説明するため
の模式構成図あり、７は試験監視用光ファイバである。
【００２５】本実施例１の試験監視用ポート付き光分岐
装置は、図２に示すように、光パルス試験器１２からの
試験監視光は、試験監視用光ファイバ７を伝搬した後、
波長多重装置３２により各試験用ポート２１に入射す
る。各スター部光ファイバ４からの後方散乱光は逆の経
路をたどり、光パルス試験器１２に受光される。このよ
うな構成のため、バス部光ファイバ３には特別に試験監
視光と信号光を合分波するための装置は必要としない特
徴がある。
装置は、図２に示すように、光パルス試験器１２からの
試験監視光は、試験監視用光ファイバ７を伝搬した後、
波長多重装置３２により各試験用ポート２１に入射す
る。各スター部光ファイバ４からの後方散乱光は逆の経
路をたどり、光パルス試験器１２に受光される。このよ
うな構成のため、バス部光ファイバ３には特別に試験監
視光と信号光を合分波するための装置は必要としない特
徴がある。
【００２６】（実施例２）図３は、本発明の試験監視用
ポート付き光分岐装置の実施例２の構成を説明するため
の模式構成図あり、バス部光ファイバ３に、信号光と試
験監視光を同時に伝搬させるものである。図３におい
て、３１は信号光の波長と試験監視光の波長を合分波す
る光合分波装置であり、２２は光合分波装置３１の試験
監視用ポートである。
ポート付き光分岐装置の実施例２の構成を説明するため
の模式構成図あり、バス部光ファイバ３に、信号光と試
験監視光を同時に伝搬させるものである。図３におい
て、３１は信号光の波長と試験監視光の波長を合分波す
る光合分波装置であり、２２は光合分波装置３１の試験
監視用ポートである。
【００２７】本実施例２の試験監視用ポート付き光分岐
装置は、図３に示すように、光パルス試験器１２からの
試験監視光は、光カプラ１１によりバス部光ファイバ３
に結合する。バス部光ファイバ３の透過の後、光合分波
装置３１で分波された試験監視光は、第１の実施例と同
様に波長多重装置３２により各試験用ポート２１に入射
する。各スター部光ファイバ４からの後方散乱光は、逆
の経路をたどり、光パルス試験器１２に受光される。こ
の場合、試験監視光を１対Ｎ光分配部５までに運ぶため
の特別な光ファイバを必要としない上、バス部光ファイ
バ３も試験監視し得る利点を有している。
装置は、図３に示すように、光パルス試験器１２からの
試験監視光は、光カプラ１１によりバス部光ファイバ３
に結合する。バス部光ファイバ３の透過の後、光合分波
装置３１で分波された試験監視光は、第１の実施例と同
様に波長多重装置３２により各試験用ポート２１に入射
する。各スター部光ファイバ４からの後方散乱光は、逆
の経路をたどり、光パルス試験器１２に受光される。こ
の場合、試験監視光を１対Ｎ光分配部５までに運ぶため
の特別な光ファイバを必要としない上、バス部光ファイ
バ３も試験監視し得る利点を有している。
【００２８】試験監視光の波長多重装置３２としては、
図４に示すような方向性結合器４１を組み合わせたも
の、もしくは、図５に示すような試験監視光波長のみを
透過する誘電帯多層膜フィルタ４２を挿入したものが適
用できる。
図４に示すような方向性結合器４１を組み合わせたも
の、もしくは、図５に示すような試験監視光波長のみを
透過する誘電帯多層膜フィルタ４２を挿入したものが適
用できる。
【００２９】実際に実験により、光パルス試験器１２に
４種の試験監視光光源を具備したものを用いて、１対１
６分配を１対４分配まで少心毎に測定することができる
ことを確認した。
４種の試験監視光光源を具備したものを用いて、１対１
６分配を１対４分配まで少心毎に測定することができる
ことを確認した。
【００３０】以上、本発明を、前記実施例に基づき具体
的に説明したが、本発明は、前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変
更可能であることは勿論である。
的に説明したが、本発明は、前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変
更可能であることは勿論である。
【００３１】
【発明の効果】以上、説明したように、本発明によれ
ば、分配数に依存せず１対Ｎ光分配形線路の試験監視を
パッシブな構成で実現することができる。これにより、
故障状態の把握や、光線路の保守運用の効率化が見込ま
れ、ひいてはサービスの品質を向上することができる。
ば、分配数に依存せず１対Ｎ光分配形線路の試験監視を
パッシブな構成で実現することができる。これにより、
故障状態の把握や、光線路の保守運用の効率化が見込ま
れ、ひいてはサービスの品質を向上することができる。
【図１】 本発明の試験監視用ポート付き光分岐装置の
実施例の基本的な構成を説明するための模式構成図、
実施例の基本的な構成を説明するための模式構成図、
【図２】 本発明の試験監視用ポート付き光分岐装置の
実施例１の構成を説明するための模式構成図、
実施例１の構成を説明するための模式構成図、
【図３】 本発明の試験監視用ポート付き光分岐装置の
実施例２の構成を説明するための模式構成図、
実施例２の構成を説明するための模式構成図、
【図４】 本実施例の第１の試験監視光の波長多重装置
の構成を示す図、
の構成を示す図、
【図５】 本実施例の第２の試験監視光の波長多重装置
の構成を示す図、
の構成を示す図、
【図６】 従来の１対Ｎ光分配形線路の構成を示す模式
構成図、
構成図、
【図７】 従来技術による１対Ｎ光分配形線路の試験監
視の構成を示す模式構成図、
視の構成を示す模式構成図、
【図８】 従来技術において、誘電帯多層膜を有するフ
ィルタ付き分岐結合器を１対Ｎ光分配部に用いた場合の
試験監視の構成を示す模式構成図。
ィルタ付き分岐結合器を１対Ｎ光分配部に用いた場合の
試験監視の構成を示す模式構成図。
１…信号光送信部、２…信号光受信部、３…バス部光フ
ァイバ、４…スター部光ファイバ、５…１対Ｎ光分配
部、６…波長無依存結合器、７…試験監視用光ファイ
バ、８…誘電帯多層膜フィルタ、１１…光カプラ、１２
…光パルス試験器、２１…信号光の伝搬に寄与していな
い波長無依存結合器６のポート、２２…光合分波装置３
１の試験監視用ポート、３１…信号光の波長と試験監視
光の波長を合分波する光合分波装置、３２…波長多重装
置、４１…方向性結合器、４２…試験監視光波長のみを
透過する誘電帯多層膜フィルタ。
ァイバ、４…スター部光ファイバ、５…１対Ｎ光分配
部、６…波長無依存結合器、７…試験監視用光ファイ
バ、８…誘電帯多層膜フィルタ、１１…光カプラ、１２
…光パルス試験器、２１…信号光の伝搬に寄与していな
い波長無依存結合器６のポート、２２…光合分波装置３
１の試験監視用ポート、３１…信号光の波長と試験監視
光の波長を合分波する光合分波装置、３２…波長多重装
置、４１…方向性結合器、４２…試験監視光波長のみを
透過する誘電帯多層膜フィルタ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 8220−5Ｋ Ｈ０４Ｂ 9/00 Ｋ (72)発明者 小山田 弥平 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日 本電信電話株式会社内
Claims (2)
- 【請求項１】 入射側信号用ポートより入射した信号光
をＮ（Ｎ＞１）分配して出射側信号用ポートに出射する
１対Ｎ光分岐装置において、該光分岐装置の各出射側信
号用ポートは波長無依存結合器を具備し、該結合器の２
ポートを信号用ポート、他の少なくとも１ポートを試験
監視用ポートに割り当てることを特徴とする試験監視用
ポート付き光分岐装置。 - 【請求項２】 信号光と波長の異なる試験監視波長を各
出射側信号用ポートに個別に合分波する波長多重手段
を、前記試験監視用ポートに具備することを特徴とする
請求項１に記載の試験監視用ポート付き光分岐装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4177313A JPH0621888A (ja) | 1992-07-06 | 1992-07-06 | 試験監視用ポート付き光分岐装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4177313A JPH0621888A (ja) | 1992-07-06 | 1992-07-06 | 試験監視用ポート付き光分岐装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0621888A true JPH0621888A (ja) | 1994-01-28 |
Family
ID=16028802
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4177313A Pending JPH0621888A (ja) | 1992-07-06 | 1992-07-06 | 試験監視用ポート付き光分岐装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0621888A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5011550A (en) * | 1987-05-13 | 1991-04-30 | Sharp Kabushiki Kaisha | Laminated structure of compound semiconductors |
| KR100335353B1 (ko) * | 1998-08-31 | 2002-05-06 | 엔도 마코토 | 파장 영역 다중 광 스타 커플러, 통신국 및 광 전송 시스템 |
-
1992
- 1992-07-06 JP JP4177313A patent/JPH0621888A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5011550A (en) * | 1987-05-13 | 1991-04-30 | Sharp Kabushiki Kaisha | Laminated structure of compound semiconductors |
| KR100335353B1 (ko) * | 1998-08-31 | 2002-05-06 | 엔도 마코토 | 파장 영역 다중 광 스타 커플러, 통신국 및 광 전송 시스템 |
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