JPH06225187A - 撮像装置 - Google Patents
撮像装置Info
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- JPH06225187A JPH06225187A JP50A JP1002093A JPH06225187A JP H06225187 A JPH06225187 A JP H06225187A JP 50 A JP50 A JP 50A JP 1002093 A JP1002093 A JP 1002093A JP H06225187 A JPH06225187 A JP H06225187A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】複数の撮像素子の位置ずれを信号処理で補正す
る。 【構成】撮像素子３Ｇに対する撮像素子３Ｒ，３Ｂの位
置ずれ情報をＲＯＭ９に記憶する。メモリ７Ｇより各画
素アドレス（ｉ，ｊ）のデータを読み出し、カード１５
のアドレス（ｉ，ｊ）に対応したアドレスに書き込む。
制御回路８で素子３Ｇの画素アドレス（ｉ，ｊ）に対応
した素子３Ｒ，３Ｂの画素アドレス（ｋ，ｍ）をＲＯＭ
９の情報を用いて演算する。ｋ，ｍが整数であるとき、
メモリ７Ｒ，７Ｂより画素アドレス（ｋ，ｍ）のデータ
を読み出し、カード１５のアドレス（ｉ，ｊ）に対応し
たアドレスに書き込む。ｋ，ｍが整数でないとき、周囲
画素データよりアドレス（ｋ，ｍ）に対応する内挿デー
タを形成し、カード１５のアドレス（ｉ，ｊ）に対応し
たアドレスに書き込む。位置ずれがあっても、カード１
５のアドレス（ｉ，ｊ）に対応するアドレスにおける各
色の画素データは同一画像位置に係るものとなる。
る。 【構成】撮像素子３Ｇに対する撮像素子３Ｒ，３Ｂの位
置ずれ情報をＲＯＭ９に記憶する。メモリ７Ｇより各画
素アドレス（ｉ，ｊ）のデータを読み出し、カード１５
のアドレス（ｉ，ｊ）に対応したアドレスに書き込む。
制御回路８で素子３Ｇの画素アドレス（ｉ，ｊ）に対応
した素子３Ｒ，３Ｂの画素アドレス（ｋ，ｍ）をＲＯＭ
９の情報を用いて演算する。ｋ，ｍが整数であるとき、
メモリ７Ｒ，７Ｂより画素アドレス（ｋ，ｍ）のデータ
を読み出し、カード１５のアドレス（ｉ，ｊ）に対応し
たアドレスに書き込む。ｋ，ｍが整数でないとき、周囲
画素データよりアドレス（ｋ，ｍ）に対応する内挿デー
タを形成し、カード１５のアドレス（ｉ，ｊ）に対応し
たアドレスに書き込む。位置ずれがあっても、カード１
５のアドレス（ｉ，ｊ）に対応するアドレスにおける各
色の画素データは同一画像位置に係るものとなる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、複数の撮像素子を組
み合わせて固定し、各撮像素子の出力信号を合成して画
像を生成する撮像装置に関する。
み合わせて固定し、各撮像素子の出力信号を合成して画
像を生成する撮像装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、例えばＣＣＤ固体撮像素子等の撮
像素子を使用する撮像装置の解像度は、使用している撮
像素子の画素数によって支配されるため、高解像度の撮
像をするために画素の高密度化が図られてきた。しか
し、撮像素子の画素数を増やすことは歩留まりや技術面
で制約があり、価格が高いものとなる。
像素子を使用する撮像装置の解像度は、使用している撮
像素子の画素数によって支配されるため、高解像度の撮
像をするために画素の高密度化が図られてきた。しか
し、撮像素子の画素数を増やすことは歩留まりや技術面
で制約があり、価格が高いものとなる。
【０００３】近年では、同一の画素数でできるだけ画素
を高密度に配列して面積を少なくし、歩留まりを上げて
安価にした撮像素子が製造されている。これはまた、使
用する撮像レンズの小型化、低価格化をも可能にしてい
る。このような画素の高密度化によって撮像素子の画素
ピッチは狭まり、例えば１ピッチ６．４μｍ（１／３イ
ンチサイズで、水平方向の画素数が７６０である場合）
のものが製造されている。
を高密度に配列して面積を少なくし、歩留まりを上げて
安価にした撮像素子が製造されている。これはまた、使
用する撮像レンズの小型化、低価格化をも可能にしてい
る。このような画素の高密度化によって撮像素子の画素
ピッチは狭まり、例えば１ピッチ６．４μｍ（１／３イ
ンチサイズで、水平方向の画素数が７６０である場合）
のものが製造されている。
【０００４】一方、従来と同じ画素数の撮像素子を使用
して高解像度の撮像をする方法として、プリズムを用い
て入射光を分けると共に、この分けられた光束により結
像する位置で、これらによって得られる像に対応して複
数設けられた撮像素子にて撮像し、これら複数の撮像素
子からの撮像信号を重ね合わせることで解像度を上げよ
うとするものがある。
して高解像度の撮像をする方法として、プリズムを用い
て入射光を分けると共に、この分けられた光束により結
像する位置で、これらによって得られる像に対応して複
数設けられた撮像素子にて撮像し、これら複数の撮像素
子からの撮像信号を重ね合わせることで解像度を上げよ
うとするものがある。
【０００５】さらに、特公昭５６−４０５４６号公報に
記載されるように、ｎ個の撮像素子の空間的な配置を互
いに画素ピッチの１／ｎだけずれるように配置し、画素
ピッチ以上の解像度を得る方法も提案されている。
記載されるように、ｎ個の撮像素子の空間的な配置を互
いに画素ピッチの１／ｎだけずれるように配置し、画素
ピッチ以上の解像度を得る方法も提案されている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述したよう
に各撮像素子を配置する場合、各撮像素子の位置精度と
して最小の画素ピッチより１桁程度上の精度が要求さ
れ、撮像素子の位置合わせが困難となっている。また、
位置合わせ後に各撮像素子を接着やねじ止め等で固定す
ることになるが、この接着やねじ止め等の段階で発生す
る応力により位置がずれることもある。さらに、撮像素
子の高密度化による画素ピッチの縮小に応じて固定精度
も上げなければならず、製造装置として高度のものを要
したり、製造時間が長くなる等の問題もある。
に各撮像素子を配置する場合、各撮像素子の位置精度と
して最小の画素ピッチより１桁程度上の精度が要求さ
れ、撮像素子の位置合わせが困難となっている。また、
位置合わせ後に各撮像素子を接着やねじ止め等で固定す
ることになるが、この接着やねじ止め等の段階で発生す
る応力により位置がずれることもある。さらに、撮像素
子の高密度化による画素ピッチの縮小に応じて固定精度
も上げなければならず、製造装置として高度のものを要
したり、製造時間が長くなる等の問題もある。
【０００７】そこで、この発明では、複数の撮像素子の
空間的な位置合わせを高精度にせずとも良好な画像を得
ることができる撮像装置を提供するものである。
空間的な位置合わせを高精度にせずとも良好な画像を得
ることができる撮像装置を提供するものである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】この発明は、複数の撮像
素子を使用して構成される撮像装置において、複数の撮
像素子の基準位置に対するずれを演算による信号処理に
よって補正するものである。
素子を使用して構成される撮像装置において、複数の撮
像素子の基準位置に対するずれを演算による信号処理に
よって補正するものである。
【０００９】
【作用】この発明においては、複数の撮像素子の基準位
置に対するずれを演算による信号処理でもって補正する
ため、複数の撮像素子の空間的な位置合わせを高精度に
する必要がなく、製造時間を短縮でき、また高度の製造
装置も必要でなくなる。また、環境条件の変化や経時変
化によって複数の撮像素子の空間的な位置ずれが発生し
ても容易に補正し得る。
置に対するずれを演算による信号処理でもって補正する
ため、複数の撮像素子の空間的な位置合わせを高精度に
する必要がなく、製造時間を短縮でき、また高度の製造
装置も必要でなくなる。また、環境条件の変化や経時変
化によって複数の撮像素子の空間的な位置ずれが発生し
ても容易に補正し得る。
【００１０】
【実施例】以下、図１を参照しながら、この発明の一実
施例について説明する。本例は撮像して得られる赤、
緑、青の色信号をメモリカードに記録するようにした電
子スチルカメラに適用した例である。
施例について説明する。本例は撮像して得られる赤、
緑、青の色信号をメモリカードに記録するようにした電
子スチルカメラに適用した例である。
【００１１】図において、１は撮像レンズ、２は色分解
プリズムである。プリズム２より出射される赤、緑、青
の色光ＬＲ，ＬＧ，ＬＢはそれぞれＣＣＤ固体撮像素子
３Ｒ，３Ｇ，３Ｂの撮像面に照射される。撮像素子３
Ｒ，３Ｇ，３Ｂの出力信号は、それぞれサンプルホール
ド回路４でサンプルホールドされ、Ａ／Ｄ変換器５でデ
ィジタル信号に変換された後に信号処理回路６に供給さ
れる。
プリズムである。プリズム２より出射される赤、緑、青
の色光ＬＲ，ＬＧ，ＬＢはそれぞれＣＣＤ固体撮像素子
３Ｒ，３Ｇ，３Ｂの撮像面に照射される。撮像素子３
Ｒ，３Ｇ，３Ｂの出力信号は、それぞれサンプルホール
ド回路４でサンプルホールドされ、Ａ／Ｄ変換器５でデ
ィジタル信号に変換された後に信号処理回路６に供給さ
れる。
【００１２】信号処理回路６では、従来周知のホワイト
バランスやガンマ補正等の信号処理が行なわれる。信号
処理回路６より出力される１フレーム分の赤、緑、青の
色信号Ｒ，Ｇ，Ｂは、それぞれフレームメモリ７Ｒ，７
Ｇ，７Ｂに供給されて書き込まれる。
バランスやガンマ補正等の信号処理が行なわれる。信号
処理回路６より出力される１フレーム分の赤、緑、青の
色信号Ｒ，Ｇ，Ｂは、それぞれフレームメモリ７Ｒ，７
Ｇ，７Ｂに供給されて書き込まれる。
【００１３】８はシステム全体を制御する制御回路であ
り、９は例えば製造時にずれ情報が書き込まれる書き込
み可能なＲＯＭである。ＲＯＭ９には、プリズム２に対
して撮像素子３Ｒ，３Ｇ，３Ｂが相対的に固定された後
に各撮像素子３Ｒ，３Ｇ，３Ｂのずれが測定される。例
えば、撮像素子３Ｇの位置を基準位置とし、この基準位
置に対する撮像素子３Ｒ，３Ｂの位置のずれが測定され
る。
り、９は例えば製造時にずれ情報が書き込まれる書き込
み可能なＲＯＭである。ＲＯＭ９には、プリズム２に対
して撮像素子３Ｒ，３Ｇ，３Ｂが相対的に固定された後
に各撮像素子３Ｒ，３Ｇ，３Ｂのずれが測定される。例
えば、撮像素子３Ｇの位置を基準位置とし、この基準位
置に対する撮像素子３Ｒ，３Ｂの位置のずれが測定され
る。
【００１４】すなわち、撮像素子３Ｇ上に設定される直
交座標を（ｘ，ｙ）、撮像素子３Ｒ，３Ｂ上に設定され
る直交座標を（ｕr，ｖr），（ｕb，ｖb）とすると、直
交座標（ｘ，ｙ）に対する直交座標（ｕr，ｖr），（ｕ
b，ｖb）の原点のずれ（Δｘr，Δｙr），（Δｘb，Δ
ｙb）および傾斜角θr，θbが測定される（図２Ａ，Ｂ
参照）。
交座標を（ｘ，ｙ）、撮像素子３Ｒ，３Ｂ上に設定され
る直交座標を（ｕr，ｖr），（ｕb，ｖb）とすると、直
交座標（ｘ，ｙ）に対する直交座標（ｕr，ｖr），（ｕ
b，ｖb）の原点のずれ（Δｘr，Δｙr），（Δｘb，Δ
ｙb）および傾斜角θr，θbが測定される（図２Ａ，Ｂ
参照）。
【００１５】このずれの測定は、上述したようにプリズ
ム２に対して撮像素子３Ｒ，３Ｇ，３Ｂが相対的に固定
された後に、図示しない測定装置（解析手段）でもって
測定される。なお、特開昭６１−２８８６８４号公報に
示されている画素ピッチと特定の関係にある繰り返しピ
ッチの濃淡パターンを水平および垂直方向に設けたテス
トチャート等を撮像し、その撮像信号を制御回路８を構
成するマイコンあるいは外部の解析手段等で処理してず
れ量を演算してＲＯＭ９にずれ情報を書き込むようにし
てもよい。この場合、書き込み可能なＲＯＭ９の代わり
にＲＡＭを使用することもできる。
ム２に対して撮像素子３Ｒ，３Ｇ，３Ｂが相対的に固定
された後に、図示しない測定装置（解析手段）でもって
測定される。なお、特開昭６１−２８８６８４号公報に
示されている画素ピッチと特定の関係にある繰り返しピ
ッチの濃淡パターンを水平および垂直方向に設けたテス
トチャート等を撮像し、その撮像信号を制御回路８を構
成するマイコンあるいは外部の解析手段等で処理してず
れ量を演算してＲＯＭ９にずれ情報を書き込むようにし
てもよい。この場合、書き込み可能なＲＯＭ９の代わり
にＲＡＭを使用することもできる。
【００１６】ここで、直交座標（ｕr，ｖr），（ｕb，
ｖb）を直交座標（ｘ，ｙ）に変換する座標変換式は、
それぞれ数２、数３で表わされる。
ｖb）を直交座標（ｘ，ｙ）に変換する座標変換式は、
それぞれ数２、数３で表わされる。
【００１７】
【数２】
【００１８】
【数３】
【００１９】数２、数３は、同一画像位置からの像光を
受光する撮像素子３Ｇと撮像素子３Ｒ，３Ｂの位置関係
を示している。ここで、撮像素子３Ｒ，３Ｇ，３Ｂのそ
れぞれの例えば左上の画素のアドレスを（０，０）とす
ると共に、直交座標（ｘ，ｙ），（ｕr，ｖr）、（ｕ
b，ｖb）の原点をその左上の位置に設定する。これによ
り、撮像素子３Ｒ，３Ｇ，３Ｂの水平方向の画素ピッチ
をＰH、垂直方向の画素ピッチをＰVとすると、撮像素子
３Ｇの画素アドレス（ｉ，ｊ）と座標（ｘ，Ｙ）との関
係、撮像素子３Ｒの画素アドレス（ｋr，ｍr）と座標
（ｕr，ｖr）との関係、撮像素子３Ｂの画素アドレス
（ｋb，ｍb）と座標（ｕb，ｖb）との関係は、数４〜数
６で表わされる。
受光する撮像素子３Ｇと撮像素子３Ｒ，３Ｂの位置関係
を示している。ここで、撮像素子３Ｒ，３Ｇ，３Ｂのそ
れぞれの例えば左上の画素のアドレスを（０，０）とす
ると共に、直交座標（ｘ，ｙ），（ｕr，ｖr）、（ｕ
b，ｖb）の原点をその左上の位置に設定する。これによ
り、撮像素子３Ｒ，３Ｇ，３Ｂの水平方向の画素ピッチ
をＰH、垂直方向の画素ピッチをＰVとすると、撮像素子
３Ｇの画素アドレス（ｉ，ｊ）と座標（ｘ，Ｙ）との関
係、撮像素子３Ｒの画素アドレス（ｋr，ｍr）と座標
（ｕr，ｖr）との関係、撮像素子３Ｂの画素アドレス
（ｋb，ｍb）と座標（ｕb，ｖb）との関係は、数４〜数
６で表わされる。
【００２０】
【数４】
【００２１】
【数５】
【００２２】
【数６】
【００２３】１０はフレームメモリ７Ｒ，７Ｇ，７Ｂよ
り必要な画素データを読み出すメモリ制御部である。
り必要な画素データを読み出すメモリ制御部である。
【００２４】まず、メモリ制御部１０による制御でフレ
ームメモリ７Ｇより各画素アドレス（ｉ，ｊ）の画素デ
ータが順次読み出され、演算部１１、バッファメモリ１
３およびメモリカードインタフェース１４を介してメモ
リカード１５に供給され、メモリカード１５の画素アド
レス（ｉ，ｊ）に対応したアドレスに緑色信号Ｇの画素
データとして書き込まれる。
ームメモリ７Ｇより各画素アドレス（ｉ，ｊ）の画素デ
ータが順次読み出され、演算部１１、バッファメモリ１
３およびメモリカードインタフェース１４を介してメモ
リカード１５に供給され、メモリカード１５の画素アド
レス（ｉ，ｊ）に対応したアドレスに緑色信号Ｇの画素
データとして書き込まれる。
【００２５】次に、制御回路８で撮像素子３Ｇの画素ア
ドレス（ｉ，ｊ）に対応した撮像素子３Ｒの画素アドレ
ス（ｋr，ｍr）を、数２、数４および数５を使用して順
次演算する。
ドレス（ｉ，ｊ）に対応した撮像素子３Ｒの画素アドレ
ス（ｋr，ｍr）を、数２、数４および数５を使用して順
次演算する。
【００２６】ｋr，ｍrが整数であるときは、フレームメ
モリ７Ｒより画素アドレス（ｋr，ｍr）の画素データが
読み出され、演算部１１、バッファメモリ１３およびイ
ンタフェース１４を介してメモリカード１５に供給さ
れ、メモリカード１５の画素アドレス（ｉ，ｊ）に対応
したアドレスに赤色信号の画素データとして書き込まれ
る。
モリ７Ｒより画素アドレス（ｋr，ｍr）の画素データが
読み出され、演算部１１、バッファメモリ１３およびイ
ンタフェース１４を介してメモリカード１５に供給さ
れ、メモリカード１５の画素アドレス（ｉ，ｊ）に対応
したアドレスに赤色信号の画素データとして書き込まれ
る。
【００２７】一方、ｋr，ｍrが整数でないときは、図３
に示すように画素アドレス（ｋr，ｍr）の周囲の１６個
の画素アドレスＰ11〜Ｐ44の画素データより３次畳み込
み内挿法でもって画素アドレス（ｋr，ｍr）に対応する
内挿データが形成される。数７は３次畳み込み関数を示
しており、Ｄは内挿データ、Ｄ11〜Ｄ44は画素アドレス
Ｐ11〜Ｐ44の画素データ、ｆ（ｙ1）〜ｆ（ｙ4）および
ｆ（ｘ1）〜ｆ（ｘ4）は係数である。
に示すように画素アドレス（ｋr，ｍr）の周囲の１６個
の画素アドレスＰ11〜Ｐ44の画素データより３次畳み込
み内挿法でもって画素アドレス（ｋr，ｍr）に対応する
内挿データが形成される。数７は３次畳み込み関数を示
しており、Ｄは内挿データ、Ｄ11〜Ｄ44は画素アドレス
Ｐ11〜Ｐ44の画素データ、ｆ（ｙ1）〜ｆ（ｙ4）および
ｆ（ｘ1）〜ｆ（ｘ4）は係数である。
【００２８】
【数７】
【００２９】係数ｆ（ｙ1）〜ｆ（ｙ4）およびｆ（ｘ
1）〜ｆ（ｘ4）は数８で示されるが、この係数は制御回
路８内のマイクロコンピュータで計算された後、ＲＡＭ
１２に保持される。なお、数８において、［］の記号は
ガウス記号であり、周知のように小数点以下の切り捨て
を意味している。
1）〜ｆ（ｘ4）は数８で示されるが、この係数は制御回
路８内のマイクロコンピュータで計算された後、ＲＡＭ
１２に保持される。なお、数８において、［］の記号は
ガウス記号であり、周知のように小数点以下の切り捨て
を意味している。
【００３０】
【数８】
【００３１】そして、メモリ制御部１０の制御によって
フレームメモリ７Ｒより画素データＤ11〜Ｄ44が読み出
されると共に、ＲＡＭ１２より係数ｆ（ｙ1）〜ｆ（ｙ
4）、ｆ（ｘ1）〜ｆ（ｘ4）が読み出されて、演算部１
１では数７の積和演算が行なわれて画素アドレス（ｋ
r，ｍr）に対応する内挿データＤが演算される。
フレームメモリ７Ｒより画素データＤ11〜Ｄ44が読み出
されると共に、ＲＡＭ１２より係数ｆ（ｙ1）〜ｆ（ｙ
4）、ｆ（ｘ1）〜ｆ（ｘ4）が読み出されて、演算部１
１では数７の積和演算が行なわれて画素アドレス（ｋ
r，ｍr）に対応する内挿データＤが演算される。
【００３２】そして、内挿データＤは、バッファメモリ
１３およびインタフェース１４を介してメモリカード１
５に供給され、メモリカード１５の画素アドレス（ｉ，
ｊ）に対応したアドレスに赤色信号の画素データとして
書き込まれる。
１３およびインタフェース１４を介してメモリカード１
５に供給され、メモリカード１５の画素アドレス（ｉ，
ｊ）に対応したアドレスに赤色信号の画素データとして
書き込まれる。
【００３３】これにより、撮像素子３Ｇに対して撮像素
子３Ｒに位置ずれがあっても、メモリカード１５の画素
アドレス（ｉ，ｊ）に対応するアドレスにそれぞれ書き
込まれる緑色信号および赤色信号の画素データは同一画
像位置に係るものとなり、位置ずれが補正されることに
なる。
子３Ｒに位置ずれがあっても、メモリカード１５の画素
アドレス（ｉ，ｊ）に対応するアドレスにそれぞれ書き
込まれる緑色信号および赤色信号の画素データは同一画
像位置に係るものとなり、位置ずれが補正されることに
なる。
【００３４】次に、制御回路８で撮像素子３Ｇの画素ア
ドレス（ｉ，ｊ）に対応した撮像素子３Ｂの画素アドレ
ス（ｋb，ｍb）を、数２、数４および数６を使用して順
次演算する。
ドレス（ｉ，ｊ）に対応した撮像素子３Ｂの画素アドレ
ス（ｋb，ｍb）を、数２、数４および数６を使用して順
次演算する。
【００３５】ｋb，ｍbが整数であるときは、フレームメ
モリ７Ｂより画素アドレス（ｋb，ｍb）の画素データが
読み出され、演算部１１、バッファメモリ１３およびイ
ンタフェース１４を介してメモリカード１５に供給さ
れ、メモリカード１５の画素アドレス（ｉ，ｊ）に対応
したアドレスに青色信号の画素データとして書き込まれ
る。
モリ７Ｂより画素アドレス（ｋb，ｍb）の画素データが
読み出され、演算部１１、バッファメモリ１３およびイ
ンタフェース１４を介してメモリカード１５に供給さ
れ、メモリカード１５の画素アドレス（ｉ，ｊ）に対応
したアドレスに青色信号の画素データとして書き込まれ
る。
【００３６】一方、ｋr，ｍrが整数でないときは、上述
した赤色信号の場合と同様に内挿データＤが演算され、
この内挿データＤがバッファメモリ１３およびインタフ
ェース１４を介してメモリカード１５に供給され、メモ
リカード１５の画素アドレス（ｉ，ｊ）に対応したアド
レスに青色信号の画素データとして書き込まれる。
した赤色信号の場合と同様に内挿データＤが演算され、
この内挿データＤがバッファメモリ１３およびインタフ
ェース１４を介してメモリカード１５に供給され、メモ
リカード１５の画素アドレス（ｉ，ｊ）に対応したアド
レスに青色信号の画素データとして書き込まれる。
【００３７】これにより、撮像素子３Ｇに対して撮像素
子３Ｂに位置ずれがあっても、メモリカード１５の画素
アドレス（ｉ，ｊ）に対応するアドレスにそれぞれ書き
込まれる緑色信号および青色信号の画素データは同一画
像位置に係るものとなり、位置ずれが補正されることに
なる。
子３Ｂに位置ずれがあっても、メモリカード１５の画素
アドレス（ｉ，ｊ）に対応するアドレスにそれぞれ書き
込まれる緑色信号および青色信号の画素データは同一画
像位置に係るものとなり、位置ずれが補正されることに
なる。
【００３８】このように本例においては、撮像素子３Ｇ
に対する撮像素子３Ｒ，３Ｇの位置ずれが演算による信
号処理でもって補正されるため、撮像素子３Ｒ，３Ｇ，
３Ｂの空間的な位置合わせを高精度にする必要がなく、
製造時間を短縮すできると共に、高度の製造装置も必要
でなくなる。
に対する撮像素子３Ｒ，３Ｇの位置ずれが演算による信
号処理でもって補正されるため、撮像素子３Ｒ，３Ｇ，
３Ｂの空間的な位置合わせを高精度にする必要がなく、
製造時間を短縮すできると共に、高度の製造装置も必要
でなくなる。
【００３９】また、温度等の環境条件の変化によって撮
像素子３Ｒ，３Ｇ，３Ｂに位置ずれが発生しても、ＲＯ
Ｍ９に環境条件の変化後のずれ情報を書き込むのみで、
位置ずれを容易に補正でき、耐環境性を改善することが
できる。この場合、ＲＯＭ９に複数の環境条件における
ずれ情報を予め格納しておき、環境条件の変化に応じて
ずれ情報を切り換えて使用してもよい。また、ずれ情報
を例えば温度をパラメータとして数式で記憶させておく
こともできる。
像素子３Ｒ，３Ｇ，３Ｂに位置ずれが発生しても、ＲＯ
Ｍ９に環境条件の変化後のずれ情報を書き込むのみで、
位置ずれを容易に補正でき、耐環境性を改善することが
できる。この場合、ＲＯＭ９に複数の環境条件における
ずれ情報を予め格納しておき、環境条件の変化に応じて
ずれ情報を切り換えて使用してもよい。また、ずれ情報
を例えば温度をパラメータとして数式で記憶させておく
こともできる。
【００４０】また、撮像素子３Ｒ，３Ｇ，３Ｂの位置ず
れに経時的な変化が生じた場合にも、ＲＯＭ９に経時変
化後のずれ情報を書き込むことで、最適な補正ができ
る。
れに経時的な変化が生じた場合にも、ＲＯＭ９に経時変
化後のずれ情報を書き込むことで、最適な補正ができ
る。
【００４１】なお、上述実施例においては、内挿データ
Ｄの演算は専用の演算部１１で行なっているが、制御回
路８内のマイクロコンピュータでもって行なってもよ
い。
Ｄの演算は専用の演算部１１で行なっているが、制御回
路８内のマイクロコンピュータでもって行なってもよ
い。
【００４２】また、上述実施例においては、撮像素子３
Ｇを基準位置としたものであるが、基準位置を別個に想
定して、撮像素子３Ｒ，３Ｇ，３Ｂの全部を別個に想定
した基準位置に合わせるように補正することもできる。
Ｇを基準位置としたものであるが、基準位置を別個に想
定して、撮像素子３Ｒ，３Ｇ，３Ｂの全部を別個に想定
した基準位置に合わせるように補正することもできる。
【００４３】また、上述実施例においては、撮像素子３
Ｒ，３Ｇ，３Ｂを有するものを示したが、この発明は複
数の撮像素子を組み合わせて固定し、各撮像素子の出力
信号を合成して画像を生成する撮像装置において、撮像
素子の位置ずれを補正する場合に適用することができ
る。
Ｒ，３Ｇ，３Ｂを有するものを示したが、この発明は複
数の撮像素子を組み合わせて固定し、各撮像素子の出力
信号を合成して画像を生成する撮像装置において、撮像
素子の位置ずれを補正する場合に適用することができ
る。
【００４４】また、上述実施例においては、ｋr，ｍrや
ｋb，ｍbが整数でないとき、３次畳み込み内挿法でもっ
て画素アドレス（ｋr，ｍr）、（ｋb，ｍb）に対応した
内挿データＤを得るようにしたものであるが、画素アド
レス（ｋr，ｍr）、（ｋb，ｍb）に近い画素アドレスの
画素データを使用してもよい。
ｋb，ｍbが整数でないとき、３次畳み込み内挿法でもっ
て画素アドレス（ｋr，ｍr）、（ｋb，ｍb）に対応した
内挿データＤを得るようにしたものであるが、画素アド
レス（ｋr，ｍr）、（ｋb，ｍb）に近い画素アドレスの
画素データを使用してもよい。
【００４５】ところで、撮像素子の画素ピッチは縦と横
で等しくない場合が多いが、画像処理用の静止画データ
等では、このピッチが等しいものとして扱われることが
多い。このような処理系の静止画データとして異方性の
ある撮像素子でサンプリングされたデータを内挿し、縦
横のピッチを等しくした正方格子のデータに変換する必
要がある。この機能をビデオカメラに内蔵する場合、上
述実施例における位置ずれの補正演算と組み合わせて一
度に演算することができる。
で等しくない場合が多いが、画像処理用の静止画データ
等では、このピッチが等しいものとして扱われることが
多い。このような処理系の静止画データとして異方性の
ある撮像素子でサンプリングされたデータを内挿し、縦
横のピッチを等しくした正方格子のデータに変換する必
要がある。この機能をビデオカメラに内蔵する場合、上
述実施例における位置ずれの補正演算と組み合わせて一
度に演算することができる。
【００４６】いま、撮像素子の横ピッチが縦ピッチのｍ
倍であるとすると、これを正方格子化するということ
は、像を横方向にｍ倍に拡大することを意味する。具体
的には、数２、数３におけるｕr，ｕbをｍ×ｕr，ｍ×
ｕbで置き換えればよい。
倍であるとすると、これを正方格子化するということ
は、像を横方向にｍ倍に拡大することを意味する。具体
的には、数２、数３におけるｕr，ｕbをｍ×ｕr，ｍ×
ｕbで置き換えればよい。
【００４７】
【発明の効果】この発明によれば、複数の撮像素子の所
定位置に対するずれを演算による信号処理でもって補正
するため、複数の撮像素子の空間的な位置合わせを高精
度にする必要がなく、製造時間を短縮でき、また高度の
製造装置も必要でなく、ローコスト化を図ることができ
る。また、環境条件の変化あるいは経時変化によって複
数の撮像素子の空間的な位置ずれが発生しても容易に補
正できる等の効果がある。
定位置に対するずれを演算による信号処理でもって補正
するため、複数の撮像素子の空間的な位置合わせを高精
度にする必要がなく、製造時間を短縮でき、また高度の
製造装置も必要でなく、ローコスト化を図ることができ
る。また、環境条件の変化あるいは経時変化によって複
数の撮像素子の空間的な位置ずれが発生しても容易に補
正できる等の効果がある。
【図１】この発明に係る撮像装置の一実施例を示す構成
図である。
図である。
【図２】ずれ情報の説明のための図である。
【図３】３次畳み込み内挿法による内挿データを説明す
るための図である。
るための図である。
１ 撮像レンズ ２ 色分解プリズム ３Ｒ，３Ｇ，３Ｂ ＣＣＤ固体撮像素子 ４ サンプルホールド回路 ５ Ａ／Ｄ変換器 ６ 信号処理回路 ７Ｒ，７Ｇ，７Ｂ フレームメモリ ８ 制御回路 ９ 書き込み可能なＲＯＭ １０ メモリ制御部 １１ 演算部 １２ ＲＡＭ １３ バッファメモリ １４ メモリカードインタフェース １５ メモリカード
Claims (5)
- 【請求項１】 複数の撮像素子を使用して構成される撮
像装置において、 上記複数の撮像素子の基準位置に対するずれを演算によ
る信号処理によって補正することを特徴とする撮像装
置。 - 【請求項２】 上記基準位置上に設定される第１の直交
座標を（ｘ，ｙ）、上記撮像素子上に設定される第２の
直交座標を（ｕ，ｖ）、上記第２の直交座標の上記第１
の直交座標に対する原点のずれを（Δｘ，Δｙ）、上記
第２の直交座標の上記第１の直交座標に対する傾斜角を
θとするとき、上記演算による信号処理に、数１の関係
式を使用することを特徴とする請求項１記載の撮像装
置。 【数１】 - 【請求項３】 上記複数の撮像素子の上記基準位置に対
するずれを検出するずれ検出手段を有することを特徴と
する請求項１記載の撮像装置。 - 【請求項４】 上記複数の撮像素子の上記基準位置に対
するずれの情報を記憶する記憶手段を有することを特徴
とする請求項１記載の撮像装置。 - 【請求項５】 上記複数の撮像素子の上記基準位置に対
するずれは、上記撮像素子上に設定される上記第２の直
交座標の上記基準位置上に設定される第１の直交座標に
対する原点のずれと、上記第２の直交座標の上記第１の
直交座標に対する傾斜角よりなることを特徴とする請求
項３または４記載の撮像装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50A JPH06225187A (ja) | 1993-01-25 | 1993-01-25 | 撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50A JPH06225187A (ja) | 1993-01-25 | 1993-01-25 | 撮像装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06225187A true JPH06225187A (ja) | 1994-08-12 |
Family
ID=11738723
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP50A Pending JPH06225187A (ja) | 1993-01-25 | 1993-01-25 | 撮像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06225187A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4883502A (en) * | 1987-10-09 | 1989-11-28 | Showa Denko Kabushiki Kaisha | Abrasive composition and process for polishing |
| GB2247892A (en) * | 1990-08-08 | 1992-03-18 | Uyemura & Co Limited C | Abrasive composition for scratch-free finish buffing |
| US7262799B2 (en) | 2000-10-25 | 2007-08-28 | Canon Kabushiki Kaisha | Image sensing apparatus and its control method, control program, and storage medium |
| CN102627917A (zh) * | 2012-03-23 | 2012-08-08 | 江苏中晶科技有限公司 | 玻璃以及含硅化合物抛光加速剂及其生产方法、应用 |
-
1993
- 1993-01-25 JP JP50A patent/JPH06225187A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4883502A (en) * | 1987-10-09 | 1989-11-28 | Showa Denko Kabushiki Kaisha | Abrasive composition and process for polishing |
| GB2247892A (en) * | 1990-08-08 | 1992-03-18 | Uyemura & Co Limited C | Abrasive composition for scratch-free finish buffing |
| GB2247892B (en) * | 1990-08-08 | 1994-08-17 | Uyemura & Co Limited C | Scratch-free finish buffing |
| US7262799B2 (en) | 2000-10-25 | 2007-08-28 | Canon Kabushiki Kaisha | Image sensing apparatus and its control method, control program, and storage medium |
| US7847843B2 (en) | 2000-10-25 | 2010-12-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Image sensing apparatus and its control method, control program, and storage medium for correcting position deviation of images |
| CN102627917A (zh) * | 2012-03-23 | 2012-08-08 | 江苏中晶科技有限公司 | 玻璃以及含硅化合物抛光加速剂及其生产方法、应用 |
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