JPH0623010Y2 - Laser light source - Google Patents

Laser light source

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JPH0623010Y2
JPH0623010Y2 JP9614488U JP9614488U JPH0623010Y2 JP H0623010 Y2 JPH0623010 Y2 JP H0623010Y2 JP 9614488 U JP9614488 U JP 9614488U JP 9614488 U JP9614488 U JP 9614488U JP H0623010 Y2 JPH0623010 Y2 JP H0623010Y2
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laser diode
radiator
light source
laser light
laser
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朋信 松田
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Rion Co Ltd
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【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案はレーザ光源に関し、例えば微粒子計、微少変位
測定装置等のレーザ光源に適用して好適なものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial field of application] The present invention relates to a laser light source, and is preferably applied to a laser light source such as a fine particle meter and a minute displacement measuring device.

〔考案の概要〕[Outline of device]

本考案は、レーザ光源において、放熱器をレーザ光源支
持部材と別体に支持して、柔軟部材で熱伝導路を形成す
ることにより、光ビームの光軸のずれを未然に防止し
て、簡易な調整作業で光ビームの光軸を調整することが
できる。
The present invention, in a laser light source, supports a radiator separately from a laser light source support member, and forms a heat conduction path with a flexible member, thereby preventing deviation of the optical axis of the light beam in advance. The optical axis of the light beam can be adjusted by various adjustment operations.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、集積回路の製造工場、病院等のクリーンルームに
おいては、高いクリーン度を維持するために、微粒子計
を用いて空気中に浮遊する微粒子を計測するようになさ
れている。
Conventionally, in clean rooms such as integrated circuit manufacturing plants and hospitals, in order to maintain high cleanliness, fine particles suspended in the air are measured by using a fine particle meter.

すなわち第2図に示すように、微粒子計1においては、
例えばクリーンルームから採取した空気2で、所定の流
速で流れる層流を形成する。
That is, as shown in FIG.
For example, the air 2 collected from a clean room forms a laminar flow that flows at a predetermined flow rate.

さらに、レーザダイオード等を用いてレーザ光源3を構
成し、当該レーザ光源3から射出された光ビームLA1
をレンズ3を介して当該層流に照射する。
Further, the laser light source 3 is configured by using a laser diode or the like, and the light beam LA1 emitted from the laser light source 3 is formed.
Is radiated to the laminar flow through the lens 3.

このようにすれば、空気2に含まれる微粒子で光ビーム
LA1が散乱され、その結果得られる散乱光の光量が微
粒子の粒径、個数、微粒子の濃度に比例して変化する。
In this way, the light beam LA1 is scattered by the fine particles contained in the air 2, and the light amount of the resulting scattered light changes in proportion to the particle diameter, the number of the fine particles, and the concentration of the fine particles.

同様に、層流を透過する光ビームLA1においては、空
気2に含まれる微粒子で遮光され、その透過光量が微粒
子の粒径、個数、微粒子の濃度に比例して変化する。
Similarly, in the light beam LA1 transmitted through the laminar flow, the light beam LA1 is shielded by the fine particles contained in the air 2, and the amount of transmitted light changes in proportion to the particle diameter, the number of the fine particles, and the concentration of the fine particles.

従つて、光散乱現象を利用した微粒子計においては、レ
ンズ5を介して散乱光LA2を受光素子6に集光し、当
該散乱光の光量を検出することにより、空気2に含まれ
る微粒子を測定し得るようになされている。
Therefore, in the fine particle meter utilizing the light scattering phenomenon, the fine particles contained in the air 2 are measured by collecting the scattered light LA2 on the light receiving element 6 through the lens 5 and detecting the amount of the scattered light. It is designed to be able to do.

これに対して、光遮断方式の微粒子計においては、光ビ
ームLA1の透過光量を検出することにより、空気2に
含まれる微粒子を測定し得るようになされている。
On the other hand, in the light interception type fine particle meter, the fine particles contained in the air 2 can be measured by detecting the amount of transmitted light of the light beam LA1.

〔考案が解決しようとする問題点〕[Problems to be solved by the invention]

ところで、この種の微粒子計において、レーザダイオー
ドから照射される光ビームLA1の光量及び波長が変動
すると、透過光量及び散乱光量が変動し、測定精度が劣
化する。
By the way, in this type of fine particle meter, when the light quantity and the wavelength of the light beam LA1 emitted from the laser diode are changed, the transmitted light quantity and the scattered light quantity are changed, and the measurement accuracy is deteriorated.

このため例えば第3図に示すように、加熱冷却素子例え
ばペルチエ素子を用いてレーザダイオードの温度を所定
の基準温度に保持し、これにより光量及び波長の安定し
た光ビームを得る方法が考えられている。
Therefore, as shown in FIG. 3, for example, a method of using a heating / cooling element such as a Peltier element to hold the temperature of the laser diode at a predetermined reference temperature and thereby obtaining a light beam with a stable light quantity and wavelength has been considered. There is.

すなわちレーザ光源10においては、円環形状で熱伝導
率の高い金属で形成されたレーザダイオード取付け板1
2の中央部に、レーザダイオード11を取り付ける。
That is, in the laser light source 10, the laser diode mounting plate 1 made of a ring-shaped metal having a high thermal conductivity is used.
A laser diode 11 is attached to the center of the laser diode 2.

レーザダイオード取付け板12においては、レーザダイ
オード11に近接した凹部12Aに、サーミスタ13を
固定することにより、当該サーミスタ13の温度をレー
ザダイオード11の温度と等しい温度に保持し、これに
よりサーミスタ13を用いてレーザダイオード11の温
度を検出する。
In the laser diode mounting plate 12, by fixing the thermistor 13 in the recess 12A close to the laser diode 11, the temperature of the thermistor 13 is maintained at the same temperature as the temperature of the laser diode 11, and thus the thermistor 13 is used. Then, the temperature of the laser diode 11 is detected.

レーザダイオード取付け板12は、円筒形状でなるホル
ダ15の端面に、ねじ16を介して固定され、微粒子計
本体(図示せず)の円柱形状凹部に当該ホルダ15を差
し込んだ後、ねじ留めして取り付けることにより、当該
ホルダ15を介してレーザ光源10を微粒子計本体に固
定する。
The laser diode mounting plate 12 is fixed to the end surface of the holder 15 having a cylindrical shape with a screw 16, and after inserting the holder 15 into a cylindrical concave portion of the fine particle meter body (not shown), it is screwed. By mounting, the laser light source 10 is fixed to the main body of the fine particle meter via the holder 15.

これに対してレーザダイオード11の背面に、ペルチエ
素子19及び放熱器20を設け、サーミスタ13から得
られるレーザダイオード11の温度検出結果に基づい
て、レーザダイオード11を加熱又は冷却する。
On the other hand, a Peltier element 19 and a radiator 20 are provided on the back surface of the laser diode 11, and the laser diode 11 is heated or cooled based on the temperature detection result of the laser diode 11 obtained from the thermistor 13.

すなわちレーザ光源10においては、放熱器20及びレ
ーザダイオード11との間にペルチエ素子19を挟んだ
状態で、ホルダ15に押し付けるようにねじ21で放熱
器20を固定し、これによりレーザダイオード11、ペ
ルチエ素子19及び放熱器20を密着させてレーザダイ
オード11を効率良く加熱及び冷却する。
That is, in the laser light source 10, with the Peltier element 19 sandwiched between the radiator 20 and the laser diode 11, the radiator 20 is fixed by the screw 21 so as to be pressed against the holder 15, whereby the laser diode 11 and the Peltier device are secured. The element 19 and the radiator 20 are brought into close contact with each other to efficiently heat and cool the laser diode 11.

さらに、熱伝導率の小さい例えば樹脂製でなる熱絶縁座
金22を、ねじ21及び放熱器20間に分挿し、これに
より放熱器20をねじ21から熱的に絶縁して、放熱器
20の熱がねじ21を介して微粒子計本体又はレーザダ
イオード11に伝導しないように、またこれとは逆に微
粒子計本体又はレーザダイオード11の熱が放熱器20
に伝導しないようにする。
Furthermore, a heat insulating washer 22 made of, for example, a resin having a low heat conductivity is inserted between the screw 21 and the radiator 20 to thermally insulate the radiator 20 from the screw 21 and heat the radiator 20. Does not conduct to the particle meter main body or the laser diode 11 via the screw 21, and conversely, the heat of the particle meter main body or the laser diode 11 is dissipated by the radiator 20.
Do not conduct to.

さらに、レーザダイオードの温度が基準温度以上に上昇
すると、レーザダイオード11の熱をペルチエ素子19
で吸収し、その吸収した熱を放熱器20から周囲に放散
する。
Furthermore, when the temperature of the laser diode rises above the reference temperature, the heat of the laser diode 11 is removed by the Peltier element 19
And the absorbed heat is dissipated from the radiator 20 to the surroundings.

逆に、レーザダイオードの温度が基準温度以下のとき、
ペルチエ素子19でレーザダイオード11を加熱し、そ
の加熱に要する熱を放熱器20を介して周囲から吸収す
る。
Conversely, when the temperature of the laser diode is below the reference temperature,
The Peltier element 19 heats the laser diode 11, and the heat required for the heating is absorbed from the surroundings via the radiator 20.

これにより、レーザダイオード11の温度を所定の基準
温度に保持し、レーザダイオード11の温度変動による
光ビームLA1の光量及び波長の変動を防止する。
As a result, the temperature of the laser diode 11 is maintained at a predetermined reference temperature, and fluctuations in the light quantity and wavelength of the light beam LA1 due to temperature fluctuations in the laser diode 11 are prevented.

ところが、このような保持機構を用いて微粒子計本体に
レーザダイオード11を固定すると、レーザダイオード
11の取り付け位置及びその傾きの調整作業が煩雑にな
る問題がある。
However, if the laser diode 11 is fixed to the main body of the particle meter by using such a holding mechanism, there is a problem that the work of adjusting the mounting position of the laser diode 11 and its inclination becomes complicated.

すなわち、この種の微粒子計においては、レーザダイオ
ード11から照射される光ビームが所定の照射位置に照
射されるように、光ビームの光軸を調整するようになさ
れ、この場合放熱器20側からねじ16を緩めて、ホル
ダ15に対するレーザダイオード取付け板12の取り付
け位置及びその傾きを調整する。
That is, in this type of fine particle meter, the optical axis of the light beam is adjusted so that the light beam emitted from the laser diode 11 is emitted to a predetermined irradiation position. Loosen the screw 16 to adjust the mounting position of the laser diode mounting plate 12 with respect to the holder 15 and its inclination.

ところが放熱器20は、レーザダイオード11を効率良
く加熱及び冷却し得るように、熱伝導の高い金属製で構
成された大型形状の重量物でなることから、実際上光軸
を調整する際には、放熱器20を取り外さなければなら
ず、その分、光軸の調整作業が煩雑になる。
However, since the radiator 20 is a large-sized heavy object made of metal having high thermal conductivity so that the laser diode 11 can be efficiently heated and cooled, when actually adjusting the optical axis. Since the radiator 20 must be removed, the work of adjusting the optical axis becomes complicated accordingly.

さらに重量の大きな放熱器20の荷重を、直接ホルダ1
5で支持することから、微粒子計に衝撃が加わつた場合
等、放熱器20が振動し、当該振動がレーザダイオード
11に伝搬されることにより、光ビームの光軸がずれて
しまう問題がある。
The load of the heavier radiator 20 can be directly applied to the holder 1
Since it is supported by No. 5, there is a problem that the radiator 20 vibrates and the vibration is propagated to the laser diode 11 such that the optical axis of the light beam is deviated when a shock is applied to the fine particle meter.

本考案は以上の点を考慮してなされたもので、光ビーム
の光軸のずれを未然に防止して、簡易な調整作業で光ビ
ームの光軸を調整し得るレーザ光源を提案しようとする
ものである。
The present invention has been made in consideration of the above points, and intends to propose a laser light source capable of adjusting the optical axis of the light beam by a simple adjustment work by preventing the deviation of the optical axis of the light beam. It is a thing.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

かかる問題点を解決するため本考案においては、電子機
器本体に支持されたレーザ光源支持部材31と、レーザ
光源支持部材31に支持されたレーザダイオード取付け
部材12と、レーザダイオード取付け部材12に取り付
けされたレーザダイオード11と、レーザダイオード1
1を加熱又は冷却する加熱冷却素子19と、電子機器本
体にレーザ光源支持部材31と別体に支持された放熱器
44と、放熱器44及び加熱冷却素子19間に、熱伝導
路を形成する柔軟部材36とを備えるようにする。
In order to solve such a problem, in the present invention, a laser light source support member 31 supported by an electronic device body, a laser diode mounting member 12 supported by the laser light source support member 31, and a laser diode mounting member 12 are mounted. Laser diode 11 and laser diode 1
A heating / cooling element 19 for heating or cooling 1; a radiator 44 supported separately from the laser light source supporting member 31 in the electronic device body; and a heat conduction path between the radiator 44 and the heating / cooling element 19. And a flexible member 36.

〔作用〕[Action]

放熱器44をレーザ光源支持部材31と別体に支持し
て、当該放熱器44及び加熱冷却素子19間に柔軟部材
36を用いて熱伝導路を形成すれば、当該放熱器44が
振動してもレーザダイオード11の振動を未然に防止し
て、レーザダイオード11を加熱又は冷却することがで
きる。
If the radiator 44 is supported separately from the laser light source support member 31 and the heat conduction path is formed between the radiator 44 and the heating / cooling element 19 by using the flexible member 36, the radiator 44 vibrates. Also, the laser diode 11 can be heated or cooled by preventing vibration of the laser diode 11 in advance.

さらに放熱器44をレーザ光源支持部材31と別体に支
持したことから、簡易な調整作業で光ビームの光軸を調
整することができる。
Further, since the radiator 44 is supported separately from the laser light source support member 31, the optical axis of the light beam can be adjusted by a simple adjustment work.

〔実施例〕〔Example〕

以下図面について、本考案の一実施例を詳述する。 An embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

第3図との対応部分に同一符号を附して示す第1図にお
いて、30は全体として微粒子計のレーザ光源を示し、
レーザダイオード取付け板12が、円筒形状のホルダ3
1の端面にねじ32で固定されるようになされている。
In FIG. 1 in which parts corresponding to those in FIG. 3 are designated by the same reference numerals, numeral 30 indicates a laser light source of a fine particle meter as a whole,
The laser diode mounting plate 12 is a cylindrical holder 3
It is adapted to be fixed to the end face of 1 with a screw 32.

ホルダ31は、微粒子計本体(図示せず)の円柱形状の
凹部に差し込んだ後、ねじ留めして取り付けることによ
り、当該ホルダ31を介してレーザ光源30を微粒子計
本体に固定する。
The holder 31 is fixed to the main body of the particle meter through the holder 31 by inserting the holder 31 into the cylindrical concave portion of the main body of the particle meter (not shown) and then screwing the holder.

さらにホルダ31は、熱伝導率の小さい例えば樹脂製で
なり、これによりレーザダイオード11の熱が当該ホル
ダ31を介して微粒子計本体に伝導しないように、また
これとは逆に微粒子計本体の熱がレーザダイオード11
に伝導しないようになされている。
Further, the holder 31 is made of, for example, a resin having a low thermal conductivity, so that the heat of the laser diode 11 is not conducted to the main body of the fine particle meter through the holder 31, and vice versa. Laser diode 11
It is designed so that it does not conduct to.

ちなみにレーザダイオード取付け板12は、ねじ32の
直径に対してそのねじ孔12Bの直径が所定量だけ大き
くなるようになされ、これによりホルダ31に対するレ
ーザダイオード取付け板12の取付位置及び傾きを微調
整して、光軸を調整し得るようになされている。
The diameter of the screw hole 12B of the laser diode mounting plate 12 is made larger than the diameter of the screw 32 by a predetermined amount, whereby the mounting position and inclination of the laser diode mounting plate 12 with respect to the holder 31 are finely adjusted. Then, the optical axis can be adjusted.

かくしてホルダ31は、電子機器本体でなる微粒子計本
体に支持されたレーザ光源支持部材を構成する。
Thus, the holder 31 constitutes a laser light source support member supported by the fine particle meter main body which is the electronic equipment main body.

これに対して、レーザダイオード取付け板12の背面に
は、従来の放熱器20(第3図)に代えて銅板33、押
え板34及びシリコンシート35が、レーザダイオード
11に押し付けられるように配置されている。
On the other hand, on the back surface of the laser diode mounting plate 12, a copper plate 33, a holding plate 34, and a silicon sheet 35 are arranged so as to be pressed against the laser diode 11 in place of the conventional radiator 20 (FIG. 3). ing.

すなわち銅板33は、細い銅線を編んで形成された平編
銅線36を一端に半田付けすると共に、他端にペルチエ
素子19を半田付けするようになされ、ペルチエ素子1
9がレーザダイオード11に密着するように配置されて
いる。
That is, the copper plate 33 is configured such that the flat knitted copper wire 36 formed by knitting a thin copper wire is soldered to one end and the Peltier element 19 is soldered to the other end.
9 is disposed so as to be in close contact with the laser diode 11.

ちなみに、このようにして形成された平編銅線36は可
撓性に優れ、折り曲げ自由な特徴を有すると共に、一端
に加えられた外力を他端に伝達しないような弾性力の小
さな部材でなる。
By the way, the flat knitted copper wire 36 formed in this manner is excellent in flexibility, has a characteristic of being freely bendable, and is a member having a small elastic force so as not to transmit the external force applied to one end to the other end. .

ホルダ31にはねじ38が植立するようになされ、当該
ねじ38にナツト40をねじ込むことにより、押え板3
4を介してシリコンシート35及び銅板33をレーザダ
イオード11に押し付けるようになされている。
A screw 38 is planted in the holder 31, and a nut 40 is screwed into the screw 38 to hold the holding plate 3 in place.
The silicon sheet 35 and the copper plate 33 are pressed against the laser diode 11 through the intermediary of 4.

かくして、ペルチエ素子19をレーザダイオード11に
密着させることにより、レーザダイオード11を効率良
く加熱及び冷却し得る。
Thus, the laser diode 11 can be efficiently heated and cooled by bringing the Peltier element 19 into close contact with the laser diode 11.

平編銅線36の他端は、銅板41が半田付けされ、当該
銅板41がねじ42で放熱器44に固定されるようにな
されている。
A copper plate 41 is soldered to the other end of the flat braided copper wire 36, and the copper plate 41 is fixed to a radiator 44 with a screw 42.

放熱器44は、電子機器本体でなる微粒子計本体にホル
ダ31と別体に支持されている。
The radiator 44 is supported separately from the holder 31 in the main body of the fine particle meter, which is the main body of the electronic device.

従つて、ペルチエ素子19でレーザダイオード11を冷
却する際には、レーザダイオード11から吸収された熱
が、ペルチエ素子19の放熱側から銅板33、平編銅線
36、銅板41を順次伝導して、放熱器44で周囲に放
散される。
Therefore, when the laser diode 11 is cooled by the Peltier element 19, the heat absorbed from the laser diode 11 is sequentially conducted from the heat radiation side of the Peltier element 19 through the copper plate 33, the flat knitted copper wire 36, and the copper plate 41. Is dissipated to the surroundings by the radiator 44.

これとは逆にレーザダイオード11を加熱する際には、
加熱に要する熱が放熱器44で周囲から吸収され、その
熱が銅板41、平編銅線36、銅板33を順次伝導して
ペルチエ素子19の冷却側に伝導される。
On the contrary, when heating the laser diode 11,
The heat required for heating is absorbed by the radiator 44 from the surroundings, and the heat is sequentially conducted through the copper plate 41, the flat braided copper wire 36, and the copper plate 33 to the cooling side of the Peltier element 19.

かくして平編銅線36は、放熱器44及びペルチエ素子
19間に熱伝導路を形成する柔軟部材を構成する。
Thus, the flat braided copper wire 36 constitutes a flexible member that forms a heat conduction path between the radiator 44 and the Peltier element 19.

従つて、従来の放熱器20に代えてレーザダイオード取
付け板12の背面に配置された銅板33及び押え板34
においては、加熱及び冷却に要する熱を伝導するだけで
レーザダイオード11を所定温度に保持し得、その分銅
板33及び押え板34を小型形状にして、レーザダイオ
ード取付け板12の背面にレーザダイオード取付け板1
2の取付位置及び傾きの調整用空間を得ることができ
る。
Therefore, instead of the conventional radiator 20, the copper plate 33 and the holding plate 34 arranged on the back surface of the laser diode mounting plate 12 are replaced.
In the above, the laser diode 11 can be kept at a predetermined temperature only by conducting the heat required for heating and cooling, and the weight plate 33 and the holding plate 34 are made into a small shape, and the laser diode mounting plate 12 is mounted on the rear surface thereof with the laser diode mounting plate. Board 1
It is possible to obtain a space for adjusting the mounting position and the inclination of No. 2.

かくしてこの実施例においては、銅板33及び押え板3
4を小型形状にすると共に、放熱器44をレーザダイオ
ード取付け板12の背面位置から所定量だけずらして微
粒子計本体に固定することにより、当該銅板33、押え
板34及び放熱器44を取り付けたままでもねじ32を
緩めて、レーザダイオード取付け板12の取付位置及び
傾きを微調整し得るようになされている。
Thus, in this embodiment, the copper plate 33 and the holding plate 3 are
4 is made small, and the radiator 44 is fixed to the main body of the fine particle meter by shifting the radiator 44 from the rear position of the laser diode mounting plate 12 so that the copper plate 33, the holding plate 34, and the radiator 44 remain attached. However, the screw 32 can be loosened to finely adjust the mounting position and inclination of the laser diode mounting plate 12.

かくして調整の際、放熱器44を取り外す必要がないの
で、その分従来に比して光軸の調整作業を簡略化するこ
とができる。
Thus, since it is not necessary to remove the radiator 44 during the adjustment, the work of adjusting the optical axis can be simplified as compared with the related art.

さらにこの実施例においては、放熱器44をホルダ31
と別体に支持すると共に、柔軟部材でなる平編銅線36
を用いて熱伝導路を形成したことにより、重量の大きな
放熱器44に荷重が加えられて振動した場合でも、レー
ザダイオード11に伝搬する当該振動を格段的に低減す
ることができ、かくして当該振動による光軸のずれを未
然に防止することができる。
Further, in this embodiment, the radiator 44 is attached to the holder 31.
A flat braided copper wire 36 that is supported separately from and is made of a flexible member.
By forming the heat conduction path by using, the vibration propagating to the laser diode 11 can be significantly reduced even when a load is applied to the radiator 44 having a large weight, and thus the vibration can be reduced. It is possible to prevent the deviation of the optical axis due to.

さらにこの種の放熱器44においては、レーザダイオー
ド11の加熱及び冷却に応じて熱収縮及び熱膨張の繰り
返しを避け得ず、微粒子計に衝撃等が加えられない場合
でも、当該熱収縮及び熱膨張により放熱器が振動する問
題がある。
Further, in this type of radiator 44, repeated thermal contraction and thermal expansion in accordance with heating and cooling of the laser diode 11 cannot be avoided, and even when impact or the like is not applied to the fine particle meter, the thermal contraction and thermal expansion are performed. This causes the radiator to vibrate.

従つて、このように柔軟部材でなる平編銅線36を用い
て熱伝導路を形成したことにより、熱収縮及び熱膨張に
より放熱器44が振動した場合でも、光軸のずれを未然
に防止することができる。
Therefore, by forming the heat conducting path by using the flat braided copper wire 36 made of a flexible member in this way, even if the radiator 44 vibrates due to thermal contraction and thermal expansion, the deviation of the optical axis is prevented in advance. can do.

ちなみにこの実施例においては、銅板33及び押え板3
4間に、熱伝導率が高くかつ弾性部材でなるシリコンシ
ート35を介挿することにより、放熱器44の他に押え
板34を介しても熱の放散及び吸収が行われるようにな
され、併せて平編銅線36の振動が当該シリコンシート
35で吸収されるようになされている。
By the way, in this embodiment, the copper plate 33 and the pressing plate 3 are used.
By interposing the silicon sheet 35 having a high heat conductivity and made of an elastic member between the four, heat is dissipated and absorbed not only through the radiator 44 but also through the holding plate 34. The vibration of the flat knitted copper wire 36 is absorbed by the silicon sheet 35.

以上の構成において、レーザダイオード取付け板12に
取り付けられたレーザダイオード11は、ホルダ31で
微粒子計本体から熱的に絶縁された状態で、ペルチエ素
子19で加熱又は冷却される。
In the above structure, the laser diode 11 mounted on the laser diode mounting plate 12 is heated or cooled by the Peltier element 19 while being thermally insulated from the fine particle meter main body by the holder 31.

このとき、微粒子計本体にホルダ31と別体に支持され
た放熱器44で、加熱に要する熱が周囲から吸収され、
その熱が銅板41、平編銅線36、銅板33を介してペ
ルチエ素子19に与えらる。
At this time, the heat required for heating is absorbed from the surroundings by the radiator 44 supported separately from the holder 31 in the main body of the fine particle meter,
The heat is applied to the Peltier element 19 via the copper plate 41, the flat braided copper wire 36, and the copper plate 33.

逆に冷却に要する熱は、銅板33、平編銅線36、銅板
41を介して放熱器44から周囲に放散される。
On the contrary, the heat required for cooling is dissipated to the surroundings from the radiator 44 through the copper plate 33, the flat braided copper wire 36, and the copper plate 41.

以上の構成によれば、微粒子計本体にホルダ31と別体
に放熱器44を支持すると共に、放熱器44及びペルチ
エ素子19間に柔軟部材で熱伝導路を形成することによ
り、レーザダイオード11に伝搬される放熱器44の振
動を低減することができ、かくして放熱器44の振動に
よる光軸のずれを未然に防止して、光軸の調整作業を簡
略化することができる。
According to the above configuration, the radiator 44 is supported separately from the holder 31 in the main body of the fine particle meter, and the heat conduction path is formed by the flexible member between the radiator 44 and the Peltier element 19, so that the laser diode 11 is provided. It is possible to reduce the propagating vibration of the radiator 44, thus preventing the deviation of the optical axis due to the vibration of the radiator 44, and simplifying the optical axis adjusting work.

なお上述の実施例においては、レーザダイオード取り付
け板12に対して、放熱器44を平行に取り付けた場合
について述べたが、放熱器44の取り付け位置はこれに
限らず、放熱器44及びペルチエ素子19間に可撓性に
優れた平編銅線でなる柔軟部材で熱伝導路を形成したこ
とにより、例えば銅板33の横に垂直に配置する場合
等、必要に応じて配置位置を自由に選定することができ
る。
Although the radiator 44 is mounted in parallel to the laser diode mounting plate 12 in the above-mentioned embodiment, the mounting position of the radiator 44 is not limited to this, and the radiator 44 and the Peltier element 19 are not limited thereto. Since the heat conduction path is formed by a flexible member made of a flat braided copper wire having excellent flexibility, the arrangement position can be freely selected as necessary, for example, when the heat conduction path is arranged vertically to the side of the copper plate 33. be able to.

さらに上述の実施例においては、柔軟部材として銅線を
編んで形成された平編銅線36を用いて、放熱器44及
びペルチエ素子19間に熱伝導路を形成する場合につい
て述べたが、熱伝導路を形成する柔軟部材はこれに限ら
ず、例えばバネ状に加工した熱伝導率の高い金属等、要
は弾性が小さくかつ熱伝導率の高い部材で構成すればよ
い。
Furthermore, in the above-described embodiment, the case where the heat conduction path is formed between the radiator 44 and the Peltier element 19 using the flat knitted copper wire 36 formed by knitting a copper wire as the flexible member has been described. The flexible member forming the conduction path is not limited to this, and may be a member having a small elasticity and a high thermal conductivity, such as a metal processed into a spring shape and having a high thermal conductivity.

さらに上述の実施例においては、円環形状のレーザダイ
オード取付け板12及び円筒形状のホルダ31を用いる
場合について述べたが、レーザダイオード取付け板12
及びホルダ31の形状はこれに限らず、必要に応じて種
々の形状を広く適用することができる。
Further, in the above-described embodiment, the case where the annular laser diode mounting plate 12 and the cylindrical holder 31 are used has been described, but the laser diode mounting plate 12 is used.
The shape of the holder 31 is not limited to this, and various shapes can be widely applied as needed.

さらに上述の実施例においては、ホルダ31を微粒子計
本体にねじ留めして取り付けることにより、当該ホルダ
31を介して微粒子計本体にレーザ光源30を固定する
場合について述べたが、本考案はこれに限らず、例えば
ホルダを微粒子計本体に圧入する場合等、種々の支持方
法を広く適用することができる。
Furthermore, in the above-mentioned embodiment, the case where the laser light source 30 is fixed to the fine particle meter main body through the holder 31 by screwing and attaching the holder 31 to the fine particle meter main body has been described. Not limited to this, various supporting methods can be widely applied, for example, when the holder is pressed into the main body of the fine particle meter.

さらに上述の実施例においては、本考案を微粒子計のレ
ーザ光源に適用した場合について述べたが、本考案は微
粒子計のレーザ光源に限らず、微少変位測定装置等のレ
ーザ光源、さらには種々の電子機器のレーザ光源に広く
適用することができる。
Further, in the above-mentioned embodiments, the case where the present invention is applied to the laser light source of the fine particle meter has been described, but the present invention is not limited to the laser light source of the fine particle meter, and a laser light source such as a minute displacement measuring device, and various It can be widely applied to laser light sources of electronic devices.

〔考案の効果〕[Effect of device]

以上のように本考案によれば、放熱器をレーザ光源支持
部材と別体に支持して、当該放熱器に対して柔軟部材の
熱伝導路を形成することにより、レーザダイオードに伝
搬される放熱器の振動を低減すると共に、光軸の調整作
業を簡略化することができる。
As described above, according to the present invention, by supporting the heat sink separately from the laser light source supporting member and forming the heat conduction path of the flexible member with respect to the heat radiator, the heat radiation propagated to the laser diode is dissipated. It is possible to reduce the vibration of the vessel and simplify the optical axis adjustment work.

かくして放熱器の振動による光軸のずれを未然に防止し
て、光軸の調整作業を簡略化したレーザ光源を得ること
ができる。
Thus, it is possible to prevent the deviation of the optical axis due to the vibration of the radiator and to obtain the laser light source in which the optical axis adjustment work is simplified.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本考案の一実施例によるレーザ光源の全体構成
を示す断面図、第2図は微粒子計の動作の説明に供する
略線図、第3図は問題点の説明に供する断面図である。 1……微粒子計、3、10、30……レーザ光源、11
……レーザダイオード、12……レーザダイオード取付
け板、15、31……ホルダ、19……ペルチエ素子、
20、44……放熱器、36……平編銅線。
FIG. 1 is a sectional view showing the overall structure of a laser light source according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a schematic diagram for explaining the operation of a fine particle meter, and FIG. 3 is a sectional view for explaining problems. is there. 1 ... Particle analyzer 3, 10, 30 ... Laser light source, 11
... laser diode, 12 ... laser diode mounting plate, 15, 31 ... holder, 19 ... Peltier element,
20, 44 ... Radiator, 36 ... Flat braided copper wire.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】電子機器本体に支持されたレーザ光源支持
部材と、 上記レーザ光源支持部材に支持されたレーザダイオード
取付け部材と、 上記レーザダイオード取付け部材に取り付けられたレー
ザダイオードと、 上記レーザダイオードを加熱又は冷却する加熱冷却素子
と、 上記電子機器本体に上記レーザ光源支持部材と別体に支
持された放熱器と、 上記放熱器及び上記加熱冷却素子間に、熱伝導路を形成
する柔軟部材と を具えることを特徴とするレーザ光源。
1. A laser light source support member supported by an electronic device main body, a laser diode mounting member supported by the laser light source support member, a laser diode mounted on the laser diode mounting member, and the laser diode. A heating / cooling element for heating or cooling, a radiator supported separately from the laser light source support member in the electronic device body, and a flexible member forming a heat conduction path between the radiator and the heating / cooling element. A laser light source characterized by comprising:
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