JPH06236835A - コンデンサ用インパルス耐電圧試験法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 段絶縁を施したコンデンサのインパルス耐電
圧試験を、低圧端子を高圧端子と同じレベルで絶縁する
ことなく、実施できるようにすることを目的とする。 【構成】 段絶縁を施したコンデンサの高圧端子と低圧
端子との間に、直流電圧を印加してコンデンサ素子を予
め充電しておく。そのあと低圧端子と大地との間に、前
記直流電圧と重畳したときにインパルス耐電圧試験電圧
となるインパルス電圧を印加する。高圧端子には直流電
圧とインパルス電圧とを重畳したインパルス耐電圧試験
電圧が印加される。低圧端子にはインパルス電圧が印加
される。したがって低圧端子にはインパルス耐電圧試験
電圧よりも低い電圧が印加された状態で試験が可能とな
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明はコンデンサ用インパルス
耐電圧試験法に関する。

【０００２】

【従来の技術】段絶縁を施したコンデンサにおける雷イ
ンパルスのようなインパルス電圧に対する耐電圧を試験
するのに、コンデンサの高圧端子と大地との間に、イン
パルス電圧を印加することによって行われる。

【０００３】図５はその従来の試験法を示すもので、１
はその試験対象の、段絶縁が施されてあるコンデンサ
で、主としてコンデンサ素子２、タンク４、高圧端子５
および低圧端子６とによって構成されてある。７はイン
パルス耐電圧試験電圧のインパルス電圧Ｖｐ（波高値）
を発生するインパルス電圧発生装置、８はインパルス電
圧をコンデンサ素子２に印加するのに使用するスイッ
チ、９は波形観測装置である。

【０００４】このような構成におけるコンデンサのイン
パルス耐電圧の試験は、インパルス電圧発生装置７より
高圧端子５と大地間に、インパルス電圧Ｖｐを印加する
ことによって行えばよい。しかしコンデンサ素子２のイ
ンピーダンスは、周波数が無限大と考えられるインパル
スに対して低インピーダンスとなるので、もし低圧端子
６を接地して高圧端子５にインパルス電圧を印加したと
すると、所定のインパルス電圧をコンデンサ素子２に印
加することができはない。

【０００５】そのため従来では図５に示すように、高圧
端子５と低圧端子６とを一括して接続し、両端子５、６
と大地との間にインパルス電圧を印加するようにしてい
る。図６はそのときの時刻ｔにおいてスイッチ８を投入
したときの、コンデンサ素子２の大地に対する電圧波形
を示すもので、これは波形観測装置９により観測され
る。

【０００６】しかしこのように高圧端子５および低圧端
子６を一括接続した場合は、低圧端子６にもインパルス
電圧が印加されることになるので、これら低圧端子６、
高圧端子５と同じレベルの絶縁すなわちインパルス電圧
Ｖｐに耐え得る絶縁を施しておかなければならないこと
になり、したがってコンデンサ全体が同レベルの絶縁を
必要とすることになるため経済的でない。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】本発明は、段絶縁を施
したコンデンサについて、低圧端子を高圧端子と同じレ
ベルで絶縁することなく、インパルス耐電圧試験の実施
を可能にすることを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明は、段絶縁を施し
たコンデンサの高圧端子と低圧端子との間に、直流電圧
を印加してコンデンサ素子を予め充電しておき、そのあ
と低圧端子と大地との間に、前記直流電圧と重畳したと
きに、高圧端子と大地との間および低圧端子と大地との
間が、それぞれ絶縁階級相当のインパルス耐電圧試験電
圧となるインパルス電圧を印加するようにしたことを特
徴とする。

【０００９】

【作用】予め直流電圧で充電されているコンデンサ素子
には、その直流電圧にインパルス電圧が重畳されて印加
される。この重畳された電圧はインパルス耐電圧試験電
圧となるようにしてあるため、高圧端子と大地との間に
このインパルス耐電圧試験電圧が印加されることにな
り、所要のインパルス耐電圧試験が行われることにな
る。

【００１０】一方低圧端子と大地との間に印加されるイ
ンパルス電圧は、高圧端子のインパルス耐電圧試験電圧
より直流電圧分だけ低い電圧であるため、低圧端子を高
圧端子と同じレベルで絶縁しておく必要はない。

【００１１】

【実施例】本発明の実施例を図１〜図３によって説明す
る。なお図４と同じ符号を付した部分は、同一または対
応する部分を示す。本発明にしたがい、高圧端子と低圧
端子６との間に、直流電圧を印加するためのスイッチ１
１、１２を介して直流電源１３を接続しておく。インパ
ルス電圧発生装置７によって発生されるインパルス電圧
Ｖｐ′（波高値）は、これに直流電源１３による直流電
圧Ｅを重畳した電圧が高圧端子のインパルス耐電圧試験
電圧Ｖｐとなるように設定されてある。

【００１２】以上の構成において、予めスイッチ１１、
１２を投入して、直流電源１３によりコンデンサ素子２
を電圧Ｅまで充電しておく。そして試験電圧の印加にさ
きだってスイッチ１１、１２を開放し、続いてスイッチ
８を投入して、インパルス電圧発生装置７よりインパル
ス電圧Ｖｐ′を低圧端子６と大地との間に印加する。

【００１３】その結果高圧端子５と大地との間には、直
流電圧Ｅと、インパルス電圧Ｖｐ′とを重畳した高圧端
子のインパルス耐電圧試験電圧Ｖｐが印加され、コンデ
ンサは所要のインパルス耐電圧試験が行われるようにな
る。このときの印加電圧の波形を示したのが図２であ
る。

【００１４】更に低圧端子６にはインパルス電圧Ｖｐ′
が印加されるのみである。このインパルス電圧Ｖｐ′は
電圧Ｖｐより低いので、したがってこの低圧端子６につ
いても、電圧Ｖｐに耐える絶縁を施す必要はなくなる。
このときの印加電圧の波形を示したのが図３である。

【００１５】以上の理由により低圧端子６について、高
圧端子５と同じレベルの絶縁を施す必要はなくなる。ま
た低圧端子６について絶縁レベルの異なる耐電圧性能の
検証を同時に行うことができるようになる。

【００１６】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、段
絶縁されたコンデンサのインパルス耐電圧試験を実施す
るにあたり、低圧端子について、高圧端子よりも低いレ
ベルの絶縁を施しておいても、その試験の実施が可能と
なり、これによりこれらの絶縁構成を簡略化することが
できる効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例方法を示す回路図である。

【図２】図１における高圧端子と大地との間の電圧を示
す波形図である。

【図３】図１における低圧端子と大地との間の電圧を示
す波形図である。

【図４】従来例の試験方法を示す回路図である。

【図５】図４における高圧端子、低圧端子の大地に対す
る波形図である。

【符号の説明】

１ コンデンサ ２ コンデンサ素子 ４ タンク ５ 高圧端子 ６ 低圧端子 ７ インパルス電圧発生装置 １３ 直流電源

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 段絶縁を施したコンデンサの高圧端子と
   低圧端子との間に、直流電圧を印加してコンデンサ素子
   を予め充電しておき、そのあと前記低圧端子と大地との
   間に、前記直流電圧と重畳したときに、前記高圧端子と
   大地との間および前記低圧端子と大地との間が、それぞ
   れ絶縁階級相当のインパルス耐電圧試験電圧となるイン
   パルス電圧を印加して、前記高圧端子と大地との間と、
   前記低圧端子との間のインパルス耐電圧試験を同時に行
   うことを特徴とするコンデンサ用インパルス耐電圧試験
   法。