JPH06241745A - 外観検査装置および外観検査方法 - Google Patents
外観検査装置および外観検査方法Info
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- JPH06241745A JPH06241745A JP5028320A JP2832093A JPH06241745A JP H06241745 A JPH06241745 A JP H06241745A JP 5028320 A JP5028320 A JP 5028320A JP 2832093 A JP2832093 A JP 2832093A JP H06241745 A JPH06241745 A JP H06241745A
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- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 title claims abstract description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 title abstract description 18
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 46
- 238000007599 discharging Methods 0.000 abstract description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 19
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 5
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 5
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
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- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 1台のカメラを用い、しかも検査できる項目
を多くすることができる外観検査装置を提供する。ま
た、1台のカメラを用い、ワークの上面および側面で検
査する場合の新規な外観検査方法を提供する。 【構成】 本発明の装置は、ワーク3の上面、端面およ
び側面をそれぞれ照明するために3つの照明装置4,
5,6を設けている。カメラ2によりワーク3の上面お
よび側面を写し、画像処理手段1によって画像処理され
る。ワークをワーク搬送路13に沿って検査位置へ搬送
し、かつ検査後に検査位置から排出するワーク搬送手段
12が設けられている。本発明の方法は、カメラからの
画像を取り込み、ワークの上面の画像の領域と側面の画
像の領域を分割する。各画像から抽出した輝度分布に基
づいて2つの画像の2値化レベルを決定して各画像を2
値化する。2値化された画像データを用いてワークの外
観を検査する。
を多くすることができる外観検査装置を提供する。ま
た、1台のカメラを用い、ワークの上面および側面で検
査する場合の新規な外観検査方法を提供する。 【構成】 本発明の装置は、ワーク3の上面、端面およ
び側面をそれぞれ照明するために3つの照明装置4,
5,6を設けている。カメラ2によりワーク3の上面お
よび側面を写し、画像処理手段1によって画像処理され
る。ワークをワーク搬送路13に沿って検査位置へ搬送
し、かつ検査後に検査位置から排出するワーク搬送手段
12が設けられている。本発明の方法は、カメラからの
画像を取り込み、ワークの上面の画像の領域と側面の画
像の領域を分割する。各画像から抽出した輝度分布に基
づいて2つの画像の2値化レベルを決定して各画像を2
値化する。2値化された画像データを用いてワークの外
観を検査する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は外観検査装置および外観
検査方法に係り、特にワークの上面および側面の外観を
検査する外観検査装置および外観検査方法に関する。
検査方法に係り、特にワークの上面および側面の外観を
検査する外観検査装置および外観検査方法に関する。
【0002】
【従来の技術】ワークの外観を検査する外観検査装置と
して、画像処理を行なうものは従来から知られている。
して、画像処理を行なうものは従来から知られている。
【0003】たとえば、ワークの上面を撮影するための
カメラとワークの側面を撮影するためのカメラを1台ず
つ用いることによって、ワークの上面および側面の外観
を検査する外観検査装置が知られている。この外観検査
装置は、ワークの上面および側面を照明装置により照明
している。
カメラとワークの側面を撮影するためのカメラを1台ず
つ用いることによって、ワークの上面および側面の外観
を検査する外観検査装置が知られている。この外観検査
装置は、ワークの上面および側面を照明装置により照明
している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、ワークの上面
と側面のみを照明するので、画像処理によって判別可能
な項目が少なく、したがって検査項目が限定される。
と側面のみを照明するので、画像処理によって判別可能
な項目が少なく、したがって検査項目が限定される。
【0005】また、カメラを2台用いるので、高価なも
のとなる。
のとなる。
【0006】このため、カメラを1台だけ用い、ワーク
の一方向の面だけしか検査しないと、検査できる項目が
さらに少なくなる。
の一方向の面だけしか検査しないと、検査できる項目が
さらに少なくなる。
【0007】本発明の目的は、1台のカメラを用い、し
かも検査できる項目を多くすることができる外観検査装
置を提供することにある。
かも検査できる項目を多くすることができる外観検査装
置を提供することにある。
【0008】また、本発明の他の目的は、1台のカメラ
を用い、ワークの上面および側面の二方向の面で検査す
る場合の新規な外観検査方法を提供することにある。
を用い、ワークの上面および側面の二方向の面で検査す
る場合の新規な外観検査方法を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明による外観検査装
置は、ワークの上面および側面を写すカメラと、ワーク
の上面を照明する第1の照明装置と、ワークの端面を照
明する第2の照明装置と、ワークの側面を照明してシル
エット像にする第3の照明装置と、前記第3の照明装置
によって照明されたワークのシルエット像を前記カメラ
の方向へ反射するミラーと、前記カメラからの画像信号
を処理するための画像処理手段と、ワークをワーク搬送
路に沿って検査位置へ搬送し、かつ検査後に該検査位置
から排出するワーク搬送手段とを備える。
置は、ワークの上面および側面を写すカメラと、ワーク
の上面を照明する第1の照明装置と、ワークの端面を照
明する第2の照明装置と、ワークの側面を照明してシル
エット像にする第3の照明装置と、前記第3の照明装置
によって照明されたワークのシルエット像を前記カメラ
の方向へ反射するミラーと、前記カメラからの画像信号
を処理するための画像処理手段と、ワークをワーク搬送
路に沿って検査位置へ搬送し、かつ検査後に該検査位置
から排出するワーク搬送手段とを備える。
【0010】前記第1、第2および第3の照明装置のう
ちのいずれかは、前記搬送路内に配置されており、該搬
送路内に配置された照明装置を前進・後退する照明装置
駆動手段を設け、該駆動手段は、前記ワークが前記検査
位置まで搬送される際に該照明装置をワーク搬送路から
後退してワークを通過させ、ワーク通過後に該照明装置
を前進させることが望ましい。
ちのいずれかは、前記搬送路内に配置されており、該搬
送路内に配置された照明装置を前進・後退する照明装置
駆動手段を設け、該駆動手段は、前記ワークが前記検査
位置まで搬送される際に該照明装置をワーク搬送路から
後退してワークを通過させ、ワーク通過後に該照明装置
を前進させることが望ましい。
【0011】本発明による外観検査方法は、ワークの上
面および側面を写すカメラからの画像を取り込むステッ
プと、上記ワークの上面の画像の領域と側面の画像の領
域を分割するステップと、上面の画像の輝度分布と側面
の画像の輝度分布を抽出するステップと、前記輝度分布
に基づいて上面の画像の2値化レベルと側面の画像の2
値化レベルを抽出するステップと、前記2値化レベルに
基づいて上面の画像と側面の画像を2値化するステップ
と、2値化された画像データを基に画像処理によりワー
クの外観を検査するステップとを備える。なお、2値化
された画像データのみに基づくのではなく、取り込まれ
た多値(例えば8ビット)の画像データとを併用して外
観検査の画像処理を施しても良い。
面および側面を写すカメラからの画像を取り込むステッ
プと、上記ワークの上面の画像の領域と側面の画像の領
域を分割するステップと、上面の画像の輝度分布と側面
の画像の輝度分布を抽出するステップと、前記輝度分布
に基づいて上面の画像の2値化レベルと側面の画像の2
値化レベルを抽出するステップと、前記2値化レベルに
基づいて上面の画像と側面の画像を2値化するステップ
と、2値化された画像データを基に画像処理によりワー
クの外観を検査するステップとを備える。なお、2値化
された画像データのみに基づくのではなく、取り込まれ
た多値(例えば8ビット)の画像データとを併用して外
観検査の画像処理を施しても良い。
【0012】
【作用】本発明の外観検査装置のワーク搬送手段は、ワ
ークをワーク搬送路に沿って検査位置へ搬送する。
ークをワーク搬送路に沿って検査位置へ搬送する。
【0013】このワーク搬送路上に位置する照明装置
は、ワークが検査位置まで搬送される際に照明装置駆動
手段によって下方に後退され、ワークの通過後、上方に
前進される。
は、ワークが検査位置まで搬送される際に照明装置駆動
手段によって下方に後退され、ワークの通過後、上方に
前進される。
【0014】ワークの検査が終了した後、ワークは、ワ
ーク搬送手段によりワーク搬送路から排出される。
ーク搬送手段によりワーク搬送路から排出される。
【0015】本発明の外観検査方法によれば、まず、カ
メラからのビデオ信号をA/D変換した後、メモリ内に
取り込み、ワークの上面の像と側面の像を分割する。
メラからのビデオ信号をA/D変換した後、メモリ内に
取り込み、ワークの上面の像と側面の像を分割する。
【0016】次いで、輝度分布を抽出し、2値化レベル
を抽出する。この2値化レベルを用いて各像のデータの
2値化を行ない、この2値化されたデータにより、ワー
クの外観の検査を行なう。
を抽出する。この2値化レベルを用いて各像のデータの
2値化を行ない、この2値化されたデータにより、ワー
クの外観の検査を行なう。
【0017】
【実施例】以下、図面に示した実施例に基づいて本発明
を詳細に説明する。
を詳細に説明する。
【0018】図1は本発明の外観検査装置の一実施例の
主要部を概略的に示す正面図、図2は同側面図である。
主要部を概略的に示す正面図、図2は同側面図である。
【0019】図において、画像処理手段1に接続された
カメラ2のレンズ2Aの下方に、ワーク3が配置されて
いる。本実施例の説明に用いるワーク3は、リード線3
bを一体に構成した圧着端子である。このワーク3を囲
むようにして3つの照明装置、すなわち、リング照明装
置(第1の照明装置)4、透過照明装置(第2の照明装
置)5、ファイバ照明装置(第3の照明装置)6が設け
られている。
カメラ2のレンズ2Aの下方に、ワーク3が配置されて
いる。本実施例の説明に用いるワーク3は、リード線3
bを一体に構成した圧着端子である。このワーク3を囲
むようにして3つの照明装置、すなわち、リング照明装
置(第1の照明装置)4、透過照明装置(第2の照明装
置)5、ファイバ照明装置(第3の照明装置)6が設け
られている。
【0020】また、ワーク3を挟んで透過照明装置5と
対向して反射ミラー7が設けられている。
対向して反射ミラー7が設けられている。
【0021】リング照明装置4はカメラ2の真下に設け
られ、ワーク3の上面を照射するもので、カメラ2によ
りワーク3を写すことができるようにリング状に構成さ
れている。
られ、ワーク3の上面を照射するもので、カメラ2によ
りワーク3を写すことができるようにリング状に構成さ
れている。
【0022】透過照明装置5は、ワーク3の側面を照明
するものであり、照明源8からの照明光を反射する透過
照明用反射ミラー9、該透過照明用反射ミラー9からの
光を拡散させるオパールグラス等の拡散板10等から構
成されている。
するものであり、照明源8からの照明光を反射する透過
照明用反射ミラー9、該透過照明用反射ミラー9からの
光を拡散させるオパールグラス等の拡散板10等から構
成されている。
【0023】この透過照明装置5は、拡散板10からの
拡散光をワーク3の側面へ投射し、該側面の像をシルエ
ット像として反射ミラー7上へ投影する。反射ミラー7
上に投影されたシルエット像はカメラ2の方向へ反射さ
れる。
拡散光をワーク3の側面へ投射し、該側面の像をシルエ
ット像として反射ミラー7上へ投影する。反射ミラー7
上に投影されたシルエット像はカメラ2の方向へ反射さ
れる。
【0024】この透過照明装置5はシリンダ11(照明
装置駆動手段)によって上下動可能にされている。
装置駆動手段)によって上下動可能にされている。
【0025】ファイバ照明装置6は、ワーク3の端面を
照明するものである。
照明するものである。
【0026】ワーク3は、ワーク搬送手段12によりワ
ーク搬送路13に沿って検査位置(図1のワーク3の位
置)へ搬送される。ワーク搬送手段12は、駆動手段1
4と、該駆動手段14により図2のA方向および図1の
ワーク搬送路13に沿った方向に移動可能とされたクラ
ンプ15とにより構成される。
ーク搬送路13に沿って検査位置(図1のワーク3の位
置)へ搬送される。ワーク搬送手段12は、駆動手段1
4と、該駆動手段14により図2のA方向および図1の
ワーク搬送路13に沿った方向に移動可能とされたクラ
ンプ15とにより構成される。
【0027】ワーク3は、リード線3bをクランプ15
によってクランプされ、図1の右方向からワーク搬送路
13に沿って検査位置へ搬送される。
によってクランプされ、図1の右方向からワーク搬送路
13に沿って検査位置へ搬送される。
【0028】透過照明装置5は、このワーク搬送路13
上に位置するので、ワーク3が検査位置まで搬送される
際にシリンダ11によって下方に後退され、ワーク3の
通過後、上方に前進される。
上に位置するので、ワーク3が検査位置まで搬送される
際にシリンダ11によって下方に後退され、ワーク3の
通過後、上方に前進される。
【0029】ワーク3の検査が終了した後、ワーク3
は、ワーク搬送手段12により図2の左方へ移動されて
排出される。
は、ワーク搬送手段12により図2の左方へ移動されて
排出される。
【0030】なお、画像処理手段1はモニタ17に接続
されている。
されている。
【0031】図3はカメラ2により撮影される画像を示
す図であり、ひとつの画像の中にワーク3の上面の像1
8と、反射ミラー7からの反射されたワーク3の側面の
像(ミラー像)19が含まれている。上面の像18は、
ファイバ照明装置6からの照明により、端面側から見え
る面(端面自体も含む)の稜線18A,18Bが明瞭に
撮影される。したがって、端面等の部位に検査項目のあ
るワーク3の場合には確実に検査可能である。
す図であり、ひとつの画像の中にワーク3の上面の像1
8と、反射ミラー7からの反射されたワーク3の側面の
像(ミラー像)19が含まれている。上面の像18は、
ファイバ照明装置6からの照明により、端面側から見え
る面(端面自体も含む)の稜線18A,18Bが明瞭に
撮影される。したがって、端面等の部位に検査項目のあ
るワーク3の場合には確実に検査可能である。
【0032】この像18,19は後述のように画像処理
手段1によって処理され、各種の検査が行なわれる。
手段1によって処理され、各種の検査が行なわれる。
【0033】図4は上記外観検査装置の全体を示す正面
図、図5は同側面図であり、画像処理手段1およびモニ
タ17の図示は省略してある。
図、図5は同側面図であり、画像処理手段1およびモニ
タ17の図示は省略してある。
【0034】ベース20上には支柱21とシリンダ支持
フレーム22が固定されている。
フレーム22が固定されている。
【0035】支柱21の上端に、上アーム23が取付け
られ、該上アームにカメラ2が固定されている。また、
支柱21の中央付近には下アーム24が取付けられ、該
下アーム24と上アーム23にフレーム25が固定され
ている。
られ、該上アームにカメラ2が固定されている。また、
支柱21の中央付近には下アーム24が取付けられ、該
下アーム24と上アーム23にフレーム25が固定され
ている。
【0036】このフレーム25には、取付具26を介し
てリング照明装置4が、取付具27を介してファイバ照
明装置6が、取付具28を介して反射ミラー7がそれぞ
れ固定されている。
てリング照明装置4が、取付具27を介してファイバ照
明装置6が、取付具28を介して反射ミラー7がそれぞ
れ固定されている。
【0037】シリンダ支持フレーム22にはシリンダ1
1および照明源8が固定されている。
1および照明源8が固定されている。
【0038】図6は、画像処理手段1の機能ブロック図
である。
である。
【0039】カメラ2からのビデオ信号はたとえば51
2×512の画素からなり、A/D変換手段30により
1画素につきたとえば8ビットの信号に変換される。デ
ィジタル変換さた信号は、メモリ31内に取り込まれ
る。
2×512の画素からなり、A/D変換手段30により
1画素につきたとえば8ビットの信号に変換される。デ
ィジタル変換さた信号は、メモリ31内に取り込まれ
る。
【0040】カメラ2からのビデオ信号には上面の像1
8と側面の像(ミラー像)19が含まれているので、こ
れら2つの像を分割するために、領域指定メモリ32が
設けられている。この領域指定メモリ32は、図7に示
すように、2つの像18,19のそれぞれのコーナーP
1〜P4,Q1〜Q4の位置データを格納するためのも
のである。なお、この位置データの決定方法についての
説明は省略する。
8と側面の像(ミラー像)19が含まれているので、こ
れら2つの像を分割するために、領域指定メモリ32が
設けられている。この領域指定メモリ32は、図7に示
すように、2つの像18,19のそれぞれのコーナーP
1〜P4,Q1〜Q4の位置データを格納するためのも
のである。なお、この位置データの決定方法についての
説明は省略する。
【0041】制御手段33内のデータ転送手段34は、
この領域指定メモリ32から上記コーナーの位置データ
を読出し、制御手段33は該コーナーの位置を基準とし
て、メモリ31内に取り込まれた画像データから2つの
像18,19のデータを分割する。分割された2つの像
のデータは、それぞれ個別に輝度分布抽出手段35へ送
られる。
この領域指定メモリ32から上記コーナーの位置データ
を読出し、制御手段33は該コーナーの位置を基準とし
て、メモリ31内に取り込まれた画像データから2つの
像18,19のデータを分割する。分割された2つの像
のデータは、それぞれ個別に輝度分布抽出手段35へ送
られる。
【0042】このように、2つの像18,19を分割し
て別個に輝度分布抽出手段35へ送るのは、各像が異な
る照明装置によって照明されているので、2値化を行な
う際のしきい値レベル(2値化レベル)を異ならしめる
為である。
て別個に輝度分布抽出手段35へ送るのは、各像が異な
る照明装置によって照明されているので、2値化を行な
う際のしきい値レベル(2値化レベル)を異ならしめる
為である。
【0043】輝度分布抽出手段35は一時記憶用のメモ
リ35aを有する。この輝度分布抽出手段35では、各
像18,19についての各画素の輝度分布を抽出する。
図8に、このようにして抽出される輝度のヒストグラム
を示す。図において、横軸は輝度、縦軸は画素数であ
り、上面の像18の輝度分布18Kは各輝度レベルにわ
たって画素が分布しているが、側面の像(ミラー像)1
9の輝度分布19Kはシルエット像であるので、画素の
分布が高低2箇所に集中する傾向にある。
リ35aを有する。この輝度分布抽出手段35では、各
像18,19についての各画素の輝度分布を抽出する。
図8に、このようにして抽出される輝度のヒストグラム
を示す。図において、横軸は輝度、縦軸は画素数であ
り、上面の像18の輝度分布18Kは各輝度レベルにわ
たって画素が分布しているが、側面の像(ミラー像)1
9の輝度分布19Kはシルエット像であるので、画素の
分布が高低2箇所に集中する傾向にある。
【0044】この輝度分布は2値化レベル抽出手段36
へ送られる。2値化レベル抽出手段36は一時記憶用の
メモリ36aを有する。この2値化レベル抽出手段36
は、輝度分布に基づいて、2値化レベルを決定するが、
この決定方法は、たとえば輝度分布の中央値をしきい値
とする方法、あるいは輝度ヒストグラムの最高輝度の6
0%をしきい値とする方法等を採用することができる。
なお、制御手段33等の外部から、いずれの方法を採る
かを指示することもできる。
へ送られる。2値化レベル抽出手段36は一時記憶用の
メモリ36aを有する。この2値化レベル抽出手段36
は、輝度分布に基づいて、2値化レベルを決定するが、
この決定方法は、たとえば輝度分布の中央値をしきい値
とする方法、あるいは輝度ヒストグラムの最高輝度の6
0%をしきい値とする方法等を採用することができる。
なお、制御手段33等の外部から、いずれの方法を採る
かを指示することもできる。
【0045】輝度分布抽出手段35からの信号は2値化
手段38に送られる。また、メモリ31内の画像データ
が2つの像18,19に分割された後、データ転送手段
34により、各画像データが2値化手段38に搬送され
る。2値化手段38は上記2値化レベルをしきい値とし
て、各像18,19についての2値化を行なう。
手段38に送られる。また、メモリ31内の画像データ
が2つの像18,19に分割された後、データ転送手段
34により、各画像データが2値化手段38に搬送され
る。2値化手段38は上記2値化レベルをしきい値とし
て、各像18,19についての2値化を行なう。
【0046】2値化されたデータは、2値化メモリ37
へ格納される。この2値化メモリ37は、上面の像18
のデータを格納するための第1の2値化メモリ37A
と、側面の像(ミラー像)19のデータを格納するため
の第2の2値化メモリ37Bとからなる。
へ格納される。この2値化メモリ37は、上面の像18
のデータを格納するための第1の2値化メモリ37A
と、側面の像(ミラー像)19のデータを格納するため
の第2の2値化メモリ37Bとからなる。
【0047】図9は、画像処理手段1の行なう手順のフ
ローチャート図である。
ローチャート図である。
【0048】ステップS1でカメラ2からのビデオ信号
をA/D変換した後、ステップS2でメモリ31内に取
り込む。
をA/D変換した後、ステップS2でメモリ31内に取
り込む。
【0049】ステップS3でワーク3の上面の像18と
側面の像(ミラー像)19を分割する。
側面の像(ミラー像)19を分割する。
【0050】次いでステップS4で、輝度分布を抽出
し、ステップS5で2値化レベルを抽出する。
し、ステップS5で2値化レベルを抽出する。
【0051】ステップS6で各像のデータの2値化を行
ない、ステップS7では、この2値化されたデータによ
り、ワーク3の外観の検査を行なう。
ない、ステップS7では、この2値化されたデータによ
り、ワーク3の外観の検査を行なう。
【0052】この検査は、各画像の基準位置を決定した
後、ワーク3の各部位の位置を抽出し、その位置と基準
位置間の距離が基準値内にあるか否かによって検査する
方法、各部位の長さを検出して、その長さが基準内にあ
るか否かによって検査する方法等の各種の公知の方法を
採用して行なうことができる。
後、ワーク3の各部位の位置を抽出し、その位置と基準
位置間の距離が基準値内にあるか否かによって検査する
方法、各部位の長さを検出して、その長さが基準内にあ
るか否かによって検査する方法等の各種の公知の方法を
採用して行なうことができる。
【0053】最後にステップS8において検査結果をモ
ニタ17に表示し、或いはプリンタで印刷する等により
出力する。
ニタ17に表示し、或いはプリンタで印刷する等により
出力する。
【0054】以上、本発明を図面に示した実施例に基づ
いて説明したが、本発明はこの実施例には限定されず種
々変形可能である。なお、2値化された画像データのみ
に基づくのではなく、取り込まれた多値(例えば8ビッ
ト)の画像データとを併用して外観検査の画像処理を施
しても良い。また2画像の同時取込みに限らず、2画像
以上の取込みと分割処理も可能である。
いて説明したが、本発明はこの実施例には限定されず種
々変形可能である。なお、2値化された画像データのみ
に基づくのではなく、取り込まれた多値(例えば8ビッ
ト)の画像データとを併用して外観検査の画像処理を施
しても良い。また2画像の同時取込みに限らず、2画像
以上の取込みと分割処理も可能である。
【0055】
【発明の効果】本発明によれば、1台のカメラを用い、
しかも検査できる項目を多くすることができる自動型の
外観検査装置が提供でき、ワーク検査の省力化を図るこ
とがえきる。
しかも検査できる項目を多くすることができる自動型の
外観検査装置が提供でき、ワーク検査の省力化を図るこ
とがえきる。
【0056】また、本発明によれば、1台のカメラを用
い、ワークの上面および側面の二方向の面で検査する場
合の新規な外観検査方法が提供される。即ち、2画像が
それぞれ異なる照明手段によって得られるので、画像の
バックグラウンドが異なっているが、2画像を分割して
それぞれに最適な2値化レベルが決定されるので、画像
処理を最適化でき、ワークを多観点から画像処理による
検査することができる。
い、ワークの上面および側面の二方向の面で検査する場
合の新規な外観検査方法が提供される。即ち、2画像が
それぞれ異なる照明手段によって得られるので、画像の
バックグラウンドが異なっているが、2画像を分割して
それぞれに最適な2値化レベルが決定されるので、画像
処理を最適化でき、ワークを多観点から画像処理による
検査することができる。
【図1】本発明の外観検査装置の一実施例の主要部を概
略的に示す正面図である。
略的に示す正面図である。
【図2】本発明の外観検査装置の一実施例の主要部を概
略的に示す側面図である。
略的に示す側面図である。
【図3】カメラにより撮影される画像を示す図である。
【図4】図1の実施例の全体を示す正面図である。
【図5】図1の実施例の全体を示す側面図である。
【図6】画像処理手段の機能ブロック図である。
【図7】カメラにより撮影される画像を示し、2つの画
像の分割する方法を説明するための図である。
像の分割する方法を説明するための図である。
【図8】輝度分布抽出手段によって抽出される輝度のヒ
ストグラムを示す図である。
ストグラムを示す図である。
【図9】画像処理手段の行なう手順のフローチャート図
である。
である。
【符号の説明】 1…画像処理手段 2…カメラ 2A…レンズ 3…ワーク 3b…リード線 4…リング照明装置(第1の照明装置) 5…透過照明装置(第2の照明装置) 6…ファイバ照明装置(第3の照明装置) 7…反射ミラー 8…照明源 9…透過照明用反射ミラー 10…拡散板 11…シリンダ(照明装置駆動手段) 12…ワーク搬送手段 13…ワーク搬送路 14…駆動手段 15…クランプ 17…モニタ 18…上面の像 18K…上面の像の輝度分布 19…側面の像(ミラー像) 19K…側面の像の輝度分布 20…ベース 21…延柱 22…シリンダ支持フレーム 23…上アーム 24…下アーム 25…フレーム 26〜28…取付具 30…A/D変換手段 31…メモリ 32…領域指定メモリ 33…制御手段 34…データ転送手段 35…輝度分布抽出手段 35a…メモリ 36…2値化レベル抽出手段 36a…メモリ 37…2値化メモリ 37A…第1の2値化メモリ 37B…第2の2値化メモリ 38…2値化手段。
Claims (3)
- 【請求項1】ワークの上面および側面を写すカメラと、 ワークの上面を照明する第1の照明装置と、 ワークの端面を照明する第2の照明装置と、 ワークの側面を照明してシルエット像にする第3の照明
装置と、 前記第3の照明装置によって照明されたワークのシルエ
ット像を前記カメラの方向へ反射するミラーと、 前記カメラからの画像信号を処理するための画像処理手
段と、 ワークをワーク搬送路に沿って検査位置へ搬送し、かつ
検査後に該検査位置から排出するワーク搬送手段と、を
備える外観検査装置。 - 【請求項2】前記第1、第2および第3の照明装置のう
ちのいずれかは、前記搬送路内に配置されている請求項
1記載の装置において、 該搬送路内に配置された照明装置を前進・後退する照明
装置駆動手段を設け、 該駆動手段は、前記ワークが前記検査位置まで搬送され
る際に該照明装置をワーク搬送路から後退してワークを
通過させ、ワーク通過後に該照明装置を前進させること
を特徴とする外観検査装置。 - 【請求項3】ワークの上面および側面を写すカメラから
の画像を取り込むステップと、 上記ワークの上面の画像の領域と側面の画像の領域を分
割するステップと、 上面の画像の輝度分布と側面の画像の輝度分布を抽出す
るステップと、 前記輝度分布に基づいて上面の画像の2値化レベルと側
面の画像の2値化レベルを抽出するステップと、 前記2値化レベルに基づいて上面の画像と側面の画像を
2値化するステップと、 2値化された画像データに基づき画像処理によりワーク
の外観を検査するステップと、を備える外観検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5028320A JP2818347B2 (ja) | 1993-02-18 | 1993-02-18 | 外観検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5028320A JP2818347B2 (ja) | 1993-02-18 | 1993-02-18 | 外観検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06241745A true JPH06241745A (ja) | 1994-09-02 |
| JP2818347B2 JP2818347B2 (ja) | 1998-10-30 |
Family
ID=12245327
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5028320A Expired - Lifetime JP2818347B2 (ja) | 1993-02-18 | 1993-02-18 | 外観検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2818347B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012014674A1 (ja) * | 2010-07-26 | 2012-02-02 | 新明和工業株式会社 | 圧着端子の圧着状態検査装置 |
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| CN118362061A (zh) * | 2024-06-19 | 2024-07-19 | 山东脉和增材制造有限公司 | 一种3d打印骨科模型的轮廓计量检测方法及装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS61294302A (ja) * | 1985-06-24 | 1986-12-25 | Matsushita Electric Works Ltd | チップ部品ずれ検査方法 |
| JPS6366445A (ja) * | 1986-09-09 | 1988-03-25 | Ikegami Tsushinki Co Ltd | 外観検査装置 |
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-
1993
- 1993-02-18 JP JP5028320A patent/JP2818347B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| CN113875100B (zh) * | 2019-03-26 | 2024-10-25 | 哈廷电子有限公司及两合公司 | 可视压接监控 |
| CN118362061A (zh) * | 2024-06-19 | 2024-07-19 | 山东脉和增材制造有限公司 | 一种3d打印骨科模型的轮廓计量检测方法及装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2818347B2 (ja) | 1998-10-30 |
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