JPH06242485A - 像振れ補正装置 - Google Patents
像振れ補正装置Info
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- JPH06242485A JPH06242485A JP4873193A JP4873193A JPH06242485A JP H06242485 A JPH06242485 A JP H06242485A JP 4873193 A JP4873193 A JP 4873193A JP 4873193 A JP4873193 A JP 4873193A JP H06242485 A JPH06242485 A JP H06242485A
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- Japan
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- optical
- optical axis
- lens group
- image blur
- correction lens
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 構造物による光学的補正手段の光軸回りの規
制手段を排除し、像振れの制御及びその性能を向上させ
ると共に、構造の簡素化、該装置の低価格化を達成す
る。 【構成】 駆動手段2a,3,4p,4yの駆動力を、
光学的補正手段1をレンズ群の光軸に対し直交する面内
で移動させる力として作用させる駆動方向規制手段7,
8と、前記レンズ群の光軸回りの回転方向の規制を磁気
的に行い、前記光学的補正手段の駆動方向を、前記レン
ズ群の光軸に対し直交する面内の直交する2方向とする
磁気的規制手段2a,3とを備え、磁気力によりレンズ
群の光軸回りの回転方向の規制を行うようにしている。
制手段を排除し、像振れの制御及びその性能を向上させ
ると共に、構造の簡素化、該装置の低価格化を達成す
る。 【構成】 駆動手段2a,3,4p,4yの駆動力を、
光学的補正手段1をレンズ群の光軸に対し直交する面内
で移動させる力として作用させる駆動方向規制手段7,
8と、前記レンズ群の光軸回りの回転方向の規制を磁気
的に行い、前記光学的補正手段の駆動方向を、前記レン
ズ群の光軸に対し直交する面内の直交する2方向とする
磁気的規制手段2a,3とを備え、磁気力によりレンズ
群の光軸回りの回転方向の規制を行うようにしている。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光学的補正手段を、例
えば撮影レンズの光軸に対し直交する面内にて移動させ
ることにより、結像面上の像を移動させて像振れを補正
する像振れ補正装置の改良に関するものである。
えば撮影レンズの光軸に対し直交する面内にて移動させ
ることにより、結像面上の像を移動させて像振れを補正
する像振れ補正装置の改良に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来のこの種の装置を図11の斜視図を
用いて説明する。
用いて説明する。
【0003】補正レンズ61は光軸と直交する互いに直
角な2方向(ピッチ方向62pとヨー方向62y)に自
在に駆動(偏心)可能である。以下にその構成を示す。
角な2方向(ピッチ方向62pとヨー方向62y)に自
在に駆動(偏心)可能である。以下にその構成を示す。
【0004】図11において、補正レンズ61を保持す
る固定枠63は、ポリアセタール樹脂(以下、POMと
記す)等のすべり軸受64pを介して第1の保持枠69
に取付けられたピッチスライド軸65p上を摺動できる
ようになっている。又、固定枠63はピッチスライド軸
65pと同軸のピッチコイルバネ66pに挟まれ、中立
位置付近に保持されており、また、この固定枠63には
ピッチコイル67pが取付けられている。
る固定枠63は、ポリアセタール樹脂(以下、POMと
記す)等のすべり軸受64pを介して第1の保持枠69
に取付けられたピッチスライド軸65p上を摺動できる
ようになっている。又、固定枠63はピッチスライド軸
65pと同軸のピッチコイルバネ66pに挟まれ、中立
位置付近に保持されており、また、この固定枠63には
ピッチコイル67pが取付けられている。
【0005】前記ピッチコイル67pはピッチマグネッ
ト610pとピッチヨーク611pで構成される磁気回
路中に置かれており、該ピッチコイル67pに電流を流
す事で前記固定枠63はピッチ方向62pに駆動され
る。また、このピッチコイル67pにはピッチスリット
板68pが設けられており、投光素子であるところの赤
外発光ダイオード(以下、IREDと記す)612pと
受光素子であるところの半導体位置検出素子(以下、P
SDと記す)613pの関連により、固定枠63のピッ
チ方向62pの位置検出を行うものとして作用する。
ト610pとピッチヨーク611pで構成される磁気回
路中に置かれており、該ピッチコイル67pに電流を流
す事で前記固定枠63はピッチ方向62pに駆動され
る。また、このピッチコイル67pにはピッチスリット
板68pが設けられており、投光素子であるところの赤
外発光ダイオード(以下、IREDと記す)612pと
受光素子であるところの半導体位置検出素子(以下、P
SDと記す)613pの関連により、固定枠63のピッ
チ方向62pの位置検出を行うものとして作用する。
【0006】第1の保持枠69にはPOM等のすべり軸
受64yが嵌合されており、ヨースライド軸65yが取
付けられたハウジング614上を摺動可能となってい
る。そして、上記ハウジング614は不図示のレンズ鏡
筒に取付けられるため、この第1の保持枠69はレンズ
鏡筒に対しヨー方向62yに移動可能となる。又、ヨー
スライド軸65yと同軸にヨーコイルバネ66yが設け
られており、固定枠63と同様、中立位置付近に保持さ
れる。
受64yが嵌合されており、ヨースライド軸65yが取
付けられたハウジング614上を摺動可能となってい
る。そして、上記ハウジング614は不図示のレンズ鏡
筒に取付けられるため、この第1の保持枠69はレンズ
鏡筒に対しヨー方向62yに移動可能となる。又、ヨー
スライド軸65yと同軸にヨーコイルバネ66yが設け
られており、固定枠63と同様、中立位置付近に保持さ
れる。
【0007】また、前記固定枠63にはヨーコイル67
yが設けられており、ヨーコイル67yを挟む。ヨーマ
グネット610yとヨーヨーク611yの関連で固定枠
63はヨー方向62yにも駆動される。
yが設けられており、ヨーコイル67yを挟む。ヨーマ
グネット610yとヨーヨーク611yの関連で固定枠
63はヨー方向62yにも駆動される。
【0008】前記ヨーコイル67yにはヨースリット板
68yが設けられており、投光素子であるところのIR
ED612yとPSD613yの関連により、ピッチ方
向と同様、固定枠63のヨー方向62pの位置検出を行
うものとして作用する。
68yが設けられており、投光素子であるところのIR
ED612yとPSD613yの関連により、ピッチ方
向と同様、固定枠63のヨー方向62pの位置検出を行
うものとして作用する。
【0009】上記PSD613p,613yの出力は増
幅器615p,615yで増幅されて以下の述べる各回
路を介してコイル(ピッチコイル67y,ヨーコイル6
7y)に入力される。これにより、固定枠63が駆動さ
れて前記PSD613p,613yの出力が変化する。
幅器615p,615yで増幅されて以下の述べる各回
路を介してコイル(ピッチコイル67y,ヨーコイル6
7y)に入力される。これにより、固定枠63が駆動さ
れて前記PSD613p,613yの出力が変化する。
【0010】ここで、ピッチ,ヨーコイル67p,67
yの駆動方向(極性)をPSD613p,613yの出
力が小さくなる方向にする(負帰還)と、閉じた系(閉
ループ)が形成され、PSD613p,613yの出力
がほぼゼロになる点で安定する。
yの駆動方向(極性)をPSD613p,613yの出
力が小さくなる方向にする(負帰還)と、閉じた系(閉
ループ)が形成され、PSD613p,613yの出力
がほぼゼロになる点で安定する。
【0011】なお、上記増幅器615p,615yの後
段に配置される補償回路616p,616yは図11の
系をより安定化させる為の回路であり、駆動回路617
p,617yはピッチ,ヨーコイル67p,67yへの
印加電流を補う為の回路である。
段に配置される補償回路616p,616yは図11の
系をより安定化させる為の回路であり、駆動回路617
p,617yはピッチ,ヨーコイル67p,67yへの
印加電流を補う為の回路である。
【0012】そして、この様な系に外部から指令信号6
18p,618yが与えられると、補正レンズ61はピ
ッチ方62p向とヨー方向62yに指令信号に極めて忠
実に駆動される。
18p,618yが与えられると、補正レンズ61はピ
ッチ方62p向とヨー方向62yに指令信号に極めて忠
実に駆動される。
【0013】したがって、上記指令信号618p,61
8yを各々カメラの振れに応じた信号とし、これを入力
することにより、上記カメラの振れにより発生する像振
れをキャンセルすべく補正レンズ61をリアルタイムに
駆動可能となり、像振れ補正を行うことができる。
8yを各々カメラの振れに応じた信号とし、これを入力
することにより、上記カメラの振れにより発生する像振
れをキャンセルすべく補正レンズ61をリアルタイムに
駆動可能となり、像振れ補正を行うことができる。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来例では、補正レンズ61を同一平面内にて直交する2
つの軸方向(ピッチ,ヨー方向62p,62y)へ移動
可能とする為に、2本のスライド軸(65p,65y)
によりガイド保持されるジンバル構造となっている。そ
のため、構成が複雑となり、部品点数の増加及び組立工
数の増加等を招き、コストアップ,大型化という問題点
があった。
来例では、補正レンズ61を同一平面内にて直交する2
つの軸方向(ピッチ,ヨー方向62p,62y)へ移動
可能とする為に、2本のスライド軸(65p,65y)
によりガイド保持されるジンバル構造となっている。そ
のため、構成が複雑となり、部品点数の増加及び組立工
数の増加等を招き、コストアップ,大型化という問題点
があった。
【0015】また、カメラ振れを補正するためには数十
Hzという周波数帯域までの応答を必要とし、位置精度
も高精度な制御を要求されるため、摩擦及びガタの少な
い保持が必須となる。その様なスライド軸と軸受は高価
なものであるうえ、該スライド軸及び軸受けを構造部材
に精度良く固定するのも困難なものであった。
Hzという周波数帯域までの応答を必要とし、位置精度
も高精度な制御を要求されるため、摩擦及びガタの少な
い保持が必須となる。その様なスライド軸と軸受は高価
なものであるうえ、該スライド軸及び軸受けを構造部材
に精度良く固定するのも困難なものであった。
【0016】さらに、上記のスライド軸はその軸方向の
動きを許容すると同時にその軸回りの回動をも許容する
ため、この回転を規制する規制手段を必要とするが、該
規制方向は他方のスライド軸による規制方向と一致する
為、ダブル嵌合となってしまう。この様なダブル嵌合を
ガタなく高精度に保持するのは困難で、現実には調整等
が必要となり、この点でもコストアップの要因となるも
のであった。
動きを許容すると同時にその軸回りの回動をも許容する
ため、この回転を規制する規制手段を必要とするが、該
規制方向は他方のスライド軸による規制方向と一致する
為、ダブル嵌合となってしまう。この様なダブル嵌合を
ガタなく高精度に保持するのは困難で、現実には調整等
が必要となり、この点でもコストアップの要因となるも
のであった。
【0017】(発明の目的)本発明の目的は、構造物に
よる光学的補正手段の光軸回りの規制手段を排除し、像
振れの制御及びその性能を向上させると共に、構造の簡
素化、該装置の低価格化を達成することのできる像振れ
補正装置を提供することである。
よる光学的補正手段の光軸回りの規制手段を排除し、像
振れの制御及びその性能を向上させると共に、構造の簡
素化、該装置の低価格化を達成することのできる像振れ
補正装置を提供することである。
【0018】
【課題を解決するための手段】本発明は、駆動手段の駆
動力を、光学的補正手段をレンズ群の光軸に対し直交す
る面内で移動させる力として作用させる駆動方向規制手
段と、前記レンズ群の光軸回りの回転方向の規制を磁気
的に行い、前記光学的補正手段の駆動方向を、前記レン
ズ群の光軸に対し直交する面内の直交する2方向とする
磁気的規制手段とを備え、磁気力によりレンズ群の光軸
回りの回転方向の規制を行うようにしている。
動力を、光学的補正手段をレンズ群の光軸に対し直交す
る面内で移動させる力として作用させる駆動方向規制手
段と、前記レンズ群の光軸回りの回転方向の規制を磁気
的に行い、前記光学的補正手段の駆動方向を、前記レン
ズ群の光軸に対し直交する面内の直交する2方向とする
磁気的規制手段とを備え、磁気力によりレンズ群の光軸
回りの回転方向の規制を行うようにしている。
【0019】
【実施例】以下、本発明を図示の実施例に基づいて詳細
に説明する。
に説明する。
【0020】図1〜図5は本発明の第1の実施例に係る
図であり、図1は像振れ補正装置の機械的構成を示す分
解斜視図、図2は図1の断面図、図3は像振れ補正装置
の機械的構成及び電気的構成を示す図である。
図であり、図1は像振れ補正装置の機械的構成を示す分
解斜視図、図2は図1の断面図、図3は像振れ補正装置
の機械的構成及び電気的構成を示す図である。
【0021】図1乃至図3において、1は光軸の直角方
向に変位することにより像を移動させる補正レンズ、2
はその中央部に前記補正レンズ1を保持する補正レンズ
枠で、法線方向に伸びた複数の永久磁石部2aを有して
いる。3は前記永久磁石部2aをはさみ込むように配置
され、閉磁気回路を形成するヨークで、後述の地板7に
固着されている。4p,4yは巻線コイルで、前述の閉
磁気回路内に配置され、ヨーク3に固着されている。5
は静電容量センサで、ヨーク3に固着されている。6は
金属板で(図2参照)、前述の永久磁石部2aの外周部
に固着されている。
向に変位することにより像を移動させる補正レンズ、2
はその中央部に前記補正レンズ1を保持する補正レンズ
枠で、法線方向に伸びた複数の永久磁石部2aを有して
いる。3は前記永久磁石部2aをはさみ込むように配置
され、閉磁気回路を形成するヨークで、後述の地板7に
固着されている。4p,4yは巻線コイルで、前述の閉
磁気回路内に配置され、ヨーク3に固着されている。5
は静電容量センサで、ヨーク3に固着されている。6は
金属板で(図2参照)、前述の永久磁石部2aの外周部
に固着されている。
【0022】7は地板で、中央には被写体光を通す開口
部7bとその外周部に複数の突起部7aを有している。
8は押え板で、複数の突起8aと被写体光を通す開口部
8bを有しており、ヨーク3に固着されている。
部7bとその外周部に複数の突起部7aを有している。
8は押え板で、複数の突起8aと被写体光を通す開口部
8bを有しており、ヨーク3に固着されている。
【0023】9p,9yは静電容量センサ5を用いて補
正レンズ1(補正レンズ枠2)の位置を検出する位置検
出回路、10p,10yは指令信号に基づいて巻線コイ
ル4p,4yに電流を流して補正レンズ1(補正レンズ
枠2)を駆動する駆動回路、11p,11yは振れ検出
センサ等を用いてカメラの振れを検出する振れ検出回
路、12p,12yは振れ検出回路11p,11yの振
れ信号に基づいて補正レンズ1の駆動指令を発生する指
令信号発生回路である。
正レンズ1(補正レンズ枠2)の位置を検出する位置検
出回路、10p,10yは指令信号に基づいて巻線コイ
ル4p,4yに電流を流して補正レンズ1(補正レンズ
枠2)を駆動する駆動回路、11p,11yは振れ検出
センサ等を用いてカメラの振れを検出する振れ検出回
路、12p,12yは振れ検出回路11p,11yの振
れ信号に基づいて補正レンズ1の駆動指令を発生する指
令信号発生回路である。
【0024】図2に示す様に、補正レンズ枠2は前述の
突起部7a及び8aに微少な隙間をもってはさみ込まれ
ている。従って、補正レンズ1及び補正レンズ枠2は前
記突起部7a及び8aによって定められた光軸に直角な
平面内を自在に移動及び回転可能に保持されている。
突起部7a及び8aに微少な隙間をもってはさみ込まれ
ている。従って、補正レンズ1及び補正レンズ枠2は前
記突起部7a及び8aによって定められた光軸に直角な
平面内を自在に移動及び回転可能に保持されている。
【0025】永久磁石部2a及びヨーク3は閉磁気回路
を構成しており、該回路内の空隙部に配置された巻線コ
イル4p(4y)に電流を流せば、フレミングの左手の
法則に従って力を発生するが、巻線コイル4p(4y)
はヨーク3に固着されて動かないため、永久磁石部2a
側が動くことになる。巻線コイル4p及び4yは巻線方
向が各々直角方向になるよう配置されており、巻線コイ
ル4pにより永久磁石部2aは図1中矢印y方向に駆動
され、巻線コイル4yにより永久磁石部2aは図1中矢
印x方向に駆動される構成となっている。
を構成しており、該回路内の空隙部に配置された巻線コ
イル4p(4y)に電流を流せば、フレミングの左手の
法則に従って力を発生するが、巻線コイル4p(4y)
はヨーク3に固着されて動かないため、永久磁石部2a
側が動くことになる。巻線コイル4p及び4yは巻線方
向が各々直角方向になるよう配置されており、巻線コイ
ル4pにより永久磁石部2aは図1中矢印y方向に駆動
され、巻線コイル4yにより永久磁石部2aは図1中矢
印x方向に駆動される構成となっている。
【0026】このように補正レンズ1及び補正レンズ枠
2は光軸に直角な平面内を自在に駆動される構成となっ
ているが、光軸回りの回転方向のガイドがないために回
転方向にも動いてしまい、永久磁石部2aと巻線コイル
4p(4y)と当接する恐れがある。この場合には摩擦
の増大によりスムーズな動きが阻害されたり、巻線コイ
ル4p(4y)が断線してしまうという問題を生じる
が、本案の構成では、閉磁気回路による磁気力にて回転
方向の規制を行っている。
2は光軸に直角な平面内を自在に駆動される構成となっ
ているが、光軸回りの回転方向のガイドがないために回
転方向にも動いてしまい、永久磁石部2aと巻線コイル
4p(4y)と当接する恐れがある。この場合には摩擦
の増大によりスムーズな動きが阻害されたり、巻線コイ
ル4p(4y)が断線してしまうという問題を生じる
が、本案の構成では、閉磁気回路による磁気力にて回転
方向の規制を行っている。
【0027】すなわち、永久磁石部2aのN極から発生
した磁束はコの字形のヨーク3を通って再び永久磁石部
2aのS極に戻る閉磁気回路を形成しているので、永久
磁石部2aは磁気抵抗の最も少ない安定点に位置するよ
うに力が作用する。
した磁束はコの字形のヨーク3を通って再び永久磁石部
2aのS極に戻る閉磁気回路を形成しているので、永久
磁石部2aは磁気抵抗の最も少ない安定点に位置するよ
うに力が作用する。
【0028】具体的には、この実施例では、図4に示す
様に永久磁石部2aがヨーク3の中央部に位置する状態
が最も磁気抵抗が少ない。従って、補正レンズ枠2が回
転すると、図4に示す中立位置からずれているので中立
位置に戻す復元力が働く。かかる力は変位に応じた力で
あるので、その復元力以上の力が作用すれば当然回転運
動を生じてしまう。しかしながら、巻線コイル4p,4
yの発生する力は図4中のx,y方向のみであるので、
原理的には回転方向の力は生じない。実際には取付け誤
差等により発生するx,y方向に対するズレ成分や、補
正レンズ枠2のアンバランス成分を起因とする回転力等
が発生するが、その絶対値は小さい。従って、全く回転
方向には動かないというわけにはいかないが、許容可能
程度の回転量に抑えることは可能である。
様に永久磁石部2aがヨーク3の中央部に位置する状態
が最も磁気抵抗が少ない。従って、補正レンズ枠2が回
転すると、図4に示す中立位置からずれているので中立
位置に戻す復元力が働く。かかる力は変位に応じた力で
あるので、その復元力以上の力が作用すれば当然回転運
動を生じてしまう。しかしながら、巻線コイル4p,4
yの発生する力は図4中のx,y方向のみであるので、
原理的には回転方向の力は生じない。実際には取付け誤
差等により発生するx,y方向に対するズレ成分や、補
正レンズ枠2のアンバランス成分を起因とする回転力等
が発生するが、その絶対値は小さい。従って、全く回転
方向には動かないというわけにはいかないが、許容可能
程度の回転量に抑えることは可能である。
【0029】そこで問題となるのは、この回転による悪
影響である。
影響である。
【0030】本来目的とするところは、カメラの振れに
応じて補正レンズ1を光軸と直角方向に移動させること
により、像を動かして像振れを補正(キャンセル)する
ことにある。従って、補正レンズ1を光軸と直角方向の
面内で任意の位置に移動することができれば目的は達成
されることとなる。レンズ自体が回転することに関して
は、光軸に対して回転しても何ら悪影響を及ぼさないこ
とはレンズ自体が光軸に対して回転対称形であることか
ら明らかである。
応じて補正レンズ1を光軸と直角方向に移動させること
により、像を動かして像振れを補正(キャンセル)する
ことにある。従って、補正レンズ1を光軸と直角方向の
面内で任意の位置に移動することができれば目的は達成
されることとなる。レンズ自体が回転することに関して
は、光軸に対して回転しても何ら悪影響を及ぼさないこ
とはレンズ自体が光軸に対して回転対称形であることか
ら明らかである。
【0031】問題となるのは、補正レンズ1のx及びy
方向の位置検出である。従来例にて説明した様に、スリ
ットと投受光素子による位置検出では補正レンズ枠の回
転により出力が変化して正確な位置検出ができないた
め、任意の位置に補正レンズを移動させることができな
い。又、回転により位置出力が変化することはフィード
バック位置制御の発振をも招いてしまう。
方向の位置検出である。従来例にて説明した様に、スリ
ットと投受光素子による位置検出では補正レンズ枠の回
転により出力が変化して正確な位置検出ができないた
め、任意の位置に補正レンズを移動させることができな
い。又、回転により位置出力が変化することはフィード
バック位置制御の発振をも招いてしまう。
【0032】そこで本実施例では、図3に示す様な構成
の位置検出を行うことで、補正レンズ枠2が回転しても
正確な位置検出を行える様にしている。
の位置検出を行うことで、補正レンズ枠2が回転しても
正確な位置検出を行える様にしている。
【0033】つまり、補正レンズ枠2の永久磁石部2a
の外周部を補正レンズ1の光軸を中心とする円弧形状と
し、該外周部に同様の円弧を形成するように金属板6を
固着する。該金属板6に対向する位置に静電容量センサ
5を配置して静電容量を測定することで、金属板6と静
電容量センサ5との距離を測定する。金属板6は補正レ
ンズ1と同芯の円弧であるので該距離検出により補正レ
ンズ1(補正レンズ枠2)の位置を検出することになる
上に、補正レンズ枠2の回転によっても出力が変化せず
に正確な位置検出を可能としている。
の外周部を補正レンズ1の光軸を中心とする円弧形状と
し、該外周部に同様の円弧を形成するように金属板6を
固着する。該金属板6に対向する位置に静電容量センサ
5を配置して静電容量を測定することで、金属板6と静
電容量センサ5との距離を測定する。金属板6は補正レ
ンズ1と同芯の円弧であるので該距離検出により補正レ
ンズ1(補正レンズ枠2)の位置を検出することになる
上に、補正レンズ枠2の回転によっても出力が変化せず
に正確な位置検出を可能としている。
【0034】ところで、金属板6は曲率を持っているた
め、検出方向と直角方向に補正レンズ枠2が動くと検出
方向に誤差を生じることが考えられる。静電容量センサ
5の中心と補正レンズ枠2の中心がずれると、静電容量
センサ5の対向する金属板6との距離が変化するため、
有限な面積を持つセンサ面と対向する金属板6との間へ
静電容量の総和を検出する構成では出力が変化してしま
う。この様な検出方向と直角方向の動きにより生じる誤
差(クロストーク誤差)の大きさは、金属板6の曲率
(半径)により変り、位置検出系の必要分解能によりそ
の許容値が定まる。高精度な分解能を要求される場合に
はこのクロストーク誤差をも取除く必要がある。
め、検出方向と直角方向に補正レンズ枠2が動くと検出
方向に誤差を生じることが考えられる。静電容量センサ
5の中心と補正レンズ枠2の中心がずれると、静電容量
センサ5の対向する金属板6との距離が変化するため、
有限な面積を持つセンサ面と対向する金属板6との間へ
静電容量の総和を検出する構成では出力が変化してしま
う。この様な検出方向と直角方向の動きにより生じる誤
差(クロストーク誤差)の大きさは、金属板6の曲率
(半径)により変り、位置検出系の必要分解能によりそ
の許容値が定まる。高精度な分解能を要求される場合に
はこのクロストーク誤差をも取除く必要がある。
【0035】図5はこの第1の実施例における位置検出
手段である静電容量センサ5の構成を示した正面図であ
り、5a及び5bは電極板を示している。
手段である静電容量センサ5の構成を示した正面図であ
り、5a及び5bは電極板を示している。
【0036】この電極板5a及び5bは撮影光軸を原点
とするy軸に対し対称形及び対称配置されている。この
様な構成で、補正レンズ枠2がx方向に動くと、金属板
6と電極板5a及び6bとの距離は一方が近づけば他方
は遠くなるという差動の関係を保つので、クロストーク
誤差が相殺される。
とするy軸に対し対称形及び対称配置されている。この
様な構成で、補正レンズ枠2がx方向に動くと、金属板
6と電極板5a及び6bとの距離は一方が近づけば他方
は遠くなるという差動の関係を保つので、クロストーク
誤差が相殺される。
【0037】以上の構成において、補正レンズ1の駆動
制御について、図3を用いて説明する。
制御について、図3を用いて説明する。
【0038】カメラに生じた振れは振れ検出回路11p
(11y)にて検出され、該振れ信号に基づいて指令信
号発生回路12p(12y)により補正レンズ1を駆動
するべき位置を示す指令信号が発生される。この指令信
号に基づいて駆動回路10p(10y)によって巻線コ
イル4p(4y)への通電が行われ、その結果、電磁力
により永久磁石部2aに力が作用して補正レンズ枠2及
び補正レンズ1がx方向(y方向)に駆動する。補正レ
ンズ枠2の位置は位置検出回路9yにより検出され、指
令信号の示す目標値となるべく該位置信号が帰還される
フィードバック制御を行っている。該制御はリアルタイ
ムに行われ、カメラが振れても像は動かない、いわゆる
防振制御が行われることになる。
(11y)にて検出され、該振れ信号に基づいて指令信
号発生回路12p(12y)により補正レンズ1を駆動
するべき位置を示す指令信号が発生される。この指令信
号に基づいて駆動回路10p(10y)によって巻線コ
イル4p(4y)への通電が行われ、その結果、電磁力
により永久磁石部2aに力が作用して補正レンズ枠2及
び補正レンズ1がx方向(y方向)に駆動する。補正レ
ンズ枠2の位置は位置検出回路9yにより検出され、指
令信号の示す目標値となるべく該位置信号が帰還される
フィードバック制御を行っている。該制御はリアルタイ
ムに行われ、カメラが振れても像は動かない、いわゆる
防振制御が行われることになる。
【0039】(第2の実施例)図6〜図8は本発明の第
2の実施例に係る図であり、図6は像振れ補正装置の機
械的構成及び電気的構成を示す図である。なお、上記第
1の実施例と同じ部材には同一符号を付し、ここでの説
明は省略する。
2の実施例に係る図であり、図6は像振れ補正装置の機
械的構成及び電気的構成を示す図である。なお、上記第
1の実施例と同じ部材には同一符号を付し、ここでの説
明は省略する。
【0040】図6において、20は補正レンズ1と同芯
の円弧を形作る反射板で、その外周面は光を反射する鏡
面となっており、補正レンズ枠2の永久磁石2aの外周
部に固着されている。21はIREDで、通電により発
光する。22はIRED21の前面に配置されたマスク
板で、中央にスリット22aが形成されている。23は
光の当る位置により出力が変化するPSD、24p,2
4yはクロストーク方向の動きにより生じる誤差量を算
出するクロストーク補正量算出回路である。
の円弧を形作る反射板で、その外周面は光を反射する鏡
面となっており、補正レンズ枠2の永久磁石2aの外周
部に固着されている。21はIREDで、通電により発
光する。22はIRED21の前面に配置されたマスク
板で、中央にスリット22aが形成されている。23は
光の当る位置により出力が変化するPSD、24p,2
4yはクロストーク方向の動きにより生じる誤差量を算
出するクロストーク補正量算出回路である。
【0041】この第2の実施例は、上記第1の実施例に
対し位置検出方法が異なっており、その点についての説
明を行う。
対し位置検出方法が異なっており、その点についての説
明を行う。
【0042】位置検出回路9p(9y)によりIRED
21へ通電が行われると、マスク板22のスリット22
aを通過したスリット状の光束が反射板20に投射され
る。該投射光は反射板20の外周鏡面に反射されてPS
D23上にスリット像を形成する。
21へ通電が行われると、マスク板22のスリット22
aを通過したスリット状の光束が反射板20に投射され
る。該投射光は反射板20の外周鏡面に反射されてPS
D23上にスリット像を形成する。
【0043】補正レンズ1(補正レンズ枠2)が図6中
のy方向(x方向)へ移動すれば、前記投射光の反射位
置が変化し、PSD23上の前記スリット像も変化す
る。従って、PSD23上のスリット像の位置を検出す
ることで、補正レンズ1の位置を検出するいわゆる三角
測距が行われる。
のy方向(x方向)へ移動すれば、前記投射光の反射位
置が変化し、PSD23上の前記スリット像も変化す
る。従って、PSD23上のスリット像の位置を検出す
ることで、補正レンズ1の位置を検出するいわゆる三角
測距が行われる。
【0044】ここにおいて、反射板20は補正レンズ1
と同芯の円弧形状をしているので、第1の実施例と同
様、補正レンズ1(補正レンズ枠2)が光軸回りに回転
しても反射板20は光軸回りに回転対称なのでPSD2
3上のスリット像の位置は変らず、位置検出に誤差を生
じることはない。
と同芯の円弧形状をしているので、第1の実施例と同
様、補正レンズ1(補正レンズ枠2)が光軸回りに回転
しても反射板20は光軸回りに回転対称なのでPSD2
3上のスリット像の位置は変らず、位置検出に誤差を生
じることはない。
【0045】次に、クロストーク誤差について考える。
【0046】この第2の実施例におけるクロストーク誤
差の要因としては、前述第1の実施例と同様に反射板2
0の曲率により生じる距離変化の他に、IRED21の
投射光が反射板20の外周鏡面により反射される反射角
の変化が考えられる。
差の要因としては、前述第1の実施例と同様に反射板2
0の曲率により生じる距離変化の他に、IRED21の
投射光が反射板20の外周鏡面により反射される反射角
の変化が考えられる。
【0047】図7は図6の部分縦断面を示した図であ
り、IRED21とPSD23は光軸方向に重なる様に
配置されて三角測距を行っている。
り、IRED21とPSD23は光軸方向に重なる様に
配置されて三角測距を行っている。
【0048】この構成によれば、補正レンズ枠2が図中
上下方向(図6中y方向)へ動けば、PSD23上のス
リット像は図中左右方向へ移動するので、該スリット像
の位置からその変化量が求まる。
上下方向(図6中y方向)へ動けば、PSD23上のス
リット像は図中左右方向へ移動するので、該スリット像
の位置からその変化量が求まる。
【0049】補正レンズ枠2がクロストーク方向に動い
た場合、即ち、図7中紙面方向(図6中x方向)へ動い
た場合、投射光は反射面の曲率の変化により反射角が変
るので、スリット像は図7中紙面方向に移動するが、P
SD23の位置検出方向には移動しない。従って、マス
ク板22のスリット22aにより形成されるPSD23
上のスリット像が上記反射角変化によりけられることが
ない程度に紙面方向に長ければ、位置出力が変化するこ
とはない。
た場合、即ち、図7中紙面方向(図6中x方向)へ動い
た場合、投射光は反射面の曲率の変化により反射角が変
るので、スリット像は図7中紙面方向に移動するが、P
SD23の位置検出方向には移動しない。従って、マス
ク板22のスリット22aにより形成されるPSD23
上のスリット像が上記反射角変化によりけられることが
ない程度に紙面方向に長ければ、位置出力が変化するこ
とはない。
【0050】したがって、上記の構成によれば、クロス
トーク方向の動きにより反射角が変化しても、位置検出
に誤差を生じることはない。
トーク方向の動きにより反射角が変化しても、位置検出
に誤差を生じることはない。
【0051】次に、前述の第1の実施例と同様の、反射
板20の曲率により生じる距離変化に伴うクロストーク
誤差について考える。
板20の曲率により生じる距離変化に伴うクロストーク
誤差について考える。
【0052】図8は該クロストーク誤差を示した略図で
あり、図中、Oは補正レンズ2が撮影光軸中心に位置す
る時の原点、即ち撮影光軸で、Rは反射板20に相当す
る円である。
あり、図中、Oは補正レンズ2が撮影光軸中心に位置す
る時の原点、即ち撮影光軸で、Rは反射板20に相当す
る円である。
【0053】さてここで、原点Oが図8中左へx、下へ
yだけ移動した状態を考える。
yだけ移動した状態を考える。
【0054】この時、原点OはO1 へ移動し、円はR1
となる。y方向の位置を検出するPSD23は円RのP
点にて反射されて位置検出を行うが、該P点はP1 点に
移動し、移動後はP2 点の位置を検出することになる。
従って、この移動に伴い、y方向の位置検出系はPから
P2 までの(y+△y)の移動量を検出することにな
り、△yはクロストーク方向に補正レンズ枠2が動いた
ことによる誤差(クロストーク誤差)である。このクロ
ストーク誤差は円の半径をrとすると、 △y=r−√(r2 −x2 ) の式にて簡単に求まる。x方向の位置検出に関しても全
く同様である。
となる。y方向の位置を検出するPSD23は円RのP
点にて反射されて位置検出を行うが、該P点はP1 点に
移動し、移動後はP2 点の位置を検出することになる。
従って、この移動に伴い、y方向の位置検出系はPから
P2 までの(y+△y)の移動量を検出することにな
り、△yはクロストーク方向に補正レンズ枠2が動いた
ことによる誤差(クロストーク誤差)である。このクロ
ストーク誤差は円の半径をrとすると、 △y=r−√(r2 −x2 ) の式にて簡単に求まる。x方向の位置検出に関しても全
く同様である。
【0055】したがって、補正レンズ1を位置(x,
y)に移動したい場合は、位置検出系が[〔x+〔r−
√(r2 −y2 )〕,y+〔r−√(r2 −x2 )〕]
となる位置を目標として制御を行えば良い。
y)に移動したい場合は、位置検出系が[〔x+〔r−
√(r2 −y2 )〕,y+〔r−√(r2 −x2 )〕]
となる位置を目標として制御を行えば良い。
【0056】図6を用いて上記の制御動作について説明
する。
する。
【0057】カメラに生じた振れは振れ検出回路11p
(11y)にて検出され、該検出信号は指令信号発生回
路11p(11y)に出力されると同時にクロストーク
補正量算出回路24p(24y)にも出力される。クロ
ストーク補正量算出回路24p(24y)は、振れ検出
回路11pの出力に基づき、x(y)方向の補正量、即
ち前述の△x(△y)に相当する補正量を算出して指令
信号発生回路12y(12p)へ出力する。この信号を
受ける指令信号発生回路12p(12y)は、振れ検出
回路11p(11y)に検出された検出信号基づいた補
正量、即ち前述のy(x)に相当する値を算出し、クロ
ストーク補正量算出回路24y(24p)にて算出され
た補正量△y(△x)とから目標とすべき補正レンズ1
の位置 y+△y(x+△x) を出力する。
(11y)にて検出され、該検出信号は指令信号発生回
路11p(11y)に出力されると同時にクロストーク
補正量算出回路24p(24y)にも出力される。クロ
ストーク補正量算出回路24p(24y)は、振れ検出
回路11pの出力に基づき、x(y)方向の補正量、即
ち前述の△x(△y)に相当する補正量を算出して指令
信号発生回路12y(12p)へ出力する。この信号を
受ける指令信号発生回路12p(12y)は、振れ検出
回路11p(11y)に検出された検出信号基づいた補
正量、即ち前述のy(x)に相当する値を算出し、クロ
ストーク補正量算出回路24y(24p)にて算出され
た補正量△y(△x)とから目標とすべき補正レンズ1
の位置 y+△y(x+△x) を出力する。
【0058】駆動回路10p(10y)は該目標値に補
正レンズ枠2を位置せしめるべく前述第1実施例と同様
にフィードバック制御を行っており、よって、リアルタ
イムに防振制御が行われることになる。
正レンズ枠2を位置せしめるべく前述第1実施例と同様
にフィードバック制御を行っており、よって、リアルタ
イムに防振制御が行われることになる。
【0059】この第2の実施例で明らかなように、投受
光素子を用いた光学的な位置検出系を用いても、第1の
実施例と同様の効果を達成することができる。
光素子を用いた光学的な位置検出系を用いても、第1の
実施例と同様の効果を達成することができる。
【0060】(第3の実施例)図9及び10は本発明の
第3の実施例に係る図であり、図9は像振れ補正装置の
機械的構成及び電気的構成を示す図、図10は図9の部
分拡大図である。なお、上記第1及び第2の実施例と同
じ部材には同一符号を付し、その説明は省略する。
第3の実施例に係る図であり、図9は像振れ補正装置の
機械的構成及び電気的構成を示す図、図10は図9の部
分拡大図である。なお、上記第1及び第2の実施例と同
じ部材には同一符号を付し、その説明は省略する。
【0061】図9において、30は、前記第1及び第2
の実施例に記載の補正レンズ枠2に相当する補正レンズ
枠で、前述と同様に複数の永久磁石部30aを有すると
ともに複数の切欠穴部30bを形成している。31はガ
イド磁石で、前記切欠穴部30bの両端部に固着されて
いる。32は固定磁石で、前述したここでは不図示の地
板7に固着され、前記切欠穴部30bのほぼ中央部に位
置している。
の実施例に記載の補正レンズ枠2に相当する補正レンズ
枠で、前述と同様に複数の永久磁石部30aを有すると
ともに複数の切欠穴部30bを形成している。31はガ
イド磁石で、前記切欠穴部30bの両端部に固着されて
いる。32は固定磁石で、前述したここでは不図示の地
板7に固着され、前記切欠穴部30bのほぼ中央部に位
置している。
【0062】図10は前記切欠穴部30b回りの構成を
拡大した図であり、ガイド磁石31と固定磁石32の極
性が記してある。
拡大した図であり、ガイド磁石31と固定磁石32の極
性が記してある。
【0063】この図に示す様に、固定磁石32の両端の
極に対面するガイド磁石31の極は逆極になる様に配置
されている。従って、ガイド磁石31と固定磁石32の
間には常に反発力が作用しているので、補正レンズ1
(補正レンズ枠30)の回転は該磁気的反発力により規
制される。
極に対面するガイド磁石31の極は逆極になる様に配置
されている。従って、ガイド磁石31と固定磁石32の
間には常に反発力が作用しているので、補正レンズ1
(補正レンズ枠30)の回転は該磁気的反発力により規
制される。
【0064】このように、該第3の実施例では、上記第
1及び第2の実施例に較べて、光軸回りの回転運動を規
制する磁気的保持力の構成が異なっている。
1及び第2の実施例に較べて、光軸回りの回転運動を規
制する磁気的保持力の構成が異なっている。
【0065】その他の部分については第1及び第2の実
施例と同様に作用することで、この第3の実施例におい
ても、前記第1及び第2の実施例と同様の位置制御によ
り像振れ補正制御が達成される。
施例と同様に作用することで、この第3の実施例におい
ても、前記第1及び第2の実施例と同様の位置制御によ
り像振れ補正制御が達成される。
【0066】この第3の実施例の特徴としては、磁気的
保持力の作用方向が補正レンズ1の回転運動方向と同じ
なので、大きな保持力を得られるというメリットがあ
る。又、駆動系の磁気回路とは全く別の磁気回路を用い
ているので、被駆動物(補正レンズ)と永久磁石が一緒
に動くムービングマグネットタイプの駆動系に限らず、
被駆動物とコイルが一緒に動くムービングコイルタイプ
の駆動系であっても同様な像振れ補正制御を実現でき
る。
保持力の作用方向が補正レンズ1の回転運動方向と同じ
なので、大きな保持力を得られるというメリットがあ
る。又、駆動系の磁気回路とは全く別の磁気回路を用い
ているので、被駆動物(補正レンズ)と永久磁石が一緒
に動くムービングマグネットタイプの駆動系に限らず、
被駆動物とコイルが一緒に動くムービングコイルタイプ
の駆動系であっても同様な像振れ補正制御を実現でき
る。
【0067】本実施例によれば、補正レンズ群を、ジン
バル構造等の構造物による回転規制を設けることなく、
光軸に対し直交する面内を自在に移動する位置制御を可
能とする構成が実現できるので、回転規制を行う構造物
による摺動摩擦が無くなり、制御性の向上により性能が
向上する上に、機構の簡素化による部品及び組立工数の
減少から大幅な低価格化が達成される効果がある。
バル構造等の構造物による回転規制を設けることなく、
光軸に対し直交する面内を自在に移動する位置制御を可
能とする構成が実現できるので、回転規制を行う構造物
による摺動摩擦が無くなり、制御性の向上により性能が
向上する上に、機構の簡素化による部品及び組立工数の
減少から大幅な低価格化が達成される効果がある。
【0068】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
駆動手段の駆動力を、光学的補正手段をレンズ群の光軸
に対し直交する面内で移動させる力として作用させる駆
動方向規制手段と、前記レンズ群の光軸回りの回転方向
の規制を磁気的に行い、前記光学的補正手段の駆動方向
を、前記レンズ群の光軸に対し直交する面内の直交する
2方向とする磁気的規制手段とを備え、磁気力によりレ
ンズ群の光軸回りの回転方向の規制を行うようにしてい
る。
駆動手段の駆動力を、光学的補正手段をレンズ群の光軸
に対し直交する面内で移動させる力として作用させる駆
動方向規制手段と、前記レンズ群の光軸回りの回転方向
の規制を磁気的に行い、前記光学的補正手段の駆動方向
を、前記レンズ群の光軸に対し直交する面内の直交する
2方向とする磁気的規制手段とを備え、磁気力によりレ
ンズ群の光軸回りの回転方向の規制を行うようにしてい
る。
【0069】よって、構造物による光学的補正手段の光
軸回りの規制手段を排除し、像振れの制御及びその性能
を向上させると共に、構造の簡素化、該装置の低価格化
を達成することが可能となる。
軸回りの規制手段を排除し、像振れの制御及びその性能
を向上させると共に、構造の簡素化、該装置の低価格化
を達成することが可能となる。
【図1】図1は本発明の第1の実施例における像振れ補
正装置の機械的構成を示す分解斜視図である。
正装置の機械的構成を示す分解斜視図である。
【図2】図1の部分縦断面図である。
【図3】図1は本発明の第1の実施例における像振れ補
正装置の機械的構成及び電気的構成を示す図である。
正装置の機械的構成及び電気的構成を示す図である。
【図4】図1の補正レンズの中立位置を示す正面図であ
る。
る。
【図5】図1の静電容量センサについて説明するための
図である。
図である。
【図6】本発明の第2の実施例における像振れ補正装置
の機械的構成及び電気的構成を示す図である。
の機械的構成及び電気的構成を示す図である。
【図7】図6の部分縦断面図である。
【図8】本発明の第2の実施例において生じるクロスト
ーク誤差について説明するための図である。
ーク誤差について説明するための図である。
【図9】本発明の第3の実施例における像振れ補正装置
の機械的構成及び電気的構成を示す図である。
の機械的構成及び電気的構成を示す図である。
【図10】図9の部分拡大図である。
【図11】従来の像振れ補正装置の機械的構成及び電気
的構成を示す図である。
的構成を示す図である。
1 補正レンズ 2 補正レンズ枠 2a 永久磁石部 3 ヨーク 4p,4y 巻線コイル 5 静電容量センサ 6 金属板 7 地板 8 押え板 9p,9y 位置検出回路 10p,10y 駆動回路 11p,11y 振れ検出回路 12p,12y 指令信号発生回路 21 IRED 22 スリット板 23 PSD 30 補正レンズ枠 30a 永久磁石部
Claims (4)
- 【請求項1】 レンズ群の光軸を偏心させて像振れ補正
を行う光学的補正手段と、該光学的補正手段を駆動する
駆動手段と、該駆動手段の駆動力を、前記光学的補正手
段を前記レンズ群の光軸に対し直交する面内で移動させ
る力として作用させる駆動方向規制手段と、前記レンズ
群の光軸回りの回転方向の規制を磁気的に行い、前記光
学的補正手段の駆動方向を、前記レンズ群の光軸に対し
直交する面内の直交する2方向とする磁気的規制手段と
を備えた像振れ補正装置。 - 【請求項2】 磁気的規制手段は、光学的補正手段と一
体的に設けられた複数の永久磁石と、固定部材に保持さ
れ、前記永久磁石に対応して閉磁気回路を形成するヨー
クとから構成される手段であることを特徴とする請求項
1記載の像振れ補正装置。 - 【請求項3】 駆動手段は、光学的補正手段と一体的に
設けられた複数の永久磁石と、固定部材に保持され、前
記永久磁石に対応して閉磁気回路を形成するヨークとこ
の閉磁気回路内に配置される巻線コイルとから成り、前
記巻線コイルへの通電にて発生する電磁力により、前記
光学的補正手段の駆動方向を、レンズ群の光軸に対し直
交する面内の直交する2方向とする手段であることを特
徴とする請求項1又は2記載の像振れ補正装置。 - 【請求項4】 光学的補正手段と同芯かつ一体的に移動
する部材の位置を検出し、これを光学的補正手段の位置
信号として駆動手段に供する位置検出手段を具備したこ
とを特徴とする請求項2又は3記載の像振れ補正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4873193A JPH06242485A (ja) | 1993-02-16 | 1993-02-16 | 像振れ補正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4873193A JPH06242485A (ja) | 1993-02-16 | 1993-02-16 | 像振れ補正装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06242485A true JPH06242485A (ja) | 1994-09-02 |
Family
ID=12811440
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4873193A Pending JPH06242485A (ja) | 1993-02-16 | 1993-02-16 | 像振れ補正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06242485A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1026779A (ja) * | 1996-07-10 | 1998-01-27 | Canon Inc | 振れ補正装置 |
| JPH11305277A (ja) * | 1998-04-20 | 1999-11-05 | Canon Inc | 像ぶれ補正装置、光学機器、レンズ鏡筒および撮影装置 |
| EP1643756A3 (en) * | 2004-10-01 | 2007-03-21 | Tamron Co., Ltd. | Actuator, lens unit and camera with the same |
| JP2007529770A (ja) * | 2004-03-17 | 2007-10-25 | エシロール アテルナジオナール カンパニー ジェネラーレ デ オプティック | 光学レンズ面にコーティングを適用する方法および実施システム |
| JP2008051927A (ja) * | 2006-08-23 | 2008-03-06 | Ricoh Co Ltd | 像振れ補正装置及び撮像装置 |
| JP2009222899A (ja) * | 2008-03-14 | 2009-10-01 | Canon Inc | 像振れ補正装置 |
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| KR101521527B1 (ko) * | 2009-01-30 | 2015-05-19 | 삼성테크윈 주식회사 | 손떨림 보정장치 및 이를 구비한 디지털 촬영장치 |
-
1993
- 1993-02-16 JP JP4873193A patent/JPH06242485A/ja active Pending
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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