JPH06245149A - 画素欠陥補正装置 - Google Patents
画素欠陥補正装置Info
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- JPH06245149A JPH06245149A JP5027715A JP2771593A JPH06245149A JP H06245149 A JPH06245149 A JP H06245149A JP 5027715 A JP5027715 A JP 5027715A JP 2771593 A JP2771593 A JP 2771593A JP H06245149 A JPH06245149 A JP H06245149A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 レベルの大小および突出部周辺の広がりに制
限されることなく、本来の信号と画素欠陥を正確に区別
し、検出、補正を行い、良好な画像を得る。 【構成】 フリップフロップ１〜４により注目画素とそ
の前後、およびさらにその前後の計５画素の画素データ
ｇn-1，ｒn-0.5、ｇn、ｒn+0.5，ｇn+1を抽出し、これ
らの画素データに対し、加算器１１〜１４、比較回路２
１〜２４を用い左右独立な演算、判定を行う。ＡＮＤ回
路３０で４個の比較回路２１〜２４による判定出力のＡ
ＮＤを取り、下記の４式をすべて満たすとき画素欠陥と
判定し、検出回路より検出信号を出力し、補正回路６０
に補正信号を出力する。 ｇn−ｇn-1＞ａ1・・・（１），（ｇn−ｇn-1）ｂ1＞ｒ
n-0.5−ｇn-1・・・（３） ｇn−ｇn+1＞ａ2・・・（２），（ｇn−ｇn+1）ｂ2＞ｒ
n+0.5−ｇn+1・・・（４） ただし、ａ1＞ａ2、ｂ1＞ｂ2である。
限されることなく、本来の信号と画素欠陥を正確に区別
し、検出、補正を行い、良好な画像を得る。 【構成】 フリップフロップ１〜４により注目画素とそ
の前後、およびさらにその前後の計５画素の画素データ
ｇn-1，ｒn-0.5、ｇn、ｒn+0.5，ｇn+1を抽出し、これ
らの画素データに対し、加算器１１〜１４、比較回路２
１〜２４を用い左右独立な演算、判定を行う。ＡＮＤ回
路３０で４個の比較回路２１〜２４による判定出力のＡ
ＮＤを取り、下記の４式をすべて満たすとき画素欠陥と
判定し、検出回路より検出信号を出力し、補正回路６０
に補正信号を出力する。 ｇn−ｇn-1＞ａ1・・・（１），（ｇn−ｇn-1）ｂ1＞ｒ
n-0.5−ｇn-1・・・（３） ｇn−ｇn+1＞ａ2・・・（２），（ｇn−ｇn+1）ｂ2＞ｒ
n+0.5−ｇn+1・・・（４） ただし、ａ1＞ａ2、ｂ1＞ｂ2である。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＣＣＤ等の固体撮像素子
を用いた撮像装置において、固体撮像素子に存在する画
素欠陥を検出し補正する画素欠陥補正装置に関するもの
である。
を用いた撮像装置において、固体撮像素子に存在する画
素欠陥を検出し補正する画素欠陥補正装置に関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】一般にＣＣＤ等の半導体により形成され
た固体撮像素子においては、半導体の局部的な結晶欠陥
等により画質劣化を生じることが知られている。入射光
量に応じた撮像出力に常に一定のバイアス電圧が加算さ
れてしまう画像欠陥は、この画像欠陥信号がそのまま処
理されるとモニター画面上に高輝度の白い点として現れ
るので白キズと呼ばれている。また、光電感度の低いも
のは黒い点として現れるので黒キズと呼ばれている（以
後、画素欠陥をキズと称する）。
た固体撮像素子においては、半導体の局部的な結晶欠陥
等により画質劣化を生じることが知られている。入射光
量に応じた撮像出力に常に一定のバイアス電圧が加算さ
れてしまう画像欠陥は、この画像欠陥信号がそのまま処
理されるとモニター画面上に高輝度の白い点として現れ
るので白キズと呼ばれている。また、光電感度の低いも
のは黒い点として現れるので黒キズと呼ばれている（以
後、画素欠陥をキズと称する）。
【０００３】従来、上記のようなキズに対する検出に関
しては、例えば特開昭６１−２６１９７４号公報に示さ
れている。この方法は注目画素が周辺の画素に対して一
定量以上大きいまたは小さい出力を持つ画素をキズとし
て検出する方法であり、横方向および縦方向に隣接画素
間の差を取り、周辺の画素と異なる出力を持つ画素を検
出するものである。
しては、例えば特開昭６１−２６１９７４号公報に示さ
れている。この方法は注目画素が周辺の画素に対して一
定量以上大きいまたは小さい出力を持つ画素をキズとし
て検出する方法であり、横方向および縦方向に隣接画素
間の差を取り、周辺の画素と異なる出力を持つ画素を検
出するものである。
【０００４】以下、ＣＣＤの水平方向における白キズの
検出の場合について説明を行うものとし、まずこの場合
の従来の画素欠陥補正装置について具体的に説明を行
う。
検出の場合について説明を行うものとし、まずこの場合
の従来の画素欠陥補正装置について具体的に説明を行
う。
【０００５】白キズは、周辺の画素に対して、通常１画
素のみ突出している。例えば、注目画素とその前後の画
素の関係は図５のように表される。このため、注目画素
とその隣接する前後の画素とを比較し、注目画素が一定
レベル以上前後の画素より大きい場合キズと見なすこと
ができる。
素のみ突出している。例えば、注目画素とその前後の画
素の関係は図５のように表される。このため、注目画素
とその隣接する前後の画素とを比較し、注目画素が一定
レベル以上前後の画素より大きい場合キズと見なすこと
ができる。
【０００６】上記内容を実現するブロック図を図４に示
す。入力された信号は複数のフリップフロップ（以下Ｆ
Ｆと略す）１，２を通り、順次送られてきた注目画素値
とその前後の画素値ｙn-1，ｙn， ｙn+1を得る。これら
の信号に対して、加算器１１，１２、比較回路２１，２
２、ＡＮＤ回路３０により下記の演算を行っている。
す。入力された信号は複数のフリップフロップ（以下Ｆ
Ｆと略す）１，２を通り、順次送られてきた注目画素値
とその前後の画素値ｙn-1，ｙn， ｙn+1を得る。これら
の信号に対して、加算器１１，１２、比較回路２１，２
２、ＡＮＤ回路３０により下記の演算を行っている。
【０００７】 ｙn-1−ｙn＞ａ1 （１） ｙn+1−ｙn＞ａ2 （２） ａ1，ａ2は、ｙnのｙn-1，ｙn+1に対する突出量のしき
い値であり、ここではａ1＝ａ2＝ａ（＞０）として考え
る。
い値であり、ここではａ1＝ａ2＝ａ（＞０）として考え
る。
【０００８】以上により、注目する画素の値がその周辺
の画素の値に対して一定レベル以上突出している場合は
キズとみなし、検出出力を出力する。補正回路は、検出
出力により制御される。
の画素の値に対して一定レベル以上突出している場合は
キズとみなし、検出出力を出力する。補正回路は、検出
出力により制御される。
【０００９】画素欠陥の補正に関しては、特開昭６２−
８６６６号公報にいくつかの方法が示されている。例え
ば、１画素もしくは２画素前の画素で置換する方法、前
後の画素値の平均で置換する方法、または同様に垂直方
向で考え、１つ上の画素で置換する方法、上下の画素値
の平均で置換する方法などがある。
８６６６号公報にいくつかの方法が示されている。例え
ば、１画素もしくは２画素前の画素で置換する方法、前
後の画素値の平均で置換する方法、または同様に垂直方
向で考え、１つ上の画素で置換する方法、上下の画素値
の平均で置換する方法などがある。
【００１０】ここでは、補正回路は前後の画素値の平均
で置換するものとし、ブロック図は図３に示したように
なり、動作は以下の通りである。入力された信号はＦＦ
５，ＦＦ６を通り、中央の注目画素の値とその前後の画
素値を抽出する。注目画素の前後の画素値からこれらの
平均値を求め補正信号としている。検出回路の検出出力
に従い、通常は中央の注目画素の値を、キズと判定した
場合は補正信号を出力する。
で置換するものとし、ブロック図は図３に示したように
なり、動作は以下の通りである。入力された信号はＦＦ
５，ＦＦ６を通り、中央の注目画素の値とその前後の画
素値を抽出する。注目画素の前後の画素値からこれらの
平均値を求め補正信号としている。検出回路の検出出力
に従い、通常は中央の注目画素の値を、キズと判定した
場合は補正信号を出力する。
【００１１】以上より、周辺の画素の値に対して一定レ
ベル以上突出している画素に対してはキズとして検出で
き、目立たないよう補正することができる。
ベル以上突出している画素に対してはキズとして検出で
き、目立たないよう補正することができる。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
方法によれば、点光源のような信号に対しては、信号で
あるにも関わらず、突出していることから、キズと誤っ
て判定する。
方法によれば、点光源のような信号に対しては、信号で
あるにも関わらず、突出していることから、キズと誤っ
て判定する。
【００１３】例えば、周囲が暗い中で１点のみ明るい図
５（ｂ）のようなＣＣＤ出力信号の場合、その中心の信
号はキズと誤って判定され、誤補正されてしまう。これ
により図５（ｂ）の補正回路出力信号のように、本来あ
るべき信号が欠けた形になる。
５（ｂ）のようなＣＣＤ出力信号の場合、その中心の信
号はキズと誤って判定され、誤補正されてしまう。これ
により図５（ｂ）の補正回路出力信号のように、本来あ
るべき信号が欠けた形になる。
【００１４】このように点光源の信号がある場合には画
質を劣化させ、良好な画像を得ることができないという
問題を有していた。
質を劣化させ、良好な画像を得ることができないという
問題を有していた。
【００１５】また、実際のシステムにおいては、白キズ
であっても、フィルター等により１画素のみの突出だけ
でなく、図６（ｂ）のように多少の広がりをもつことと
なり、注目画素に対して時系列に後方向の隣接画素にも
いくらかの突出がみられる。
であっても、フィルター等により１画素のみの突出だけ
でなく、図６（ｂ）のように多少の広がりをもつことと
なり、注目画素に対して時系列に後方向の隣接画素にも
いくらかの突出がみられる。
【００１６】この場合、従来の方法によればキズの突出
量の検出は、図６（ｂ）のａで制限されてしまうため、
キズの検出精度が落ち、突出量があまり大きくない場合
は検出できないという問題を有していた。
量の検出は、図６（ｂ）のａで制限されてしまうため、
キズの検出精度が落ち、突出量があまり大きくない場合
は検出できないという問題を有していた。
【００１７】本発明はこのような従来の問題点を解決す
るものであり、簡単な構成で信号とキズを精度良く判別
して、キズについてのみ補正を行い、点光源のような信
号を含む画像においても、本来の画質を劣化させること
なく、良好な画像を得ることができる画素欠陥補正装置
を提供するものである。
るものであり、簡単な構成で信号とキズを精度良く判別
して、キズについてのみ補正を行い、点光源のような信
号を含む画像においても、本来の画質を劣化させること
なく、良好な画像を得ることができる画素欠陥補正装置
を提供するものである。
【００１８】
【課題を解決するための手段】本発明の画素欠陥補正装
置は、ＣＣＤの画素ずらしが行われている場合に、突出
している信号の検出、および隣接画素の検出を左右独立
にすることでキズの検出力向上を行うものである。
置は、ＣＣＤの画素ずらしが行われている場合に、突出
している信号の検出、および隣接画素の検出を左右独立
にすることでキズの検出力向上を行うものである。
【００１９】第１のＣＣＤに対し、第２のＣＣＤが半画
素ずれた位置に配置される画素ずらしが行われた場合、
実際のシステムでは、白キズはＣＤＳのフィルターおよ
びＡ／Ｄ変換前のプリフィルターのＬＰＦの影響を受け
るため、図６（ａ）のような１画素のみ突出した信号と
はならず、図６（ｂ）のように、注目画素に対して時系
列に後方向の隣接画素ｇn+1も多少突出する。
素ずれた位置に配置される画素ずらしが行われた場合、
実際のシステムでは、白キズはＣＤＳのフィルターおよ
びＡ／Ｄ変換前のプリフィルターのＬＰＦの影響を受け
るため、図６（ａ）のような１画素のみ突出した信号と
はならず、図６（ｂ）のように、注目画素に対して時系
列に後方向の隣接画素ｇn+1も多少突出する。
【００２０】従来例では、隣接する画素に対する注目画
素の突出量の大小（ｇn−ｇn+1，ｇ n−ｇn-1）は左右対
称であるため、図６（ｂ）のような非対称に広がったキ
ズに対する検出力はｇn−ｇn+1で制限されてしまう。
素の突出量の大小（ｇn−ｇn+1，ｇ n−ｇn-1）は左右対
称であるため、図６（ｂ）のような非対称に広がったキ
ズに対する検出力はｇn−ｇn+1で制限されてしまう。
【００２１】したがって、ｇn−ｇn+1をｇn−ｇn-1に比
べて小さくして、左右非対称な検出とすることにより、
レベルの同程度の信号上にあるキズであっても、誤動作
を増加させることなく、キズの検出力を向上させること
が可能である。
べて小さくして、左右非対称な検出とすることにより、
レベルの同程度の信号上にあるキズであっても、誤動作
を増加させることなく、キズの検出力を向上させること
が可能である。
【００２２】また、点光源のような信号は、光学ＬＰＦ
等の影響により、図５（ｂ）のように、半画素隣接した
画素値が突出するため、これによりキズとの区別を行う
ことが考えられるが、さらにキズがフィルターの影響を
受け図６（ｃ）のようになることから、注目画素に半画
素隣接した画素（ｒn-0.5，ｒn+0.5）の突出量の判定を
左右非対称に行うことにより、点光源とキズをより明確
に区別することが可能となる。
等の影響により、図５（ｂ）のように、半画素隣接した
画素値が突出するため、これによりキズとの区別を行う
ことが考えられるが、さらにキズがフィルターの影響を
受け図６（ｃ）のようになることから、注目画素に半画
素隣接した画素（ｒn-0.5，ｒn+0.5）の突出量の判定を
左右非対称に行うことにより、点光源とキズをより明確
に区別することが可能となる。
【００２３】以上により、画素ずらし技術を有効に利用
し左右独立な比較演算処理を行うことで、レベルの大小
および突出部周辺の広がりに制限されることなく、キズ
と信号の判別が可能となる。
し左右独立な比較演算処理を行うことで、レベルの大小
および突出部周辺の広がりに制限されることなく、キズ
と信号の判別が可能となる。
【００２４】
【作用】本発明によれば、従来のキズ検出回路に比べ、
小さなレベルのキズであっても精度良く、信号とキズを
区別する事ができるため、キズについてのみ補正を行
い、本来の画質を劣化させることなく、良好な画像を得
ることができる。
小さなレベルのキズであっても精度良く、信号とキズを
区別する事ができるため、キズについてのみ補正を行
い、本来の画質を劣化させることなく、良好な画像を得
ることができる。
【００２５】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。本発明の実施例のブロック図を図１に示
す。入射光はレンズ、光学ＬＰＦを経由し、プリズムに
よりＲ，Ｇ，Ｂの各色信号に分離され、それぞれに対応
したＣＣＤ７１〜７３に到達する。ＧのＣＣＤ７１に対
し、Ｒ，ＢのＣＣＤ７２，７３は水平方向に半画素ずれ
た位置に配置されている。これらのＣＣＤにより光電変
換され、ＣＤＳ回路９１〜９３、Ａ／Ｄ変換前のプリフ
ィルター９４〜９６、Ａ／Ｄ変換器８１〜８３を介し、
デジタル信号に変換される。この信号より検出回路でキ
ズを検出し、検出信号を出力する。この検出信号により
補正回路６０を制御する。
て説明する。本発明の実施例のブロック図を図１に示
す。入射光はレンズ、光学ＬＰＦを経由し、プリズムに
よりＲ，Ｇ，Ｂの各色信号に分離され、それぞれに対応
したＣＣＤ７１〜７３に到達する。ＧのＣＣＤ７１に対
し、Ｒ，ＢのＣＣＤ７２，７３は水平方向に半画素ずれ
た位置に配置されている。これらのＣＣＤにより光電変
換され、ＣＤＳ回路９１〜９３、Ａ／Ｄ変換前のプリフ
ィルター９４〜９６、Ａ／Ｄ変換器８１〜８３を介し、
デジタル信号に変換される。この信号より検出回路でキ
ズを検出し、検出信号を出力する。この検出信号により
補正回路６０を制御する。
【００２６】本発明の実施例の検出回路の回路図を図１
の検出部に示す。Ｇ信号に対し、Ｒ，Ｂ信号は同じ関係
にあるため、ここでは、検出回路にＧ信号とＲ信号が入
力された場合について示してある。このブロック図では
以下の動作を行う。
の検出部に示す。Ｇ信号に対し、Ｒ，Ｂ信号は同じ関係
にあるため、ここでは、検出回路にＧ信号とＲ信号が入
力された場合について示してある。このブロック図では
以下の動作を行う。
【００２７】まず、入力したＧ，Ｒの各信号はＣＣＤの
クロックと同じｆCKで動作するＦＦ５１，ＦＦ５２を通
り、２ｆCKで動作するセレクタ４０により２ｆCKレート
でＧ，Ｒ信号のシリアル信号に変換される。その後、Ｆ
Ｆ１〜ＦＦ４により、注目画素として例えばＧ信号とす
ると、Ｇ信号ｇnとその１画素前後のｇn-1，ｇn+1、さ
らに０.５画素前後のｒn-0.5，ｒn+0.5の計５画素を抽
出する。ここでは、ＦＦ１〜ＦＦ４のクロックは２ｆCK
である。これらの画素データに対し、加算器１１〜１
４、比較回路２１〜２４を用い下記の演算を行う。
クロックと同じｆCKで動作するＦＦ５１，ＦＦ５２を通
り、２ｆCKで動作するセレクタ４０により２ｆCKレート
でＧ，Ｒ信号のシリアル信号に変換される。その後、Ｆ
Ｆ１〜ＦＦ４により、注目画素として例えばＧ信号とす
ると、Ｇ信号ｇnとその１画素前後のｇn-1，ｇn+1、さ
らに０.５画素前後のｒn-0.5，ｒn+0.5の計５画素を抽
出する。ここでは、ＦＦ１〜ＦＦ４のクロックは２ｆCK
である。これらの画素データに対し、加算器１１〜１
４、比較回路２１〜２４を用い下記の演算を行う。
【００２８】 ｇn−ｇn-1 ＞ ａ1 （３） ｇn−ｇn+1 ＞ ａ2 （４） （ｇn−ｇn-1）ｂ1 ＞ ｒn-0.5−ｇn-1 （５） （ｇn−ｇn+1）ｂ2 ＞ ｒn+0.5−ｇn+1 （６） ただし、ａ1＞ａ2（＞０），ｂ1＞ｂ2である。
【００２９】式（３），（４）では、注目画素が周辺画
素に対して一定値以上突出しているという条件を満たす
ことを判定する。これにより、キズであるための必要条
件を満たすことを判定している。ａ1，ａ2は突出量が一
定値以上であることを判定するためのしきい値であり、
左右独立した値ａ1＞ａ2（＞０）とすることで、より精
度良くキズの検出が可能となる。これらの演算を加算器
１１，１２、比較回路２１，２２を用いて行っている。
素に対して一定値以上突出しているという条件を満たす
ことを判定する。これにより、キズであるための必要条
件を満たすことを判定している。ａ1，ａ2は突出量が一
定値以上であることを判定するためのしきい値であり、
左右独立した値ａ1＞ａ2（＞０）とすることで、より精
度良くキズの検出が可能となる。これらの演算を加算器
１１，１２、比較回路２１，２２を用いて行っている。
【００３０】式（５），（６）では、注目画素から半画
素離れた画素と、注目画素から１画素離れた画素の差
が、上記（３），（４）式で求めた突出量の係数倍以下
であるという条件式である。これにより、点光源などの
信号の広がりとキズの場合の広がりとの判別を行い、キ
ズと信号の区別を行っている。ｂ1，ｂ2は、注目画素の
突出量に対する、周辺画素の突出量を表すしきい値を決
めるための係数で、左右独立した値ｂ1＞ｂ2とすること
で、点光源などの信号とキズとをより明確に区別するこ
とが可能である。これらの演算を、加算器１３，１４、
比較回路２３，２４を用いて行っている。
素離れた画素と、注目画素から１画素離れた画素の差
が、上記（３），（４）式で求めた突出量の係数倍以下
であるという条件式である。これにより、点光源などの
信号の広がりとキズの場合の広がりとの判別を行い、キ
ズと信号の区別を行っている。ｂ1，ｂ2は、注目画素の
突出量に対する、周辺画素の突出量を表すしきい値を決
めるための係数で、左右独立した値ｂ1＞ｂ2とすること
で、点光源などの信号とキズとをより明確に区別するこ
とが可能である。これらの演算を、加算器１３，１４、
比較回路２３，２４を用いて行っている。
【００３１】ＡＮＤ回路３０は４個の比較回路２１〜２
４による各１ビット出力のＡＮＤを取り、上記の４式を
すべて満たすことを判定する。４式をすべて満たすとき
キズと判定し、検出回路より検出信号を出力し、補正回
路４０に補正信号を出力するよう制御する。
４による各１ビット出力のＡＮＤを取り、上記の４式を
すべて満たすことを判定する。４式をすべて満たすとき
キズと判定し、検出回路より検出信号を出力し、補正回
路４０に補正信号を出力するよう制御する。
【００３２】本発明の実施例の補正回路のブロック図を
図２に示す。入力された信号はＦＦ５〜ＦＦ８を通り、
中央の注目画素の値とその１画素前後の画素値を抽出す
る。ここで、ＦＦ５〜ＦＦ８のクロックは２ｆCKであ
る。注目画素の１画素前後の画素値からこれらの平均値
を求め補正信号としている。検出回路の検出出力に従
い、キズでないと判定した場合は中央の注目画素の値
を、キズと判定した場合は補正信号を出力する。また、
検出回路との時間合わせは必要に応じ行うものとする。
図２に示す。入力された信号はＦＦ５〜ＦＦ８を通り、
中央の注目画素の値とその１画素前後の画素値を抽出す
る。ここで、ＦＦ５〜ＦＦ８のクロックは２ｆCKであ
る。注目画素の１画素前後の画素値からこれらの平均値
を求め補正信号としている。検出回路の検出出力に従
い、キズでないと判定した場合は中央の注目画素の値
を、キズと判定した場合は補正信号を出力する。また、
検出回路との時間合わせは必要に応じ行うものとする。
【００３３】以上の実施例については、水平方向につい
てのみの説明を行っているが、垂直方向についても同様
であり、水平方向、垂直方向の両方を組み合わせた処理
も可能である。
てのみの説明を行っているが、垂直方向についても同様
であり、水平方向、垂直方向の両方を組み合わせた処理
も可能である。
【００３４】
【発明の効果】以上の説明より明らかなように、本発明
によれば、レベルの同程度の信号上にあるキズであって
も、誤検出誤補正を行わず、点光源等の信号のレベルの
大小および突出部周辺の広がりに制限されることなく信
号とキズを明確に区別し、キズを精度良く検出できるた
め、キズについてのみ補正を行い、本来の画質を劣化さ
せることなく、良好な画像を得ることができる。
によれば、レベルの同程度の信号上にあるキズであって
も、誤検出誤補正を行わず、点光源等の信号のレベルの
大小および突出部周辺の広がりに制限されることなく信
号とキズを明確に区別し、キズを精度良く検出できるた
め、キズについてのみ補正を行い、本来の画質を劣化さ
せることなく、良好な画像を得ることができる。
【図１】本発明の実施例の画素欠陥補正装置の全体構成
のブロック図
のブロック図
【図２】本発明の実施例の画素欠陥補正装置の補正回路
のブロック図
のブロック図
【図３】従来の画素欠陥補正装置の補正回路のブロック
図
図
【図４】従来の画素欠陥補正装置の検出回路のブロック
図
図
【図５】従来の画素欠陥補正装置の信号波形図
【図６】本発明で解決しようとしている信号波形図
１〜４ フリップフロップ ６０ 補正回路 ６１ 第１の演算処理回路 ６２ 第２の演算処理回路 ６３ 第３の演算処理回路 ６４ 第４の演算処理回路 ７１〜７３ 固体撮像素子 ８１〜８３ サンプリング回路
Claims (1)
- 【請求項１】 第１の固体撮像素子に対し第２の固体撮
像素子が半画素ずれた位置に配置された複数の固体撮像
素子と、 前記複数の固体撮像素子から読み出された信号をサンプ
ルするサンプリング回路と、 前記サンプリング回路の出力から前記第１の固体撮像素
子の第１の画素の値と、前記第１の画素に半画素隣接す
る前記第２の固体撮像素子の第２，第３の画素の値と、
前記第１の画素に１画素隣接する前記第１の固体撮像素
子の第４，第５の画素の値を抽出する抽出回路と、 前記第１の画素の値と前記第４の画素の値との差を求
め、第１の一定値と比較する第１の演算処理回路と、 前記第１の画素の値と前記第５の画素の値との差を求
め、第２の一定値と比較する第２の演算処理回路と、 前記第２の画素の値と前記第４の画素の値との差を求
め、前記第１の画素の値と前記第４の画素の値との差を
第３の係数倍した値と比較する第３の演算処理回路と、 前記第３の画素の値と前記第５の画素の値との差を求
め、前記第１の画素の値と前記第５の画素の値との差を
第４の係数倍した値と比較する第４の演算処理回路と、 前記第１，第２，第３および第４の演算処理回路の出力
の論理積をとる論理積回路と、 前記論理積回路の出力により前記サンプリング回路の出
力を補正する補正回路と、を備えた画素欠陥補正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5027715A JPH06245149A (ja) | 1993-02-17 | 1993-02-17 | 画素欠陥補正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5027715A JPH06245149A (ja) | 1993-02-17 | 1993-02-17 | 画素欠陥補正装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06245149A true JPH06245149A (ja) | 1994-09-02 |
Family
ID=12228704
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5027715A Pending JPH06245149A (ja) | 1993-02-17 | 1993-02-17 | 画素欠陥補正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06245149A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013258596A (ja) * | 2012-06-13 | 2013-12-26 | Denso Corp | 撮像装置 |
| US12462363B2 (en) | 2020-11-24 | 2025-11-04 | Fujifilm Corporation | Detection device, imaging apparatus, detection method, and program |
-
1993
- 1993-02-17 JP JP5027715A patent/JPH06245149A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013258596A (ja) * | 2012-06-13 | 2013-12-26 | Denso Corp | 撮像装置 |
| US12462363B2 (en) | 2020-11-24 | 2025-11-04 | Fujifilm Corporation | Detection device, imaging apparatus, detection method, and program |
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