JPH06249447A - 高周波加熱装置とそれを用いたパン検知方法 - Google Patents
高周波加熱装置とそれを用いたパン検知方法Info
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- JPH06249447A JPH06249447A JP3867893A JP3867893A JPH06249447A JP H06249447 A JPH06249447 A JP H06249447A JP 3867893 A JP3867893 A JP 3867893A JP 3867893 A JP3867893 A JP 3867893A JP H06249447 A JPH06249447 A JP H06249447A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 加熱室内に放射されたマイクロ波の検波電圧
強度を測定することによって、加熱室内の食品の量と初
期状態を確実に把握し、その状態に対応した適切な調理
の自動化を行なわせる高周波加熱装置を提供することを
目的とする。 【構成】 この発明は、食品を収納する加熱室と、食品
を載せるテーブルと、食品を加熱する抵抗加熱手段と、
抵抗加熱手段の動作制御を行う加熱駆動手段と、加熱室
に食品検出用のマイクロ波を供給するマイクロ波発生手
段と、マイクロ波発生手段の発振制御を行う発振駆動手
段と、加熱室の天板の開口を介して漏れ出すマイクロ波
を検波して電圧として出力するマイクロ波検出手段と、
マイクロ波の検波電圧から加熱室内の食品の状態を判定
しかつ加熱駆動手段の制御を行う制御手段から構成され
る。
強度を測定することによって、加熱室内の食品の量と初
期状態を確実に把握し、その状態に対応した適切な調理
の自動化を行なわせる高周波加熱装置を提供することを
目的とする。 【構成】 この発明は、食品を収納する加熱室と、食品
を載せるテーブルと、食品を加熱する抵抗加熱手段と、
抵抗加熱手段の動作制御を行う加熱駆動手段と、加熱室
に食品検出用のマイクロ波を供給するマイクロ波発生手
段と、マイクロ波発生手段の発振制御を行う発振駆動手
段と、加熱室の天板の開口を介して漏れ出すマイクロ波
を検波して電圧として出力するマイクロ波検出手段と、
マイクロ波の検波電圧から加熱室内の食品の状態を判定
しかつ加熱駆動手段の制御を行う制御手段から構成され
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、高周波加熱装置に関
し、特に、トースタレンジ等にマイクロ波を発生させる
装置及び検出する装置を備えて食品の状態を検知するこ
とのできる高周波加熱装置に関する。
し、特に、トースタレンジ等にマイクロ波を発生させる
装置及び検出する装置を備えて食品の状態を検知するこ
とのできる高周波加熱装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、高周波加熱装置は、加熱室の底面
上に配されたテーブルの上に調理対象となる食品をの
せ、加熱室の内部に導入せしめたマイクロ波の作用によ
り加熱調理するものである。
上に配されたテーブルの上に調理対象となる食品をの
せ、加熱室の内部に導入せしめたマイクロ波の作用によ
り加熱調理するものである。
【0003】一方、トースタレンジは、加熱室内でパン
を載せる台の上方又は下方に取り付けられたヒーターに
より加熱調理するものである。高周波加熱装置及びトー
スタレンジでは、重量センサによる重量検出によって収
納された食品の量又はパンの枚数を測定し適切な調理時
間を判定して自動運転するものがある。
を載せる台の上方又は下方に取り付けられたヒーターに
より加熱調理するものである。高周波加熱装置及びトー
スタレンジでは、重量センサによる重量検出によって収
納された食品の量又はパンの枚数を測定し適切な調理時
間を判定して自動運転するものがある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、高周波加熱装
置においてパンを焼く場合、、マイクロ波による加熱だ
けでは、パンがひからびるため、単にトースタとして利
用することは不都合であった。
置においてパンを焼く場合、、マイクロ波による加熱だ
けでは、パンがひからびるため、単にトースタとして利
用することは不都合であった。
【0005】また、トースタにおいて、重量検知によっ
てパンの枚数を判断し、調理時間を決めているだけで
は、パンが冷凍されている場合など、加熱室に収納され
たパンの初期温度の違いは考慮されていないため、調理
がうまくできないこともある。さらに、加熱室内部の湿
度を測定する湿度センサをトースタに取り付けて、収納
されたパンの冷凍状態等を判定しても、パン自体の水分
量が少ないため、パンの枚数を確実に判断することは難
しく、調理時間の自動調整も困難である。
てパンの枚数を判断し、調理時間を決めているだけで
は、パンが冷凍されている場合など、加熱室に収納され
たパンの初期温度の違いは考慮されていないため、調理
がうまくできないこともある。さらに、加熱室内部の湿
度を測定する湿度センサをトースタに取り付けて、収納
されたパンの冷凍状態等を判定しても、パン自体の水分
量が少ないため、パンの枚数を確実に判断することは難
しく、調理時間の自動調整も困難である。
【0006】この発明は、以上のような事情を考慮して
なされたものであり、加熱室内に供給されたマイクロ波
の電圧強度を測定することによって加熱室内の食品の量
と食品の初期状態を確実に把握し、その量及び状態に対
応した適切な調理の自動化を可能とする高周波加熱装置
を提供することを目的とする。
なされたものであり、加熱室内に供給されたマイクロ波
の電圧強度を測定することによって加熱室内の食品の量
と食品の初期状態を確実に把握し、その量及び状態に対
応した適切な調理の自動化を可能とする高周波加熱装置
を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】図1にこの発明の構成ブ
ロック図を示す。同図に示すように、この発明は、食品
を収納する加熱室1と、加熱室内にあって食品を載せる
テーブル2と、前記加熱室に備えられ食品を加熱する抵
抗加熱手段3と、抵抗加熱手段3の動作制御を行う加熱
駆動手段4と、加熱室に食品検出用のマイクロ波を供給
するマイクロ波発生手段5と、マイクロ波発生手段5の
発振制御を行う発振駆動手段6と、加熱室の天板の開口
を介して漏れ出すマイクロ波を検波して電圧として出力
するマイクロ波検出手段7と、検出されたマイクロ波の
検波電圧から加熱室内の食品の状態を判定しかつ加熱駆
動手段4の制御を行う制御手段8を備えてなる高周波加
熱装置を提供するものである。
ロック図を示す。同図に示すように、この発明は、食品
を収納する加熱室1と、加熱室内にあって食品を載せる
テーブル2と、前記加熱室に備えられ食品を加熱する抵
抗加熱手段3と、抵抗加熱手段3の動作制御を行う加熱
駆動手段4と、加熱室に食品検出用のマイクロ波を供給
するマイクロ波発生手段5と、マイクロ波発生手段5の
発振制御を行う発振駆動手段6と、加熱室の天板の開口
を介して漏れ出すマイクロ波を検波して電圧として出力
するマイクロ波検出手段7と、検出されたマイクロ波の
検波電圧から加熱室内の食品の状態を判定しかつ加熱駆
動手段4の制御を行う制御手段8を備えてなる高周波加
熱装置を提供するものである。
【0008】ここで、食品をのせるテーブル2は、食品
を一様に加熱するために、電子レンジで通常用いられて
いる回転式のターンテーブルが望ましい。抵抗加熱手段
3は、パン等を加熱させるために赤外線又はニクロム線
のヒータを用いることが好ましい。
を一様に加熱するために、電子レンジで通常用いられて
いる回転式のターンテーブルが望ましい。抵抗加熱手段
3は、パン等を加熱させるために赤外線又はニクロム線
のヒータを用いることが好ましい。
【0009】マイクロ波発生手段5としては、通常マグ
ネトロンが用いられる。また、加熱駆動手段4及び発振
駆動手段6は、制御手段8からの制御信号によって加熱
又は発振のオン・オフもしくは加熱又は発振の出力の調
整を行わせることができる半導体スイッチ素子やリレー
を含む電子回路から構成される。
ネトロンが用いられる。また、加熱駆動手段4及び発振
駆動手段6は、制御手段8からの制御信号によって加熱
又は発振のオン・オフもしくは加熱又は発振の出力の調
整を行わせることができる半導体スイッチ素子やリレー
を含む電子回路から構成される。
【0010】マイクロ波検出手段7は、通常マイクロ波
を受信する線状の受信アンテナとこの受信アンテナによ
って受信された波を直流検波する検波回路から構成され
る。
を受信する線状の受信アンテナとこの受信アンテナによ
って受信された波を直流検波する検波回路から構成され
る。
【0011】制御手段8は、CPU(中央制御装置)を
中心として、アナログ信号とデジタル信号の入出力変換
を行なう回路及び、入力信号を利用した食品の状態の判
定、加熱等の制御を行なう手順および食品状態に対応し
た加熱出力、加熱時間の条件が記憶された記憶素子等で
構成される。
中心として、アナログ信号とデジタル信号の入出力変換
を行なう回路及び、入力信号を利用した食品の状態の判
定、加熱等の制御を行なう手順および食品状態に対応し
た加熱出力、加熱時間の条件が記憶された記憶素子等で
構成される。
【0012】
【作用】加熱室1内のテーブル上に食品をのせた後、マ
イクロ波発生手段5によって、一定時間加熱室内にマイ
クロ波を発生させる。このとき、加熱室1内の天板の開
口を介して漏れ出たマイクロ波の検波電圧をマイクロ波
検出手段7によって検出する。
イクロ波発生手段5によって、一定時間加熱室内にマイ
クロ波を発生させる。このとき、加熱室1内の天板の開
口を介して漏れ出たマイクロ波の検波電圧をマイクロ波
検出手段7によって検出する。
【0013】上記マイクロ波の検出を一定時間ごとに複
数回行い、制御手段8は、あらかじめ設定された検波電
圧のしきい値とマイクロ波検出手段7によって測定され
た検波電圧との比較および前記測定された複数の検波電
圧の時間的変化から収納された食品の状態を判定する。
次に、制御手段8はこの食品状態の判定結果からあらか
じめ記憶されていた加熱出力の調整および加熱時間の設
定を行い、抵抗加熱手段3によって調理を行わせる。
数回行い、制御手段8は、あらかじめ設定された検波電
圧のしきい値とマイクロ波検出手段7によって測定され
た検波電圧との比較および前記測定された複数の検波電
圧の時間的変化から収納された食品の状態を判定する。
次に、制御手段8はこの食品状態の判定結果からあらか
じめ記憶されていた加熱出力の調整および加熱時間の設
定を行い、抵抗加熱手段3によって調理を行わせる。
【0014】この発明によれば、以上のように抵抗加熱
手段3による加熱調理を行わせる前に、加熱室内にマイ
クロ波を放射させ、そのマイクロ波の検波電圧を測定し
ているので、加熱室内の食品の量と食品の初期状態を確
実に把握でき、その量及び状態に対応した適切な調理の
自動化をすることが可能である。
手段3による加熱調理を行わせる前に、加熱室内にマイ
クロ波を放射させ、そのマイクロ波の検波電圧を測定し
ているので、加熱室内の食品の量と食品の初期状態を確
実に把握でき、その量及び状態に対応した適切な調理の
自動化をすることが可能である。
【0015】
【実施例】以下、図面に示す実施例に基づいて、この発
明を詳述する。なお、これによって、この発明が限定さ
れるものではない。図2に、この発明の高周波加熱装置
の一実施例の構成図を示す。
明を詳述する。なお、これによって、この発明が限定さ
れるものではない。図2に、この発明の高周波加熱装置
の一実施例の構成図を示す。
【0016】同図において、21は被加熱物である食
品、22は食品21を収納する加熱室、23は加熱室の
底部に設けられ食品21を載せるターンテーブルであ
り、ターンテーブル23は加熱室外部に配したターンテ
ーブルモータ24により回転させられ、ターンテーブル
23上の食品21が均一に加熱される。
品、22は食品21を収納する加熱室、23は加熱室の
底部に設けられ食品21を載せるターンテーブルであ
り、ターンテーブル23は加熱室外部に配したターンテ
ーブルモータ24により回転させられ、ターンテーブル
23上の食品21が均一に加熱される。
【0017】また、加熱室22の上方の壁面に上部ヒー
タ25を、ターンテーブル23の下部に下部ヒータ26
を設け、食品を加熱する。また、加熱室22の天板27
には、ターンテーブル23の中央部に臨ませて導波口2
8が開口されており、天板27の導波口28の外面側
に、加熱室から漏れ出してくるマイクロ波を検出するマ
イクロ波センサ29が取り付けられた検出部30が設け
られる。
タ25を、ターンテーブル23の下部に下部ヒータ26
を設け、食品を加熱する。また、加熱室22の天板27
には、ターンテーブル23の中央部に臨ませて導波口2
8が開口されており、天板27の導波口28の外面側
に、加熱室から漏れ出してくるマイクロ波を検出するマ
イクロ波センサ29が取り付けられた検出部30が設け
られる。
【0018】マイクロ波センサ29は、加熱中の食品2
1に吸収されることなく加熱室22内部に定在し、導波
口28から漏れ出るマイクロ波を直流検波してその検知
レベルに応じた検波電圧を出力するものである。
1に吸収されることなく加熱室22内部に定在し、導波
口28から漏れ出るマイクロ波を直流検波してその検知
レベルに応じた検波電圧を出力するものである。
【0019】増幅部31は、マイクロ波センサ29から
出力された検波電圧を増幅し、制御部32へその出力を
与えるものである。制御部32は、増幅部31から入力
された検波電圧に基づいて、収納されている食品21の
状態を判断し、高周波放射源であるマグネトロン35を
オン・オフするマグネトロン駆動部33、マグネトロン
35を冷却する冷却ファン36、上記ヒータ25、26
のオン・オフ及び出力の調整を行うヒータ駆動部34、
及び上記ターンテーブルモータ34の動作を制御するも
のである。
出力された検波電圧を増幅し、制御部32へその出力を
与えるものである。制御部32は、増幅部31から入力
された検波電圧に基づいて、収納されている食品21の
状態を判断し、高周波放射源であるマグネトロン35を
オン・オフするマグネトロン駆動部33、マグネトロン
35を冷却する冷却ファン36、上記ヒータ25、26
のオン・オフ及び出力の調整を行うヒータ駆動部34、
及び上記ターンテーブルモータ34の動作を制御するも
のである。
【0020】この制御部32は、CPU、加熱動作等の
手段手順(プログラム)があらかじめ記憶されているメ
モリ及び検波電圧等のアナログ信号とデジタル信号の入
出力の変換を行なう回路素子等から構成される。
手段手順(プログラム)があらかじめ記憶されているメ
モリ及び検波電圧等のアナログ信号とデジタル信号の入
出力の変換を行なう回路素子等から構成される。
【0021】また、前記導波口28は、加熱室22内部
に定在するマイクロ波を検出部30に導く作用をなすも
のであり、完全な開口である必要はなく、検出部への熱
気及び塵埃の侵入を防ぐために、マイクロ波の透過が可
能な誘導体製のカバーにより覆うことが好ましい。
に定在するマイクロ波を検出部30に導く作用をなすも
のであり、完全な開口である必要はなく、検出部への熱
気及び塵埃の侵入を防ぐために、マイクロ波の透過が可
能な誘導体製のカバーにより覆うことが好ましい。
【0022】前記マイクロ波センサ29は、マイクロ波
の受信アンテナと受信アンテナの受信波を直流検波する
検波回路からなり、たとえば、図3に示すように、アル
ミニウム基板の一面への銅箔パターンを形成することに
より、このアンテナと検波回路を一体構成してなるもの
である。
の受信アンテナと受信アンテナの受信波を直流検波する
検波回路からなり、たとえば、図3に示すように、アル
ミニウム基板の一面への銅箔パターンを形成することに
より、このアンテナと検波回路を一体構成してなるもの
である。
【0023】図3、4、5および6にマイクロ波センサ
の回路及び検出部の構成に関する一実施例の図を示す。
図3は検出部30のマイクロ波センサ29の一実施例の
平面図であって、図中斜線を付した部分は銅箔による導
体パターンを示している。アルミ板の中央部は所定の誘
導率を有する回路基板であって、回路基板の一方の面5
1aのほぼ中央に線状のアンテナ511がパターン形成
され、アンテナ511の線幅方向の一方にはマッチング
抵抗515にカソードが接続された高周波ダイオード5
16がパターン形成され、高周波ダイオード516のア
ノードがスルーホール518を介して裏面のアース面5
1bに接続された高周波検波回路が配されている。
の回路及び検出部の構成に関する一実施例の図を示す。
図3は検出部30のマイクロ波センサ29の一実施例の
平面図であって、図中斜線を付した部分は銅箔による導
体パターンを示している。アルミ板の中央部は所定の誘
導率を有する回路基板であって、回路基板の一方の面5
1aのほぼ中央に線状のアンテナ511がパターン形成
され、アンテナ511の線幅方向の一方にはマッチング
抵抗515にカソードが接続された高周波ダイオード5
16がパターン形成され、高周波ダイオード516のア
ノードがスルーホール518を介して裏面のアース面5
1bに接続された高周波検波回路が配されている。
【0024】また、アンテナ511の線幅方向の他方に
は接続線517にその一端が接続され、接続線517か
らの影響をなくすための抵抗R1514がパターン形成
され、その中間にコンデンサ512及びセンサ出力の電
圧信号を取り出すための抵抗R2513の直列回路が並
列接続となるべくパターン形成され、抵抗R1514の
他端側にはセンサ出力端子がパターン形成され、コンデ
ンサ512及び抵抗R2513の一端がスルーホール5
19を介して裏面のアース面51bに接続された出力回
路及び出力線が配されている。
は接続線517にその一端が接続され、接続線517か
らの影響をなくすための抵抗R1514がパターン形成
され、その中間にコンデンサ512及びセンサ出力の電
圧信号を取り出すための抵抗R2513の直列回路が並
列接続となるべくパターン形成され、抵抗R1514の
他端側にはセンサ出力端子がパターン形成され、コンデ
ンサ512及び抵抗R2513の一端がスルーホール5
19を介して裏面のアース面51bに接続された出力回
路及び出力線が配されている。
【0025】基板の一方の面51aの四周にはアース領
域51cが設けられ、四隅にはマイクロ波センサ51を
支持具にねじ止めするためのスルーホール53a,53
a…が設けられている。
域51cが設けられ、四隅にはマイクロ波センサ51を
支持具にねじ止めするためのスルーホール53a,53
a…が設けられている。
【0026】図4は図3に示すマイクロ波センサ29の
等価回路図であって、アンテナ511にはマッチング抵
抗515を介して高周波ダイオード516のカソードが
接続され、アノードが接地されている。
等価回路図であって、アンテナ511にはマッチング抵
抗515を介して高周波ダイオード516のカソードが
接続され、アノードが接地されている。
【0027】またアンテナ511には接続線517を介
して10KΩの抵抗R1が接続され、抵抗R1の他端はセ
ンサ出力の出力端子に接続され、アンテナ511と抵抗
R1との間には、1000PFのコンデンサ512及び
5.6KΩの抵抗R2の直列回路が並列接続され、コン
デンサ512及び抵抗R2の一端は接地されている。
して10KΩの抵抗R1が接続され、抵抗R1の他端はセ
ンサ出力の出力端子に接続され、アンテナ511と抵抗
R1との間には、1000PFのコンデンサ512及び
5.6KΩの抵抗R2の直列回路が並列接続され、コン
デンサ512及び抵抗R2の一端は接地されている。
【0028】図5は検出部30近傍の拡大図である。図
示の如く天板27の導波口28の形成位置の外側には、
浅底の直方体箱形をなすブラケット40が固着してあ
る。該ブラケット40の上部は全面に亘って開口させて
あり、各縁を外向きに折り曲げてなるフランジ部41が
設けてある。マイクロ波センサ29の基板は、受信アン
テナ51aの形成面を下向きとして前記フランジ部41
上に載置され、複数本の止めねじ42,42…によりね
じ止め固定されており、この固定によりブラケット40
の底面及び側面、並びにマイクロ波センサ29の基板に
より六方を囲まれた直方体形状をなす検出部30を構成
している。
示の如く天板27の導波口28の形成位置の外側には、
浅底の直方体箱形をなすブラケット40が固着してあ
る。該ブラケット40の上部は全面に亘って開口させて
あり、各縁を外向きに折り曲げてなるフランジ部41が
設けてある。マイクロ波センサ29の基板は、受信アン
テナ51aの形成面を下向きとして前記フランジ部41
上に載置され、複数本の止めねじ42,42…によりね
じ止め固定されており、この固定によりブラケット40
の底面及び側面、並びにマイクロ波センサ29の基板に
より六方を囲まれた直方体形状をなす検出部30を構成
している。
【0029】図6は、検出部30及びマイクロ波センサ
29の分解斜視図であり、加熱室22の前部上方から見
た図である。前記導波口28は、図中に矢符にて示すマ
グネトロンが備えられている加熱室の壁面からのマイク
ロ波の導入方向に対して所定角度(望ましくは45°)
だけ傾斜して形成されることが好ましい。
29の分解斜視図であり、加熱室22の前部上方から見
た図である。前記導波口28は、図中に矢符にて示すマ
グネトロンが備えられている加熱室の壁面からのマイク
ロ波の導入方向に対して所定角度(望ましくは45°)
だけ傾斜して形成されることが好ましい。
【0030】この発明では、以上のような構成をもつマ
イクロ波センサ29及び検出部30によって検出される
マイクロ波の検波電圧を利用して、加熱室に収納された
食品の量及び食品が冷凍状態にあるか否かを制御部32
が検知する(以後、食品状態検知工程と呼ぶ)。
イクロ波センサ29及び検出部30によって検出される
マイクロ波の検波電圧を利用して、加熱室に収納された
食品の量及び食品が冷凍状態にあるか否かを制御部32
が検知する(以後、食品状態検知工程と呼ぶ)。
【0031】この後、制御部32は、検知情報を基に、
食品加熱の条件の設定、すなわち、あらかじめ組み込ま
れたプログラムに従ってヒータによる加熱時間及び加熱
出力の調整等を行い、自動的に食品の調理を行う。
食品加熱の条件の設定、すなわち、あらかじめ組み込ま
れたプログラムに従ってヒータによる加熱時間及び加熱
出力の調整等を行い、自動的に食品の調理を行う。
【0032】図7に、加熱室に食品を収納した後、マイ
クロ波加熱し、食品の状態を検知し、さらに、ヒータ加
熱をして調理を行なう時間的流れの例を示す。同図に示
すように、加熱室に食品が収納され、調理開始の指示が
行なわれると、まず、食品状態検出工程において、マイ
クロ波による加熱が行われる。制御部32は、調理開始
の指示を検出すると、マグネトロン発振駆動部33に発
振開始信号を出力し、マグネトロン発振駆動部33は、
この信号に基づき、マグネトロン35を起動させ、マイ
クロ波を加熱室に放射させる。
クロ波加熱し、食品の状態を検知し、さらに、ヒータ加
熱をして調理を行なう時間的流れの例を示す。同図に示
すように、加熱室に食品が収納され、調理開始の指示が
行なわれると、まず、食品状態検出工程において、マイ
クロ波による加熱が行われる。制御部32は、調理開始
の指示を検出すると、マグネトロン発振駆動部33に発
振開始信号を出力し、マグネトロン発振駆動部33は、
この信号に基づき、マグネトロン35を起動させ、マイ
クロ波を加熱室に放射させる。
【0033】図7において、たとえば、出力レベル50
0Wのマイクロ波を13.5秒間隔を空けて計3回各1
1.5秒間放射させる。この食品状態検知工程では、マ
イクロ波の放射は、食品の加熱が目的ではなく食品の量
等の状態を検出することが目的であるので、長時間放射
するのではなく、マイクロ波センサ29によって食品の
状態を十分検出できる程度の時間かつ回数だけマイクロ
波を放射すればよい。
0Wのマイクロ波を13.5秒間隔を空けて計3回各1
1.5秒間放射させる。この食品状態検知工程では、マ
イクロ波の放射は、食品の加熱が目的ではなく食品の量
等の状態を検出することが目的であるので、長時間放射
するのではなく、マイクロ波センサ29によって食品の
状態を十分検出できる程度の時間かつ回数だけマイクロ
波を放射すればよい。
【0034】マイクロ波センサ29は、加熱室上方の導
波口28から漏れ出てくるマイクロ波を検知し、検波電
圧を出力する。制御部は増幅部を介して出力されるこの
検波電圧を判定して、あらかじめ設定されている加熱条
件を選択して、続く食品加熱工程において、加熱時間及
び出力の調整を行い、あらかじめ記憶された手順に従っ
て自動的にヒータ加熱による調理を行なう。
波口28から漏れ出てくるマイクロ波を検知し、検波電
圧を出力する。制御部は増幅部を介して出力されるこの
検波電圧を判定して、あらかじめ設定されている加熱条
件を選択して、続く食品加熱工程において、加熱時間及
び出力の調整を行い、あらかじめ記憶された手順に従っ
て自動的にヒータ加熱による調理を行なう。
【0035】図8に、食品としてパンを用いた場合のマ
イクロ波センサ29から出力される検波平均電圧の例を
示す。この例では、図7と同様に、食品状態検知工程に
おいて出力500Wのマイクロ波を11.5秒間3回放
射したものである。図8(a)は加熱室にパンを1枚だ
け収納した場合の検波平均電圧の時間的変化を示す。図
8(b)は加熱室にパンを2枚収納した場合の検波平均
電圧の時間的変化を示す。
イクロ波センサ29から出力される検波平均電圧の例を
示す。この例では、図7と同様に、食品状態検知工程に
おいて出力500Wのマイクロ波を11.5秒間3回放
射したものである。図8(a)は加熱室にパンを1枚だ
け収納した場合の検波平均電圧の時間的変化を示す。図
8(b)は加熱室にパンを2枚収納した場合の検波平均
電圧の時間的変化を示す。
【0036】同図において、パン1枚のときは、検波平
均電圧は2.25V前後を示しており、パン2枚のとき
は、検波平均電圧は1.5V前後を示している。同図に
よれば、検波平均電圧のしきい値として、たとえば2V
を選べば、加熱室に収納されたパンの枚数を確実に判定
することができる。
均電圧は2.25V前後を示しており、パン2枚のとき
は、検波平均電圧は1.5V前後を示している。同図に
よれば、検波平均電圧のしきい値として、たとえば2V
を選べば、加熱室に収納されたパンの枚数を確実に判定
することができる。
【0037】すなわち、図9(a)に示すように、検波
平均電圧としてしきい値2Vを越える値が、判定回数
(ここでは3回)検出された場合には、制御部32はパ
ン1枚だけが加熱室に収納されたと判定する。そして食
品加熱工程において、制御部32はパン1枚を適切な状
態に焼くことができる条件として、あらかじめ記憶され
ている加熱時間又はヒータの出力レベルを選択し、その
条件のもとに、あらかじめ記憶された加熱手順に従って
パンの調理を行う。
平均電圧としてしきい値2Vを越える値が、判定回数
(ここでは3回)検出された場合には、制御部32はパ
ン1枚だけが加熱室に収納されたと判定する。そして食
品加熱工程において、制御部32はパン1枚を適切な状
態に焼くことができる条件として、あらかじめ記憶され
ている加熱時間又はヒータの出力レベルを選択し、その
条件のもとに、あらかじめ記憶された加熱手順に従って
パンの調理を行う。
【0038】具体的には、制御部32から出力される加
熱時間又はヒータの出力レベルに関する信号によってヒ
ータ駆動部34がヒータ25、26の出力を制御するこ
とにより調理が行われる。また、図9(b)に示すよう
に、しきい値2Vを下回る値が判定回数(ここでは3
回)検出された場合には、パン2枚が加熱室に収納され
たと判定し、あらかじめ記憶された加熱条件に従って図
9(b)の場合よりも加熱時間を長く、又はヒータの出
力レベルを高く調整して調理を行わせる。
熱時間又はヒータの出力レベルに関する信号によってヒ
ータ駆動部34がヒータ25、26の出力を制御するこ
とにより調理が行われる。また、図9(b)に示すよう
に、しきい値2Vを下回る値が判定回数(ここでは3
回)検出された場合には、パン2枚が加熱室に収納され
たと判定し、あらかじめ記憶された加熱条件に従って図
9(b)の場合よりも加熱時間を長く、又はヒータの出
力レベルを高く調整して調理を行わせる。
【0039】図9に、常温及び冷凍状態のパン1枚を加
熱室に収納した場合の平均検波電圧の比較例を示す。図
9(a)は、常温のパンを1枚収納した場合の検波平均
電圧であり、約2.25Vで安定している。図9(b)
は、冷凍状態のパンを1枚収納した場合の検波平均電圧
であるが、収納当初2.5V程度の値を示していたもの
が時間的経過と共に減少傾向を示している。これは、マ
イクロ波を放射することによってパンが加熱されること
を意味しているが、「冷凍パンが示す検波平均電圧の初
期値は常温のパンよりも高く、マイクロ波による加熱に
よって減少傾向を示す」という性質を利用することによ
り、加熱室に常温のパンが収納されたか又は冷凍のパン
が収納されたかを判定することができる。
熱室に収納した場合の平均検波電圧の比較例を示す。図
9(a)は、常温のパンを1枚収納した場合の検波平均
電圧であり、約2.25Vで安定している。図9(b)
は、冷凍状態のパンを1枚収納した場合の検波平均電圧
であるが、収納当初2.5V程度の値を示していたもの
が時間的経過と共に減少傾向を示している。これは、マ
イクロ波を放射することによってパンが加熱されること
を意味しているが、「冷凍パンが示す検波平均電圧の初
期値は常温のパンよりも高く、マイクロ波による加熱に
よって減少傾向を示す」という性質を利用することによ
り、加熱室に常温のパンが収納されたか又は冷凍のパン
が収納されたかを判定することができる。
【0040】たとえば、あらかじめ、検波平均電圧のし
きい値として2.3Vを記憶しておき、初回の検波平均
電圧が2.3Vよりも高い値を示し、かつ検波平均電圧
の3回目の測定時にこの2.3Vを下回る検波平均電圧
が検出された場合には、制御部32は、冷凍パン1枚が
加熱室内に収納されていると判定する。さらに、その後
の食品加熱工程において、制御部32は冷凍パン1枚用
の調理条件としてあらかじめ記憶されている加熱時間及
びヒータ出力レベルを選択してあらかじめ記憶された手
順に従って調理を自動的に行わせる。
きい値として2.3Vを記憶しておき、初回の検波平均
電圧が2.3Vよりも高い値を示し、かつ検波平均電圧
の3回目の測定時にこの2.3Vを下回る検波平均電圧
が検出された場合には、制御部32は、冷凍パン1枚が
加熱室内に収納されていると判定する。さらに、その後
の食品加熱工程において、制御部32は冷凍パン1枚用
の調理条件としてあらかじめ記憶されている加熱時間及
びヒータ出力レベルを選択してあらかじめ記憶された手
順に従って調理を自動的に行わせる。
【0041】以上に、この発明の高周波加熱装置の構成
の具体例とこの高周波加熱装置を用いたパンの検知方法
の例について述べたが、上記したようなマイクロ波の検
波電圧の測定によるパンの枚数及び冷凍かどうかの状態
の判定を行うことは、パン以外の食品に適用することも
可能である。
の具体例とこの高周波加熱装置を用いたパンの検知方法
の例について述べたが、上記したようなマイクロ波の検
波電圧の測定によるパンの枚数及び冷凍かどうかの状態
の判定を行うことは、パン以外の食品に適用することも
可能である。
【0042】図8、図9で示したような判定基準となる
検波電圧のしきい値を対象とする食品ごとに、経験等に
よってあらかじめ設定し、判定結果に対応した調理条件
を記憶しておくことによって、加熱室に収納される食品
の量及び状態に適した調理を自動的にすることが可能で
ある。
検波電圧のしきい値を対象とする食品ごとに、経験等に
よってあらかじめ設定し、判定結果に対応した調理条件
を記憶しておくことによって、加熱室に収納される食品
の量及び状態に適した調理を自動的にすることが可能で
ある。
【0043】なお、マイクロ波をパン等の食品に一定時
間放射することにより、加熱と同じ効果があり、パンの
場合には、長時間マイクロ波を放射するとパンがひから
びるという問題が生じる。
間放射することにより、加熱と同じ効果があり、パンの
場合には、長時間マイクロ波を放射するとパンがひから
びるという問題が生じる。
【0044】そこで、パンの調理の場合には、食品状態
検知工程において、マイクロ波センサによる検波が可能
であることを条件として、マイクロ波の放射時間はでき
るだけ短くかつマイクロ波出力レベルは低い方が望まし
い。
検知工程において、マイクロ波センサによる検波が可能
であることを条件として、マイクロ波の放射時間はでき
るだけ短くかつマイクロ波出力レベルは低い方が望まし
い。
【0045】このため、図7〜図9に示したように間欠
的にマイクロ波を放射させる方法の他に、マイクロ波出
力をたとえば500Wから250W程度に下げて連続放
射する方法でもよい。
的にマイクロ波を放射させる方法の他に、マイクロ波出
力をたとえば500Wから250W程度に下げて連続放
射する方法でもよい。
【0046】また、パンのひからびを低減させるため
に、パンを収納後、ヒータ加熱を数秒間行い、その後マ
イクロ波加熱による食品状態検知工程を実施することに
よって収納されたパンの状態を判定し、その後再度収納
されたパンの状態に適したヒータ加熱を行うようにして
もよい。
に、パンを収納後、ヒータ加熱を数秒間行い、その後マ
イクロ波加熱による食品状態検知工程を実施することに
よって収納されたパンの状態を判定し、その後再度収納
されたパンの状態に適したヒータ加熱を行うようにして
もよい。
【0047】
【発明の効果】この発明によれば、加熱室内に放射され
たマイクロ波の電圧強度を測定することによって加熱室
内の食品の量と食品の初期状態を確実に把握することが
でき、その量及び状態に対応した適切な調理の自動化が
可能である。
たマイクロ波の電圧強度を測定することによって加熱室
内の食品の量と食品の初期状態を確実に把握することが
でき、その量及び状態に対応した適切な調理の自動化が
可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の構成ブロック図である。
【図2】この発明の一実施例における構成のブロック図
である。
である。
【図3】この発明のマイクロ波センサの一実施例の平面
図である。
図である。
【図4】この発明のマイクロ波センサの等価回路図であ
る。
る。
【図5】この発明の一実施例におけるマイクロ波センサ
及び検出部近傍の拡大図である。
及び検出部近傍の拡大図である。
【図6】この発明の一実施例におけるマイクロ波センサ
及び検出部の組立て状態を示す斜視図である。
及び検出部の組立て状態を示す斜視図である。
【図7】この発明における食品状態検知工程と食品加熱
工程の説明図である。
工程の説明図である。
【図8】この発明の一実施例であるパン収納時の食品状
態検知工程の説明図である。
態検知工程の説明図である。
【図9】この発明の一実施例である常温パンおよび冷凍
パン収納時の検波平均電圧の説明図である。
パン収納時の検波平均電圧の説明図である。
1 加熱室 2 テーブル 3 食品加熱手段 4 加熱駆動手段 5 マイクロ波発生手段 6 発振駆動手段 7 マイクロ波検出手段 8 制御手段 21 食品(パン) 22 加熱室 23 ターンテーブル 24 ターンテーブルモータ 25 上部ヒータ 26 下部ヒータ 27 天板 28 導波口 29 マイクロ波センサ 30 検出部 31 増幅部 32 制御部 33 マグネトロン発振駆動部 34 ヒータ駆動部 35 マグネトロン 36 冷却ファン
Claims (2)
- 【請求項1】 食品を収納する加熱室と、加熱室内にあ
って食品を載せるテーブルと、前記加熱室に備えられ食
品を加熱する抵抗加熱手段と、抵抗加熱手段の動作制御
を行う加熱駆動手段と、加熱室に食品検出用のマイクロ
波を供給するマイクロ波発生手段と、マイクロ波発生手
段の発振制御を行う発振駆動手段と、加熱室の天板の開
口を介して漏れ出すマイクロ波を検波して電圧として出
力するマイクロ波検出手段と、検出されたマイクロ波の
検波電圧から加熱室内の食品の状態を判定しかつ加熱駆
動手段の制御を行う制御手段を備えてなる高周波加熱装
置。 - 【請求項2】 加熱室内にパンを入れた後、前記マイク
ロ波発生手段5によってマイクロ波を加熱室内に放射さ
せ、前記マイクロ波検出手段5によって一定時間ごとに
マイクロ波の検波電圧を複数回測定し、前記制御手段8
が、あらかじめ設定されたしきい値と前記測定された複
数の検波電圧を比較することによってパンの枚数を判定
し、かつ、複数の検波電圧の時間的変化からパンが冷凍
であるか否かを判定することを特徴とする請求項1記載
の高周波加熱装置を用いたパン検知方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3867893A JPH06249447A (ja) | 1993-02-26 | 1993-02-26 | 高周波加熱装置とそれを用いたパン検知方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3867893A JPH06249447A (ja) | 1993-02-26 | 1993-02-26 | 高周波加熱装置とそれを用いたパン検知方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06249447A true JPH06249447A (ja) | 1994-09-06 |
Family
ID=12531943
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3867893A Pending JPH06249447A (ja) | 1993-02-26 | 1993-02-26 | 高周波加熱装置とそれを用いたパン検知方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06249447A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011138721A (ja) * | 2009-12-29 | 2011-07-14 | Sharp Corp | 高周波加熱調理器 |
| JP2013529283A (ja) * | 2010-05-03 | 2013-07-18 | ゴジ リミテッド | 損失プロファイル解析 |
| JP2015204147A (ja) * | 2014-04-11 | 2015-11-16 | 光洋サーモシステム株式会社 | マイクロ波加熱に関する被加熱物の負荷推定装置、マイクロ波加熱装置、および、マイクロ波加熱に関する被加熱物の負荷推定方法 |
-
1993
- 1993-02-26 JP JP3867893A patent/JPH06249447A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011138721A (ja) * | 2009-12-29 | 2011-07-14 | Sharp Corp | 高周波加熱調理器 |
| JP2013529283A (ja) * | 2010-05-03 | 2013-07-18 | ゴジ リミテッド | 損失プロファイル解析 |
| JP2015204147A (ja) * | 2014-04-11 | 2015-11-16 | 光洋サーモシステム株式会社 | マイクロ波加熱に関する被加熱物の負荷推定装置、マイクロ波加熱装置、および、マイクロ波加熱に関する被加熱物の負荷推定方法 |
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