JPH06251422A - 光ディスク - Google Patents
光ディスクInfo
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- JPH06251422A JPH06251422A JP5040072A JP4007293A JPH06251422A JP H06251422 A JPH06251422 A JP H06251422A JP 5040072 A JP5040072 A JP 5040072A JP 4007293 A JP4007293 A JP 4007293A JP H06251422 A JPH06251422 A JP H06251422A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 超高解像度再生方式の光ディスクにおいて再
生感度の改善をはかり、比較的速い線速での再生を行う
場合においても、良好なC/Nをもって確実に超解像再
生を行うことができるようにする。 【構成】 情報信号に応じて光学的に読み出し可能な記
録ピット2が形成された透明基板1上に、少なくとも溶
融後反射率変化し得る相変化材料層4が形成され、この
相変化材料層4上に反射層6が形成されてなり、読み出
し光が照射されたときに、この相変化材料層4が読み出
し光の走査スポット内で部分的に液相化して反射率が変
化する構成として、反射層6に、熱伝導率が1.0J/
cmKs以下の値を有する材料を用いる。
生感度の改善をはかり、比較的速い線速での再生を行う
場合においても、良好なC/Nをもって確実に超解像再
生を行うことができるようにする。 【構成】 情報信号に応じて光学的に読み出し可能な記
録ピット2が形成された透明基板1上に、少なくとも溶
融後反射率変化し得る相変化材料層4が形成され、この
相変化材料層4上に反射層6が形成されてなり、読み出
し光が照射されたときに、この相変化材料層4が読み出
し光の走査スポット内で部分的に液相化して反射率が変
化する構成として、反射層6に、熱伝導率が1.0J/
cmKs以下の値を有する材料を用いる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、レーザ光照射により
情報の再生を行なう光ディスク特に高密度記録に好適な
光ディスクに係わる。
情報の再生を行なう光ディスク特に高密度記録に好適な
光ディスクに係わる。
【0002】
【従来の技術】例えばディジタルオーディオディスク
(いわゆるコンパクトディスク)やビデオディスク等の
光ディスクは、予め情報信号に応じて凹凸により記録ピ
ット、いわゆる位相ピットが形成された透明基板上にア
ルミニウム反射膜を成膜し、その上に保護膜等を形成す
ることで構成されている。このような光ディスクでは、
ディスク面に読み出し光を照射して位相ピットの形成部
での光の回折による反射光量の大幅な減少を検出するこ
とによって信号の読み出し(再生)を行なうようにして
いる。
(いわゆるコンパクトディスク)やビデオディスク等の
光ディスクは、予め情報信号に応じて凹凸により記録ピ
ット、いわゆる位相ピットが形成された透明基板上にア
ルミニウム反射膜を成膜し、その上に保護膜等を形成す
ることで構成されている。このような光ディスクでは、
ディスク面に読み出し光を照射して位相ピットの形成部
での光の回折による反射光量の大幅な減少を検出するこ
とによって信号の読み出し(再生)を行なうようにして
いる。
【0003】ところで、上述のような光ディスクにおい
て、信号再生の分解能は、ほとんど再生光学系の光源の
波長λと対物レンズの開口数NAで決まり、空間周波数
2NA/λが再生限界となる。そのため、このような光
ディスクにおいて高密度化を実現するためには、再生光
学系の光源(例えば半導体レーザ)の波長λを短くする
こと、あるいは対物レンズの開口数NAを大きくするこ
とが必要となる。
て、信号再生の分解能は、ほとんど再生光学系の光源の
波長λと対物レンズの開口数NAで決まり、空間周波数
2NA/λが再生限界となる。そのため、このような光
ディスクにおいて高密度化を実現するためには、再生光
学系の光源(例えば半導体レーザ)の波長λを短くする
こと、あるいは対物レンズの開口数NAを大きくするこ
とが必要となる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、光源の波長λ
や対物レンズの開口数NAの改善には自ずと限界があ
り、これによって記録密度を飛躍的に高めることは難し
いのが実情である。そこで、本出願人は、読み出し光の
走査スポット内の部分的相変化による反射率変化を利用
することで、上述した波長λや開口数NAによる制限以
上の解像度を得ることができる光ディスクを提案した
(特願平2−94452号、特願平3−249511号
参照)。
や対物レンズの開口数NAの改善には自ずと限界があ
り、これによって記録密度を飛躍的に高めることは難し
いのが実情である。そこで、本出願人は、読み出し光の
走査スポット内の部分的相変化による反射率変化を利用
することで、上述した波長λや開口数NAによる制限以
上の解像度を得ることができる光ディスクを提案した
(特願平2−94452号、特願平3−249511号
参照)。
【0005】これら出願に係わる発明は、読み出し光の
レーザスポット内の部分的相変化により反射率を変化さ
せ超解像再生を行うようにした光ディスクあるいはその
再生方式に係わるものである。
レーザスポット内の部分的相変化により反射率を変化さ
せ超解像再生を行うようにした光ディスクあるいはその
再生方式に係わるものである。
【0006】しかるに、これら出願に係わる発明におい
ては、相変化材料層を用いたときの再生感度についての
考慮が充分なされていない。例えば、近年ビデオディス
ク等において10Mbps程度の高情報転送レートが要
求され、10数MHz程度の高周波記録の実現が望まれ
ているが、その線速を例えば3.6m/s、7.6m/
s程度と比較的速くする場合は、充分なC/N(キャリ
ア/ノイズ比)又はS/N(サウンド/ノイズ比)が得
られない等の不都合があった。
ては、相変化材料層を用いたときの再生感度についての
考慮が充分なされていない。例えば、近年ビデオディス
ク等において10Mbps程度の高情報転送レートが要
求され、10数MHz程度の高周波記録の実現が望まれ
ているが、その線速を例えば3.6m/s、7.6m/
s程度と比較的速くする場合は、充分なC/N(キャリ
ア/ノイズ比)又はS/N(サウンド/ノイズ比)が得
られない等の不都合があった。
【0007】本発明は、上述したような超解像再生を行
う光ディスクにおいて、特に感度の改善をはかってより
安定に高C/Nをもって超解像再生を行うことができる
ようにする。
う光ディスクにおいて、特に感度の改善をはかってより
安定に高C/Nをもって超解像再生を行うことができる
ようにする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、図1にその要
部の概略的断面図を示すように、情報信号に応じて光学
的に読み出し可能な記録ピット2が形成された透明基板
1上に、少なくとも溶融後反射率変化し得る相変化材料
層4が形成され、この相変化材料層4上に反射層6が形
成されてなり、読み出し光が照射されたときに、この相
変化材料層4が読み出し光の走査スポット内で部分的に
液相化して反射率が変化する構成とし、反射層6に、熱
伝導率が1.0J/cmKs以下の値を有する材料を用
いる。また本発明は、上述の構成において、反射層6の
材料としてランタノイドを用いる。
部の概略的断面図を示すように、情報信号に応じて光学
的に読み出し可能な記録ピット2が形成された透明基板
1上に、少なくとも溶融後反射率変化し得る相変化材料
層4が形成され、この相変化材料層4上に反射層6が形
成されてなり、読み出し光が照射されたときに、この相
変化材料層4が読み出し光の走査スポット内で部分的に
液相化して反射率が変化する構成とし、反射層6に、熱
伝導率が1.0J/cmKs以下の値を有する材料を用
いる。また本発明は、上述の構成において、反射層6の
材料としてランタノイドを用いる。
【0009】
【作用】本発明による光ディスクは、その記録ピット2
による記録の読み出しすなわち再生に当たっては、読み
出し光の走査スポット内での温度分布を利用して、その
スポット内に生じる高温領域で部分的に相変化材料層4
に液相状態を発生させて例えば此処における反射率が著
しく増加するようにして例えばこの液相状態部分にある
記録ピットについては、回折等による読み出しが可能と
なるように構成する。
による記録の読み出しすなわち再生に当たっては、読み
出し光の走査スポット内での温度分布を利用して、その
スポット内に生じる高温領域で部分的に相変化材料層4
に液相状態を発生させて例えば此処における反射率が著
しく増加するようにして例えばこの液相状態部分にある
記録ピットについては、回折等による読み出しが可能と
なるように構成する。
【0010】つまり、読み出し光スポット内に複数の例
えば2つの記録ピット2が入り込む場合においても、例
えば一方の記録ピット2を光学的に消滅させる領域を形
成して、スポット内では単一の記録ピットのみを読むこ
とができ、λ/2NAに制約されない超解像再生を行な
うことができるものである。
えば2つの記録ピット2が入り込む場合においても、例
えば一方の記録ピット2を光学的に消滅させる領域を形
成して、スポット内では単一の記録ピットのみを読むこ
とができ、λ/2NAに制約されない超解像再生を行な
うことができるものである。
【0011】そして特に本発明においては、その反射層
6の材料として、熱伝導率が1.0J/cmKs以下の
材料を選定するものである。従来は、この反射層6の材
料としては、Al等の熱伝導率ができるだけ高い材料を
選定しており、この場合例えば半導体レーザでは充分な
温度勾配が得られず、再生ができなくなる場合があっ
た。しかしながら本発明によれば、反射層6の熱伝導率
を適切に選定したことから、光ディスクの線速を速くす
る場合においても、充分な温度勾配が得られ、良好な再
生を行うことができる。
6の材料として、熱伝導率が1.0J/cmKs以下の
材料を選定するものである。従来は、この反射層6の材
料としては、Al等の熱伝導率ができるだけ高い材料を
選定しており、この場合例えば半導体レーザでは充分な
温度勾配が得られず、再生ができなくなる場合があっ
た。しかしながら本発明によれば、反射層6の熱伝導率
を適切に選定したことから、光ディスクの線速を速くす
る場合においても、充分な温度勾配が得られ、良好な再
生を行うことができる。
【0012】特にその材料として、ランタノイドを用い
ることにより、種々の用途に応じて必要な感度が得ら
れ、より安定に高C/Nをもって超解像再生を行なうこ
とができる。
ることにより、種々の用途に応じて必要な感度が得ら
れ、より安定に高C/Nをもって超解像再生を行なうこ
とができる。
【0013】
【実施例】以下図面を参照して本発明実施例を詳細に説
明する。本発明は、図1の断面図にそのいわば基本的構
成を示すように、情報に対応した凹凸より成る記録ピッ
ト2、いわゆる位相ピット(又はエンボスピット)が形
成された透明基板1上に、少なくとも溶融後初期状態に
戻り得る相変化材料層4が形成されてなり、相変化材料
層上に反射層6を形成する。
明する。本発明は、図1の断面図にそのいわば基本的構
成を示すように、情報に対応した凹凸より成る記録ピッ
ト2、いわゆる位相ピット(又はエンボスピット)が形
成された透明基板1上に、少なくとも溶融後初期状態に
戻り得る相変化材料層4が形成されてなり、相変化材料
層上に反射層6を形成する。
【0014】そして、読み出し光、例えばレーザ光がこ
の相変化材料層4に照射されたときに、この相変化材料
層4の読み出し光の走査スポット内で部分的に液相状態
となり反射率が減少すると共に読み出し後の常態で初期
状態の反射率に戻るようにする。
の相変化材料層4に照射されたときに、この相変化材料
層4の読み出し光の走査スポット内で部分的に液相状態
となり反射率が減少すると共に読み出し後の常態で初期
状態の反射率に戻るようにする。
【0015】図1に示した例においては、記録ピット2
を有する透明基板1上に直接的に相変化材料層4及び反
射層6を形成するようにした場合であるが、例えば図2
にその要部の略線的拡大断面図を示すように、記録ピッ
ト2を有する透明基板1上に第1の誘電体層3を介して
相変化材料層4が形成され、更にこれの上に第2の誘電
体層5を介して反射膜6が形成され、更にこの上に第3
の誘電体層7が形成され、更にある場合はこの上に保護
膜(図示せず)が形成されてなり、第1及び第2の誘電
体層5及び6によって光学特性例えば反射率等の設定が
なされる構成とすることができる。また、第3の誘電体
層7を設けることによって積層膜の機械強度が向上し、
繰り返し読み出し耐久性が向上する。
を有する透明基板1上に直接的に相変化材料層4及び反
射層6を形成するようにした場合であるが、例えば図2
にその要部の略線的拡大断面図を示すように、記録ピッ
ト2を有する透明基板1上に第1の誘電体層3を介して
相変化材料層4が形成され、更にこれの上に第2の誘電
体層5を介して反射膜6が形成され、更にこの上に第3
の誘電体層7が形成され、更にある場合はこの上に保護
膜(図示せず)が形成されてなり、第1及び第2の誘電
体層5及び6によって光学特性例えば反射率等の設定が
なされる構成とすることができる。また、第3の誘電体
層7を設けることによって積層膜の機械強度が向上し、
繰り返し読み出し耐久性が向上する。
【0016】実施例1 この例においては、図2で説明した構成を採った場合
で、透明基板1として、ガラス2P基板を使用した。こ
こでいう2Pとは、フォトポリマー法のことである。本
実施例においては、トラックピッチP=1.6μm、ピ
ット深さ約120nm、ピット幅、即ちディスク半径方
向の幅を約0.4μm、ピット長を0.3〜2.0μm
の設定条件で記録ピット2を形成した。
で、透明基板1として、ガラス2P基板を使用した。こ
こでいう2Pとは、フォトポリマー法のことである。本
実施例においては、トラックピッチP=1.6μm、ピ
ット深さ約120nm、ピット幅、即ちディスク半径方
向の幅を約0.4μm、ピット長を0.3〜2.0μm
の設定条件で記録ピット2を形成した。
【0017】そして、この記録ピット2を有する透明基
板1の一主面に、厚さ例えば110nmのZnS80原
子%、SiO2 20原子%の混合物等よりなる第1の誘
電体層3を被着形成し、これの上に厚さ例えば23.4
nmのGe2 Sb2 Te5 三元合金等よりなる相変化材
料層4を被着形成した。更にこれの上に厚さ例えば70
nmのZnS80原子%、SiO2 20原子%の混合物
等より成る第2の誘電体層5を被着形成し、これの上に
Gd等より成る反射膜4を例えば200nmの厚さに被
着形成し、更にこれの上に厚さ例えば400nmのZn
S80原子%、SiO2 20原子%混合物等より成る第
3の誘電体層7を被着形成した。
板1の一主面に、厚さ例えば110nmのZnS80原
子%、SiO2 20原子%の混合物等よりなる第1の誘
電体層3を被着形成し、これの上に厚さ例えば23.4
nmのGe2 Sb2 Te5 三元合金等よりなる相変化材
料層4を被着形成した。更にこれの上に厚さ例えば70
nmのZnS80原子%、SiO2 20原子%の混合物
等より成る第2の誘電体層5を被着形成し、これの上に
Gd等より成る反射膜4を例えば200nmの厚さに被
着形成し、更にこれの上に厚さ例えば400nmのZn
S80原子%、SiO2 20原子%混合物等より成る第
3の誘電体層7を被着形成した。
【0018】このように形成された光ディスクに対し
て、その光学系におけるレンズの開口数が0.50で、
その半導体レーザの波長が780nmの再生装置を用い
て、光ディスクに対するレーザスポットの線速を7.6
m/sに設定して再生パワーを9mWとし、ピット長L
=0.3、0.4、0.5、0.8、1.2、2.0μ
mの各ピット長におけるC/Nを測定した。この結果を
図3に示す。
て、その光学系におけるレンズの開口数が0.50で、
その半導体レーザの波長が780nmの再生装置を用い
て、光ディスクに対するレーザスポットの線速を7.6
m/sに設定して再生パワーを9mWとし、ピット長L
=0.3、0.4、0.5、0.8、1.2、2.0μ
mの各ピット長におけるC/Nを測定した。この結果を
図3に示す。
【0019】図3からわかるように、この場合、回折限
界以下のピット長0.3μmで50dBと良好なC/N
が得られ、上述したように7.6m/sと比較的速い線
速としても、高C/Nをもって良好な超解像再生を行う
ことができることがわかる。即ち、前述したようにビデ
オディスク等に本発明を適用し、10Mbps程度の高
転送レート、従って10数MHz程度の高周波記録を行
う場合においても、上述したように速い線速をもって良
好な再生を行うことができる。
界以下のピット長0.3μmで50dBと良好なC/N
が得られ、上述したように7.6m/sと比較的速い線
速としても、高C/Nをもって良好な超解像再生を行う
ことができることがわかる。即ち、前述したようにビデ
オディスク等に本発明を適用し、10Mbps程度の高
転送レート、従って10数MHz程度の高周波記録を行
う場合においても、上述したように速い線速をもって良
好な再生を行うことができる。
【0020】実施例2 この例においては、その反射層に熱伝導率が0.214
J/cmKsであるAl65重量%、Ti35重量%合
金を用いた以外は上述の実施例1と同様の構成とした。
J/cmKsであるAl65重量%、Ti35重量%合
金を用いた以外は上述の実施例1と同様の構成とした。
【0021】このように形成された光ディスクに対し
て、その線速を3.6m/sに設定して再生パワーを1
0mWとし、上述の例と同様に、各ピット長L=0.
3、0.4、0.5、0.8、1.2、2.0μmにお
けるそれぞれのC/Nを測定した。この結果を図4に示
す。この場合においても、回折限界以下のピット長0.
3μmで50dBと良好なC/Nをもって超解像再生を
行うことができ、高転速レート、高記録周波数のディス
クに適用して好適となる。
て、その線速を3.6m/sに設定して再生パワーを1
0mWとし、上述の例と同様に、各ピット長L=0.
3、0.4、0.5、0.8、1.2、2.0μmにお
けるそれぞれのC/Nを測定した。この結果を図4に示
す。この場合においても、回折限界以下のピット長0.
3μmで50dBと良好なC/Nをもって超解像再生を
行うことができ、高転速レート、高記録周波数のディス
クに適用して好適となる。
【0022】比較例1 この例においては、その反射層に熱伝導率が1.0J/
cmKsを越える例えば2.144J/cmKsである
Alを用いて、その他の構成は上述の実施例1と同様の
構成とした。このように形成された光ディスクに対し
て、その線速を3.6m/sに設定して再生パワーを1
0mWに設定し、ピット長L=0.3、0.4、0.
5、0.8、1.2、2.0μmとしてC/Nとピット
長との関係を測定した結果を図5に示す。
cmKsを越える例えば2.144J/cmKsである
Alを用いて、その他の構成は上述の実施例1と同様の
構成とした。このように形成された光ディスクに対し
て、その線速を3.6m/sに設定して再生パワーを1
0mWに設定し、ピット長L=0.3、0.4、0.
5、0.8、1.2、2.0μmとしてC/Nとピット
長との関係を測定した結果を図5に示す。
【0023】この場合、ピット長0.3μmで20d
B、0.4μmで35dB程度の低いC/Nしか得られ
ず、超解像再生を行う場合は実用に適さないものである
ことがわかる。
B、0.4μmで35dB程度の低いC/Nしか得られ
ず、超解像再生を行う場合は実用に適さないものである
ことがわかる。
【0024】また同様に、反射層6を省いて形成した光
ディスクに対して、その線速を7.6m/sに設定して
再生パワーを9mWにしたときのピット長0.3μmの
C/Nは20dBであり、上述の比較例1と同様に実用
に適さないものとなった。
ディスクに対して、その線速を7.6m/sに設定して
再生パワーを9mWにしたときのピット長0.3μmの
C/Nは20dBであり、上述の比較例1と同様に実用
に適さないものとなった。
【0025】従って、特に線速1.8m/sを越える比
較的速い線速でその再生を行う場合、本発明によればそ
の反射層6の熱伝導率を1.0J/cmKs以下とする
ことから、半導体レーザ等の比較的低いパワーの光源を
用いる場合においても、充分な温度勾配を得ることがで
きて、良好な超解像再生を行うことができることがわか
る。
較的速い線速でその再生を行う場合、本発明によればそ
の反射層6の熱伝導率を1.0J/cmKs以下とする
ことから、半導体レーザ等の比較的低いパワーの光源を
用いる場合においても、充分な温度勾配を得ることがで
きて、良好な超解像再生を行うことができることがわか
る。
【0026】尚、透明基板1の材料としては、アクリル
系樹脂、ポリオレフィン系樹脂、ガラス等を用いること
ができる。更に、相変化材料層4としては、Se、Te
等カルコゲナイド及びその化合物であるカルコゲンなら
ばこの発明の光ディスクに適用することができる。
系樹脂、ポリオレフィン系樹脂、ガラス等を用いること
ができる。更に、相変化材料層4としては、Se、Te
等カルコゲナイド及びその化合物であるカルコゲンなら
ばこの発明の光ディスクに適用することができる。
【0027】また、反射層6としては、上述のGd、A
lTi合金に限定されることなく、他のランタノイド、
Sb、Bi等半金属元素、Ge、Si等半導体元素単体
或は化合物或は混合物を用いることが出来るが、その光
ディスクの用いられる転送レート、線速等に応じて最適
な熱伝導率を有する材料を選択することによって、良好
な再生感度を得ることができる。
lTi合金に限定されることなく、他のランタノイド、
Sb、Bi等半金属元素、Ge、Si等半導体元素単体
或は化合物或は混合物を用いることが出来るが、その光
ディスクの用いられる転送レート、線速等に応じて最適
な熱伝導率を有する材料を選択することによって、良好
な再生感度を得ることができる。
【0028】更に、前述の図2に示す構成において、第
1〜第3の誘電体層3、5及び7としては、Al、Si
等金属及び半導体元素の窒化物、酸化物、硫化物があげ
られ、これらの化合物で半導体レーザ波長領域において
吸収の無いものならば何でもよい。
1〜第3の誘電体層3、5及び7としては、Al、Si
等金属及び半導体元素の窒化物、酸化物、硫化物があげ
られ、これらの化合物で半導体レーザ波長領域において
吸収の無いものならば何でもよい。
【0029】そして、本発明による光ディスクは、その
再生に当たって読み出し光の走査スポット内での温度分
布を利用して、そのスポット内に生じる高温領域で部分
的に相変化材料層4に液相状態を発生させて例えば此処
における反射率が著しく増加するようにして例えばこの
液相状態部分にある位相ピットについては、回折等によ
る読み出しが可能となるように構成し、超解像再生を可
能とすることができる。
再生に当たって読み出し光の走査スポット内での温度分
布を利用して、そのスポット内に生じる高温領域で部分
的に相変化材料層4に液相状態を発生させて例えば此処
における反射率が著しく増加するようにして例えばこの
液相状態部分にある位相ピットについては、回折等によ
る読み出しが可能となるように構成し、超解像再生を可
能とすることができる。
【0030】以下、このような本発明による光ディスク
にレーザスポットを照射した場合の再生態様を図6A及
びBを参照して説明する。図6Aにおいて横軸はスポッ
トの走査方向に関する位置を示したもので、いま光ディ
スクにレーザの照射によるレーザ光スポットが照射され
た状態についてみると、この場合その光強度は同図中実
線Lで示す分布を示す。これに対して相変化材料層4に
おける温度分布に対応した温度分布は、実線Tで示すよ
うにレーザスポットの走査速度に対応して僅かにディス
クの走査方向側に温度ピークを有する分布となる。
にレーザスポットを照射した場合の再生態様を図6A及
びBを参照して説明する。図6Aにおいて横軸はスポッ
トの走査方向に関する位置を示したもので、いま光ディ
スクにレーザの照射によるレーザ光スポットが照射され
た状態についてみると、この場合その光強度は同図中実
線Lで示す分布を示す。これに対して相変化材料層4に
おける温度分布に対応した温度分布は、実線Tで示すよ
うにレーザスポットの走査速度に対応して僅かにディス
クの走査方向側に温度ピークを有する分布となる。
【0031】此処でディスクが矢印dで示すように移動
され、即ちこれとは逆方向にレーザスポットが走査され
ているとすると、光ディスクは、レーザスポットの走行
方向の先端側から次第に温度が上昇し次に相変化材料層
4の融点mp以上の温度となる。この段階で相変化材料
層4は初期の結晶状態から溶融状態になり、この溶融状
態への移行によって反射率が減少する。
され、即ちこれとは逆方向にレーザスポットが走査され
ているとすると、光ディスクは、レーザスポットの走行
方向の先端側から次第に温度が上昇し次に相変化材料層
4の融点mp以上の温度となる。この段階で相変化材料
層4は初期の結晶状態から溶融状態になり、この溶融状
態への移行によって反射率が減少する。
【0032】したがってレーザ光スポット内で図6B中
点描を付して示した反射率が比較的低い領域即ちマスク
13と、記録ピット2の読み出しが可能な領域アパーチ
ャー12とが存在する。そしてこの場合、図示のように
同一スポット内に例えば2つの記録ピット2が存在して
いる場合においても、反射率が大なる領域となるアパー
チャー12に存在する1つの記録ピット2に関してのみ
その読み出しを行なうことができ、他の記録ピット2に
関してはこれが反射率がきわめて低いマスク13の領域
内にあってその読み出しがなされない。
点描を付して示した反射率が比較的低い領域即ちマスク
13と、記録ピット2の読み出しが可能な領域アパーチ
ャー12とが存在する。そしてこの場合、図示のように
同一スポット内に例えば2つの記録ピット2が存在して
いる場合においても、反射率が大なる領域となるアパー
チャー12に存在する1つの記録ピット2に関してのみ
その読み出しを行なうことができ、他の記録ピット2に
関してはこれが反射率がきわめて低いマスク13の領域
内にあってその読み出しがなされない。
【0033】このように同一スポット内に複数の記録ピ
ット2が存在しても、単一の記録ピット2に関してのみ
その読み出しを行なうことができて、レンズ系の開口数
NA、読み出し光の波長λに制限されることなく超解像
再生が可能となる。
ット2が存在しても、単一の記録ピット2に関してのみ
その読み出しを行なうことができて、レンズ系の開口数
NA、読み出し光の波長λに制限されることなく超解像
再生が可能となる。
【0034】このとき各層の構成材料の光学定数及び膜
厚により反射率は特定される。そこで熱伝導率が異なる
反射層を用いることにより感度を調整することができ
る。ここで、本発明における超解像再生では、溶融を伴
うために相変化材料層の流動が発生して繰り返し再生が
困難になる。よって感度が良ければいいと言うものでは
なく、感度と繰り返し耐久性の兼ね合いが必要となる。
厚により反射率は特定される。そこで熱伝導率が異なる
反射層を用いることにより感度を調整することができ
る。ここで、本発明における超解像再生では、溶融を伴
うために相変化材料層の流動が発生して繰り返し再生が
困難になる。よって感度が良ければいいと言うものでは
なく、感度と繰り返し耐久性の兼ね合いが必要となる。
【0035】また、上述の各実施例においては、透明基
板1上に凹凸による記録ピット2を形成するものである
が、この発明はその他の光学的に読み出し可能な記録ピ
ットを形成するものにも適用でき、その他種々の変形変
更が可能であることはいうまでもない。
板1上に凹凸による記録ピット2を形成するものである
が、この発明はその他の光学的に読み出し可能な記録ピ
ットを形成するものにも適用でき、その他種々の変形変
更が可能であることはいうまでもない。
【0036】
【発明の効果】上述したように本発明によれば、その読
み出し光スポット内の温度分布の差によって反射率の差
を生じさせて、光スポット内の特定の位相ピットに関し
てのみ読み出しがなされるようにして超解像再生を行な
うようにすることができると共に、特に反射層に熱伝導
率が1.0J/cmKs以下の材料を用いることにより
C/N(S/N)の高い再生を行なうことができる記録
密度の高い光ディスクを得ることができる。
み出し光スポット内の温度分布の差によって反射率の差
を生じさせて、光スポット内の特定の位相ピットに関し
てのみ読み出しがなされるようにして超解像再生を行な
うようにすることができると共に、特に反射層に熱伝導
率が1.0J/cmKs以下の材料を用いることにより
C/N(S/N)の高い再生を行なうことができる記録
密度の高い光ディスクを得ることができる。
【0037】特に例えば、ビデオディスク等において1
0Mbps程度の高転送レートを実現するために、10
数MHz程度の高周波記録を行い、線速1.8m/sを
越える例えば3.6m/s、7.6m/s程度の比較的
速い線速でその読み出しを行う場合においても、レーザ
スポット内において充分な温度分布を構成するこができ
て、より安定に高C/Nをもって超解像再生を行うこと
ができる。
0Mbps程度の高転送レートを実現するために、10
数MHz程度の高周波記録を行い、線速1.8m/sを
越える例えば3.6m/s、7.6m/s程度の比較的
速い線速でその読み出しを行う場合においても、レーザ
スポット内において充分な温度分布を構成するこができ
て、より安定に高C/Nをもって超解像再生を行うこと
ができる。
【図1】本発明の一実施例の構成を示す要部概略断面図
である。
である。
【図2】本発明の他の実施例の構成を示す要部概略断面
図である。
図である。
【図3】実施例1におけるピット長とC/Nの関係を示
す図である。
す図である。
【図4】実施例2におけるピット長とC/Nの関係を示
す図である。
す図である。
【図5】比較例1におけるピット長とC/Nの関係を示
す図である。
す図である。
【図6】レーザスポットの光強度分布と光ディスクの温
度分布との関係を示す図である。
度分布との関係を示す図である。
1 透明基板 2 記録ピット 3 第1の誘電体層 4 相変化材料層 5 第2の誘電体層 6 反射層 7 第3の誘電体層
Claims (2)
- 【請求項1】 情報信号に応じて光学的に読み出し可能
な記録ピットが形成された透明基板上に、少なくとも相
変化材料層が形成されてなり、上記相変化材料層上に反
射層が形成されてなり、読み出し光が照射されたとき
に、上記相変化材料層が読み出し光の走査スポット内で
部分的に液相化して反射率が変化する構成とされ、 上記反射層が、熱伝導率が1.0J/cmKs以下の値
を有する材料より成ることを特徴とする光ディスク。 - 【請求項2】 上記反射層の材料として、ランタノイド
が用いられて成ることを特徴とする上記請求項1に記載
の光ディスク。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5040072A JPH06251422A (ja) | 1993-03-01 | 1993-03-01 | 光ディスク |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5040072A JPH06251422A (ja) | 1993-03-01 | 1993-03-01 | 光ディスク |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06251422A true JPH06251422A (ja) | 1994-09-09 |
Family
ID=12570730
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5040072A Pending JPH06251422A (ja) | 1993-03-01 | 1993-03-01 | 光ディスク |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06251422A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6835531B1 (en) | 1999-07-20 | 2004-12-28 | Samsung Electronics, Co., Ltd. | Phase change optical disc |
| US7572496B2 (en) | 2002-05-16 | 2009-08-11 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Recording medium having high melting point recording layer, information recording method thereof, and information reproducing apparatus and method therefor |
-
1993
- 1993-03-01 JP JP5040072A patent/JPH06251422A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6835531B1 (en) | 1999-07-20 | 2004-12-28 | Samsung Electronics, Co., Ltd. | Phase change optical disc |
| US7572496B2 (en) | 2002-05-16 | 2009-08-11 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Recording medium having high melting point recording layer, information recording method thereof, and information reproducing apparatus and method therefor |
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